DE10345469A1 - Schaltungsanordnung zur Einstellung einer Spannungsversorgung für einen Testbetrieb eines integrierten Speichers - Google Patents

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Eine Schaltungsanordnung zur Einstellung einer Spannungsversorgung für einen Testbetrieb eines integrierten Speichers enthält eine Spannungsgeneratorschaltung (3) zur Erzeugung einer Versorgungsspannung (VNWLL) zum Anlegen an Bitleitungen (BL1, BL2) des Speichers. Eine Steuerschaltung (4) wird von einem Testmodussignal (TM) zur Kennzeichnung eines Testbetriebs angesteuert. Sie ist mit der Spannungsgeneratorschaltung (3) verbunden, wobei mittels der Steuerschaltung die Versorgungsspannung (VNWLL) an wenigstens eine der Bitleitungen (BL1, BL2) in dem Testbetrieb anlegbar ist. Die Spannungsgeneratorschaltung (3) erzeugt in dem Testbetrieb einen negativen Versorgungsspannungswert (VNWLL). Damit ist es ermöglicht, einen Burn-In-Testbetrieb mit einem ausreichend hohen Spannungsunterschied zwischen Wortleitung und Bitleitung auch bei niedrigen Strukturdimensionen durchzuführen und gleichzeitig Spannungslimits in Bezug auf einen Snap-Back-Durchbruch einzuhalten.
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