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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Ansteuerschaltung für ein Zündelement
eines Insassenschutzsystems, beispielsweise eines Airbags oder Gurtstraffers,
gemäß den Merkmalen
des Oberbegriffs des Anspruchs 1.
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Eine
derartige Ansteuerschaltung beispielsweise eine integrierte Ansteuerschaltung
des Typs TLE16714 der Infineon Technologies AG, München, die
in dem zugehörigen
Datenblatt V 1.61 2001-07-13 beschrieben ist.
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Das
durch eine solche Ansteuerschaltung angesteuerte Zündelement
ist beispielsweise eine pyrotechnische Zündpille, die weitere Vorgänge zur Öffnung eines
Airbags oder zum Spannen eines Sicherungsgurtes einleitet. Aus Sicherheitsgründen besteht
die Forderung, dass eine solche Zündpille nicht nur durch ein
einziges Schalterelement von einer Versorgungsspannung getrennt
sein muss, sondern dass mindestens zwei den Strom unterbrechende Elemente
in dem Laststromkreis mit der Zündpille vorhanden
sein müssen.
Ansteuerschaltungen für solche
Zündpillen
müssen
dazu ausgelegt sein, die Zündpille
mit einem vorgegebenen Zündstrom,
der beispielsweise im Bereich zwischen 1 A und 3 A liegt, für eine vorgegebene
Einschaltzeit, die beispielsweise im Bereich zwischen 1 ms und 5
ms liegt, anzusteuern.
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Bekannte
Ansteuerschaltungen für
solche Zündelemente,
sind so aufgebaut, dass die zwei Halbleiterbauelemente bzw. Halbleiterschalter,
zu denen das Zündelement
in Reihe geschaltet wird, in einem gemeinsamen Halbleiterchip integriert
sind. Bei mehrkanaligen Ansteuerschaltungen, wie beispielsweise
der TLE6714, die zur gleichzeitigen Ansteuerung mehrerer Zündelemente
geeignet sind, sind mehrere erste und zweite Halblei terschalter
auf einem Chip integriert, wobei ein Zündelement über äußere Anschlüsse der integrierten Schaltung
jeweils zwischen einen ersten und einen zweiten Halbleiterschalter
geschaltet werden kann.
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Diese
Integration der Halbleiterschalter auf einem Halbleiterchip führt dazu,
dass es bei einem schwerwiegenden Fehler auf dem Chip, beispielsweise
ausgelöst
durch einen unkontrollierten Einfluss von außen, zu einer unkontrollierten
Aktivierung (IAD = inadvertent deployment) von Airbags oder Gurtstraffern
kommen kann. Die durch die zwei in Reihe zu dem Zündelement
geschalteten Halbleiterschalter eingeführte Redundanz des Systems
ist insofern nicht vollständig
gegeben, weil Fehler auf dem Halbleiterchip, die beispielsweise
zu einem unbeabsichtigten Einschalten eines Halbleiterschalters
führen können, in
vielen Fällen
auch zu einem unbeabsichtigten Einschalten des zweiten Halbleiterschalters führen.
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Um
diesen Nachteil zu vermeiden, ist es bekannt, zwei gleichartige
integrierte Ansteuerschaltungen auf einer Schaltungsplatine vorzusehen,
die eine „kreuzverkoppelte
Schaltung” der
Zündelemente
erlauben, wie dies in 1 dargestellt ist. Mit den Bezugszeichen
IC10, IC20 sind in 1 zwei identisch aufgebaute
Ansteuerschaltungen bezeichnet, die jeweils einen ersten Halbleiterschalter
HS10, HS11 und einen zweiten Halbleiterschalter LS10, LS11 umfassen,
wobei Anschlüsse
dieser Halbleiterschalter jeweils nach außen geführt sind, um über diese
Anschlüsse
ein Zündelement
in Reihe zu den Halbleiterschaltern HS10, LS10 bzw. HS11, LS11 zu
schalten. Bei einer kreuzverkoppelten Schaltung ist nun vorgesehen,
zur Ansteuerung eines Zündelements
Z10, Z20 Halbleiterschalter unterschiedlicher Ansteuerschaltungen
zu verwenden. So ist in dem dargestellten Beispiel ein Zündelement
Z10 zwischen den ersten Halbleiterschalter HS11 der Ansteuerschaltung IC20
und den zweiten Halbleiterschalter LS10 der Ansteuerschaltung IC10
geschaltet. Weiterhin ist ein zweites Zündelement Z20 zwischen den
ersten Halbleiterschalter HS10 der Ansteuer schaltung IC10 und den
zweiten Halbleiterschalter LS11 der Ansteuerschaltung IC20 geschaltet.
Zur Ansteuerung der Halbleiterschaltung sind in den einzelnen Ansteuerschaltungen
IC10, IC20 Treiberschaltungen DH10, DL10, DH11, DL11 vorhanden,
die auch Schutzfunktionen für
die Halbleiterschalter erfüllen
können.
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Nachteil
der in 1 dargestellten Anordnung ist die vergleichsweise
komplexe Verdrahtung auf der Platine, insbesondere bei Mehrkanalsystemen,
bei denen mehr als zwei Zündpillen
angesteuert werden sollen.
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In
der
WO 97/32757 A ist
eine Anordnung zum Steuern eines Rückhaltemittels beschrieben. Diese
Anordnung umfasst drei in Reihe geschaltete Halbleiterleistungsschalter,
von denen ein erster und ein zweiter, zwischen die ein Zündelement
geschaltet werden kann, auf einem ersten Träger angeordnet sind, und von
denen ein dritter auf einem zweiten Träger angeordnet ist.
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Die
DE 198 15 391 A1 beschreibt
eine Diagnosevorrichtung für
Fahrgastschutzsysteme. Bei dieser Vorrichtung sind jeweils parallel
zu zwei in Reihe geschalteten Leistungstransistoren sogenannte Prüftransistoren
geschaltet, die zur Diagnose der Leistungstransistoren dienen.
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Die
DE 101 09 620 C1 beschreibt
eine Vorrichtung zur Ansteuerung von Zündkreisen eines Insassenschutzsystems.
Diese Vorrichtung umfasst vier ”kreuzgekoppelte” Transistoren,
von denen jeweils zwei in einem Halbleiterchip integriert sind.
Ein Zündelement
ist hierbei jeweils zwischen zwei Transistoren geschaltet, von denen
einer auf einem ersten der Halbleiterchips und der andere auf einem zweiten
der Halbleiterchips integriert ist.
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Ziel
der vorliegenden Erfindung ist es, eine sicher funktionierende Ansteuerschaltung
für ein Zündelement
eines Insas senschutzsystems zur Verfügung zu stellen, das die oben
genannten Nachteile nicht aufweist.
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Dieses
Ziel wird durch eine Ansteuerschaltung für ein Zündelement gemäß den Merkmalen
des Anspruchs 1 erreicht. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung
sind Gegenstand der Unteransprüche.
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Die
Ansteuerschaltung für
ein Zündelement eines
Insassenschutzsystems umfasst wenigstens ein erstes steuerbares
Halbleiterbauelement mit einem Steueranschluss und einem ersten
und zweiten Lastanschluss und wenigstens ein zweites steuerbares
Halbleiterbauelement mit einem Steueranschluss und einem ersten
und zweiten Lastanschluss. Die Ansteuerschaltung umfasst weiterhin
wenigstens eine erste und wenigstens eine zweite Anschlussklemme
zum Anschließen
einer Last in Reihe zu dem wenigstens einen ersten und wenigstens
einen zweiten Halbleiterbauelement. Aus Zuverlässigkeitsgründen ist nun vorgesehen, dass
das wenigstens eine erste Halbleiterbauelement in wenigstens einem
ersten Halbleiterchip und das wenigstens eine zweite Halbleiterbauelement
in einem zweiten Halbleiterchip integriert sind, die in einem gemeinsamen
Gehäuse untergebracht
sind, aus dem die wenigstens eine erste Anschlussklemme und die
wenigstens eine zweite Anschlussklemme zum Anschließen des
Zündelements
herausgeführt
sind.
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Das
Unterbringen der Halbleiterchips mit den ersten und zweiten Halbleiterschaltern
in einem gemeinsamen Gehäuse
vereinfacht die Verdrahtung auf einer Platine, auf der die Ansteuerschaltung
zum Einsatz kommt. Das Integrieren der beiden in Reihe zu einem
Zündelement
zu schaltenden Halbleiterbauelemente bzw. Halbleiterschalter auf
unterschiedlichen Halbleiterchips erhöht zum Einen die Zuverlässigkeit
der Schaltung und ermöglicht
zum Anderen, die beiden Halbleiterchips in unterschiedlichen Chip-Technologien
zu realisieren, was zu einer weiteren Erhöhung der Zuverlässigkeit
und darüber
hinaus zu Kostenvorteilen führen
kann. Während
des Betriebs der Ansteuerschaltung ist eines der beiden Halbleiterbauelemente
als High-Side-Schalter eingesetzt und dabei zwischen das positive
Versorgungspotential und das Zündelement
geschaltet. Das weitere Halbleiterbauelement dient als Low-Side-Schalter
und ist mit seiner Laststrecke zwischen das Zündelement und negatives Versorgungspotential
bzw. Bezugspotential geschaltet. Die Belastungen dieser beiden Halbleiterbauelemente
während
des Betriebs unterscheiden sich dabei erheblich, was bei Realisierung
dieser beiden Halbleiterbauelemente durch die Verwendung verschiedener
Chip-Technologien berücksichtigt
werden kann.
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Es
sei darauf hingewiesen, dass die Funktion der beiden Halbleiterbauelemente,
die die Zündpille des
Insassenschutzsystems ansteuern, über eine bloße Schaltfunktion
hinausgehen kann. So kann insbesondere der High-Side-Schalter in
bekannter Weise auch zur Regelung des die Last durchfließenden Stromes
verwendet werden, und erfüllt
dann die Funktion einer Stromquelle wozu dieses Halbleiterbauelement
mehr als nur die zwei Betriebszustände Ein und Aus annehmen kann.
Der Begriff Halbleiterschalter ist im folgenden deshalb nicht einschränkend auf
ein Bauelement mit lediglich zwei Schaltzuständen zu verstehen.
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Das
High-Side-Bauelement ist dabei vorzugsweise als vertikaler Leistungs-MOSFET
ausgebildet, dessen Drain-Anschluss beispielsweise durch die Rückseite
des Halbleiterchips gebildet ist, in dem der Halbleiterschalter
integriert ist. Derartige vertikale Leistungs-MOSFET sind beispielsweise
in Stengl/Tihanyi: „Leistungs-MOSFET-Praxis” Pflaum
Verlag, München,
1994 auf den Seiten 33 bis 38 beschrieben. Der Gate-Anschluss und der
Source-Anschluss dieses Bauelements steht dann an der Vorderseite des
Halbleiterchips zur Verfügung,
wobei bei Integration mehrerer Leistungs-MOSFET in einem gemeinsamen
Chip die Drain-Anschlüsse
aller Halbleiterschalter gemeinsam über die Rückseite des Halbleiterchips
kontaktiert werden, während
an der Vorderseite Gate- und Source-Anschlüsse für die einzelnen Halbleiterschalter
getrennt zur Verfügung
stehen. In einem solchen Chip mit vertikalen Leistungs-MOSFET können auch
Logikbauelemente in selbstisolierender Weise integriert sein. Bei
einem n-leitenden MOSFET werden hierzu p-dotierte Wannen ausgehend
von einer der Seiten in den Halbleiterchip eingebracht, wobei in
diesen p-dotierten
Wannen die Logikbauelemente realisierbar sind.
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Das
Low-Side-Bauelement bzw. der Low-Side-Schalter, der in bekannter
Weise ebenfalls eine Stromregelfunktion erfüllen kann, wird vorzugsweise in
BCD-Technologie realisiert. Bei dieser Technologie werden beispielsweise
in einem p-dotierten Substrat ausgehend von einer der Seiten n-dotierte
Wannen erzeugt, in denen die einzelnen Bauelemente realisiert werden.
Während
des Betriebs der Schaltung wird das p-Substrat auf das negativste
in der Schaltung vorkommende Potential gelegt, um die Bauelemente
in verschiedenen n-dotierten Wannen gegeneinander zu isolieren.
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Bei
einer Ausführungsform
der Erfindung ist vorgesehen, dass mehrere erste Halbleiterschalter, die
jeweils in dem ersten Halbleiterchip integriert sind, und mehrere
zweite Halbleiterschalter, die jeweils in dem zweiten Halbleiterchip
integ riert sind, vorhanden sind. Auf diese Weise kann eine kostengünstige mehrkanalige
Ansteuerschaltung realisiert werden.
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Bei
einer Ausführungsform
mit wenigstens zwei Kanälen,
bei der also wenigstens zwei erste Halbleiterschalter und wenigstens
zwei zweite Halbleiterschalter vorhanden sind, ist vorgesehen, dass wenigstens
einer der ersten Halbleiterschalter und wenigstens ein anderer der
ersten Halbleiterschalter in unterschiedlichen Halbleiterchips integriert
sind, die in dem gemeinsamen Gehäuse
zusammen mit dem zweiten Halbleiterchip integriert sind. Unter der Annahme,
dass die in dem zweiten Halbleiterchip integrierten zweiten Halbleiterschalter
Low-Side-Schalter
sind, die bei Betrieb der Schaltung zwischen einem jeweiligen Zündelement
und Bezugspotential liegen, besteht bei einer solchen Ausführungsform
die Möglichkeit,
zwei verschiedene Versorgungspotentiale für die einzelnen Zündelemente
vorzusehen, nämlich
ein erstes Versorgungspotential für einen ersten Kanal mit dem
einen der ersten Halbleiterschalter und ein zweites Versorgungspotential
für einen
zweiten Kanal mit dem anderen der ersten Halbleiterschalter.
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Vorzugsweise
ist der wenigstens eine erste Halbleiterchip auf eine erste elektrisch
leitende Trägerplatte
und der zweite Halbleiterchip auf eine zweite elektrisch leitende
Trägerplatte
aufgebracht, wobei die elektrisch leitenden Trägerplatten beabstandet zueinander
auf einer elektrisch isolierenden Platte angeordnet sind. Beinhaltet
der wenigstens eine erste Halbleiterchip einen vertikalen Leistungs-MOSFET,
besteht bei dieser Ausführungsform
die Möglichkeit,
die Rückseite
dieses ersten Halbleiterchips elektrisch leitend auf die Trägerplatte
aufzubringen, so dass die Trägerplatte
eine Kontaktierung des Drain-Anschlusses des oder der in dem ersten
Halbleiterchip integrierten Leistungs-MOSFET ermöglicht. Ist der zweite Halbleiterchip
in BCD-Technologie realisiert, bei der das Halbleitersubstrat auch während des
Betriebs auf dem negativsten in der Schaltung vorkommenden Potential
liegen muss, so kann bei dieser Ausführungsform dieses Halblei tersubstrat über die
zweite Trägerplatte
auf einfache Weise auf Bezugspotential gelegt werden, um dieses Erfordernis
zu erfüllen.
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Zum
Schutz vor äußeren Einflüssen ist
die Anordnung mit den Halbleiterchips und den Trägerplatten von einem elektrisch
isolierenden Gehäuse umgeben,
aus dem lediglich Anschlüsse
zum Anschließen
eines oder mehrerer Zündelemente
und Anschlüsse
für Signaleingänge oder
Signalausgänge herausragen.
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Vorzugsweise
umfasst die Ansteuerschaltung eine auf einem der Halbleiterchips
integrierte Schnittstellenschaltung zur Zuführung eines Ansteuersignals
für die
Halbleiterschalter. Diese Schnittstelenschaltung ist insbesondere
als Seriell-Parallel-Schnittstelle
(SPI = Serial-Parallel-Interface) ausgebildet, die aus einem seriellen
Ansteuersignal mehrere parallele Ansteuersignale für die Halbleiterschalter
bereitstellt, und zwar sowohl für
die Halbleiterschalter, die sich auf dem selben Halbleiterchip wie
die Schnittstellenschaltung befinden, als auch für die Halbleiterschalter, die
sich auf dem anderen Halbleiterchip oder den anderen Halbleiterchips
befinden. Diese Ausführungsform
bieten den Vorteil, dass das Gehäuse
der Ansteuerschaltung nur einen Eingang zur Zuführung eines Ansteuersignals
aufweisen muss, während
die Zuführung
der Ansteuersignale zu den einzelnen Halbleiterschaltern gehäuseintern erfolgt.
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Aus
Sicherheitsgründen
ist bei einer Ausführungsform
vorgesehen, dass dem wenigstens einen anderen Halbleiterchip, auf
dem die Schnittstellenschaltung nicht angeordnet ist, ein Freigabesignal
für die
auf diesem Halbleiterchip angeordneten Halbleiterschalter zugeführt ist.
Auf diesem Halbleiterchip sind dabei Logikbauelemente vorgesehen,
die die von der Schnittstellenschaltung gelieferten Ansteuersignale
für die
auf dem Chip angeordneten Halbleiterschalter und das Freigabesignal
miteinander verknüpfen,
und die sicherstellen, dass eine Ansteuerung der Halbleiterschalter
auf diesem Chip nur erfolgen kann, wenn das Freigabesignal einen
vorgegebenen Pegel aufweist.
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Bei
einer weiteren Ausführungsform
der Erfindung ist vorgesehen, dass in Reihe zu dem wenigstens einen
ersten Halbleiterschalter eine Diode geschaltet ist, die im Betrieb
der Ansteuerschaltung einen Strom von dem Zündelement in Richtung der Spannungsversorgung
verhindert. Diese Diode ist in einem dritten Halbleiterchip integriert,
der in dem gemeinsamen Gehäuse
mit dem wenigstens einen ersten Halbleiterchip und dem zweiten Halbleiterchip
untergebracht ist. Bei einer Ausführungsform ist dabei vorgesehen,
dass der wenigstens eine erste Halbleiterchip und der dritte Halbleiterchip
auf eine gemeinsame Leiterplatte aufgebracht sind, die den wenigstens
einen ersten Halbleiterschalter und die Diode elektrisch leitend
miteinander verbindet. In diesem Fall sind der wenigstens eine erste
Halbleiterschalter und die Diode als vertikale Bauelemente ausgebildet, also
als Bauelemente, bei denen eine Seite des Halbleiterchips, in dem
die Bauelemente integriert sind, einen Bauelementanschluss bildet,
wobei die Chips mit dieser Seite auf den leitenden Träger aufgebracht sind.
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Die
vorliegende Erfindung wird nachfolgend in Ausführungsbeispielen anhand von
Figuren näher erläutert.
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1 zeigt
eine Ansteuerschaltung nach dem Stand der Technik, die zwei identisch
aufgebaute kreuzverkoppelte Schaltungskomponenten umfasst.
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2 zeigt
ein erstes Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Ansteuerschaltung
auf Schaltungsebene.
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3 zeigt
ein zweites Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Ansteuerschaltung
auf Schaltungsebene.
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4 zeigt
eine Draufsicht auf ein Schaltungsmodul mit zwei Halbleiterchips,
in denen eine Schaltung gemäß 3 integriert
ist.
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5 zeigt
das Modul gemäß 4 in
Seitenansicht.
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6 zeigt
eine Abwandlung der in 3 dargestellten Schaltung auf
Schaltungsebene.
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7 zeigt
eine Draufsicht auf ein Halbleitermodul mit zwei Halbleiterchips,
in dem die Schaltung gemäß 6 integriert
ist.
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8 zeigt
eine Weiterbildung der Schaltung gemäß 2, die zusätzlich eine
Verpolschutzdiode umfasst.
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9 zeigt
eine Weiterbildung der Schaltung gemäß 3 mit Verpolschutzdiode.
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10 zeigt
in Draufsicht auf ein Halbleitermodul mit drei Halbleiterchips,
in dem eine Ansteuerschaltung gemäß 9 integriert
ist.
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11 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel
eines Halbleitermoduls in Draufsicht, in dem eine Schaltung gemäß 3 integriert
ist.
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12 zeigt
ein Beispiel einer Schaltungsanordnung in BCD-Technologie.
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13 zeigt
ein Ausführungsbeispiel
eines Halbleiterchips mit einem vertikalen Leistungs-MOSFET und
einer auf dem Chip angeordneten Logikschaltung.
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14 zeigt eine Draufsicht auf ein Halbleitermodul,
bei dem beide Halbleiterchips in BCD-Technologie ausgeführt sind.
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In
den Figuren bezeichnen, sofern nicht anders angegeben, gleiche Bezugszeichen
gleiche Teile mit gleicher Bedeutung.
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1 zeigt
auf Schaltungsebene ein Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Ansteuerschaltung,
die einen im Betrieb als High-Side-Schalter dienenden ersten Halbleiterbauelement bzw.
Halbleiterschalter HS und einen im Betrieb als Low-Side-Schalter dienenden
zweiten Halbleiterbauelement bzw. Halbleiterschalter LS umfasst.
Die Halbleiterschalter HS, LS sind jeweils als Transistoren, in
dem Beispiel als n-Kanal-MOSFET ausgebildet, deren Drain- und Source-Anschlüsse die
Lastanschlüsse
der Halbleiterschalter HS, LS und deren Gate-Anschlüsse die Ansteueranschlüsse bilden.
Die Laststrecke D-S des ersten Halbleiterschalters HS ist zwischen
eine erste Anschlussklemme K1 zum Anschließen eines Versorgungspotentials
Vbb und eine zweite Anschlussklemme K2 zum Anschließen eines in 2 gestrichelt
dargestellten Zündelements
Z geschaltet. Die Laststrecke D-S des zweiten Halbleiterschaltelements
LS ist zwischen eine dritte Anschlussklemme K3 zum Anschließen des
Zündelements
Z und eine vierte Anschlussklemme K4 zum Anschließen an ein
negatives Versorgungspotential bzw. Bezugspotential GND geschaltet.
Die beiden Halbleiterschalter HS, LS sind in unterschiedlichen, in 2 strichpunktiert
dargestellten Halbleiterchips IC1, IC2 integriert, wobei die beiden
Halbleiterchip IC1, IC2 in einem gemeinsamen Gehäuse PA untergebracht sind,
das in 2 gestrichelt dargestellt ist. Zur Ansteuerung
der Halbleiterschalter HS, LS sind jeweils Steuerschaltungen 1, 2 vorgesehen,
die die Halbleiterschalter HS, LS jeweils nach Maßgabe von Ansteuersignalen
S1, S2 ansteuern, um hierdurch das Zündelement Z zünden zu
können.
Die Erzeugung der Ansteuersignale S1, S2 kann auf beliebige Weise
erzeugt werden. Bei dem Ausführungsbeispiel in 2 sind
die Ansteuersignale S1, S2 den Steuerschaltungen 1, 2 jeweils
von außen
zugeführt.
In einer in 2 nicht näher dargestellten, nachfolgend jedoch
noch erläuterten
Weise besteht auch die Möglichkeit,
ein oder mehrere Ansteuer signale für die beiden Halbleiterschalter
nur einer Steuerschaltung auf einem Chip IC1 oder IC2 zuzuführen und
das Ansteuersignal für
den Halbleiterschalter auf dem jeweils anderen Chip gehäuseintern,
beispielsweise über Bonddrähte, weiterzuleiten.
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Die
Funktion des High-Side-Schalters HS und des Low-Side-Schalters LS kann über eine
bloße Schalterfunktion
hinausgehen. So können
sowohl der High-Side-Schalter HS als auch der Low-Side-Schalter
LS Bestandteil einer für
diesen Anwendungszeck grundsätzlich
bekannten, und daher nicht näher
dargestellten Stromregelanordnung sein, die zur Ansteuerung des
Zündelements
Z den das Zündelements
Z durchfließenden
Strom auf einen spezifizierten, für ein Zünden des Zündelements Z erforderlichen
Strom regelt. Zur Regelung dieses Stromes wird der Laststrom durch
den jeweiligen Transistor HS, LS ermittelt und der Ansteuerschaltung 1, 2 zugeführt, was
in 2 gestrichelt dargestellt ist. Die Stromerfassung
kann dabei auf beliebige Weise, insbesondere unter Verwendung eines
nicht näher
dargestellten Strommesstransistors (Sense-Transistor) erfolgen.
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Der
Vorteil einer Integration der beiden Halbleiterschalter HS, LS auf
unterschiedlichen Halbleiterchips IC1, IC2 besteht darin, dass durch
die Trennung der integrierten Schaltungen eine erhöhte Zuverlässigkeit
erreicht wird. Außerdem
besteht die Möglichkeit,
die Halbleiterschalter HS, LS in unterschiedlichen Halbleitertechnologien
zu realisieren, um dadurch den unterschiedlichen Anforderungen an den
High-Side-Schalter
HS und den Low-Side-Schalter LS während des Betriebs gerecht
zu werden. So besteht beispielsweise die Möglichkeit, den High-Side-Schalter
in hinlänglich
bekannter Weise als vertikalen Leistungs-MOSFET zu realisieren,
wobei auf demselben Chip die Steuerschaltung 1 integriert
werden kann. Selbstverständlich
besteht auch die Möglichkeit
die Steuerschaltung 1 in einem separaten Chip zu integrieren
und diese in Chip-On-Technologie auf den Halbleiterchip mit dem Leistungs-MOSFET
aufzubringen. Der Low-Side-Schalter LS wird vorzugsweise in der
hinlänglich
bekannten BCD-Technologie realisiert, wobei in diesem Fall ebenfalls
die Möglichkeit
besteht, den Leistungs-MOSFET und Logikbauelemente auf einem gemeinsamen
Chip zu integrieren.
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12 zeigt
schematisch einen Halbleiterchip mit Schaltungskomponenten, die
in BCD-Technologie realisiert sind. Der Chip umfasst einen Halbleiterkörper 300 der
eine p-Grunddotierung
aufweist. Ausgehend von einer Vorderseite 310 sind in diesen Halbleiterkörper 300 n-dotierte
Wannen 301 eingebracht, in denen sowohl laterale Logikbauelemente als
auch laterale und vertikale Leistungsbauelemente realisierbar sind.
Als Beispiel zeigt 12 einen lateralen MOS-Transistor, der in
einer der n-dotierten Wannen 301 ausgebildet ist. Dieser
Transistor umfasst eine p-dotierte Body-Zone 302, in der
eine n-dotierte Source-Zone 304 angeordnet ist, die durch
einen Source-Anschluss kontaktiert ist. Beabstandet zu der Source-Zone
ist eine n-dotierte Drain-Zone 303 in der n-Wanne 301 angeordnet.
Isoliert gegenüber
dem Halbleiterkörper 300 und
benachbart zu der Body-Zone 302 ist eine Gate-Elektrode 305 zur
Steuerung eines Kanals zwischen der Source-Zone 304 und der die Drift-Zone
des Bauelements bildenden Wanne 301 vorhanden. Bei einem
nicht näher
dargestellten vertikalen Leistungsbauelement in BCD-Technologie
wird eine der Anschlusszonen, beispielsweise eine Drain-Zone bei
einem MOSFET durch eine vergrabene Halbleiterschicht gebildet, die an
einer Stelle an die Vorderseite geführt ist.
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In
entsprechender Weise können
in den n-dotierten Wannen beliebige Bipolar-Schaltungsstrukturen,
CMOS-Schaltungsstrukturen
oder DMOS-Schaltungsstrukturen realisiert werden.
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13 zeigt
schematisch einen Halbleiterchip mit einem vertikalen Leistungs-MOSFET
und auf dem Chip integrierte Logikbauelemente. Der Chip umfasst
einen Halbleiterkörper 400 mit
einem Halbleitersubstrat 401 und einer darauf aufgebrachten schwächer dotierten
Halbleiterschicht 402. In diese Halbleiterschicht 402 sind
ausgehend von einer Vorderseite Body-Zonen 403 eines zu der Halbleiterschicht 402 komplementären Leitungstyps
eingebracht sind. Bei einem n-leitenden MOSFET sind das Substrat 401 und
die Halbleiterschicht 402 n-leitend, während die Body-Zonen 403 p-leitend
sind. In diese Body-Zonen 403 sind komplementär zu den
Body-Zonen 403 dotierte Source-Zonen 404 eingebracht,
die durch eine Source-Elektrode 424 kontaktiert
sind. Isoliert gegenüber
dem Halbleiterkörper 400 sind
Gate-Elektroden 406 vorhanden, die benachbart zu den Body-Zonen 403 angeordnet
sind, um in den Body-Zonen 403 einen leitenden Kanal zwischen
den Source-Zonen 404 und der die Driftstrecke des Bauelements
bildenden Halbleiterschicht 402 zu steuern. Bei leitend
angesteuerter Gate-Elektrode 406 fließt bei dem
Bauelement ein Strom im Wesentlichen in vertikaler Richtung, wobei
das Halbleitersubstrat 401 den Drain-Anschluss des Bauelements
bildet. Das Bauelement ist zellenartig aufgebaut und umfasst eine
Vielzahl gleichartig aufgebauter und parallel geschalteter Transistorzellen.
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Beabstandet
zu dem Zellenfeld sind in dem Halbleiterchip Logikbauelemente integriert,
die in komplementär
zu der Halbleiterschicht 402 dotierten Wannen 410 angeordnet
sind. 13 zeigt beispielhaft zwei in
einer solchen Wanne 410 integrierte komplementäre Transistoren.
Ein erster Transistor umfasst in lateraler Richtung beabstandet
zueinander angeordnete Drain- und Source-Zonen 414, 415,
die komplementär
zu der Wanne 410 dotiert sind. Ein leitender Kanal zwischen
Source-Zone und
Drain-Zone 415, 414, wird durch eine oberhalb
des Halbleiterkörpers
angeordnete Gate-Elektrode 430 gesteuert.
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Ein
weiterer Transistor ist in einer komplementär zu der Wanne 410 dotierten
Wanne 411 angeordnet, wobei dieser Transistor komplementär zu den
Source- und Drain-Zonen des ersten Transistors Source- und Drain-Zonen 413, 412 aufweist,
die in lateraler Richtung beabstandet zueinander angeordnet sind.
Ein leitender Kanal zwischen diesen Source- und Drain-Zonen 413, 412 wird
durch eine Gate-Elektrode 431 gesteuert.
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In
entsprechender Weise sind beliebig weitere Bipolar- oder CMOS-Strukturen
auf diesem Halbleiterchip zur Erzeugung einer Logikstruktur integrierbar.
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3 zeigt
ein weiteres Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Ansteuerschaltung,
die in dem Beispiel als zweikanalige Schaltung realisiert ist, die
also zwei erste Halbleiterschalter HS1, HS2 in einem ersten Halbleiterchip
IC1 und zwei zweite Halbleiterschalter LS1, LS2 in einem zweiten
Halbleiterchip IC2 aufweist. Auch bei diesem Ausführungsbeispiel
sind die Halbleiterschalter HS1, HS2, LS1, LS2 als n-Kanal-MOSFET ausgebildet.
Die Drain-Source-Strecken der als High-Side-Schalter eingesetzten ersten
Halbleiterschalter HS1, HS2 sind zwischen eine erste Anschlussklemme
K1, an die die Drain-Anschlüsse
der MOSFET HS1, HS2 gemeinsam angeschlossen sind, und zwischen jeweils
einen von zwei zweiten Anschlussklemmen K21, K22 geschaltet, wobei
der Source-Anschluss
je eines der Halbleiterschalter HS1, HS2 an einen dieser Anschlüsse K21, K22
angeschlossen ist. Diese Anschlüsse
K21, K22 dienen zum Anschließen
von Zündelementen
Z1, Z2, die in 3 gestrichelt dargestellt sind.
Die Drain-Source-Strecken
der Low-Side-MOSFET LS1, LS2 sind zwischen eine vierte Anschlussklemme
K4 und je einen von zwei dritten Anschlussklemmen K31, K32 geschaltet,
wobei die Drain-Anschlüsse D der
MOSFET LS1, LS2 jeweils an einen der dritten Anschlüsse K31,
K32 angeschlossen sind. Diese dritten Anschlüsse K31, K32 dienen zum Anschließen der
Zündelemente
Z1, Z2 derart, dass jeweils ein Zündelement in Reihe zu einem
der ersten Halbleiterschalter HS1, HS2 und einem der zweiten Halbleiterschalter
LS1, LS2 geschaltet ist. Wie in 3 schematisch
dargestellt ist, sind die erste und vierte Anschlussklemme K1, K4
zum Anschließen
eines Versorgungspotentials bzw. Bezugspotentials und die zweiten
und dritten An schlussklemmen K21, K22, K31, K32 zum Anschließen der
Zündelemente
Z1, Z2, aus einem gestrichelt dargestellten Gehäuse PA, das die beiden Halbleiterchips
IC1, IC2 umgibt, herausgeführt.
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Zur
Ansteuerung der einzelnen Halbleiterschalter HS1, HS2, LS1, LS2
sind jeweils Steuerschaltungen 10, 20 auf den
Halbleiterchips IC1, IC2 vorgesehen. Die Steuerschaltung 20 auf
dem zweiten Halbleiterchip IC2 umfasst dabei eine Schnittstellenschaltung 24,
die eingangsseitig an einen aus dem Gehäuse PA herausgeführten Eingangsanschluss
IN2 zum Zuführen
eines Ansteuersignals Sin2 angeschlossen ist. Diese Schnittstellenschaltung 24 ist
als Seriell-Parallel-Schnittstelle (SPI) ausgebildet, die dazu dient,
ein Ansteuersignal Sin2, das die Ansteuerinformationen für die einzelnen
Halbleiterschalter HS1, HS2, LS1, LS2 in seriell kodierter Weise
umfasst, in parallele Ansteuersignale S11, S12, S21, S22 für die einzelnen
Halbleiterschalter HS1, HS2, LS1, LS2 umzusetzen. Derartige SPI-Schnittstellen
sind hinlänglich
bekannt, so dass es diesbezüglich
keiner weiteren Ausführungen
bedarf. Die Schnittstellenschaltung 24 stellt sowohl Ansteuersignale
S21, S22 für
die Low-Side-Schalter LS1, LS2 auf dem selben Chip IC2 als auch
Ansteuersignale S11, S12 für
die High-Side-Schalter
HS1, HS2 auf dem anderen Chip IC1 zur Verfügung, wobei die letzteren Ansteuersignale
S11, S12 gehäuseintern
zu dem Chip IC1 übertragen
werden, wie nachfolgend anhand von 4 noch erläutert werden wird.
Zur Übertragung
dieser Signale weisen der Chip IC2 mit der Schnittstellenschaltung 24 und
der andere Chip IC1 Anschlüsse 201, 202, 101, 102 auf, über die
ein Signalaustausch zwischen den beiden Chips IC1, IC2 stattfinden
kann.
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Zur
Umsetzung der von der Schnittstellenschaltung 24 gelieferten
Ansteuersignale S21, S22, S11, S12 auf für die Ansteuerung der jeweiligen
Halbleiterschalter LS1, LS2, HS1, HS2 geeignete Pegel sind jeweils
Treiberschaltungen 21, 22, 11, 12 vorgesehen,
die den Ansteueranschlüssen
G der Halbleiterschalter HS1, HS2, LS1, LS2 vorgeschaltet sind.
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4 zeigt
eine Draufsicht auf ein Halbleitermodul mit zwei Halbleiterchips
IC1, IC2, in dem eine Ansteuerschaltung gemäß 3 integriert
ist. Zum besseren Verständnis
tragen dabei gleiche Funktionselemente gleiche Bezugszeichen. 5 zeigt das
Halbleitermodul gemäß 4 in
Seitenansicht.
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Die
beiden Halbleiterchips IC1, IC2 sind jeweils mit Ihrer Rückseite
auf einen elektrisch leitenden Träger bzw. Leadframe aufgebracht,
wobei diese Träger
LF1, LF2 auf einer elektrisch isolierenden Trägerplatte TR, beispielsweise
einem Keramiksubstrat angeordnet sein kann, das in den 4 und
strichpunktiert dargestellt ist. Die Anordnung mit dem elektrisch
isolierenden Träger
TR und den elektrisch leitenden Trägers LF1, LF2 kann dann als
sogenanntes DCB-Substrat (DCB = Direct-Copper-Bonding) ausgebildet
sein.
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Bei
dem Halbleitermodul gemäß der 4 und 5 sind
die ersten Halbleiterschalter (HS1, HS2 in 3) als vertikale
Leistungs-MOSFET ausgebildet, die einen gemeinsamen Drain-Anschluss aufweisen,
der durch die Rückseite
des ersten Halbleiterchips IC1 gebildet ist. Zur Kontaktierung dieser Drain-Anschlüsse ist
ein Anschlussbein K1 vorhanden, das in dem Beispiel einstückig an
dem Leadframe LF1 angeordnet ist. Bei Verwendung eines DCB-Substrates
können
der Leadframe LF1 und das Anschlussbein K1 in nicht dargestellter
Weise auch getrennt voneinander ausgebildet und dann mittels eines
Bonddrahtes verbunden sein. Das Anschlussbein K1 ragt, wie auch
die im Folgenden noch beschriebenen Anschlussbeine aus dem Gehäuse PA heraus,
das aus einem elektrisch isolierenden Material besteht und das die
Anordnung mit den Halbleiterchips IC1, IC2 und den Leadframes LF1,
LF2 umgibt. An der dem Leadframe LF1 abgewandten Vorderseite des
ersten Halbleiterchips IC1 sind mehrere Anschlusskontakte 201–222 vorhanden,
wobei Anschlusskontakte 221, 222 zur Kontaktierung
der Sour ce-Anschlüsse
S der ersten Halbleiterschalter HS1, HS2 dienen. Diese Source-Anschlüsse sind über Bonddrähte an zwei
Anschlussbeine K21, K22 angeschlossen, die die zweiten Anschlussklemmen des
Halbleitermoduls bilden. Die weiteren Anschlussflächen 101, 102 dienen
zum Empfangen der Ansteuersignale von dem zweiten Chip IC2, wie
anhand von 3 bereits erläutert wurde.
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Der
zweite Halbleiterchip IC2 ist vorzugsweise in BCD-Technologie realisiert.
Die Rückseite
dieses Halbleiterchips IC2 ist über
den Leadframe LF2 an ein die vierte Anschlussklemme K4 repräsentierendes
Anschlussbein angeschlossen, das in dem Beispiel einstückig an
dem Leadframe angeformt ist und an welches während des Betriebs Bezugspotential
GND gelegt wird. Hierdurch ist sichergestellt, dass das Halbleitersubstrat
des zweiten Halbleiterchips IC2 stets auf dem negativsten in der
Schaltung vorkommenden Potential liegt. An der dem zweiten Leadframe
LF2 abgewandten Vorderseite des zweiten Halbleiterchips sind mehrere
Anschlussflächen vorhanden.
Anschlussflächen 131, 132 bilden
dabei Drain-Anschlüsse
der in dem Halbleiterchip IC2 integrierten MOSFET. Diese Anschlussflächen 131, 132 sind
an Anschlussbeine angeschlossen, die die dritten Anschlussklemmen
K31, K32 des Halbleitermoduls bilden.
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An
der Vorderseite des Halbleiterchips IC2 sind weiterhin Anschlussflächen 121, 122 für die Source-Anschlüsse der
MOSFET (LS1, LS2 in 3) vorhanden. Diese Source-Anschlüsse 121, 122 sind
unmittelbar auf den zweiten Leadframe LF2 gebondet, und liegen währen des
Betriebs über
die vierte Anschlussklemme K4 somit auf Bezugspotential. Weiterhin
sind Anschlussflächen 201, 202 vorhanden,
die zur Signalübertragung
der in dem zweiten Chip IC2 erzeugten Ansteuersignale S11, S12 für die Halbleiterschalter
HS1, HS2 auf dem ersten Halbleiterchip IC1 dienen. Zur Zuführung des
seriellen Ansteuersignals Sin2 ist eine weitere Anschlussfläche 130 vorhanden,
die an ein weite res Anschlussbein IN2 gekoppelt ist, das den Signaleingang
des Halbleitermoduls bildet.
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Selbstverständlich ist
die in den 3 bis 5 dargestellte
Ansteuerschaltung auf einfache Weise auf mehr als zwei Kanäle erweiterbar,
indem weitere erste und zweite Halbleiterschalter und entsprechende
Treiberschaltungen zur Verfügung
gestellt werden, und indem die Schnittstellenschaltung dazu ausgebildet
ist, eine für
die Anzahl der Halbleiterschalter entsprechende Anzahl Ansteuersignale aus
dem Eingangssignal zur Verfügung
zu stellen.
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Neben
dem zweiten Halbleiterchip IC2 kann bezugnehmend auf 14 auch der erste Halbleiterchip IC1 in
BCD-Technologie ausgebildet sein. Die Drain-Anschlüsse der
in dem Halbleiterchip IC1 ausgebildeten MOSFET sind dabei über Anschlusskontakte 231, 232 an
der Vorderseite des Halbleiterchips IC1 kontaktierbar, wobei diese
Anschlusskontakte 231, 232 in dem Beispiel über Bonddrähte an das den
gemeinsamen Drain-Anschluss
des Bauelements repräsentierende
Anschlussbein K1 angeschlossen sind. Selbstverständlich kann auch ein Anschlussbein
pro Drain-Anschluss vorgesehen werden, und abhängig vom internen Aufbau des
Chips IC1 kann als gemeinsamer Drain-Anschluss für die integrierten MOSFET gegebenenfalls
auch nur ein Anschlusskontakt vorgesehen sein.
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Der
erste Halbleiterchips IC1 ist zusammen mit dem zweiten Halbleiterchip
IC2 auf einem gemeinsamen Leadframe LF2 angeordnet. Dieser Leadframe
LF2 ist in erläuterter
Weise über
das Anschlussbein K4 an Bezugspotential GND gelegt, um sicher zu
stellen, dass die Halbleitersubstrate des ersten und zweiten Halbleiterchips
IC1, IC2 stets auf dem negativsten in der Schaltung vorkommenden Potential
liegt. Bei der zuvor erläuterten
Ansteuerschaltung werden die Ansteuersignale für alle Halbleiterschalter HS1,
HS2, LS1, LS2 durch die Schnittstellenschaltung 24 aus
dem Eingangssignal Sin2 zur Verfügung
gestellt, wobei die Ansteuersignale für die Halbleiterschalter HS1,
HS2 auf den anderen Halbleiterchip IC1 gehäuseintern über Verbindungsleitungen, insbesondere
Bonddrähte,
zwischen Anschlussflächen 201, 101 bzw. 202, 102 der
Halbleiterchips IC2, IC1 übertragen
werden.
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Aus
Sicherheitsgründen
ist bei einem in 6 dargestellten Ausführungsbeispiel
vorgesehen, dem ersten Halbleiterchip IC1, auf dem die Schnittstellenschaltung 24 nicht
angeordnet ist, ein Freigabesignal Sin1 an einer Eingangsklemme
IN1 zuzuführen,
wie nachfolgend erläutert
ist. Die übrigen Teile
der Schaltung gemäß 6 entsprechen
denen der Schaltung gemäß 3,
so dass diese zur Vermeidung von Wiederholungen nicht nochmals beschrieben
werden.
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Die
Steuerschaltung 10 auf dem ersten Halbleiterchip IC1 der
Schaltungsanordnung in 6 umfasst Verknüpfungselemente 18, 19,
mittels derer jeweils eines der von der Schnittstellenschaltung 24 gelieferten
Ansteuersignale S11, S12 und das Freigabesignal Sin1 verknüpft wird.
Die Verknüpfungselemente 18, 19 sind
dabei so ausgebildet, dass sie an ihrem Ausgang ein Signal bereitstellen,
bei dem der jeweilige erste Halbleiterschalter HS1, HS2 sperrt, wenn
das Freigabesignal Sin1 einen vorgegebenen ersten Pegel aufweist.
Weist das Freigabesignal Sin2 einen vorgegebenen zweiten Pegel auf,
der die Halbleiterschalter HS1, HS2 zur Ansteuerung freigibt, so lassen
die Verknüpfungselemente 18, 19 die
Ansteuersignale 511, S12 zur Ansteuerung der Halbleiterschalter
HS1, HS2 passieren. Als Beispiel sei angenommen, dass die ersten
Halbleiterschalter HS1, HS2 bei einem High-Pegel des Freigabesignals
Sin1 freigegeben werden und dass die High-Side-Schalter HS1, HS2
bei einem High-Pegel des Ausgangssignals der Verknüpfungsschaltungen 18, 19 bzw.
der Ansteuersignale S11, S12 leiten sollen. In diesem Fall sind
die Verknüpfungselemente 18, 19 als UND-Glieder
ausgebildet.
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7 zeigt
ein Halbleitermodul mit zwei Halbleiterchips IC1, IC2, in dem die
Schaltung gemäß 6 integriert
ist.
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Dieses
Halbleitermodul unterscheidet sich von dem in den 4 und 5 dargestellten
Halbleitermodul durch eine zusätzliche
Anschlussfläche 230 des
ersten Halbleiterchips IC1 und durch ein zusätzliches Anschlussbein IN1
zur Zuführung
des Freigabesignals Sin1, wobei dieses Anschlussbein IN1 an die
Anschlussfläche 230 angeschlossen
ist, die intern in dem Halbleiterchip IC1 an die Verknüpfungselemente
gekoppelt ist.
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Es
gibt Anwendungsschaltungen, in denen Ansteuerschaltungen für Zündelemente
eingesetzt werden und bei denen ein Stromfluss von dem Zündelement
in Richtung des Versorgungspotentials verhindert werden müssen. Da
die üblicherweise
als High-Side-Schalter
verwendeten Leistungs-MOSFET wegen des internen Kurzschlusses von
Source-Gebiet und Body-Gebiet eine integrierte Rückwärtsdiode aufweisen, können diese
High-Side-Schalter
den Stromfluss von dem Zündelement
zu dem Versorgungspotential nicht verhindern.
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Abhilfe
schafft hier eine Diode D1, die bezugnehmend auf die Ausführungsbeispiele
in den 8 und 9 zwischen die erste Anschlussklemme
K1 für
Versorgungspotential Vbb und den bzw. die ersten Halbleiterschalter
HS, HS1, HS2 geschaltet ist. Die Schaltungsanordnung gemäß 8 entspricht
im Übrigen
der Schaltungsanordnung gemäß 3 und die
Schaltungsanordnung gemäß 9 entspricht
im Übrigen
der Schaltungsanordnung gemäß 3,
so dass auf wiederholende Ausführungen
verzichtet wird.
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Die
Diode D1 ist in beiden Fällen
jeweils so geschaltet, dass deren Anodenanschluss an die erste Anschlussklemme
K1 angeschlossen ist, während der
Kathodenanschluss an dem Drain-Anschluss
des bzw. der als High-Side-Schalter dienenden Leistungs-MOSFET HS,
HS1, HS2 angeschlossen ist.
-
Die
Diode D1 ist dabei in einem dritten Leiterchip IC3 integriert, der
gemeinsam mit dem ersten Halbleiterchip IC1 und dem zweiten Halbleiterchip IC2
in dem gemeinsamen Gehäuse
PA untergebracht ist.
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10 zeigt
in Draufsicht ein Halbleitermodul mit drei Halbleiterchips IC1,
IC2, IC3, in denen die Schaltungsanordnungen gemäß 9 integriert
ist. Dieses Halbleitermodul gemäß 10 unterscheidet sich
von dem den in den 4 und 5 dargestellten
dadurch, dass der dritte Halbleiterchip IC3 vorhanden ist, der gemeinsam
mit dem ersten Halbleiterchip IC1 auf dem ersten Leadframe LF1 aufgebracht
ist. Die in dem dritten Halbleiterchip IC3 integrierte Diode D3
ist als vertikale Diode ausgebildet, wobei die dem Leadframe LF1
zugewandte Rückseite
des Halbleiterchips IC3 den Kathodenanschluss der Diode D1 bildet.
Da die Rückseite
des ersten Halbleiterchips IC1 den gemeinsamen Drain-Anschluss der
in diesem Halbleiterchip IC1 integrierten Leistungs-MOSFET bildet,
ist der Kathodenanschluss der Diode unmittelbar über den Leadframe LF1 an den
Drain-Anschluss der High-Side-MOSFET (HS1, HS2 in 9)
angeschlossen. Das die erste Anschlussklemme repräsentierende
Anschlussbein K1, an das im Betrieb das positive Versorgungspotential
Vbb angelegt wird, ist bei dem Modul gemäß 10 mit
der Vorderseite des dritten Halbleiterchips IC3 verbunden, die den
Anodenanschluss der in dem Halbleiterchip IC3 integrierten Diode
bildet. Im Übrigen
entspricht der Aufbau des Halbleitermoduls gemäß 10 dem
Aufbau des Halbleitermoduls in den 4 und 5,
so dass auf wiederholende Ausführungen
hier verzichtet wird.
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11 zeigt
eine Abwandlung des in den 4 und 5 dargestellten
Halbleitermoduls zur Realisierung einer Schaltung gemäß 3.
Dieses Halbleitermodul unterscheidet sich von dem bisher erläuterten
Halbleitermodul dadurch, dass zwei Halbleiterchips IC11, IC12, in
denen jeweils ein Teil der ersten Halbleiterschalter integriert
ist, vorhanden sind. Der zweite Halbleiterchip IC2 mit den zweiten Halbleiterschaltern
LS1, LS2 ist entsprechend der zuvor erläuterten zweiten Halbleiterchips
IC2 ausgebildet. Die in den beiden ersten Halb leiterchips IC11, IC12
integrierten Halbleiterschalter sind als vertikale Leistungs-MOSFET
ausgebildet, so dass die Drain-Anschlüsse dieser Bauelemente jeweils
durch die Rückseite
der Halbleiterchips IC11, IC12, gebildet sind, die auf elektrisch
leitende Leadframes LF11, LF12 aufgebracht sind. An den den Leadframes LF11,
LF12 abgewandten Vorderseiten der Halbleiterchips befinden sich
jeweils Source-Anschlussflächen 221, 222,
die in nicht näher
dargestellter Weise an Anschlussbeine angeschlossen sind, sowie
Anschlussflächen
zum Zuführen
der Ansteuersignale S11, S12 von dem zweiten Halbleiterchip IC2.
Der Vorteil des Aufteilens der ersten Halbleiterschalter HS1, HS2
auf zwei oder mehr Halbleiterchips IC11, IC12 besteht darin, dass
die beiden ersten Halbleiterchips IC11, IC12 mit unterschiedlichen
Versorgungspotentialen Vbb11, Vbb12 über deren Leadframes LF11,
LF12 versorgt werden können,
um auf diese Weise Laststromkreise für Zündelemente mit unterschiedlichen
Versorgungsspannungen bereitstellen zu können.
-
- D
- Drain-Anschluss
- D1
- Diode
- DH10,
DH11
- Steuerschaltungen
- DL10,
DL11
- Steuerschaltungen
- G
- Gate-Anschluss
- GND
- Bezugspotentiale
- HS1,
HS2
- erste
Halbleiterschalter, High-Side-Schalter
- HS10,
HS11
- erste
Halbleiterschalter, High-Side-Schalter
- IC1
- erster
Halbleiterchip
- IC10,
IC20
- Ansteuerschaltungen
- IC11,
IC12
- Halbleiterchips
- IC2
- zweiter
Halbleiterchip
- IC3
- dritter
Halbleiterchip
- IN1
- Freigabesignaleingang
- IN2
- Ansteuersignaleingang
- K1
- erste
Anschlussklemme
- K2,
K21, K22
- zweite
Anschlussklemmen
- K3,
K31, K32
- dritte
Anschlussklemmen
- K4
- vierte
Anschlussklemme
- LF1,
LF2
- elektrisch
leitende Träger, Leadframes
- LF11,
LF12
- Leadframes
- LS1,
LS2
- zweite
Halbleiterschalter, Low-Side-Schalter
- LS10,
LS11
- zweite
Halbleiterschalter, Low-Side-Schalter
- PA
- Gehäuse
- S
- Source-Anschluss
- S1,
S2
- Ansteuersignale
- S11,
S12
- Ansteuersignale
- S21,
S22
- Ansteuersignale
- Sin1
- Freigabesignal
- Sin2
- Ansteuersignal
- TR
- elektrisch
isolierende Träger
- Vbb,
Vbb11, Vbb12
- Versorgungspotentiale
- Z1,
Z2
- Zündelemente
- Z10,
Z20
- Zündelemente
- 130–132
- Anschlussflächen
- 1,
2
- Steuerschaltungen
- 11,
12
- Treiberschaltungen
- 24
- Schnittstellenschaltung
- 10,
20
- Steuerschaltungen
- 18,
19
- Verknüpfungselemente
- 21,
22
- Treiberschaltungen
- 101,
102
- Anschlussflächen
- 101,
102
- Signal-Anschlussklemmen
- 230
- Anschlussfläche
- 121,
122
- Anschlussflächen
- 121,
222
- Anschlussflächen
- 201,
202
- Anschlussflächen
- 201,
202
- Signal-Anschlussklemmen