DE112021004793T5 - Vorrichtung für dreidimensionale Messungen - Google Patents
Vorrichtung für dreidimensionale Messungen Download PDFInfo
- Publication number
- DE112021004793T5 DE112021004793T5 DE112021004793.0T DE112021004793T DE112021004793T5 DE 112021004793 T5 DE112021004793 T5 DE 112021004793T5 DE 112021004793 T DE112021004793 T DE 112021004793T DE 112021004793 T5 DE112021004793 T5 DE 112021004793T5
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- interest
- region
- receiving unit
- reference light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020-149865 | 2020-09-07 | ||
| JP2020149865 | 2020-09-07 | ||
| PCT/JP2021/031990 WO2022050279A1 (ja) | 2020-09-07 | 2021-08-31 | 三次元計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE112021004793T5 true DE112021004793T5 (de) | 2023-07-06 |
Family
ID=80491009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE112021004793.0T Pending DE112021004793T5 (de) | 2020-09-07 | 2021-08-31 | Vorrichtung für dreidimensionale Messungen |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12566060B2 (https=) |
| JP (1) | JP7549025B2 (https=) |
| CN (1) | CN116134289B (https=) |
| DE (1) | DE112021004793T5 (https=) |
| WO (1) | WO2022050279A1 (https=) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2023015886A (ja) * | 2021-07-20 | 2023-02-01 | 株式会社キーエンス | 形状検査装置、処理装置、高さ画像処理方法および高さ画像処理プログラム |
| JP7741393B2 (ja) * | 2022-03-14 | 2025-09-18 | 株式会社デンソーウェーブ | 三次元計測装置 |
| DE112022006794T5 (de) | 2022-06-30 | 2025-02-13 | Fanuc Corporation | Gerät zur Abstandsmessung |
| JP2025525974A (ja) * | 2022-08-04 | 2025-08-07 | 上海図漾信息科技有限公司 | 深度データ測定装置及びその応用方法 |
| WO2024125892A1 (en) * | 2022-12-16 | 2024-06-20 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Depth sensor device and method for operating a depth sensor device |
| JP7839409B2 (ja) * | 2023-02-24 | 2026-04-02 | 株式会社デンソーウェーブ | 三次元計測装置 |
| WO2024162409A1 (ja) * | 2023-02-01 | 2024-08-08 | 株式会社デンソーウェーブ | 三次元計測装置 |
| CN118298550B (zh) * | 2024-04-16 | 2024-10-25 | 杭州百富电子技术有限公司 | 基于三维模型的插电式预付费电表体积测量系统 |
Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07260444A (ja) | 1994-03-24 | 1995-10-13 | Nippon Avionics Co Ltd | 光切断法による対象物の三次元計測方法およびその装置 |
| JPH1133275A (ja) | 1997-07-18 | 1999-02-09 | Hitachi Ltd | 脱水洗濯機の防振装置 |
| JP2000088539A (ja) | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Minolta Co Ltd | 3次元入力方法及び3次元入力装置 |
| JP2001227923A (ja) | 1999-12-06 | 2001-08-24 | Kobe Steel Ltd | 輪郭形状測定方法及び輪郭形状測定装置 |
| JP2003329419A (ja) | 2002-05-16 | 2003-11-19 | Mitsubishi Electric Corp | 形状測定装置 |
| JP2006333493A (ja) | 2001-09-20 | 2006-12-07 | Sony Corp | 固体撮像装置及びその制御方法 |
| JP2012141964A (ja) | 2010-12-15 | 2012-07-26 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理装置の制御方法、距離計測装置、およびプログラム |
| JP2013148353A (ja) | 2012-01-17 | 2013-08-01 | Panasonic Corp | 検査装置および3次元画像認識装置ならびに3次元画像認識方法 |
| JP2014002744A (ja) | 2012-06-19 | 2014-01-09 | Samsung Electronics Co Ltd | イベントベースイメージ処理装置及びその装置を用いた方法 |
| JP2018516395A (ja) | 2015-03-16 | 2018-06-21 | ユニヴェルシテ・ピエール・エ・マリ・キュリ・(パリ・6) | シーンを3d再構成するための方法 |
| JP2020136958A (ja) | 2019-02-21 | 2020-08-31 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | イベント信号検出センサ及び制御方法 |
| JP2021032763A (ja) | 2019-08-27 | 2021-03-01 | ソニー株式会社 | 測距システム及び電子機器 |
Family Cites Families (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63149507A (ja) | 1986-12-13 | 1988-06-22 | Kobe Steel Ltd | 作業線自動検出方法 |
| JPH06229732A (ja) | 1993-01-29 | 1994-08-19 | Fanuc Ltd | スポット光ビーム走査型3次元視覚センサ |
| JP3022420B2 (ja) | 1997-07-10 | 2000-03-21 | 川崎重工業株式会社 | 隅肉溶接位置センシング装置および方法 |
| JPH11271030A (ja) * | 1998-03-25 | 1999-10-05 | Minolta Co Ltd | 3次元計測装置 |
| JP3695169B2 (ja) | 1998-09-11 | 2005-09-14 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 3次元入力方法及び3次元入力装置 |
| JP2000275024A (ja) * | 1999-03-25 | 2000-10-06 | Minolta Co Ltd | 3次元入力装置 |
| JP2000105108A (ja) * | 1998-09-29 | 2000-04-11 | Minolta Co Ltd | 3次元入力装置 |
| JP4532694B2 (ja) * | 1999-08-10 | 2010-08-25 | 富士機械製造株式会社 | 3次元データ取得方法,装置、およびマスク印刷方法、装置 |
| JP2001337166A (ja) | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Minolta Co Ltd | 3次元入力方法および3次元入力装置 |
| JP2002221408A (ja) | 2001-01-26 | 2002-08-09 | Minolta Co Ltd | 光学測定装置 |
| JP4803568B2 (ja) | 2001-03-30 | 2011-10-26 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路の検査装置および検査方法 |
| JP2005043084A (ja) * | 2003-07-23 | 2005-02-17 | Dainippon Printing Co Ltd | 撮影画像合成システム、撮影画像合成方法、プログラム、及び記録媒体 |
| JP4608293B2 (ja) * | 2003-12-25 | 2011-01-12 | 株式会社プレックス | 手の立体計測装置及び方法 |
| JP4192851B2 (ja) * | 2004-06-22 | 2008-12-10 | トヨタ自動車株式会社 | 車両用駆動装置の制御装置 |
| JP4900683B2 (ja) * | 2006-09-13 | 2012-03-21 | アイシン精機株式会社 | 油圧供給装置 |
| JP3944525B1 (ja) | 2006-12-11 | 2007-07-11 | 住友金属工業株式会社 | 鋼管の突合せ溶接方法および溶接鋼管の製造方法 |
| KR20120000234A (ko) | 2010-06-25 | 2012-01-02 | 이숙윤 | 조도 센서를 이용한 백색광 3차원 스캐너의 자동 노출 제어 방법 |
| JP4821934B1 (ja) * | 2011-04-14 | 2011-11-24 | 株式会社安川電機 | 3次元形状計測装置およびロボットシステム |
| JP5922458B2 (ja) * | 2012-03-26 | 2016-05-24 | アンリツインフィビス株式会社 | 変位測定装置 |
| JP6177754B2 (ja) * | 2014-11-18 | 2017-08-09 | 株式会社神戸製鋼所 | 打抜き性と結晶粒粗大化防止特性に優れた浸炭用鋼板および機械構造部品 |
| US10250833B2 (en) * | 2015-04-20 | 2019-04-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Timestamp calibration of the 3D camera with epipolar line laser point scanning |
| US9967539B2 (en) | 2016-06-03 | 2018-05-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Timestamp error correction with double readout for the 3D camera with epipolar line laser point scanning |
| CN107607040B (zh) * | 2017-08-11 | 2020-01-14 | 天津大学 | 一种适用于强反射表面的三维扫描测量装置及方法 |
| CN109458928B (zh) * | 2018-10-29 | 2020-12-25 | 西安知微传感技术有限公司 | 基于扫描振镜和事件相机激光线扫描3d检测方法及系统 |
-
2021
- 2021-08-31 JP JP2022546928A patent/JP7549025B2/ja active Active
- 2021-08-31 CN CN202180054641.3A patent/CN116134289B/zh active Active
- 2021-08-31 WO PCT/JP2021/031990 patent/WO2022050279A1/ja not_active Ceased
- 2021-08-31 DE DE112021004793.0T patent/DE112021004793T5/de active Pending
- 2021-08-31 US US18/040,815 patent/US12566060B2/en active Active
Patent Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07260444A (ja) | 1994-03-24 | 1995-10-13 | Nippon Avionics Co Ltd | 光切断法による対象物の三次元計測方法およびその装置 |
| JPH1133275A (ja) | 1997-07-18 | 1999-02-09 | Hitachi Ltd | 脱水洗濯機の防振装置 |
| JP2000088539A (ja) | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Minolta Co Ltd | 3次元入力方法及び3次元入力装置 |
| JP2001227923A (ja) | 1999-12-06 | 2001-08-24 | Kobe Steel Ltd | 輪郭形状測定方法及び輪郭形状測定装置 |
| JP2006333493A (ja) | 2001-09-20 | 2006-12-07 | Sony Corp | 固体撮像装置及びその制御方法 |
| JP2003329419A (ja) | 2002-05-16 | 2003-11-19 | Mitsubishi Electric Corp | 形状測定装置 |
| JP2012141964A (ja) | 2010-12-15 | 2012-07-26 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理装置の制御方法、距離計測装置、およびプログラム |
| JP2013148353A (ja) | 2012-01-17 | 2013-08-01 | Panasonic Corp | 検査装置および3次元画像認識装置ならびに3次元画像認識方法 |
| JP2014002744A (ja) | 2012-06-19 | 2014-01-09 | Samsung Electronics Co Ltd | イベントベースイメージ処理装置及びその装置を用いた方法 |
| JP2018516395A (ja) | 2015-03-16 | 2018-06-21 | ユニヴェルシテ・ピエール・エ・マリ・キュリ・(パリ・6) | シーンを3d再構成するための方法 |
| JP2020136958A (ja) | 2019-02-21 | 2020-08-31 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | イベント信号検出センサ及び制御方法 |
| JP2021032763A (ja) | 2019-08-27 | 2021-03-01 | ソニー株式会社 | 測距システム及び電子機器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPWO2022050279A1 (https=) | 2022-03-10 |
| WO2022050279A1 (ja) | 2022-03-10 |
| JP7549025B2 (ja) | 2024-09-10 |
| US12566060B2 (en) | 2026-03-03 |
| CN116134289A (zh) | 2023-05-16 |
| US20230296373A1 (en) | 2023-09-21 |
| CN116134289B (zh) | 2025-08-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE112021004793T5 (de) | Vorrichtung für dreidimensionale Messungen | |
| DE102015116047B4 (de) | Prüfvorrichtung und Steuerverfahren für eine Prüfvorrichtung | |
| DE102015005267B4 (de) | Informationsverarbeitungsvorrichtung, Verfahren dafür und Messvorrichtung | |
| DE69926659T2 (de) | Verfahren und vorrichtung für die optische Inspektion von Objekten auf einem Substrat | |
| DE102018108027B4 (de) | Objekterfassungsvorrichtung | |
| DE10058244C2 (de) | Messverfahren zur Ermittlung der Position eines Objektes vor einem Bildschirm und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
| DE102010023108B4 (de) | Projektor mit automatischer Fokussierung und Abbildungsverfahren | |
| DE602004001500T2 (de) | Apparat für dreidimensionale Messungen | |
| EP3775767B1 (de) | Verfahren und system zur vermessung eines objekts mittels stereoskopie | |
| EP0085868B1 (de) | Vorrichtung zur automatischen optischen Beschaffenheitsprüfung | |
| EP2400261A1 (de) | Optisches Messverfahren und Messsystem zum Bestimmen von 3D-Koordinaten auf einer Messobjekt-Oberfläche | |
| DE102017112404B4 (de) | Vorrichtung und verfahren zur dreidimensionalen untersuchung | |
| DE102022128919A1 (de) | Informationsverarbeitungsvorrichtung, informationsverarbeitungssystem, informationsverarbeitungsverfahren und aufzeichnungsmedium | |
| DE10154861A1 (de) | Verfahren zur Bereitstellung von Bildinformationen | |
| DE112020002626T5 (de) | Dreidimensionale Messvorrichtung und dreidimensionales Messverfahren | |
| DE102017200628A1 (de) | Musterprüfvorrichtung | |
| EP3907466A1 (de) | 3d-sensor und verfahren zur erfassung von dreidimensionalen bilddaten eines objekts | |
| DE112023001784T5 (de) | Oberflächenform-Messvorrichtung und Oberflächenform-Messverfahren | |
| DE102018002659B4 (de) | Bildvorrichtung zum Erfassen von Anomalien von Entfernungsbildern | |
| EP3496398B1 (de) | Sichere stereokamera und verfahren zum prüfen der funktionsfähigkeit der bildsensoren | |
| DE102021104947B4 (de) | Scanner, damit ausgestattete Ermittlungs-Vorrichtung sowie Verfahren für deren Betrieb | |
| DE102009010837A1 (de) | Verfahren zur Inspektion von Wafern für Solarzellen auf Sägerillen | |
| DE112022006794T5 (de) | Gerät zur Abstandsmessung | |
| DE112023001790T5 (de) | Kalibrierung eines tiefenkarte-erzeugungssystems | |
| DE102011000088A1 (de) | Verfahren zur Ermittlung eines Verfahrweges bei der Messung von Strukturen eines Objekts |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R012 | Request for examination validly filed |