DE112005001304T5 - Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und Einbrennvorrichtung, die selbige verwendet - Google Patents

Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und Einbrennvorrichtung, die selbige verwendet Download PDF

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Kazumi Kita
Tadahiro Kurasawa
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Abstract

Eine Heizgerät-Leistungssteuerschaltung, die ein Spannungssignal ein-/ausschaltet, das von einer Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird, um eine Leistung eines Heizgerätes durch Steuern einer Spannung, die an das Heizgerät angelegt wird, zu steuern, wobei die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung umfasst
eine Spannungsglättungsschaltung, die zwischen dem Heizgerät und einem Schaltkreis angeordnet ist, der eine Spannung ein-/ausschaltet, die von der Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird, wobei die Spannungsglättungsschaltung die Spannung in ein analoges Spannungssignal durch Glätten eines Spannungssignals wandelt, das durch Ein- /Ausschalten der Spannung erhalten wird.

Description

  • TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und eine Einbrennvorrichtung, die die Schaltung verwendet, die Rauscherzeugung wegen einem Heizgerät unterdrücken und Leistungseinsparung verbessern.
  • STAND DER TECHNIK
  • In den letzten Jahren sind Halbleitereinrichtungen zunehmend zu hoher Geschwindigkeit, hoher Kapazität gekommen, und zum Verarbeiten größerer Bitdaten fähig. Zur gleichen Zeit wurden die Halbleitereinrichtungen vielfältiger. Ein Einbrenntest, der ein beschleunigter Test abhängig von Temperaturbedingungen ist, wird in der Halbleitereinrichtung durchgeführt. Der Einbrenntest ist gekennzeichnet durch Erwärmung einer Einrichtung in Prüfung (DUT), wie etwa einer Halbleitereinrichtung, durch die Anwendung elektrischer Ströme, um die Zuverlässigkeit und der gleichen der DUT zu bestimmen. Z.B. erfasst der Test eine lokale Wärme wegen einem hohen Widerstandswert in einer fehlerhaften Metallverbindung eines Chips hoher Integration (LSI).
    • Patentliteraturstelle 1: japanische Patentanmeldung Offenlegung Nr. 2000-206176.
  • OFFENBARUNG DER ERFINDUNG
  • PROBLEM, DAS DURCH DIE ERFINDUNG ZU LÖSEN IST
  • Eine konventionelle Einbrennvorrichtung, die das Heizgerät verwendet, ist jedoch nicht in der Lage, eine Vielzahl von DUTs gleichzeitig zu testen, die einen beträchtlich unterschiedlichen Betrag an Leistung verbrauchen, da sie eine Umgebungstemperatur um die DUT herum durch das Heizgerät abstimmt.
  • Es kann möglich sein, die Temperatur jeder DUT abzustimmen, indem das Heizgerät mit jeder DUT in Kontakt gebracht wird. Eine derartige Temperaturabstimmung erfordert jedoch eine Schaltsteuerung mit einem Leistungs-Feldeffekt-Transistor (FET), um Änderungen in der Temperatur zu folgen. Die Schaltsteuerung erzeugt Rauschen; das Rauschen wird zu der DUT übertragen und macht es somit schwierig, den Einbrenntest genau durchzuführen.
  • Angesichts des vorangehenden ist es ein Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und eine Einbrennvorrichtung vorzusehen, die die Schaltung verwendet, die Rauschen reduzieren, das von dem Heizgerät übertragen wird, wenn der Einbrenntest durchgeführt wird durch Abstimmen der Temperatur unter Verwendung des Heizgerätes.
  • MITTEL ZUM LÖSEN DES PROBLEMS
  • Um die wie oben beschriebenen Probleme zu lösen und die Ziele zu erreichen, schaltet eine Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung ein Spannungssignal EIN/AUS, das von einer Gleichstrom-Leistungsquelle zugeführt wird, um eine Leistung eines Heizgerätes zu steuern durch Steuern einer Spannung, die an das Heizgerät angelegt wird. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung enthält eine Span nungsglättungsschaltung, die zwischen dem Heizgerät und einem Schaltkreis angeordnet ist, der eine Spannung ein-/ausschaltet, die von der Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird. Die Spannungsglättungsschaltung wandelt die Spannung in ein analoges Spannungssignal durch Glätten eines Spannungssignals, das durch Ein-/Ausschalten der Spannung erhalten wird.
  • Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung enthält eine Heizgerät-Steuerschaltung, die Schalten des Schaltkreises gemäß einem vorbestimmten Spannungsindikatorsignal steuert; und eine Spannungskomparatorschaltung, die einen Wert des Spannungsindikatorsignals mit einem Wert des analogen Spannungssignals vergleicht. In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung steuert die Heizgerät-Steuerschaltung die Leistung des Heizgerätes durch Steuern vom Schalten des Schaltkreises basierend auf einem Vergleichsergebnis durch die Spannungskomparatorschaltung.
  • In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung wandelt die Heizgerät-Steuerschaltung das Spannungsindikatorsignal in ein zeitlich verteiltes Spannungsindikatorsignal, das auf eine zeitlich verteilte Art und Weise erhalten wird, sodass eine Variation des Spannungsindikatorsignals pro vorbestimmte Zeit innerhalb eines vorbestimmten Betrags ist, und führt das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal dem Schaltkreis zu.
  • In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung enthält die Heizgerät-Steuerschaltung eine Tabelle, die eine Beziehung zwischen dem Spannungsindikatorsignal und einer Serie von zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignalen entsprechend einer Variation des Spannungsindikatorsignals speichert, und die Heizgerät-Steuerschaltung er zeugt das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal durch Abfragen der Tabelle.
  • In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung erzeugt die Heizgerät-Steuerschaltung das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal basierend auf einem relationalen Ausdruck, der eine Beziehung zwischen dem Spannungsindikatorsignal und einer Serie von zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignalen entsprechend einer Variation des Spannungsindikatorsignals anzeigt.
  • In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung erzeugt die Heizgerät-Steuerschaltung das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal, wobei das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal Impulse mit einer gleichen Impulsbreite und unterschiedlichen Zeitintervallen enthält.
  • In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet die Heizgerät-Steuerschaltung ein Impulsbreiten-Modulationssignal als das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal.
  • In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung enthält der Schaltkreis eine Strombeschränkungsschaltung.
  • Eine Einbrennvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung enthält die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung gemäß einem beliebigen der Aspekte der vorliegenden Erfindung, um einen Einbrenntest in einer Einrichtung in Prüfung durchzuführen.
  • EFFEKT DER ERFINDUNG
  • Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und die Einbrennvorrichtung, die die Schaltung verwendet, enthalten eine Spannungsglättungsschaltung, die zwischen einem Heizgerät und einem Schaltkreis angeordnet ist, der ein Spannungssignal, das von einer Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird, ein- /ausschaltet. Die Spannungsglättungsschaltung wandelt ein Spannungssignal, das von einer Gleichstromquelle zugeführt wird, in ein analoges Spannungssignal durch Glätten des Spannungssignals, um das Spannungssignal, das von der Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird, ein-/auszuschalten, und somit Leistung des Heizgerätes durch Steuern einer Spannung zu steuern, die an das Heizgerät angelegt wird. Entsprechend können die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und die Einbrennvorrichtung, die die Schaltung verwendet, verhindern, dass Rauschen, das durch den Schaltkreis erzeugt wird, zu dem Heizgerät übertragen wird, wobei dadurch Übertragung von Rauschen zu dem Heizgerät oder den umgebenden Komponenten unterdrückt wird.
  • In der Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und der Einbrennvorrichtung, die die Schaltung verwendet, wird das Spannungsindikatorsignal dem Schaltkreis als das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal zugeführt, was auf eine zeitlich verteilte Art und Weise erhalten wird, sodass eine Variation des Spannungsindikatorsignals innerhalb eines vorbestimmten Betrags ist. Entsprechend ist es möglich, Leistungsverlust zu reduzieren, der durch mangelhaftes Schalten des Schaltkreises wegen der elektrischen Strombeschränkung verursacht wird, die durch einen plötzlichen Stromanstieg verursacht wird, der in der Spannungsglättungsschaltung erzeugt wird.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 ist ein Blockdiagramm eines schematischen Gesamtaufbaus einer Einbrennvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 2 ist ein Schaltungsdiagramm eines detaillierten Aufbaus einer Heizgerätschaltung, die in 1 gezeigt wird;
  • 3 ist ein Zeitsteuerungsdiagramm einer Erzeugung von zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignalen durch eine Heizgerät-Steuerschaltung und Steuerung des Heizgerätes basierend auf den zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignalen;
  • 4 ist eine Grafik von Temperaturanstiegscharakteristika verschiedener DUTs, die unterschiedliche Beträge an Leistung verbrauchen; und
  • 5 ist ein vergleichendes Diagramm von Gesamtleistung, wenn Heizgerät-Leistungsbeschränkungssteuerung durch eine Heizgerät-Leistungsbeschränkungseinheit durchgeführt wird und wenn konventionelle Heizgerät-Leistungssteuerung durchgeführt wird.
  • ERLÄUTERUNGEN VON BUCHSTABEN ODER BEZUGSZEICHEN
  • 1
    Einbrennvorrichtung
    10
    Teststeuervorrichtung
    20
    Einrichtungsleistungseinheit
    21
    Einrichtungsleistungsquelle
    22
    EIN-/AUS-Steuervorrichtung
    23
    elektrische Strommesseinheit
    24
    Spannungseinstellungseinheit
    25
    Spannungsmesseinheit
    26
    Überspannungs-/Überstrom-Erfassungswert-Einstellungseinheit
    30
    Messeinheit
    31
    Messplatine
    32
    DUT
    33
    Verbinder
    40
    Temperaturabstimmungseinheit
    41
    Temperaturmesseinheit
    42
    Heizgerätschaltung
    43
    Heizgerät-Steuerschaltung
    43a
    Tabelle
    44
    Heizgerät-Leistungsbeschränkungseinheit
    50
    Leistungsquelle
    60
    Temperatursteuervorrichtung
    61
    Temperatursteuerblock
    62
    Heizgerät
    63
    PT-Sensor
    64
    Kühlgerät
    71
    Transistor
    72
    FET
    73
    Spannungsglättungsschaltung
    74
    Komparator
    75
    DA-Wandler
    D1
    Zener-Diode
    D2
    Diode
    R1, R2
    Widerstand
    L
    Drossel
    C
    Kondensator
  • BESTE (R) MODUS/MODI ZUM AUSFÜHREN DER ERFINDUNG
  • Eine Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und eine Einbrennvorrichtung, die die Schaltung verwendet, werden nachstehend als eine beispielhafte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben. Es sollte vermerkt werden, dass die vorliegende Erfindung nicht auf die Ausführungsform begrenzt ist.
  • Ausführungsform
  • 1 ist ein Blockdiagramm eines gesamten schematischen Aufbaus der Einbrennvorrichtung gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Es ist ein Blockdiagramm eines Aufbaus eines DA-Wandlers. In 1 enthält eine Einbrennvorrichtung 1 hauptsächlich eine Teststeuervorrichtung 10, die einen gesamten Einbrenntest steuert; eine Einrichtungsleistungseinheit 20, die mit der Teststeuervorrichtung 10 verbunden ist, führt einer DUT 32 eine Leistungsquellenspannung zu und misst die Leistungsquellenspannung; eine Temperaturabstimmungseinheit 40, die mit der Teststeuervorrichtung 10 verbunden ist und eine Temperatur in dem Einbrenntest abstimmt; eine Messeinheit 30, die mit der Einrichtungsleistungseinheit 20 verbunden ist und worin die DUT 32 angeordnet ist; eine Leistungsquelle 50, die mit der Temperaturabstimmungseinheit 40 verbunden ist; und eine Temperatursteuervorrichtung 60, die Temperatur unter Steuerung durch die Temperaturabstimmungseinheit 40 steuert.
  • Die Messeinheit 30 enthält eine Messplatine 31 und die DUT 32. Die DUT 32 ist an der Messplatine 31 angeordnet. Die DUT 32 ist mit der Einrichtungsleistungseinheit 20 über eine Verdrahtung in der Messplatine 31 und einen Verbinder 33 verbunden. Die Einrichtungsleistungseinheit 20 enthält eine Einrichtungsleistungsquelle 21 und eine EIN-/AUS-Steuervorrichtung 22. Die EIN-/AUS-Steuervorrichtung 22 führt Leistungsquellenspannungen Vdd, Vss von der Einrichtungsleistungsquelle 21 zu der DUT 32 unter Steuerung durch die Teststeuervorrichtung 10 zu. Die Einrichtungsleistungseinheit 20 enthält ferner eine Messeinheit des elektrischen Stroms 23, eine Spannungseinstellungseinheit 24, eine Spannungsmesseinheit 25 und eine Überspannungs-/Überstrom-Erfassungswert-Einstellungseinheit 26. Die Teststeuervorrichtung 10 kann den Zustand der DUT 32 in einem beschleunigten Test basierend auf gemessenen Werten erkennen, die durch die Messeinheit des elektrischen Stroms 23 und die Spannungsmesseinheit 25 erhalten werden. Pegel der Leistungsquellenspannungen Vdd, Vss und dergleichen können auf eine variable Art und Weise durch die Teststeuervorrichtung 10 eingestellt werden. Der eingestellte Wert wird in der Spannungseinstellungseinheit 24 gespeichert. Die Überspannungs-/Überstrom-Erfassungswert-Einstellungseinheit 26 speichert eine Schwelle zur Bestimmung eines Überspannungszustands oder eines Überstromzustands basierend auf den Ergebnissen einer Messung durch die Messeinheit des elektrischen Stroms 23 und die Spannungsmesseinheit 25. Wenn der gemessene Wert die Schwelle überschreitet, bestimmt die EIN-/AUS-Steuervorrichtung 22, dass die DUT 32 in dem Überspannungszustand oder dem Überstromzustand ist, und verringert oder blockiert eine Ausgabe der Leistungsquellenspannung von der Einrichtungsleistungsquelle 21. Die Schwelle wird durch die Teststeuervorrichtung 10 auf eine variable Art und Weise eingestellt.
  • Die Temperatursteuervorrichtung 60 enthält einen Temperatursteuerblock 61, in dem ein Heizgerät 62, ein PT-Sensor (Platin-Widerstandsensor) 63 und ein Kühlgerät 64 angeordnet sind. Der PT-Sensor 63 führt einen Ausgabewert der Temperaturabstimmungseinheit 40 zu. Das Heizgerät 62 wird durch die Temperaturabstimmungseinheit 40 gesteuert, Leistung bei Temperaturanstieg zu empfangen. Eine Kühlflüssigkeit passiert das Kühlgerät 62, um Umgebungen der DUT 32 abzukühlen. Um die Temperatur der DUT 32 abzustimmen, werden das Heizgerät 62 und der PT-Sensor 63 mit der DUT 32 in Kontakt gebracht, sodass die Temperaturabstimmung direkt ausgeführt wird. Wenn die Temperatur der DUT 32 nicht abgestimmt wird, sind das Heizgerät 62 und der PT-Sensor 63 von der DUT 32 physisch getrennt und berühren nur den Temperatursteuerblock 61. Somit kann der PT-Sensor 63 die Temperatur des Heizgerätes 62 oder der Kühlflüssigkeit erfassen.
  • Die Temperaturabstimmungseinheit 40 enthält eine Temperaturmesseinheit 41, die eine Temperatur von Umgebungen des PT-Sensors 63 basierend auf dem Ausgabewert des PT-Sensors 63 misst; eine Heizgerätschaltung 42, die Leistung von der Leistungsquelle 50 zu dem Heizgerät 62 zuführt; und eine Heizgerät-Leistungsbeschränkungseinheit 44, die Heizgerätleistung gemäß dem Leistungsverbrauch der DUT 32 unabhängig steuert.
  • In der Einbrennvorrichtung 1 wird unter der Gesamtsteuerung durch die Teststeuervorrichtung 10 die Leistungsquellenspannung von der Einrichtungsleistungseinheit 20 an die DUT 32 angelegt, die Temperaturabstimmungseinheit 40 führt die Leistung zu, um Wärme von dem Heizgerät 62 zu induzieren, und das Heizgerät 62 wird mit der DUT 32 in Kontakt gebracht. Somit wird die Temperatur der DUT 32 in dem Einbrenntest abgestimmt. Die Teststeuervorrichtung 10 erlangt ein Ergebnis des Einbrenntests über die Einrichtungsleistungseinheit 21, und führt eine Temperaturabstimmung durch die Temperaturabstimmungseinheit 40 durch.
  • Es wird nun die Heizgerätschaltung 42 detailliert beschrieben. 2 ist ein Schaltungsdiagramm eines detaillierten Aufbaus der Heizgerätschaltung, und zeigt auch die Leistungsquelle 50 und das Heizgerät 62. In 2 ist ein Feldeffekttransistor (FET) 72, der ein p-Kanal-Leistungs-FET ist, mit der Leistungsquelle 50 von 48VGS verbunden, und die 48VGS-Impulsspannung wird an das Heizgerät 62 gemäß dem Schalten des FET 72 angelegt. Ein Transistor 71 ist zwischen einem Gate des FET 72 und der Masse mit einem Widerstand R2 verbunden, der zwischen dem Transistor 71 und der Masse verbunden ist. Der Transistor 71 wird gemäß zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignalen geschaltet, wie etwa Impulsbreitenmodulations- (PWM) Signalen, die von der Heizgerät-Steuerschaltung 43 zugeführt werden, und der FET 72 wird entsprechend geschal tet. Ferner ist eine Zener-Diode D1 vorgesehen, die eine konstante Spannung unterhält. Die Anode der Zener-Diode D1 ist zwischen einem Kollektor des Transistors 71 und dem Widerstand R2 verbunden, wohingegen die Katode zwischen einem Emitter des Transistors 71 und dem Gate des FET 72 mit einem Widerstand R1 verbunden ist, der zwischen der Katode der Zener-Diode D1 und dem Emitter des Transistors 71 verbunden ist. Die Katode ist auch mit einem Drain des FET 72 direkt verbunden. Wenn der Transistor 71 AUS geschaltet ist, wird die 48VGS der Leistungsquelle 50 an das Gate angelegt, und somit wird der FET 72 AUS geschaltet. Wenn der Transistor EIN geschaltet ist, verringert sich ein Pegel der Spannung, die an das Gate angelegt wird, gemäß einem Betrag vom Spannungsabfall in der Zener-Diode D1, und somit wird der FET 72 EIN geschaltet.
  • Zwischen einem Schaltkreis, der den oben erwähnten FET 72 enthält, und dem Heizgerät 62 ist eine Spannungsglättungsschaltung 73 angeordnet. Die Spannungsglättungsschaltung 73 enthält parallel verbundene Diode D2 und Kondensator C, und eine in Reihe verbundene Drossel L. Die 48VGS-Impulsspannung, die von dem Schaltkreis zugeführt wird, wird durch die Spannungsglättungsschaltung 73 geglättet und in eine analoge Spannung gewandelt. Das Heizgerät 62 erzeugt Leistung abhängig von der Amplitude der analogen Spannung.
  • Ein Komparator 74 vergleicht den Wert der analogen Spannung, die an das Heizgerät 62 angelegt wird, und einen Wert eines Spannungsindikatorsignals, das von der Heizgerät-Steuerschaltung 43 zugeführt wird, und führt ein Ergebnis des Vergleichs der Heizgerät-Steuerschaltung 43 zu. Da das Spannungsindikatorsignal digitale Daten ist, wird das Spannungsindikatorsignal dem Komparator 74 zugeführt, nachdem es in ein analoges Signal durch einen DA-Wandler 75 gewandelt wurde. Die Heizgerät-Steuerschaltung 43 steuert das zeitlich verteilte Span nungsindikatorsignal basierend auf dem Ergebnis des Vergleichs so, um einen Wert, der als ein Ergebnis des Vergleichs erhalten wird, Null zu machen. Das Spannungsindikatorsignal ist ein Signal, das einen Zielspannungspegel anzeigt, wohingegen das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal ein Spannungsindikatorsignal ist, das auf eine zeitlich verteilte Art und Weise erhalten wird, sodass eine Variation der analogen Spannung zu dem Zielspannungspegel innerhalb eines vorbestimmten Betrags ist. Die Signale werden dem Schaltkreis direkt zugeführt. In dem obigen wandelt der DA-Wandler 75 das Spannungsindikatorsignal in das analoge Signal. Ein AD-Wandler kann jedoch durch den DA-Wandler ersetzt werden, um ein analoges Spannungssignal in digitale Daten zu wandeln, und der Komparator 74 kann dann die digitalen Daten für einen Vergleich verarbeiten.
  • In der oben erwähnten Heizgerätschaltung 42 erzeugt die Impulsspannung, die durch den Schaltkreis generiert wird, Rauschen zu Spannungssignalen. In der Ausführungsform ist die Spannungsglättungsschaltung 73 zwischen dem Schaltkreis und dem Heizgerät 62 angeordnet, um so die Impulsspannung in eine geglättete analoge Spannung zu wandeln, wodurch der Rauschtransfer zu dem Heizgerät 62 unterdrückt wird. Insbesondere werden in dem Einbrenntest das Heizgerät und die DUT 32 in Kontakt miteinander gebracht. Falls das Rauschen zu der DUT 32 transferiert wird, kann äußerst genaues Testen in der DUT 32 nicht durchgeführt werden. In der Ausführungsform erzeugt das Heizgerät 62 wenig Rauschen, und daher kann der Einbrenntest bei hoher Genauigkeit durchgeführt werden.
  • Ferner erzeugt, wie in 3 gezeigt, die Heizgerät-Steuerschaltung 43 die zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale für das Schalten des FET 72, wobei dadurch verhindert wird, dass eine plötzliche Spannungsänderung Überstrom verursacht, und reduziert Leistungsverlust in dem FET 72, der durch mangelhaftes Schalten des FET 72 in der Beschränkung der elektrischen Ströme durch die Zener-Diode D1 verursacht wird.
  • Wie in 3 gezeigt, gibt die Teststeuervorrichtung 10 zu Beginn des Tests oder während des Tests einen Spannungsindikatorwert, der ein Zielspannungspegel ist, wie in 3(a) gezeigt, zu der Heizgerät-Steuerschaltung 43 basierend auf der Temperatur, die von der Temperaturmesseinheit 41 gemeldet wird, aus. Die Heizgerät-Steuerschaltung 43 erzeugt zeitlich verteilte Spannungsindikatorwerte, wie in 3(b) gezeigt, basierend auf dem Spannungsindikatorwert, und erzeugt zeitlich verteilte Spannungssignale, wie in 3(c) gezeigt, entsprechend den zeitlich verteilten Spannungsindikatorwerten. Die Heizgerät-Steuerschaltung 43 legt die zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale an den Transistor 71 an, und verursacht als ein Ergebnis das Schalten des FET 72.
  • Wenn der Spannungsindikatorwert "0V → 24V" ist, wie in 3(a) gezeigt, erzeugt die Heizgerät-Steuerschaltung 43 die zeitlich verteilten Spannungsindikatorwerte, sodass die Erhöhung/Verringerung in der Spannung pro Einheitszeit nicht mehr als 5V ist, und erzeugt die zeitlich verteilten Indikatorsignale als die Impulssignale basierend darauf. Eine Serie von zeitlich verteilten Spannungsindikatorwerten entsprechend dem Spannungsindikatorwert kann in einer Tabelle 43a im voraus gespeichert werden, und ein zeitlich verteilter Spannungsindikatorwert entsprechend einem gegebenen Spannungsindikatorwert kann für die Erzeugung der zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale abgerufen werden. Die zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale können auf eine beliebige Art und Weise eingestellt werden, so weit wie die Erhöhung/Verringerung in der Spannung pro Einheitszeit nicht mehr als ein vorbestimmter Wert ist. Z.B. kann ein ersterer Teil der zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale auf einen geringen Spannungswert eingestellt sein, und der Spannungspegel kann innerhalb der Grenze des vorbestimmten Wertes allmählich erhöht werden. Mit anderen Worten kann der Spannungspegel von einem aktuellen Pegel zu einem Zielpegel auf eine beliebige Art und Weise geändert werden, so weit wie jeder geänderte Wert nicht mehr als ein vorbestimmter Wert ist. Der Spannungspegel kann auf eine Art und Weise einer Funktion oder eines Programms geändert werden.
  • Wenn die zeitlich verteilten Spannungssignale an den FET 72 angelegt werden, wandelt die Spannungsglättungsschaltung 73 die zeitlich verteilten Spannungssignale in geglättete analoge Spannungssignale, wie in 3(d) gezeigt. Dann erzeugt das Heizgerät 62 die Leistung entsprechend dem analogen Spannungssignal.
  • Andererseits vergleicht der Komparator 74 die analogen Spannungssignale und den Spannungsindikatorwert, und führt das Ergebnis der Heizgerät-Steuerschaltung 43 zu. Die Heizgerät-Steuerschaltung 43 führt, wie in 3(e) gezeigt, die zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale zu, um den Spannungspegel zu erhöhen, wenn der Komparatorausgang auf einem hohen Pegel ist. Andererseits steuert die Heizgerät-Steuerschaltung 43 den Spannungspegel, um den aktuellen Pegel aufrechtzuerhalten, wenn der Komparatorausgang auf einem tiefen Pegel ist, wie in 3(e) gezeigt.
  • In der obigen Beschreibung werden die zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale auf eine derartige Art und Weise erzeugt, dass sich die Zahl von Impulsen mit der identischen Impulsbreite pro Einheitszeit erhöht/verringert. Alternativ können die PWM-Signale, deren Impulsbreite sich jede Einheitszeit ändert, als die zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale eingesetzt werden. Im Sinne von Zeitverteilung ist es wünschenswert, dass die eingesetzten Signale so konfi guriert sind, dass sich die Zahl von Impulsen mit der identischen Impulsbreite pro Einheitszeit erhöht/verringert, um einen plötzlichen Anstieg in dem Spannungspegel zu vermeiden.
  • Da die oben beschriebenen zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignale an den FET 72 angelegt werden, steigt in der Ausführungsform der Spannungspegel nicht plötzlich an, und als ein Ergebnis gibt es keine plötzliche Akkumulation von elektrischen Strömen in dem Kondensator C. Somit beeinträchtigt die Funktion der elektrischen Strombeschränkung den FET 72 nicht negativ und würde mangelhaftes Schalten des FET 72 nicht verursachen. Deshalb kann Leistungsverlust in dem mangelhaften Schalten beseitigt werden. Als ein Ergebnis kann unnötiger Leistungsverbrauch außer dem Leistungsverbrauch für das Heizgerät 72 zu einem maximal möglichen Ausmaß beseitigt werden, und eine leistungssparende Einbrennvorrichtung kann realisiert werden.
  • In dem beschleunigten Test mit der Einbrennvorrichtung 1 wird eine Temperatur, die an die DUT 32 angelegt wird, gesteuert. Wenn die gleiche Leistungsquellenspannung an andere DUTs 32 angelegt wird, verbrauchen einige DUT höherer Leistung als andere DUT. Wenn die Leistung von Heizgerät 62 100% zum Start des Tests, wie in 4 gezeigt, ungeachtet einer Differenz im Leistungsverbrauch jeder DUT 32 zugeführt wird, weist die Temperatur jeder DUT 32 unterschiedliche zeitliche Änderungen abhängig von dem Betrag vom Leistungsverbrauch der DUT 32 auf. Wenn die Einrichtung hohe Leistung verbraucht, erreicht die Temperatur der Einrichtung rasch einen Zielpegel, wohingegen wenn die Einrichtung geringe Leistung verbraucht, erreicht die Temperatur der Einrichtung den Zielpegel langsam.
  • Wenn verschiedene Typen von DUTs 32 gleichzeitig getestet werden, wird das Ende des Tests mit Verweis auf die Einrichtung bestimmt, die die Zieltemperatur langsam erreicht. Zur gleichen Zeit muss Leistungsverbrauch der Einbrennvorrichtung 1 als Ganzes betrachtet werden.
  • In der Ausführungsform wird der Leistungsverbrauch des Heizgerätes 62 so gesteuert, dass die Summe des Leistungsverbrauchs der DUT 32 und des Leistungsverbrauchs des Heizgerätes 62 konstant ist. Die Heizgerät-Leistungsbeschränkungseinheit 44 steuert den Leistungsverbrauch dafür.
  • 5 zeigt einen Vergleich zwischen der Heizgerät-Leistungssteuerung in der Ausführungsform und der Heizgerät-Leistungssteuerung in einem konventionellen System. In 5 steuert die Heizgerät-Leistungsbeschränkungseinheit 44 den Leistungsverbrauch so, dass das Heizgerät 62 maximale Leistung verbraucht, wenn die DUT eine Einrichtung mit einem minimalen Leistungsverbrauch ist. Der Leistungsverbrauch des Heizgerätes 62 für die DUT, die mehr Leistung als die DUT mit dem minimalen Leistungsverbrauch verbraucht, wird gesteuert, ein maximaler Leistungsverbrauch innerhalb einer Grenze zu sein, dass die Summe vom Leistungsverbrauch der Einrichtung und des Heizgerätes nicht eine Gesamtleistung P2 überschreitet, d.h. die Summe des Leistungsverbrauchs der DUT mit dem minimalen Leistungsverbrauch und des maximalen Leistungsverbrauchs des Heizgerätes 62.
  • Die Heizgerät-Leistungsbeschränkungseinheit 44 findet eine Beziehung zwischen dem Leistungsverbrauch der DUT 32 und einem relativen maximalen Leistungsverbrauch des Heizgerätes 62 im voraus, und steuert den maximalen Leistungsverbrauch des Heizgerätes 62 entsprechend jeder DUT. Wenn der Betrag vom Leistungsverbrauch durch die DUT 32 nicht bekannt ist, wird die verbrauchte Leistung über die Einrichtungsleistungseinheit 20 gemessen. Basierend auf dem Ergebnis der Messung kann die Heizgerät-Leistungsbeschränkungseinheit 44 die Grenze vom Leistungsverbrauch durch das Heizgerät 62 entsprechend dem Leistungsverbrauch jeder DUT bestimmen.
  • Somit wird ungeachtet der Differenz in dem Leistungsverbrauch jeder DUT die Gesamtleistung, d.h. die Summe des Leistungsverbrauchs durch die DUT und des Leistungsverbrauchs durch das Heizgerät 62, auf einem konstanten Pegel der Gesamtleistung P2 gehalten. Dann wird der Anstieg der Temperatur jeder DUT im wesentlichen der gleiche wie der der DUT mit dem minimalen Leistungsverbrauch.
  • In der konventionellen Einbrennvorrichtung wird von dem Heizgerät gefordert, eine Kapazität vom Leistungsverbrauch gleich der Gesamtleistung P1 zu haben, d.h. der Summe des maximalen Leistungsverbrauchs der DUT und des maximalen Leistungsverbrauchs des Heizgerätes. In der Ausführungsform wird von dem Heizgerät nur gefordert, eine Kapazität gleich der Gesamtleistung P2 der Einbrennvorrichtung 1 zu haben. Somit können die Größe und das Gewicht der Einbrennvorrichtung 1 weiter reduziert werden, und zur gleichen Zeit kann Leistungseinsparung realisiert werden.
  • In der obigen Ausführungsform wird die Gesamtleistung gesteuert, die Gesamtleistung P2 ungeachtet der Differenz in dem Leistungsverbrauch jeder DUT zu sein. Alternativ kann jedoch die Gesamtleistung so gesteuert werden, die Gesamtleistung P3 zu sein, d.h. eine Summe eines Zwischenpegels vom Leistungsverbrauch durch die DUT und des 100%-Leistungsverbrauchs des Heizgerätes 62. In diesem Fall können die Verringerung in Größe und Gewicht, und die Leistungseinsparung im Vergleich mit der konventionellen Einbrennvorrichtung weiter gefördert werden.
  • Die oben beschriebene Einbrennvorrichtung enthält das Heizgerät für jede DUT und stimmt die Temperatur direkt ab. Das Heizgerät 62 und der PT-Sensor 63 der Temperatursteuervorrichtung 60 sind mit der DUT 32 während des Einbrenntests in Kontakt, und mit der DUT 32 nicht in Kontakt, wenn der Einbrenntest nicht durchgeführt wird.
  • Während das Heizgerät 62 und der PT-Sensor 63 mit der DUT nicht in Kontakt sind, kann daher der folgende Test durchgeführt werden. Zuerst ist in dem oben beschriebenen Zustand der Temperatursteuerblock 61 mit jedem von dem Heizgerät 62, dem PT-Sensor 63 und der Kühlflüssigkeit in Kontakt. Deshalb ist es möglich zu prüfen, ob der PT-Sensor 63 zusammenbricht und/oder wie genau der PT-Sensor 63 ist, indem der PT-Sensor 63 veranlasst wird, die Temperatur der Kühlflüssigkeit zu messen, da die Temperatur der Kühlflüssigkeit konstant ist und gleich der Temperatur des Temperatursteuerblocks 61 ist.
  • Ferner ist es möglich zu erfassen, ob es eine Trennung des Heizgerätes 62 gibt und/oder ob es einen Fehler in der Heizgerätschaltung 42 gibt, durch Messen und Prüfen einer Differenz zwischen der Temperatur des Heizgerätes 62 ohne die Anwendung elektrischer Ströme und der Temperatur des Heizgerätes 62, an das eine vorbestimmte Leistung angelegt wird, unter Verwendung des PT-Sensors 63. Falls z.B. die Temperatur, die durch den PT-Sensor 63 gemessen wird, höher als die Temperatur der Kühlflüssigkeit ist, während die Leistung nicht an das Heizgerät 62 angelegt wird, kann erfasst werden, dass die AUS-Steuerung der Leistungsquelle 50 nicht richtig durchgeführt wird. Dann kann die Heizgerätschaltung 62 die Leistungsversorgung von der Leistungsquelle 50 blockieren.
  • Wenn andererseits das Heizgerät 62 und der PT-Sensor 63 mit der DUT in Kontakt sind, ist es möglich, einen thermischen Kontaktwiderstand zwischen der Seite des Temperatursteuerblocks 61 und der DUT 32 zu prüfen, indem ein vorbestimmter Betrag an Leistung dem Heizgerät 62 zugeführt und eine Tempe raturänderung pro Einheitszeit unter Verwendung des PT-Sensors 63 gemessen wird. Wenn der thermische Kontaktwiderstand höher ist, erfasst der PT-Sensor 63 eine kleinere Temperaturänderung pro Einheitszeit.
  • Ferner kann in der Ausführungsform ein Defekt in dem Verbinder 33 oder Verbindungsleitungen zwischen der Einrichtungsleistungsquelle 21 und der DUT 32 erfasst werden. Z.B. wird eine Differenz zwischen jeder von Belastungsspannungen F+, F– und jeder von Abtastspannungen S+, S– der Seite der Einrichtungsleistungsquelle 21 gemessen. Ferner wird ein elektrischer Stromwert durch die elektrische Strommesseinheit 23 gemessen. Wenn die gemessenen Werte einen Ausdruck:
    (Belastungsspannung – Abtastspannung)/elektrischer Stromwert > vorbestimmter Widerstand
    erfüllen, wird der Verbinder 33 beurteilt, einen Kontaktfehler zu haben. Wenn es keine Differenz zwischen der Belastungsspannung und der Abtastspannung gibt, obwohl der elektrische Strom fließt, wird die Abtastleitung zwischen der DUT 32 und der Einrichtungsleistungsquelle 21 beurteilt, in einem unterbrochenen Zustand zu sein. Wenn die wie oben beschriebenen fehlerhaften Zustände erfasst werden, schaltet die Teststeuervorrichtung 10 die Einrichtungsleistungsquelle 21 aus. Somit wird verhindert, dass Wärmeerzeugung und/oder Ausbrennen durch den Kontaktfehler des Verbinders und dergleichen in dem Einbrenntest verursacht werden, während dessen ein großer elektrischer Strom durch die DUT fließt.
  • INDUSTRIELLE ANWENDBARKEIT
  • Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung und die Einbrennvorrichtung, die die Schaltung verwendet, gemäß der vorliegenden Erfindung sind für eine Einbrennvorrichtung von Nutzen, die einen Einbrenntest in Halbleitereinrichtungen durchführt, und ist insbesondere als ein Mittel geeignet, das Verringerung von Rauschen erlaubt, das von dem Heizgerät übertragen wird, wenn die Temperaturabstimmung unter Verwendung eines Heizgerätes durchgeführt wird.
  • ZUSAMMENFASSUNG
  • Es wird eine Heizgerät-Leistungssteuerschaltung vorgesehen, die ein Spannungssignal ein-/ausschaltet, das von einer Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird, um eine Leistung eines Heizgerätes durch Steuern einer Spannung, die an das Heizgerät angelegt wird, zu steuern. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung enthält eine Spannungsglättungsschaltung, die zwischen dem Heizgerät und einem Schaltkreis angeordnet ist, der eine Spannung ein-/ausschaltet, die von der Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird. Die Spannungsglättungsschaltung wandelt die Spannung in ein analoges Spannungssignal durch Glätten eines Spannungssignals, das durch Ein-/Ausschalten der Spannung erhalten wird.

Claims (9)

  1. Eine Heizgerät-Leistungssteuerschaltung, die ein Spannungssignal ein-/ausschaltet, das von einer Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird, um eine Leistung eines Heizgerätes durch Steuern einer Spannung, die an das Heizgerät angelegt wird, zu steuern, wobei die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung umfasst eine Spannungsglättungsschaltung, die zwischen dem Heizgerät und einem Schaltkreis angeordnet ist, der eine Spannung ein-/ausschaltet, die von der Gleichstromleistungsquelle zugeführt wird, wobei die Spannungsglättungsschaltung die Spannung in ein analoges Spannungssignal durch Glätten eines Spannungssignals wandelt, das durch Ein- /Ausschalten der Spannung erhalten wird.
  2. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach Anspruch 1, ferner umfassend: eine Heizgerät-Steuerschaltung, die Schalten des Schaltkreises gemäß einem vorbestimmten Spannungsindikatorsignal steuert; und eine Spannungskomparatorschaltung, die einen Wert des Spannungsindikatorsignals mit einem Wert des analogen Spannungssignals vergleicht, wobei die Heizgerät-Steuerschaltung die Leistung des Heizgerätes durch Steuern vom Schalten des Schaltkreises basierend auf einem Vergleichsergebnis durch die Spannungskomparatorschaltung steuert.
  3. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach Anspruch 2, wobei die Heizgerät-Steuerschaltung das Spannungsindikatorsignal in ein zeitlich verteiltes Spannungsindikatorsignal wandelt, das auf eine zeitlich verteilte Art und Weise erhalten wird, sodass eine Variation des Spannungsindikatorsignals pro vorbestimmte Zeit innerhalb eines vorbestimmten Betrags ist, und das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal dem Schaltkreis zuführt.
  4. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach Anspruch 3, wobei die Heizgerät-Steuerschaltung eine Tabelle enthält, die eine Beziehung zwischen dem Spannungsindikatorsignal und einer Serie von zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignalen entsprechend einer Variation des Spannungsindikatorsignals speichert, und die Heizgerät-Steuerschaltung das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal durch Abfragen der Tabelle erzeugt.
  5. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach Anspruch 3, wobei die Heizgerät-Steuerschaltung das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal basierend auf einem relationalen Ausdruck erzeugt, der eine Beziehung zwischen dem Spannungsindikatorsignal und einer Serie von zeitlich verteilten Spannungsindikatorsignalen entsprechend einer Variation des Spannungsindikatorsignals anzeigt.
  6. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach einem beliebigen von Ansprüchen 3 bis 5, wobei die Heizgerät-Steuerschaltung das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal erzeugt, wobei das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal Impulse mit einer gleichen Impulsbreite und unterschiedlichen Zeitintervallen enthält.
  7. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach einem beliebigen von Ansprüchen 3 bis 5, wobei die Heizgerät-Steuerschaltung ein Impulsbreitenmodulationssignal als das zeitlich verteilte Spannungsindikatorsignal verwendet.
  8. Die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach einem beliebigen von Ansprüchen 1 bis 5, wobei der Schaltkreis eine Strombegrenzungsschaltung enthält.
  9. Eine Einbrennvorrichtung, umfassend die Heizgerät-Leistungssteuerschaltung nach einem beliebigen von Ansprüchen 1 bis 8, um einen Einbrenntest in einer Einrichtung in Prüfung durchzuführen.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4840780B2 (ja) 2007-06-19 2011-12-21 東芝ストレージデバイス株式会社 記憶装置のヘッドic及びそれを用いた記憶装置
CN102204403A (zh) * 2011-05-17 2011-09-28 华为技术有限公司 一种电子加热器及其控制方法
CN103116086B (zh) * 2011-11-16 2015-03-25 中国科学院金属研究所 内置式多孔加热器快速寿命实验的设备与方法
US20150377956A1 (en) * 2014-06-25 2015-12-31 Globalfoundries Inc. Method and apparatus for inline device characterization and temperature profiling
EP3326043A1 (de) * 2015-07-21 2018-05-30 Delta Design, Inc. Ausgabe von kontinuierlichem fluidischem wärmeleitmaterial
JP2021530686A (ja) * 2018-07-09 2021-11-11 デルタ・デザイン・インコーポレイテッドDelta Design, Inc. 電子デバイスの熱制御のためのアセンブリ及びサブアセンブリ
JP7215240B2 (ja) * 2019-03-07 2023-01-31 富士電機株式会社 半導体装置の試験方法
GB201909380D0 (en) * 2019-06-28 2019-08-14 Nicoventures Holdings Ltd Apparatus for an aerosol generating device
CN111397653B (zh) * 2020-04-01 2021-11-19 中煤科工集团重庆研究院有限公司 煤矿用传感器的故障诊断系统及方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3469330D1 (en) 1984-02-20 1988-03-17 Honeywell Bull Spa Power fet driving circuit
JPH04337272A (ja) * 1991-05-15 1992-11-25 Hirata Kiko Kk スイッチング制御式電熱回路
JPH0773242A (ja) 1993-09-03 1995-03-17 Omron Corp 商品予約システム
JPH0743242U (ja) * 1993-12-28 1995-08-18 日本アビオニクス株式会社 Icのバーンイン装置
JP3249077B2 (ja) 1996-10-18 2002-01-21 キヤノン株式会社 マトリクス基板と液晶装置
JP2000206176A (ja) 1999-01-07 2000-07-28 Nippon Scientific Co Ltd バ―イン装置
JP2000304804A (ja) 1999-04-26 2000-11-02 Denken Eng Kk バーンイン装置及びバーンイン方法
JP3781650B2 (ja) 2001-09-21 2006-05-31 株式会社リコー 画像定着方法及び画像定着装置

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