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Technisches
Gebiet
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Solarzelle und ein Verfahren
zu ihrer Herstellung.
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Technischer
Hintergrund
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Eine
Dünnfilmsolarzelle,
die CuInSe2 (CIS) oder Cu(In,Ga)Se2(CIGS), welches eine feste Lösung von
CIS mit Ga ist, als eine optische Absorptionsschicht (im Folgenden
kann sie als jeweils CIS-Solarzelle oder als CIGS-Solarzelle bezeichnet werden)
verwendet, ist bekannt. CIS und CIGS sind Verbundhalbleiterschichten
(Halbleiterschichten in Chalcopyrit-Struktur), welche Elemente von
jeder der Gruppen Ib, IIIb und VIb umfassen. Es wird berichtet, dass
solch eine CIS-Solarzelle und eine CIGS-Solarzelle den Vorteil eines
hohen Energiekonvertierungs-Wirkungsgrades haben und frei von durch
Einstrahlung mit Licht verursachter Verschlechterung des Wirkungsgrades
sind.
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Weil
eine CIS-Solarzelle und eine CIGS-Solarzelle durch Schichten dünner Filme
gebildet werden können,
können
sie auf einem flexiblen Substrat gebildet werden, und eine integrierte
Solarzelle kann durch Bilden einer Mehrzahl von in Reihe verbundenen
Zelleinheiten auf einem Substrat hergestellt werden. Um einen CIS-
oder CIGS-Film von einer hohen Qualität zu bilden, ist zur Zeit eine
Bildungstemperatur von 500°C
oder mehr notwendig. Daher ist es vorteilhaft, als ein Substrat
eine Metallfolie mit einer hohen Hitzebeständigkeit zu verwenden, um eine
flexible CIS- oder CIGS-Solarzelle mit einem hohen Wirkungsgrad
herzustellen. Wenn jedoch eine Metallfolie allein für ein Substrat
verwendet wird, kann eine integrierte Solarzelle nicht hergestellt
werden, weil die Metallfolie eine elektrische Leitfähigkeit
aufweist. Daher wurde eine Solarzelle vorgeschlagen, die eine Metallfolie
mit einer auf einer Oberfläche
der Metallfolie gebildeten isolierenden Schicht aufweist.
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Beispielsweise
stellten Sato, et al. auf der in 2001 abgehaltenen 12th International
Photovoltaic Science and Engineering Conference einen Bericht bezüglich einer
CIGS-Solarzelle
vor, welcher den Titel "CIGS
Solar Cells on Stainless Steel Substrates Covered with Insulating
Layers" hat (siehe
Technical Digest of 12th International Photovoltaic Science and Engineering
Conference, Korea, 2001, P. 93). Entsprechend dem Bericht bildeten
Sato, et al. eine SiO2-Schicht als eine
isolierende Schicht auf einer rostfreien Metallfolie, welche als
Substrat verwendet wurde, um auf diese Weise eine CIGS-Solarzelle
mit einem Konvertierungswirkungsgrad von 12,2% zu erhalten. Ebenso
stellten M. Powalla et al. auf der in 2001 abgehaltenen 17th European
Photovoltaic Solar Energy Conference einen Bericht bezüglich einer CIGS-Solarzelle
vor, welcher den Titel "First
Results of the CIGS Solar Module Pilot Production" hat (siehe Proceedings
of 17th European Photovoltaic Solar Energy Conference, Germany,
2001, P. 983). Entsprechend diesem Bericht stellten Powalla et al.
eine integrierte CIGS-Solarzelle her, indem sie als ein Substrat
eine Cr-Folie verwendeten und hierauf eine isolierende Schicht bildeten,
welche einen eine Al2O3-Schicht
und eine SiO2-Schicht umfassenden Zweischichtenaufbau
aufweist. Jedoch war der Konvertierungswirkungsgrad mit 6,0% gering,
weil die Isolationseigenschaften der isolierenden Schicht nicht
ausreichend waren. Wie von den oben erwähnten Ergebnissen verstanden
wird, sind die ausreichenden Isolationseigenschaften durch eine
isolierende Schicht notwendig, um einen hohen Konvertierungswirkungsgrad
von einer integrierten Solarzelle, welche ein flexibles Metallsubstrat
umfasst, zu erhalten.
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Inzwischen
muss in einem Solarzellenfeld, in welchem Solarzellenmodule zum
Erzielen einer hohen elektrischen Leistung in Reihe geschaltet sind, eine
Umgehungsdiode (bypass diode), welche eine Gleichrichtung in einer
umgekehrten Richtung zu der einer p-n-Verbindung in einer Solarzelle
aufweist, parallel zu dem Solarzellenmodul aus dem folgenden Grund
verbunden werden. Wenn einer der Module bei der Erzeugung von elektrischer
Leistung versagt, beispielsweise, weil er beschädigt oder beschattet ist, kann
durch normal arbeitende Module produzierter elektrischer Strom den
unwirksamen Modul umgehen. Durch Bereitstellen solch einer Umgehungsdiode,
kann elektrische Leistung normal bereitgestellt werden, sogar wenn
ein unwirksamer Modul vorliegt. Obwohl solch eine Umgehungsdiode
nicht allgemein in jeder Solarzelle in einem Modul bereitgestellt
ist, wurde von einem Aufbau einer Si-Solarzelle berichtet, welche
eine in einer Zelle gebildete Umgehungsdiode aufweist. Es gab kein
Beispiel von solch einem Bericht hinsichtlich einer Dünnfilmsolarzelle.
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In
einem Solarzellenmodul produziert eine Zelleinheit nicht elektrische
Leistung, wenn eine der Zelleinheiten beschädigt, oder auf ihrer Oberfläche teilweise
fleckig oder teilweise abgeschattet ist, und entsprechend ist der
Wir kungsgrad des Solarzellenmoduls verringert. Weiterhin können, falls
der Solarzellenmodul unter solch einer Bedingung für eine lange
Zeit der Sonnenstrahlung ausgesetzt ist, normal arbeitende Zellen
ebenfalls beschädigt
werden. Daher ist es bevorzugt, eine Umgehungsdiode in einem Solarzellenmodul
zu bilden. Wenn jedoch eine Umgehungsdiode in einer Dünnfilmsolarzelle
durch ein allgemeines herkömmliches
Verfahren gebildet wird, können
solche Probleme auftreten, dass eine Anzahl der Herstellungsschritte
zunimmt und der Herstellungsprozess kompliziert wird, und dass sich
während
der Bildung einer Umgehungsdiode die Eigenschaft eines p-n-Flächengleichrichters
(p-n junction diode) in einer Solarzelle verschlechtert.
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Im
Gegensatz hierzu ist es für
eine Dünnfilmsolarzelle
möglich,
dass ihre Fläche
vergrößert wird und
die Herstellungskosten reduziert werden. Weil jedoch ein Metallsubstrat
rauhere Unebenheiten auf seiner Oberfläche aufweist als ein Glas oder
ein organischer Film, wird die Oberfläche möglicherweise teilweise nicht
mit der isolierenden Schicht bedeckt, sogar wenn eine dicke isolierende
Schicht auf der Oberfläche
eines Metallsubstrates in einer großen Fläche gebildet ist. Ein leitfähiger Film
(im Allgemeinen ein Metallfilm), der als eine Rückseitenelektrode einer Solarzelle
dient, steht direkt in Verbindung mit dem von der isolierenden Schicht
unbedeckten Teil des Metallsubstrates, was dort einen Kurzschluss
erzeugt. Daher ist es zum Bilden einer Dünnfilmsolarzelle mit einem
hohen Konvertierungswirkungsgrad unter Verwendung eines Metallsubstrates
notwendig, einen Kurzschlussbereich zwischen dem Metallsubstrat
und der Rückseitenelektrode
(der leitfähige
Film) nach der Bildung der isolierenden Schicht zu entfernen.
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Offenbarung
der Erfindung
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Angesichts
des Obigen ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine
Solarzelle mit einem neuen Aufbau bereitzustellen, welche eine exzellente
Eigenschaft und Zuverlässigkeit
aufweist, sowie ein Verfahren zu ihrer Herstellung.
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Um
die oben erwähnte
Aufgabe zu erreichen, umfasst eine erste Solarzelle der vorliegenden Erfindung:
Ein leitfähiges
Substrat; und eine isolierende Schicht, eine leitende Schicht und
eine Halbleiterschicht, die auf dem Substrat in dieser Reihenfolge angeordnet
sind. Ein Durchgangsloch ist gebildet, so dass es die isolierende
Schicht und die leitende Schicht durchdringt, und das Durchgangsloch
ist mit einem Halbleiter gefüllt,
welcher eine Zusammensetzungskomponente auch der Halbleiterschicht
ist.
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Weiterhin
umfasst eine zweite Solarzelle der vorliegenden Erfindung: ein leitfähiges Substrat;
eine auf dem Substrat gebildete isolierende Schicht; und eine Mehrzahl
von Zelleinheiten, die auf der isolierenden Schicht gebildet sind
und in Reihe miteinander verbunden sind. Jede Zelleinheit umfasst
eine leitende Schicht und eine Halbleiterschicht, die auf der isolierenden
Schicht in dieser Reihenfolge angeordnet sind, in welcher ein Durchgangsloch
gebildet ist, so dass es die isolierende Schicht und die leitende Schicht
durchdringt, und das Durchgangsloch ist mit einem Halbleiter, welcher
eine Zusammensetzungskomponente auch der Halbleiterschicht ist,
gefüllt.
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In
der erfindungsgemäßen Solarzelle
kann wenigstens ein von den das Substrat bildenden Elementen ausgewähltes Element
in den Halbleiter diffundieren, mit welchem das Durchgangsloch gefüllt ist.
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In
der erfindungsgemäßen Solarzelle
kann das Substrat aus einer wenigstens zwei von Ti, Cr, Fe und Ni
ausgewählten
Elementen umfassenden Metalllegierung oder rostfreiem Stahl gefertigt
sein.
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In
der erfindungsgemäßen Solarzelle
kann die isolierende Schicht aus wenigstens einem von der aus SiO2, TiO2, Al2O3, Si3N4, TiN und Glas bestehenden Gruppe Ausgewählten gefertigt
sein.
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In
der erfindungsgemäßen Solarzelle
kann die leitende Schicht Mo umfassen.
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In
der erfindungsgemäßen Solarzelle
kann die Halbleiterschicht aus einem ein Element von der Gruppe
Ib, ein Element von der Gruppe IIIb und ein Element von der Gruppe
VIb umfassenden Verbundhalbleiter gefertigt sein.
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In
der erfindungsgemäßen Solarzelle
kann das Element von Gruppe Ib Cu sein, das Element von der Gruppe
IIIb kann wenigstens ein von In und Ga ausgewähltes Element sein und das
Element von Gruppe VIb kann wenigstens ein von Se und S ausgewähltes Element
sein.
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In
der erfindungsgemäßen Solarzelle
kann der Verbundhalbleiter ein p-Typ-Halbleiter sein, und der Halbleiter,
mit dem das Durchgangsloch gefüllt sein
kann, kann ein p-Typ- oder
n-Typ-Halbleiter mit einem höheren
Widerstand als der p-Typ-Halbleiter des Verbundhalbleiters sein.
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Weiterhin
ist ein erfindungsgemäßes Herstellungsverfahren
ein Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle, welche ein leitfähiges Substrat,
und eine isolierende Schicht, eine leitende Schicht und eine Halbleiterschicht
umfasst, welche auf dem Substrat in dieser Reihenfolge angeordnet
sind, und umfasst die Schritte von:
- (i) Schichten
der isolierenden Schicht und der leitenden Schicht auf dem Substrat
in dieser Reihenfolge;
- (ii) Bilden eines Durchgangslochs zum Durchdringen der isolierenden
Schicht und der leitenden Schicht; und
- (iii) Bilden der Halbleiterschicht in dem Durchgangsloch und über der
leitenden Schicht.
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In
dem oben erwähnten
erfindungsgemäßen Herstellungsverfahren
kann das Durchgangsloch durch Hindurchfließenlassen eines elektrischen
Stromes zwischen der leitenden Schicht und dem Substrat in dem Schritt
(ii) gebildet werden.
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Das
oben erwähnte
erfindungsgemäße Herstellungsverfahren
kann weiterhin einen Schritt des Entfernens eines Teils der leitenden
Schicht, so dass sie in einer Streifenform vorliegt, beinhalten,
so dass die leitende Schicht in mehrere Streifen geteilt ist, wobei
der Schritt des Entfernens nach dem Schritt (i) und vor dem Schritt
(ii) durchgeführt
wird. Zusätzlich kann
in dem Schritt (ii) das Durchgangsloch durch Hindurchfließenlassen
eines elektrischen Stromes zwischen zwei leitenden Schichten gebildet
werden, welche von den mehreren Streifen der leitenden Schichten
ausgewählt
sind.
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Kurze Beschreibung
der Zeichnungen
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1 ist
eine Querschnittsansicht eines Beispiels einer erfindungsgemäßen Solarzelle.
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2A ist
eine Querschnittsansicht, die einen Prozess in einem Beispiel eines
erfindungsgemäßen Herstellungsverfahrens
zeigt.
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2B ist
eine Querschnittsansicht eines in dem in 2A gezeigten
Prozess gebildeten Durchgangslochs.
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3A ist
eine Querschnittsansicht eines Teils einer erfindungsgemäßen Solarzelle.
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3B ist
eine schematische Ansicht der Funktion des in 3A gezeigten
Teils.
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4 ist
eine Querschnittsansicht eines anderen Beispiels einer erfindungsgemäßen Solarzelle.
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5A ist
eine Querschnittsansicht eines Prozesses in einem anderen Beispiel
eines erfindungsgemäßen Herstellungsverfahrens.
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5B ist
eine Querschnittsansicht von Durchgangslöchern, welche in dem in 5A gezeigten
Prozess gebildet werden.
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6 ist
eine Querschnittsansicht eines noch anderen Beispiels einer erfindungsgemäßen Solarzelle.
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7 ist
ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen einem Widerstandswert
zwischen einem leitfähigen
Substrat und einer leitenden Schicht sowie einer angelegten Spannung
in einem erfindungsgemäßen Herstellungsverfahren
zeigt.
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8 ist
ein Diagramm, welches eine Änderung
des Widerstands zwischen zwei leitenden Schichten auf beiden Seiten
einer Ausnehmung zeigt, und welches den Zustand vor und nach dem Anlegen
der Spannung zwischen den zwei leitenden Schichten zeigt.
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Bester Weg, die Erfindung
auszuführen
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Das
Folgende ist eine Beschreibung der erfindungsgemäßen Ausführungsformen, mit Bezug auf
die begleitenden Zeichnungen. Es sollte bemerkt werden, dass die
vorliegende Erfindung nicht auf die hierin beschriebenen Ausführungsformen
eingeschränkt
ist.
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(Ausführungsform 1)
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In
der Ausführungsform
1 wird ein Beispiel eines Aufbaus einer erfindungsgemäßen Dünnfilmsolarzelle
beschrieben.
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Die
Querschnittsansicht einer Solarzelle der Ausführungsform 1 ist in 1 gezeigt.
Wie in 1 gezeigt, umfasst eine Solarzelle 10 der
Ausführungsform
1 ein leitfähiges
Substrat 11, eine auf dem leitfähigen Substrat 11 gebildete
isolierende Schicht 12, eine auf der isolierenden Schicht 12 gebildete
leitende Schicht 13, eine auf der leitenden Schicht 13 gebildete
Halbleiterschicht 14, eine auf der Halbleiterschicht 14 gebildete
Fensterschicht 15, einen auf der Fensterschicht 15 gebildeten
transparenten leitfähigen
Film 16, und eine auf dem transparenten leitfähigen Film 16 gebildete
Extraktionselektrode 17. Weiterhin kann eine aus einem
Halbleiter oder einem Isolator gefertigte zweite Fensterschicht
zwischen der Fensterschicht 15 und dem transparenten leitfähigen Film 16 bereitgestellt
sein.
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In
der isolierenden Schicht 12 und der leitenden Schicht 13 ist
ein Durchgangsloch 18 gebildet, so dass es diese Schichten
durchdringt. Das Durchgangsloch 18 ist mit einem Halbleiter
gefüllt,
welcher eine Zusammensetzungskomponente auch der Halbleiterschicht 14 ist.
In die in dem Durchgangsloch 18 gebildete Halbleiterschicht 14 und
in die über
dem Durchgangsloch 18 angeordnete Halbleiterschicht 14 diffundiert
wenigstens ein von den das leitfähige
Substrat 11 bildenden Elemente ausgewähltes Element und bildet eine
Halbleiterschicht 14a, welche andere Merkmale von denen
des anderen Teils aufweist (siehe eine vergrößerte Ansicht in 3A).
Beispielsweise ist, falls die Halbleiterschicht 14 ein p-Typ-Halbleiter
ist, die Halbleiterschicht 14a ein p-Typ- oder n-Typ-Halbleiter
mit einem höheren
Widerstand als dem der Halbleiterschicht 14. Eine Trägerdichte
der Halbleiterschicht 14a kann beispielsweise 1015 cm–3 oder weniger betragen.
Die Halbleiterschicht 14a, in welche das das leitfähige Substrat 11 bildende
Element diffundiert, reicht zur Fensterschicht 15.
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Das
leitfähige
Substrat 11 kann aus einem Metall gefertigt sein, beispielsweise
einer Metalllegierung, die wenigstens zwei von Ti, Cr, Fe und Ni
ausgewählten
Elemente umfasst oder einem rostfreien Stahl. Für die Metalllegierung kann
beispielsweise eine Fe-Ni-Legierung verwendet werden. Von diesen Materialien
ist rostfreier Stahl bevorzugt, weil ein aus dem rostfreien Stahl
gefertigtes Substrat seine Stärke
bewahren kann, selbst wenn es dünn
gefertigt ist.
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Die
isolierende Schicht 12 ist aus einem isolierenden Material
zusammengesetzt, insbesondere wenigstens ein von der aus SiO2, TiO2, Al2O3, Si3N4, TiN und einem Glas bestehenden Gruppe
ausgewähltes
Material. Ein mehrere Schichten dieses Materials bildender Mehrschichtfilm
kann auch für
die isolierende Schicht 12 verwendet werden.
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Die
leitende Schicht 13 kann aus einem leitfähigen Metall
(zum Beispiel einem Metall) gebildet sein, und kann Molybdän (Mo) enthalten.
Insbesondere kann eine Schicht von Mo, eine Schicht einer Molybdänverbindung
(zum Beispiel MoSe2) oder ein diese beiden
Schichten bildender Mehrschichtfilm für die leitende Schicht 13 verwendet
werden.
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Für die Halbleiterschicht 14,
die als eine optische Absorptionsschicht arbeiten kann, kann beispielsweise
ein Halbleiter in Chalcopyrit-Struktur verwendet werden, der ein
Element von der Gruppe Ib, ein Element von der Gruppe IIIb und ein
Element von der Gruppe VIb umfasst. Das Element von der Gruppe Ib
kann Cu sein, und das Element von der Gruppe IIIb kann wenigstens
ein von In und Ga ausgewähltes Element
sein. Das Element von Gruppe VIb kann wenigstens ein von Se und
S ausgewähltes
Element sein. Insbesondere können
Halbleiter, wie CuInSe2, Cu(In,Ga)Se2 oder ein Schwefel (S) enthaltender Halbleiter
verwendet werden, wobei der Schwefel einen Teil des Se substituiert.
Im Allgemeinen sind diese Halbleiter p-Typ-Halbleiter. Von diesen
kann Cu(In,Ga)Se2(CIGS) mit seinem Bandabstand
von 1,0 eV bis 1,6 eV gesteuert werden, indem ein Festlösungsverhältnis (solid
solution ratio) von In zu Ga angepasst wird. Daher kann unter Verwendung
von CIGS eine Halbleiterschicht mit einem gewünschten Bandabstand zum Erhalten
eines hohen Konvertierungswirkungsgrades leicht bereitgestellt werden.
Da diese Chalcopyrit-Struktur-Halbleiter einen hohen optischen Absorptionskoeffizienten
aufweisen, können
sie Sonnenlicht hinreichend absorbieren, sogar wenn sie dünn sind.
Auf diese Weise kann durch Verwendung eines flexiblen Substrats
und eines Chalcopyrit-Struktur-Halbleiters eine flexible Solarzelle
erhalten werden. In einer Solarzelle der Ausführungsform 1 ist eine Halbleiterschicht,
die als eine optische Absorptionsschicht arbeitet, im Allgemeinen
ein dünner
Film mit einer Dicke von 3 μm
oder weniger.
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Die
Fensterschicht 15 ist aus einem Halbleiter oder einem Isolator
gefertigt. Beispielsweise können
CdS, ZnO, ZnMgO, Zn(O,S), ZnInxSey, InxSey oder
In2O3 als die Fensterschicht 15 verwendet
werden. Hier sind die Materialien, wie zum Beispiel ZnO, ZnMgO,
ZnInxSey, InxSey und In2O3 Halbleiter, weisen aber
eine relativ hohe elektrische Isolation auf, und können daher
sowohl als Halbleiter als auch als Isolatoren behandelt werden.
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Weiterhin
kann die zweite Fensterschicht zwischen der Fensterschicht 15 und
dem transparenten leitfähigen
Film 16 gebildet werden. Falls die zweite Fensterschicht
gebildet ist, kann sie aus einem Halbleiter oder einem Isolator
gebildet werden. Falls eine Zn(O,S)-Schicht für die erste Fensterschicht 15 verwendet
wird, ist die zweite Fensterschicht vorzugsweise aus einem Material
wie zum Beispiel ZnO und ZnMgO gefertigt. Die zweite Fensterschicht
hat eine Wirkung, das Auftreten eines Kurzschlusses zwischen der
Halbleiterschicht 14 und dem transparenten leitfähigen Film 16 zu
verhindern, in dem Fall, wo die erste Fensterschicht 15 nicht
dick genug ist, um die Halbleiterschicht 14 ausreichend abzudecken.
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Der
transparente leitfähige
Film 16 kann beispielsweise aus ITO(In2O3:Sn), aus mit Bor (B) dotiertem ZnO (ZnO:B),
aus mit Aluminium (Al) dotiertem ZnO (ZnO:Al) oder aus mit Gallium
(Ga) dotiertem ZnO (ZnO:Ga) gebildet sein. Für den transparenten leitfähigen Film 16 kann
ein geschichteter Film, in welchem zwei oder mehr Schichten der
oben erwähnten
Materialien gebildet sind, verwendet werden.
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Für die Extraktionselektrode 17 kann
ein Schichtfilm, in dem beispielsweise ein NiCr-Film (oder ein Cr-Film)
und ein Al-Film (oder ein Ag-Film) geschichtet sind, verwendet werden.
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Ein
Beispiel eines Verfahrens zur Herstellung der Solarzelle 10 wird
unten beschrieben. Zuerst werden die isolierende Schicht 12 und
die leitende Schicht 13 auf dem leitfähigen Substrat 11 in
dieser Reihenfolge aufeinander gebildet (Prozeß (i)). Die isolierende Schicht 12 kann
beispielsweise durch ein Sputter-Verfahren, ein Verdampfungsverfahren,
oder chemischen Dampfniederschlag (chemical vapor deposition (CVD))
gebildet werden. Die leitende Schicht 13 kann beispielsweise
durch ein Verdampfungsverfahren oder ein Sputter-Verfahren gefertigt
werden.
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Als
nächstes
wird das Durchgangsloch 18 gebildet, so dass es die isolierende
Schicht 12 und die leitende Schicht 13 durchdringt
(Prozess (iii)). Ein Beispiel eines Verfahrens zum Bilden des Durchgangslochs 18 wird
mit Bezug auf 2A beschrieben. Wie in 2A beispielhaft
gezeigt, wird eine elektrische Spannung zwischen dem leitfähigen Substrat 11 und
der leitenden Schicht 13 angelegt, so dass ein Strom zwischen
dem leitfähigen
Substrat 11 und der leitenden Schicht 13 fließt. Dann
konvergiert der Strom in den Bereich, wo der Widerstand zwischen
dem leitfähigen
Substrat 11 und der leitenden Schicht 13 gering
ist, das heißt,
in einen Bereich 12a geringen Widerstandes, wo die Abdeckung
mit der isolierenden Schicht 12 nicht ausreichend ist,
so dass die Temperatur in diesem Bereich erhöht wird. Als Ergebnis werden
die isolierende Schicht 12 und die lei tende Schicht 13 in
dem Bereich 12a geringen Widerstandes ausgebrannt und entfernt,
wodurch das Durchgangsloch 18 in einem Teil der isolierenden Schicht 12 und
der leitenden Schicht 13 gebildet ist, so dass es sie durchdringt.
Die zwischen dem leitfähigen
Substrat 11 und der leitenden Schicht 13 angelegte
Spannung ist nicht besonders eingeschränkt, solange die Spannung zum
Bilden des Durchgangslochs 18 das Entfernen des Teils gestattet,
wo die Abdeckung mit der isolierenden Schicht 12 nicht
ausreichend ist.
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Danach
wird die Halbleiterschicht 14, welche als eine optische
Absorptionsschicht arbeitet, auf der leitenden Schicht 13 gebildet
(Prozess (iii)). Die Halbleiterschicht 14 kann beispielsweise
durch ein Verdampfungsverfahren oder ein Selenidierungsverfahren
gebildet werden. Falls das Selenidierungsverfahren angewandt wird,
nach Fertigen eines beispielsweise aus einem Element von der Gruppe
Ib und einem Element von der Gruppe IIIb bestehenden Metallfilms
durch ein Sputter-Verfahren, wird der Metallfilm einer Wärmebehandlung
in einer gasförmigen Atmosphäre ausgesetzt,
welche ein Element von der VIb-Gruppe (H2Se)
oder ähnliches
enthält.
In dem Prozess (iii) wird die Halbleiterschicht 14 auch
in dem Durchgangsloch 18 gebildet.
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Danach
wird die Fensterschicht 15 beispielsweise durch chemische
Badabscheidung (chemical bath deposition (CBD)), ein Verdampfungsverfahren oder
ein Sputter-Verfahren gebildet. Dann wird der transparente leitfähige Film 16 auf
der Fensterschicht 15 beispielsweise durch ein Sputter-Verfahren
gebildet. Danach wird die Extraktionselektrode 17 beispielsweise
durch ein Verdampfungsverfahren oder ein Druckverfahren gebildet.
Falls die oben erwähnte zweite
Fensterschicht zwischen der Fensterschicht 15 und dem transparen ten
leitfähigen
Film 16 gebildet ist, kann beispielsweise ein Sputter-Verfahren
angewendet werden. Auf diese Weise kann die Solarzelle 10 hergestellt
werden.
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Entsprechend
der Ausführungsform
1 diffundiert in dem Prozess des Bildens der Halbleiterschicht 14 wenigstens
ein Element, welche eine Zusammenstzungskomponente des leitfähigen Substrats 11 ist,
in die in dem Durchgangsloch 18 gebildete Halbleiterschicht 14.
Das das leitfähige
Substrat 11 bildende Element entwickelt einen Verunreinigungsgrad
in der Halbleiterschicht 14 und ändert eine Trägerdichte
oder einen Leitfähigkeitstyp
der Halbleiterschicht 14. Beispielsweise werden die oben
erwähnten
Halbleiter CIS und CIGS, welche Materialien der Halbleiterschicht 14 sind,
und welche p-Typ-Halbleiter mit einer angemessenen Trägerdichte
für Solarzellen
sind, in p-Typ- oder n-Typ-Halbleiter mit einem hohen Widerstand
geändert,
wenn wenigstens ein Element in sie hineindiffundiert, welches eine
Zusammensetzungskomponente des leitfähigen Substrats 11 ist
(wie zum Beispiel Fe, Cr oder Ni). Entsprechend wird, wie in 3A gezeigt,
der in dem Durchgangsloch 18 gebildete Halbleiter 14 und
der über dem
Durchgangsloch 18 angeordnete Halbleiter 14 zu
einer Halbleiterschicht 14a, welche ein p-Typ- oder n-Typ-Halbleiter
mit einem hohen Widerstand ist. Solch eine Halbleiterschicht 14a bildet
nicht einen p-n-Übergang
(p-n-junction) mit der Fensterschicht 15 vom n-Typ (oder
einer durch Kombinieren einer Fensterschicht hohen Widerstands vom
n-Typ mit einem transparenten leitfähigen Film geringen Widerstandes
vom n-Typ gebildeten n-Typ-Schicht). Ein Übergang (junction) zwischen
der Halbleiterschicht 14a und der Fensterschicht 15 und
ein Übergang (junction)
zwischen der Fensterschicht 15 und dem transparenten leitfähigen Film 16 zeigen
eine wesentliche Gleichrichtungseigenschaft.
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Hingegen
ist im Gegensatz zu dem Übergang
zwischen der leitenden Schicht 13 und dem allgemeinen Halbleiter 14,
welcher ein Gleichrichtungskontakt (rectification contact) ist,
ein Schottky-Übergang
(Schottky junction) zwischen der Halbleiterschicht 14a und
der leitenden Schicht 13 gebildet. Als Ergebnis ist, wie
in 3B gezeigt, eine Umgehungsdiode 19b in
der Halbleiterschicht 14a gebildet, welche eine Gleichrichtungseigenschaft
in einer entgegengesetzten Richtung zu der eines p-n-Flächengleichrichters 19a aufweist,
welcher in dem anderen Teil als die Halbleiterschicht 14a gebildet
ist. Angemerkt sei hier, dass bei dem Betriebspunkt der Solarzelle
eine Sperrrichtungsspannung (reverse direction voltage) an der Umgehungsdiode 19b angelegt
ist, und ein Sperrrichtungstrom (reverse direction current) in diesem
Falle so gering ist, dass die Umgehungsdiode 19b keinen
großen
Einfluss auf die Solarzelle in einem allgemeinen Zustand aufweist.
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Wie
oben beschrieben, ist die Solarzelle der Ausführungsform 1 mit einer Umgehungsdiode
versehen. In einem Solarzellenfeld, in welchem mehrere Solarzellen
von Ausführungsform
1 in Reihe miteinander verbunden sind, fließt, falls nur ein Teil der
Solarzellen keine elektrische Leistung erzeugt, ein von den anderen
Solarzellen erzeugter fotoelektrischer Strom über die Umgehungsdiode zu der
nächsten Zelle,
und auf diese Weise kann eine Verschlechterung des Konvertierungswirkungsgrades
unterdrückt werden.
Also kann die Ausführungsform
1 eine Solarzelle mit einem hohen Konvertierungswirkungsgrad und
einer exzellenten Stabilität
bereitstellen.
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(Ausführungsform 2)
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In
der Ausführungsform
2 wird ein Beispiel einer erfindungsgemäßen Dünnfilmsolarzelle beschrieben.
Insbesondere wird ein Beispiel eines integrierten Solarzellenmoduls,
in welchem mehrere Solarzellen (Zelleinheiten) in Reihe miteinander
auf einem Substrat verbunden sind, beschrieben.
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Die
Querschnittsansicht eines Solarzellenmoduls der Ausführungsform
2 ist in 4 gezeigt. Wie in 4 gezeigt,
umfasst ein Solarzellenmodul der Ausführungsform 2 ein leitfähiges Substrat 21, eine
auf dem leitfähigen
Substrat 21 gebildete isolierende Schicht 22,
eine leitende Schicht 23, die als eine Rückseitenelektrode
arbeitet und auf der isolierenden Schicht 22 gebildet ist,
eine Halbleiterschicht 24, die als eine optische Absorptionsschicht
arbeitet und auf der leitenden Schicht 23 gebildet ist,
eine aus einem Halbleiter oder einem Isolator gefertigte auf der
Halbleiterschicht 24 gebildete Fensterschicht 25 sowie
einen auf der Fensterschicht 25 gebildeten transparenten
leitfähigen
Film 26. Außerdem
kann weiterhin eine aus einem Halbleiter oder einem Isolator gefertigte
zweite Fensterschicht zwischen der Fensterschicht 25 und
dem transparenten leitfähigen Film 26 bereitgestellt
werden. In einem Teil der isolierenden Schicht 22 und der
leitenden Schicht 23 ist ein Durchgangsloch 27 gebildet,
so dass es diese durchdringt. Das Durchgangsloch 27 ist
mit einem Halbleiter gefüllt,
welcher eine Zusammensetzungskomponente auch der Halbleiterschicht 24 ist.
Hier umfassen der Halbleiter in dem Durchgangsloch 27 und
der Halbleiter über
dem Durchgangsloch 27 wenigstens ein Element, welches von
den Elementen ausgewählt
ist, die das leitfähige
Substrat 21 bilden, welches in einer ähnlichen Weise wie in der Halbleiterschicht 14a in 34A diffundiert, so dass von der übrigen Halbleiterschicht 24 abweichende
Merkmale vorliegen.
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Die
leitende Schicht 23, die Halbleiterschicht 24 und
die Fensterschicht 25 (umfassend die zweite Fensterschicht,
falls sie zwischen der Fensterschicht 25 und dem transparenten
leitfähigen
Film 26 bereitgestellt ist), und der transparente leitfähige Film 26 sind
in Streifen durch streifenförmige
Ausnehmungen 23a, 24a, bzw. 26a geteilt.
Jeder Schicht-Streifen in einer Streifenform bildet mehrere Zelleinheiten 28. Das
heißt,
jede der Zelleinheiten 28 ist mit der leitenden Schicht 23,
der Halbleiterschicht 24, der Fensterschicht 25 und
dem transparenten leitfähigen
Film 26, die in einer Streifenform gebildet sind, versehen. Der
transparente leitfähige
Film 26 in jeder Zelleinheit 28 ist mit der leitenden
Schicht 23 in der benachbarten Zelleinheit 28 über die
Ausnehmung 24a verbunden. Auf diese weise sind alle die
Zelleinheiten 28 in Reihe miteinander verbunden.
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Für das leitfähige Substrat 21 können beispielsweise
die oben beschriebenen Materialien für das leitfähige Substrat 11 der
Ausführungsform
1 verwendet werden. Ähnlich
sind die oben beschriebenen Materialien und Konfigurationen für die isolierende
Schicht 12, die leitende Schicht 13, die Halbleiterschicht 14,
die Fensterschicht 15 sowie den transparenten leitfähigen Film 16 der
Ausführungsform
1 entsprechend ebenso auf die isolierende Schicht 22, die leitende
Schicht 23, die Halbleiterschicht 24, die Fensterschicht 25 sowie
den transparenten leitfähigen
Film 26 anwendbar.
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Ein
Beispiel eines Herstellungsverfahrens der Solarzelle 20 wird
unten beschrieben. Das Verfahren zur Herstellung der isolierenden
Schicht 22, der leitenden Schicht 23, der Halbleiterschicht 24,
der Fensterschicht 25, der zweiten Fensterschicht und des
transparenten leitfähigen
Films 26, welche dieselben wie in Ausführung 1 sind, ist
weggelassen.
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Als
erstes werden die isolierende Schicht 22 und die leitende
Schicht 23 auf dem leitfähigen Substrat 21 in
dieser Reihenfolge geschichtet (Prozess (i)). Dann wird ein Teil
der leitenden Schicht 23 entfernt, um in Streifenform zu
sein, so dass die leitende Schicht 23 in mehrere streifenförmige leitende Schichten
geteilt ist. Ein Beispiel eines Verfahrens zum Aufteilen der leitenden
Schicht ist wie folgt beschrieben. Als erstes wird die isolierende
Schicht 22 auf dem leitfähigen Substrat 21 gebildet.
Dann wird ein streifenförmiges
Resistmuster (resist pattern) teilweise auf der isolierenden Schicht 22 gebildet.
Danach wird die leitende Schicht 23 so gebildet, dass sie
das Resistmuster abdeckt, gefolgt durch ein Ablösen des Resistmusters unter
Verwendung eines Lösungsmittels,
um so die streifenförmigen
Ausnehmungen 23a zu bilden. Ein anderes Beispiel eines Verfahrens
zum Aufteilen der leitenden Schicht ist das Bilden der isolierenden
Schicht 22 und der leitenden Schicht 23 in dieser
Reihenfolge und dann Entfernen eines Teils der leitenden Schicht 23 in
einer Streifenform durch Bestrahlung mit einem Laserstrahl oder
einem linearen Plasma, um so die Ausnehmungen 23a zu bilden.
Die leitende Schicht 23 ist in einer Streifenform durch
die streifenförmigen
Ausnehmungen 23a geteilt.
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Als
nächstes
wird ein Durchgangsloch 27 gebildet, so dass es die isolierende
Schicht 22 und die leitende Schicht 23 durchdringt
(Prozess (ii)). Ein Beispiel eines Verfahrens zur Herstellung des
Durchgangslochs 27 wird mit Bezug auf 5A beschrieben.
Das Durchgangsloch 27 kann durch Fließenlassen eines elektrischen
Stromes zwischen wenig stens zwei von den mehreren streifenförmigen leitenden Schichten 23 ausgewählten leitenden
Schichten gebildet werden. Beispielsweise, wie in 5A gezeigt, wird
eine elektrische Spannung zwischen den beiden benachbarten leitenden
Schichten 23 mit der dazwischen angeordneten Ausnehmung 23a angelegt. Während dieses
Prozesses konvergiert ein Strom in einen Bereich 22a geringen
Widerstandes, wo die Abdeckung der isolierenden Schicht 22 nicht
ausreichend ist, so dass Wärme
in dem Bereich erzeugt wird. Die so erzeugte Wärme lässt die isolierende Schicht 22 und
die leitende Schicht 23 teilweise ausbrennen und entfernen,
so dass auf diese Weise das Durchgangsloch 27, wie in 5B gezeigt,
an einem Teil der isolierenden Schicht 22 und der leitenden Schicht 23 gebildet
ist. Es ist auch möglich,
das Durchgangsloch 27 durch Anlegen einer Spannung zwischen
dem leitfähigen
Substrat 21 und der leitenden Schicht 23 zu bilden,
um so einem Strom zu gestatten, hier in derselben Weise wie in Ausführungsform
1 durchzufließen.
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Danach
wird die Halbleiterschicht 24 in dem Durchgangsloch 27 und
auf der leitenden Schicht 23 gebildet (Prozess (iii)).
Danach wird die Fensterschicht 25 auf der Halbleiterschicht 24 gebildet.
Die oben beschriebene zweite Fensterschicht kann auf der Fensterschicht 25 gebildet
werden.
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Danach
werden die Ausnehmungen 24a durch Entfernen eines Teils
der Halbleiterschicht 24 und der Fensterschicht 25 gebildet,
so dass sie in einer Streifenform sind, beispielsweise durch ein
Ritzverfahren, in welchem ein dünner
Film mechanisch unter Verwendung einer Metall- oder Diamantnadel abgelöst wird.
Die Halbleiterschicht 24 und die Fensterschicht 25 (umfassend
die zweite Fensterschicht) sind durch die Ausnehmungen 24a in
einer Streifenform geteilt.
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Danach
wird der transparente leitfähige
Film 26 auf der Fensterschicht 25 und auf dem
offenen (exposed) Teil der leitenden Schicht 23 gebildet,
wo die Fensterschicht 25 und die Halbleiterschicht 24 entfernt
wurden.
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Danach
werden die Ausnehmungen 26a durch Entfernen eines Teils
der Halbleiterschicht 24, der Fensterschicht 25 und
des transparenten leitfähigen
Films 26 in einer Streifenform gebildet, beispielsweise
durch ein mechanisches Ritzverfahren. Die Halbleiterschicht 24,
die Fensterschicht 25 (umfassend die zweite Fensterschicht)
und der transparente leitfähige
Film 26 sind durch die Ausnehmungen 26a in einer
Streifenform geteilt. In der oben beschriebenen Weise kann ein integrierter
Solarzellenmodul, in welchem mehrere Zelleinheiten miteinander in
Reihe verbunden sind, hergestellt werden.
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Entsprechend
der Ausführungsform
2, ähnlich
zur Ausführungsform
1, diffundiert während
des Prozesses des Bildens der Halbleiterschicht 24 das Element,
das eine Zusammensetzungskomponente des leitfähigen Substrats 21 ist,
in die in dem Durchgangsloch 27 und der Halbleiterschicht über dem Durchgangsloch 27 gebildete
Halbleiterschicht. Als ein Ergebnis ist der Halbleiter 24 in
und um das Durchgangsloch 27 von einem p-Typ-Halbleiter
mit einer angemessenen Trägerdichte
für Solarzellen
in einen p-Typ- oder n-Typ-Halbleiter hohen Widerstands umgewandelt.
Entsprechend ist die Umgehungsdiode auf eine ähnliche Weise wie in der Ausführungsform
1 durch eine Schottky-Verbindung in der Nähe des Durchgangslochs 27 gebildet.
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Außerdem wird
in der vorliegenden Ausführungsform
ein Kurzschluss zwischen dem leitfähigen Substrat 21 und
der lei tenden Schicht 23, welcher durch die ungenügende Bildung
der isolierenden Schicht 22 auftritt, durch die Bildung
des Durchgangslochs 27 behoben. Entsprechend wächst der Wert
des Widerstandes zwischen den benachbarten Streifen der leitenden
Schichten 23, welche aufgrund des Kurzschlusses leitfähig waren.
Als ein Ergebnis können
Solarzellen mit einer exzellenten Eigenschaft erhalten werden.
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Wie
in der Ausführungsform
1 beschrieben, nimmt die Halbleiterschicht 24 in und über dem Durchgangsloch 27 aufgrund
der Verunreinigungsdiffusion von dem leitfähigen Substrat 21 an
Widerstand zu. Hierbei ist weiterhin ein Schottky-Übergang zwischen der Halbleiterschicht 24 und
dem leitfähigen Substrat 21 auf
eine ähnliche
Weise gebildet wie die Grenzfläche
zwischen der Halbleiterschicht 24 und der leitendem Schicht 23 in
der Nähe
des Durchgangslochs 27. Aufgrund dieser zwei Effekte sind
ein von der Halbleiterschicht 24 zu dem leitfähigen Substrat 21 fließender Strom
und der hieraus resultierende Spannungsabfall gering, so dass die
Eigenschaft der Solarzelle in einem normalen Zustand kaum beeinträchtigt ist.
Daher kann ein Solarzellenmodul mit einem Aufbau in Reihenschaltung
und mit einem hohen Konvertierungswirkungsgrad hergestellt werden.
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Entsprechend
der Ausführungsform
2 kann nicht nur durch Bilden einer Umgehungsdiode verhindert werden,
dass sich der Konvertierungswirkungsgrad der Solarzelle verschlechtert,
sondern der Konvertierungswirkungsgrad kann auch durch Entfernen eines
Kurzschlusses zwischen Zelleinheiten verbessert werden. Daher kann
entsprechend der Ausführungsform
2 ein Solarzellenmodul mit einem hohen Konvertierungswirkungsgrad
und einer exzellenten Stabilität
bereitgestellt werden.
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Das
Folgende ist eine speziellere Beschreibung der vorliegenden Erfindung
durch Beispiele.
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Beispiel 1
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Beispiel
1 ist auf eine Solarzelle von der Ausführungsform 1 und ein Beispiel
eines Herstellungsverfahrens für
diese gerichtet.
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Ein
Aufbau einer Solarzelle 30 wird mit Bezug auf 6 beschrieben.
In Beispiel 1 wurden ein rostfreies Substrat 31 (Dicke:
50 μm) für das leitfähige Substrat 11,
eine SiO2-Schicht 32 (Dicke: 0,5 μm) für die isolierende
Schicht 12, eine Mo-Schicht 33 (Dicke: 0,8 μm) für die leitende
Schicht 13, eine CIGS-Schicht 34 (Dicke: 2 μm) für die Halbleiterschicht 14,
welche als eine optische Absorptionsschicht arbeitet, eine CdS-Schicht 35a (Dicke:
0,1 μm)
für die
erste Fensterschicht der Fensterschicht 15, eine ZnO-Schicht 35b (Dicke:
0,1 μm)
für die zweite
Fensterschicht der Fensterschicht 15, ein ITO-Film 36 (Dicke:
0,1 μm)
für den
transparenten leitfähigen
Film 16 und ein Schichtfilm 37 von NiCr/Al (Dicke über alles:
1,5 μm)
für die
Extraktionselektrode 17 verwendet.
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Als
nächstes
wird ein Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle wie folgt beschrieben.
Als erstes wurde eine SiO2-Schicht 32 durch
ein Sputter-Verfahren auf einem rostfreien Substrat 31 gebildet.
Danach wurde eine Mo-Schicht 33 weiterhin durch ein Sputter-Verfahren
auf der SiO2-Schicht 32 gebildet.
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Als
nächstes
wurde ein Durchgangsloch 38 durch das unter Bezugnahme
auf 2A beschriebene Verfahren gebildet.
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Eine
elektrische Spannung wurde zuerst zwischen dem rostfreien Substrat 31 und
der Mo-Schicht 33 angelegt. Hier wurde die Spannung als
ein Puls angelegt, wobei sie graduell zu 5 V, 10 V, 15 V und 20 V
erhöht
wurde. Die Zeitdauer, einen Puls anzulegen, betrug 5 Sekunden oder
kürzer
und die pro jedem Spannungswert angelegten Spannungspulse waren in
dem Bereich von 1 bis 5 Pulsen.
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Danach
wurde eine CIGS-Schicht 34 durch ein Verdampfungsverfahren
auf der Mo-Schicht 33 und einem Teil des durch das Durchgangsloch 38 offenen
rostfreien Substrats 31 gebildet. Als nächstes wurde das Substrat in
eine Lösung
getaucht, die Cd und S (Schwefel) enthält, um eine CdS-Schicht 35a (die
erste Fensterschicht) auf der CIGS-Schicht 34 durch ein
chemisches Abscheidungsverfahren zu bilden. Danach wurde eine ZnO-Schicht 35b (die
zweite Fensterschicht) durch ein Sputter-Verfahren gebildet, auf
welcher weiterhin ein ITO-Film 36 durch ein Sputter-Verfahren
gebildet wurde.
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Danach
wurde ein Schichtfilm 37 von NiCr und Al durch ein Elektronenstrahlverdampfungsverfahren
(electron beam evaporation method) unter Verwendung einer Schattenmaske
gebildet. Auf diese Weise wurde eine Solarzelle gefertigt.
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7 zeigt
die Änderung
des Widerstandes zwischen dem rostfreien Substrat 31 und
der Mo-Schicht 33 in Übereinstimmung
mit der angelegten Pulsspannung. Da der Widerstand kurz nach der Bildung
der Mo-Schicht so niedrig wie 12 Ω war, kann es bestätigt werden,
dass das rostfreie Substrat an vielen Punkten in Kontakt mit der
Mo-Schicht war. Der Wert des Widerstandes nahm zu, wenn die Pulsspannung
größer wurde.
Dies ist, weil jeder der Punkte, wo das rostfreie Substrat in Kontakt
mit der Mo-Schicht war, eine unter schiedliche Fläche aufwies, und daher war
der Widerstandswert hiervon ebenso unterschiedlich. Wenn eine geringe
Spannung angelegt wurde, konvergierte der Strom in den Kontaktpunkt
geringen Widerstandes, und Mo an dem Punkt wurde sublimiert, so
dass der Kontaktpunkt mit einer großen Fläche isoliert wurde. Danach konvergierte
der Strom, wenn die angelegte Spannung erhöht wurde, in die Kontaktpunkte
mit kleinen Flächen,
wo Mo entsprechend sublimiert wurde. Das heißt, dass die Mo-Schicht, in Übereinstimmung
mit einer Erhöhung
der Spannung, an den Kontaktpunkten einer nach dem anderen von einem
Kontaktpunkt mit einer großen
Fläche
zu einem Kontaktpunkt mit einer kleinen Fläche sublimiert wurde, wodurch
der Widerstand zwischen dem rostfreien Substrat und der Mo-Schicht
erhöht
wurde. An den Punkten, wo die Mo-Schicht sublimiert wurde, wurden
die Durchgangslöcher 38 gebildet.
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Als
ein Ergebnis einer Messung einer Strom-Spannungs-Eigenschaft der
gefertigten CIGS-Solarzelle in der Dunkelheit, wurde beobachtet,
dass sich der Strom erhöhte,
wenn eine umgekehrte Vorspannung auf einen p-n-Flächengleichrichter
in der Solarzelle angewandt wurde. Dies ist, weil eine Umgehungsdiode
an dem Durchgangsloch 38 gebildet wurde. Aufgrund des Ergebnisses
der Messung wurde sichergestellt, dass entsprechend der erfindungsgemäßen Solarzelle
und dem erfindungsgemäßen Verfahren
zur Herstellung derselben eine Umgehungsdiode in einer Solarzelle
gebildet wurde. Außerdem
wurde die Eigenschaft der CIGS-Solarzelle durch Einstrahlung mit
Dummy-Sonnenlicht mit einer Luftmasse (air mass) von 1,5 und einer
Lichtintensität
von 100 mW/cm2 gemessen. Als ein Ergebnis der
Messung wurde ein Konvertierungswirkungsgrad von 12,3% (Spannung
des offenen Schaltkreises: Voc = 0,544 V, Kurzschlussstromdichte:
Jsc = 31,7 mA/cm2, ein Feldfaktor: FF =
0,712) angegeben. In Betrachtung zie hend, dass der Konvertierungswirkungsgrad
der Solarzelle, welche keine SiO2-Schicht umfasst,
welche also ohne Umgehungsdiode ausgeführt war, 12,4% betrug, wurde
sichergestellt, dass der Konvertierungswirkungsgrad sich nicht durch eine
Umgehungsdiode in einer Solarzelle verschlechtert.
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Ein
rostfreier Stahl wurde für
das leitfähige Substrat 11 in
Beispiel 1 verwendet, aber die Verwendung von Ti, Cr, Fe, Ni oder
einer Metalllegierung, welche zwei oder mehr von diesen Elementen
enthält,
ergibt auch ein zu Beispiel 1 ähnliches
Ergebnis. Die SiO2-Schicht 32 wurde
für die
isolierende Schicht 12 in Beispiel 1 verwendet, aber die
Verwendung von TiO2, Al2O3, Si3N4,
TiN, einem Glasfilm oder einem Schichtfilm dieser Materialien ergibt
ein ähnliches
Ergebnis. Die Mo-Schicht 33 wurde für die leitende Schicht 13 verwendet,
jedoch ergibt die Verwendung einer leitenden Schicht mit einem Zweischichtaufbau von
Mo/MoSe2 offensichtlich ein ähnliches
Ergebnis, weil eine MoSe2-Schicht auf einer
Oberfläche
der Mo-Schicht während
der Bildung einer CIGS-Schicht gebildet werden kann.
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Beispiel 2
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Beispiel
2 ist auf einen Solarzellenmodul der Ausführungsform 2 und ein anderes
Beispiel eines Verfahrens zur Herstellung desselben gerichtet.
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Ein
spezifischer Aufbau eines Solarzellenmoduls von Beispiel 2 wird
mit Bezug auf 4 beschrieben. Für das leitfähige Substrat 21,
die isolierende Schicht 22, die leitende Schicht 23,
die als eine optische Absorptionsschicht arbeitende Halbleiterschicht 24,
die Fensterschicht 25 und den transparenten leitfähigen Film 26 wurden
ent sprechend ein rostfreier Stahl (Dicke: 70 μm), eine Al2O3-Schicht (Dicke:
1 μm), eine
Mo-Schicht (Dicke: 0,4 μm),
eine CIGS-Schicht (Dicke: 1,5 μm),
eine Zn0,9Mg0,1O-Schicht
(Dicke: 0,1 μm)
und ein ITO-Film (Dicke: 0,6 μm)
verwendet.
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Als
nächstes
wird ein Verfahren zur Herstellung des Solarzellenmoduls wie folgt
beschrieben. Als erstes wurde eine Al2O3-Schicht (die isolierende Schicht 22)
auf einem rostfreien Substrat (das leitfähige Substrat 21)
durch ein Sputter-Verfahren gebildet. Danach wurde eine Resistlösung in
einer Streifenform angeordnet und getrocknet, und so wurde ein streifenförmiges Resistmuster
gebildet. Als nächstes
wurde eine Mo-Schicht 23 weiterhin durch ein Sputter-Verfahren gebildet,
so dass sie die Al2O3-Schicht
und das Resistmuster abdeckte. Danach wurde das Resistmuster von
der Al2O3-Schicht abgelöst, indem
mit reinem Wasser gewaschen wurde, und zur selben Zeit löste sich
auch die auf dem Resistmuster abgelagerte Mo-Schicht ab. Auf diese Weise
wurden streifenförmige
Ausnehmungen 23a in der Mo-Schicht gebildet.
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Als
nächstes
wurden Durchgangslöcher durch
das in 5A gezeigte Verfahren gebildet.
Insbesondere wurde eine elektrische Spannung zwischen den zwei benachbarten
Mo-Schichten auf beiden Seiten der streifenförmigen Ausnehmung 23a angelegt.
Hier wurde die Spannung in einem Muster eines Anwachsens bei einer
bestimmten Rate angelegt, bis sie eine vorbestimmte Spannung erreichte, eines
Aufrechterhaltens für
eine bestimmte Zeit und eines Absenkens mit einer bestimmten Rate.
In diesem Beispiel lagen die Raten zum Erhöhen und Absenken der Spannung
von 10 V/sec. bis 20 V/sec. und die Zeit zum Aufrechterhalten der
vorbestimmten Spannung lag im Bereich von 0,1 Sekunden bis 5 Sekunden.
Zusätzlich
wurde die aufrecht zu erhaltende vorbestimmte Spannung graduell
zu 5 V, 10 V, 15 V und 20 V erhöht,
so dass auf diese Weise das Durchgangsloch 27 gebildet
wurde.
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Danach
wurde eine CIGS-Schicht (die Halbleiterschicht 24) durch
ein Verdampfungsverfahren auf der Mo-Schicht, einem offenen Teil
der Al2O3-Schicht,
wo die Mo-Schicht in einer Streifenform abgelöst war, und einem Teil des
durch das Durchgangsloch 27 offenen rostfreien Substrats,
gebildet. Als nächstes
wurde eine Zn0,9Mg0,1O-Schicht (die
Fensterschicht 25) durch ein Sputter-Verfahren gebildet.
Danach wurden streifenförmige
Ausnehmungen 24a durch Ablösen eines Teils der CIGS-Schicht
und der Zn0,9Mg0,1O-Schicht
durch ein mechanisches Ritzverfahren unter Verwendung einer Metallnadel
gebildet. Als nächstes
wurde ein ITO-Film (der transparente leitfähige Film 26) auf
der Zn0,9Mg0,1O-Schicht
und auf einem Teil der durch die Ausnehmungen 24a offenen
Mo-Schicht gebildet. Danach
wurden der ITO-Film, die Zn0,9Mg0,1O-Schicht
und die CIGS-Schicht teilweise durch dasselbe Verfahren wie das
obige mechanische Ritzverfahren entfernt, so dass die Ausnehmungen 26a in
einer Streifenform gefertigt wurden. In der oben beschriebenen Weise
wurde der integrierte Solarzellenmodul hergestellt, so dass er mit
mehreren Zelleinheiten, welche in Streifen geteilt und miteinander
in Reihe geschaltet sind, versehen ist.
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In
Beispiel 2 wurde die Mo-Schicht durch die acht streifenförmigen Ausnehmungen 23a geteilt, und
danach wurde ein Widerstand zwischen zwei benachbarten Mo-Schichten
auf beiden Seiten der Ausnehmung gemessen. Außerdem wurde der Widerstand
wieder gemessen, nachdem durch das oben beschriebene Verfahren eine
Spannung bis zu 20 V auf die zwei Mo-Schichten angelegt wurde. Das
Ergebnis der Messung ist in 8 gezeigt.
Der Wert des Widerstandes zwischen diesen zwei Mo-Schichten kurz
nach dem Bilden der streifenförmigen
Ausnehmungen war in dem Bereich von 10 Ω bis 200 kΩ verteilt. Durch Anlegen einer
Spannung bis zu 20 V in dem oben erwähnten Muster, wurden die Widerstandswerte
zwischen den Mo-Schichten auf beiden Seiten von allen den Ausnehmungen
auf jenseits 1 MΩ angehoben.
Dies ist, weil durch Anlegen einer Spannung Strom in die Kontaktpunkte
floss, wo die Mo-Schichten über
das rostfreie Substrat eines Metalls auf beiden Seiten der Ausnehmung
in Kontakt mit dem rostfreien Substrat waren. Entsprechend erzeugten
die Kontaktpunkte Wärme,
und auf diese Weise wurden die Mo-Schichten an diesen Kontaktpunkten sublimiert.
An den Punkten, wo die Mo-Schicht sublimiert war, wurden die Durchgangslöcher 27 gebildet.
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Wenn
die Abdeckung mit Al2O3,
welche die isolierende Schicht bildet, in einer großen Fläche nicht
ausreichend ist, sind die Punkte, wo die Mo-Schicht und das rostfreie
Substrat Kurzschlusskontakte aufweisen, nicht gleichmäßig in der
Fläche, und
eine Dichteverteilung der Kontaktpunkte tritt auf. Jedoch können die
Kurzschlussbereiche, sogar in solch einem Zustand bearbeitet werden,
indem eine Spannung angelegt wird, um Strom fließen zu lassen, und daher kann
die vorliegende Erfindung die dramatische Verbesserung in Ausbeute
und Wiederholbarkeit verwirklichen.
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Um
die Merkmale von einer der Zelleinheiten der hergestellten CIGS-Solarzelle
zu messen, wurde eine Strom-Spannungs-Charakteristik zwischen den geteilten
Mo-Schichten in der Dunkelheit gemessen. Es wurde beobachtet, dass
der Strom vergrößert wurde,
wenn eine umgekehrte Vorspannung auf den p-n-Flächengleichrichter in der Solarzelle
angelegt wurde.
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Auf
diese Weise wurde bestätigt,
dass eine Umgehungsdiode an einem Bereich des Durchgangslochs 27 gebildet
war. Außerdem
wurde, wenn die Merkmale der CIGS-Solarzelle durch Bestrahlung mit
Dummy-Sonnenlicht mit einer Luftmasse von 1,5 und einer Lichtintensität von 100
mW/cm2 gemessen wurden, ein Konvertierungswirkungsgrad
von 10,6% erhalten. Dieser Wert war etwa gleich 11,0%, welches der
Konvertierungswirkungsgrad der durch denselben Prozess hergestellten
CIGS-Solarzelle ist, außer
dass ein Glassubstrat verwendet wurde, wobei keine Umgehungsdiode
gebildet wurde. Auf diese Weise wurde sichergestellt, dass sich
ein Konvertierungswirkungsgrad nicht durch die Anwesenheit der Umgehungsdiode
verschlechtert.
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Wie
oben beschrieben, ist eine erfindungsgemäße Solarzelle mit einer Umgehungsdiode
hierin bereitgestellt. In einem allgemeinen Solarzellenmodul ist
der Betrieb des ganzen Moduls verschlechtert, wenn ein Teil der
Solarzelle aus irgend einem Grund keine elektrische Leistung produziert
(wie zum Beispiel, weil er beschädigt
ist, auf der Oberfläche
befleckt ist oder beschattet ist), und daher verschlechtert sich
sein Wirkungsgrad. Andererseits kann der durch die anderen Teile
der Zelle produzierte elektrische Strom durch die Umgehungsdiode
fließen,
sogar wenn ein Teil der Solarzelle nicht elektrische Leistung produziert,
weil die erfindungsgemäße Solarzelle
mit einer Umgehungsdiode versehen ist. Auf diese Weise kann die
Verschlechterung des Wirkungsgrades unterdrückt werden, und der Schaden
an elektrische Leistung produzierenden Solarzellen kann verhindert
werden. Auf diese Weise kann entsprechend der vorliegenden Ausführungsform
eine Dünnfilmsolarzelle
mit einem hohen Konvertierungswirkungsgrad und einer exzellenten
Stabilität
bereitgestellt werden.
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Entsprechend
eines Herstellungsverfahrens der vorliegenden Ausführungsform,
vergrößert sich eine
parallele Widerstandskomponente (Shunt-Widerstand) zwischen Zelleinheiten
in einem integrierten Solarzellenmodul, weil ein Kurzschluss zwischen einem
leitfähigen
Substrat und einer leitenden Schicht auf einer isolierenden Schicht
während
der Bildung eines Durchgangslochs entfernt werden kann, und auf
diese Weise kann der Wirkungsgrad des Solarzellenmoduls verbessert
werden. Daher kann, entsprechend dem Herstellungsverfahren der vorliegenden
Ausführungsform,
ein integrierter Solarzellenmodul mit einem hohen Konvertierungswirkungsgrad
unter Verwendung eines leitfähigen
Substrats erhalten werden.
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Obwohl
die erfindungsgemäßen Ausführungsformen
oben mit Bezug auf die Beispiele beschrieben wurden, sollte angemerkt
werden, dass die vorliegende Erfindung nicht auf die oben beschriebenen
Ausführungsformen
begrenzt ist, und auf andere Ausführungsformen entsprechend der
technischen Idee der vorliegenden Erfindung angewandt werden kann.
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Gewerbliche
Anwendbarkeit
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Eine
erfindungsgemäße Solarzelle
stellt einen hohen Konvertierungswirkungsgrad und eine exzellente
Stabilität
bereit. Zusätzlich
kann, entsprechend eines erfindungsgemäßen Herstellungsverfahrens,
ein integrierter Solarzellenmodul mit einem hohen Konvertierungswirkungsgrad
unter Verwendung eines leitfähigen
Substrats hergestellt werden.
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Zusammenfassung
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Eine
Solarzelle (10) umfasst ein leitfähiges Substrat (11),
und eine isolierende Schicht (12), eine leitende Schicht
(13) und eine Halbleiterschicht (14), die auf
dem Substrat (11) angeordnet sind. Ein Durchgangsloch (18)
ist so gebildet, dass es die isolierende Schicht (12) und
die leitende Schicht (13) durchdringt, und das Durchgangsloch
(18) ist mit dem selben Halbleiter (14) gefüllt, welcher
eine Zusammensetzungskomponente auch der Halbleiterschicht (14)
ist. Wenigstens ein von den das leitfähige Substrat bildenden Elementen
gewähltes
Element diffundiert in den Halbleiter (14), mit welchem
das Durchgangsloch (18) gefüllt ist.
(1)