DE10335164A1 - Vorrichtung und Verfahren zum Testen von integrierten Schaltungskreisen - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zum Testen von integrierten Schaltungskreisen Download PDF

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Abstract

Die erfindungsgemäße Testvorrichtung umfasst einen Präzisionssignalgenerator (201) zum Generieren eines Testsignals, der über je eine Anschlussleitung (409) mit je einem zum Anschluss an einen Eingang eines integrierten Schaltkreis bestimmten Eingangskontakt (211, 221, 231) verbunden ist, und wenigstens einen Referenzsignalgenerator (401, 411) zum Erzeugen eines Referenzsignals. Ferner ist für je einen Eingangskontakt (211, 221, 231) wenigstens eine Vergleichereinheit (501, 511, 521) vorgesehen, die in einem Testmodus betreibbar ist. Im Testmodus wird das Testsignal mit dem Referenzsignal verglichen. Der Präzisionssignalgenerator (201) wird durch die Vergleichereinheit (501, 511, 521) abgeschaltet, wenn das Testsignal das Referenzsignal übersteigt oder unterschreitet.
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