DE1035275B - Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen mit einem Halbleiterkoerper des einen Leitungstyps, in dem mehrere Zonen des entgegen-gesetzten Leitungstyps vorhanden sind - Google Patents
Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen mit einem Halbleiterkoerper des einen Leitungstyps, in dem mehrere Zonen des entgegen-gesetzten Leitungstyps vorhanden sindInfo
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Description
Die Erfindung liegt auf dem Gebiet der elektrischen Halbleiter und bezieht sich auf Gleichrichter und
Transistoren mit Inversionsschicht und auf das Verfahren zu ihrer Herstellung.
Halbleitermaterialien wie Germanium und Silizium werden· üblicherweise in sogenannte positive oder
P-Halbleiter und in, negative oder N-Halbleiter unterteilt,
und zwar je nach der Art und diem Vorzeichen der in ihnen vorwiegend vorhandenen Stromträger.
Ob ein bestimmter Halbleiterkörper N- oder P-Eigenschaften zeigt, hängt von der Art der Verunreinigungselemente
oder Aktivatoren in dem Halbleitermaterial ab. Manche Aktivatorelemente, die Spender
genannt werden, rufen zusätzliche freie Elektronen in dem Halbleiter hervor, so daß ein N-Halbleiter entsteht,
der einen Elektronenüberschuß besitzt, während andere mit Akzeptor bezeichnete Verunreinigungen
Elektronen binden und einen P-Halbleiter mit einem Überschuß an positiven Stromträgern oder positiven
Löchern erzeugen. Inrversionsschichthalbleiter besitzen ein Gebiet von P-Material, an welches ein Gebiet von
N-Material angrenzt, so daß eine innere Raumladungsstelle
von verhältnismäßig großer Fläche gebildet wird, im Gegensatz zu Punktkontakthalbleitern. Diese
Inversionsschicht besitzt ausgesprochene Gleichrichtereigenschaften, thermoelektrische und photoelektrische
Eigenschaften. Ein Halbleiterkörper mit einem Gebiet vom einen Leitfähigkeitstyp, an welches
zwei Gebiete des entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps unter Bildung von Inversionsschichten zwischen je
zwei Gebieten angrenzen, kann als ein Dreielektrodenverstärker, nämlich als Transistor benutzt werden. In
solchen Halbleitern ist die mittlere Zone die Basiselektrode und die angrenzenden Gebiete der Emitter
bzw. Kollektor.
Bei der Herstellung von Gleichrichtern oder von Transistoren mit großflächiger Inversionsschicht, die
widerstandsfähig sein und ihre Eigenschaften über eine genügend lange Zeit beibehalten sollen, treten
verschiedene Probleme auf. Bei vielen Konstruktionen sind die fertigen Halbleiter ziemlich empfindlich und
schwer einzubauen. Da die Inversionsschichten in der Nähe der einen Außenfläche des Halbleitermaterials
liegen, können Feuchtigkeits- und Alterungseffekte sehr störend werden. Diese Probleme treten in verstärktem
Maße bei Transistoren auf, und zwar inssondere bei Transistoren, die für hohe Leistungen, bestimmt
sind, da nämlich dort der Abstand zwischen den beiden Inversionsschichten verhältnismäßig klein
sein muß.
Zwei neuere Konstruktionen tragen teilweise den möglichen Außeneinflüssen auf die Halbleiteranordnung
Rechnung. Die eine, die auch als »Analog«- oder »Unipolar«-Transistor bezeichnet wird, besteht aus
Verfahren zur Herstellung
von Halbleiteranordnungen
mit einem Halbleiterkörper
von Halbleiteranordnungen
mit einem Halbleiterkörper
des einen Leitungstyps,
in dem mehrere Zonen des entgegengesetzten Leitungstyps vorhanden sind
in dem mehrere Zonen des entgegengesetzten Leitungstyps vorhanden sind
Anmelder:
General Electric Company,
Schenectady, N. Y. (V. St. A.)
Schenectady, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter: Dr.-Ing. W. Reichel, Patentanwalt,
Frankfurt/M.-Eschersheim, Lichtenbergstr. 7
Frankfurt/M.-Eschersheim, Lichtenbergstr. 7
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 29. Dezember 1952
V. St. v. Amerika vom 29. Dezember 1952
William Ernest Buren, Schenectady,. N. Y. (V. St. A.),
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
einem Block reinem, eigenleitenden Germaniums, in dem sich mehrere Zonen eines bestimmten Leitfähigkeitstyps
befinden, die sich deutlich von dem Leitfähigkeitstyp des reinen Germaniums unterscheiden.
Die sich ausbildende großflächige Inversionsschicht ist daher ziemlich geschützt. Da jedoch die Außenfläche
selbst eine Zone darstellt, denen Leitfähigkeitstyp sich von dem des reinen Germaniums unterscheidet,
ist sie den Außeneinflüssen ausgesetzt, was zu den genannten Problemen führen kann. Die andere
verwendet auch einen Germaniumblock, der einseitig auf eine Grundplatte aufgeschmolzen ist. Die andere
Breitseite des Blockes ist teilweise mit breiten, dünnen Streifen bedeckt, zwischen denen sich offene
Flächen befinden, durch die Feuchtigkeit usw. in die Anordnung eindringen kann.
Die Streifen, die mit einer Oberfläche des Germaniumblockes
verschmolzen sind, sind mit Q-uerstreifen
zu zwei Gruppen zusammengefaßt und parallel geschaltet, so daß eine Gruppe als Emitter und
die andere als Kollektor der Anordnung benutzt werden können. Die Streifengruppen greifen kammartig
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3 4
auf der Breitseite des Germaniumblockes ineinander äußeren N-Gebietes des Germaniumkörpers kann
ein. so daß jedem Kollektorstreifen zwei Emitter- durch Anbringung einer äußeren Lötmittelschicht 7
streifen und jedem Emitterstreifen zwei Kollektor- hergestellt werden. Der beschriebene Halbleiter wird
streifen benachbart sind. wie jeder andere Zweielektrodenhalbleiter durch An-Die
Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur Her- 5 schluß der inneren Elektrode 4 und der äußeren Elekstellung
von Halbleiteranordnungen mit einem Halb- trode 7 in einem Stromkreis eingeschaltet und läßt
leiterkörper des einen Leitungstyps, in dem mehrere Strom hindurch, wenn die Elektrode 4 positiv gegen-Zonen
des entgegengesetzten Leitungstyps vorhanden über der Elektrode 7 ist, während die umgekehrte
sind. Erfindungsgemäß werden eine oder mehrere Stromrichtung die Sperrichtung ist.
erste Elektroden aus einem den Halbleiterkörper io Ein N-Germaniumkörper 2 läßt sich besonders aktivierenden Element, z. B. Antimon, auf den Außen- leicht in der erforderlichen Weise behandeln. Geflächen des Halbleiterkörpers verschmolzen, in dem wünschtenfalls kann die N-Eigenschaft des Germa-Halbleiterkörper werden Kanäle angebracht und eine niumkörpers auch noch durch ein Spenderelement in odt re mehrere zweite Elektroden aus einem den Halb- der Außenschicht 7, beispielsweise durch Antimon, verleiterkörper entgegengesetzt aktivierenden Element, 15 stärkt werden. Zu diesem Zweck wird der ganze HaIb- /.. IS. Indium, werden in den Kanälen des Halbleiter- leiter erhitzt, so daß das Antimon in das Germanium körpers als Stäbe so eingeschmolzen, daß ein oder hinemdiffundiert und eine äußere N-Zone mit einem mehrere gleichrichtende Flächenkontakte entstehen. Überschuß mit negativen Stromträgern erzeugt wird, Zwischen der zweiten Elektrode aus dem den Halb- welche den gewünschten spezifischen Widerstand und leiterkörper entgegengesetzt aktivierendem Element 20 die gewünschte Dicke besitzt. Im allgemeinen ist es und dem Rest des Körpers liegt eine Inversions- jedoch einfacher, den Germaniumstab 2 aus einem schicht, die keinen Feuchtigkeitseinflüssen unter- Einkristall aus N-Germanium, in welchem der geliegt, wünschte Aktivator bereits gleichmäßig verteilt, herin weiterer Ausbildung der Erfindung sind ferner auszuschneiden. In diesem Fall kann die Form des die ersten Elektroden als Basiselektroden mit den 25 Germaniumkörpers beliebig von der Zylinderform Außenflächen des Halbleiterkörpers verschmolzen und abweichen. Die Zylinderform ist lediglich diejenige 1>edecken an zwei oder mehr Seiten den Halbleiter- Form, welche die geringste Menge von Germanium körper, so daß dieser vor den Außeneinflüssen ge- benötigt und bei welcher die äußere Elektrode die schützt ist. Die zweiten Elektroden, die als Stäbe in günstigste Form hat. Um eine möglichst großflächige den Halbleiterkörper eingeführt sind, sind zu einer 30 Inversionsschicht herzustellen, die möglichst weit-Gruppe von Emittern und einer Gruppe von Kollek- gehend innerhalb des Germaniumkörpers liegt und toren verbunden. Sie liegen immer in gerader Zahl keinem Feuchtigkeitseinfluß und keiner Alterung an vor und sind zur Bildung der Emitterelektrode und der Endfläche ausgesetzt ist, soll der in dem Germader Kollektorelektrode parallel miteinander gut niumkörper angebrachte Kanal vorzugsweise eine leitend verbunden. Die Zwischenräume zwischen den 35 Tiefe besitzen, die ein Mehrfaches seines DurchStäben sind sehr knapp bemessen. Die Stäbe beein- messers bildet.
erste Elektroden aus einem den Halbleiterkörper io Ein N-Germaniumkörper 2 läßt sich besonders aktivierenden Element, z. B. Antimon, auf den Außen- leicht in der erforderlichen Weise behandeln. Geflächen des Halbleiterkörpers verschmolzen, in dem wünschtenfalls kann die N-Eigenschaft des Germa-Halbleiterkörper werden Kanäle angebracht und eine niumkörpers auch noch durch ein Spenderelement in odt re mehrere zweite Elektroden aus einem den Halb- der Außenschicht 7, beispielsweise durch Antimon, verleiterkörper entgegengesetzt aktivierenden Element, 15 stärkt werden. Zu diesem Zweck wird der ganze HaIb- /.. IS. Indium, werden in den Kanälen des Halbleiter- leiter erhitzt, so daß das Antimon in das Germanium körpers als Stäbe so eingeschmolzen, daß ein oder hinemdiffundiert und eine äußere N-Zone mit einem mehrere gleichrichtende Flächenkontakte entstehen. Überschuß mit negativen Stromträgern erzeugt wird, Zwischen der zweiten Elektrode aus dem den Halb- welche den gewünschten spezifischen Widerstand und leiterkörper entgegengesetzt aktivierendem Element 20 die gewünschte Dicke besitzt. Im allgemeinen ist es und dem Rest des Körpers liegt eine Inversions- jedoch einfacher, den Germaniumstab 2 aus einem schicht, die keinen Feuchtigkeitseinflüssen unter- Einkristall aus N-Germanium, in welchem der geliegt, wünschte Aktivator bereits gleichmäßig verteilt, herin weiterer Ausbildung der Erfindung sind ferner auszuschneiden. In diesem Fall kann die Form des die ersten Elektroden als Basiselektroden mit den 25 Germaniumkörpers beliebig von der Zylinderform Außenflächen des Halbleiterkörpers verschmolzen und abweichen. Die Zylinderform ist lediglich diejenige 1>edecken an zwei oder mehr Seiten den Halbleiter- Form, welche die geringste Menge von Germanium körper, so daß dieser vor den Außeneinflüssen ge- benötigt und bei welcher die äußere Elektrode die schützt ist. Die zweiten Elektroden, die als Stäbe in günstigste Form hat. Um eine möglichst großflächige den Halbleiterkörper eingeführt sind, sind zu einer 30 Inversionsschicht herzustellen, die möglichst weit-Gruppe von Emittern und einer Gruppe von Kollek- gehend innerhalb des Germaniumkörpers liegt und toren verbunden. Sie liegen immer in gerader Zahl keinem Feuchtigkeitseinfluß und keiner Alterung an vor und sind zur Bildung der Emitterelektrode und der Endfläche ausgesetzt ist, soll der in dem Germader Kollektorelektrode parallel miteinander gut niumkörper angebrachte Kanal vorzugsweise eine leitend verbunden. Die Zwischenräume zwischen den 35 Tiefe besitzen, die ein Mehrfaches seines DurchStäben sind sehr knapp bemessen. Die Stäbe beein- messers bildet.
flüssen infolgedessen die Aktivierung des Halbleiters Bei der Anbringung des Kanals in dem Germaniumderart,
daß die Inversionsschichten einander benach- körper muß darauf geachtet werden, daß seine Innenbarter
Stäbe sehr eng zusammenrücken und nur eine fläche genügend glatt ausfällt. Eine Möglichkeit zur
dünne Schicht des nichtaktivierten Halbleiters zwi- 40 Anbringung der Kanäle besteht darin, einen Strahl
sehen ihnen bestehenbleibt, damit die Halbleiter- von Chlor oder eines anderen flüssigen Halogens auf
anordnung als einziger Transistor arbeitet. den Germaniumkörper zu richten, wobei der Ger-Fig.
1 stellt einen Längsschnitt durch einen Inver- maniumkörper auf eine Temperatur von mehr als
sionsschichthalbleiter gemäß der Erfindung dar, wäh- 400° C erhitzt wird und sich in einer inerten oder
rend 45 reduzierenden Atmosphäre, z. B. in Stickstoff oder Fig. 2 eine perspektivische Ansicht eines Halb- Formierungsgas, befindet. Dabei verbindet sich das
leiters mit mehreren Inversionsschichten darstellt, der Germanium mit dem Chlor zu gasförmigem Germaals
Transistor geschaltet ist. niumtetrachlorid, und der Kanal entsteht mit einer Fig. 1 zeigt einen eine einzige Inversionsschicht. sauberen Innenwand und braucht nicht nachträglich
enthaltenden Halbleitergleichrichter mit einem zylin- 50 abgeätzt zu werden. Sehr enge Kanäle von beispielsdrischen
Halbleiterkörper 2 vom einen Leitfähigkeits- weise 0,0625 cm Durchmesser oder weniger können
typ. Dieser Körper 2 kann aus einem Stab aus N-Ger- auf diese Weise ziemlich schnell hergestellt werden,
manium hergestellt werden, der aus einem Einkristall Man kann natürlich auch andere Mittel zur Anbrinherausgeschnitten
ist. In dem Körper 2 wird ein Kanal gung der Löcher benutzen, wobei das Hauptproblem
in seiner Längsrichtung angebracht. Innerhalb dieses 55 gewöhnlich darin besteht, Locher, die genügend klein
Loches wird ein Stab 3 aus einer oder mehreren sind, um einen Aktivator von wirtschaftlicher Größe
Akzeptorverunreinigungen angebracht, wobei sich aufzunehmen, bequem herzustellen.
Indium als Material für den Stab 3 gut eignet. Mit Das Indium oder das sonst verwendete Aktivatordem Indiumstab 3 wird eine Elektrode gut leitend element wird durch Erhitzung verflüssigt, um mit den verbunden, welche die Form eines Drahtes besitzen 60 Wänden des Kanals zu verschmelzen und kann in den kann, der mit seinem einen Ende in den Indiumstab Kanal in beliebiger Form eingeführt werden, bevor eingebettet ist. Der Indiumstab wird mit der Innen- die Erhitzung zur Bildung der Inversionsschicht statische des Kanals verschmolzen, um einen gleichrich- findet. Man kann den Aktivator z. B. in pulverisiertem ten den Kontakt herzustellen, wobei das Indium in Zustand in den Kanal einführen oder auch in Form den Halbleiterkörper eindiffundiert, und zwar so weit, 65 eines Stabes mit einem Durchmesser von etwas daß ein Teil 5 des Germaniums in P-Germanium um- weniger als dem Innendurchmesser des Kanals, gewandelt wird. Dieses Gebiet 5 ist in Fig. 1 kreuz- Schließlich kann man das Indium auch im flüssigen schraffiert. Die Inversionsschicht zwischen dem P-Ge- Zustand in den Kanal einführen. Der Zuleitungsbiet und dem N-Gebiet, die mit 6 bezeichnet ist, hat draht 4 kann durch Einsetzen in das geschmolzene Zylinderform. Eine Elektrode zum Anschluß des 70 Aktivatorelement während des Erhitzungsprozesses
Indium als Material für den Stab 3 gut eignet. Mit Das Indium oder das sonst verwendete Aktivatordem Indiumstab 3 wird eine Elektrode gut leitend element wird durch Erhitzung verflüssigt, um mit den verbunden, welche die Form eines Drahtes besitzen 60 Wänden des Kanals zu verschmelzen und kann in den kann, der mit seinem einen Ende in den Indiumstab Kanal in beliebiger Form eingeführt werden, bevor eingebettet ist. Der Indiumstab wird mit der Innen- die Erhitzung zur Bildung der Inversionsschicht statische des Kanals verschmolzen, um einen gleichrich- findet. Man kann den Aktivator z. B. in pulverisiertem ten den Kontakt herzustellen, wobei das Indium in Zustand in den Kanal einführen oder auch in Form den Halbleiterkörper eindiffundiert, und zwar so weit, 65 eines Stabes mit einem Durchmesser von etwas daß ein Teil 5 des Germaniums in P-Germanium um- weniger als dem Innendurchmesser des Kanals, gewandelt wird. Dieses Gebiet 5 ist in Fig. 1 kreuz- Schließlich kann man das Indium auch im flüssigen schraffiert. Die Inversionsschicht zwischen dem P-Ge- Zustand in den Kanal einführen. Der Zuleitungsbiet und dem N-Gebiet, die mit 6 bezeichnet ist, hat draht 4 kann durch Einsetzen in das geschmolzene Zylinderform. Eine Elektrode zum Anschluß des 70 Aktivatorelement während des Erhitzungsprozesses
Claims (4)
1. Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen mit einem Halbleiterkörper des einen
Leitungstyps, in dem mehrere Zonen des entgegengesetzten Leitungstyps vorhanden sind, dadurch
gekennzeichnet, daß eine oder mehrere erste Elektroden aus einem den Halbleiterkörper aktivierenden
Element, z. B. Antimon, mit den Außenflächen des Halbleiterkörpers verschmolzen werden, daß
in dem Halbleiterkörper Kanäle angebracht werden und daß eine oder mehrere zweite Elektroden
aus einem den Halbleiterkörper entgegengesetzt aktivierenden Element, z. B. Indium, in den
Kanälen des Halbleiterkörpers als Stab so eingeschmolzen werden, daß ein oder mehrere gleichrichtende
Flächenkontakte entstehen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten Elektroden als Basiselektroden
mit den Außenflächen des Halbleiterkörpers verschmolzen und die zweiten Elektroden,
die zylinderförmige Aktivatorkörper sind, zu einer Gruppe Emitterelektroden und zu einer anderen
Gruppe Kollektorelektroden gut leitend verbunden werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß eine gerade Anzahl zylinderförmiger Aktivatorkörper verwendet wird und daß einige
als Emitterelektroden und andere als Kollektorelektroden parallel geschaltet werden.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Stäbe in dem Halbleiterkörper
genügend nahe benachbart angebracht werden und die Aktivierung d'es Halbleiters durch
den Aktivator innerhalb der Stäbe so beeinflußt wird, daß die Inversionsschichten (12) einander
benachbarter Stäbe sehr eng aneinanderrücken und nur eine dünne Schicht des nichtaktivierten Halbleiters
zwischen ihnen bestehenbleibt, damit die Halbleiteranordnung als ein einziger Transistor
arbeitet.
In Betracht gezogene Druckschriften: Proceedings of the IRE, Bd. 40, 1952, S. 1313
und 1512.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
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---|---|---|---|---|
US2815303A (en) * | 1953-07-24 | 1957-12-03 | Raythcon Mfg Company | Method of making junction single crystals |
US2877396A (en) * | 1954-01-25 | 1959-03-10 | Rca Corp | Semi-conductor devices |
US2837704A (en) * | 1954-12-02 | 1958-06-03 | Junction transistors | |
US2890976A (en) * | 1954-12-30 | 1959-06-16 | Sprague Electric Co | Monocrystalline tubular semiconductor |
US2919386A (en) * | 1955-11-10 | 1959-12-29 | Hoffman Electronics Corp | Rectifier and method of making same |
US2968750A (en) * | 1957-03-20 | 1961-01-17 | Clevite Corp | Transistor structure and method of making the same |
US3022568A (en) * | 1957-03-27 | 1962-02-27 | Rca Corp | Semiconductor devices |
BE623962A (de) * | 1961-10-24 | |||
JP2000031461A (ja) * | 1998-07-09 | 2000-01-28 | Asahi Optical Co Ltd | 半導体デバイスおよび半導体組立装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2189617A (en) * | 1940-02-06 | Method and device for cooling me | ||
US1900018A (en) * | 1928-03-28 | 1933-03-07 | Lilienfeld Julius Edgar | Device for controlling electric current |
FR965189A (de) * | 1946-10-10 | 1950-09-05 | ||
BE489418A (de) * | 1948-06-26 | |||
US2666814A (en) * | 1949-04-27 | 1954-01-19 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductor translating device |
BE500302A (de) * | 1949-11-30 | |||
US2561411A (en) * | 1950-03-08 | 1951-07-24 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductor signal translating device |
-
0
- BE BE525386D patent/BE525386A/xx unknown
- NL NL94129D patent/NL94129C/xx active
-
1952
- 1952-12-29 US US328437A patent/US2714183A/en not_active Expired - Lifetime
-
1953
- 1953-12-29 FR FR1089900D patent/FR1089900A/fr not_active Expired
- 1953-12-29 DE DEG13410A patent/DE1035275B/de active Pending
- 1953-12-29 GB GB36078/53D patent/GB778362A/en not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
None * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR1089900A (fr) | 1955-03-22 |
US2714183A (en) | 1955-07-26 |
NL94129C (de) | |
BE525386A (de) | |
GB778362A (en) | 1957-07-03 |
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