DE112005001501T5 - Messgerät, Verfahren, Programm, Speichermedium,Netzwerkanalysator und Halbleitertestgerät zum Messen von Charakteristiken eines Verbindungselements - Google Patents

Messgerät, Verfahren, Programm, Speichermedium,Netzwerkanalysator und Halbleitertestgerät zum Messen von Charakteristiken eines Verbindungselements Download PDF

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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5242881B2 (ja) * 2004-02-23 2013-07-24 ローデ ウント シュワルツ ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、プログラムおよび記録媒体
WO2007057944A1 (ja) 2005-11-15 2007-05-24 Advantest Corporation 電子部品試験装置及び電子部品試験装置へのパフォーマンスボードの装着方法
JP4889653B2 (ja) * 2005-11-17 2012-03-07 株式会社アドバンテスト デバイス実装装置、テストヘッド及び電子部品試験装置
TW200817688A (en) * 2006-08-30 2008-04-16 Advantest Corp Element judging device, method, program, recording medium and measuring device
TWI392878B (zh) * 2009-06-05 2013-04-11 Univ Nat Sun Yat Sen 高頻特性量測校正基板及使用其之向量網路分析儀校正程序
US8860431B2 (en) * 2010-06-07 2014-10-14 Mayo Foundation For Medical Education And Research Application of open and/or short structures to bisect de-embedding
US9470729B2 (en) * 2011-04-08 2016-10-18 Telefonaktiebolaget L M Ericsson Transmission line parameter determination
TWI470256B (zh) * 2012-08-09 2015-01-21 Nat Univ Kaohsiung Method of manufacturing standard impedance substrate
CN104515907B (zh) * 2013-09-30 2017-09-22 上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司 一种散射参数测试系统及其实现方法
US9086376B1 (en) * 2014-01-15 2015-07-21 Keysight Technologies, Inc. Automatic fixture removal using one-port measurement
CN105974301A (zh) * 2016-06-30 2016-09-28 成绎半导体技术（上海）有限公司 芯片测试系统
CN109900983B (zh) * 2019-02-26 2020-07-07 北京航空航天大学 一种高频变压器寄生参数的测量装置
WO2020230326A1 (ja) * 2019-05-16 2020-11-19 三菱電機株式会社 Ｔｒｌ校正装置及びｔｒｌ検査方法
TW202115413A (zh) * 2019-09-30 2021-04-16 日商愛德萬測試股份有限公司 維護裝置、維護方法及記錄有維護程式之記錄媒體

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5467021A (en) * 1993-05-24 1995-11-14 Atn Microwave, Inc. Calibration method and apparatus
JPH0815348A (ja) 1994-06-28 1996-01-19 Fujitsu Ltd 電磁気障害対策部品のｓパラメータ測定方法及びｓパラメータ測定装置並びに電磁気障害対策部品のｓパラメータ測定に使用される測定治具
JP4124841B2 (ja) * 1997-07-18 2008-07-23 株式会社アドバンテスト ネットワーク・アナライザ、高周波周波数特性測定装置および誤差要因測定方法
JP2001153904A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Advantest Corp ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法および記録媒体
US6643597B1 (en) * 2001-08-24 2003-11-04 Agilent Technologies, Inc. Calibrating a test system using unknown standards
JP3610937B2 (ja) * 2001-09-07 2005-01-19 株式会社村田製作所 ネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置
WO2004049564A1 (ja) 2002-11-27 2004-06-10 Advantest Corporation 電力供給装置、方法、プログラム、記録媒体、ネットワークアナライザおよびスペクトラムアナライザ
US6838885B2 (en) * 2003-03-05 2005-01-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of correcting measurement error and electronic component characteristic measurement apparatus
US7034548B2 (en) * 2003-04-11 2006-04-25 Agilent Technologies, Inc. Balanced device characterization including test system calibration

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