JPH11183535A - ４ポートテストセット - Google Patents
４ポートテストセットInfo
- Publication number
- JPH11183535A JPH11183535A JP35517597A JP35517597A JPH11183535A JP H11183535 A JPH11183535 A JP H11183535A JP 35517597 A JP35517597 A JP 35517597A JP 35517597 A JP35517597 A JP 35517597A JP H11183535 A JPH11183535 A JP H11183535A
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- port
- signal
- switch
- test set
- measurement
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、ネットワークアナライザで４ポー
トデバイスのＳパラメータ測定をする場合に、ケーブル
接続変更することなく測定できる４ポートテストセット
を提供する。 【解決手段】 被測定デバイスのＳパラメータが測定が
できる２ポートのネットワークアナライザと、該２ポー
トの一方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて
選択接続できる第１のスイッチと、該２ポートの他方の
ポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続で
きる第２のスイッチと、前記ネットワークアナライザの
制御信号を受けて、前記第１のスイッチと、第２のスイ
ッチとを切り換え制御する制御部とを具備して４ポート
デバイスを測定する解決手段。
トデバイスのＳパラメータ測定をする場合に、ケーブル
接続変更することなく測定できる４ポートテストセット
を提供する。 【解決手段】 被測定デバイスのＳパラメータが測定が
できる２ポートのネットワークアナライザと、該２ポー
トの一方のポートの信号を、２つのポートに切り換えて
選択接続できる第１のスイッチと、該２ポートの他方の
ポートの信号を、２つのポートに切り換えて選択接続で
きる第２のスイッチと、前記ネットワークアナライザの
制御信号を受けて、前記第１のスイッチと、第２のスイ
ッチとを切り換え制御する制御部とを具備して４ポート
デバイスを測定する解決手段。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ネットワークアナ
ライザを用いて４ポートデバイスを測定できる４ポート
テストセットに関する。
ライザを用いて４ポートデバイスを測定できる４ポート
テストセットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の例について、図６〜図１１を
参照して説明する。最初に、２ポートのネットワークア
ナライザについて概要を説明する。図７に示すように、
２ポートのネットワークアナライザ１０は、測定部１１
と、方向性結合器Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３と、スイッチＳＷ４
とで構成している。
参照して説明する。最初に、２ポートのネットワークア
ナライザについて概要を説明する。図７に示すように、
２ポートのネットワークアナライザ１０は、測定部１１
と、方向性結合器Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３と、スイッチＳＷ４
とで構成している。
【０００３】測定部１１は、信号出力Ｐと、基準信号入
力チャンネルＲと、２つの入力チャンネルＡとＢとがあ
る。
力チャンネルＲと、２つの入力チャンネルＡとＢとがあ
る。
【０００４】方向性結合器Ｄ１は、信号出力ｐを分配し
て基準信号入力をチャンネルＲへ与えている。また、方
向性結合器Ｄ２は、ポートＰ１に接続された被測定デバ
イスからの反射信号・伝送信号をチャンネルＡに与えて
いる。そして、方向性結合器Ｄ３は、ポートＰ２に接続
された被測定デバイスからの反射信号・伝送信号をチャ
ンネルＢに与えている。そして、２ポートデバイス４０
のＳパラメータを測定している。
て基準信号入力をチャンネルＲへ与えている。また、方
向性結合器Ｄ２は、ポートＰ１に接続された被測定デバ
イスからの反射信号・伝送信号をチャンネルＡに与えて
いる。そして、方向性結合器Ｄ３は、ポートＰ２に接続
された被測定デバイスからの反射信号・伝送信号をチャ
ンネルＢに与えている。そして、２ポートデバイス４０
のＳパラメータを測定している。
【０００５】ここで、ポートＰ１側にケーブル接続され
た被測定デバイスのポートを１とし、ポートＰ２側にケ
ーブル接続された被測定デバイスのポートを２とする。
また、ＳパラメータのＳijは、i は被測定デバイスから
信号の出てくるポート番号を表し、j は被測定デバイス
に信号の入っていくポート番号を表している。
た被測定デバイスのポートを１とし、ポートＰ２側にケ
ーブル接続された被測定デバイスのポートを２とする。
また、ＳパラメータのＳijは、i は被測定デバイスから
信号の出てくるポート番号を表し、j は被測定デバイス
に信号の入っていくポート番号を表している。
【０００６】例えば、スイッチＳＷ４をａ側にしたと
き、２ポートデバイス４０のＳパラメータ測定は下記の
ようになる。 Ｓ11＝チャンネルＡへの信号／チャンネルＲへの信号 Ｓ21＝チャンネルＢへの信号／チャンネルＲへの信号
き、２ポートデバイス４０のＳパラメータ測定は下記の
ようになる。 Ｓ11＝チャンネルＡへの信号／チャンネルＲへの信号 Ｓ21＝チャンネルＢへの信号／チャンネルＲへの信号
【０００７】また、スイッチＳＷ４をｂ側にしたとき、
２ポートデバイス４０のＳパラメータ測定は下記のよう
になる。 Ｓ12＝チャンネルＡへの信号／チャンネルＲへの信号 Ｓ22＝チャンネルＢへの信号／チャンネルＲへの信号 よって、２ポートデバイス４０のＳパラメータは、ケー
ブル接続を変更しないでも測定できる。
２ポートデバイス４０のＳパラメータ測定は下記のよう
になる。 Ｓ12＝チャンネルＡへの信号／チャンネルＲへの信号 Ｓ22＝チャンネルＢへの信号／チャンネルＲへの信号 よって、２ポートデバイス４０のＳパラメータは、ケー
ブル接続を変更しないでも測定できる。
【０００８】次に、４ポートデバイスを測定する場合に
ついて説明する。例えば、図６に示す４ポートデバイス
３０の一例は、スイッチＳＷ５と、送信信号用のバンド
パスフィルタ３１と、受信信号用のバンドパスフィルタ
３２とで構成されている。
ついて説明する。例えば、図６に示す４ポートデバイス
３０の一例は、スイッチＳＷ５と、送信信号用のバンド
パスフィルタ３１と、受信信号用のバンドパスフィルタ
３２とで構成されている。
【０００９】そして、端子Ｔｘは送信周波数ｆ１の送信
アンプに接続され、端子Ｒｘは受信周波数ｆ２の受信ア
ンプに接続されて、アンテナＡ１またはアンテナＡ２が
切り換えスイッチＳＷ３で選択して接続される。一般
に、送信周波数ｆ１と受信周波数ｆ２とは異なる周波数
を設定している。
アンプに接続され、端子Ｒｘは受信周波数ｆ２の受信ア
ンプに接続されて、アンテナＡ１またはアンテナＡ２が
切り換えスイッチＳＷ３で選択して接続される。一般
に、送信周波数ｆ１と受信周波数ｆ２とは異なる周波数
を設定している。
【００１０】この４ポートデバイス３０を測定する場合
は、図８〜図９に示すようにスイッチスイッチＳＷ３は
切り換えられる。図８は、Ａ１−Ｔｘ間の、図９は、Ａ
１−Ｒｘ間の、図１０は、Ａ２−Ｔｘ間の、図１１は、
Ａ１−Ｒｘ間の測定をするケーブル接続図である。
は、図８〜図９に示すようにスイッチスイッチＳＷ３は
切り換えられる。図８は、Ａ１−Ｔｘ間の、図９は、Ａ
１−Ｒｘ間の、図１０は、Ａ２−Ｔｘ間の、図１１は、
Ａ１−Ｒｘ間の測定をするケーブル接続図である。
【００１１】そして、Ａ１−Ｔｘ間、Ａ１−Ｒｘ間はス
イッチＳＷ３をａ側にして、Ａ２−Ｔｘ間、Ａ１−Ｒｘ
間はスイッチＳＷ３をｂ側にして、ＳパラメータＳ11、
Ｓ12、Ｓ21、Ｓ22をそれぞれ測定する。従って、４ポー
トデバイスを測定する場合、ケーブル接続を４回変更す
る必要がある。
イッチＳＷ３をａ側にして、Ａ２−Ｔｘ間、Ａ１−Ｒｘ
間はスイッチＳＷ３をｂ側にして、ＳパラメータＳ11、
Ｓ12、Ｓ21、Ｓ22をそれぞれ測定する。従って、４ポー
トデバイスを測定する場合、ケーブル接続を４回変更す
る必要がある。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、従
来の２ポートのネットワークアナライザで４ポートデバ
イスのＳパラメータを測定する場合、ケーブル接続を４
回変更する必要があり、そのため測定のスループットが
向上できない実用上の不便があった。そこで、本発明
は、こうした問題に鑑みなされたもので、その目的は、
ネットワークアナライザで４ポートデバイスのＳパラメ
ータ測定をする場合に、ケーブル接続の変更なしに測定
できる４ポートテストセットを提供することにある。
来の２ポートのネットワークアナライザで４ポートデバ
イスのＳパラメータを測定する場合、ケーブル接続を４
回変更する必要があり、そのため測定のスループットが
向上できない実用上の不便があった。そこで、本発明
は、こうした問題に鑑みなされたもので、その目的は、
ネットワークアナライザで４ポートデバイスのＳパラメ
ータ測定をする場合に、ケーブル接続の変更なしに測定
できる４ポートテストセットを提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】即ち、上記目的を達成す
るためになされた本発明の第１は、被測定デバイスのＳ
パラメータ測定ができる２ポートのネットワークアナラ
イザと、該２ポートの一方のポートの信号を、２つのポ
ートに切り換えて選択接続できる第１のスイッチと、該
２ポートの他方のポートの信号を、２つのポートに切り
換えて選択接続できる第２のスイッチと、前記ネットワ
ークアナライザの制御信号を受けて、前記第１のスイッ
チと、第２のスイッチとを切り換え制御する制御部と、
を具備して４ポートデバイスを測定できる４ポートテス
トセットを要旨としている。
るためになされた本発明の第１は、被測定デバイスのＳ
パラメータ測定ができる２ポートのネットワークアナラ
イザと、該２ポートの一方のポートの信号を、２つのポ
ートに切り換えて選択接続できる第１のスイッチと、該
２ポートの他方のポートの信号を、２つのポートに切り
換えて選択接続できる第２のスイッチと、前記ネットワ
ークアナライザの制御信号を受けて、前記第１のスイッ
チと、第２のスイッチとを切り換え制御する制御部と、
を具備して４ポートデバイスを測定できる４ポートテス
トセットを要旨としている。
【００１４】また、上記目的を達成するためになされた
本発明の第２は、ネットワークアナライザは、測定結果
を４画面表示として８種類のＳパラメータが同時表示で
きる本発明第１記載の４ポートテストセットを要旨とし
ている。
本発明の第２は、ネットワークアナライザは、測定結果
を４画面表示として８種類のＳパラメータが同時表示で
きる本発明第１記載の４ポートテストセットを要旨とし
ている。
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、下記の実
施例において説明する。
施例において説明する。
【００１５】
【実施例】本発明の実施例について、図１〜図６を参照
して説明する。４ポートデバイス３０を測定する本発明
は、図１に示すように、従来のネットワークアナライザ
１０に、４ポートテストセット２０を追加した構成とな
っている。
して説明する。４ポートデバイス３０を測定する本発明
は、図１に示すように、従来のネットワークアナライザ
１０に、４ポートテストセット２０を追加した構成とな
っている。
【００１６】ネットワークアナライザ１０と、４ポート
デバイス３０との構成については、従来技術において説
明したので省略する。
デバイス３０との構成については、従来技術において説
明したので省略する。
【００１７】４ポートテストセット２０は、スイッチＳ
Ｗ１、ＳＷ２と、制御部２１とで構成している。スイッ
チＳＷ１、ＳＷ２は、例えば半導体スイッチを使用す
る。制御部２１は、ネットワークアナライザ１０からの
制御信号を受けてスイッチＳＷ１、ＳＷ２をそれぞれ切
り換える制御をする。
Ｗ１、ＳＷ２と、制御部２１とで構成している。スイッ
チＳＷ１、ＳＷ２は、例えば半導体スイッチを使用す
る。制御部２１は、ネットワークアナライザ１０からの
制御信号を受けてスイッチＳＷ１、ＳＷ２をそれぞれ切
り換える制御をする。
【００１８】ネットワークアナライザ１０のポートＰ１
からの信号は、スイッチＳＷ１でポートＰ４またはＰ５
に切り換えられ、またポートＰ２からの信号は、スイッ
チＳＷ２でポートＰ３またはＰ６に切り換えられる。
からの信号は、スイッチＳＷ１でポートＰ４またはＰ５
に切り換えられ、またポートＰ２からの信号は、スイッ
チＳＷ２でポートＰ３またはＰ６に切り換えられる。
【００１９】そして、例えば図１に示すように、４ポー
トテストセットの各ポートＰ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６と、
４ポートデバイスの測定端子Ｒｘ、Ａ１、Ａ２、Ｔｘ間
をそれぞれ全てケーブル接続する。なお、図１〜図４に
おいて点線でしめすケーブルは実際の測定に関係しない
が、接続したままの状態でも測定に影響しない。
トテストセットの各ポートＰ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６と、
４ポートデバイスの測定端子Ｒｘ、Ａ１、Ａ２、Ｔｘ間
をそれぞれ全てケーブル接続する。なお、図１〜図４に
おいて点線でしめすケーブルは実際の測定に関係しない
が、接続したままの状態でも測定に影響しない。
【００２０】図１に示すように、４ポートテストセット
のスイッチＳＷ１はａ側、ＳＷ２はｂ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をａ側としてＡ１−Ｔｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
のスイッチＳＷ１はａ側、ＳＷ２はｂ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をａ側としてＡ１−Ｔｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
【００２１】図２に示すように、４ポートテストセット
のスイッチＳＷ１はａ側、ＳＷ２はａ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をａ側としてＡ１−Ｒｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
のスイッチＳＷ１はａ側、ＳＷ２はａ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をａ側としてＡ１−Ｒｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
【００２２】図３に示すように、４ポートテストセット
のスイッチＳＷ１はｂ側、ＳＷ２はｂ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をｂ側としてＡ２−Ｔｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
のスイッチＳＷ１はｂ側、ＳＷ２はｂ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をｂ側としてＡ２−Ｔｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
【００２３】図４に示すように、４ポートテストセット
のスイッチＳＷ１はｂ側、ＳＷ２はａ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をｂ側としてＡ２−Ｒｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
のスイッチＳＷ１はｂ側、ＳＷ２はａ側にし、４ポート
デバイス３０のＳＷ５をｂ側としてＡ２−Ｒｘ間のＳパ
ラメータ測定をおこなう。
【００２４】以上のように、４ポートデバイス３０のＳ
パラメータが測定途中でケーブル接続を変えることなく
できるので測定のスループットを向上させることができ
る。
パラメータが測定途中でケーブル接続を変えることなく
できるので測定のスループットを向上させることができ
る。
【００２５】また、図５に示すように、ネットワークア
ナライザ１０は、測定結果を４画面表示として８種類の
Ｓパラメータを同時表示させる。
ナライザ１０は、測定結果を４画面表示として８種類の
Ｓパラメータを同時表示させる。
【００２６】例えば、４ポートデバイス３０の測定結果
のデータは、Ａ１−ＴｘのＳ11とＳ21、Ａ１−ＴｘのＳ
22とＳ12、Ａ２−ＲｘのＳ11とＳ21、Ａ２−ＲｘのＳ22
とＳ12を表示させる。
のデータは、Ａ１−ＴｘのＳ11とＳ21、Ａ１−ＴｘのＳ
22とＳ12、Ａ２−ＲｘのＳ11とＳ21、Ａ２−ＲｘのＳ22
とＳ12を表示させる。
【００２７】４ポートデバイス３０において、各Ｓパラ
メータの特性は独立して変化しないで相互に関連しあっ
ている。つまり、４ポートデバイス３０のどれかの特性
をよくすると他方の特性が劣化することがある。よっ
て、８種類のＳパラメータを４画面で同時に表示するこ
とで相互の特性比較が容易になり、４ポートデバイスの
試験が有効におこなえる。
メータの特性は独立して変化しないで相互に関連しあっ
ている。つまり、４ポートデバイス３０のどれかの特性
をよくすると他方の特性が劣化することがある。よっ
て、８種類のＳパラメータを４画面で同時に表示するこ
とで相互の特性比較が容易になり、４ポートデバイスの
試験が有効におこなえる。
【００２８】
【発明の効果】本発明は、以上説明したような形態で実
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
４ポートデバイスのＳパラメータの測定が、ケーブル接
続を測定途中で変えることなくできるので測定のスルー
プットを向上させることができる。また、８種類のＳパ
ラメータを４画面で同時に表示することで相互の特性比
較が容易になり、４ポートデバイスの試験が有効におこ
なえる効果もある。
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
４ポートデバイスのＳパラメータの測定が、ケーブル接
続を測定途中で変えることなくできるので測定のスルー
プットを向上させることができる。また、８種類のＳパ
ラメータを４画面で同時に表示することで相互の特性比
較が容易になり、４ポートデバイスの試験が有効におこ
なえる効果もある。
【図１】本発明の４ポートテストセットと４ポートデバ
イスＡ１−Ｔｘ測定の構成図である。
イスＡ１−Ｔｘ測定の構成図である。
【図２】本発明の４ポートテストセットと４ポートデバ
イスＡ１−Ｒｘ測定の構成図である。
イスＡ１−Ｒｘ測定の構成図である。
【図３】本発明の４ポートテストセットと４ポートデバ
イスＡ２−Ｔｘ測定の構成図である。
イスＡ２−Ｔｘ測定の構成図である。
【図４】本発明の４ポートテストセットと４ポートデバ
イスＡ２−Ｒｘ測定の構成図である。
イスＡ２−Ｒｘ測定の構成図である。
【図５】本発明の４ポートテストセットの測定結果の表
示画面である。
示画面である。
【図６】４ポートデバイスのブロック図例である。
【図７】ネットワークアナライザの内部接続図である。
【図８】従来の４ポートテストセットと４ポートデバイ
スＡ１−Ｔｘ測定の構成図である。
スＡ１−Ｔｘ測定の構成図である。
【図９】従来の４ポートテストセットと４ポートデバイ
スＡ１−Ｒｘ測定の構成図である。
スＡ１−Ｒｘ測定の構成図である。
【図１０】従来の４ポートテストセットと４ポートデバ
イスＡ２−Ｔｘ測定の構成図である。
イスＡ２−Ｔｘ測定の構成図である。
【図１１】従来の４ポートテストセットと４ポートデバ
イスＡ２−Ｒｘ測定の構成図である。
イスＡ２−Ｒｘ測定の構成図である。
１０ ネットワークアナライザ １１ 測定部 ２０ ４ポートテストセット ３０ ４ポートデバイス ４０ ２ポートデバイス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 生方 敬一 東京都練馬区旭町１丁目32番１号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 木村 直也 東京都練馬区旭町１丁目32番１号 株式会 社アドバンテスト内
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定デバイスのＳパラメータ測定がで
きる２ポートのネットワークアナライザと、 該２ポートの一方のポートの信号を、２つのポートに切
り換えて選択接続できる第１のスイッチと、 該２ポートの他方のポートの信号を、２つのポートに切
り換えて選択接続できる第２のスイッチと、 前記ネットワークアナライザの制御信号を受けて、前記
第１のスイッチと、第２のスイッチとを切り換え制御す
る制御部と、 を具備して４ポートデバイスを測定できる４ポートテス
トセット。 - 【請求項２】 ネットワークアナライザは、測定結果を
４画面表示として８種類のＳパラメータが同時表示でき
る請求項１記載の４ポートテストセット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35517597A JPH11183535A (ja) | 1997-12-24 | 1997-12-24 | ４ポートテストセット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35517597A JPH11183535A (ja) | 1997-12-24 | 1997-12-24 | ４ポートテストセット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11183535A true JPH11183535A (ja) | 1999-07-09 |
Family
ID=18442388
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35517597A Withdrawn JPH11183535A (ja) | 1997-12-24 | 1997-12-24 | ４ポートテストセット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11183535A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002152150A (ja) * | 2001-09-26 | 2002-05-24 | Agilent Technologies Japan Ltd | マルチポートデバイスを測定するためのテストセット |
| WO2005093438A1 (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Advantest Corporation | ネットワークアナライザ、伝送トラッキング測定方法、ネットワーク解析方法、プログラムおよび記録媒体 |
| JP2006105660A (ja) * | 2004-10-01 | 2006-04-20 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | ポート延長装置を備えた回路特性測定装置 |
| KR100691955B1 (ko) * | 2001-09-07 | 2007-03-09 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 네트워크 애널라이저 및 이 네트워크 애널라이저에 의한측정 방법, 및 이 네트워크 애널라이저를 포함한 부품선별 장치 |
-
1997
- 1997-12-24 JP JP35517597A patent/JPH11183535A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100691955B1 (ko) * | 2001-09-07 | 2007-03-09 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 네트워크 애널라이저 및 이 네트워크 애널라이저에 의한측정 방법, 및 이 네트워크 애널라이저를 포함한 부품선별 장치 |
| JP2002152150A (ja) * | 2001-09-26 | 2002-05-24 | Agilent Technologies Japan Ltd | マルチポートデバイスを測定するためのテストセット |
| WO2005093438A1 (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Advantest Corporation | ネットワークアナライザ、伝送トラッキング測定方法、ネットワーク解析方法、プログラムおよび記録媒体 |
| KR100815491B1 (ko) | 2004-03-26 | 2008-03-20 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 네트워크 아날라이저, 전송 트래킹 측정 방법, 네트워크 해석 방법 및 기록 매체 |
| US7519509B2 (en) | 2004-03-26 | 2009-04-14 | Advantest Corporation | Network analyzer, transmission tracking error measuring method, network analyzing method, program, and recording medium |
| JP2006105660A (ja) * | 2004-10-01 | 2006-04-20 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | ポート延長装置を備えた回路特性測定装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050301 |