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Die
vorliegende Anmeldung ist eine Fortsetzungsanmeldung der am 12.
Juni 2003 eingereichten PCT/JP03/07468, die die Priorität der am
1. Oktober 2002 eingereichten Japanischen Patentanmeldung Nr. 2002-288411
beansprucht, deren Inhalt hier einbezogen wird.
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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Gebiet der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Mustergenerator, eine
Speichersteuervorrichtung und eine Prüfvorrichtung. Insbesondere
bezieht sich die vorliegende Erfindung auf einen Mustergenerator,
der ein Prüfmuster
zum Prüfen
einer elektronischen Vorrichtung erzeugt.
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Beschreibung
des Standes der Technik
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Herkömmlich wird
ein Mustergenerator in einer Prüfvorrichtung
verwendet, die eine elektronische Vorrichtung prüft. Der Mustergenerator erzeugt ein
Prüfmuster,
das ein Eingangssignal für
die elektronische Vorrichtung zum Prüfen der elektronischen Vorrichtung
ist. Der Mustergenerator erzeugt das Prüfmuster aus Prüfdaten.
Die Prüfvorrichtung
enthält
einen Hauptspeicher, der die Prüfdaten
speichert.
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Als
Hauptspeicher wird ein Großraumspeicher
wie beispielsweise ein dynamischer Speicher mit wahlweisem Zugriff
verwendet. Dynamische Speicher mit wahlweisem Zugriff haben unterschiedlichen
Schnittstellenspezifikationen entsprechend der Zugriffsgeschwindigkeit,
Kapazität
und des Typs.
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Bei
der herkömmlichen
Prüfvorrichtung
wurde eine Speichersteuervorrichtung, die Hauptspeicher steuert,
entsprechend den Schnittstellenspezifikationen des zu verwendenden
dynamischen Speichers mit wahlweisem Zugriff ausgebildet. Daher
war es schwierig, den die Prüfdaten
speichernden Hauptspeicher gegen einen anderen Speicher mit unterschiedlicher
Schnittstellenspezifikation auszutauschen.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Es
ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Mustergenerator,
eine Speichersteuervorrichtung und eine Prüfvorrichtung vorzusehen, die
das vorgenannte Problem lösen
können.
Die obige und andere Aufgaben können
gelöst
werden durch in den unabhängigen
Ansprüchen
beschriebene Kombinationen. Die abhän gigen Ansprüche definieren
weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden
Erfindung.
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Um
eine derartige Aufgabe zu lösen,
ist gemäß einem
ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ein Mustergenerator vorgesehen,
der ein Prüfmuster
zum Prüfen
einer elektronischen Vorrichtung erzeugt. Der Mustergenerator enthält: einen
Prüfdaten
entsprechend dem Prüfmuster
speichernden Hauptspeicher; einen Speichersteuerabschnitt, der den
Hauptspeicher steuert; und einen Prüfmuster-Ausgabeabschnitt, der
die Prüfdaten
von dem Hauptspeicher empfängt
und das Prüfmuster
auf der Grundlage der Prüfdaten
ausgibt, wobei der Speichersteuerabschnitt enthält: einen Speichersequenz-Speicherabschnitt,
der wieder einschreibbar eine Speichersequenz speichert, die eine
Sequenz zum Zuführen
eines Eingangssignals zu einem Eingangsstift des Hauptspeichers
anzeigt; und einen Speicherzugriffsabschnitt, der die Speichersequenz von
dem Speichersequenz-Speicherabschnitt empfängt, das Eingangssignal zu
dem Eingangsstift des Hauptspeichers gemäß der Speichersequenz liefert und
einen Zugriff zu dem Hauptspeicher durchführt.
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Darüber hinaus
kann der Hauptspeicher ein dynamischer Speicher mit wahlweisem Zugriff
sein, der Speichersequenz-Abschnitt kann die Speichersequenz entsprechend
zumindest einer der Funktionen lesen, schreiben und wiederauffrischen
in dem Hauptspeicher speichern, und der Speicherzugriffsabschnitt
kann gemäß der in
dem Speichersequenz-Speicherabschnitt gespeicherten Speichersequenz
zu dem Hauptspeicher zugreifen.
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Darüber hinaus
kann der Prüfmuster-Ausgabeabschnitt
einen Zugriffsbefehl, der einen Zugriff zu dem Haupt speicher anweist,
zu dem Speichersteuerabschnitt ausgeben, der Speichersteuerabschnitt kann
weiterhin einen Zugriffsbefehls-Speicherabschnitt enthalten, der
die mehreren von dem Prüfmuster-Ausgabeabschnitt
empfangenen Zugriffsbefehle aufeinander folgend speichert, und die
mehreren in dem Speicherzugriffsabschnitt gespeicherten Zugriffsbefehle
aufeinander folgend liefern, und der Speicherzugriffsabschnitt kann
die Speichersequenz empfangen für
die Durchführung
des Zugriffs entsprechend dem Zugriffsbefehl als Antwort auf den von
dem Zugriffsbefehls-Speicherabschnitt
aufeinander folgend empfangenen Zugriffsbefehl und zu dem Hauptspeicher
entsprechend der Speichersequenz zugreifen.
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Darüber hinaus
kann der Prüfmuster-Ausgabeabschnitt
den Zugriffsbefehl enthaltend eine Adresse des Hauptspeichers ausgeben,
wobei der Speicherzugriffsabschnitt enthalten kann: einen Reihenadressen-Erzeugungsabschnitt,
der wieder einschreibbar eine Zuordnung des Zugriffsbefehls und der
Reihenadresse des Hauptspeichers speichert und die Reihenadresse
entsprechend dem Zugriffsbefehl erzeugt; einen Spaltenadressen-Erzeugungsabschnitt,
der wieder einschreibbar eine Zuordnung des Zugriffsbefehls und
der Spaltenadresse des Hauptspeichers speichert und die Spaltenadresse entsprechend
dem Zugriffsbefehl erzeugt; und einen Adressensignal-Ausgabeabschnitt,
der ein Adressensignal zu einem Adresseneingangsstift des Hauptspeichers
liefert auf der Grundlage der von dem Reihenadressen-Erzeugungsabschnitt
erzeugten Reihenadresse und der von dem Spaltenadressen-Erzeugungsabschnitt
erzeugten Spaltenadresse.
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Darüber hinaus
kann der Hauptspeicher ein dynamischer Speicher mit wahlweisem Zugriff
sein; der Speicherse quenz-Speicherabschnitt kann die Speichersequenz
entsprechend dem Initialisierungsspeicherzugriff speichern, der
den Hauptspeicher initialisiert; und der Speicherzugriffsabschnitt
kann den Hauptspeicher gemäß einer
Speichersequenz entsprechend dem Initialisierungsspeicherzugriff
initialisieren.
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Darüber hinaus
kann der Speicherzugriffsabschnitt weiterhin einen Setzinformations-Speicherabschnitt
enthalten, der Informationen speichert, die in einem Modusregister
zu setzen sind, das die Operation des Hauptspeichers einstellt,
und der Speicherzugriffsabschnitt kann die in einem Modusregister des
Hauptspeichers zu setzenden Informationen in der Speichersequenz
entsprechend dem Initialisierungsspeicherzugriff setzen.
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Darüber hinaus
kann der Speicherzugriffsabschnitt zumindest eine von der Bündellänge, dem Überlappungstyp
und der CAS-Latenz in dem Modusregister setzen.
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Darüber hinaus
kann der Mustergenerator weiterhin einen nichtflüchtigen Speicher enthalten, der
die Speichersequenz speichert, und der Speichersequenz-Speicherabschnitt
kann die Speichersequenz aus dem nichtflüchtigen Speicher lesen und sie
speichern.
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Gemäß einem
zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Speichersteuervorrichtung vorgesehen,
die einen Speicher steuert. Die Speichersteuervorrichtung enthält: einen
Speichersequenz-Speicherabschnitt, der wiedereinschreibbar eine
Speichersequenz speichert, die eine Sequenz zum Zuführen eines
Eingangssignals zu einem Eingangsstift des Speichers anzeigt; und
einen Speicherzugriffsabschnitt, der die Speichersequenz von dem
Speichersequenz-Speicherabschnitt emp fängt, das Eingangssignal zu
dem Eingangsstift des Speichers entsprechend der Speichersequenz
liefert und zu dem Speicher zugreift.
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Gemäß einem
dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Prüfvorrichtung
vorgesehen, die eine elektronische Vorrichtung prüft. Die
Prüfvorrichtung
enthält:
einen Hauptspeicher, der Prüfdaten entsprechend
einem Prüfmuster
zum Prüfen
der elektronischen Vorrichtung speichert; einen Speichersteuerabschnitt,
der den Hauptspeicher steuert; einen Prüfmuster-Ausgabeabschnitt, der die Prüfdaten von
dem Hauptspeicher empfängt
und das Prüfmuster
auf der Grundlage der Prüfdaten
ausgibt; eine Wellenform-Formatierungsvorrichtung,
die das Prüfmuster
formatiert; und einen Beurteilungsabschnitt, der eine Gut/Schlecht-Beurteilung
für die
elektronische Vorrichtung durchführt
auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung auf der
Grundlage des Prüfmusters
ausgegebenen Ausgangssignals, wobei der Speichersteuerabschnitt
enthält:
einen Speichersequenz-Speicherabschnitt, der wiedereinschreibbar
eine Speichersequenz speichert, die eine Sequenz zum Zuführen eines
Eingangssignals zu einem Eingangsstift des Hauptspeichers anzeigt;
und einen Speicherzugriffsabschnitt, der die Speichersequenz von
dem Speichersequenz-Speicherabschnitt empfängt, das Eingangssignal zu
dem Eingangsstift des Hauptspeichers entsprechend der Speichersequenz
liefert und zu dem Hauptspeicher zugreift.
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KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine Zeichnung, die beispielhaft eine Konfiguration einer Prüfvorrichtung
gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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2 ist
eine Zeichnung, die beispielhaft eine Konfiguration eines Mustergenerators
zeigt.
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3 ist
eine Zeichnung, die beispielhaft eine detaillierte Konfiguration
eines Speichersteuerabschnitts zeigt.
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4 ist
eine Zeichnung, die beispielhaft eine in einem Speichersequenz-Speicherabschnitt gespeicherte
Speichersequenz zeigt.
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5 ist
ein Flussdiagramm, das beispielhaft die Arbeitsweise des Speichersteuerabschnitts zeigt.
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DETAILLIERTE
BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
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Die
Erfindung wird nun auf der Grundlage der bevorzugten Ausführungsbeispiele
beschrieben, die den Bereich der vorliegenden Erfindung nicht beschränken, sondern
die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle Merkmale und deren Kombinationen,
die in dem Ausführungsbeispiel
beschrieben sind, sind nicht notwendigerweise wesentlich für die Erfindung.
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1 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. Die Prüfvorrichtung 100 prüft eine
elektronische Vorrichtung 200. Die Prüfvorrichtung 100 enthält einen
Mustergenerator 50, eine Musterformatierungsvorrichtung 40, einen
Signal-Eingabe-/Ausgabeabschnitt 30 und
einen Beurteilungsabschnitt 20.
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Der
Mustergenerator 50 erzeugt ein Prüfmuster zum Prüfen der
elektronischen Vorrichtung 200 gemäß einem Befehl von einem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 auf
der Grundlage der in einem internen Hauptspeicher gespeicherten
Prüfdaten.
Beispielsweise ist der Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 ein
Computer wie eine Arbeitsstation. Darüber hinaus kann der Mustergenerator 50 ein
Signal für
einen erwarteten Wert erzeugen, das einen erwarteten Wert anzeigt,
der von der elektronischen Vorrichtung 200 auf der Grundlage
des eingegebenen Prüfmusters
auszugeben ist. Zusätzlich
kann der Hauptspeicher in dem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 vorgesehen
sein. In diesem Fall empfängt der
Mustergenerator 50 die Prüfdaten von dem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150.
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Die
Musterformatierungsvorrichtung 40 empfängt das Prüfmuster und formatiert das
Prüfmuster. Darüber hinaus
liefert die Musterformatierungsvorrichtung 40 das Prüfmuster,
das zu einer gewünschten
Zeit empfangen wurde, zu dem Signal-Eingabe-/Ausgabeabschnitt 30.
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Der
Signal-Eingabe-/Ausgabeabschnitt 30 liefert das empfangene
Prüfmuster
zu der elektronischen Vorrichtung 200 und empfängt das
von der elektronischen Vorrichtung 200 auf der Grundlage des
Prüfmusters
ausgegebene Ausgangssignal. Darüber
hinaus liefert der Signal-Eingabe-/Ausgabeabschnitt 30 das empfangene
Ausgangssignal zu dem Beurteilungsabschnitt 20.
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Der
Beurteilungsabschnitt 20 führt eine Gut/Schlecht-Beurteilung der elektronischen
Vorrichtung 200 auf der Grundlage des empfangenen Ausgangssignals
durch. Beispielsweise führt
der Beurteilungsabschnitt 20 die Gut/Schlecht-Beurteilung
der elektronischen Vorrich tung 200 durch, indem er das Signal
für den
erwarteten Wert von dem Mustergenerator 50 empfängt und
das Signal für
den erwarteten Wert und das Ausgangssignal der elektronischen Vorrichtung 200 vergleicht.
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2 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration des Mustergenerators 50.
Der Mustergenerator 50 enthält einen Hauptspeicher 60,
einen Speichersteuerabschnitt 70, einen Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85,
einen Mustererzeugungs-Algorithmusabschnitt 120, einen
Erfassungsabschnitt 130, einen Erfassungssteuerabschnitt 140 und
einen Ausfallspeicher 10.
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Der
Hauptspeicher 60 ist ein Speicher zum Speichern von Prüfdaten für die Erzeugung
des Prüfmusters.
Die Prüfdaten
werden geteilt und in mehreren Prüfdatenblöcken gespeichert. Beispielsweise speichert
der Hauptspeicher 60: mehrere Musterdatenblöcke, die
von den Musterdaten geteilt sind, die das Signal anzeigen, das zu
der elektronischen Vorrichtung 200 zu liefern ist; und
Sequenzdatenblöcke, die
von den Sequenzdaten geteilt sind, die eine Sequenz zum Zuführen der
Musterdaten zu der elektronischen Vorrichtung 200 anzeigen,
als Prüfdatenblock.
Darüber
hinaus assoziiert der Hauptspeicher 60 die Musterdatenblöcke mit
den Sequenzdatenblöcken
und speichert sie.
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Der
Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85 enthält einen
Bussteuerabschnitt 110, einen Mustererzeugungsabschnitt 80 und
eine Sequenzvorrichtung 90. Der Bussteuerabschnitt 110 empfängt Befehlsinformationen,
die eine Sequenz zum Zuführen
von Prüfdatenblöcken zu
dem Mustererzeugungsabschnitt 80 und/oder der Sequenzvorrichtung 90 anzeigen,
von dem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150.
Dann weist der Bussteuerabschnitt 110 den Speichersteuerabschnitt 70 aufein ander
folgend an, welche Musterdatenblöcke
und/oder Sequenzdatenblöcke
aus dem Hauptspeicher 60 zu lesen sind. In diesem Fall gibt
der Bussteuerabschnitt 110 einen Zugriffsbefehl zu dem
Speichersteuerabschnitt 70 aus, der diesen anweist, zu
dem Hauptspeicher 60 zuzugreifen. Der Speichersteuerabschnitt 70 liest
Musterdatenblöcke und
Sequenzdatenblöcke
aufeinander folgend aus dem Hauptspeicher 60 gemäß dem von
dem Bussteuerabschnitt 110 empfangenen Zugriffsbefehl. Dann
liefert der Speichersteuerabschnitt 70 die gelesenen Musterdatenblöcke aufeinander
folgend zu dem Mustererzeugungsabschnitt 80 und liefert
die gelesenen Sequenzdatenblöcke
aufeinander folgend zu der Sequenzvorrichtung 90.
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Der
Mustererzeugungsabschnitt 80 empfängt aufeinander folgend die
Musterdatenblöcke und
erzeugt ein Prüfmuster
auf der Grundlage der Musterdatenblöcke. Die Sequenzvorrichtung 90 speichert
die empfangenen Sequenzdatenblöcke
aufeinander folgend und steuert den Mustererzeugungsabschnitt 80 auf
der Grundlage der gespeicherten Sequenzdatenblöcke. Beispielsweise ist der
Sequenzdatenblock ein Programm zum Anweisen der Sequenz für die Ausgabe
der Daten der Musterdatenblöcke
und für
die Erzeugung des Prüfmusters
und bewirkt, dass der Mustererzeugungsabschnitt 80 das Prüfmuster
entsprechend dem Programm erzeugt. Die Sequenzvorrichtung 90 kann
den Mustererzeugungsabschnitt 80 aufeinander folgend über die Adresse
der Musterdatenblöcke
anweisen, die von dem Mustererzeugungsabschnitt 80 zu empfangen sind,
auf der Grundlage der Sequenzdatenblöcke.
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Darüber hinaus
kann, wenn die zu prüfende elektronische
Vorrichtung 100 ein Speicher, die Sequenzvorrichtung 90 ein
Befehlssignal liefern, das bewirkt, dass der Mustererzeugungs-Algorithmusabschnitt 120 Musterdaten
für die
Speicherprüfung
erzeugt. Der Mustererzeugungs-Algorithmusabschnitt 120 erzeugt
die Musterdaten für
die Speicherprüfung auf
der Grundlage eines vorbestimmten Algorithmus, wenn das Befehlssignal
empfangen wird. In diesem Fall erzeugt der Mustererzeugungsabschnitt 80 das Prüfmuster
weiterhin auf der Grundlage der Musterdaten für die Speicherprüfung.
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Der
Erfassungsabschnitt 130 und der Erfassungssteuerabschnitt 140 speichern
das Beurteilungsergebnis des Beurteilungsabschnitts 20 in
dem Ausfallspeicher 10. Der Erfassungsabschnitt 130 empfängt die
Adresse der Musterdatenblöcke,
die von der Sequenzvorrichtung 90 zu dem Mustererzeugungsabschnitt 80 geliefert
werden, oder/und die Daten für
die Speicherprüfung,
die von dem Mustererzeugungs-Algorithmusabschnitt 120 erzeugt
wurden. Der Erfassungsabschnitt 130 liefert die Adresse
des entsprechenden Musterdatenblock oder/und die entsprechenden
Daten für
die Speicherprüfung
zu dem Beurteilungsergebnis. Der Erfassungssteuerabschnitt 140 empfängt das
Befehlssignal, das die Anweisung gibt, ob das Beurteilungsergebnis
in dem Ausfallspeicher 10 zu speichern ist oder nicht,
von dem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 und
liefert das Beurteilungsergebnis zu dem Ausfallspeicher 10 entsprechend
dem Befehlssignal.
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Darüber hinaus
kann der Erfassungssteuerabschnitt 140 dem Bussteuerabschnitt 110 das
Beurteilungsergebnis für
den betroffenen Musterdatenblock mitteilen, wenn die Prüfung von
einem der Musterdatenblöcke
beendet ist. In diesem Fall teilt der Bussteuerabschnitt 110 das
Beurteilungsergebnis dem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 mit.
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Darüber hinaus
speichert der Ausfallspeicher 10 das Beurteilungsergebnis
des Beurteilungsabschnitts 20. Der Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 kann
das in dem Ausfallspeicher 10 gespeicherte Beurteilungsergebnis
lesen und das Prüfergebnis
für die
elektronische Vorrichtung 200 analysieren, oder er kann
das Prüfergebnis
auf der Grundlage des Beurteilungsergebnisses für jeden Musterdatenblock analysieren.
Darüber
hinaus kann, obgleich der Mustergenerator 50 bei diesem
Beispiel den Ausfallspeicher 10 enthält, bei anderen Beispielen
ein Mustergenerator 50 den Ausfallspeicher 10 weglassen
und die Prüfvorrichtung 100 kann
den Ausfallspeicher 10 enthalten, oder der Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 kann
den Ausfallspeicher 10 enthalten.
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3 zeigt
eine beispielhafte detaillierte Konfiguration des Speichersteuerabschnitts 70.
Der Speichersteuerabschnitt 70 ist eine Speichersteuervorrichtung,
die den Hauptspeicher 60 steuert, und er enthält einen
Speichersequenz-Speicherabschnitt 204, einen Zugriffsbefehls-Speicherabschnitt 202,
einen Speicherzugriffsabschnitt 206 und einen nichtflüchtigen
Speicher 208.
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Hier
ist bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
der Hauptspeicher 60 ein dynamischer Speicher mit wahlfreiem
Zugriff. Darüber
hinaus gibt der Bussteuerabschnitt 110 (siehe 2)
des Prüfmuster-Ausgabeabschnitts 85 den
Zugriffsbefehl, der eine Adresse des Hauptspeichers 60 enthält, zu dem Speichersteuerabschnitt 70 aus.
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Der
Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 speichert die wiedereinschreibbar
eine Speichersequenz, die ei ne Sequenz zum Zuführen von Eingangssignalen zu
dem Eingangsstift des Hauptspeichers 60 anzeigt. Dann liefert,
wenn der Speichersteuerabschnitt 70 einen Zugriffsbefehl
von dem Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85 empfängt, der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 die
Speichersequenz entsprechend dem Zugriffsbefehl zu dem Speicherzugriffsabschnitt 206.
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Zusätzlich liest
bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 die Speichersequenz
aus dem nichtflüchtigen
Speicher 208, der die Speichersequenz im Vorhinein speichert,
und speichert sie. Bei einem anderen Beispiel kann der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 die
Speichersequenz von dem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 250 (siehe 1)
empfangen und sie durch den Bussteuerabschnitt 110 speichern.
Darüber
hinaus kann der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 einen
Teil der mehreren Speichersequenz aus dem nichtflüchtigen
Speicher 208 lesen und kann den anderen Teil von dem Prüfvorrichtungs-Steuerabschnitt 150 empfangen.
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Der
Zugriffsbefehls-Speicherabschnitt 202 ist ein Schiebespeicher
(FIFO), der aufeinander folgend mehrere von dem Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85 empfangene
Zugriffsbefehle speichert und die mehreren gespeicherten Zugriffsbefehle
aufeinander folgend zu dem Speicherzugriffsabschnitt 206 liefert.
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Der
Speicherzugriffsabschnitt 206 empfängt eine Speichersequenz zur
Durchführung
eines Zugriffs als Antwort auf den Zugriffsbefehl von dem Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 entsprechend
dem aufeinander folgend von dem Zugriffsbefehls-Speicherabschnitt 202 empfangenen
Zugriffsbefehl. Dann liefert entsprechend der Speichersequenz der
Speicherzugriffsabschnitt 206 ein Eingangssignal zu dem
Eingangsstift des Hauptspeichers 60 und greift auf den
Hauptspeicher 60 zu. Der Speicherzugriffsabschnitt 206 enthält einen
Reihenadressen-Erzeugungsabschnitt 306, einen Spaltenadressen-Erzeugungsabschnitt 308,
einen Setzinformations-Speicherabschnitt 310, einen Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312,
einen Befehlserzeugungsabschnitt 304 und einen Datensteuerabschnitt 302.
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Der
Reihenadressen-Erzeugungsabschnitt 306 erzeugt eine Reihenadresse
des Hauptspeichers 60 entsprechend dem Zugriffsbefehl und
liefert sie zu dem Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312.
Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
speichert der Reihenadressen-Erzeugungsabschnitt 306 wiedereinschreibbar
eine Zuordnung des Zugriffsbefehls und der Reihenadresse des Hauptspeichers 60 und
erzeugt eine Reihenadresse des Hauptspeichers 60 auf der
Grundlage dieser Zuordnung. Der Spaltenadressen-Erzeugungsabschnitt 308 erzeugt
die Spaltenadresse des Hauptspeichers 60 entsprechend dem
Zugriffsbefehl und liefert sie zu dem Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312.
Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
speichert der Spaltenadressen-Erzeugungsabschnitt 308 wiedereinschreibbar eine
Zuordnung des Zugriffsbefehls und der Spaltenadresse des Hauptspeichers 60 und
erzeugt die Spaltenadresse des Hauptspeichers 60 auf der Grundlage
dieser Zuordnung.
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Der
Setzinformations-Speicherabschnitt 310 speichert in einem
Modusregister zu setzende Informationen, dass die Operation des
Hauptspeichers 60 einstellt. Darüber hinaus empfängt der
Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312 jeweils
eine Reihenadresse und eine Spaltenadresse von jeweils dem Reihenadressen-Erzeugungsabschnitt 306 und
dem Spaltenadressen- Erzeugungsabschnitt 308 und
liefert das Adressensignal zu dem Adresseneingangsstift des Hauptspeichers 60 auf
der Grundlage der Reihenadresse und der Spaltenadresse. Der Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312 setzt
das Modusregister des Hauptspeichers 60, indem er weiterhin
ein vorbestimmtes Signal zu dem Adresseneingangsstift des Hauptspeichers 60 ausgibt.
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Der
Befehlserzeugungsabschnitt 304 erzeugt einen Befehl entsprechend
dem Zugriffsbefehl und liefert den Befehl entsprechend der Speichersequenz
zu dem Hauptspeicher 60. Darüber hinaus steuert der Datensteuerabschnitt 302 die
Eingabe und Ausgabe der Datensignale zu/von dem Datenstift des Hauptspeichers 60 auf
der Grundlage des Zugriffsbefehls und der Speichersequenz. Dann empfängt der
Datensteuerabschnitt 302 Prüfdaten von dem Hauptspeicher 60 und
liefert sie zu dem Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85.
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Wie
vorstehend erläutert
ist, liest bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel der Speichersteuerabschnitt 70 die
Prüfdaten
aus dem Hauptspeicher 60 entsprechend dem Zugriffsbefehl
und liefert sie zu dem Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85.
Hierdurch empfängt
der Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85 die Prüfdaten von
dem Hauptspeicher 60. Dann gibt der Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85 das
Prüfmuster
auf der Grundlage der Prüfdaten
aus.
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Darüber hinaus
speichert bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 wiedereinschreibbar
die Speichersequenz. Daher können
gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
Speichersequenzen einfach ausgetauscht werden.
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4 zeigt
eine beispielhafte Speichersequenz, die in den Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 (siehe 3)
gespeichert ist. Der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 speichert
mehrere Speichersequenzen entsprechend mehreren Zugriffsbefehlen.
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Der
Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 kann Speichersequenzen
entsprechend zumindest einer der Funktionen Lesen, Schreiben und
Wiederauffrischen in dem Hauptspeicher 60 speichern. Der
Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 kann die
Speichersequenzen entsprechend einem Initialisierungsspeicherzugriff
speichern, der den Hauptspeicher 60 initialisiert.
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Jede
der mehreren Speichersequenzen enthält eine Sequenz von Signalen
entsprechend den Eingangssignalen, die zu dem Eingangsstift des Hauptspeichers 60 zu
liefern sind. Beispielsweise enthält, wie in 4 gezeigt
ist, die Speichersequenz entsprechend dem Zugriffsbefehl des Lesens
das Signal (1) – Signal
(k), die die Sequenz der Signale ist. Der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 liefert jedes
der Signal (1) – Signal
(k) aufeinander folgend zu dem Speicherzugriffsabschnitt 206,
und der Speicherzugriffsabschnitt 206 liefert das Eingangssignal entsprechend
jedem der empfangenen Signal (1) – Signal (k) zu dem Eingangsstift
des Hauptspeichers 60. Zusätzlich kann jedes von Signal
(1) – Signal
(k) ein Satz von parallelen Signalen sein, die gleichzeitig zu mehreren
Eingangsstiften des Hauptspeichers 60 zu liefern ist.
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In
diesem Fall liefert der Speicherzugriffsabschnitt 206 (siehe 3)
zuerst eine Reihenadresse und einen ACT-Befehl zu dem Hauptspeicher 60 entsprechend
dem Signal (1), und er liefert eine Spaltenadresse und
einen Lese-Befehl zu dem Hauptspeicher 60 entsprechend
dem Signal (3). Dann empfängt der Speicher zugriffsabschnitt 206 von
dem Hauptspeicher 60 entsprechend Signal (5) – Signal (k)
ausgegebene Daten. Zusätzlich
führt der
Speicherzugriffsabschnitt 206 NOP entsprechend Signal (2)
und Signal (4) durch.
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Gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
kann ein Zugriff zu einem dynamischen Speicher mit wahlfreiem Zugriff
mit unterschiedlicher Schnittstellenspezifikation erfolgen, indem
die in dem Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 gespeicherte
Speichersequenz neu geschrieben wird.
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5 ist
ein Flussdiagramm, das beispielhaft die Arbeitsweise des Speichersteuerabschnitts 70 zeigt.
Zuerst liest der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 eine
Speichersequenz aus dem nichtflüchtigen
Speicher 208 und speichert sie (S102).
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Als
Nächstes
initialisiert der Speicherzugriffsabschnitt 206 den Hauptspeicher 60 gemäß der Initialisierungsspeichersequenz
entsprechend dem Initialisierungsspeicherzugriff (5104).
Hier kann der Speicherzugriffsabschnitt 206 zumindest eine
von der Bündellänge, dem Überlappungstyp
und der CAS-Latenz als das Modusregister des Hauptspeichers 60 setzen.
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Als
Nächstes
empfangen jeweils der Befehlserzeugungsabschnitt 304, der
Reihenadressen-Erzeugungsabschnitt 306 und der Spaltenadressen-Erzeugungsabschnitt 308 einen
Zugriffsbefehl von dem Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85 über den Zugriffsbefehls-Speicherabschnitt 202 und
erzeugen einen Befehl, eine Reihenadresse bzw. eine Spaltenadresse
auf der Grundlage des Zugriffsbefehls und der Speichersequenz (5106).
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Dann
liefern jeweils der Befehlserzeugungsabschnitt 304, der
Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312 und der Datensteuerabschnitt 302 ein
Eingangssignal zu dem Eingangsstift des Hauptspeichers 60 entsprechend
der Speichersequenz (5108). In diesem Fall liefern jeweils
der Befehlserzeugungsabschnitt 304, der Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312 und
der Datensteuerabschnitt 302 das erste in der Speichersequenz
enthaltene Signal zu dem Eingangsstift des Hauptspeichers 60.
Darüber
hinaus kann der Datensteuerabschnitt 302 das von dem Hauptspeicher 60 entsprechend
der Speichersequenz ausgegebene Datensignal empfangen.
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Als
Nächstes
stellt der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 fest,
ob die Speichersequenz endet oder nicht (S110). Der Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 kann
feststellen, dass die Speichersequenz endet, wenn das letzte Signal von
mehreren Signalen in der Speichersequenz im Schritt 5108 zu
dem Hauptspeicher 60 geliefert wird.
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Wenn
die Speichersequenz endet, empfängt der
Zugriffsbefehls-Speicherabschnitt 202 den nächsten Zugriffsbefehl
von dem Prüfmuster-Ausgabeabschnitt 85 (S106).
Wenn die Speichersequenz nicht endet, liefern jeweils der Befehlserzeugungsabschnitt 304,
der Adressensignal-Ausgabeabschnitt 312 und der Datensteuerabschnitt 302 das
folgende in der Speichersequenz enthaltende Signal zu dem Hauptspeicher 60 (S108).
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Bei
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel führt der
Speichersteuerabschnitt 70 einen Zugriff zu dem Hauptspeicher 60 durch
entsprechend der Speichersequenz, die wiedereinschreibbar in dem
Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 gespeichert ist. Daher
kann gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel,
selbst wenn der für
den Hauptspeicher 60 verwendete Speichertyp geändert wird,
ein Zugriff zu dem Hauptspeicher 60 erfolgen, indem die
in dem Speichersequenz-Speicherabschnitt 204 gespeicherte
Speichersequenz geändert
wird. Hierdurch kann der Hauptspeicher 60 in der Prüfvorrichtung 100 leicht
gegen einen Speicher mit unterschiedlicher Schnittstellspezifikation
ausgetauscht werden.
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Wie
aus der Beschreibung ersichtlich ist, kann gemäß der vorliegenden Erfindung
der Speicher in der Prüfvorrichtung
oder dergleichen leicht gegen einen Speicher mit unterschiedlicher
Schnittstellenspezifikation ausgetauscht werden.
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Obgleich
die vorliegende Erfindung mittels eines Ausführungsbeispiels beschrieben
wurde, ist darauf hinzuweisen, dass der Fachmann viele Änderungen
und Substitutionen vornehmen kann, ohne den Geist und den Bereich
der vorliegenden Erfindung zu verlassen. Es ist offensichtlich anhand
der Definition der angefügten
Ansprüche,
dass Ausführungsbeispiele
mit derartigen Modifikationen ebenfalls zu dem Bereich der vorliegenden
Erfindung gehören.
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Zusammenfassung
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Ein
Mustergenerator erzeugt ein Prüfmuster zum
Prüfen
einer elektronischen Vorrichtung. Der Mustergenerator enthält: einen
Hauptspeicher zum Speichern von Prüfdaten entsprechend einem Prüfmuster;
einen Speichersteuerabschnitt zum Steuern des Hauptspeichers; und
einen Prüfmuster-Ausgabeabschnitt
zum Empfangen der Prüfdaten
von dem Hauptspeicher und zum Ausgeben eines Prüfmusters auf der Grundlage
der Prüfdaten.
Der Speichersteuerabschnitt weist auf: einen Speichersequenz-Speicherabschnitt
zum widereinschreibbaren Speichern einer Speichersequenz, die die
Reihenfolge zum Zuführen
eines Eingangssignals zu einem Eingangsstift des Hauptspeichers
anzeigt; und einen Speicherzugriffsabschnitt zum Empfangen der Speichersequenz
von dem Speichersequenz-Speicherabschnitt, Zuführen des Eingangssignals zu
dem Eingangsstift des Hauptspeichers entsprechend der Speichersequenz
und Durchführen
eines Zugriffs zu dem Hauptspeicher.
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