DE102017209770A1 - Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung - Google Patents
Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung Download PDFInfo
- Publication number
- DE102017209770A1 DE102017209770A1 DE102017209770.1A DE102017209770A DE102017209770A1 DE 102017209770 A1 DE102017209770 A1 DE 102017209770A1 DE 102017209770 A DE102017209770 A DE 102017209770A DE 102017209770 A1 DE102017209770 A1 DE 102017209770A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- semiconductor chip
- power module
- conductor
- hole
- disposed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001816 cooling Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 67
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 51
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 38
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 19
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 5
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 11
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 11
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 3
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- WUUZKBJEUBFVMV-UHFFFAOYSA-N copper molybdenum Chemical compound [Cu].[Mo] WUUZKBJEUBFVMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 150000003071 polychlorinated biphenyls Chemical group 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/367—Cooling facilitated by shape of device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/42—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
- H01L23/433—Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
- H01L23/4334—Auxiliary members in encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/043—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
- H01L23/047—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body the other leads being parallel to the base
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3731—Ceramic materials or glass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3737—Organic materials with or without a thermoconductive filler
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
- H01L23/49562—Geometry of the lead-frame for devices being provided for in H01L29/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/33—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4871—Bases, plates or heatsinks
- H01L21/4882—Assembly of heatsink parts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/0601—Structure
- H01L2224/0603—Bonding areas having different sizes, e.g. different heights or widths
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16245—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/2612—Auxiliary members for layer connectors, e.g. spacers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/2902—Disposition
- H01L2224/29021—Disposition the layer connector being disposed in a recess of the surface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/33—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
- H01L2224/331—Disposition
- H01L2224/3318—Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
- H01L2224/33181—On opposite sides of the body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73215—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73253—Bump and layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
- H01L2924/13055—Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
- H01L2924/3512—Cracking
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Es wird ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung offenbart, mit einem Halbleiterchip, der zwischen einem oberen Substrat und einem unteren Substrat angeordnet ist; einem ersten Stromleiter, der zwischen dem oberen Substrat und dem Halbleiterchip angeordnet ist; einem Signalleiter, der zwischen dem oberen Substrat und dem Halbleiterchip angeordnet ist und von dem ersten Stromleiter beabstandet ist; einem zweiten Stromleiter, der zwischen dem unteren Substrat und dem Halbleiterchip angeordnet ist; und einer Trennplatte, die zwischen dem ersten Stromleiter, dem Signalleiter und dem Halbleiterchip angeordnet ist; wobei die Trennplatte den ersten Stromleiter mit dem Halbleiterchip über ein erstes Loch verbindet, das durch die Separationsplatte ausgebildet ist, und den Signalleiter mit dem Halbleiterchip über ein zweites Loch verbindet, das durch die Separationsplatte vorgesehen ist.
Description
- HINTERGRUND
- Technisches Gebiet
- Die vorliegende Offenbarung bezieht sich allgemein auf ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung. Spezifischer bezieht sich die vorliegende Offenbarung auf ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung, bei der ein Halbleiterchip zwischen einem oberen Substrat und einem unteren Substrat vorgesehen ist.
- Beschreibung der verwandten Technik
- Im Allgemeinen ist eine Hybridleistungssteuereinheit (hybrid power control unit; HPCU) (ein Inverter) eine Komponente, die für umweltfreundliche Fahrzeuge (Hybridfahrzeuge/Elektrofahrzeuge) verwendet wird. Weil ein Leistungsmodul für den größten Teil der Kosten der Komponenten verantwortlich ist, welche die HPCU bilden, wurden aktiv Forschung und Entwicklung durchgeführt, um hohe Leistung, Miniaturisierung und Kostenreduktion zu erzielen.
- Wie in
1 gezeigt, ist ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung so aufgebaut, dass ein Halbleiterchip 30 mit isolierten Gate-Bipolartransistoren (IGBTs) und Dioden zwischen einem oberen Substrat und 10 und einem unteren Substrat 20 angeordnet ist, und ein (nicht gezeigter) Kühler, der außerhalb der oberen und unteren Substrate vorgesehen ist, Wärme beseitigt, die durch den Halbleiterchip 30 erzeugt wird. Aufgrund dieses Aufbaus ist es möglich, die Größe des Leistungsmoduls zu reduzieren und die Kühlleistung zu verbessern. - Bei den konventionellen Leistungsmodulen kann der Halbleiterchip 30 jedoch mit einem Abstandselement 40 versehen sein, um einen Raum für einen Draht 80 zu sichern, der ein Betätigungssignal übermittelt und empfängt, wobei zum Minimieren der Differenz thermischer Ausdehnungsraten zwischen dem Abstandselement 40 und den oberen und unteren Substraten 10 und 20 und zum Aufrechterhalten einer hohen Wärmeleitfähigkeit ein teures Material wie Aluminium-Siliziumkarbid („Al-Sic“), Kupfermolybdän („Cu-Mo“) etc. verwendet wird, wodurch die Kosten des Leistungsmoduls steigen.
- Dementsprechend kann das Material des Abstandselements 40 zum Reduzieren der Kosten bei dem konventionellen Leistungsmodul mit Kupfer („Cu“) ersetzt werden. Es besteht aber eine hohe Differenz zwischen den thermischen Ausdehnungsraten von Cu und einem Halbleiterchip 30, was zu reduzierter Haltbarkeit und potentiellem Schaden aufgrund von thermischer Belastung führt.
- Ferner benötigt das konventionelle Leistungsmodul einen Prozess zum Befestigen des Halbleiterchips 30 an einem Signalleiter 70 unter Verwendung von Draht 80. Im Detail ist der konventionelle Prozess in drei Schritte unterteilt: ein erster Lötprozess zum Löten des unteren Substrats 10 und des Halbleiterchips 30 unter Verwendung eines Lötmaterials S; ein Verbindungsprozess zum Verbinden des Halbleiterchips 30 und des Drahts 80; und ein zweiter Lötprozess zum Löten des Halbleiterchips 30, des Abstandselements 40 und des oberen Substrats 10 unter Verwendung des Lötmaterials. Diese Prozesse können die Produktivität senken, indem sie die Komplexität des Herstellungsverfahrens erhöht wird.
- Daher wird ein neues Leistungsmodul benötigt, welches mit niedrigen Kosten unter Verwendung eines einfachen Herstellungsverfahrens hergestellt werden kann, welches keine Probleme aufgrund von thermischer Belastung aufweist, und welches kein Abstandselement benötigt.
- Das Vorstehende ist lediglich dazu gedacht, beim Verständnis des Hintergrunds der vorliegenden Offenbarung zu helfen, und ist nicht dazu gedacht, anzuzeigen, dass die vorliegende Offenbarung in den Bereich der verwandten Technik fällt, der dem Fachmann bereits bekannt ist.
- ZUSAMMENFASSUNG DER OFFENBARUNG
- Die vorliegende Offenbarung nimmt sich der vorstehenden, bei der verwandten Technik auftretenden Probleme an, indem ein Leistungsmodul („power module“) mit doppelseitiger Kühlung geschaffen wird, welches bei niedrigen Kosten unter Verwendung eines einfachen Herstellungsverfahrens hergestellt werden kann, keine Probleme aufgrund von thermischer Belastung aufweist und kein Abstandselement benötigt.
- Um das vorstehende Ziel zu erreichen, wird gemäß einem Aspekt der vorliegenden Offenbarung ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung geschaffen, das einen Halbleiterchip aufweist, der zwischen einem oberen Substrat und einem unteren Substrat vorgesehen ist, wobei das Leistungsmodul aufweist: einen ersten Stromleiter („power lead“), der zwischen dem oberen Substrat und dem Halbleiterchip vorgesehen ist; einen Signalleiter, der zwischen dem oberen Substrat und dem Halbleiterchip vorgesehen ist und von der Stromleiter beabstandet ist; einen zweiten Stromleiter, der zwischen dem unteren Substrat und dem Halbleiterchip vorgesehen ist; und eine Trennplatte, die bei bzw. zwischen („among“) dem ersten Stromleiter, dem Signalleiter und dem Halbleiterchip bzw. zwischen dem ersten Stromleiter und dem Signalleiter einerseits und dem Halbleiterchip anderseits vorgesehen ist, welche den ersten Stromleiter mit dem Halbleiterchip über ein erstes Loch verbindet, das durch die Trennplatte ausgebildet ist, und den zweiten Signalleiter und den Halbleiterchip über ein zweites Loch verbindet, das durch die Trennplatte ausgebildet ist.
- Eine Innenumfangsfläche des zweiten Lochs, das in der Trennplatte vorgesehen ist, kann mit einer leitfähigen Schicht versehen sein, die aus einem leitfähigen Material ausgebildet ist.
- Die leitfähige Schicht kann eine Kupferplattierungsschicht („copper plating layer“) sein.
- Die leitfähige Schicht kann eine Dicke von ungefähr 1 bis ungefähr 10 µm aufweisen.
- Die leitfähige Schicht kann sich von der Innenumfangsfläche des zweiten Lochs zu einer oberen Fläche der Trennplatte erstrecken.
- Ein unterer Abschnitt des zweiten Lochs, das in der Trennplatte vorgesehen ist, kann mit einem Lötmaterial gefüllt sein, um die leitfähige Schicht mit dem Halbleiterchip zu verbinden.
- Das erste Loch, das in der Trennplatte vorgesehen ist, kann mit einem Lötmaterial gefüllt sein, um die ersten und zweiten Stromleiter mit dem Halbleiterchip zu verbinden.
- Die Trennplatte kann eine Dicke von ungefähr 100 bis ungefähr 200 µm aufweisen.
- Die Trennplatte kann aus einem dielektrischen Material oder einem keramischen Material ausgebildet sein.
- Das Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung gemäß der vorliegenden Offenbarung weist die folgenden vorteilhaften Eigenschaften auf.
- Erstes ist es möglich, die Kosten und die Größe des Leistungsmoduls zu reduzieren, indem das Abstandselement eliminiert wird.
- Zweitens ist es möglich, Produktionsraten für das Leistungsmodul zu verbessern, indem der Zusammenbauprozess vereinfacht wird.
- Drittens ist es möglich, die Dauerhaftigkeit des Leistungsmoduls zu verbessern, indem Lötverbindungen minimiert werden.
- Viertens ist es möglich, die thermische Beständigkeit des Leistungsmoduls zu verbessern, indem die Differenz bezüglich Expansionsraten zwischen den Komponenten des Leistungsmoduls minimiert wird.
- Figurenliste
- Die vorstehenden und andere Ziele, Eigenschaften und andere Vorteile der vorliegenden Offenbarung werden klarer ersichtlich anhand der nachfolgenden detaillierten Beschreibung in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen, wobei:
-
1 eine Schnittansicht ist, die ein konventionelles Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung zeigt; -
2 eine Schnittansicht ist, die ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung gemäß einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung zeigt; -
3 eine vergrößerte Schnittansicht von Abschnitt V1 von2 ist; -
4 eine vergrößerte Schnittansicht von Abschnitt V2 von2 ist; und -
5 eine Ansicht ist, die einen Zusammenbauprozess für ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung gemäß einer bespielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
- Die hierin verwendete Terminologie dient leidglich dem Zweck der Beschreibung von spezifischen Ausführungsformen und ist nicht dazu gedacht, beschränkend zu sein. Wie hierin verwendet, sind die Singularformen „ein“, „eine“ und „der/die/das“ dazu gedacht, auch die Pluralformen einzuschließen, wenn der Kontext nicht klar etwas anderes zum Ausdruck bringt. Es ist ferner zu verstehen, dass die Begriffe „aufweist“, „weist auf“, „mit“ etc., wenn in dieser Beschreibung verwendet, das Vorhandensein von angegebenen Eigenschaften, ganzen Zahlen, Schritten, Betätigungen, Elementen, Komponenten und/oder Kombinationen derselben zum Ausdruck bringen, nicht aber das Vorhandensein oder Hinzufügen von einer oder mehreren anderen Eigenschaften, ganzen Zahlen, Schritten, Betätigungen, Elementen, Komponenten und/oder Kombinationen derselben ausschließen.
- Wenn nicht anders definiert, tragen alle Begriffe einschließlich von technischen und wissenschaftlichen Begriffen, die hierin verwendet werden, dieselbe Bedeutung, wie normalerweise durch den Fachmann verstanden, auf den sich die vorliegende Erfindung bezieht. Es ist ferner zu verstehen, dass hierin verwendete Begriffe als mit einer Bedeutung interpretiert werde sollen, die konsistent ist mit ihrer Bedeutung im Kontext dieser Beschreibung und der relevanten Technik und nicht auf eine idealisierte oder gemäß einem übertrieben formalen Sinn zu interpretieren sind, wenn nicht hierin ausdrücklich so definiert.
- Hiernach wird eine beispielhafte Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung unter Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen detailliert beschrieben. Durch die Figuren hin werden sich die dieselben Bezugszeichen auf dieselben oder entsprechende Teile beziehen.
- Wie in FIGs. 2 und 5 gezeigt, weist ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung gemäß der vorliegenden Offenbarung auf: ein oberes Substrat
100 mit einer oberen Basisschicht110 und einer oberen Metallschicht120 ; ein unteres Substrat200 mit einer unteren Basisschicht210 und einer unteren Metallschicht220 ; und einen Halbleiterchip300 , der zwischen dem oberen Substrat100 und dem unteren Substrat200 vorgesehen ist. - Eine untere Fläche der oberen Basisschicht
110 ist einem ersten Stromleiter600 zugewandt bzw. gekoppelt, die Hochspannungsstrom übermittelt und empfängt, indem sie mit dem Halbleiterchip300 verbunden ist, und ist mit einem Signalleiter („signal lead“) 700 gekoppelt, die ein Betätigungssignal übermittelt und empfängt, indem sie mit dem Halbleiterchip300 verbunden ist, wobei der erste Stromleiter600 und der Signalleiter700 voneinander beabstandet sind, so dass sie nicht miteinander leitfähig sind. Indes ist eine obere Fläche der unteren Basisschicht210 mit einem zweiten Stromleiter500 gekoppelt, die Hochspannungsstrom übermittelt und empfängt, indem sie mit dem Halbleiterchip300 verbunden ist. - Der Halbleiterchip
300 kann mit dem ersten Stromleiter („power lead“) 600, dem zweiten Stromleiter500 und dem Signalleiter700 jeweils verbunden sein. Weil eine Lötstruktur, die mit dem zweiten Stromleiter500 verbunden ist, ähnlich ist zu einem konventionellen Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung, wird eine detaillierte Beschreibung hierin derselben weggelassen. - Bei einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung sind das Abstandselement und der Draht, die bei konventionellen Leistungsmodulen benötigt werden, eliminiert, was es ermöglicht, ein Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung bereitstellen, das kleiner ist als ein konventionelles Leistungsmodul.
- Um dies zu erreichen, ist eine Trennplatte
400 zwischen dem ersten Stromleiter600 , dem Signalleiter700 und dem Halbleiterchip300 angeordnet. Die Trennplatte400 ist bei derselben Stelle wie das konventionelle Abstandselement angeordnet, die Trennplatte weist aber eine Dicke von ungefähr 50 bis ungefähr 200 µm auf, was dünner ist als ein konventionelles Abstandselement, das eine Dicke von ungefähr 1 mm aufweist. - Bei einer weiteren beispielhaften Ausführungsform ist die Separations- bzw. Trennplatte
400 aus einem organischen Material ausgebildet, wie polychloriertem Biphenyl („PCB“), das das Ausbilden einer Durchgangsbohrung bzw. eines Durchgangslochs vereinfacht, einem organisch-anorganischen Hybridmaterial mit verbesserten Isolationseigenschaften und verbesserten thermischen Eigenschaften, oder einem keramischen Material wie einer Niedertemperatur-Einbrand-Keramik („lowtemperature co-fired ceramic; LTCC“). Wenn die Trennplatte400 eine Dicke von weniger als 50 µm aufweist, ist eine Isolationsleistung vermindert. Andererseits ist es, wenn die Trennplatte400 eine Dicke von mehr als 200 µm aufweist, schwierig, das Löten für ein erstes Loch430 durchzuführen. - Wie in
4 gezeigt, ist ein Rahmen410 , der den Hauptkörper der Trennplatte400 darstellt, mit einem erstem Loch430 und einem zweiten Loch420 versehen, wobei der Halbleiterchip300 und der erste Stromleiter600 über das erste Loch430 verbunden sind und der Halbleiterchip300 und der Signalleiter700 über das zweite Loch420 verbunden sind. - Wie in FIGs. 3 und 5 gezeigt, ist das erste Loch
430 in einer Form ausgebildet, die zu der Form eines Netzteils bzw. Power Pad330 korrespondiert, das an einem Hauptkörper310 des Halbleiterchips300 angeordnet ist, und ein Lötmaterial S ist in das erste Loch eingeführt, so dass das Power Pad330 und der erste Stromleiter600 elektrisch und thermisch verbunden sind. - Das erste Loch
430 kann so ausgebildet sein, dass eine Mehrzahl von Power Pads330 mit dem ersten Stromleiter600 verbunden sein können. Alternativ dazu kann eine Mehrzahl von ersten Löchern430 vorgesehen sein, wobei jedes erste Loch ein darin angeordnetes Power Pad330 aufweist. - Wie in FIGs. 4 und 5 gezeigt, kann auch eine Mehrzahl von zweiten Löchern
420 im Rahmen410 der Trennplatte400 ausgebildet sein, wobei jedes zweite Loch420 bei einer Stelle angeordnet ist, die zu jedem einer Mehrzahl von Signalpads320 korrespondiert, die auf dem Hauptkörper310 des Halbleiterchips300 angeordnet ist. - Üblicherweise werden das Signalpad
320 und der Signalleiter700 aneinander unter Verwendung eines Drahts befestigt. Gemäß der vorliegenden Offenbarung sind das Signalpad320 und der Signalleiter700 jedoch aufeinander angeordnet und dann über das zweite Loch420 verbunden. - Während die Größe des zweiten Lochs
420 nicht auf eine vorgegebene Größe beschränkt ist, kann der Durchmesser des zweiten Lochs420 ungefähr 100 bis ungefähr 300 µm betragen, um zu der Größe des Signalpads320 zu korrespondieren. - Wie in
3 gezeigt, kann eine Innenumfangsfläche des zweiten Lochs420 , das in der Trennplatte400 angeordnet ist, mit einer leitfähigen Schicht421 versehen sein, die aus einem leitfähigen Material ausgebildet ist. Die leitfähige Schicht421 ist zum elektrischen Verbinden des Signalpads320 mit dem Signalleiter700 vorgesehen. Bei einer beispielhaften Ausführungsform ist die leitfähige Schicht421 eine kupferplattierte Schicht mit einer Dicke von ungefähr 1 bis ungefähr 10 µm. - Wenn die leitfähige Schicht
421 eine Dicke aufweist, die geringer ist als 1 µm, kann die Verbindung zwischen dem Signalpad320 und dem Signalleiter700 instabil sein; andererseits kann die Belastung, die durch die Differenz der thermischen Expansionsrate zwischen der leitfähigen Schicht421 und dem Rahmen410 verursacht wird, das Leistungsmodul beschädigen, wenn die leitfähige Schicht421 eine Dicke aufweist, die größer ist als 10 µm. - Es ist bevorzugt, dass die leitfähige Schicht
421 nicht mehr in der Innenumfangsfläche des zweiten Lochs420 angeordnet ist, sondern sich auch von einem oberen Abschnitt des zweiten Lochs420 zu einer oberen Fläche des Rahmens410 der Trennplatte400 erstreckt. Mit anderen Worten ist ein Umfang des oberen Abschnitts des zweiten Lochs420 mit einer leitfähigen Schicht421 versehen, so dass ein Kontakt zwischen der leitfähigen Schicht421 und dem Signalleiter700 von einem Linienkontakt in einen Flächenkontakt gewandelt wird, was es ermöglicht, einen Kontakt zwischen der leitfähigen Schicht421 und dem Signalleiter700 effizient aufrechtzuerhalten. - Wenn das zweite Loch
120 mit Kupfer gefüllt ist anstatt dass es mit einer dünnen Schicht versehen ist, wie einer leitfähigen Schicht421 , kann eine Verbindung mit anderen Komponenten des Leistungsmoduls unterbrochen werden oder es kann ein Cracking („cracking“) auftreten aufgrund der Wärmeexpansionsratendifferenzen zwischen der Trennplatte400 und dem Kupfer. - Ein unterer Abschnitt des zweiten Lochs
420 kann mit einem Lötmaterial S gefüllt sein, um eine Verbindung zwischen der leitfähigen Schicht421 und dem Signalpad320 des Halbleiterchips300 zu schaffen. Während das gesamte zweite Loch420 mit dem Lötmaterial S gefüllt sein kann, sollte zumindest der untere Abschnitt des zweiten Lochs420 mit dem Lötmaterial gefüllt sein, um so einen Spalt zwischen dem Signalpad320 und der leitfähigen Schicht421 zu füllen. Auf diese Weise ist es möglich, die leitfähige Schicht421 mit dem Signalpad320 unter Verwendung von minimalem Lötmaterial S zu verbinden. - Hiernach wird Bezug auf einen Zusammenbauprozess gemäß einer vorliegenden Offenbarung genommen, unter Bezugnahme auf FIGs. 2, 4 und 5.
- Die vorliegende Offenbarung ist dazu gedacht, dass sequentiell ein unteres Substrat
200 , ein unterer Stromleiter500 , ein Halbleiterchip300 , eine Trennplatte400 , ein erster Stromleiter600 , ein Signalleiter700 und ein oberes Substrat100 geschichtet werden. Hierin wird ein oberes Substrat100 in5 weggelassen. - Wenn die verschiedenen Leitermodulkomponenten geschichtet werden, wie vorstehend beschrieben, wird das Lötmaterial S zwischen dem zweiten Stromleiter
500 und dem Halbleiterchip300 und zwischen dem Halbleiterchip300 und dem ersten Stromleiter600 eingefügt, und, wie in3 (a) gezeigt, wird eine Lötkugel B im Voraus in das zweite Loch420 eingeführt. Hier ist die Lötkugel B hergestellt, indem ein konventionelles Lötmaterial S verarbeitet wird, um eine Kugelform einzunehmen. - Als nächstes werden das obere Substrat
100 und das untere Substrat200 gepresst und erhitzt, und das Lötmaterial S und die Lötkugel B werden geschmolzen, um alle Komponenten zu verbinden. - Wie vorstehend beschrieben, ist, weil die vorliegende Offenbarung eine Schichtung und einen Heizprozess benötigt (d. h. nur einen Lötprozess benötigt), eine Montagezeitdauer reduziert im Vergleich zu dem konventionellen Modul, welches zwei Schichtungsprozesse, zwei Lötprozesse und einen Drahtverbindungsprozess benötigt, wodurch die Produktionsraten verbessert sind.
- Nach dem Lötprozess werden der erste Stromleiter
600 und der Signalleiter700 , die anfänglich einstückig bzw. integral ausgeführt werden, geschnitten, um den Raum auszubilden, der gegen einen Kontakt und eine Leitfähigkeit zwischen dem ersten Stromleiter600 und dem Signalleiter700 vorbeugt, und die Komponenten zwischen dem oberen Substrat und dem unteren Substrat werden gewickelt durch Verwendung eines Wickelmittels („envelope“) 900, um die Herstellung des Leistungsmoduls zu abzuschließen. - Obwohl bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung zu illustrativen Zwecken beschrieben worden sind, wird der Fachmann verstehen, dass verschiedene Abwandlungen, Zusätze und Substitutionen möglich sind, ohne von dem Bereich und Rahmen der Erfindung abzuweichen.
- Die vorstehend beschriebenen Ausführungsformen sind daher illustrativ und nicht beschränkend, weil der Rahmen der Offenbarung durch die beigefügten Ansprüche definiert ist anstelle durch die vorstehende Beschreibung, und alle Veränderungen, die in den Rahmen und Bereich der Ansprüche fallen, oder Äquivalente von solchen Rahmen und Bereichen sind daher dazu gedacht, durch die Ansprüche abgedeckt zu werden.
- Bezugszeichenliste
-
10: oberes Substrat 20: unteres Substrat 30: Halbleiterchip 40: Abstandelement 50, 60: Stromleiter 70: Signalleiter 80: Draht 90: Wickelelement 100: oberes Substrat 110: obere Basisschicht 120: obere Metallschicht 200: unteres Substrat 210: untere Basisschicht 220: untere Metallschicht 300: Halbleiterchip 310: Hauptkörper 320: Signalpad 330: Leistungspad 400: Trennplatte 410: Rahmen 420: erstes Loch 421: leitfähige Schicht 430: zweites Loch 500: zweiter Stromleiter 600: erster Stromleiter 700: Signalleiter 900: Wickelelement T: wärmeleitfähiges Material B: Lötkugel S: Lötmaterial
Claims (9)
- Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung, das aufweist: einen Halbleiterchip, der zwischen einem oberen Substrat und einem unteren Substrat angeordnet; einen ersten Stromleiter, der zwischen dem oberen Substrat und dem Halbleiterchip angeordnet ist; einen Signalleiter, der zwischen dem oberen Substrat und dem Halbleiterchip angeordnet ist und von dem ersten Stromleiter beabstandet ist; einen zweiten Stromleiter, der zwischen dem unteren Substrat und dem Halbleiterchip angeordnet; und eine Trennplatte, die zwischen dem ersten Stromleiter, dem Signalleiter und dem Halbleiterchip angeordnet ist, wobei die Trennplatte den ersten Stromleiter mit dem Halbleiterchip über ein erstes Loch verbindet, das durch die Trennplatte ausgebildet ist, und den Signalleiter mit dem Halbleiterchip über ein zweites Loch verbindet, das durch die Trennplatte ausgebildet ist.
- Leistungsmodul nach
Anspruch 1 , bei dem eine Innenumfangsfläche des zweiten Lochs, das in der Trennplatte angeordnet ist, mit einer leitfähigen Schicht beschichtet. - Leistungsmodul, bei dem die leitfähige Schicht eine kupferplattierte Schicht ist.
- Leistungsmodul nach
Anspruch 2 oder3 , bei dem die leitfähige Schicht eine Dicke von ungefähr 1 bis ungefähr 10 µm aufweist. - Leistungsmodul nach einem der
Ansprüche 2 bis4 , bei dem sich die leitfähige Schicht von der Innenumfangsfläche des zweiten Lochs zu einer oberen Fläche der Trennplatte erstreckt. - Leistungsmodul nach einem der
Ansprüche 2 bis5 , bei dem ein unterer Abschnitt des zweiten Lochs, das in der Trennplatte angeordnet ist, mit einem Lötmaterial gefüllt ist, um die leitfähige Schicht mit dem Halbleiterchip zu verbinden. - Leistungsmodul nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem das erste Loch, das in der Trennplatte vorgesehen ist, mit einem Lötmaterial gefüllt ist, um den ersten und zweiten Stromleiter mit dem Halbleiterchip zu verbinden.
- Leistungsmodul nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die Trennplatte eine Dicke von ungefähr 100 bis ungefähr 200 µm aufweist.
- Leistungsmodul nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die Trennplatte aus einem dielektrischen Material oder einem keramischen Material ausgebildet ist.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160148687A KR101905995B1 (ko) | 2016-11-09 | 2016-11-09 | 양면냉각형 파워모듈 |
KR10-2016-0148687 | 2016-11-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102017209770A1 true DE102017209770A1 (de) | 2018-05-09 |
DE102017209770B4 DE102017209770B4 (de) | 2023-06-29 |
Family
ID=61598580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102017209770.1A Active DE102017209770B4 (de) | 2016-11-09 | 2017-06-09 | Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9922911B1 (de) |
KR (1) | KR101905995B1 (de) |
CN (1) | CN108074888B (de) |
DE (1) | DE102017209770B4 (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102391008B1 (ko) * | 2017-08-08 | 2022-04-26 | 현대자동차주식회사 | 파워 모듈 및 그 파워 모듈을 포함하는 전력 변환 시스템 |
KR102564459B1 (ko) * | 2019-05-09 | 2023-08-07 | 현대자동차주식회사 | 양면 냉각 파워모듈의 스페이서 구조 및 그 제조 방법 |
KR102296270B1 (ko) * | 2019-12-10 | 2021-09-01 | 현대모비스 주식회사 | 양면 냉각 파워 모듈 및 이의 제조방법 |
KR102260662B1 (ko) * | 2019-12-12 | 2021-06-04 | 한국전자기술연구원 | 체결형 스페이서를 이용한 양면냉각모듈패키지 및 그의 제조방법 |
KR20210129483A (ko) | 2020-04-20 | 2021-10-28 | 현대자동차주식회사 | 솔더링 구조, 이를 갖는 파워 모듈 및 파워 모듈의 제조 방법 |
WO2021241950A1 (ko) * | 2020-05-27 | 2021-12-02 | 주식회사 아모센스 | 파워모듈 |
KR20220014720A (ko) | 2020-07-29 | 2022-02-07 | 현대자동차주식회사 | 파워 모듈 및 게이트 보드의 통합 구조 |
KR20220017759A (ko) | 2020-08-05 | 2022-02-14 | 현대자동차주식회사 | 솔더링 구조 및 이를 갖는 파워 모듈 |
KR20220017739A (ko) | 2020-08-05 | 2022-02-14 | 현대자동차주식회사 | 파워 모듈 |
KR20220026868A (ko) | 2020-08-26 | 2022-03-07 | 현대자동차주식회사 | 파워 모듈 |
US11343943B1 (en) | 2020-11-23 | 2022-05-24 | Abb Schweiz Ag | Heat dissipation for power switches |
KR20230168515A (ko) | 2022-06-07 | 2023-12-14 | 현대자동차주식회사 | 파워 모듈 |
KR20230172344A (ko) | 2022-06-15 | 2023-12-22 | 현대자동차주식회사 | 파워 모듈 및 이를 이용한 모터 구동 시스템 |
KR20240003596A (ko) | 2022-07-01 | 2024-01-09 | 현대자동차주식회사 | 파워 모듈 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7145254B2 (en) * | 2001-07-26 | 2006-12-05 | Denso Corporation | Transfer-molded power device and method for manufacturing transfer-molded power device |
JP2004111431A (ja) | 2002-09-13 | 2004-04-08 | Yaskawa Electric Corp | パワーモジュールとその製造方法 |
JP4613077B2 (ja) * | 2005-02-28 | 2011-01-12 | 株式会社オクテック | 半導体装置、電極用部材および電極用部材の製造方法 |
US7262444B2 (en) | 2005-08-17 | 2007-08-28 | General Electric Company | Power semiconductor packaging method and structure |
US7564128B2 (en) | 2007-11-08 | 2009-07-21 | Delphi Technologies, Inc. | Fully testable surface mount die package configured for two-sided cooling |
JP5245485B2 (ja) * | 2008-03-25 | 2013-07-24 | 富士電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP4586087B2 (ja) * | 2008-06-30 | 2010-11-24 | 株式会社日立製作所 | パワー半導体モジュール |
US8063440B2 (en) * | 2009-05-28 | 2011-11-22 | GM Global Technology Operations LLC | Power electronics power module with imbedded gate circuitry |
JP5581043B2 (ja) * | 2009-11-24 | 2014-08-27 | イビデン株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP5381926B2 (ja) * | 2010-07-27 | 2014-01-08 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
JP5556487B2 (ja) * | 2010-08-05 | 2014-07-23 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
US8654541B2 (en) * | 2011-03-24 | 2014-02-18 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Three-dimensional power electronics packages |
US9041183B2 (en) * | 2011-07-19 | 2015-05-26 | Ut-Battelle, Llc | Power module packaging with double sided planar interconnection and heat exchangers |
CN103311193B (zh) * | 2012-03-06 | 2016-01-20 | 深圳赛意法微电子有限公司 | 半导体功率模块封装结构及其制备方法 |
CN102664177B (zh) * | 2012-05-16 | 2014-10-29 | 中国科学院电工研究所 | 一种双面冷却的功率半导体模块 |
KR101434039B1 (ko) | 2012-10-30 | 2014-08-25 | 삼성전기주식회사 | 전력 반도체 모듈 및 전력 반도체 제조 방법 |
US9337163B2 (en) | 2012-11-13 | 2016-05-10 | General Electric Company | Low profile surface mount package with isolated tab |
US8872328B2 (en) * | 2012-12-19 | 2014-10-28 | General Electric Company | Integrated power module package |
KR101459857B1 (ko) * | 2012-12-27 | 2014-11-07 | 현대자동차주식회사 | 히트싱크 일체형 양면 냉각 파워모듈 |
US9275926B2 (en) * | 2013-05-03 | 2016-03-01 | Infineon Technologies Ag | Power module with cooling structure on bonding substrate for cooling an attached semiconductor chip |
DE112014002061T5 (de) | 2013-10-29 | 2016-01-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Halbleitermodul |
JP2015225918A (ja) | 2014-05-27 | 2015-12-14 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | 半導体モジュールおよび半導体スイッチ |
KR101755769B1 (ko) * | 2014-10-29 | 2017-07-07 | 현대자동차주식회사 | 양면 냉각 파워 모듈 및 이의 제조 방법 |
-
2016
- 2016-11-09 KR KR1020160148687A patent/KR101905995B1/ko active IP Right Grant
-
2017
- 2017-05-19 US US15/599,688 patent/US9922911B1/en active Active
- 2017-06-09 DE DE102017209770.1A patent/DE102017209770B4/de active Active
- 2017-06-12 CN CN201710438265.3A patent/CN108074888B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102017209770B4 (de) | 2023-06-29 |
US9922911B1 (en) | 2018-03-20 |
CN108074888A (zh) | 2018-05-25 |
KR101905995B1 (ko) | 2018-10-10 |
KR20180052143A (ko) | 2018-05-18 |
CN108074888B (zh) | 2023-03-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102017209770A1 (de) | Leistungsmodul mit doppelseitiger Kühlung | |
DE102006009021B4 (de) | Halbleiterbauelement mit Elektrodenteil | |
EP3008753B1 (de) | Leistungsmodul | |
DE102014212376B4 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE3009295A1 (de) | Halbleiterbaustein | |
DE102015110653A1 (de) | Doppelseitiges Kühl-Chipgehäuse und Verfahren zum Herstellen desselben | |
DE2411259A1 (de) | Integrierter schaltkreis und verfahren zu seiner herstellung | |
DE19720275A1 (de) | Substrat für Halbleiteranordnung, Herstellungsverfahren für dasselbe und das Substrat verwendende gestapelte Halbleiteranordnung | |
DE10238320A1 (de) | Keramische Leiterplatte und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE19951752A1 (de) | Elektrische Vorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
AT512525A4 (de) | Leiterplatte, insbesondere für ein Leistungselektronikmodul, umfassend ein elektrisch leitfähiges Substrat | |
DE102015100129A1 (de) | Miniaturisiertes SMD-Diodenpaket und Herstellungsverfahren dafür | |
DE112014000862T5 (de) | Halbleitervorrichtung | |
WO2012152364A1 (de) | Substrat mit elektrisch neutralem bereich | |
EP0741504A2 (de) | Metallleiterplatte und Verfahren zur Herstellung | |
DE2250918C2 (de) | Chipträger für Mikrowellen-Leistungstransistoren und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE102004048688B4 (de) | Leistungs-Halbleitervorrichtung | |
DE102016103585B4 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Package mit lötbarem elektrischen Kontakt | |
DE102018215686A1 (de) | Leiterplatte und Planer Transformatorgebiet der Erfindung | |
DE102018215689A1 (de) | Leiterplatte und Planer Transformatorgebiet der Erfindung | |
DE102004014157B4 (de) | Thermistor vom Laminattyp mit positivem Temperaturkoeffizienten | |
WO2021047815A1 (de) | Kühlsystem | |
DE102017109515B4 (de) | Halbleiteranordnung und Verfahren zu deren Herstellung | |
WO2022263543A1 (de) | Leiterplattenanordnung | |
DE102012213555B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Leistungshalbleitermoduls |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |