DE10332616B3 - Halbleiterspeichermodul - Google Patents

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Halbleiterspeichermodul mit mehreren in einer Reihe nebeneinander angeordneten Speicherchips (1-4) und einem Taktsignal (CLK/STROBE), Befehls- und Adresssignale (C/A) sowie Datensignale (DQ) von einer Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) zu den Speicherchips (1-4) und Datensignale (DQ) von den Speicherchips (1-4) zu der Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) übertragenden modulinternen Takt-, Befehls/Adress- (C/A) und Datenbus, der jeweilige Takt- (CLK/STROBE), Befehls/Adress- und Datensignalleitung (DQ) aufweist, wobei die Taktsignalleitungen (CLK/STROBE) zwei differentielle Taktsignalleitungen umfassen, die an ihren der Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) entweder offen oder durch eine Kurzschlussbrücke (S) miteinander verbunden sind, wobei die Speicherchips (1-4) bei einer Schreiboperation die Schreibdaten mit dem von der Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) zum Ende der Taktsignalleitung laufenden Taktsignal (CLK/STROBE) synchronisieren und bei einer Leseoperation die Lesedaten synchron mit dem vom offenen oder kurzgeschlossenen Ende der Taktsignalleitungen reflektierten Taktsignal (CLK/STROBE) ausgeben.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Halbleiterspeichermodul mit mehreren in einer Reihe nebeneinander angeordneten Speicherchips und einem Taktsignal, Befehls- und Adresssignale sowie Datensignale von einer Speichercontrollervorrichtung zu den Speicherchips und Datensignale von den Speicherchips zu der Speichercontrollervorrichtung übertragenden modulinternen Takt-, Befehls/Adress- und Datenbus, der jeweilige Takt-, Befehls/Adress- und Datensignalleitungen aufweist, wobei die Taktsignalleitungen zwei differentielle Taktsignalleitungen umfassen.
  • Ein derartiges Halbleiterspeichermodul ist aus US 6,327,205 B1 bekannt.
  • Bei Halbleiterspeichermodulen, die mit mehreren nebeneinander angeordneten sehr schnellen Speicherchips, zum Beispiel DDR-DRAMs bestückt sind, besteht eine Schwierigkeit, die auf den Datenbusleitungen zwischen den Speicherchips und einer Speichercontrollervorrichtung in zwei Richtungen übertragenen Schreib- und Lesedaten genau mit einem Taktsignal zu synchronisieren.
  • Deshalb werden bei bisher verwirklichten mit sehr schnellen Speicherchips, zum Beispiel DDR-DRAMs der neuesten Generation bestückten Halbleiterspeichermodulen einzelne Taktsignalleitungen mit genau justierter elektrischer Länge von der Speichercontrollervorrichtung zu den einzelnen Speicherchips geführt. Eine andere Lösung besteht darin, zwei Taktsignalleitungszüge auf dem Halbleiterspeichermodul über die hintereinander angeordneten Speicherchips hinweg zu führen, wobei sich auf den beiden Taktleitungen die Taktsignale in entgegenge setzten Richtungen ausbreiten. Bei der ersten im Stand der Technik verwirklichten Lösungsvariante ist die Führung der individuellen Taktleitungen genau justierter elektrischer Länge aufwändig und teuer, wohingegen die einzelnen Speicherchips bei der zweiten im Stand der Technik bekannten Lösungsvariante getrennte Schreib- und Lesetaktsignaleingänge haben müssen.
  • Aus WO 01/88726 A1 ist ein Speichersystem mit mehreren in einer Reihe nebeneinander angeordneten Speicherchips und einem Befehls- und Adresssignale sowie Datensignale von einer Speichercontrollervorrichtung zu den Speicherchips und Datensignale von den Speicherchips zu der Speichercontrollervorrichtung übertragenden Befehls/Adress- und Datenbus, der jeweilige Takt-, Befehls/Adress- und Datensignalleitungen aufweist. Das Taktsignal wird jedoch nicht von der Speichercontrollervorrichtung zu den einzelnen Speicherchips, sondern von einer Takterzeugungsvorrichtung, die außerhalb der Speichercontrollervorrichtung näher an den Speicherchips liegt, zu diesen und zur Speichercontrollervorrichtung übertragen. Die Taktsignalleitung von der Takterzeugungseinrichtung ist nicht zweifach, das heißt differentiell ausgeführt, und jede zum Halbleiterspeichermodul führende Taktleitung ist an ihrem vom Halbleiterspeichermodul abgesetzten Ende abgeschlossen.
  • Bei dem in der eingangs zum Oberbegriff des Patentanspruchs 1 genannten US 6,327,205 B1 beschriebenen Speichersystem wird das eigentliche Taktsignal als differentielles Taktsignal von einer Taktsignalquelle, die außerhalb einer Speichercontrollervorrichtung vorgesehen ist, zu allen DRAM-Chips und zur Speichercontrollervorrichtung übertragen. Die die differentielle Taktsignale übertragenden beiden Taktleitungen sind jeweils an dem der Taktsignalquelle entgegengesetzten Ende in der Speichercontrollervorrichtung abgeschlossen. Die Speichercontrollervorrichtung erzeugt ihrerseits aus dem Taktsignal differentielle Strobesignale VTR0 und /VTR0, die über zwei differentielle Strobesignalleitungen zu allen Halblei terspeicherchips übertragen werden und an dem der Speichercontrollervorrichtung entgegengesetzten Ende einzeln abgeschlossen sind (vgl. 15 und zugehörige Beschreibung in Spalte 6 ab Z. 30).
  • Es ist Aufgabe der Erfindung, bei einem gattungsgemäßen Halbleiterspeichermodul eine die obigen Schwierigkeiten lösende Taktsignaltopologie zu ermöglichen, die auch eine Erweiterung der Zahl der auf dem Halbleiterspeichermodul bestückten Speicherchips erleichtert.
  • Diese Aufgabe wird anspruchsgemäß gelöst.
  • Der von der Erfindung vorgeschlagenen Lösung liegt das Prinzip zugrunde, dass ein gegenphasiges Taktsignal oder Strobesignal, das sich auf zwei differentiellen Takt- oder Strobesignalleitungen in einer Richtung ausbreitet, an den kurzgeschlossenen oder unabgeschlossenen offenen Enden der differentiellen Taktsignal- oder Strobesignalleitungen reflektiert wird und zu seinem Ursprung zurückläuft. Aus dieser Erkenntnis haben die Erfinder ein gattungsgemäßes Halbleiterspeichermodul angegeben, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die Taktsignalleitungen an ihrem der Speichercontrollervorrichtung entgegengesetzten Ende entweder offen oder durch eine Kurzschlussbrücke miteinander verbunden sind, wobei die Speicherchips bei einer Schreiboperation die Schreibdaten mit dem von der Speichercontrollervorrichtung zum Ende der Taktsignalleitung laufenden Taktsignal synchronisieren und bei einer Leseoperation die Lesedaten synchron mit dem vom offenen oder kurzgeschlossenen Ende der Taktsignalleitungen reflektierten Taktsignal ausgeben.
  • Bei dem erfindungsgemäßen Halbleiterspeichermodul laufen somit die Schreibdaten in eine Richtung zusammen mit dem von der Speichercontrollervorrichtung abgehenden Takt- oder Strobesignal. Letzteres wird an den kurzgeschlossenen oder offenen Enden der differentiellen Takt- oder Strobesignalleitun gen reflektiert und läuft mit den Lesedaten zur Speichercontrollervorrichtung zurück.
  • Dabei weist die bevorzugte Ausführungsform am Ende der Takt- oder Strobesignalleitungen eine Kurzschlussbrücke auf, deren Vorteil ist, dass sich die Polarität des reflektierten Takt- oder Strobesignals gegenüber dem zum kurzgeschlossenen Ende der Takt- bzw. Strobesignalleitung laufenden Signal umkehrt. Damit lässt sich die Signalausbreitungsrichtung leicht unterscheiden und zum Beispiel die ansteigende Flanke des Takt- oder Strobesignals zur Synchronisation der Schreibdaten und dessen fallende Flanke zur Synchronisation der Lesedaten verwenden.
  • Bei einem Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Halbleiterspeichermoduls sind zum Beispiel vier, acht oder sechzehn DRAM-Speicherchips in einer Reihe hintereinander angeordnet, und die Speichercontrollervorrichtung ist durch einen auf dem Halbleiterspeichermodul angeordneten Pufferchip verkörpert.
  • In der nachfolgenden Beschreibung werden Bezug nehmend auf die Zeichnungsfiguren die obigen und weitere vorteilhafte Merkmale beinhaltende Ausführungsbeispiele eines erfindungsgemäßen Halbleiterspeichermoduls näher erläutert.
  • Die Zeichnungsfiguren zeigen im Einzelnen:
  • 1 eine schematische Layoutansicht eines ersten Ausführungsbeispiels eines Halbleiterspeichermoduls gemäß der Erfindung;
  • 2 ein zweites erfindungsgemäßes Ausführungsbeispiel eines Halbleiterspeichermoduls;
  • 3 ein Signal-Distanzdiagramm, das schematisch ein gegenphasiges Strobesignal zeigt, das zu einem kurzgeschlossenen Ende von zwei differentiellen Takt- oder Strobesignalleitungen läuft und dort zurückreflektiert wird, und
  • 4 ein schematisches Signalzeitdiagramm des gegenphasigen am kurzgeschlossenen Ende von den differentiellen Takt- oder Strobesignalleitungen reflektierten gegenphasigen Strobesignals, dessen von der Speichercontrollervorrichtung abgehender Impuls zu einem ersten Zeitpunkt an einem ersten DRRM1 eintrifft und dessen reflektierter Impuls zu einem zweiten durch den Abstand zum DRAM bestimmten späteren Zeitpunkt am selben DRAM1 eintrifft.
  • Bei dem in 1 schematisch dargestellten ersten Ausführungsbeispiel eines Speichermoduls 100 der Erfindung sind vereinfachend vier DRAM-Chips 14 hintereinander in definierten Abständen von einer Speichercontrollervorrichtung 10 angeordnet. Stattdessen können auf dem Speichermodul 100 auch acht oder sechzehn Speicherchips vorgesehen sein. Ein modulinterner Bus des Halbleiterspeichermoduls 100 weist bidirektionale Datenleitungen DQ in einer Punkt-zu-Punkt-Leitungsführung (jede durchgezogene Linie der Datenleitungen DQ verkörpert zum Beispiel acht Bit Schreib- und Lesedaten), in gestrichelten Linien dargestellte Befehls- und Adresssignalleitungen (Fly-By-Befehls- und Adressbus) C/A, die an ihrem von der Speichercontrollervorrichtung abgesetzten Ende abgeschlossen sind, und zwei durch strichpunktierte Linien dargestellte differentielle Takt- bzw. Strobesignalleitungen CLK/STROBE, die an ihrem von der Speichercontrollervorrichtung abgesetzten Ende durch eine Kurzschlussbrücke S kurzgeschlossen sind.
  • Mit dieser Topologie können auf dem erfindungsgemäßen Halbleiterspeichermodul die Datensignale DQ und Befehls- und Adresssignale von jedem nächsten DRAM mit einer Zeitverzögerung von (beispielsweise) 200 ps aufgenommen werden. Für eine optimale Taktverteilung und -synchronisation ist es notwendig, dass die Daten und die Taktsignale beim Schreiben und Lesen jeweils in derselben Richtung laufen und denselben Zeitversatz aufweisen. Dies wird durch die an ihrem Ende durch eine Kurzschlussbrücke S kurzgeschlossenen differentiellen Taktleitungen CLK/STROBE erreicht.
  • Das in 2 ebenfalls schematisch dargestellte zweite Ausführungsbeispiel unterscheidet sich von dem in 1 nur darin, dass die Speichercontrollervorrichtung durch einen auf dem Halbleiterspeichermodul 101 angeordneten Pufferchip 11 (HUB-Chip) verkörpert ist, der Treiberfunktionen für die Schreibdaten DQ, die Befehls- und Adresssignale C/A und das Takt- bzw. Strobesignal CLK/STROBE aufweist. Die übergeordneten Speichercontrollerfunktionen sind in einem externen Speichercontrollerbaustein 12 enthalten, der durch ein externes Bussystem mit dem Pufferchip 11 auf dem Halbleiterspeichermodul 101 verbunden ist.
  • In den beiden in den 1 und 2 veranschaulichten Ausführungsbeispielen sind die differentiellen Takt- bzw. Strobesignalleitungen CLK/STROBE durch eine Kurzschlussbrücke S an ihrem von der Speichercontrollervorrichtung 10 bzw. 11 abgesetzten Ende kurzgeschlossen und bewirken dadurch, dass die Polarität des Takt- bzw. Strobesignals am kurzgeschlossenen Ende wechselt. Dies erleichtert die Unterscheidung der Signalausbreitungsrichtung, so dass zum Beispiel eine ansteigende Flanke eines Strobesignals zur Synchronisation der Schreibdaten und eine abfallende Flanke des Strobesignals zur Synchronisation der Lesedaten beim Lesevorgang verwendet werden kann. Die bezogen auf die Speichercontrollervorrichtung 10 bzw. 11 gehende Richtung des Takt- bzw. Strobesignals CLK/STROBE ist mit einem mit G bezeichneten Pfeil angedeutet, während die kommende Richtung des Takt- bzw. Strobesignals mit einem mit K bezeichneten Pfeil angedeutet ist.
  • Wie schon erwähnt, tritt auch am offenen Ende von differentiellen Taktleitungen eine Reflexion auf, bei der sich allerdings die Polarität des Signals nicht umkehrt, so dass die Unterscheidung der Ausbreitungsrichtung des Takt- bzw. Strobesignals nicht in der oben erwähnten einfachen Weise ausgeführt werden kann.
  • 3 zeigt ein Signaldiagramm eines Takt- bzw. Strobeimpulses, das den Zustand des gehenden Signalanteils (Pfeil G) und des reflektierten Signalanteils (Pfeil K) an den vier Positionen der DRAM-Chips 14 auf dem Halbleiterspeichermodul angebenden Distanzen D veranschaulicht. Es sei hier ausdrücklich erwähnt, dass D keine Zeit darstellt. Im Nullpunkt der Abszisse befindet sich die Speichercontrollervorrichtung 10 bzw. der Pufferchip 11 und an dem mit S bezeichneten Punkt auf der Abszisse befindet sich die Kurzschlussbrücke S und dazwischen liegen jeweils im gleichen Abstand die vier DRAM-Chips 14. Der Polaritätswechsel ist durch die Punkte A und B an der obersten und untersten Signalkomponente in 3 angedeutet. Das gehende (Pfeil G) Takt- bzw. Strobesignal dient bei der Schreiboperation zur Synchronisation der zu schreibenden Daten in den Speicherchips, während der durch den Pfeil K angedeuteten und am Kurzschlusspunkt S reflektierten Takt- bzw. Strobesignalanteil zur Synchronisation der Lesedaten bei Leseoperationen dient. Als Zeitverzögerung (zeitlicher Abstand) zwischen jedem Speicherchip sind jeweils 200 ps angenommen. Diese Zeitverzögerung hängt natürlich von der Signallaufzeit und damit vom Abstand D ab.
  • 4 zeigt ein Signalzeitdiagramm des gehenden Signals, das 200 ps nach seiner Ausgabe am ersten DRAM-Chip 1 ankommt und dessen ansteigende Flanke zur Synchronisation der Schreibdaten verwendet wird. Die ansteigende Flanke ist hier die Flan ke zwischen dem Signalminimum und dem Signalmaximum. Weiterhin ist 1400 ps später der reflektierte Signalanteil des Takt- bzw. Strobesignals am selben DRAM-Chip 1 gezeigt, wobei dessen fallende Flanke zur Synchronisation der Lesedaten dient. Wiederum ist mit Punkten A und B an den Signalanteilen die Polaritätsumkehr durch die Reflexion am kurzgeschlossenen Ende veranschaulicht.
  • 1–4
    Speicherchips
    10
    Speichercontrollervorrichtung
    11
    Pufferchip (HUB)
    12
    Externer Speichercontrollerbaustein
    100
    erstes Halbleiterspeichermodul
    101
    zweites Halbleiterspeichermodul
    A, B
    Punkte an den Taktsignalen
    C/A
    Befehls- und Adresssignale
    CLK/STROBE
    Takt- bzw. Strobesignal
    G
    gehende Richtung des Takt- bzw. Strobesignals
    K
    kommende Richtung des Takt- bzw. Strobesignals
    S
    Kurzschlussbrücke
    DQ
    Datenleitungen bidirektional
    HUB
    Pufferchip

Claims (7)

  1. Halbleiterspeichermodul mit mehreren in einer Reihe nebeneinander angeordneten Speicherchips (14) und einem einTaktsignal (CLK/STROBE), Befehls- und Adresssignale (C/A) sowie Datensignale (DQ) von einer Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) zu den Speicherchips (14) und Datensignale (DQ) von den Speicherchips (14) zu der Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) übertragenden modulinternen Takt-, Befehls/Adress- und Datenbus, der jeweilige Takt(CLK/STROBE), Befehls/Adress- (C/A) und Datensignalleitungen (DQ) aufweist, wobei die Taktsignalleitungen (CLK/STROBE) zwei differentielle Taktsignalleitungen umfassen, dadurch gekennzeichnet, dass die Taktsignalleitungen (CLK/STROBE) an ihrem der Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) entgegengesetzten Ende entweder offen oder durch eine Kurzschlussbrücke (S) mitein ander verbunden sind, und die Speicherchips (14) bei einer Schreiboperation die Schreibdaten mit dem von der Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) zum Ende der Taktsignalleitung laufenden Taktsignal (CLK/STROBE) synchronisieren und bei einer Leseoperation die Lesedaten synchron mit dem vom offenen oder kurzgeschlossenen Ende der Taktsignalleitungen reflektierten Taktsignal (CLK/STROBE) ausgeben.
  2. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Taktsignalleitungen ein gegenphasiges kontinuierlich alternierendes Taktsignal (CLK) übertragen.
  3. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Taktsignalleitungen (CLK/STROBE) ein gegenphasiges Schreib- und Lesedatenstrobesignal (STROBE) übertragen.
  4. Halbleiterspeichermodul nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das genannte Ende der Taktsignalleitungen (CLK/STROBE) durch die Kurzschlussbrücke (S) kurzgeschlossen ist und die Speicherchips (14) so gestaltet sind, dass sie die bei einer Schreiboperation zu schreibenden Daten mit einer steigenden Flanke des Takt- oder Strobesignals (CLK/STROBE) und die bei einer Leseoperation zu lesenden Daten mit einer fallenden Flanke des Takt- oder Strobesignals (CLK/Strobe) synchronisieren.
  5. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Speichercontrollervorrichtung (10, 11, 12) so gestaltet ist, dass sie die bei einer Schreiboperation zu schreibenden Daten (DQ) mit einer steigenden Flanke des von ihr getriebenen Takt- (CLK) oder Strobesignals (Strobe) ausgibt und die bei einer Leseoperation empfangenen Daten (DQ) mit einer fallenden Flanke des Taktsignals (CLK) oder Strobesignals (Strobe) übernimmt.
  6. Halbleiterspeichermodul nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Speichercontrollervorrichtung durch einen auf dem Halbleiterspeichermodul (101) angeordneten Pufferchip (11) verkörpert ist.
  7. Halbleiterspeichermodul nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Speicherchips (14) jeweils einen vorbestimmten gleichen Abstand voneinander haben und dass der erste Speicherchip (1) in der Reihe denselben Abstand von der Speichercontrollervorrichtung (10, 11) auf dem Halbleiterspeichermodul (100, 101) hat.
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10345384B3 (de) * 2003-09-30 2005-03-24 Infineon Technologies Ag Schaltungssystem
US7339840B2 (en) * 2005-05-13 2008-03-04 Infineon Technologies Ag Memory system and method of accessing memory chips of a memory system
US7397684B2 (en) * 2005-09-15 2008-07-08 Infineon Technologies, Ag Semiconductor memory array with serial control/address bus
JP5023539B2 (ja) * 2006-04-11 2012-09-12 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置及び信号処理方法
US20080123305A1 (en) * 2006-11-28 2008-05-29 Smart Modular Technologies, Inc. Multi-channel memory modules for computing devices
KR101393309B1 (ko) * 2008-02-18 2014-05-09 삼성전자주식회사 복수개의 버스 라인들을 구비하는 반도체 장치
CN115938456B (zh) * 2023-03-09 2023-07-25 长鑫存储技术有限公司 半导体存储装置的测试方法、装置、设备及介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001088726A1 (fr) * 2000-05-18 2001-11-22 Hitachi, Ltd. Systeme de memoire
US6327205B1 (en) * 1998-03-16 2001-12-04 Jazio, Inc. Signal latching of high bandwidth DRAM arrays when skew between different components is higher than signal rate

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6510503B2 (en) * 1998-07-27 2003-01-21 Mosaid Technologies Incorporated High bandwidth memory interface

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6327205B1 (en) * 1998-03-16 2001-12-04 Jazio, Inc. Signal latching of high bandwidth DRAM arrays when skew between different components is higher than signal rate
WO2001088726A1 (fr) * 2000-05-18 2001-11-22 Hitachi, Ltd. Systeme de memoire

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP 2002331439 A (abstract) *

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US20050036349A1 (en) 2005-02-17
US7224636B2 (en) 2007-05-29

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