JP2000275024A - 3次元入力装置 - Google Patents
3次元入力装置Info
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Abstract
よって、3次元入力の所要時間の短縮及びデータ処理負
担の軽減を図る。 【解決手段】物体に向かって仮想面を走査するように参
照光を投射し、撮像デバイスを用いて走査中に周期的に
物体を撮影し、撮像デバイスの受光面における物体で反
射した参照光の入射位置に応じたデータを出力する3次
元入力装置において、受光面S2のうちの参照光が入射
する受光領域AShを走査に先立って推定する手段と、
推定された受光領域AShの大きさに応じて、撮像デバ
イスの読出しの範囲設定を行うコントローラとを設け
る。
Description
射して物体を走査し、物体形状を特定するデータを出力
する3次元入力装置に関する。
の3次元入力装置は、接触型に比べて高速の測定が可能
であることから、CGシステムやCADシステムへのデ
ータ入力、身体計測、ロボットの視覚認識などに利用さ
れている。
スリット光投影法(光切断法ともいう)が知られてい
る。この方法は、物体を光学的に走査して距離画像(3
次元画像)を得る方法であり、参照光を照射して物体を
撮影する能動的測定方法の一種である。距離画像は物体
上の複数の部位の3次元位置を示す画素の集合である。
スリット光投影法では、参照光としてビーム断面が直線
帯状であるスリット光が用いられ、スリットの幅方向に
ビームを偏向する線順次の走査が行われる。スリットの
長さ方向が主走査方向であり、幅方向が副走査方向であ
る。走査中のある時点では物体の一部が照射され、撮影
系の受光面には照射部分の起伏に応じて曲がった輝線が
現れる。したがって、走査中に周期的に受光面の各画素
の輝度をサンプリングすることにより、物体形状を特定
する一群の3次元入力データを得ることができる。
グに際して、1回のサンプリングの対象を受光面全体で
はなく参照光が入射すると予想される一部の帯状領域
(ブロック)に限定し、その帯状領域をサンプリング毎
に副走査方向にシフトさせる手法が知られている。これ
によれば、サンプリングの1回当たりの所要時間を短縮
して走査を高速化することができ、データ量を削減して
信号処理系の負担を軽減することができる。
投射して物体を撮影する3次元入力においては、撮影の
視野に対して物体が過度に小さくなることがある。視野
に対する物体の大きさは撮影の画角及び撮影距離によっ
て決まる。画角については、ズーム機能により調整可能
であるが、ズーム仕様で決まる下限値がある。撮影距離
についても許容範囲があり、最低距離(一般に数十cm
〜1m)より近づいて撮影することはできない。
グにおける撮影像の読出し範囲は受光面の一部であって
も、走査の全期間についてみると受光面の全体が読出し
範囲であった。このため、上述のように視野に対して物
体が過度に小さい場合には、サンプリングで得られるデ
ータのうちの不要データの占める割合が大きいという問
題、すなわち撮像デバイスからのデータの読出し及びそ
の後のデータ処理の無駄が多いという問題があった。
低減することによって、3次元入力の所要時間の短縮及
びデータ処理負担の軽減を図ることを目的としている。
デバイスの受光面における読出し範囲を可変とする。範
囲については、大きさ及び位置を任意に設定してもよい
し、予め定めた複数の選択肢の中から選択してもよい。
変更の要否については、自動的に判定する形態と、ユー
ザー又は外部装置が指示する形態とがある。自動的に判
定する場合は、受光面のうちの物体で反射した参照光が
入射する受光領域を推定し、受光領域が設定値より小さ
いときに読出し範囲を縮小する。受光領域が設定値以上
であれば、読出し範囲を最大とする。ここでいう受光領
域は、物体の走査の開始から終了までの期間中のいずれ
かの時点に参照光が入射する画素(厳密には入射すると
予想される画素)の集合である。参照光として例えばス
リット光を用いる場合、走査のある時点における受光領
域は線状であるが、走査の進行につれて受光領域が移動
するので、走査期間の全体での受光領域は面状となる。
光と同じ画角で物体を撮影し、撮影像から画像処理で物
体像を抽出することにより、実用に十分な精度で推定す
ることができる。
仮想面を走査するように参照光を投射し、撮像デバイス
を用いて走査中に周期的に前記物体を撮影し、前記撮像
デバイスの受光面における前記物体で反射した参照光の
入射位置に応じたデータを出力する3次元入力装置であ
って、前記撮像デバイスは、前記受光面のうちの任意範
囲の選択的な読出しが可能であり、前記受光面のうちの
前記物体で反射した参照光が入射する受光領域を走査に
先立って推定する手段と、推定された受光領域の大きさ
に応じて、前記撮像デバイスの読出しの範囲設定を行う
コントローラとを有している。
は、前記撮像デバイスの読出し範囲を可変とする動作モ
ードと、当該読出し範囲を最大範囲に固定する動作モー
ドとの切換えが可能である。
仮想面を走査するように参照光を投射し、撮像デバイス
を用いて走査中に周期的に前記物体を撮影し、前記撮像
デバイスの受光面における前記物体で反射した参照光の
入射位置に応じたデータを出力する3次元入力装置であ
って、前記撮像デバイスは、前記受光面のうちの任意範
囲の選択的な読出しが可能であり、特定の操作入力に呼
応して前記撮像デバイスの読出し範囲の設定を変更する
コントローラを有している。
大きさに応じて、参照光の走査範囲又は走査速度の少な
くとも一方を変更する参照光コントローラを有してい
る。
の構成図である。測定システム1は、スリット光投影法
によって立体測定を行う3次元カメラ(レンジファイン
ダ)2と、3次元カメラ2の出力データを処理するホス
ト3とから構成されている。
Q上のサンプリング点の3次元位置を特定する測定デー
タとともに、物体Qのカラー情報を示す2次元画像及び
キャリブレーションに必要なデータを出力する。三角測
量法を用いてサンプリング点の座標を求めて3次元モデ
ルを生成する演算処理はホスト3が担う。2次元のカラ
ー画像は、ホスト3における3次元モデルの修正のため
の参考情報、3次元モデルが物体Qのモデルであること
をユーザーが容易に理解できるようにする識別情報、及
び本発明に特有の読出し範囲の自動設定のためのフレー
ミング情報として利用される。カラー画像からの物体像
の抽出を容易にするため、立体測定に際して物体Qの後
方に青色のバックスクリーン5が配置される。
b、キーボード3c、及びマウス3dなどから構成され
たコンピュータシステムである。CPU3aには測定デ
ータ処理のためのソフトウェアが組み込まれている。ホ
スト3と3次元カメラ2との間では、ケーブル又は赤外
通信によるオンライン及び可搬型の記録メディア4によ
るオフラインの2形態のデータ受渡しが可能である。記
録メディア4としては、光磁気ディスク(MO)、ミニ
ディスク(MD)、メモリカードなどがある。
る。ハウジング20の前面に投光窓20a及び受光窓2
0bが設けられている。投光窓20aは受光窓20bに
対して上側に位置する。内部の光学ユニットOUが射出
するスリット光(所定幅wの帯状のレーザビーム)U
は、投光窓20aを通って測定対象の物体(被写体)に
向かう。スリット光Uの長さ方向M1の放射角度φは固
定である。物体の表面で反射したスリット光Uの一部が
受光窓20bを通って光学ユニットOUに入射する。な
お、光学ユニットOUは、投光軸と受光軸との相対関係
を適正化するための2軸調整機構を備えている。
タン25a,25b、手動フォーカシングボタン26
a,26b、及びシャッタボタン27が設けられてい
る。図2(b)のように、ハウジング20の背面には、
液晶ディスプレイ21、カーソルボタン22、セレクト
ボタン23、キャンセルボタン24、アナログ出力端子
32、ディジタル出力端子33、及び記録メディア4の
着脱口30aが設けられている。
画面の表示手段及び電子ファインダとして用いられる。
撮影者は背面の各ボタン21〜24によって撮影モード
の設定を行うことができる。アナログ出力端子32から
は、カラー画像信号が例えばNTSC形式で出力され
る。ディジタル出力端子33は例えばSCSI端子であ
る。
する操作画面の案内に従って所望の動作モードを設定す
る。その後、カラーモニタ画像を見ながら、カメラの位
置と向きを決め、画角を設定する。その際に必要に応じ
てズーミング操作を行う。
ック図である。図中の実線矢印は電気信号の流れを示
し、破線矢印は光の流れを示している。3次元カメラ2
は、上述の光学ユニットOUを構成する投光側及び受光
側の2つの光学系40,50を有している。
D)41が射出する波長685nmのレーザビームは、
投光レンズ系42を通過することによってスリット光U
となり、ガルバノミラー(走査手段)43によって偏向
される。半導体レーザ41のドライバ44、投光レンズ
系42の駆動系45、及びガルバノミラー43の駆動系
46は、システムコントローラ61によって制御され
る。
によって集光された光は、ビームスプリッタ52で分光
される。半導体レーザ41の発振波長帯域の光は測定用
のイメージセンサ53に入射する。可視帯域の光はモニ
タ用のカラーイメージセンサ54に入射する。イメージ
センサ53は、MOS型エリアセンサであり、任意の画
素の読出しが可能である。カラーイメージセンサ54は
CCDエリアセンサである。ズームユニット51は内焦
型であり、入射光の一部がオートフォーカシング(A
F)に利用される。AF機能は、AFセンサ57とレン
ズコントローラ58とフォーカシング駆動系59とによ
って実現される。ズーミング駆動系60は電動ズーミン
グのために設けられている。
次のとおりである。まず、イメージセンサ53による撮
影情報は、ドライバ55からのクロックに同期して信号
処理回路62へ転送される。信号処理回路62は、イメ
ージセンサ53の出力する各画素の光電変換信号を増幅
する増幅器、及び光電変換信号を8ビットの受光データ
に変換するAD変換器を有している。信号処理回路62
で得られた受光データはメモリ63によって一時的に記
憶された後、重心演算回路73へ送られる。その際のア
ドレス指定はメモリ制御回路65が行う。重心演算回路
73は、入力された受光データに基づいて3次元位置を
算出するための基となるデータを算出し、それを出力用
メモリ64に出力する。また、重心演算回路73は、測
定対象の物体の形状に対応した濃淡画像(距離画像)を
生成し、それを表示コントローラ74に送る。LCD2
1は、濃淡画像、カラー画像、及び操作案内画面などを
表示する。
像情報は、ドライバ56からのクロックに同期してカラ
ー処理回路67へ転送される。カラー処理を受けた撮像
情報は、NTSC変換回路70及びアナログ出力端子3
2を経てオンライン出力され、又はディジタル化回路6
8で量子化されてカラー画像メモリ69に格納される。
その後、カラー画像メモリ69からSCSIコントロー
ラ66へカラー画像データが転送され、ディジタル出力
端子33からオンライン出力され、又は測定データと対
応づけて記録メディア4に格納される。なお、カラー画
像は、イメージセンサ53による距離画像と同一の画角
の像である。つまり、カラーイメージセンサ54による
受光の視野は、イメージセンサ53による受光の視野と
実質的に一致する。
タン21〜24で構成される操作部25から操作の内容
が伝えられる。システムコントローラ61は、図示しな
いキャラクタジェネレータに対して、LCD21の画面
上に適切な文字や記号を表示するための指示を与える。
また、システムコントローラ61は、カラー画像メモリ
69からカラー画像を読出して後述の解析を行う。シス
テムコントローラ61とカラー画像メモリ69とで本発
明における受光領域を推定する手段が構成される。
の算出の原理図である。同図では理解を容易にするた
め、各画素gの受光量のサンプリングについて5回分の
みが示されている。
2上で複数画素分となる比較的に幅の広いスリット光U
を物体Qに照射する。具体的にはスリット光Uの幅を5
画素分とする。スリット光Uは、サンプリング周期毎に
受光面S2上で1画素ピッチpvだけ移動するように、
図4の上から下に向かって偏向され、それによって物体
Q(厳密には奥行き方向と直交する仮想面)が走査され
る。スリット光Uの偏向方向が副走査方向である。サン
プリング周期毎にイメージセンサ53から1フレーム分
の受光データ(光電変換情報)が出力される。なお、こ
の偏向は実際には等角速度で行われる。
本実施形態においては、走査中に行う32回のサンプリ
ングによって32回分の受光データが得られる。これら
32回分の受光データに対する重心演算によって、注目
画素gがにらむ範囲の物体表面をスリット光Uの光軸が
通過する時点(時間重心ip)を求める。
によるノイズがないとすると、注目画素gの受光量は、
図4(b)に示すようにスリット光Uが通過する期間に
おいて多くなり、通常はほぼ正規分布曲線を描くように
推移する。図示の例では、n回目とその1つ前の(n−
1)回目の間の時点で受光量が最大となっており、その
時点は演算結果の時間重心ipとほぼ一致する。
照射方向と、注目画素に対するスリット光の入射方向と
の関係に基づいて、物体Qの位置(座標)を算出する。
これにより、受光面の画素ピッチpvで規定される分解
能より高い分解能の測定が可能となる。なお、注目画素
gの受光量は物体Qの反射率に依存する。しかし、サン
プリングの各受光量の相対比は受光の絶対量に係わらず
一定である。つまり、物体色の濃淡は測定精度に影響し
ない。
である。3次元カメラ2と物体Qとを測定可能な範囲内
で最大限に近づけ、且つズーミングを行ったとしても、
視野AVに対して物体Qが極端に小さくなる場合があ
る。このような場合において測定時間の短縮と出力デー
タ量の削減を図るため、3次元カメラ2には“高速モー
ド”が設けられている。高速モードは、イメージセンサ
53の受光面S2の読出し範囲を、視野AVに対する物
体Qの大きさに応じて設定する動作モードである。ユー
ザーは、高速モード及び物体Qの大きさに係わらず読出
し範囲を最大とする“ノーマルモード”のどちらかを選
択することができる。高速モードにおいて、3次元カメ
ラ2は読出し範囲を自動的に最適化する。
Qが十分に大きい場合には、ノーマルモードを選択して
も出力データのうちの不要データの割合は小さい。図5
(B)のように視野AVに対して物体Qが小さい場合に
は、高速モードを選択することにより、不要データの割
合を低減することができる。
図である。ノーマルモードと高速モードとに係わらず、
イメージセンサ53における1フレームの読出しは、高
速化を図るために1フレームの有効受光領域(帯状画
像)Aen,Aehのみを対象に行われる。有効受光領
域Aen,Aehは、測定可能な距離範囲内の物体の起
伏を示す輝線が結像する領域であり、スリット光Uの偏
向に伴ってフレーム毎に1画素分ずつシフトする。本実
施形態では、有効受光領域Aen,Aehのシフト方向
の画素数は32に固定されている。ノーマルモードにお
ける有効受光領域Aenの長さ方向(水平方向)の画素
数は200である。高速モードにおける有効受光領域A
ehの長さ方向の画素数は例えば50〜150の範囲内
の値Hに設定される(図示ではH=100)。
光面S2のうちの200×200画素サイズのサンプリ
ング範囲ASnとその上下両側の31画素幅の帯状領域
とを合わせた範囲である。サンプリング範囲ASnと
は、上述の時間重心ipの算出の対象とする画素の集合
である。つまり、ノーマルモードのサンプリング点数は
200×200である。
受光面S2のうちのH×H画素サイズのサンプリング範
囲AShとその上下端の各31画素幅の帯状領域とを合
わせた範囲である。高速モードのサンプリング点数はH
×Hである。
ンプリング範囲ASn,AShより広くすることによ
り、1画素当たり32フレーム分の受光情報を用いて時
間重心ipを算出することができる。なお、図6ではノ
ーマルモードの読出し範囲ARnが受光面S2より若干
小さいが、これに限らず受光面S2の全体を読出し範囲
ARnとしてもよい。さらに、読出し範囲ARn,AR
hをそのモードのサンプリング範囲ASn,AShと同
一とすることも可能である。
インとフレームとの関係を示す図である。受光面S2の
最初のフレーム1には、読出し範囲の先頭ラインである
ライン1からライン32までの32ライン分の受光デー
タが含まれる。上述のとおり、ノーマルモードにおける
1ラインの画素数は200であり、高速モードにおける
1ラインの画素数Hは200より少ない。フレーム2は
ライン2からライン33まで、フレーム3はライン3か
らライン34までというように、フレーム毎に1ライン
分だけシフトされる。フレーム32はライン32からラ
イン63までの32ラインである。
受光データが、信号処理回路62を介してメモリ63に
順次転送されて記憶される。つまり、メモリ63には、
フレーム1、2、3…の順に受光データが記憶される。
サンプリング範囲の先頭ラインであるライン32のデー
タは、フレーム1については32ライン目、フレーム2
については31ライン目というように、フレーム毎に1
ラインずつ上方にシフトされて記憶される。フレーム1
からフレーム32までの受光データがメモリ63に記憶
されると、ライン32の各画素について、時間重心ip
の算出が行われる。ライン32についての演算が行われ
ている間に、フレーム33の受光データがメモリ63に
転送されて記憶される。フレーム33の受光データは、
メモリ63のフレーム32の次のアドレスに記憶され
る。フレーム33のデータがメモリ63に記憶される
と、これらフレーム2からフレーム33までに含まれる
ライン33の各画素について、時間重心ipの算出が行
われる。
間重心ipは、32回のサンプリングによって得られた
32個の時系列の受光データについての時間軸上の重心
である。各画素についての32個の受光データに、1〜
32のサンプリング番号を付す。i番目の受光データは
xiで表される。iは1〜32の整数である。このと
き、iは1つの画素について、その画素が有効受光領域
Aen,Aehに入ってからのフレーム数を示してい
る。
いての時間重心ipは、32個の受光データについて、
i・xiの総和Σi・xiをxiの総和Σxiで除すこ
とにより求められる。
出したデータに基づいて、各画素についての時間重心i
pを算出する。ただし、メモリ63から読み出したデー
タをそのまま用いるのではなく、各データから定常光デ
ータを減算した値(その値が負になるときは0)を用い
る。つまり、イメージセンサ53から出力される受光デ
ータに対して、定常光データの分だけ差し引いてオフセ
ットを与える。
ラ内のメモリに逐次記憶され、LCD21の画面に表示
される。時間重心ipの値は物体Qの表面の位置が3次
元カメラ2に近い場合に大きく、遠い場合に小さい。し
たがって、受光面S2の各画素の時間重心ipを濃度デ
ータとして濃淡画像を表示させることによって、測定結
果である距離分布を可視化することができる。
の方法を説明する。図9はイメージセンサの構成の模式
図である。イメージセンサ53は、受光面S2の各画素
gを順に指定して受光情報を読みだすいわゆるX−Yア
ドレス走査型の撮像デバイスであって、各画素gに対応
したスイッチの制御によって任意の範囲の読出しが可能
である。一般的には、垂直走査回路531を構成するデ
ィジタルシフトレジスタと水平走査回路532を構成す
るディジタルシフトレジスタとに所定のタイミングでシ
フト信号を入力することにより、ライン順次の読出しが
行われる。ラインは水平方向の画素列である。本実施形
態において、水平方向は物体Qの走査における主走査方
向に相当する方向であり、垂直方向は副走査方向(スリ
ット光の偏向方向)に相当する方向である。ただし、イ
メージセンサ53の配置の向きは光学系の構成に応じて
変更可能であるので、ここでの垂直方向が必ずしも実空
間での鉛直方向と一致するとは限らない。
回路531に対して走査開始ラインを示すレジスタ初期
値を与える走査開始セットレジスタ533が設けられ、
これによって上述の有効受光領域Aen,Aehの読出
しが実現される。また、水平走査回路532に対して走
査開始列を示すレジスタ初期値を与える走査開始セット
レジスタ535が設けられ、これによって高速モードの
読出しが実現される。
始位置を表すデータ信号sgn1、及び走査終了位置を
表すデータ信号sgn2を入力することで、どの位置の
帯状画像を読み出すかを指示する。走査開始セットレジ
スタ535についても同様に、走査開始位置を表すデー
タ信号sgn3、及び走査終了位置を表すデータ信号s
gn4を入力することで、1ライン内のどの位置を読み
出すかを指示する。
ータ信号sgn1〜4のビット数が増えるので、入力端
子の低減の上でデータ信号sgn1,2のデコーダ53
4及びデータ信号sgn3,4のデコーダ536を設け
るのが望ましい。読み出し開始時には、走査開始セット
レジスタ533の内容を垂直走査回路531に並列転送
し、走査開始セットレジスタ535の内容を水平走査回
路532に並列転送することで走査開始位置及び走査終
了位置がセットされたことになる。
すのではなく垂直走査を繰り返すことにより行う。ま
ず、イメージセンサ53は、走査開始セットレジスタ5
35にセットされた列に対して垂直走査を開始位置から
終了位置まで行うことで垂直方向に並ぶ33(=32+
1)個の画素からなる画素列から光電変換信号を出力す
る。ただし、メモリ63への格納の対象になるのは32
画素分の光電変換信号である。続いて、水平方向の読出
し位置をシフトし、再び垂直走査を行って33画素分の
光電変換信号を出力する。このような動作を繰り返すこ
とで指定された位置の帯状画像を出力する。この要領で
帯状画像の読出しを行うことにより、読出し範囲の全体
を読み出す場合より大幅に短い時間で1フレームの読出
しが完了する。
を行う理由は次のとおりである。MOS型センサでは、
一度読み出された領域はリセットされ次の電荷蓄積を開
始するのに対し、読み出されなかった領域は電荷の蓄積
が継続して行われる。次回の読み出しの対象が同じ領域
であれば問題はないが、異なる領域を読み出す場合に
は、n回目と(n+1)回目の読出しで蓄積時間の異な
る画像情報が混在することになる。すなわち、光投影法
による3次元測定においては、スリット光Uの偏向とと
もに読み出しの必要な有効受光領域Aen,Aehが副
走査方向にシフトする。したがって、n回目と(n+
1)回目とで重複して読み出される領域の画像は前回
(n回目)の読み出しから今回(n+1回目)の読み出
しまでの蓄積時間の画像が読み出されるのに対し、有効
受光領域Aen,Aehのシフトによって今回に新たに
読み出される領域の画像は1回目の撮影から継続して光
電変換をした画像となってしまう。そこで、本実施形態
においては、読み出し対象領域を今回に必要な領域と次
回に必要な領域の双方を包含する領域に設定する。こう
することで、次回に読出しが必要な領域については必ず
前回に電荷蓄積がクリアされることになり、蓄積時間の
異なる画素からなる画像を取り込んでしまうという問題
を回避することができる。
おける読出しデータ量を示す図である。ノーマルモード
の場合は、1ライン当たり200画素の262フレーム
分のデータをイメージセンサ53から読み出して読出し
順にメモリ63に書き込む。ただし、メモリ63への書
き込みを並行して重心演算のためのデータの読出しを行
うことができるので、読出しを終えたアドレスに新たな
データを書き込むことで必要メモリ容量を低減すること
ができる。高速モードの場合は、例えば1ライン当たり
100画素の162(=H+52)フレーム分のデータ
を読み出して読出し順にメモリ63に書き込む。受光面
S2の読出し範囲が小さいほどデータ量が少なくなり、
イメージセンサ53からの読出しの所要時間が短くな
る。
である。図11(A)のように、カラーイメージセンサ
54によって得られたカラー画像G54は、物体像とバ
ックスクリーン5の像(ブルーバック)G5とで構成さ
れる。
54から物体像を抽出する。続いて図11(B)のよう
に、抽出された物体像GQの水平方向及び垂直方向の寸
法(画素数)を調べる。そして、図11(C)のよう
に、物体像GQを包含する最小の矩形領域より所定マー
ジン分だけ大きい領域を算定し、受光面S2でのサンプ
リング範囲AShを設定する。このとき、カラー画像G
54と受光面S2とで解像度が異なる場合は、その差異
を考慮する。図11の例では、解像度400×400で
の物体像GQのサイズが84×84画素であり、これよ
り1周り大きい100×100画素の矩形領域を算定し
て受光面S2に当てはめ、50×50画素のサンプリン
グ範囲AShが設定されている。
を示す図である。サンプリング範囲ASh1〜7のサイ
ズが小さいほど出力データ量は少ない。サイズ変更は例
えば各方向に50画素刻みの数段階程度としてもよい
し、1画素刻みのいわゆる無段階としてもよい。読出し
範囲ASh1〜7の位置は、図12(B)〜(C)のよ
うに中心が受光面S2の中心と一致する固定位置でも、
図12(E)(F)のように受光面S2の端縁に寄った
任意位置でもよい。後者の方がより不要データを低減す
ることができる。また、サイズについては水平方向の画
素数と垂直方向の画素数とが同一である必要はなく、図
12(G)(H)のように各方向毎に画素数を設定する
ことができる。
リング範囲ASh1〜7の画素数分の時間重心ipとと
もに、サンプリング範囲ASh1〜7の位置情報を測定
結果としてホスト3へ送る。ホスト3は、受光面S2の
各画素の受光方向を特定する装置情報と測定結果とを合
わせて3次元位置を演算する。
すフローチャートである。3次元カメラ2は、電源投入
時の初期設定を終えるとユーザーによる操作を待つ(#
11)。読出し範囲の設定に係わる操作が行われると、
自動/手動の選択に従って自動範囲設定処理又は手動範
囲設定処理を行う(#12〜#15)。シャッタボタン
27のオンによって測定開始が指示されると、動作モー
ド設定をした後、測定を行う(#16〜#18)。
ーチャートである。図11で説明したように、カラー画
像G54から測定対象物を抽出する(#141)。抽出
結果に基づいて、視野AVに対する測定対象物の大きさ
を算定する(#142)。そして、カラー画像G54の
解析で推定した有効受光領域の大きさに応じて、サンプ
リング範囲AShを決め、読出し範囲ARhを設定する
(#143)。
ローチャートである。高速モードが設定された場合に
は、上述の選択的な読出しに係わるパラメータを制御デ
ータROMから読み出す(#171、#172)。上述
の読出し範囲ARhの位置及び大きさもこのステップで
読み出される。ノーマルモードが設定された場合には、
ノーマルモードの読出しに係わるパラメータを制御デー
タROMから読み出す(#171、#173)。読み出
したパラメータを制御対象に与えた後、ズーミング及び
フォカシング状態に応じて測定の基準面である仮想面の
位置を定め、スリット光Uの偏向角度範囲及び走査の速
度を設定する(#175)。スリット光走査範囲は、読
出し範囲ARh,ARnの上端に対応する角度を開始角
とし、読出し範囲ARh,ARnの下端に対応する角度
を終了角とする。また、スリット光走査速度は、1フレ
ームの読出し時間に基づいて設定される。つまり、高速
モード時は読出し時間が短いので、その分だけスリット
光の走査速度を高速にする。これにより、1画面Qの走
査(すなわち測定時間)が短縮される。なお、走査範囲
をノーマルモードと同じとし、走査速度を高速にするだ
けでも同様の効果が生じる。
撮像デバイスの無駄な読出しを低減することができ、こ
れによって3次元入力の所要時間の短縮及びデータ処理
負担の軽減を図ることができる。
ーザーは用途に応じてサンプリング点の数(解像度)を
選択することができる。
る。
図である。
ームとの関係を示す図である。
しデータ量を示す図である。
ある。
ートである。
である。
トである。
トーラ) S2 受光面 Q 物体 U スリット光(参照光) 75 推定手段 GQ 物体像(受光領域) ARh 読出し範囲 25 操作部
Claims (4)
- 【請求項1】物体に向かって仮想面を走査するように参
照光を投射し、撮像デバイスを用いて走査中に周期的に
前記物体を撮影し、前記撮像デバイスの受光面における
前記物体で反射した参照光の入射位置に応じたデータを
出力する3次元入力装置であって、 前記撮像デバイスは、前記受光面のうちの任意範囲の選
択的な読出しが可能であり、 前記受光面のうちの前記物体で反射した参照光が入射す
る受光領域を走査に先立って推定する手段と、 推定された受光領域の大きさに応じて、前記撮像デバイ
スの読出しの範囲設定を行うコントローラとを有したこ
とを特徴とする3次元入力装置。 - 【請求項2】前記撮像デバイスの読出し範囲を可変とす
る動作モードと、当該読出し範囲を最大範囲に固定する
動作モードとの切換えが可能である請求項1記載の3次
元入力装置。 - 【請求項3】物体に向かって仮想面を走査するように参
照光を投射し、撮像デバイスを用いて走査中に周期的に
前記物体を撮影し、前記撮像デバイスの受光面における
前記物体で反射した参照光の入射位置に応じたデータを
出力する3次元入力装置であって、 前記撮像デバイスは、前記受光面のうちの任意範囲の選
択的な読出しが可能であり、 特定の操作入力に呼応して前記撮像デバイスの読出し範
囲の設定を変更するコントローラを有したことを特徴と
する3次元入力装置。 - 【請求項4】前記受光領域の大きさに応じて、参照光の
走査範囲又は走査速度の少なくとも一方を変更する参照
光コントローラを有した請求項1乃至請求項3のいずれ
かに記載の3次元入力装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11081055A JP2000275024A (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 3次元入力装置 |
US09/405,848 US7492398B1 (en) | 1998-09-29 | 1999-09-27 | Three-dimensional input apparatus and image sensing control method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11081055A JP2000275024A (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 3次元入力装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000275024A true JP2000275024A (ja) | 2000-10-06 |
JP2000275024A5 JP2000275024A5 (ja) | 2005-11-04 |
Family
ID=13735738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11081055A Pending JP2000275024A (ja) | 1998-09-29 | 1999-03-25 | 3次元入力装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000275024A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP7549025B2 (ja) | 2020-09-07 | 2024-09-10 | ファナック株式会社 | 三次元計測装置 |
-
1999
- 1999-03-25 JP JP11081055A patent/JP2000275024A/ja active Pending
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