DE1152766B - Elektronenmikroskop mit einer Einschleusvorrichtung fuer Objekte in einen kuenstlich gekuehlten Behaelter - Google Patents

Elektronenmikroskop mit einer Einschleusvorrichtung fuer Objekte in einen kuenstlich gekuehlten Behaelter

Info

Publication number
DE1152766B
DE1152766B DEN17209A DEN0017209A DE1152766B DE 1152766 B DE1152766 B DE 1152766B DE N17209 A DEN17209 A DE N17209A DE N0017209 A DEN0017209 A DE N0017209A DE 1152766 B DE1152766 B DE 1152766B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electron microscope
container
objects
microscope
cooled container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEN17209A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Adrianus Cornelis Van Dorsten
Adrianus Jacobus Jozef Franken
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE1152766B publication Critical patent/DE1152766B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02—Details
    • H01J37/20—Means for supporting or positioning the object or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
DEN17209A 1958-09-13 1959-09-09 Elektronenmikroskop mit einer Einschleusvorrichtung fuer Objekte in einen kuenstlich gekuehlten Behaelter Pending DE1152766B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL231361 1958-09-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1152766B true DE1152766B (de) 1963-08-14

Family

ID=19751346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEN17209A Pending DE1152766B (de) 1958-09-13 1959-09-09 Elektronenmikroskop mit einer Einschleusvorrichtung fuer Objekte in einen kuenstlich gekuehlten Behaelter

Country Status (6)

Country Link
US (1) US3124680A (enExample)
CH (1) CH379656A (enExample)
DE (1) DE1152766B (enExample)
FR (1) FR1235119A (enExample)
GB (1) GB927845A (enExample)
NL (2) NL231361A (enExample)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1614165B1 (de) * 1967-06-02 1970-09-24 Max Planck Gesellschaft Korpuskularstrahlgeraet,insbesondere Elektronenmikroskop,mit einer Objektraumkuehlung
DE1614163B1 (de) * 1967-05-31 1970-10-15 Max Planck Gesellschaft Korpuskularstrahlgeraet,insbesondere Elektronenmikroskop,mit einem Praeparathalter

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1215832B (de) * 1963-04-19 1966-05-05 Max Planck Gesellschaft An der Pumpe arbeitender Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronenmikroskop, mit einer den Objekttraeger aufnehmenden, aus zwei gegeneinander waermeisolierten Patronenteilen bestehenden Objektpatrone
DE1202915B (de) * 1963-09-09 1965-10-14 Siemens Ag An der Pumpe arbeitender Korpuskularstrahl-apparat, insbesondere Elektronenmikroskop, mit einer den Objekttraeger aufnehmenden und mit einer Tiefkuehlvorrichtung in Verbindung stehenden Objektpatrone
US3973125A (en) * 1965-09-16 1976-08-03 Siemens Aktiengesellschaft Corpuscular-ray apparatus with a cryogenically cooled specimen space
US3489896A (en) * 1966-11-01 1970-01-13 Ashland Oil Inc Alignment tool or device for cooling blade
FR2087652A5 (enExample) * 1970-05-27 1971-12-31 Onera (Off Nat Aerospatiale)
NL7906633A (nl) * 1979-09-05 1981-03-09 Philips Nv Anti-contaminatie diafragma voor elektronen- straalapparaat.
JPH01110204A (ja) * 1987-10-23 1989-04-26 Jeol Ltd 電子顕微鏡用走査トンネル顕微鏡
US4833330A (en) * 1987-11-03 1989-05-23 Gatan Inc. Anticontaminator for transmission electron microscopes
DE112014003582B4 (de) * 2013-09-20 2020-08-06 Hitachi High-Technologies Corporation Kontaminationsverhinderungsfalle und Vakuumanwendungsvorrichtung

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE659092C (de) * 1934-12-12 1938-04-25 Ernst Ruska Dr Ing Einschleusvorrichtung fuer an der Pumpe betriebene Korpuskularstrahlapparate

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH236120A (de) * 1942-04-29 1945-01-15 Fides Gmbh Verfahren zur Untersuchung eines Objektes in einem Korpuskularstrahlapparat.
BE455526A (enExample) * 1943-03-04
NL101213C (enExample) * 1954-07-14
US2826701A (en) * 1954-09-01 1958-03-11 Gen Electric Low temperature chamber for electronoptics instruments

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE659092C (de) * 1934-12-12 1938-04-25 Ernst Ruska Dr Ing Einschleusvorrichtung fuer an der Pumpe betriebene Korpuskularstrahlapparate

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1614163B1 (de) * 1967-05-31 1970-10-15 Max Planck Gesellschaft Korpuskularstrahlgeraet,insbesondere Elektronenmikroskop,mit einem Praeparathalter
DE1614165B1 (de) * 1967-06-02 1970-09-24 Max Planck Gesellschaft Korpuskularstrahlgeraet,insbesondere Elektronenmikroskop,mit einer Objektraumkuehlung

Also Published As

Publication number Publication date
CH379656A (de) 1964-07-15
FR1235119A (fr) 1960-07-01
GB927845A (en) 1963-06-06
NL231361A (enExample)
US3124680A (en) 1964-03-10
NL108507C (enExample)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1152766B (de) Elektronenmikroskop mit einer Einschleusvorrichtung fuer Objekte in einen kuenstlich gekuehlten Behaelter
DE112011105007T5 (de) Probenhalter für ein Elektronenmikroskop und Probenuntersuchungsverfahren
DE102011087955B4 (de) Raster-Elektronen-Mikroskop
EP1186681B1 (de) Vakuumanlage mit koppelbarem Werkstückträger
DE1489658A1 (de) Vorrichtung zur Beschiessung eines Gegenstandes mit einem Elektronenstrahlenbuendel und Verfahren fuer diese Beschiessung zum Zwecke der Emission von Roentgenstrahlen durch diesen Gegenstand
DE60103117T2 (de) Vorrichtung zur Einführung einer Probe
DE2110323A1 (de) Vorrichtung zur Prüfung von Material mit Hilfe von Röntgenfluoreszenz
DE1573970A1 (de) Vakuumschleuse und Sonde zum Einfuehren von Proben in ein Massenspektrometer
DE1798377A1 (de) Massenspektrometer
DE3109079A1 (de) "gaslaseranordnung mit gasumlauffuehrung"
DE2349585A1 (de) Kuehlbad
AT506187B1 (de) Vakuumkammer zum bedampfen oder beschichten
DE3203912A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum transport von probendampf
DE2305359B2 (de) Vorrichtung zur reaktiven Aufdampfung dünner Schichten auf Unterlagen
DE895636C (de) An der Pumpe arbeitender Korpuskularstrahlapparat
DE2815737A1 (de) Roentgenroehre
DE1063724B (de) Elektronenmikroskop
DE902757C (de) Geraet zur elektronenoptischen Bearbeitung von Halbleitermaterialien
DE898211C (de) Verfahren zur Untersuchung von Objekten in Korpuskularstrahlapparaten
DE1614659C (de) Optischer Sender
DD143187A1 (de) Schutzvorrichtung einer katode in elektronenstrahlgeraeten
DE69307136T2 (de) Anordnung zur thermischen behandlung.
EP0743669B1 (de) Ionenquelle
DE376671C (de) Loetofen
DE1621203C (de) Vakuumaufdampfvornchtung