DE1041161B - Flaechentransistoranordnung - Google Patents
FlaechentransistoranordnungInfo
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Description
DEUTSCHES
Die Erfindung bezieht sich auf eine Flächentransistoranordnung mit einer Kollektorelektrode auf
der einen Seite des Halbleiterplättchens, mehreren Emitter- bzw. Basiselektroden und einer neben diesen
angeordneten Basis- bzw. Emitterelektrode auf der anderen Seite.
Ein halbleitender Körper mit einer Zone des einen Leitfähigkeitstyps, an die sich zwei Zonen des
entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps anschließen, so daß zwei p-n-Inversionsschichten entstehen, kann als
Dreielektrodenverstärker, d. h. als Transistor, benutzt werden. In derartigen Vorrichtungen werden die gemeinsame
Zone als Basis und die angrenzenden Zonen als Emitter und Kollektor bezeichnet. Die Arbeitsweise
des Transistors hängt von einer kleinen Änderung des Stromes ab, der in den Emitter hineinfließt
und eine große Änderung des Stromes verursacht, der den Kollektor verläßt. Im Grunde genommen hängt
die Wirkungsweise des Transistors von der Wanderung von in der Minderheit befindlichen Stromträgern
von Emitter zum Kollektor ab. Die Art des Minderheitsstromträgers hängt von der Leitfähigkeitseigenschaft
des Körpers ab, in dem sich der Stromträger befindet. In einem η-Halbleiter bestehen die Minderheitsstromträger
aus positiven Löchern. Umgekehrt ist in einem p-Halbleiter ein Elektron ein Minderheitsstromträger.
Die Zeit, während der ein Minderheitsstromträger in einem halbleitenden Körper existiert,
d. h. seine Lebensdauer, ist sehr kurz und hängt von vielen Faktoren ab. Die kurze Lebensdauer der
Minderheitsstromträger bildet einen Grenzwert für die Eigenschaften und die Anwendungsmöglichkeiten
des Transistors. Für die richtige Wirkungsweise des Transistors muß der Abstand zwischen dem Emitter,
an dem die Minderheitsstromträger eingeführt werden, und dem Kollektor, von dem die Minderheitsstromträger
aufgenommen werden, gleich einer Entfernung sein, die von einem Minderheitsstromträger durchschnittlicher
Lebensdauer durchlaufen werden kann. Aus diesem Grund muß bei Transistoren der Abstand
zwischen Emitter- und Kollektorelektroden notwendigerweise klein sein, wobei der günstigste Abstand
von der Frequenz abhängt, bei der die Anordnung betrieben wird.
Übliche Transistoren mit Inversionsschichten kleiner
Leistung, wie z. B. die in der deutschen Patentanmeldung I 4677 VIIIc/21g beschriebene, haben gewöhnlich
die Form einer Anordnung mit gegenüberliegenden Pillen. Bei einer solchen Anordnung besteht
die Basiszone des Halbleiters des einen Leitfähigkeitstyps aus einem dünnen kristallinen Plättchen, und der
Emitter und Kollektor enthalten durch Verunreinigungen aktivierte Zonen der entgegengesetzten Leitfähigkeitsart
auf einander gegenüberliegenden Seiten Flächentransistoranordnung
Anmelder:
General Electric Company,
Schenectady, N. Y. (V. St. A.)
Schenectady, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter: Dr.-Ing. W. Reichel, Patentanwalt,
Frankiurt/M.-Eschersheim, Lichtenbergstr. 7
Frankiurt/M.-Eschersheim, Lichtenbergstr. 7
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 30. August 1954
V. St. v. Amerika vom 30. August 1954
Robert Noel Hall, Schenectady, N. Y. (V. St. A.),
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
des halbleitenden Plättchens. Bei einer solchen Anordnung kann der Abstand zwischen den Emitter-Kollektor-Elektroden
genau bestimmt und durch Einhaltung einer bestimmten Dicke des Plättchens sowie durch die Eindringtiefe der Aktivatorverunreinigungen
an den gegenüberliegenden Hauptflächen eingeregelt werden. Die Basisverbindung für diese Art
von Transistoren kann in passender Weise am Ende oder am Rand des Halbleiterplättchens angebracht
werden, weil bei Transistoren kleiner Leistung die Basisverbindung nicht in unmittelbarer Nähe der
Emitter- oder Kollektorelektrode zu liegen braucht. Wenn jedoch die Leistung des Transistors erhöht
wird, wird der Abstand zwischen den Basis-, Emitter- und Kollektorelektroden kritischer.
Wenn Minderheitsstromträger in den halbleitenden Körper an der Emitterelektrode eingeführt werden,
entzieht der halbleitende Körper, um das elektrische Gleichgewicht aufrechtzuerhalten, Mehrheitsstromträger
aus der Basiselektrode. Ein Teil der Anzahl der Minderheitsstromträger, die an der Emitterelektrode
eingeführt werden, vereinigt sich mit den Mehrheitsstromträgern, die der Basiselektrode entzogen werden,
und es findet ein gegenseitiger Abbau dieser Ladungen in einem Vorgang statt, der gewöhnlich als »Rekombination«
bezeichnet wird. Der Strom, der durch die Rekombination von Mehrheitsstromträgern verursacht
wird, welche in den halbleitenden Körper an der Basiselektrode eintreten, ist nicht nennenswert, so daß
er keine zu starke Erwärmung bei Transistoren kleiner Leistung verursacht. Bei Transistoren großer
Leistung jedoch macht sich dieser Strom bemerkbar,
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und es ist notwendig und erwünscht, daß die Basiselektrode so dicht wie möglich an den Emitter- und
Kollektorelektroden, insbesondere am Emitter angeordnet wird.
Ein Leistungstransistor, der so ausgebildet ist, daß sich der Basiskontakt in unmittelbarer Nähe des
Emitterkontaktes befindet, während gleichzeitig der kritische und notwendigerweise kleine Abstand
zwischen den Emitter- und Kollektorelektroden eingehalten wird, enthält im allgemeinen eine Basiselektrode,
die an der einen Seite eines Halbleiterplättchens angeschmolzen ist, und Emitter- und
Kollektorelektroden, die an der gegenüberliegenden Seite des halbleitenden Plättchens dicht nebeneinander
angeschmolzen sind. Diese Art eines Transistors erfordert jedoch äußerste Sorgfalt bei der Herstellung
und ist nicht für Massenherstellungsverfahren geeignet, weil der Abstand zwischen Emitter und
Kollektor (der der kritischste Abstand in einem Transistor ist) nur mit großer Schwierigkeit konstant
gehalten werden kann, wenn sich die Emitter- und Kollektorelektroden auf der gleichen Hauptfläche eines
halbleitenden Plättchens befinden. Wenn ferner die Emitter- und Kollektorelektroden auf der gleichen
Seite des Halbleiterplättchens angeordnet sind, ist es außerordentlich schwierig, wenn nicht sogar unmöglich,
die Kollektorelektrode durch Leitung zu kühlen, um einen Hochleistungsbetrieb zu ermöglichen.
Eine weitere Schwierigkeit, die beim Bau von Leistungstransistoren überwunden werden muß, besteht
darin, die Ausgangsleistung zu erhöhen, ohne an Wirkungsgrad einzubüßen. Diese Schwierigkeit ergibt
sich daraus, daß die Leistung nicht linear mit der Flächenzunahme der Emitter- und Kollektor-Inversionsschicht
ansteigt. Für eine einzelne Emitter- und Kollektor-Inversionsschicht gibt es eine bestimmte
maximale Größe, über die hinaus der Wirkungsgrad abnimmt. Es kann daher ein Hochleistungstransistor
nicht einfach nur durch Vergrößerung des Emitter- und Kollektorübergangs erhalten werden.
Ein Ziel der Erfindung besteht darin, einen Transistor zu schaffen, der für den Betrieb bei hoher
Leistung geeignet ist.
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist es. einen Hochleistungstransistor
anzugeben, dessen Emitter-, KoI-lektor- und Basiselektrode dicht beieinander angeordnet
sind.
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist es, einen Leistungstransistor zu schaffen, dessen Kollektorelektrode
leitungsgekühlt ist.
Bei der Flächentransistoranordnung gemäß der Erfindung bedeckt die Kollektorelektrode die eine Seite
eines Halbleiterplättchens. während auf der anderen Seite eine mehrfach gelochte Basis- bzw. Emitterelektrode
angebracht ist, in deren Lochungen jeweils eine an einen gemeinsamen Leiter angeschlossene
Emitter- bzw. Basiselektrode eingebracht ist.
Bei einer anderen Ausführungsform der Erfindung weist die Emitterelektrode, die einen Bereich des entgegengesetzten
Leitfähigkeitstyps erzeugt, mehrere im Abstand voneinander befindliche Öffnungen auf und
steht dabei mit der anderen Seite des Plättchens in Berührung; bei dieser Ausführungsform sind die
Basiskontakte in den öffnungen der Emitterelektrode angeordnet und erzeugen darin einen gut leitenden
Kontakt mit den freien Oberflächenteilen des Plättchens.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung gehen aus der folgenden Beschreibung der Zeichnungen
hervor.
Fig. 1 ist eine schaubildliche Ansicht eines p-n-Transistors gemäß der Erfindung;
Fig. 2 ist ein Querschnitt durch einen Teil des Transistors der Fig. 1.
In Fig. 1 und 2 ist ein p-n-Transistor 1 gemäß der Erfindung dargestellt. Der Transistor 1 enthält ein
Plättchen 2 aus halbleitendem Material, eine Kollektorplatte 3, die an dem halbleitenden Plättchen 2
durch ein Aktivatorlötmittel 4 angelötet ist, ferner eine Basiselektrode 5, die mit dem halbleitenden
Plättchen 2 durch ein Aktivatorlötmittel 6 angelötet ist, und eine Anzahl von Emitterelektroden 7, die in
kreisförmigen Öffnungen 8 der Basisplatte 5 angeordnet sind. Der halbleitende Körper 2 besteht aus
einem kristallinen Plättchen, dessen Länge und Breite wesentlich größer als seine Dicke ist. Das Plättchen 2
kann z. B. aus einem kristallinen Plättchen aus n-Germanium, vorzugsweise von monokristalliner Struktur,
bestehen und kann in passender Weise aus einem einzelnen Kristall geschnitten sein, welcher durch
Ziehen eines Samenkristalls aus einer Schmelze von Germanium hergestellt ist, das mit einer Spur eines
Donatorelementes versetzt ist. Die Schmelze, aus der der Kristall gezüchtet wird, kann mit einer Spur eines
Elementes, z. B. Antimon, Phosphor oder Arsen, versetzt sein, um eine geeignete negative Leitfähigkeitscharakteristik zu erhalten.
Die Kollektorelektrode 3 kann aus einem flachen Plättchen aus einer Eisen-Nickel-Kobalt-Legierung
oder Nickel oder aus einem anderen Material, das einen thermischen Ausdehnungskoeffizienten der
gleichen Größenordnung wie Germanium hat, bestehen. Die Kollektorelektrode 3 wird mit Hilfe eines
Aktivatorlötmittels 4 in gutem mechanischem Kontakt mit dem halbleitenden Plättchen 2 gehalten. Das Lötmittel
4 kann Indium oder ein anderes Akzeptorelement oder eine Legierung enthalten. Wenn das
Akzeptorlötmittel 4 mit der Oberfläche des Germaniumplättchens 2 verschmolzen wird, diffundieren
Aktivatoratome in das Germanium mit einer solchen Konzentration ein, daß sie die Konzentration der
Donatorverunreinigungen übertrifft, die ursprünglich dem Germaniumplättchen die n-Leitfähigkeit verliehen
hat. Auf diese Weise wird eine Zone 9 aus p-Germanium in der Nachbarschaft der Oberfläche des
Ivristallplättchens gebildet. Die Eindringtiefe dieser Zone in den Germaniumkörper wird durch die
Schmelztemperatur und die Dauer des Erwärmungsvorgangs bestimmt. Die Erwärmung kann darauf beschränkt
werden, daß der Akzeptorstoff mit dem Plättchen bei dem Lötvorgang verschmolzen wird; die
Erwärmung der gesamten Anordnung kann auch bei einer erhöhten Temperatur fortgesetzt werden, um die
Zone des p-Materials zu vergrößern. Die angewendete Temperatur kann zwischen 300 und 700° C bei Germanium
liegen und hängt von dem besonderen ausgewählten Aktivatorelement ab. Die Erwärmungszeit
kann etwas weniger als 1 Sekunde bis zu mehreren Minuten betragen, wobei ein geeignetes Eindringen
des Aktivatormaterials in den halbleitenden Körper stattfindet, wenn das Aktivatorlötmittel das Germaniumplättchen
benetzt. Wird z.B. ein Indiumlötmittel benutzt, so sind Temperaturen in der Nähe von
400° C für einige Minuten als ausreichend befunden worden. Als Ergebnis der Diffusion und der Imprägnierung
wird eine gleichrichtende Sperrschicht oder p-n-Inversionsschicht 10 an der Grenze zwischen
der p-Zone 9 und dem Hauptkörper des halbleitenden Plättchens 2 gebildet. Das Verfahren zur Herstellung
von p-n-Inversionsschichten durch Schmelzen eines
Verunreinigungsaktivators ist in den bekanntgemachten
Unterlagen der deutschen Patentanmeldung I 4677 VIIIc/21g beschrieben worden.
Der Basiskontakt 5 kann in passender Weise eine gelochte Platte aus einer Eisen-Nickel-Kobalt-Legierung
von etwa 0,396 mm Dicke enthalten, in der eine Anzahl von kreisförmigen öffnungen 8 dicht nebeneinander
angeordnet ist, wobei die Zahl der Öffnungen nur von der Zahl der gewünschten Emitterkontakte
abhängt. Im allgemeinen nimmt die Zahl der Emitterkontakte mit dem Leistungswert des Transistors zu.
Die Basisplatte 5 wird in elektrisch gut leitendem Kontakt mit dem n-Halbleiterkörper 2 mit Hilfe eines
Donatorlötmittels 6 zwischen der Platte 5 und dem halbleitenden Plättchen 2 gehalten. Ein Donatorlötmittel
6 kann z. B. eine Legierung von Indium und etwa 1 bis 30 Gewichtsprozent eines Donatorelementes,
z. B. Arsen, Antimon oder Phosphor, enthalten. Dieses Donatorlötmittel kann vorzugsweise eine Legierung
sein, welche etwa 95% Indium und 5 Gewichtsprozent Arsen enthält. Das Lötmittel 6 dient dem doppelten
Zweck, die Basiselektrode 5 in gut leitendem Kontakt mit dem halbleitenden Plättchen 2 zu halten und als
Vorrat für negative Stromträger für das n-Halbleiterplättchen
2 zu dienen.
Der Emitter des Transistors 1 enthält eine Anzahl von Akzeptorpillen, die in den Öffnungen 8 angeordnet
und mit der Oberfläche des halbleitenden Plättchens 2 dort verschmolzen sind, wo diese frei zugänglich
ist, nachdem die gelochte Basiselektrode 5 an dem Halbleiterplättchen 2 befestigt ist. Die Akzeptorkontakte
können in passender Weise Indium oder andere geeignete Akzeptormaterialien enthalten; diese
sind mit der Oberfläche des Halbleiterplättchens 2 in derselben Weise verschmolzen und in sie eindiffundiert
wie das Akzeptorlötmittel 4. In der Praxis können die Akzeptorkontakte 7 leicht in der Mitte in den Öffnungen
8 der Basiselektrode 5 angeordnet werden, indem eine kleine Führungsvertiefung 11 in die freiliegende
Oberfläche des halbleitenden Plättchens 2 gebohrt wird, nachdem der Basiskontakt 5 an dem
halbleitenden Plättchen 2 befestigt worden ist. Durch diese vorbereitende Bohrung wird jeder einzelne
Emitterkontakt 7 in der Mitte der Vertiefung 8 in der Basiselektrode 5 angeordnet. Nachdem die Führungsvertiefung
11 in der freiliegenden Oberfläche des halbleitenden Plättchens 2 gebohrt worden ist, wird eine
kleine Menge von Indium oder einem anderen Akzeptormaterial in die Vertiefung gebracht und das
halbleitende Plättchen einer Temperatur ausgesetzt, die innerhalb der Grenzen von 300 bis 700° C liegen
kann, aber vorzugsweise die Größenordnung von 400° C hat, und zwar für etwa 1 oder 2 Minuten.
Diese Erwärmung bewirkt, daß der oberflächennahe Bereich 12 des Plättchens 2 aus η-Germanium in
p-Germanium umgewandelt wird und daß ein p-n-Übergang 13 zwischen dem oberflächennahen p-Bereich
12 und dem Hauptkörper des n-Halbleiterplättchens 2
entsteht. Während des Heizvorganges kann ein Draht aus Nickel oder einer Zinn-Nickel-Kobalt-Legierung
14 in die Führungsvertiefung 11 eingeführt werden, der eine Emitterzuleitung bildet, die mit anderen
Emitterzuleitungen verbunden werden kann, so daß eine Emitterleitung 15 für den Transistor 1 entsteht.
Der Heizprozeß sollte so gesteuert werden, daß der p-Bereich 12 in der Nähe des Emitterkontaktes 7 sich
nicht so weit ausdehnt, daß er über den Bereich hinausgeht, der nicht von der Basiselektrode 5 bedeckt
ist. Auf diese Weise ist jeder Emitterkontakt 7 seitlich von der Basiselektrode 5 umgeben, und der
p-Bereich 12 ist von dem n-Hauptkörper des Plättchens 2 umgeben. Wenn die Bildung des p-Bereiches
12 in dieser Art gesteuert wird, ist der p-n-Übergang 13 durch die Basiselektrode 5 nicht kurzgeschlossen, und der Emitter-, der Kollektor- und die
Basisbereiche sind dicht nebeneinander angeordnet. Bei der Herstellung kann die Verschmelzung der
Kollektorplatte 3, der Basisplatte 5 und der Emitterpillen 7 mit dem halbleitenden Plättchen 2 entweder
einzeln oder gleichzeitig in einem Gesamterhitzungsvorgang ausgeführt werden.
Wenn der Transistor 1 in einem elektrischen Kreis als Verstärker, als Schwingungserzeuger oder als
Detektor betrieben wird, werden die Spannungen so zugeführt, daß die Emitterpillen in der Durchgangsrichtung und die Kollektorplatte in der Sperrichtung
betrieben werden.- Beim Betrieb wird durch den Stromfluß in der Durchlaßrichtung in dem Emitterkreis
eine hohe Konzentration von Löchern und Elektronen in dem Germaniumkörper 2 erzeugt, so daß ein
Teil der Löcher zu dem Kollektorkontakt 3 hin diffundiert. Dadurch, daß ein verhältnismäßig kleiner Abstand
zwischen den Emitterkontakten 7 und dem Kollektorkontakt 3 vorhanden ist, ist es möglich, daß
der Hauptanteil des Emitterstromes in dem Kollektorkreis auftritt. Da ferner der Basiskontakt in unmittelbarer
Nachbarschaft des Emitterkontaktes liegt, ist der Weg des Stromflusses durch den halbleitenden
Körper von der Basis zum Emitter kurz, und die Widerstandserhitzung infolge dieses Stromes wird
auf einem Minimum gehalten. Da der Kollektor getrennt auf der einen Seite des halbleitenden
Plättchens 2 angeordnet ist und keine anderen Elektroden auf dieser Fläche liegen, kann die Kollektorplatte
3 leicht durch Leitung gekühlt werden, um ihre Temperatur in dem richtigen Bereich der Betriebstemperaturen
des Transistors zu halten und hierdurch den Hochleistungsbetrieb zu erleichtern.
Vorrichtungen, die gemäß der Erfindung ausgeführt wurden, sind mit Leistungen bis zu 20 Watt ohne
schädliche Wirkungen betrieben worden. Außerdem sind Vorrichtungen gemäß der Erfindung in der Lage,
eine Stromverstärkung von etwa einem Drittel bis zur Hälfte bei Kollektorströmen bis zu 1 Ampere zu ergeben.
Die Abmessungen eines typischen halbleitenden Körpers 2, die hier beispielsweise angegeben werden,
da diese Größen je nach der gewünschten Solleistung vergrößert und verkleinert werden können, betragen
etwa 6X6 mm und 3,7 mm in der Dicke. Ein halbleitendes Plättchen mit diesen Abmessungen kann bequem
sieben Emitterkontakte aufnehmen, welche das Plättchen durch eine gelochte Basisplatte berühren, die
sieben Öffnungen enthält, welche in einem sechseckigen Muster angeordnet und etwa 2,38 mm voneinander
entfernt sind (vgl. Fig. 1).
Verschiedene gleichwertige Elemente oder auch eine Kombination von Elementen können an Stelle der
in Verbindung mit Fig. 1 beschriebenen Stoffe verwendet werden. So können z. B. andere Akzeptormaterialien,
z. B. Gallium oder Aluminium, an Stelle von Indium benutzt werden. Ein halbleitender Körper,
der p-leitende Eigenschaften hat, kann ebenfalls verwendet werden; in diesem Fall würde das Lötmittel
für den Kollektorkontakt und die Emitterkontakte ein Donatormaterial, z. B. eine Legierung von Indium
und 1 bis 30% eines Donatorelementes, z. B. Antimon, Phosphor oder Arsen, enthalten. Der halbleitende
Körper selbst kann aus Silizium an Stelle von Germanium hergestellt sein. In ähnlicher Weise kann natür-
Claims (8)
1. Flächentransistoranordnung mit einer KoI-iektorelektrode
auf der einen Seite des Halbleiterplättchens, mehreren Emitter- bzw. Basiselektroden
und einer neben diesen angeordneten Basis- bzw. Emitterelektrode auf der anderen Seite, dadurch
gekennzeichnet, daß die Kollektorelektrode (3) die eine Seite des Halbleiterplättchens (2) bedeckt,
während auf der anderen Seite eine mehrfach gelochte Basis- bzw. Emitterelektrode (5) angebracht
ist, in deren Lochungen (8) jeweils eine an einen gemeinsamen Leiter (15; angeschlossene Emitterbzw.
Basiselektrode (7) eingebracht ist.
2. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kollektorelektrode
auf der einen Seite des Plättchens und die Emitterelektrode auf der anderen Seite je einen
entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp in dem Plättchen hervorrufen, während die dritte Elektrode,
welche die Emitterelektrode seitlich umgibt, als Basiselektrode in gut leitendem Kontakt mit einem
Teil der anderen Seite des Plättchens steht.
3. Flächentransistoranordnung nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Kollektor- und die Emitterelektrode je einen oberflächennahen Bereich oder eine Schicht des entgegengesetzten
Leitfähigkeitstyps hervorrufen.
4. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Kollektorkontakt
an der Schicht der Kollektorelektrode, ein Emitterkontakt an dem begrenzten Bereich der Emitterelektrode
und ein Basiskontakt vorgesehen sind, der den Emitterkontakt seitlich umgibt, eng benachbart
dazu ist und mit dem Hauptkörper des Plättchens des einen Leitfähigkeitstyps in Berührung
steht.
5. Flächentransistoranordnung nach Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Emitterelektrode eine Anzahl von begrenzten Bereichen des entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps
enthält.
6. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Basiselektrode
mehrere im Abstand befindliche Öffnungen aufweist, welche die andere Seite des Plättchens berühren,
während die Emitterelektrode mehrere begrenzte Inversionsschichtkontakte mitten in den
Öffnungen der Basiselektrode enthält.
7. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das Plättchen aus η-Germanium besteht und daß die Emitterelektrode
mehrere Akzeptorkontakte aufweist, die in den Öffnungen der Basiselektrode angeordnet sind.
8. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, daß das Plättchen aus
η-Germanium besteht und die Emitterelektrode, die mehrere im Abstand voneinander befindliche
Öffnungen aufweist, als Akzeptorelektrode ausgebildet ist.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Belgische Patentschrift Nr. 520 677.
Belgische Patentschrift Nr. 520 677.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 809 658/330 10.58
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US453018A US2778980A (en) | 1954-08-30 | 1954-08-30 | High power junction semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1041161B true DE1041161B (de) | 1958-10-16 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEG17826A Pending DE1041161B (de) | 1954-08-30 | 1955-08-20 | Flaechentransistoranordnung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US2778980A (de) |
DE (1) | DE1041161B (de) |
FR (1) | FR1130425A (de) |
GB (1) | GB806505A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1132247B (de) * | 1959-01-30 | 1962-06-28 | Siemens Ag | Gesteuerte Vierschichtentriode mit vier Halbleiterschichten abwechselnden Leitfaehigkeitstyps |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL100884C (de) * | 1953-05-28 | 1900-01-01 | ||
US3062690A (en) * | 1955-08-05 | 1962-11-06 | Hoffman Electronics Corp | Semi-conductor device and method of making the same |
US2919386A (en) * | 1955-11-10 | 1959-12-29 | Hoffman Electronics Corp | Rectifier and method of making same |
BE557842A (de) * | 1956-06-01 | |||
US2985550A (en) * | 1957-01-04 | 1961-05-23 | Texas Instruments Inc | Production of high temperature alloyed semiconductors |
US2953693A (en) * | 1957-02-27 | 1960-09-20 | Westinghouse Electric Corp | Semiconductor diode |
US3047733A (en) * | 1957-03-12 | 1962-07-31 | Ibm | Multiple output semiconductor logical device |
US3086281A (en) * | 1957-05-06 | 1963-04-23 | Shockley William | Semiconductor leads and method of attaching |
US3100927A (en) * | 1957-12-30 | 1963-08-20 | Westinghouse Electric Corp | Semiconductor device |
US3044909A (en) * | 1958-10-23 | 1962-07-17 | Shockley William | Semiconductive wafer and method of making the same |
US2964431A (en) * | 1959-07-28 | 1960-12-13 | Rca Corp | Jig alloying of semiconductor devices |
US3226609A (en) * | 1960-10-25 | 1965-12-28 | Sylvania Electric Prod | High conduction semiconductor diode |
US3254276A (en) * | 1961-11-29 | 1966-05-31 | Philco Corp | Solid-state translating device with barrier-layers formed by thin metal and semiconductor material |
US3273029A (en) * | 1963-08-23 | 1966-09-13 | Hoffman Electronics Corp | Method of attaching leads to a semiconductor body and the article formed thereby |
US3312882A (en) * | 1964-06-25 | 1967-04-04 | Westinghouse Electric Corp | Transistor structure and method of making, suitable for integration and exhibiting good power handling capability and frequency response |
US3381183A (en) * | 1965-06-21 | 1968-04-30 | Rca Corp | High power multi-emitter transistor |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE520677A (de) * | 1950-09-29 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2524033A (en) * | 1948-02-26 | 1950-10-03 | Bell Telephone Labor Inc | Three-electrode circuit element utilizing semiconductive materials |
US2595052A (en) * | 1948-07-23 | 1952-04-29 | Sylvania Electric Prod | Crystal amplifier |
BE490438A (de) * | 1948-08-13 | |||
CA509126A (en) * | 1949-05-28 | 1955-01-11 | Western Electric Company, Incorporated | Semiconductor translating devices |
US2680220A (en) * | 1950-06-09 | 1954-06-01 | Int Standard Electric Corp | Crystal diode and triode |
NL113882C (de) * | 1952-06-13 |
-
1954
- 1954-08-30 US US453018A patent/US2778980A/en not_active Expired - Lifetime
-
1955
- 1955-08-20 DE DEG17826A patent/DE1041161B/de active Pending
- 1955-08-25 GB GB24476/55A patent/GB806505A/en not_active Expired
- 1955-08-30 FR FR1130425D patent/FR1130425A/fr not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE520677A (de) * | 1950-09-29 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1132247B (de) * | 1959-01-30 | 1962-06-28 | Siemens Ag | Gesteuerte Vierschichtentriode mit vier Halbleiterschichten abwechselnden Leitfaehigkeitstyps |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR1130425A (fr) | 1957-02-05 |
GB806505A (en) | 1958-12-23 |
US2778980A (en) | 1957-01-22 |
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