DE10334761B4 - Elektronische Schaltungsvorrichtung - Google Patents
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Abstract
Elektronische
Schaltungsvorrichtung mit
einem elektronischen Schaltungselement (1),
einem Substrat (2) mit einer vorderen Oberfläche, auf der das elektronische Schaltungselement (1) montiert ist, und einer der vorderen Oberfläche in der Richtung der Dicke des Substrats (2) gegenüberliegenden hinteren Oberfläche,
einem elektrisch mit dem elektronischen Schaltungselement (1) verbundenen, elektrisch leitfähigen Anschlußelement (4),
einem Leiterrahmen (3), der sich senkrecht zur Richtung der Dicke erstreckt und auf der hinteren Oberfläche liegt, und
einem Abdichtharz (6), das das elektronische Schaltungselement (1), das Substrat (2) und den Leiterrahmen (3) zumindest teilweise bedeckt, während zumindest ein Teil des elektrisch leitfähigen Anschlußelements (4) nicht von dem Abdichtharz bedeckt ist,
wobei
ein Hauptbestandteil des Substrats (2) Keramik ist,
das Substrat (2) in einer ersten in der Substratebene liegenden und sich parallel zur Längsrichtung zumindest eines Teils des elektrisch leitfähigen Anschlußelements (5) erstreckenden Richtung ein Ende (8) des Leiterrahmens (3) überragt, wobei...
einem elektronischen Schaltungselement (1),
einem Substrat (2) mit einer vorderen Oberfläche, auf der das elektronische Schaltungselement (1) montiert ist, und einer der vorderen Oberfläche in der Richtung der Dicke des Substrats (2) gegenüberliegenden hinteren Oberfläche,
einem elektrisch mit dem elektronischen Schaltungselement (1) verbundenen, elektrisch leitfähigen Anschlußelement (4),
einem Leiterrahmen (3), der sich senkrecht zur Richtung der Dicke erstreckt und auf der hinteren Oberfläche liegt, und
einem Abdichtharz (6), das das elektronische Schaltungselement (1), das Substrat (2) und den Leiterrahmen (3) zumindest teilweise bedeckt, während zumindest ein Teil des elektrisch leitfähigen Anschlußelements (4) nicht von dem Abdichtharz bedeckt ist,
wobei
ein Hauptbestandteil des Substrats (2) Keramik ist,
das Substrat (2) in einer ersten in der Substratebene liegenden und sich parallel zur Längsrichtung zumindest eines Teils des elektrisch leitfähigen Anschlußelements (5) erstreckenden Richtung ein Ende (8) des Leiterrahmens (3) überragt, wobei...
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine elektronische Schaltungsvorrichtung mit einem elektronischen Schaltungselement, einem Substrat mit einer vorderen Oberfläche, auf der das elektronische Schaltungselement montiert ist, und einer der vorderen Oberfläche in der Richtung der Dicke des Substrats gegenüberliegenden hinteren Oberfläche, einem elektrisch leitfähigen Anschlußelement, das elektrisch mit dem elektronischen Schaltungselement verbunden ist, einem Leiterrahmen, der sich senkrecht zur Richtung der Dicke erstreckt, so daß er der hinteren Oberfläche in der Richtung der Dicke zugewandt ist, und einem abdichtenden Harz, das das elektronische Schaltungselement, das Substrat und den Leiterrahmen zumindest teilweise bedeckt, zumindest ein Teil des elektrisch leitfähigen Anschlußelements nicht von dem abdichtenden Harz bedeckt ist.
- Bei einer elektronischen Schaltungsvorrichtung, wie in „Effect of Lead Frame Material an Plastic-Encapsulated IC Package Cracking Under Temperature Cycling" (Autoren: Asao Nishimura, Sueo Kawai und Gen Murakami, enthalten in „IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, HYBRIDS, AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, Bd. 12, Nr. 4, Seiten 639–645, veröffentlicht im Dezember 1989), der
JP-A-9-232341 JP-A-2000-183241 - Aus der
US 2002/0192488 A1 ist ein Kompositbauteil für eine Halbleitervorrichtung und isolierte und nicht isolierte Halbleitervorrichtungen mit diesem Bauteil bekannt. Ein keramisches isolierendes Substrat und ein Halbleiterelementsubstrat sind zu einem Kompositmaterialbauteil verlötet. Das keramische isolierende Substrat weist mehrere Kupferplattierungen auf, die auf einem AlN-Sinterkörper auf beiden Oberflächen angebracht sind. Ein isoliertes Halbleiterbauteil hat auf einem Trägerbauteil aus Aluminium ein Aluminiumoxidsubstrat, auf dem sich Schaltungskomponenten befinden. Das Trägerbauteil überragt das Aluminiumoxidsubstrat in alle Richtungen. - Aus der
US 6,396,138 B1 ist eine Chipanordnung mit zweiseitiger Kühlung bekannt. Eine Halbleitervorrichtung weist ein Substrat mit einem Verbindungsbereich darauf auf. Ein Rohling weist eine untere Oberfläche auf, die sich auf einem zweiten Bereich der Fläche des Substrats befindet. Die obere Oberfläche des Rohlings weist eine Metallschicht und Halbleiterelemente unter der Metallschicht auf. - Es ist eine Aufgabe der Erfindung, eine elektronische Schaltungsvorrichtung zu schaffen, bei der ein Bruch zwischen einem Harz und einem Leiterrahmen und/oder ein Riß in dem Harz an einem Ende des Leiterrahmens unterdrückt werden.
- Bei einer elektronischen Schaltungsvorrichtung mit einem elektronischen Schaltungselement, einem Substrat mit einer vorderen Oberfläche, auf der das elektronische Schaltungselement montiert ist, und einer der vorderen Oberfläche in der Richtung der Dicke des Substrats gegenüberliegenden hinteren Oberfläche, einem elektrisch mit dem elektronischen Schaltungselement verbundenen, elektrisch leitfähigen Anschlußelement, einem Leiterrahmen, der sich senkrecht zur Richtung der Dicke erstreckt, so daß er der hinteren Oberfläche in der Richtung der Dicke über einen Klebstoff gegenüberliegt, und einem Abdichtharz, das das elektronische Schaltungselement, das Substrat und den Leiterrahmen zumindest teilweise bedeckt, während zumindest ein Teils des elektrisch leitfähigen Anschlußelements nicht mit dem Abdichtharz, erstreckt sich gemäß einer Schnittansicht entlang einer imaginären Ebene, die durch das Substrat und den Leiterrahmen verläuft und sich parallel zur Richtung der Dicke erstreckt, das Substrat erfindungsgemäß so, daß es in bezug auf ein Ende des Leiterrahmens in einer zur Richtung der Dicke senkrechten Querrichtung nach außen ragt, wobei das Ende des Leiterrahmens von dem Abdichtharz bedeckt ist.
- Da sich das Substrat so erstreckt, daß es in bezug auf ein Ende des Leiterrahmens in einer zur Richtung der Dicke senkrechten Querrichtung nach außen ragt, wobei das Ende des Leiterrahmens von dem Abdichtharz bedeckt ist, wird die Konzentration von Scherbelastungen zwischen dem Harz und dem Leiterrahmen am Ende des Leiterrahmens so verringert, daß das Auftreten eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen und dem Harz und/oder eines Sprungs des Harzes am Ende des Leiterrahmens unterdrückt werden.
- Das vorstehend genannte, unverwechselbare Merkmal ist besonders wirkungsvoll zur Unterdrückung des Auftretens eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen und dem Harz und/oder eines Sprungs des Harzes am Ende des Leiterrahmens, wenn der lineare Ausdehnungskoeffizient des Leiterrahmens in Querrichtung kleiner als der lineare Ausdehnungskoeffizient des Abdichtharzes ist, die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Substrats und des Leiterrahmens in Querrichtung kleiner als die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Abdichtharzes und des Leiterrahmens in Querrichtung ist, die elektronische Schaltungsvorrichtung ferner einen Harzklebstoff enthält, mit dem der Leiterrahmen an die hintere Oberfläche geklebt ist, die Erzeugung des Leiterrahmens auf dem Substrat durch einen Abscheidungsprozeß auf der hinteren Oberfläche verhindert wird (wobei der Abscheidungsprozeß zumindest entweder ein Sputtern oder ein Galvanisieren einschließt), das Ende des Leiterrahmens durch einen Scherprozeß erzeugt wird und/oder das Ende des Leiterrahmens durch einen Ätzprozeß erzeugt wird.
- Das vorstehend beschriebene, unverwechselbare strukturelle Merkmal ist vorzugsweise anwendbar, wenn sich die imaginäre Ebene parallel zur Längsrichtung des Teils des elektrisch leitfähigen Anschlußelements erstreckt, die elektronische Schaltungsvorrichtung mehrere elektrisch leitfähige Anschlußelemente aufweist, die in der Richtung der Anordnung der elektrisch leitfähigen Anschlußelemente nebeneinandergesetzt sind, und die imaginäre Ebene sich senkrecht zur Richtung der Anordnung der elektrisch leitfähigen Anschlußele mente erstreckt und/oder der Leiterrahmen einstückig ausgebildet ist (so daß die elektronische Schaltungsvorrichtung einen einzigen Leiterrahmen umfaßt, die Abdeckung eines Teils des einstückigen Leiterrahmens mit dem Abdichtharz verhindert wird, wodurch er in einer zur Richtung der Dicke und zur Querrichtung senkrechten Vorstehrichtung aus dem Abdichtharz ragt, und sich die imaginäre Ebene senkrecht zur Vorstehrichtung erstreckt (in diesem Fall kann der Leiterrahmen eine Oberfläche aufweisen, die der hinteren Oberfläche in der Richtung der Dicke zugewandt und nicht mit dem Abdichtharz bedeckt ist, so daß sie in der Vorstehrichtung aus dem Abdichtharz ragt).
- Vorzugsweise erstreckt sich das Substrat gemäß der Schnittansicht so, daß es in bezug auf das dem Ende des Leiterrahmens in der Querrichtung gegenüberliegende andere Ende des Leiterrahmens in der Querrichtung nach außen ragt, wenn das andere Ende des Leiterrahmens mit dem Abdichtharz bedeckt ist. Vorzugsweise ist ein Teil des Leiterrahmens nicht mit dem Abdichtharz bedeckt, so daß es in einer zur Richtung der Dicke und zur Querrichtung senkrechten Vorstehrichtung aus dem Abdeckharz ragt, und die Breite zwischen dem anderen Ende und dem einen Ende ist gemäß einer senkrechten Schnittansicht kleiner als die Breite des Teils des Leiterrahmens in der Querrichtung. Zum sicheren Verhindern des Auftretens eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen und dem Harz und/oder eines Springens des Harzes am Ende des Leiterrahmens ist die Breite des Leiterrahmens zwischen dem anderen Ende und dem einen Ende in der Schnittansicht nicht größer als 80% der Breite des Substrats.
- Das vorstehend beschriebene, unverwechselbare strukturelle Merkmal ist vorzugsweise anwendbar, wenn das elektronische Schaltungselement einen Halbleiterkörper enthält, dessen Hauptkompo nente ein Halbleiter ist, und der Halbleiterkörper und der Leiterrahmen einander in der Richtung der Dicke gesehen überlappen. Hierbei kann das elektronische Schaltungselement zumindest entweder eine Zentraleinheit oder einen Leistungstransistor umfassen, und/oder der gesamte Halbleiterkörper und der Leiterrahmen können einander in der Richtung der Dicke gesehen überlappen.
- Der Leiterrahmen ist vorzugsweise nicht elektrisch mit dem elektronischen Schaltungselement verbunden, so daß keine Wärmeenergie durch elektrischen Strom erzeugt wird, der durch den Leiterrahmen fließt.
- Die vorliegende Erfindung ist insbesondere dann vorzugsweise anwendbar, wenn der Leiterrahmen metallisch ist und ein Hauptbestandteil des Substrats Keramik ist.
- Kurze Beschreibung der verschiedenen, in den Zeichnungen gezeigten Ansichten
-
1 ist eine Ansicht einer elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung von unten; -
2 ist eine vordere Schnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung entlang der Linie II-II in1 ; -
3 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der ersten Ausführungsform von oben; -
4 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der ersten Ausführungsform von vorne; -
5 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der ersten Ausführungsform von der Seite; -
6 ist ein Diagramm, das die Beziehung zwischen dem Verhältnis der Breite W1 des Leiterrahmens zur Breite W2 des Substrats und dem Verhältnis der Spannung im Harz am Ende des Leiterrahmens, die sich entsprechend einer Veränderung des Verhältnisses der Breite W1 des Leiterrahmens zur Breite W2 des Substrats verändert, zur Spannung im Harz am Ende des Leiterrahmens zeigt, die ermittelt wird, wenn die Breite W1 des Leiterrahmens mit der Breite W2 des Substrats übereinstimmt; -
7 ist eine schematische Ansicht, die die Spannungsverteilung bei einem Vergleichsbeispiel zeigt; -
8 ist eine schematische Ansicht, die die Spannungsverteilung bei einer Ausführungsform der Erfindung zeigt; -
9 ist eine Ansicht einer elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung von unten; -
10 ist eine vordere Schnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der zweiten Ausführungsform entlang der Linie X-X in9 ; -
11 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der zweiten Ausführungsform von oben; -
12 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der zweiten Ausführungsform von vorne; -
13 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der zweiten Ausführungsform von der Seite; -
14 ist eine Ansicht einer elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung von unten; -
15 ist eine vordere Schnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der dritten Ausführungsform entlang der Linie XV-XV in14 ; -
16 ist eine Ansicht einer elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß einer vierten Ausführungsform der Erfindung von unten; -
17 ist eine vordere Schnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß der vierten Ausführungsform entlang der Linie XVII-XVII in16 ; -
18 ist eine Schnittansicht eines Endes des Substrats; -
19a ist eine Schnittansicht eines durch einen Scherprozeß hergestellten Endes des Leiterrahmens; -
19b ist eine Schnittansicht eines durch einen Ätzprozeß hergestellten Endes des Leiterrahmens; -
20 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß einem Vergleichsbeispiel von oben; -
21 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß dem Vergleichsbeispiel von vorne; -
22 ist eine Teilschnittansicht der elektronischen Schaltungsvorrichtung gemäß dem Vergleichsbeispiel von der Seite. - Bei einer in den
1 –5 gezeigten ersten Ausführungsform der elektronischen Schaltungsvorrichtung ist ein Keramiksubstrat2 , auf dem elektronische Schaltungselemente1 montiert sind, mittels eines Harzklebstoffs12 an einen Leiterrahmen3 geklebt, die elektronischen Schaltungselemente1 sind über jeweilige Aluminiumdrähte5 elektrisch mit als das beanspruchte, elektrisch leitfähige Anschlußelement dienenden, metallischen Leitungen4 verbunden, und die elektronischen Schaltungselemente1 , das Substrat2 , ein Teil des Leiterrahmens3 und Teile der Leitungen4 sind von Harz6 eingeschlossen. Ein anderer Teil des Leiterrahmens3 ragt so aus dem Harz6 , daß durch die elektronischen Schaltungselemente1 erzeugte Wärmeenergie über den metallischen Leiterrahmen3 aus der elektronischen Schaltungsvorrichtung abgestrahlt wird. Gemäß einer Schnittansicht, wie den in den2 und4 gezeigten, entlang einer imaginären Ebene, die durch das Substrat2 und den Leiterrahmen3 verläuft und sich parallel zur Richtung der Dicke erstreckt, erstreckt sich das Substrat so, daß es in bezug auf jedes Ende8 des Leiterrahmens3 in einer zur Richtung der Dicke senkrechten Querrichtung nach außen ragt, wobei jedes Ende8 des Leiterrahmens3 von dem Abdeckharz bedeckt ist. - Ein Teil des Leiterrahmens
3 und ein Teil des Substrats2 , die einander aus der Richtung der Dicke betrachtet überlappen, sind über den gesamten gemeinsamen Bereich, in dem der Teil des Leiterrahmens3 und der Teil des Substrats2 einander aus der Richtung der Dicke betrachtet überlappen, durch den Harzklebstoff12 aneinander geklebt. Die Breite W1 des Leiterrahmens3 in der zu der Richtung, in der der Leiterrahmen3 aus dem Harz6 ragt, und/oder zu der Richtung der Leitungsanordnung, in der die Leitungen (die elektrisch leitfähigen Anschlußelemente) in Juxtaposition zueinander angeordnet sind, senkrechten Querrichtung ist in dem gemeinsamen Bereich aus der Richtung der Dicke betrachtet geringer als die Breite W2 des Substrats2 in der Querrichtung. Sowohl die obere Endfläche der elektronischen Schaltungselemente1 als auch die untere Endfläche des Leiterrahmens3 sind von dem Harz6 umschlossen bzw. bedeckt. - Das Keramiksubstrat
2 weist einen linearen Ausdehnungskoeffizienten von ca. 7·10–6K–1 auf, und der Leiterrahmen3 ist ein Stapel aus zwei Cu-Platten und einer Platte aus Invar mit einem geringen linearen Ausdehnungskoeffizienten zwischen den Cu-Platten und weist einen linearen Ausdehnungskoeffizienten von ca. 8 – 10·10–6K–1 auf. Das Harz6 ist ein Epoxidharz oder dergleichen (wobei das Harz6 ein Pulver, wie SiO2-Pulver oder dergleichen, mit einem geringen linearen Ausdehnungskoeffizienten enthalten kann) mit einem linearen Ausdehnungskoeffizienten von ca. 15·10–6K–1. - Die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Substrats
2 und des Leiterrahmens3 ist kleiner als die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Substrats2 und des Harzes6 , und die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Substrats2 und des Leiterrahmens3 ist kleiner als die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Leiterrahmens3 und des Harzes6 , obwohl diese Differenzen zur Unterdrückung eines Bruchs zwischen dem Substrat2 und dem Leiterrahmen3 und/oder zwischen dem Leiterrahmen3 und dem Harz6 vorzugsweise so klein wie möglich sind. Der Leiterrahmen3 ist metallisch, damit er zur Abgabe der durch die elektronischen Schaltungselemente1 erzeugten Wärmeenergie aus dem Harz eine große Wärmeleitfähigkeit aufweist. - Wie in den
20 –22 gezeigt, ist das Keramiksubstrat2 , auf dem die elektronischen Schaltungselemente1 montiert sind, bei einem Vergleichsbeispiel mittels des Harzklebstoffs12 an den Leiterrahmen3 geklebt, die elektronischen Schaltungselemente1 sind über die Aluminiumdrähte5 elektrisch mit den metallischen Drähten4 verbunden, und die elektronischen Schaltungselemente1 , das Substrat2 , ein Teil des Leiterrahmens3 und Teile der Leitungen4 sind von dem Harz6 eingeschlossen. Die Breite W1 des Leiterrahmens3 in der Querrichtung ist größer als die Breite W2 des Substrats2 in der Querrichtung. Die linearen Ausdehnungskoeffizienten des Substrats2 , des Leiterrahmens3 und des Harzes6 stimmen bei dem Vergleichsbeispiel im wesentlichen mit denen bei der vorstehend beschriebenen ersten Ausführungsform überein. - Der Leiterrahmen
3 wird durch einen Ätz- oder Scherprozeß aus einem Blechmaterial7 aus einer Legierung geformt. Gemäß19a , die das mittels eines Scherprozesses, bei dem ein Stanzwerkzeug von der oberen Oberfläche zur unteren Oberfläche des Blechmaterials7 aus einer Legierung gemäß19a bewegt wird, geformte Ende8 des Leiterrahmens3 zeigt, ist am unteren Kantenende des Leiterrahmens3 eine vorstehende Spitze ausgebildet. Gemäß19b , die das durch einen Ätzprozeß geformte Ende8 des aus einem Stapel aus den beiden Cu-Platten10 und der Invarplatte11 bestehenden Leiterrahmens3 zeigt, ist sowohl am oberen als auch am unteren Kantenendes des Leiterrahmens3 eine vorstehende Spitze ausgebildet. Die vorstehende Spitze steigert den Grad der Spannungskonzentration, so daß das Auftreten eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen3 und dem Harz und/oder eines Risses des Harzes an der vorstehenden Spitze beschleunigt wird. Daher unterdrückt die Beziehung zwischen dem Substrat und dem Ende8 des Leiterrahmens3 erfindungsgemäß das Auftreten eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen3 und dem Harz und/oder eines Risses des Harzes an der vorstehenden Spitze. - Gemäß
6 , die das Ergebnis einer Spannungsanalyse an der ersten Ausführungsform und dem Vergleichsbeispiel durch die Methode der finiten Elemente innerhalb eines Temperaturbereichs zwischen –55°C und 150°C zeigt, bei der die Breite W2 des Substrats2 fest ist und die Breite W1 des Leiterrahmens3 verändert wird, so daß das Verhältnis der Breite W1 zur Breite W2 verändert wird, nimmt das Spannungswertverhältnis zwischen dem bei jedem der unterschiedlichen Verhältnisse zwischen der Breite W1 und der Breite W2 erhaltenen, am Ende8 des Leiterrahmens3 erzeugten Spannungswert und dem bei einem Verhältnis von 1 zwischen der Breite W1 und der Breite W2, d.h. im Falle Breite W1 = Breite W2, erhaltenen, am Ende8 des Leiterrahmens3 erzeugten Spannungswert entsprechend einer Abnahme des Verhältnisses zwischen der Breite W1 und der Breite W2 ab. Aus6 geht hervor, daß das Verhältnis zwischen der Breite W1 und der Breite W2 zur Unterdrückung des Auftretens eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen3 und dem Harz6 und/oder eines Risses im Harz an der vorstehenden Spitze vorzugsweise kleiner als 1 und noch günstiger nicht größer als 0,8 ist. - Wenn die elektronischen Schaltungselemente
1 eine Zentraleinheit (CPU) und/oder einen Leistungstransistor umfassen, die eine hohe Wärmeenergie erzeugen, überlappen die Zentraleinheit (CPU) und/oder der Leistungstransistor und der Leiterrahmen3 einander zur Unterdrückung des Auftretens eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen3 und dem Harz6 und/oder eines Risses des Harzes an der vorstehenden Spitze vorzugsweise aus der Richtung der Dicke betrachtet. - Das Keramiksubstrat
2 wird durch einen Rohblechformprozeß hergestellt, bei dem aus einem Gemisch aus einem Pulver aus einem Keramikmaterial und einem Lösungsmittel ein Rohblech geformt wird, das dem Substrat2 entspricht, und einen Sinterprozeß, bei dem das Pulver aus dem Keramikmaterial bei einer hohen Temperatur gesintert wird. Das Ende9 des Keramiksubstrats2 hat keine vorstehende Spitze, an der eine Spannungskonzentration auftritt, wo durch das Auftreten eines Bruchs zwischen dem Substrat2 und dem Harz und/oder eines Risses in dem Harz am Ende9 des Substrats2 verhindert wird. - Wie in den
7 und8 gezeigt, wird sowohl bei der Ausführungsform als auch bei dem Vergleichsbeispiel zwischen dem Harz6 und sowohl dem Substrat2 als auch dem Leiterrahmen3 aufgrund einer signifikanten Differenz zwischen deren linearen Ausdehnungskoeffizienten in der zur Grenzfläche zwischen dem Substrat2 und dem Leiterrahmen3 parallelen Breitenrichtung eine Verteilung von Scherspannungen erzeugt. Wird eine Wärmezyklusprüfung im Temperaturbereich zwischen –55°C und 150°C an der Ausführungsform und dem Vergleichsbeispiel ausgeführt, werden die Scherspannungen bei 150°C im wesentlichen null, da das Harz weich wird, und bei –55°C werden die Scherspannungen signifikant hoch, da der lineare Ausdehnungskoeffizient des Harzes6 (die Kontraktionsrate in bezug auf die Temperaturverringerung) signifikant größer als der sowohl des Substrats2 als auch des Leiterrahmens3 ist. Hinsichtlich der Verteilung der Scherbelastungen ist die Scherbelastung zwischen dem Harz6 und sowohl dem Substrat2 als auch dem Leiterrahmen3 um so größer, je weiter die Position in der Breitenrichtung von der Mitte des Substrats2 und des Leiterrahmens3 entfernt ist. - Bei dem Vergleichsbeispiel ist die in der Richtung der Breite am Ende
8 des Leiterrahmens3 erzeugte maximale Scherspannung, wie in7 gezeigt, größer als die in der Richtung der Breite am Ende9 des Substrats2 erzeugte maximale Scherspannung. Bei der Ausführungsform ist die in der Richtung der Breite am Ende8 des Leiterrahmens3 erzeugte maximale Scherspannung, wie in8 gezeigt, kleiner als die in der Richtung der Breite am Ende9 des Substrats2 erzeugte maximale Scherspannung. Die Spannungskonzentration hinsichtlich der Scherspannung am Ende entweder des Leiterrahmens3 oder des Substrats2 wird unterdrückt, wenn das jeweils andere Element in der Richtung der Breite in bezug auf das eine Element nach außen ragt, d.h. vom Ende entweder des Leiterrahmens3 oder des Substrats2 , und sie wird durch eine glatte und runde (nicht spitze) Ecke des Endes9 des Keramiksubstrats2 verringert. Daher wird bei der vorliegenden Erfindung, bei der das Keramiksubstrat2 in der Richtung der Breite vom Ende8 des Leiterrahmens3 nach außen ragt, das Auftreten eines Bruchs zwischen dem Leiterrahmen3 und dem Harz6 und/oder eines Risses in dem Harz6 am Ende8 des Leiterrahmens3 verhindert, während das Auftreten eines Bruchs zwischen dem Substrat2 und dem Harz6 und/oder eines Risses in dem Harz am Ende9 des Substrats2 durch die glatte und runde (nicht spitze) Ecke des Endes9 des Substrats2 verhindert wird. - Bei der in den
9 bis13 gezeigten zweiten Ausführungsform ist die Breite des aus dem Harz6 ragenden Teils des Leiterrahmens3 größer als die des übrigen, dem Substrat2 in der Richtung der Dicke gegenüberliegenden und von dem Harz6 bedeckten Teils des Leiterrahmens3 , so daß die Wärmeabstrahlungswirkung des Leiterrahmens3 an die Umgebung um die Vorrichtung gesteigert wird. - Bei einer in den
14 und15 gezeigten dritten Ausführungsform nimmt die Breite des Leiterrahmens3 von seinem übrigen Teil zu seinem einen Teil allmählich zu, wodurch die durch eine abrupte Änderung der Breite des Leiterrahmens3 verursachte Spannungskonzentration verhindert wird. - Da hinsichtlich der Breite zwischen dem übrigen Teil und dem einen Teil des Leiterrahmens
3 eine Einschränkung besteht, nimmt die Wärmeleitung von dem einen Teil zum übrigen Teil des Leiterrahmens3 bei einer in den16 und17 gezeigten vierten Aus führungsform durch die Einschränkung der Breite zum Verhindern einer abrupten Änderung der Temperatur des Leiterrahmens3 ab, so daß die Entstehung eines Risses im Harz6 an der Grenze zwischen dem einen Teil des Leiterrahmens3 und dem Harz6 aufgrund einer durch die abrupte Temperaturänderung, d.h. eine Ausdehnung des Leiterrahmens3 , erzeugten Spannung selbst dann verhindert wird, wenn die elektronische Schaltungsvorrichtung durch Löten elektrisch mit einer gedruckten Leiterplatte verbunden ist, wodurch die Temperatur des einen Teils des Leiterrahmens3 abrupt gesteigert wird.
Claims (17)
- Elektronische Schaltungsvorrichtung mit einem elektronischen Schaltungselement (
1 ), einem Substrat (2 ) mit einer vorderen Oberfläche, auf der das elektronische Schaltungselement (1 ) montiert ist, und einer der vorderen Oberfläche in der Richtung der Dicke des Substrats (2 ) gegenüberliegenden hinteren Oberfläche, einem elektrisch mit dem elektronischen Schaltungselement (1 ) verbundenen, elektrisch leitfähigen Anschlußelement (4 ), einem Leiterrahmen (3 ), der sich senkrecht zur Richtung der Dicke erstreckt und auf der hinteren Oberfläche liegt, und einem Abdichtharz (6 ), das das elektronische Schaltungselement (1 ), das Substrat (2 ) und den Leiterrahmen (3 ) zumindest teilweise bedeckt, während zumindest ein Teil des elektrisch leitfähigen Anschlußelements (4 ) nicht von dem Abdichtharz bedeckt ist, wobei ein Hauptbestandteil des Substrats (2 ) Keramik ist, das Substrat (2 ) in einer ersten in der Substratebene liegenden und sich parallel zur Längsrichtung zumindest eines Teils des elektrisch leitfähigen Anschlußelements (5 ) erstreckenden Richtung ein Ende (8 ) des Leiterrahmens (3 ) überragt, wobei das Ende (8 ) des Leiterrahmens (3 ) von dem Abdichtharz (6 ) bedeckt ist, und der Leiterrahmen (3 ) einstückig ausgebildet und dieser in einer zweiten in der Substratebene liegenden und zur ersten Richtung senkrechten Richtung nicht mit dem Abdichtharz (6 ) bedeckt ist, sondern aus dem Abdichtharz (6 ) herausragt. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der lineare Ausdehnungskoeffizient des Leiterrahmens (
3 ) in der ersten Richtung kleiner als der lineare Ausdehnungskoeffizient des Abdichtharzes (6 ) ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Substrats (
2 ) und des Leiterrahmens (3 ) in der ersten Richtung kleiner als die Differenz zwischen den linearen Ausdehnungskoeffizienten des Abdichtharzes (6 ) und des Leiterrahmens (3 ) in der ersten Richtung ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, die ferner einen Harzklebstoff (
12 ) enthält, mit dem der Leiterrahmen (3 ) an die hintere Oberfläche geklebt ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Leiterrahmen (
3 ) ein durch Sputtern oder Galvanisieren hergestellter Leiterrahmen ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der das Ende (
8 ) des Leiterrahmens (3 ) durch einen Scherprozeß erzeugt wird. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der das Ende (
8 ) des Leiterrahmens (3 ) durch einen Ätzprozeß erzeugt wird. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der die elektronische Schaltungsvorrichtung mehrere elektrisch leitfähige Anschlußelemente (
5 ) aufweist, die in der zweiten Richtung nebeneinandergesetzt sind. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Leiterrahmen (
3 ) eine Oberfläche aufweist, die in der Richtung der Dicke der hinteren Oberfläche zugewandt und nicht mit dem Abdichtharz (6 ) bedeckt ist, wodurch sie in der zweiten Richtung aus dem Abdichtharz (6 ) ragt. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der sich das Substrat (
2 ) gemäß einer Schnittansicht so erstreckt, daß es in Bezug auf das dem einen Ende (8 ) des Leiterrahmens in der ersten Richtung gegenüberliegende andere Ende (8 ) des Leiterrahmens in der ersten Richtung nach außen ragt, wobei das andere Ende (8 ) des Leiterrahmens mit dem Abdichtharz (6 ) bedeckt ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 10, bei der ein Teil des Leiterrahmens (
3 ) nicht mit dem Abdichtharz (6 ) bedeckt ist, wodurch es in der zweiten Richtung aus dem Abdeckharz (6 ) ragt, und die Breite zwischen dem anderen Ende (8 ) und dem einen Ende (8 ) gemäß einer Schnittansicht kleiner als die Breite des Teils des Leiterrahmens (3 ) in der ersten Richtung ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 10, bei der die Breite des Leiterrahmens (
3 ) zwischen dem anderen Ende (8 ) und dem einen Ende (8 ) nicht größer als 80% der Breite des Substrats (2 ) ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der das elektronische Schaltungselement (
1 ) einen Halbleiterkörper enthält, dessen Hauptkomponente ein Halbleiter ist, und der Halbleiterkörper und der Leiterrahmen (3 ) einander aus der Richtung der Dicke betrachtet überlappen. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 13, bei der das elektronische Schaltungselement (
1 ) zumindest entweder eine Zentraleinheit oder einen Leistungstransistor umfaßt. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 13, bei der der gesamte Halbleiterkörper und der Leiterrahmen (
3 ) einander aus der Richtung der Dicke betrachtet überlappen. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Leiterrahmen (
3 ) nicht elektrisch mit dem elektronischen Schaltungselement (1 ) verbunden ist. - Elektronische Schaltungsvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Leiterrahmen (
3 ) metallisch ist.
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004042488A1 (de) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Siemens Ag | Elektrische Baugruppe |
US7911059B2 (en) * | 2007-06-08 | 2011-03-22 | SeniLEDS Optoelectronics Co., Ltd | High thermal conductivity substrate for a semiconductor device |
JP5515315B2 (ja) * | 2009-02-19 | 2014-06-11 | 住友電気工業株式会社 | 光モジュールの接続方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09232341A (ja) * | 1996-02-21 | 1997-09-05 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置 |
JP2000183241A (ja) * | 1998-12-21 | 2000-06-30 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
US6396138B1 (en) * | 2000-02-15 | 2002-05-28 | International Rectifier Corporation | Chip array with two-sided cooling |
US20020192488A1 (en) * | 2001-06-13 | 2002-12-19 | Yasutoshi Kurihara | Composite material member for semiconductor device and insulated and non-insulated semiconductor devices using composite material member |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4195193A (en) * | 1979-02-23 | 1980-03-25 | Amp Incorporated | Lead frame and chip carrier housing |
JPS6018145B2 (ja) * | 1980-09-22 | 1985-05-09 | 株式会社日立製作所 | 樹脂封止型半導体装置 |
JPS635647U (de) | 1986-06-27 | 1988-01-14 | ||
JPH0249140U (de) | 1988-09-29 | 1990-04-05 | ||
EP0484180A1 (de) * | 1990-11-01 | 1992-05-06 | Fujitsu Limited | Verkapselte Halbleiteranordnung mit optimierter Wärmeabführung |
JPH05308107A (ja) * | 1991-07-01 | 1993-11-19 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置及びその製作方法 |
JPH0582573A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-04-02 | Nec Corp | 樹脂封止型半導体装置用金型 |
EP0689241A2 (de) * | 1991-10-17 | 1995-12-27 | Fujitsu Limited | Halter für Halbleiterteil |
US5212405A (en) * | 1992-01-08 | 1993-05-18 | Sumitomo Metal Mining Company, Limited | Composite lead frame |
JP3317010B2 (ja) | 1994-03-11 | 2002-08-19 | 株式会社デンソー | 電子装置 |
US5977613A (en) * | 1996-03-07 | 1999-11-02 | Matsushita Electronics Corporation | Electronic component, method for making the same, and lead frame and mold assembly for use therein |
JPH10116934A (ja) | 1996-10-09 | 1998-05-06 | Fuji Electric Co Ltd | 樹脂封止半導体装置およびその製造方法 |
JP3845947B2 (ja) | 1997-04-25 | 2006-11-15 | 株式会社デンソー | 樹脂封止型半導体装置 |
JP3866880B2 (ja) * | 1999-06-28 | 2007-01-10 | 株式会社日立製作所 | 樹脂封止型電子装置 |
KR100355795B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2002-10-19 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조 방법 |
KR100526844B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2005-11-08 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조방법 |
US6559525B2 (en) * | 2000-01-13 | 2003-05-06 | Siliconware Precision Industries Co., Ltd. | Semiconductor package having heat sink at the outer surface |
KR100559664B1 (ko) * | 2000-03-25 | 2006-03-10 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
US7061080B2 (en) * | 2001-06-11 | 2006-06-13 | Fairchild Korea Semiconductor Ltd. | Power module package having improved heat dissipating capability |
JP2003115681A (ja) * | 2001-10-04 | 2003-04-18 | Denso Corp | 電子部品の実装構造 |
JP2004063688A (ja) * | 2002-07-26 | 2004-02-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置及び半導体アセンブリモジュール |
JP4283514B2 (ja) * | 2002-09-24 | 2009-06-24 | 株式会社日立製作所 | 電子回路装置 |
JP2004273946A (ja) * | 2003-03-11 | 2004-09-30 | Denso Corp | 半導体装置 |
-
2003
- 2003-02-18 JP JP2003039084A patent/JP3938067B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09232341A (ja) * | 1996-02-21 | 1997-09-05 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置 |
JP2000183241A (ja) * | 1998-12-21 | 2000-06-30 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
US6396138B1 (en) * | 2000-02-15 | 2002-05-28 | International Rectifier Corporation | Chip array with two-sided cooling |
US20020192488A1 (en) * | 2001-06-13 | 2002-12-19 | Yasutoshi Kurihara | Composite material member for semiconductor device and insulated and non-insulated semiconductor devices using composite material member |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Nishimura, A. u.a.: Effect of lead frame material on plastic-encapsulated IC package cracking under temerature cycling. In: IEEE Transactions on Com- ponents, Hybrids, and Manufacturing Technology. ISSN: 0148-6411. 1989, Vol. 12, No. 4, S. 639-645 |
Nishimura, A. u.a.: Effect of lead frame material on plastic-encapsulated IC package cracking under temerature cycling. In: IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology. ISSN: 0148-6411. 1989, Vol. 12, No. 4, S. 639-645 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7230320B2 (en) | 2007-06-12 |
JP2004253415A (ja) | 2004-09-09 |
US20040159919A1 (en) | 2004-08-19 |
DE10334761A1 (de) | 2004-08-26 |
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