JP3610937B2 - ネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置 - Google Patents
ネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3610937B2 JP3610937B2 JP2001271455A JP2001271455A JP3610937B2 JP 3610937 B2 JP3610937 B2 JP 3610937B2 JP 2001271455 A JP2001271455 A JP 2001271455A JP 2001271455 A JP2001271455 A JP 2001271455A JP 3610937 B2 JP3610937 B2 JP 3610937B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- port
- measurement
- network analyzer
- ports
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、4つ以上の測定用のポートを備えるネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、4つ以上の測定用のポートを備えるマルチポートネットワークアナライザとしては、4つ以上のポートを有するデバイスなどの測定対象に対して特性測定を行うため、例えば、図7に示すように構成したものが知られている。
【0003】
この図に示されたもののように、例えば4つのデータサンプラD1〜D4を備える4ポートネットワークアナライザで2ポートデバイスXを測定する際には、4つあるデータサンプラD1〜D4のうち2つ(図7においてはD1とD2)のみを用いて測定を行い、残りの2つのデータサンプラD3,D4は未使用であった。これは、4ポートネットワークアナイザを2ポートネットワークアナライザとして使用していることに相当している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、4ポートネットワークアナライザは2ポートネットワークアナライザよりも高価である。したがって、本来4ポートデバイス用に使用しているのを、一つの2ポートデバイスの測定にのみ使用することは、測定効率が低い。なお、この従来の4ポートネットワークアナライザに4つあるデータサンプラを2組に分けてそれぞれの組で2ポートデバイスの測定を行うこととし、信号源にこれら2つの2ポートデバイスを同時に接続したとしても、信号源のインピーダンスとこれら2つのデバイスの並列接続回路のインピーダンスとが不整合となるため、正確な特性測定ができない。
【0005】
しかしながら、ユーザ側では、マルチポートネットワークアナライザとして4ポートデバイスについてその測定が行えるものは必要性があって、単に図8に示すような2ポートネットワークアナライザのみを用意するだけでは4ポートデバイスの測定はできない。
【0006】
本発明の目的は、マルチポートネットアナライザで例えば2ポートデバイスのようなポートが少数のデバイスに対する測定を効率的に行うことができるようにしながらも、ポートが4つ以上のデバイスに対する測定も可能とするネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項1に係るネットワークアナライザは、単一の信号源と、該信号源からの信号を複数に分配して供給する信号分配手段と、測定対象における複数のポートを各別に接続可能な出力ポートと、前記信号分配手段で分配された信号を入力し、かつその入力された信号を前記出力ポートのうち対応する一つに対して選択して供給する状態と、該出力ポートを介して前記測定対象から得られる特性信号を終端器に伝送する状態とに切り換え可能な信号経路切り換え手段と、前記信号経路切り換え手段と前記出力ポートとの間に介装され、前記測定対象から得られる特性信号を受信する受信手段とを備えることを特徴とする。
【0008】
本発明の請求項1に係る構成によれば、単一の信号源からの信号を信号分配手段で分配した信号を、1個または複数個の測定対象の各ポートをそれぞれ出力ポートに接続した状態でその測定対象に供給して、その結果得られる特性を測定することにより、従来少数ポートの測定対象を一度に1個しか測定できなかったのに比較して、同時に測定できる個数を増すことができる分測定効率が向上することになる。また、信号分配手段を介して測定対象ごとに特性測定用の信号が供給させることができるので、互いの特性信号同士が影響しにくいものとなっているから、それぞれの測定対象ごとの特性測定が精度良く行える。
【0009】
本発明の請求項2に係るネットワークアナイザは、請求項1に記載のものにおいて、前記信号分配手段で分配された各信号を、前記出力ポートに接続される複数個の測定対象に対応して組となった複数の出力ポートにおいて選択された一つに対して対応する前記信号経路切り換え手段を介してそれぞれ供給する状態と、前記信号源からの信号を前記信号分配手段で分配することなく、前記各信号経路切り換え手段に供給する状態とに切り換え自在な切り換え手段を設けていることを特徴とする。
【0010】
本発明の請求項2に係る構成によれば、切り換え手段によって、前者の状態に設定すると、ポートが少数の測定対象を複数個同時に特性測定できることになり、一方、後者の状態に設定すると、ポート数が多い測定対象に対して各ポートを出力ポートに接続した状態で特性測定できることになるので、ポートが少数の測定対象の特性測定を行う場合と、ポート数が多い測定対象の特性測定を行う場合とに応じて使い分けることができる。
【0011】
本発明の請求項3に係るネットワークアナライザは、請求項1または2に記載のものにおいて、前記信号分配手段と、前記信号経路切り換え手段との間に該信号経路切り換え手段側から前記信号分配手段への反射信号の伝達を抑制する絶縁器を介装していることを特徴とする。
【0012】
本発明の請求項3に係る構成によれば、絶縁器によって信号分配手段側への反射信号が測定対象への供給信号に重畳するような悪影響を抑制できるので、複数の測定対象の特性測定において、一層精度の高い特性測定が行えることになる。
【0013】
本発明の請求項4に係るネットワークアナライザは、請求項1から3のいずれかに記載のものにおいて、前記出力ポートに接続される測定対象は平衡ポートを有するデバイスであり、該デバイスの対応するポートと、前記出力ポートとの間に平衡ポートを不平衡ポートとして転換する手段を介装していることを特徴とする。
【0014】
本発明の請求項4に係る構成によれば、平衡ポートを複数有するデバイスであっても、平衡ポートを不平衡ポートに転換する手段、例えば180°ハイブリッドやバランなどを介して出力ポートに接続することで、平衡ポート数と同じ数の不平衡ポートを有する測定対象に転換して出力ポートに接続できることになり、そのデバイスを複数個同時に特性測定することが可能となって、測定効率を向上させることができる。
【0015】
本発明の請求項5に係る部品選別装置は、請求項1から4のいずれかに記載のネットワークアナライザを備える部品選別装置であって、前記出力ポートに接続され、かつ測定対象のポートに接触可能なプローブを備える測定ステーションを複数設けるとともに、各測定ステーションに搬送された測定対象を同時に測定する状態と、特定の測定ステーションにおける測定対象のみを測定する状態とに切り換え可能に構成し、該測定結果に基づいて測定対象となる部品を選別する選別手段を備えていることを特徴とする。
【0016】
本発明の請求項5に係る構成によれば、部品選別を行うのに、その選別される部品となる測定対象が少数のポートを有するものの場合、複数個を同時に複数の測定ステーションで測定し、測定対象がポート数の多いものの場合、特定の測定ステーションでその各ポートに対する特性測定が行えるようにでき、それぞれの場合において、精度良く、かつ効率良く特性測定ができ、その結果に基づいて、例えば良品と不良品との選別などが良好に行える。
【0017】
本発明の請求項6に係るネットワークアナライザによる測定方法は、単一の信号源からの信号を複数に分配して供給する信号分配手段の各供給ポートと、測定対象における複数のポートを各別に接続可能な出力ポートとの間に、前記測定対象の複数のポートのうち一つを選択するとともにその選択されたポートに対して前記供給ポートからの信号を供給する信号経路切り換え手段と、該供給された信号により前記測定対象から得られる特性信号を受信する受信手段とを介装した状態で、複数個の前記測定対象の各ポートを対応する前記出力ポートに接続することにより、複数個の前記測定対象の特性を同時に測定することを特徴とする。
【0018】
本発明の請求項6に係る構成によれば、単一の信号源からの信号を信号分配手段で分配した信号を、複数の測定対象の各ポートをそれぞれ出力ポートに接続した状態でその複数の測定対象に供給して、その結果得られる特性を同時に測定することにより、従来少数ポートの測定対象を一度に1個しか測定できなかったのに比較して、同時に測定できる個数分測定効率が向上することになる。また、信号分配手段を介して測定対象ごとに特性測定用の信号が供給されることで、互いの特性信号同士が影響しにくいものとなっているから、それぞれの測定対象ごとの特性測定が精度良く行える。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。
【0020】
図1、図2は、本発明の実施の形態を示すものであって、図1は、2個の2ポートデバイスの測定を行っている4ポートネットワークアナライザの要部を示す回路図、図2は、1個の4ポートデバイスの測定を行っている4ポートネットワークアナライザの要部を示す回路図である。
【0021】
図1は、例えばSAWフィルタなどのデバイスの特性を測定するマルチポートネットワークアナライザにおける本発明に係る要部を示している。
【0022】
図1に示すように、このマルチポートネットワークアナライザは、リファレンスサンプラR以外に受信手段としての4つのデータサンプラD1〜D4を有する4ポートネットワークアナライザの各出力ポート(コネクタ部)1〜4を備えている。そして、このネットワークアナライザの単一の信号源Oに対して信号分配手段としてのパワースプリッタPSを接続している。これにより信号源Oからの信号はパワースプリッタPSの2つの供給ポートとしての出力端子A,Bよりそれぞれ出力される。前記各出力ポート1〜4にはそれぞれリレーあるいはマルチプレクサなどのデバイスで構成される信号経路切り換え手段としてのスイッチS1〜S4が接続されており、それぞれのスイッチS1〜S4における2つの固定端子のうち一方は終端器(ターミネータ)T1〜T4に接続され、他方はパワースプリッタPSの出力端子Aまたは出力端子Bに接続される。
【0023】
そして、スイッチS1〜S4の可動側接点と、各出力ポート1,2,3,4との間には、測定に伴って得られる反射信号や透過信号を特性信号として得るための方向性結合器H1〜H4がそれぞれ設けられている。各方向性結合器H1〜H4にはレシーバR1〜R4が接続されており、この方向性結合器H1〜H4と、レシーバR1〜R4とにより前記データサンプラD1〜D4がそれぞれ構成されている。なお、レシーバR1〜R4で受信した特性信号は、図示しないネットワークアナライザ本体での信号解析に供されることになる。
【0024】
さらに、スイッチS1〜S4とパワースプリッタPSの出力端子A,Bとの間には、絶縁器の一例としてのサーキュレータC1,C2が接続されており、該サーキュレータC1,C2の第3端子には、無反射終端器が接続されている。
【0025】
そして、パワースプリッタPSの出力端子Bと出力ポート3,4とを接続する状態と、切断して開放する状態とに切り換えるための切り換え手段10が設けられている。また、スイッチS1,S2の固定接点端子とスイッチS3,S4の固定接点端子とを接続する状態と、切断して開放する状態とに切り換えるための切り換え手段11が設けられている。これら切り換え手段10,11は、例えば、ジャンパ線をその断接箇所に対して抜き差しして断線状態と接続状態との切り換えを行えるようにしても良いとともに、上記スイッチS1〜S4のようにスイッチングを行える手段を設けても良い。これら切り換え手段10,11を、図ではスイッチ記号で示している。
【0026】
以上の構成の4ポートネットワークアナライザによる測定方法について、2つのポートを備える測定対象の特性測定を行う場合と、4つのポートを備える測定対象の特性測定を行う場合とにわけてそれぞれ以下に説明する。
【0027】
まず、図1を参照して、2つのポートを備える測定対象の特性測定を行う場合について説明する。
【0028】
前記切り換え手段10を開放状態にしておき、切り換え手段11を接続状態にしておく。そして、予めフル2ポート補正等の通常の校正をした状態にして、2つのポートを備える一つの測定対象X1の各ポートを対応する出力ポート1,2に接続し、同一品種の測定対象X2の各ポートを対応する出力ポート3,4に接続する。なお、この場合、予め、出力ポート1と信号源O側とが接続され、出力ポート2と終端器T2とが接続されるよう、スイッチS1,S2が設定され、出力ポート3と信号源O側とが接続され、出力ポート4と終端器T4とが接続されるよう、スイッチS3,S4が設定されている。
【0029】
そして、信号源Oからの信号がパワースプリッタPSを介してその出力端子A,Bからそれぞれ出力されるように分配される。このとき、出力端子Aからの信号が出力ポート1に供給され、その信号の供給によって測定対象X1で反射した反射信号は出力ポート1および方向性結合器H1を通してレシーバR1に受信される。一方、供給された信号によって測定対象X1を透過して出力ポート2を通して得られる透過信号は方向性結合器H2を通してレシーバR2に受信される。また、出力ポート3,4にそれぞれ各ポートを接続した測定対象X2についても、同様である。すなわち、出力端子Bからの信号が出力ポート3に供給され、その供給された信号が測定対象X2で反射した反射信号は出力ポート3および方向性結合器H3を通してレシーバR3に受信される。一方、供給された信号によって測定対象X2を透過して出力ポート4を通して得られる透過信号は方向性結合器H4を通してレシーバR4に受信される。
【0030】
次に、スイッチS1において、出力ポート1と出力端子Aとの接続状態を、出力ポート1と終端器T1との接続状態に切り換え、スイッチS2において、出力ポート2と終端器T2との接続状態を、出力ポート2と出力端子Aとの接続状態に切り換え、スイッチS3において、出力ポート3と出力端子Bとの接続状態を、出力ポート3と終端器T3との接続状態に切り換え、スイッチS4において、出力ポート4と終端器T4との接続状態を、出力ポート4と出力端子Bとの接続状態に切り換える。そして、この状態で、信号源Oからの信号は、パワースプリッタPSを介してその出力端子A,Bより出力ポート2,4へそれぞれ供給される。出力端子Aからの信号の供給によって測定対象で反射した反射信号は出力ポート2および方向性結合器H2を通してレシーバR2に受信される。一方、供給された信号によって測定対象を透過して出力ポート1を通して得られる透過信号は方向性結合器H1を通してレシーバR1に受信される。また、出力ポート3,4に各ポートを接続した測定対象についても、同様である。すなわち、出力端子Bからの信号の供給によって測定対象で反射した反射信号は出力ポート4および方向性結合器H4を通してレシーバR4に受信される。一方、供給された信号によって測定対象を透過して出力ポート3を通して得られる透過信号は方向性結合器H3を通してレシーバR3に受信される。
【0031】
以上の2回の測定によりこれら測定対象の測定工程は完了し、その受信結果に基づいてネットワークアナライザにおいては、それぞれの測定対象の例えば振幅特性や位相特性などが測定される。
【0032】
なお、出力ポート1,2を一組とし、出力ポート3,4を別の組とするといった組み合わせは任意であり、例えば、出力ポート1,3を一組とし、出力ポート2,4を別の組とするように組み合わせて測定しても良い。
【0033】
上記構成により、4ポートのマルチポートネットワークアナライザで2ポートのデバイスを測定する際に、同時に2つの2ポートデバイスを測定することができるため、一度に1つのデバイスを測定するだけの場合と比較して処理能力が倍増するように向上する。
【0034】
なお、この場合、パワースプリッタPSから出力された信号は、サーキュレータC1,C2とこれに接続された終端器とにより測定対象側へ伝えられるが、測定対象からの反射波はパワースプリッタPS側へ伝えることなく終端器によって熱にエネルギー変換してしまうので、たとえ同時に測定している測定対象の一方が短絡しているような場合でも、他方の試料はその影響無く測定できる。
【0035】
次に、図2を参照して、上記4ポートネットワークアナライザによって4ポートデバイスの特性測定を行う工程について説明する。
【0036】
切り換え手段10を開放状態から接続状態に切り換え、切り換え手段11を接続状態から開放状態に切り換える。また、各スイッチS1〜S4のうち、まずスイッチS1において、出力ポート1と信号入力側固定端子とが接続されるように設定し、スイッチS2,S3,S4において、出力ポート2,3,4がそれぞれ終端器T2,T3,T4に接続されるように設定しておく。そして、出力ポート1,2,3,4には、4ポートを備える測定対象X3の対応するポートをそれぞれ接続しておく。
【0037】
この状態で、信号源Oから信号を出力すると、その信号は、パワースプリッタPSで分配されることなく出力端子Aから各スイッチS1〜S4へ出力され、スイッチS1を介して出力ポート1にのみ供給される。出力端子Aからの信号の供給によって測定対象X3で反射した反射信号は出力ポート1および方向性結合器H1を通してレシーバR1に受信される。一方、供給された信号によって測定対象X3を透過して出力ポート2,3,4を通して得られる透過信号は方向性結合器H2,H3,H4をそれぞれ通してレシーバR2,R3,R4にそれぞれ受信される。
【0038】
以下、スイッチS1〜S4の切り換えを行って、出力端子Aからの信号が出力ポート2,3,4をそれぞれ通して得られる各反射信号や透過信号をそれぞれのレシーバR1〜R4で受信して測定する。
【0039】
これにより、4ポートデバイスの各ポートへそれぞれ信号を入力したときの特性測定用のデータを得る工程が完了し、その得られたデータに基づいてネットワークアナライザにおいて特性の解析を行う。
【0040】
したがって、このマルチポートネットワークアナライザにおいては、4ポートデバイスの特性測定を行うことも可能であるとともに、2ポートデバイスの特性測定を行うことも可能であり、2ポートデバイスの特性測定においては同時に2個の測定対象を測定できることになる。
【0041】
以下に、別の実施の形態を列記する。
【0042】
(1)図3に示すように、6データサンプラを備える6ポートマルチポートネットワークアナライザの単一の信号源Oに信号を3つに分配するパワースプリッタPSを接続し、パワースプリッタPSの出力それぞれにサーキュレータC1〜C3、スイッチS1〜S6、終端器(アッテネータ)T1〜T6を接続して2ポートの試料3つを同時に測定する。
【0043】
このようにすることにより、6ポートのマルチポートネットワークアナライザで2ポートのデバイスを測定する際に、同時に3つのデバイスを測定することができるため、単一のデバイスのみ測定する場合と比較して、処理能力が3倍に向上する。したがって、パワースプリッタPSの各供給ポートとしての出力端子A,B,Cからのそれぞれの信号で2回のサンプリングを行って測定が完了する。すなわち、6ポートであっても6回のサンプリングが必要となるわけではない。
【0044】
(2)図示しないが、6データサンプラを備える6ポートマルチポートネットワークアナライザの単一の信号源Oに2分割のパワースプリッタPSを接続し、パワースプリッタPSの出力それぞれに二つのサーキュレータC1,C2、6つのスイッチS1〜S6、6つの終端器T1〜T6を接続して不平衡3ポートの試料を同時に測定する。
【0045】
このようにすることにより、6ポートのマルチポートネットワークアナライザで3ポートのデバイスを測定する際に、同時に2つのデバイスを測定することができるため、単一のデバイスのみ測定する場合と比較して、処理能力が2倍に向上する。したがって、各デバイスの3つのポートのそれぞれに信号を供給する3回のサンプリングで測定が完了する。すなわち、6ポートであっても6回のサンプリングが必要となるわけではない。
【0046】
(3)6ポートよりも多くの出力ポートを有するマルチポートネットワークアナライザについても、例えば9ポートのマルチポートネットワークアナライザであれば、3ポートのデバイスを3つ同時に測定することが可能である。あるいは、2ポートのデバイスを4つ同時に測定することが可能である。この場合、出力ポートが1つ余ることになる。さらに、4ポートのデバイスを2つ同時に測定することが可能である。
【0047】
このようにすることにより、単一のデバイスのみ測定する場合と比較して、処理能力が2倍、3倍、4倍と向上することになる。
【0048】
(4)6ポート以上の出力ポートを備えるマルチポートネットワークアナライザを用いた場合において、不平衡3ポートデバイスの代わりに、不平衡1ポート+平衡1ポートのデバイスを測定する。平衡1ポートは不平衡2ポートに相当するので、不平衡4ポートデバイスの代わりに平衡2ポートデバイスを測定する。この場合、測定結果の解析は、数学的バラン法を利用する。
【0049】
このようにすることにより、マルチポートネットワークアナライザを少数ポートの測定対象を複数個同時に測定できるネットワークアナライザとして用いることができる利点を有しつつ、数学的バラン法を用いることで、平衡デバイスの測定を実現できる。
【0050】
(5)図4に示すように、上記実施の形態で示した4つの出力ポートを備えるマルチポートネットワークアナライザ(図4では図示していない)において、2つの同一品種の測定対象DUT1,DUT2を同時に測定できる状態にして、一つの平衡4ポートの測定対象DUT1の両端の二つのポートそれぞれと、出力ポート1,2とを、180°ハイブリッド20を介して接続し、もう一つの平衡4ポートの測定対象DUT2の両端の二つのポートそれぞれと、出力ポート3,4とを、180°ハイブリッド21を介して接続することにより、2つの平衡4ポートの測定対象DUT1,DUT2をそれぞれ不平衡ポートとして転換して同時に一台のマルチポートネットワークアナライザでその特性測定を行うようにしても良い。
【0051】
この場合、信号の供給は2方向のみ変えるだけでよく、2回のサンプリングで済むことになり、180°ハイブリッド20,21を介装しないで測定する場合に比較しても、測定回数が少なくなること、及び同時に2個の測定対象DUT1,DUT2を測定できることから、効率が4倍に向上する。
【0052】
(6)上記各実施の形態では、サーキュレータを絶縁器として備えるものを示したが、サーキュレータに代えて減衰器(アッテネータ)やアイソレータを用いても良い。
【0053】
なお、パワースプリッタが一方の出力に接続される測定対象の試料によって他方の出力に表れる信号が影響を受けないような特性を有している場合、サーキュレータは不要であり、コストを低減できる。減衰器をサーキュレータの代わりに用いると試料に与える信号が減衰するなどの不都合もあるが、一般にサーキュレータよりも安価でコストを低減できるとともに、サーキュレータよりも広帯域に対応することが容易である。アイソレータは、サーキュレータを用いる場合とほとんど同じであるが、試料の反射波を再び試料側に反射する点のみが異なる。
【0054】
(7)図5,図6に、本発明の測定方法を用いた電子部品の特性を測定してその良否を判定して選別する部品選別装置の一例を示している。
【0055】
この部品選別装置は、選別対象のデバイス30(この場合チップ部品)を個別に収納保持した状態で載せて回転できるターンテーブル31と、該ターンテーブル31上のデバイス30の端子に対して測定用プローブ32を接触させて特性測定を行うマルチポートネットワークアナライザ33と、該マルチポートネットワークアナライザ33で特性測定された後のデバイス30を該測定結果に基づいて良品と不良品とで選別する選別機構34とを備えて構成している。
【0056】
ターンテーブル31は、1個のデバイス30のみを一時的に収納する大きさの切欠き部35を外周縁部に周方向に一定間隔おきに形成して備える円盤状の回転テーブル部31aと、この回転テーブル部31aの下側に位置して切欠き部35に収納されたデバイス30が下方に落ちないように載せておくための固定テーブル31bと、デバイス30が切欠き部35から飛び出したりしないように全切欠き部35上方を覆うカバー31cと、回転テーブル部31aを1ピッチ分、もしくは所定複数ピッチ分微小角度回転作動させた後一時停止する動作を繰り返すように作動させる電動モータなどの駆動手段(図示せず)やその作動を制御する制御装置38を設けて構成している。
【0057】
回転テーブル部31aの所定回転位相の部品受け入れ位置において、切欠き部35に対して横側の開口箇所からデバイス30が1個のみフィーダFから供給されて収納されるようにしている。
【0058】
ターンテーブル31において部品受け入れ位置よりも回転方向での下手側には、デバイス30の特性測定を行う2つの測定ステーション36,37を配置している。各測定ステーション36,37には、2本の測定用プローブ32が、固定テーブル31bに穿設された上下貫通孔を通して切欠き部35内に上下に出退自在に設けられている。各測定用プローブ32は、制御装置38で制御されて回転テーブル部31aの回転作動時は下方に退避し、回転テーブル部31aが停止しているとき、上方に突出してデバイス30の対応するポートに接触するように制御されている。そして、各測定用プローブ32は、マルチポートネットワークアナライザ33の対応する出力ポート1〜4にそれぞれ接続されている。
【0059】
ターンテーブル31において測定ステーション36,37位置よりも回転方向での下手側には、マルチポートネットワークアナライザ33による測定結果に基づいて良品と不良品とでデバイス30を選別する選別機構34を配置している。
【0060】
制御装置38は、ターンテーブル31を2ピッチ回転させるごとに、測定ステーション36,37に位置するそれぞれのデバイス30に対して前述の実施の形態で説明した特性測定を同時に行うように、マルチポートネットワークアナライザ33を含めて、制御する。そして、制御装置38は、マルチポートネットワークアナライザ33の測定結果に基づいてデバイス30の良品と不良品とを選別機構34で選別する。この場合、2個のデバイス30の特性測定を同時に行うから、その測定の効率が高く、その結果自動的な良不良の選別も効率的に行える。
【0061】
この部品選別装置を利用して、4ポートのデバイスについて特性測定を行って例えば良不良の選別を行う場合には、測定ステーション36の測定用プローブ32を4本測定に供されるようにそのユニットを交換するか、予め4本の測定用プローブ32を備えたもののうち2本のみ作動させていたのを4本作動させるようにして、一つの測定ステーション36でデバイスの4ポートとマルチポートネットワークアナライザ33の出力ポートとがそれぞれ接続されるように切り換え、ネットワークアナライザ33側も4ポートのデバイスの特性測定を行えるように切り換える。この測定は、ターンテーブル31の送りピッチが1ピッチごとに行われることになる。したがって、この場合、制御装置38は、ターンテーブル31の送りピッチを2ピッチから1ピッチに切り換える。
【0062】
この部品選別装置では、同時に同一仕様の複数個のデバイスを1台のマルチポートネットワークアナライザで測定できるので、安価で測定能力の高い部品選別装置となることはもちろんであるが、ポート数の多いデバイスに対しては同時に1つのデバイスを測定するように測定ステーションを変更するだけで対応できるという、多品種少量生産に向いた設備とすることができる。つまり、商品ごとに新たな設備を用意する必要が無いので設備投資を抑制できる。
【0063】
なお、本発明は、SAWフィルタや、セラミックコンデンサなどの素子のみならず、各種回路網の特性測定を行うために利用することができる。
【0064】
【発明の効果】
本発明によれば、単一の信号源からの信号を信号分配手段で分配した信号を、1個または複数個の測定対象の各ポートをそれぞれ出力ポートに接続した状態でその測定対象に供給して、その結果得られる特性を測定することにより、従来少数ポートの測定対象を一度に1個しか測定できなかったのに比較して、同時に測定できる個数を増すことができる分測定効率が向上することになる。また、信号分配手段を介して測定対象ごとに特性測定用の信号が供給させることができるので、互いの特性信号同士が影響しにくいものとなっているから、それぞれの測定対象ごとの特性測定が精度良く行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】2個の2ポートデバイスの測定を行っている4ポートネットワークアナライザの要部を示す回路図
【図2】1個の4ポートデバイスの測定を行っている4ポートネットワークアナライザの要部を示す回路図
【図3】3個の2ポートデバイスの測定を行っている6ポートネットワークアナライザの要部を示す回路図
【図4】平衡ポートを有する2つのデバイスを4ポートネットワークアナライザの出力ポートに180°ハイブリッドを介して接続した状態を示す回路図
【図5】部品選別装置の概略を示す一部破断平面図
【図6】図5における測定ステーションの縦断面およびマルチネットワークアナライザなどを示す説明図
【図7】従来の4ポートネットワークアナライザの要部を示す回路図
【図8】従来の2ポートネットワークアナライザの要部を示す回路図
【符号の説明】
1〜4 出力ポート
10,11 切り換え手段
20,21 180°ハイブリッド
A,B 出力端子(供給ポート)
C1,C2 サーキュレータ(絶縁器)
D1〜D4 受信手段
O 信号源
PS パワースプリッタ(信号分配手段)
S1〜S4 信号経路切り換え手段
X1,X2 測定対象
Claims (6)
- 単一の信号源と、
該信号源からの信号を複数に分配して供給する信号分配手段と、
測定対象における複数のポートを各別に接続可能な出力ポートと、
前記信号分配手段で分配された信号を入力し、かつその入力された信号を前記出力ポートのうち対応する一つに対して選択して供給する状態と、該出力ポートを介して前記測定対象から得られる特性信号を終端器に伝送する状態とに切り換え可能な信号経路切り換え手段と、
前記信号経路切り換え手段と前記出力ポートとの間に介装され、前記測定対象から得られる特性信号を受信する受信手段とを備えることを特徴とするネットワークアナライザ。 - 請求項1に記載のネットワークアナライザにおいて、
前記信号分配手段で分配された各信号を、前記出力ポートに接続される複数個の測定対象に対応して組となった複数の出力ポートにおいて選択された一つに対して対応する前記信号経路切り換え手段を介してそれぞれ供給する状態と、前記信号源からの信号を前記信号分配手段で分配することなく、前記各信号経路切り換え手段に供給する状態とに切り換え自在な切り換え手段を設けていることを特徴とするネットワークアナライザ。 - 請求項1または2に記載のネットワークアナライザにおいて、前記信号分配手段と、前記信号経路切り換え手段との間に該信号経路切り換え手段側から前記信号分配手段への反射信号の伝達を抑制する絶縁器を介装していることを特徴とするネットワークアナライザ。
- 請求項1から3のいずれかに記載のネットワークアナライザにおいて、
前記出力ポートに接続される測定対象は平衡ポートを有するデバイスであり、該デバイスの対応するポートと、前記出力ポートとの間に平衡ポートを不平衡ポートとして転換する手段を介装していることを特徴とするネットワークアナライザ。 - 請求項1から4のいずれかに記載のネットワークアナライザを備える部品選別装置であって、
前記出力ポートに接続され、かつ測定対象のポートに接触可能なプローブを備える測定ステーションを複数設けるとともに、
各測定ステーションに搬送された測定対象を同時に測定する状態と、特定の測定ステーションにおける測定対象のみを測定する状態とに切り換え可能に構成し、
該測定結果に基づいて測定対象となる部品を選別する選別手段を備えていることを特徴とする部品選別装置。 - 単一の信号源からの信号を複数に分配して供給する信号分配手段の各供給ポートと、測定対象における複数のポートを各別に接続可能な出力ポートとの間に、前記測定対象の複数のポートのうち一つを選択するとともにその選択されたポートに対して前記供給ポートからの信号を供給する信号経路切り換え手段と、該供給された信号により前記測定対象から得られる特性信号を受信する受信手段とを介装した状態で、複数個の前記測定対象の各ポートを対応する前記出力ポートに接続することにより、複数個の前記測定対象の特性を同時に測定することを特徴とするネットワークアナライザによる測定方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001271455A JP3610937B2 (ja) | 2001-09-07 | 2001-09-07 | ネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置 |
CNB021320373A CN1246700C (zh) | 2001-09-07 | 2002-09-06 | 网络分析器以及基于它的测定方法和零部件选择装置 |
KR1020020053769A KR100691955B1 (ko) | 2001-09-07 | 2002-09-06 | 네트워크 애널라이저 및 이 네트워크 애널라이저에 의한측정 방법, 및 이 네트워크 애널라이저를 포함한 부품선별 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001271455A JP3610937B2 (ja) | 2001-09-07 | 2001-09-07 | ネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003075488A JP2003075488A (ja) | 2003-03-12 |
JP3610937B2 true JP3610937B2 (ja) | 2005-01-19 |
Family
ID=19096960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001271455A Expired - Lifetime JP3610937B2 (ja) | 2001-09-07 | 2001-09-07 | ネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3610937B2 (ja) |
KR (1) | KR100691955B1 (ja) |
CN (1) | CN1246700C (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100495046C (zh) * | 2004-06-28 | 2009-06-03 | 株式会社爱德万测试 | 夹具特性测定装置、方法以及网络分析器、半导体试验装置 |
JP5386055B2 (ja) * | 2005-08-30 | 2014-01-15 | 株式会社日立製作所 | 特性評価装置および特性評価方法 |
CN101046492B (zh) * | 2006-03-28 | 2010-05-12 | 华为技术有限公司 | 一种双端口网络参数测试方法 |
CN101373198B (zh) * | 2007-08-20 | 2011-03-16 | 电信科学技术第五研究所 | 电缆测试总线及开关矩阵电路 |
CN101782612B (zh) * | 2009-11-26 | 2012-07-04 | 中国电子科技集团公司第二十六研究所 | Saw滤波器自动测试系统 |
JP5604669B2 (ja) * | 2012-04-09 | 2014-10-08 | アキム株式会社 | 温度特性計測装置、温度特性計測方法 |
CN103780314A (zh) * | 2012-10-18 | 2014-05-07 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | 射频特性测试设备 |
CN103217586B (zh) * | 2013-03-21 | 2015-04-08 | 中国科学院电工研究所 | 一种基于核磁共振波谱仪的矢量网络分析装置 |
JP2017028619A (ja) * | 2015-07-27 | 2017-02-02 | 日本電波工業株式会社 | 分配回路、及び周波数切替装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0726779U (ja) * | 1993-10-22 | 1995-05-19 | 株式会社アドバンテスト | ネットワーク・アナライザ用アクセサリ |
JPH10340832A (ja) * | 1997-04-08 | 1998-12-22 | Murata Mfg Co Ltd | コンデンサの特性測定・梱包装置 |
US6147501A (en) * | 1997-08-26 | 2000-11-14 | Hewlett-Packard Company | Automatic calibration of a network analyzer |
JPH11183535A (ja) * | 1997-12-24 | 1999-07-09 | Advantest Corp | 4ポートテストセット |
US6347382B1 (en) * | 1998-11-30 | 2002-02-12 | Advantest Corp. | Multi-port device analysis apparatus and method |
US6421624B1 (en) * | 1999-02-05 | 2002-07-16 | Advantest Corp. | Multi-port device analysis apparatus and method and calibration method thereof |
JP2002152150A (ja) * | 2001-09-26 | 2002-05-24 | Agilent Technologies Japan Ltd | マルチポートデバイスを測定するためのテストセット |
-
2001
- 2001-09-07 JP JP2001271455A patent/JP3610937B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-09-06 CN CNB021320373A patent/CN1246700C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2002-09-06 KR KR1020020053769A patent/KR100691955B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20030022065A (ko) | 2003-03-15 |
JP2003075488A (ja) | 2003-03-12 |
KR100691955B1 (ko) | 2007-03-09 |
CN1410777A (zh) | 2003-04-16 |
CN1246700C (zh) | 2006-03-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6653848B2 (en) | Method and apparatus for linear characterization of multi-terminal single-ended or balanced devices | |
KR101246363B1 (ko) | 교정 기판과 전자 회로를 가지는 측정 장치 | |
US6920407B2 (en) | Method and apparatus for calibrating a multiport test system for measurement of a DUT | |
JP3610937B2 (ja) | ネットワークアナライザ、およびこのネットワークアナライザによる測定方法、並びにこのネットワークアナライザを備える部品選別装置 | |
CN110286347B (zh) | 电子校准件以及校准系统、方法、装置和存储介质 | |
CN105162535B (zh) | 隔离度测试装置及测试方法 | |
CN107817368A (zh) | 一种多通道s参数的测量装置及测量方法 | |
CN105929279B (zh) | 一种多通道微波接收组件路间隔离指标测试装置及方法 | |
US7075312B2 (en) | Method for correcting errors by de-embedding dispersion parameters network analyst and switching module | |
US20110156730A1 (en) | Chip-based prober for high frequency measurements and methods of measuring | |
CN207636631U (zh) | 器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统 | |
JP4857383B2 (ja) | 携帯無線機に交互に試験を行うためのスイッチング装置 | |
JP2000162257A (ja) | マルチポ―トデバイス解析装置及び解析方法 | |
JPH11211766A (ja) | 自動キャリブレーション装置 | |
US10481194B2 (en) | Automated high frequency test station | |
US4891577A (en) | Apparatus for measuring noise characteristics | |
JPH11190760A (ja) | 半導体試験装置 | |
EP0234111A1 (en) | Six-port reflectometer test arrangement | |
CN117375738A (zh) | 射频测试设备及系统 | |
CN204615992U (zh) | 一种基于单片机控制的射频分配器检测装置 | |
JP3276888B2 (ja) | 機器の電気的物理量試験装置 | |
JP2024516773A (ja) | 第1および第2のアンテナを使用して被試験デバイスおよび特徴付けデバイスとの結合を確立する自動試験機器構成要素、自動試験機器、および方法 | |
CN113922892A (zh) | 针对多端口网分仪器实现端口自由配置的系统 | |
JP2002152150A (ja) | マルチポートデバイスを測定するためのテストセット | |
KR20210120568A (ko) | 미들 웨어 장치를 갖는 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험시스템 및 이를 사용한 전자 장비의 이종 전기적 특성 시험 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040922 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040928 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041011 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3610937 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071029 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081029 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091029 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101029 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101029 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111029 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121029 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131029 Year of fee payment: 9 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |