DE102013101328B3 - Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie sowie Verfahren für dessen Herstellung - Google Patents

Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie sowie Verfahren für dessen Herstellung Download PDF

Info

Publication number
DE102013101328B3
DE102013101328B3 DE102013101328.7A DE102013101328A DE102013101328B3 DE 102013101328 B3 DE102013101328 B3 DE 102013101328B3 DE 102013101328 A DE102013101328 A DE 102013101328A DE 102013101328 B3 DE102013101328 B3 DE 102013101328B3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
glass
sio
tio
temperature
fictitious
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE102013101328.7A
Other languages
English (en)
Inventor
Klaus Becker
Stefan Ochs
Stephan Thomas
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG
Original Assignee
Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG filed Critical Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG
Priority to DE102013101328.7A priority Critical patent/DE102013101328B3/de
Priority to TW103102457A priority patent/TWI624435B/zh
Priority to JP2015556463A priority patent/JP6328665B2/ja
Priority to EP14702598.5A priority patent/EP2954372A2/de
Priority to PCT/EP2014/052106 priority patent/WO2014122111A2/de
Priority to CN201480008162.8A priority patent/CN104995557B/zh
Priority to KR1020157023004A priority patent/KR101922765B1/ko
Priority to US14/766,276 priority patent/US9522840B2/en
Application granted granted Critical
Publication of DE102013101328B3 publication Critical patent/DE102013101328B3/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/06Glass compositions containing silica with more than 90% silica by weight, e.g. quartz
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/14Other methods of shaping glass by gas- or vapour- phase reaction processes
    • C03B19/1453Thermal after-treatment of the shaped article, e.g. dehydrating, consolidating, sintering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/14Other methods of shaping glass by gas- or vapour- phase reaction processes
    • C03B19/1469Means for changing or stabilising the shape or form of the shaped article or deposit
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B25/00Annealing glass products
    • C03B25/02Annealing glass products in a discontinuous way
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B32/00Thermal after-treatment of glass products not provided for in groups C03B19/00, C03B25/00 - C03B31/00 or C03B37/00, e.g. crystallisation, eliminating gas inclusions or other impurities; Hot-pressing vitrified, non-porous, shaped glass products
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0891Ultraviolet [UV] mirrors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70316Details of optical elements, e.g. of Bragg reflectors, extreme ultraviolet [EUV] multilayer or bilayer mirrors or diffractive optical elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/7095Materials, e.g. materials for housing, stage or other support having particular properties, e.g. weight, strength, conductivity, thermal expansion coefficient
    • G03F7/70958Optical materials or coatings, e.g. with particular transmittance, reflectance or anti-reflection properties
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/06Doped silica-based glasses
    • C03B2201/20Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine
    • C03B2201/21Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine doped with molecular hydrogen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/06Doped silica-based glasses
    • C03B2201/20Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine
    • C03B2201/23Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine doped with hydroxyl groups
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/06Doped silica-based glasses
    • C03B2201/30Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi
    • C03B2201/40Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi doped with transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn
    • C03B2201/42Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi doped with transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn doped with titanium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2201/00Glass compositions
    • C03C2201/06Doped silica-based glasses
    • C03C2201/20Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide
    • C03C2201/21Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide containing molecular hydrogen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2201/00Glass compositions
    • C03C2201/06Doped silica-based glasses
    • C03C2201/20Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide
    • C03C2201/23Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide containing hydroxyl groups
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2201/00Glass compositions
    • C03C2201/06Doped silica-based glasses
    • C03C2201/30Doped silica-based glasses containing metals
    • C03C2201/40Doped silica-based glasses containing metals containing transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn
    • C03C2201/42Doped silica-based glasses containing metals containing transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn containing titanium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2203/00Production processes
    • C03C2203/40Gas-phase processes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2203/00Production processes
    • C03C2203/50After-treatment
    • C03C2203/52Heat-treatment

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)

Abstract

Um einen Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie bereitzustellen, bei dem der Anpassungsbedarf zur Optimierung des Verlaufs des thermischen Ausdehnungskoeffizient und damit auch des Verlaufs der Nulldurchgangstemperatur TZC gering ist, weist das TiO2-SiO2-Glas bei einem Mittelwert der fiktiven Temperatur Tf im Bereich zwischen 920 °C und 970 °C eine Abhängigkeit seiner Nulldurchgangstemperatur TZC von der fiktiven Temperatur Tf auf, die, ausgedrückt als Differentialquotient dTzc/dTf kleiner als 0,3 ist.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft einen Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie
  • Weiterhin betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Herstellung eines derartigen Rohlings beziehungsweise eines Formkörpers als Halbzeug für dessen Herstellung.
  • Stand der Technik
  • Bei der EUV Lithographie werden mittels mikrolithographischer Projektionsgeräte hochintegrierte Strukturen mit einer Linienbreite von weniger als 50 nm erzeugt. Dabei wird Laserstrahlung aus dem EUV-Bereich (Extrem ultraviolettes Licht, auch weiche Röntgenstrahlung genannt) mit Wellenlängen um 13 nm eingesetzt. Die Projektionsgeräte sind mit Spiegelelementen ausgestattet, die aus hochkieselsäurehaltigem und mit Titanoxid dotiertem Glas (im Folgenden auch als „TiO2-SiO2-Glas“ bezeichnet) bestehen und die mit einem reflektierenden Schichtsystem versehen sind. Diese Werkstoffe zeichnen sich durch einen extrem niedrigen linearen thermischen Ausdehnungskoeffizienten (kurz als „CTE“ bezeichnet; coefficient of thermal expansion) aus, der durch die Konzentration an Titan einstellbar ist. Übliche Titanoxid-Konzentrationen liegen zwischen 6 und 9 Gew.-%.
  • Ein derartiger Rohling aus synthetischem, titandotiertem hochkieselsäurehaltigem Glas und ein Herstellungsverfahren dafür sind aus der DE 10 2004 015 766 A1 bekannt. Das TiO2-SiO2-Glas wird durch Flammenhydrolyse titan- und siliziumhaltiger Ausgangssubstanzen erzeugt und enthält 6,8 Gew.-% Titanoxid. Es wird erwähnt, dass der Hydroxylgruppengehalt des so hergestellten Glases 300 Gew.-ppm selten unterschreitet. Zur Erhöhung der Strahlungsbeständigkeit des Glases wird vorgeschlagen, die Konzentration des herstellungsbedingt enthaltenen Wasserstoffs durch Erhitzen auf Werte unterhalb von 1017 Molekülen/cm3 abzusenken. Hierzu wird das Glas auf eine Temperatur im Bereich zwischen 400 und 800 °C erhitzt und bis zu 60 Stunden bei dieser Temperatur gehalten. Eine der Planflächen des Spiegelsubstrats wird verspiegelt, wobei eine Vielzahl von Schichten übereinander erzeugt wird.
  • Beim bestimmungsgemäßen Einsatz des Spiegelsubstrats ist dessen Oberseite verspiegelt. Die maximale (theoretische) Reflektivität eines derartigen EUV-Spiegelelements liegt bei etwa 70%, so dass mindestens 30% der Strahlungsenergie in der Beschichtung oder in der oberflächennahen Schicht des Spiegelsubstrats absorbiert und in Wärme umgesetzt werden. Dies führt im Volumen des Spiegelsubstrats zu einer inhomogenen Temperaturverteilung mit Temperaturdifferenzen, die laut Literaturangaben bis zu 50°C betragen können.
  • Für eine möglichst geringe Deformation wäre es daher wünschenswert, wenn das Glas des Spiegelsubstrat-Rohlings einen CTE hätte, der über den gesamten Temperaturbereich der im Einsatz auftretenden Arbeitstemperaturen bei Null läge. Tatsächlich kann bei Ti-dotierten Kieselgläsern der Temperaturbereich mit einem CTE um Null jedoch sehr eng sein.
  • Diejenige Temperatur, bei der der thermische Ausdehnungskoeffizient des Glases gleich Null ist, wird im Folgenden auch als Nulldurchgangs-Temperatur oder als TZC (Temperature Zero Crossing) bezeichnet. Die Titan-Konzentration ist in der Regel so eingestellt, dass sich ein CTE von Null im Temperaturbereich zwischen 20 °C und 45 °C ergibt. Volumenbereiche des Spiegelsubstrats mit höherer oder niedrigerer Temperatur als der voreingestellten TZC dehnen sich oder ziehen sich zusammen, so dass es trotz insgesamt niedrigem CTE des TiO2-SiO2-Glases zu Verformungen kommt unter denen die Abbildungsqualität des Spiegels leidet.
  • Es fehlt daher nicht an Vorschlägen, der Verschlechterung der optischen Abbildung durch inhomogene Temperaturverteilung im Spiegelsubstrat-Rohling entgegenzuwirken. So ist beispielsweise bei dem aus EP 0 955 565 A2 bekannten Spiegel ein metallisches Substratmaterial vorgesehen. Aufgrund der guten Wärmeleitfähigkeit des Metalls wird über die Rückseite des Metallsubstrats vorzugsweise durch eine Kühlvorrichtung die im Spiegel eingetragene Wärme effizient abgeführt.
  • Obwohl man auf diese Art und Weise thermisch induzierte Spiegeldeformationen reduzieren kann, gelingt es nicht, Bildfehler zu vermeiden. Es treten immer noch ganz erhebliche Aberrationen auf.
  • In der DE 103 59 102 A1 (~ US 2005/0185307 A1 ) werden für ein SiO2-TiO2-Glas Homogenitätsanforderungen definiert, die das Glas erfüllen soll. Zu diesem Zweck soll das Glas einen durch den Titangehalt bestimmten ortsabhängigen thermischen Längenausdehnungskoeffizienten aufweisen. Dieser soll zudem möglichst unabhängig von der Temperatur sein, definiert durch den Betrag der mittleren Steigung m von weniger als 1,5 × 10–9 K–2. Es wird allerdings nicht angegeben, wie diese geringe Temperaturabhängigkeit des CTE erreichbar ist.
  • Die WO 2011/078414 A2 sieht vor, bei einem Rohling für ein Spiegelsubstrat oder für eine Maskenplatte aus SiO2-TiO2-Glas die Konzentration an Titanoxid über die Dicke des Rohling schrittweise oder kontinuierlich an die sich beim Betrieb einstellende Temperaturverteilung so anzupassen, dass an jeder Stelle die Bedingung für die Nulldurchgangs-Temperatur TZC erfüllt sind, also der thermische Ausdehnungskoeffizient für die sich lokal einstellende Temperatur im Wesentlichen gleich Null ist. Dabei wird ein CTE als im Wesentlichen gleich Null definiert, wenn die verbleibende Längenausdehnung im Betrieb an jeder Stelle 0 +/– 50ppb/°C ist. Dies soll dadurch erreicht werden, dass bei der Herstellung des Glases durch Flammenhydrolyse die Konzentration an titan- beziehungsweise siliziumhaltiger Ausgangssubstanzen so variiert wird, dass sich ein vorgegebenes Konzentrationsprofil im Rohling einstellt.
  • Technische Aufgabenstellung
  • Die Methoden zur Optimierung der TZC durch lokale Variation der Titan-Konzentration erfordern genaue Kenntnis der sich im Einsatz einstellenden Temperaturverteilung über das Volumen des zu optimierenden Bauteils und sind mit einem enormen Design- und Anpassungsaufwand für das individuelle Bauteil verbunden. Dabei ist zu beachten, dass ein Projektionsobjektiv eine Vielzahl von Spiegeln verschiedener Größe und Form enthält, die nicht nur plane, sondern aus konvex oder konkav gekrümmte, verspiegelte Oberflächen mit an den spezifischen Einsatz angepasste Außenkonturen haben. Der sich im Betrieb tatsächlich einstellende Temperaturverlauf über das Volumen eines jeden zu optimierenden Bauteils hängt von den spezifischen Einsatzbedingungen und der Umgebung ab und kann exakt nur im fertig montierten Projektionsobjektiv unter realen Einsatzbedingungen festgestellt werden. Der Austausch einzelner Bauteile eines fertig montierten Projektionsobjektivs ist aber technisch kaum möglich.
  • Erschwerend kommt hinzu, dass der CTE und die damit skalierende TZC außer vom Titanoxid-Gehalt auch vom Hydroxylgruppengehalt und von der fiktiven Temperatur des Glases abhängen. Die fiktive Temperatur ist eine Glas-Eigenschaft, die den Ordnungszustand des „eingefrorenen“ Glasnetzwerkes repräsentiert. Eine höhere fiktive Temperatur des TiO2-SiO2-Glases geht mit einem geringeren Ordnungszustand der Glasstruktur und einer größeren Abweichung von der energetisch günstigsten strukturellen Anordnung einher.
  • Die fiktive Temperatur wird von der thermischen Vorgeschichte des Glases geprägt, insbesondere vom letzten Abkühlprozess. Dabei ergeben sich für oberflächennahe Bereiche eines Glasblocks zwangsläufig andere Bedingungen als für zentrale Bereiche, so dass unterschiedliche Volumenbereiche des Spiegelsubstrat-Rohlings bereits aufgrund ihrer unterschiedlichen thermischen Historie unterschiedliche fiktive Temperaturen haben. Die Verteilung der fiktiven Temperatur über das Rohling-Volumen ist daher stets inhomogen. Eine gewisse Vergleichmäßigung des Verlaufs der fiktiven Temperatur ist durch Tempern erreichbar. Temperprozesse sind jedoch energie- und zeitaufwändig.
  • Weiter kommt erschwerend hinzu, dass die sich einstellende fiktive Temperatur ebenfalls von der Zusammensetzung des TiO2-SiO2-Glases, und insbesondere vom Hydroxylgruppengehalt und der Titanoxid-Konzentration abhängt. Selbst durch sehr sorgfältiges und langes Tempern kann der Verlauf der fiktiven Temperatur über das Rohling-Volumen nicht homogenisiert werden, wenn die Zusammensetzung nicht vollkommen homogen ist. Dies ist aber gerade beim Hydroxylgruppengehalt, der durch Trocknungsmaßnahmen verändert werden kann, nicht ohne weiteres gegeben.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Rohling für ein Spiegelsubstrat aus einem TiO2-SiO2-Glas anzugeben, bei dem der Anpassungsbedarf zur Optimierung des Verlaufs von CTE und damit auch des Verlaufs von TZC gering ist.
  • Weiterhin ist es Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur Herstellung des erfindungsgemäßen Rohlings bereitzustellen.
  • Allgemeine Beschreibung der Erfindung
  • Hinsichtlich des Rohlings wird diese Aufgabe ausgehend von einem Rohling der eingangs genannten Gattung erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass das TiO2-SiO2-Glas bei einem Mittelwert der fiktiven Temperatur Tf im Bereich zwischen 920 °C und 970 °C eine Abhängigkeit seiner Nulldurchgangstemperatur TZC von der fiktiven Temperatur Tf aufweist, die, ausgedrückt als Differentialquotient dTzc/dTf kleiner als 0,3 ist.
  • Eine inhomogene Verteilung der fiktiven Temperatur über das Volumen des Rohlings erschwert die Einstellung einer möglichst homogenen Verteilung des CTE beziehungsweise der TZC. Anstelle einer aufwändigen Vergleichmäßigung der fiktiven Temperatur über das Rohling-Volumen oder eine aufwändige Anpassung des CTE an ein gegebenes Profil der fiktiven Temperatur wird erfindungsgemäß eine gewisse Entkopplung der Abhängigkeit des CTE und damit der Nulldurchgangstemperatur TZC von der fiktiven Temperatur angestrebt. Diese Maßnahme ist im Stand der Technik weder bekannt noch nahegelegt und kann bereits als erster Schritt in Richtung der Erfindung angesehen werden.
  • Grundsätzlich zeigen TiO2-SiO2-Gläser eine Abnahme des CTE und eine Zunahme der TZC mit der fiktiven Temperatur. Die Entkopplung der Abhängigkeit der TZC von der fiktiven Temperatur zeigt sich in einem Diagramm, in dem TZC in Abhängigkeit von der fiktiven Temperatur aufgetragen ist, somit in einer flachen Steigung der Funktion TZC=f(Tf). Diese Tangentensteigung ist gemäß der Erfindung an jedem Punkt innerhalb des Intervalls der fiktiven Temperatur von 920 bis 970 °C kleiner als 0,3, vorzugsweise kleiner als 0,25.
  • Es handelt sich um eine werkstoffspezifische Eigenschaft. Diese liegt im erfindungsgemäßen Rohling unabhängig davon vor, ob dessen mittlere fiktive Temperatur tatsächlich im genannten Temperatur-Intervall liegt. Wird beispielsweise eine höhere fiktive Temperatur eingestellt, so können sich Steigungen der Funktion TZC = f(Tf) ergeben, bei denen der Differentialquotient höher ist als 0,3. Der erfindungsgemäße Rohling ist daran erkennbar, dass die gewünschte Entkopplung gewährleistet ist, wenn er eine mittlere fiktive Temperatur im Bereich zwischen 920 °C und 970 °C hat.
  • Das Diagramm von 2 zeigt einen Vergleich der Funktion TZC = f(Tf) bei einem handelsüblichen TiO2-SiO2-Glas (Kurve A) und einem TiO2-SiO2-Glas gemäß der Erfindung (Kurve B). Die Kurve B zeigt innerhalb des Temperaturintervalls von 920 bis etwa 990 °C an jedem Punkt eine durch den Differentialquotienten dTzc/dTf ausgedrückte Tangentensteigung von weniger als 0,3, wohingegen die Kurve A an keinem einzigen Punkt innerhalb diese Intervalls eine so geringe Steigung zeigt.
  • Dies belegt für das TiO2-SiO2-Glas des erfindungsgemäßen Rohlings eine gewisse Unempfindlichkeit des TZC von der fiktiven Temperatur, was hier auch als „Entkopplung“ der Abhängigkeit der Nulldurchgangstemperatur von der fiktiven Temperatur bezeichnet wird. Durch diese Entkopplung kann ein Rohling trotz eines Profils der fiktiven Temperatur, das ansonsten entweder nicht mehr akzeptabel wäre oder das aufwändig durch Anpassung des Verlaufs des CTE (etwa durch Verändern der Konzentrationen an Titanoxid oder an Hydroxylgruppen) kompensiert werden müsste, zur Herstellung eines verformungsarmen Spiegelsubstrats verwendet werden. Damit sind die Anforderungen beim Tempern an die Einstellung eines möglichst homogenen Verlaufs der fiktiven Temperatur geringer oder es ergibt sich bei gleichem Aufwand eine homogenere Verteilung der TZC (soweit sie durch die fiktive Temperatur bedingt ist).
  • Ein gängiges Messverfahren zur Ermittlung der fiktiven Temperatur anhand einer Messung der Raman-Streuintensität bei einer Wellenzahl von etwa 606 cm–1 ist in „Ch. Pfleiderer et. al.; The UV-induced 210 nm absorption band in fused silica with different thermal history and stoichiometry; Journal of Non-Cryst. Solids 159 (1993), S. 143–145“ beschrieben.
  • Die angestrebte Entkopplung wird durch ein spezifisches Verfahren zur Herstellung des TiO2-SiO2-Glases erreicht, das weiter unten noch näher erläutert wird.
  • Der Grad der Entkopplung der Abhängigkeit der TZC von der fiktiven Temperatur ist in gewissem Umfang von der absoluten Höhe der fiktiven Temperatur selbst abhängig. Bei niedriger fiktiver Temperatur gelingt die angestrebte Entkopplung leichter als bei hoher fiktiver Temperatur. Die Anforderungen sind daher höher, und die erreichte Entkopplung macht sich besonders bemerkbar, wenn die fiktiven Temperaturen des Rohlings im oberen Bereich des Temperaturintervalls liegen, also beispielsweise oberhalb von 940 °C.
  • Die fiktive Temperatur hängt bei gleicher Temperbehandlung wiederum wesentlich vom Hydroxylgruppengehalt ab. Je höher der Hydroxylgruppengehalt, umso niedriger ist die sich einstellende fiktive Temperatur bei gleicher Temperbehandlung. Würde nur auf die Einstellung einer möglichst niedrigen fiktiven Temperatur abgezielt, wäre an und für sich ein hoher Hydroxylgruppengehalt zu bevorzugen. Andererseits sind Hydroxylgruppen zur Erreichung anderer, insbesondere optischer oder mechanischer Eigenschaften in gewissem Maße unerwünscht. Als geeigneter Kompromiss zwischen diesen anderen Eigenschaften und einer niedrigen fiktiven Temperatur hat es sich bewährt, wenn das TiO2-SiO2-Glas einen mittleren Hydroxylgruppengehalt im Bereich von 200 bis 300 Gew.-ppm aufweist.
  • Dabei handelt es sich um einen mittel-hohen Hydroxylgruppengehalt. Voraussetzung für die Einstellung dieses mittleren Hydroxylgruppengehalts ist die Herstellung des TiO2-SiO2-Glases nach dem sogenannten „Sootverfahren“. Dabei wird als Zwischenprodukt ein poröser Sootkörper erhalten, der herstellungsbedingt Hydroxylgruppen enthält. Diese können durch reaktive chemische Behandlung mittels Halogenen im gewünschten Umfang entfernt werden. Vorzugsweise erfolgt die Trocknung jedoch durch thermische Behandlung des Sootkörpers unter Vakuum.
  • Der Hydroxylgruppengehalt (OH-Gehalt) ergibt sich durch Messung der IR-Absorption nach der Methode von D. M. Dodd et al. („Optical Determinations of OH in Fused Silica“, (1966), S. 3911).
  • Außerdem hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn das TiO2-SiO2-Glas eine mittlere Wasserstoffkonzentration von weniger als 5 × 1016 Molekülen/cm3, vorzugsweise eine mittlere Wasserstoffkonzentration von weniger als 1 × 1016 Molekülen/cm3 aufweist.
  • Die mittlere Wasserstoffkonzentration wird anhand von Raman-Messungen ermittelt. Die angewandte Messmethode ist beschrieben in: Khotimchenko et al.; „Determining the Content of Hydrogen Dissolved in Quartz Glass Using the Methods of Raman Scattering and Mass Spectrometry“ Zhurnal Prikladnoi Spektroskopii, Vol. 46, No. 6 (Juni 1987), S. 987–991.
  • Wegen der oben erläuterten Entkopplung von TZC und fiktiver Temperatur ist der erfindungsgemäße Spiegelsubstrat-Rohling aus TiO2-SiO2-Glas relativ unempfindlich gegenüber einer inhomogenen Verteilung der fiktiven Temperatur über dem Volumen des Rohlings. Die insgesamt geringe thermische und räumliche Abhängigkeit erleichtert daher auch die Anpassung der TZC an einen sich im praktischen Einsatz einstellenden inhomogenen Temperaturverlauf.
  • Eine weitergehende Anpassung ist bei einer bevorzugten Ausführungsform vorgesehen, bei der der Rohling von einer Oberseite und einer Unterseite begrenzt ist, wobei das TiO2-SiO2-Glas zwischen Oberseite und Unterseite einen nicht homogenen Verlauf der Titanoxid-Konzentration aufweist.
  • Bei dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Rohlings wird ergänzend zum inhomogenen Verlauf der fiktiven Temperatur die Titanoxid-Konzentration des Glases variiert und dadurch beispielsweise die TZC an die sich im Betrieb einstellende Temperatur angepasst.
  • Der Rohling ist dabei als Verbundkörper ausgebildet, der einen ersten Formkörper aus TiO2-SiO2-Glas mit einer ersten Titanoxid-Konzentration und einen zweiten Formkörper aus TiO2-SiO2-Glas mit einer zweiten Titanoxid-Konzentration umfasst, der mit dem ersten Formkörper verbunden ist.
  • Im einfachsten Fall genügen zwei Formkörper, um die Titandioxid-Konzentration und die TZC dem inhomogenen Temperaturverlauf im Betrieb mit hinreichender Genauigkeit anpassen zu können.
  • Die dabei als Halbzeug eingesetzten Formkörper bestehen aus TiO2-SiO2-Glas gemäß der vorliegenden Erfindung, jedoch mit unterschiedlicher Titanoxid-Konzentration. Zur Fertigstellung des Spiegelsubstrat-Rohlings (oder eines Teils desselben) werden die Formkörper anhand bekannter Methoden miteinander verbunden.
  • Eine höhere fiktive Temperatur wirkt auf die TZC in derselben Weise wie eine höhere Titanoxid-Konzentration, das heißt, TZC-erhöhend für das betreffende TiO2-SiO2-Glas.
  • Aus diesem Grund wird bei einer vorteilhaften Ausführungsform des erfindungsgemäßen Rohlings auch die fiktive Temperatur zur Anpassung der TZC an einen vorgegebenen Temperaturverlauf eingesetzt. Dabei weist der erste Formkörper eine erste mittlere fiktive Temperatur und der zweite Formkörper eine zweite mittlere fiktive Temperatur auf, wobei sich erste und zweite fiktive Temperatur voneinander unterscheiden. Außer der fiktiven Temperatur und der Titanoxid-Konzentration wirkt sich aus der Hydroxylgruppengehalt auf die TZC aus und kann als zusätzlicher Parameter zur Anpassung an den vorgegebenen Temperaturverlauf mit herangezogen werden.
  • Zur Einstellung der jeweiligen fiktiven Temperatur werden erster und zweiter Formkörper vor ihrer Verbindung einem Temperprozess unterzogen, derart, dass die sich dabei einstellenden fiktiven Temperaturen voneinander unterscheiden.
  • Die Formkörper sind plattenförmig mit einer Dicke von maximal 60 mm ausgebildet.
  • Bei der Bestimmung von CTE und Titanoxid-Konzentration an plattenfömigen Formkörpern ist ein über die Dicke gemittelter Messwert aussagekräftiger im Vergleich zu einer Messung über die größere Dicke des kompletten Spiegelsubstrat-Rohlings. Je dünner der Formkörper ist (genauer gesagt, je kürzer die Messstrecke ist), umso aussagekräftiger und genaue ist der gemessene Mittelwert.
  • Das Verfahren zur Herstellung des erfindungsgemäßen Rohlings umfasst erfindungsgemäß die folgenden Verfahrensschritte:
    • (a) Erzeugen eines ersten porösen Sootkörpers aus SiO2 mit einer ersten Konzentration an Titanoxid durch Flammenhydrolyse von Silizium und Titan enthaltenden Ausgangssubstanzen,
    • (b) Trocknen und Sintern des ersten Sootkörpers derart, dass ein erstes TiO2-SiO2-Glas mit der ersten Titanoxid-Konzentration erhalten wird, wobei der mittlere Hydroxylgruppengehalt auf weniger als 300 Gew.-ppm eingestellt wird,
    • (c) Homogenisieren des ersten TiO2-SiO2-Glases in einem Homogenisierungsprozess, bei dem das TiO2-SiO2-Glas in oxidativ wirkender Atmosphäre auf eine Temperatur von mehr als 2000 °C erhitzt, dabei erweicht und umgeformt wird, so dass sich eine mittleren Wasserstoffkonzentration von weniger als 5 × 1016 Moleküle/cm einstellt,
    • (d) Formen des ersten TiO2-SiO2-Glases, das einen mittleren Hydroxylgruppengehalt im Bereich von 200 bis 300 Gew.-ppm und eine mittlere Wasserstoffkonzentration von weniger als 5 × 1016 Moleküle/cm3 aufweist zu einem Formkörper, und
    • (e) Tempern des Formkörpers derart, dass das das TiO2-SiO2-Glas bei einer mittleren fiktiven Temperatur Tf im Bereich zwischen 920 °C und 970 °C eine Abhängigkeit seiner Nulldurchgangstemperatur TZC von der fiktiven Temperatur Tf aufweist, die, ausgedrückt als Differentialquotient dTzc/dTf kleiner als 0,3 ist.
  • Der so erhaltene Formkörper aus TiO2-SiO2-Glas ist entweder nach mechanischer Weiterverarbeitung, wie Schleifen und Polieren, unmittelbar als Spiegelsubstrat-Rohling einsetzbar oder er dient als Vorprodukt zur Weiterverarbeitung zu dem Rohling. Das so erzeugte TiO2-SiO2-Glas zeigt aufgrund seiner Struktur und seiner chemischen Zusammensetzung einen CTE und eine Nulldurchgangstemperatur TZC, die relativ unempfindlich gegenüber einem inhomogenen Verlauf der fiktiven Temperatur über dem Volumen des Rohlings sind und deswegen einen relativ einfachen konstruktiven Aufbau zur Anpassung der thermischen Ausdehnung an einen sich im praktischen Einsatz einstellenden Temperaturverlauf über die Dicke des Rohlings erlauben. Dies wird im Folgenden noch näher erläutert:
  • Auswirkung der chemischen Zusammensetzung und der Glasstruktur auf TZC
  • Der thermische Ausdehnungskoeffizient CTE und die Nulldurchgangstemperatur TZC von TiO2-SiO2-Glas hängen von der Titan-Konzentration, vom Hydroxylgruppengehalt und von der fiktiven Temperatur ab.
  • Da die fiktive Temperatur von der thermischen Vorgeschichte des Glases geprägt wird, ist sie über das Volumen des Spiegelsubstrat-Rohlings gesehen stets inhomogen und kann grundsätzlich nur durch energie- und zeitaufwändige Temperprozesse mehr oder weniger angeglichen werden. Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht die Herstellung eines TiO2-SiO2-Glases, das eine geringe Abhängigkeit von CTE und TZC von der fiktiven Temperatur aufweist, so dass insoweit eine gewisse Entkopplung erreicht wird.
  • Der mittlere Hydroxylgruppengehalt des TiO2-SiO2-Glases im Bereich von 200 bis 300 Gew.-ppm ist bei der Herstellung des Glases nach dem sogenannten „Sootverfahren“ einstellbar Dabei wird als Zwischenprodukt ein poröser Sootkörper erhalten, der Hydroxylgruppen in großer Menge enthält. Diese können durch reaktive chemische Behandlung mittels Halogenen entfernt werden. Vorzugsweise erfolgt die Trocknung jedoch durch thermische Behandlung des Sootkörpers unter Vakuum.
  • Hinsichtlich der chemischen Zusammensetzung des TiO2-SiO2-Glases und deren Auswirkungen auf die Abhängigkeit des CTE von der Temperatur erweist sich das Sootverfahren in anderer Hinsicht jedoch als nachteilig. Für das Verglasen des Sootkörpers genügen relativ niedrige Temperaturen um 1500 °C. Es hat sich gezeigt, dass sich dabei im TiO2-SiO2-Glas Mikrokristalle aus Rutil (TiO2) bilden, können, so dass Bereiche mit hoher Titandioxid-Konzentration entstehen, die Auswirkungen auf die thermische Ausdehnung des Glases haben. Diese Mikrokristalle haben einen Schmelzpunkt von 1855 °C.
  • Erfindungsgemäß ist vorgesehen, das nach dem Verglasen erhaltene TiO2-SiO2-Glas auf eine Temperatur zu erhitzen, bei der die Rutil-Mikrokristalle aufschmelzen. Gleichzeitig wird das Glas verformt und homogenisiert – beispielsweise durch Verdrillen – um eine homogenere Verteilung der TiO2-reichen Bereiche zu bewirken. Zu diesem Zweck wird das TiO2-SiO2-Glas einem Homogenisierungsprozess unterzogen, bei dem es auf eine Temperatur von mehr als 2000 °C erhitzt und dabei erweicht und umgeformt wird.
  • Dadurch wird erreicht, dass sich über das Volumen des TiO2-SiO2-Glases eine homogenere Titandioxid-Verteilung einstellt und die räumliche Abhängigkeit des CTE infolge von Rutil-Mikrokristall-Konzentrationen verringert wird.
  • Andererseits können die hohen Temperaturen bei der Homogenisierung eine teilweise Reduktion von Ti4+ in Ti3+ bewirken. Es hat sich gezeigt, dass der Oxidationszustand von Titanoxid die Koordination des Ions innerhalb der Netzwerkstruktur beeinflusst, und dass sich diese Änderung ungünstig auf die Verteilung des Titanoxids – ähnlich wie die Rutil-Bildung – auswirkt. Daher wird erfindungsgemäß während der Homogenisierung mindestens zeitweise eine oxidativ wirkende Atmosphäre eingestellt. Dabei wird im Bereich der erweichten Glasmasse ein oxidierend wirkendes Gas, wie Sauerstoff, im Überschuss bereitgestellt und so einer Teilreduktion von Ti4+ in Ti3+ entgegengewirkt.
  • Auf diese Weise wird gewährleistet, dass die nach Verfahrensschritt (d) aus dem jeweiligen TiO2-SiO2-Glas erzeugten Formkörper eine weitgehend homogene Verteilung von Titanoxid und zwar mit Titan im vierwertigen Oxidationszustand zeigen.
  • Gleichzeitig wird wegen der hohen Temperatur und der oxidativ wirkenden Atmosphäre der herstellungsbeding enthaltene Wasserstoff reduziert, so dass sich im TiO2-SiO2-Glas im Mittel eine sehr geringe Wasserstoff-Konzentration von weniger als 5 × 1016 Molekülen/cm3. vorzugsweise weniger als 1 × 1016 Molekülen/cm3 einstellt.
  • Bei dieser Homogenisierung kann das TiO2-SiO2-Glas in eine endnahe Form gebracht werden, beispielsweise in Plattenform. Häufig erfolgt diese Formgebung jedoch in einem separaten Formgebungsprozess.
  • Der durch die Formgebung erhaltene Formkörper zeigt in der Regel über sein Volumen eine stark inhomogene Verteilung der fiktiven Temperatur. Um eine gewisse Vereinheitlichung der fiktiven Temperatur zu erreichen und um Werte im Bereich von 920 °C bis 970 °C zu einzustellen, wird der Formkörper getempert. Temperverfahren, die geeignet sind, eine fiktive Temperatur in diesem Temperaturbereich einzustellen, sind anhand weniger und einfacher Versuche zu entwickeln. Auch nach dem Temperprozess unterscheiden sich die sich einstellenden fiktiven Temperaturen im oberflächennahen Bereich von Ober- und Unterseite und von der fiktiven Temperatur im Volumen (in der Mitte des Formkörpers) voneinander, wobei die Differenz vom Volumen und der Dicke des Rohlings abhängt und bei Dicken um 150 mm im Bereich weniger Grade liegt, typischerweise um 5 °C.
  • Das mittels der oben genannten Maßnahmen erzeugte und nachbearbeitete TiO2-SiO2-Glas zeichnet sich durch einen Hydroxylgruppengehalt und eine Wasserstoffkonzentration aus, wie den oben spezifiziert, und insbesondere durch eine Nulldurchgangstemperatur TZC, die im Intervall zwischen 920 °C und 970 °C in einem so geringen Maße von der fiktiven Temperatur abhängt, wie es bisher nicht bekannt war. Diese geringe Abhängigkeit wird ausgedrückt als Differentialquotient dTzc/dTf, der kleiner als 0,3 ist. Vorzugsweise wird das erste TiO2-SiO2-Glas beim Homogenisierungsprozess gemäß Verfahrensschritt (c) mindestens zweitweise mit einer Brennerflamme erhitzt, welcher Brenngas und mindestens eine oxidierende Komponente in einer zur vollständigen Verbrennung des Brenngases überschüssigen Menge zugeführt werden.
  • Der Brennerflamme wird ein Gasgemisch aus Brenngas und einer das Brenngas oxidierenden Komponente, insbesondere Sauerstoff, verbrannt. Durch den Überschuss an oxidierender Komponente im Gasgemisch ist zum einen sichergestellt, dass das Brenngas vollständig verbrennt und dass ein Überschuss verbleibt, der einer Teilreduktion von Titan4+-Oxid entgegenwirkt.
  • Die dadurch erreichte Entkopplung der TZC von der fiktiven Temperatur entschärft weitgehend die Problematik, die fiktive Temperatur als Einflussgröße bei der Anpassung an einen inhomogenen Verlauf der sich im Einsatz einstellenden Betriebstemperatur mit berücksichtigen zu müssen, und vereinfacht deswegen diese Anpassung.
  • Erfolgt die Anpassung an einen inhomogenen Verlauf der Betriebstemperatur über die Zusammensetzung des TiO2-SiO2-Glases, wie etwa der Ti-Konzentration oder dem Hydroxylgruppengehalt, so gehen damit zwangsläufig auch Änderungen der fiktiven Temperatur des Glas-Rohlings einher, und zwar sowohl hinsichtlich des Absolutwerts als auch hinsichtlich deren Verteilung über das Volumen. Diese Änderungen der fiktiven Temperatur wirken sich wiederum auf TZC aus erschweren die Anpassung und korrekte Einstellung der TZC über dem Volumen. Dieser Störeinfluss der fiktiven Temperatur wird durch den Einsatz des erfindungsgemäßen Rohlings entschärft. Denn dadurch wirken sich Änderungen der fiktiven Temperatur weniger stark auf den Verlauf der TZC aus, so dass die Glas-Zusammensetzung zielgenauer – also bei verringertem Störeffekt durch die fiktive Temperatur – auf die gewünschte TZC eingestellt werden kann.
  • Die Anpassung an einen inhomogenen Verlauf der Betriebstemperatur erfolgt vorzugsweise durch Glasschichten, die sich in ihrer Titanoxid-Konzentration unterscheiden. Die Glasschichten werden erhalten, indem vorgefertigte, insbesondere platten-, förmige Formkörper miteinander verbunden werden. Die vorgefertigten Formkörper sind anhand der üblichen Messtechnik genauer zu charakterisieren als das fertige Spiegelsubstrat. So können die Titandioxid-Konzentration und der CTE relativ einfach optisch oder mittels Ultraschallmessung gemessen werden. Dabei wird jedoch ein über Messstrecke gemittelter Wert erhalten. Im Vergleich zur Messung am kompletten Spiegelsubstrat-Rohling, ist bei Messung an den in der Zwischenstufe vorliegenden plattenförmigen Formkörpern der gemittelte Messwerte aussagekräftiger. Beim erfindungsgemäßen TiO2-SiO2-Glas verursachen die Änderungen in der Titandioxid-Konzentration Änderungen in der fiktiven Temperatur; diese wirken sich aber weniger als sonst üblich auf die Einstellung der TZC aus.
  • Im Folgenden werden einige besonders bevorzugte Verfahrensmodifikationen näher erläutert:
    Das Trocknen des Sootkörpers erfolgt vorzugsweise durch Erhitzen des jeweiligen Sootkörpers unter Vakuum auf eine Temperatur von mindestens 1150 °C, vorzugsweise von mindestens 1200 °C.
  • Durch eine hohe Temperatur wird die Behandlungsdauer verkürzt, die zur Beseitigung der Hydroxylgruppen bis auf einen Gehalt im Bereich von 200 bis 300 Gew.-ppm erforderlich ist.
  • Es hat sich bewährt, wenn das Homogenisieren gemäß Verfahrensschritt (c) ein Verdrillen umfasst, bei dem ein zylinderförmiger Ausgangskörper aus dem jeweiligen TiO2-SiO2-Glas zwischen zwei Halterungen gehalten zonenweise auf Schmelztemperatur gebracht und dabei die erhitzte Zone durch Relativbewegung der beiden Halterungen zueinander unter Ausbildung eines in drei Richtungen homogenisierten Drillkörpers durchgearbeitet wird.
  • Hierzu wird der Ausgangskörper in eine mit einem oder mehreren Heizbrennern ausgestattete Glasdrehbank eingespannt und anhand eines Umformprozesses homogenisiert, wie er in der EP 673 888 A1 zum Zweck der vollständigen Entfernung von Schichten beschrieben ist. Bei der erfindungsgemäßen Modifikation dieses Verfahrens wird der Ausgangskörper mittels eines Heizbrenners mit oxidierend eingestellter Brennerflamme lokal auf über 2000 °C erhitzt und dabei erweicht. Der Ausgangskörper wird durch Relativbewegung der beiden Halterungen zueinander um seine Längsachse in mehreren Richtungen verdrillt, wobei die erweichte Glasmasse intensiv durchmischt wird. Durch diesen Homogenisierungsprozess werden im Ausgangskörper vorhandene Rutil-Mikrokristalle aufgeschmolzen, eine Reduktion von Ti in dreiwertiges Ti und eine damit einhergehende Änderung der Koordination wird vermieden, so dass sich insgesamt eine gleichmäßige Verteilung der Titanoxid-Konzentration einstellt.
  • Werden zwei oder mehr Formkörper miteinander verbunden, werden bevorzugt eine plane Kontaktfläche des ersten Formkörpers und eine plane Kontaktfläche des zweiten Formkörpers durch Ansprengen zusammengefügt und miteinander verschweißt.
  • Hierbei handelt es sich ein „kaltes Verbindungsverfahren“, bei dem allenfalls der unmittelbare Bereich der Kontaktfläche eine nennenswerte Erwärmung erfährt. Da dieses Fügeverfahren keinen Heißschritt erfordert, werden die voreingestellten Eigenschaften, insbesondere hinsichtlich Einstellung von CTE und fiktiver Temperatur nicht mehr verändert.
  • Alternativ dazu kann das Verbinden einen Verbindungsschritt umfassen, bei dem der auf dem zweiten Formkörper aufliegende obere Formkörper in einem Ofen erweicht und mit diesem zusammen verformt wird.
  • Hierbei handelt es sich ein „heißes Verbindungsverfahren“, bei dem die einzelnen Formkörper, wie etwa Platten oder Stangen, durch Verschweißen aneinander gefügt werden. Zwischen den Kontaktflächen kann dabei ein Hilfsstoff eingebracht werden, um das stoffschlüssige Fügen zu erleichtern, beispielsweise ein Schlicker mit Partikeln aus TiO2-SiO2-Glas. Durch den Fügeprozess bei hoher Temperatur kann sich jedoch eine vorab eingestellte fiktive Temperatur ändern. Falls erforderlich, wird das fertig gefügte Spiegelsubstrat in einem nachfolgenden Temperschritt behandelt. Dabei stellen sich je nach chemischer Zusammensetzung der ursprünglichen Formkörper in der Regel unterschiedliche fiktive Temperaturen ein.
  • Ausführungsbeispiel
  • Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen und einer Zeichnung näher erläutert. Im Einzelnen zeigt:
  • 1 ein Diagramm zur Veranschaulichung der Temperaturschichtung in einem Spiegelsubstrat mit gekrümmten Oberflächen,
  • 2 ein Diagramm zur Abhängigkeit der Nulldurchgangstemperatur TZC von der fiktiven Temperatur Tf bei unterschiedlichen TiO2-SiO2-Gläsern, also deren spezifische Funktion TZC = f(Tf), und
  • 3 ein Diagramm mit Ableitungen (Tangentensteigungen) der spezifischen Funktionen TZC = f(Tf) aus dem Diagramm von 2.
  • Das Diagramm von 1 zeigt die Temperaturverteilung in einem kreisförmigen Spiegelsubstrat mit gekrümmten Oberflächen, wie sie sich im thermischen Gleichgewicht einstellt, wenn auf der Oberfläche eine Temperatur von 50 °C angenommen wird. „X“ bezeichnet den Radius, und die Skala der y-Achse gibt die Dicke an, jeweils in m. Der maximale Temperaturunterschied beträgt zwar nur etwa 5 Grad Celsius, er ergibt sich aber nicht nur zwischen Oberseite und Unterseite des Substrats, sondern auch zwischen Oberseite und Seitenrand.
  • Diese Temperaturverteilung macht deutlich, wie aufwändig die Titanoxid-Konzentration innerhalb eines Substrates variiert werden muss, wenn eine exakte Anpassung der TZC an die Temperaturverteilung nur über die Titanoxid-Konzentration erfolgen soll. Erschwerend kommt hinzu, dass Spiegelsubstrat-Rohlinge aus Glas herstellungsbedingt über ihr Volumen eine gewisse Variation ihrer fiktiven Temperatur haben, die sich auf den CTE auswirkt.
  • Der erfindungsgemäße Spiegelsubstrat-Rohling zeigt eine geringere Temperaturabhängigkeit des CTE von der fiktiven Temperatur, so dass dieser Anpassungsaufwand vollständig entfällt oder zumindest geringer ist. Dies wird nachfolgend anhand von Beispielen erläutert.
  • Herstellung von Formkörpern mit unterschiedlicher Titanoxid-Konzentration und fiktiver Temperatur
  • Probe 1a: Platte aus TiO2-SiO2-Glas
  • Durch Flammenhydrolyse von Octamethylcyclotetrasiloxan (OMCTS) und Titan-Isopropoxid [Ti(OPri)4] als Einsatzmaterial für die Bildung von SiO2-TiO2-Partikeln wird anhand des bekannten OVD-Verfahrens ein Sootkörper hergestellt, der aus synthetischem TiO2-SiO2-Glas besteht, das mit ca. 8 Gew.-% TiO2 dotiert ist.
  • Der Sootkörper wird bei einer Temperatur von 1150 °C (TTrocknen) in einem Heizofen mit einem Heizelement aus Grafit unter Vakuum dehydratisiert. Das im Heizofen vorhandene Grafit bewirkt die Einstellung reduzierender Bedingungen. Die Dehydratationsbehandlung endet nach 2 Stunden (tTrocknen).
  • Danach wird der getrocknete Sootkörper in einem Sinterofen bei einer Temperatur von ca. 1500 °C unter Vakuum (10 mbar) zu einem transparenten Rohling aus TiO2-SiO2-Glas verglast. Der mittlere Hydroxylgruppengehalt des Glases liegt bei etwa 250 Gew.-ppm.
  • Das Glas wird anschließend durch thermisch mechanische Homogenisierung (Verdrillen) und Bildung eines Zylinders aus TiO2-SiO2-Glas homogenisiert. Hierzu wird ein stabförmiger Ausgangskörper in eine mit einem Knallgasbrenner ausgestattete Glasdrehbank eingespannt und anhand eines Umformprozesses homogenisiert, wie er in der EP 673 888 A1 zum Zweck der vollständigen Entfernung von Schichten beschrieben ist. Dabei wird der Ausgangskörper mittels des Knallgasbrenners lokal auf über 2000 °C erhitzt und dabei erweicht. Dabei werden dem Knallgasbrenner auf 1 Mol Sauerstoff 1,8 Mol Wasserstoff zugeführt und damit eine oxidierend wirkende Knallgasflamme erzeugt.
  • Durch Relativbewegung der beiden Halterungen zueinander wird der Ausgangskörper um seine Längsachse verdrillt, wobei die erweichte Glasmasse unter Bildung eines Drillkörpers in radialer Richtung intensiv durchmischt wird. Es wird ein länglicher Drillkörper mit einem Durchmesser von etwa 90 mm und eine Länge von etwa 635 mm erhalten. In einem weiteren Umformprozess wird der Drillkörper zu einer ballförmigen Masse gestaucht, und die Ansatzpunkte der Halterungen an der ballförmigen Masse werden um 90 Grad verlagert. Durch Auseinanderziehen der Halterungen und gegenseitiges Verdrehen wird ein weiterer Drillkörper erhalten. Dieser Umformprozess wird wiederholt, bis ein in allen Dimensionen homogenisierter Rohling erhalten wird. Das so homogenisierte TiO2-SiO2-Glas ist in drei Richtungen schlierenfrei, er enthält keine Rutil-Mikrokristalle und zeigt eine homogene Titanoxid-Konzentration.
  • Aus dem Rohling wird so eine runde Platte TiO2-SiO2-Glas mit einem Durchmesser von 30 cm und einer Dicke von 5,7 cm geformt.
  • Zum Abbau mechanischer Spannungen sowie zur Einstellung einer vorgegebenen fiktiven Temperatur wird die Glasplatte einer Temperbehandlung unterzogen. Hierbei wird die Glasplatte während einer Haltezeit von 8 Stunden (t1Tempern) unter Luft und Atmosphärendruck auf 1080 °C (T1Tempern) erhitzt und anschließend mit einer Abkühlrate von 4 °C/h auf eine Temperatur von 950 °C (T2Tempern) abgekühlt und bei dieser Temperatur 4 Stunden (t2Tempern) lang gehalten . Daraufhin wird die TiO2-SiO2-Glasplatte mit einer höheren Abkühlrate von 50 °C/h auf eine Temperatur von 300 °C abgekühlt, woraufhin der Ofen abgestellt und die Glasplatte der freien Abkühlung des Ofens überlassen wird.
  • Zur Weiterverarbeitung wird die geschädigte Oberflächenschicht der Glasplatte abgenommen und eine Planseite wird poliert, so dass sich ein Durchmesser von 29,4 cm und eine Dicke d von 5,1 cm ergeben.
  • Die so erhaltene Platte (Probe 1a) besteht aus besonders hochwertigem, homogenisiertem, TiO2-SiO2-Glas, das 7,7 Gew.-% Titanoxid enthält. Der Hydroxylgruppengehalt beträgt 250 Gew.-ppm und für die Wasserstoff-Konzentration wird ein Mittelwert von 1 × 1016 Molekülen/cm3 ermittelt. Die über die gesamte Dicke gemessene mittlere fiktive Temperatur beträgt 968 °C.
  • Aus dem gleichen TiO2-SiO2-Glas und anhand demselben Herstellungsverfahren werden zwei weitere Glasplatten (Proben 1b und 1c) erzeugt. Der einzige Unterschied liegt im Temperverfahren. Bei Probe 1b ist t2Tempern kürzer und bei Probe 1c ist t2Tempern etwas länger als bei Probe1. Die Proben zeigen folgende über die Dicke gemessene, mittlere fiktive Temperaturen:
    Probe 1a: 968 +/– 2,5 °C
    Probe 1b: 993 +/– 5,1 °C
    Probe 1c: 938 +/– 4,2 °C
  • Für diese Proben wird der mittlere thermische Ausdehnungskoeffizient interferometrisch anhand der Methode ermittelt, wie sie beschrieben ist in: „R. Schödel, Ultra-high accuracy thermal expansion measurements with PTB’s precision interferometer“ Meas. Sci. Technol. 19 (2008) 084003 (11pp)”. Aus den so gemessenen CTE-Werten ergibt sich rechnerisch in bekannter Weise die jeweilige TZC der Proben.
  • Aus handelsüblichem TiO2-SiO2-Glas mit einem Titanoxid-Gehalt von 7,4 Gew.-% und mit einem Hydroxylgruppengehalt von 880 Gew.-ppm wurden ebenfalls Proben geschnitten und vermessen. Möglicherweise bedingt durch den höheren Hydroxylgruppengehalt liegt die fiktive Temperatur bei diesen Proben durchweg etwas niedriger. Nach dem Tempern variiert sie bei drei genommenen Proben zwischen etwa 902 und 957 °C.
  • Das Diagramm von 2 zeigt den Vergleich der beiden Messreihen. Die Kurve A verbindet die Messwerte der Proben aus dem handelsüblichen TiO2-SiO2-Glas und die Kurve B die Messwerte der Proben 1a, 1b und 1c für das TiO2-SiO2-Glas gemäß der Erfindung. Auf der Ordinate ist die Nulldurchgangstemperatur TZC (in °C) gegen die gemessene fiktive Temperatur Tf (in °C) aufgetragen.
  • Kurve B zeigt einen vergleichsweise flachen Verlauf. Sowohl die Steigung der Funktion als auch TZC nehmen mit der fiktiven Temperatur leicht zu und erreichen bei einer fiktiven Temperatur um 993 °C ein Maximum mit TZC = 36 °C.
  • Das Diagramm von 3 zeigt die Ableitungen der Kurven A und B aus 2. Der Differentialquotient dTzc/dTf ist aufgetragen gegen die fiktive Temperatur Tf. Kurve A‘ zeigt die Tangentensteigung der Funktion von Kurve A und Kurve B‘ die Tangentensteigung der Kurve. B1. Daraus ist zu entnehmen, dass die Tangentensteigung von Kurve B beim Messwert der fiktiven Temperatur um 993 °C etwa 0,35 beträgt (Differentialquotient dTzc/dTf = 0,35). Bei fiktiven Temperaturen von weniger als 980 °C liegt der Differentialquotient dTzc/dTf jedoch unterhalb von 0,3.
  • Im Vergleich dazu zeigt die Messkurve A einen steileren Verlauf der TCZ mit der fiktiven Temperatur. Wie aus 3 ersichtlich ist der Differentialquotient dTzc/dTf an keinem Punkt im Tf-Intervall von 920 °C bis 970 °C kleiner als 0,3 und erreicht erst bei fiktiven Temperaturen von weniger als 915 °C diesen Wert. Dies zeigt die höhere Abhängigkeit der TZC von der fiktiven Temperatur beim handelsüblichen TiO2-SiO2-Glas.
  • In Verbindung mit der Beseitigung von Rutil-Mikrokristallen, der Verminderung oder Vermeidung von Ti3+-Bildung und der damit einhergehenden Homogenisierung der Titanoxid-Konzentration erlaubt diese geringere Empfindlichkeit des erfindungsgemäß hergestellten TiO2-SiO2-Glases nicht nur eine präzisere, einfachere und homogenere Einstellung des thermischen Ausdehnungskoeffizienten innerhalb des Formkörpers, sondern auch eine konstruktiv besonders einfache Anpassung des Spiegelsubstrat-Rohlings an die TZC.
  • Proben 2 und 3: weitere Platten aus TiO2-SiO2-Glas
  • Wie anhand Probe 1a erläutert, werden durch Flammenhydrolyse von OMCTS und Titan-Isopropoxid [Ti(OPri)4] Sootkörper aus synthetischem TiO2-SiO2-Glas mit unterschiedlichen Konzentrationen an TiO2 hergestellt. Die Konzentrationen sind in Tabelle 1 angegeben.
  • Die Sootkörper werden wie Probe 1a jeweils bei einer Temperatur von 1150 °C in einem Heizofen mit einem Heizelement aus Grafit unter Vakuum dehydratisiert.
  • Die getrockneten Sootkörper werden bei ca. 1500 °C unter Vakuum (10–2 mbar) zu transparenten Rohlingen aus TiO2-SiO2-Glas verglast. Der mittlere Hydroxylgruppengehalt der Titan-dotierten Kieselgläser liegt jeweils bei etwa 250 Gew.-ppm.
  • Die so erhaltenen Gläser werden anschließend durch thermisch mechanische Homogenisierung (Verdrillen) unter oxidierender Atmosphäre weiterverarbeitet. Probe 2 wird dabei in drei Richtungen homogenisiert (wie anhand Probe 1a erläutert; in Tabelle 1 ist diese Art der Homogenisierung als „3D“ bezeichnet). Die Probe 3 wurde wie die Proben 1a und 2 unter oxidierender Atmosphäre homogenisiert, jedoch in nur einer Richtung (in Tabelle 1 ist diese Art der Homogenisierung als 1D bezeichnet).
  • Die aus den Rohlingen geformten, runden TiO2-SiO2-Glasplatten haben einen Durchmesser von 30 cm und eine Dicke d von 5,7 cm (Probe 2) beziehungsweise 5,1 cm (Probe 3).
  • Diese werden zur Einstellung einer vorgegebenen fiktiven Temperatur einer Temperbehandlung unterzogen. Diese entspricht bei Probe 2 etwa derjenigen von Probe 1a (T2Tempern beträgt bei Probe 2 jedoch 930 °C).
  • Bei Probe 3 wird die TiO2-SiO2-Glasplatte während einer Haltezeit von 8 Stunden unter Luft und Atmosphärendruck auf 1080 °C erhitzt und anschließend mit einer Abkühlrate von 4 °C/h auf eine Temperatur von 980 °C abgekühlt und bei dieser Temperatur 4 Stunden lang gehalten. Daraufhin wird die TiO2-SiO2-Glasplatte mit einer höheren Abkühlrate von 50 °C/h auf eine Temperatur von 300 °C abgekühlt, woraufhin der Ofen abgestellt und die Platte der freien Abkühlung des Ofens überlassen wird. Das TiO2-SiO2-Glas der Probe 3 hat eine mittlere fiktive Temperatur von 980 °C.
  • Von den Stirnflächen und der Zylindermantelfläche der zylinderförmigen Proben wird vor dem nächsten Behandlungsschritt eine Schicht abgenommen, so dass sich jeweils ein Durchmesser von 29,4 cm und eine Dicke von 5,1 cm ergeben.
  • Von Probe 2 werden beide Planseiten poliert und von Probe 3 eine der beiden Planseiten.
  • Proben 4 und 5: Vergleichsproben
  • Wie anhand Probe 1a erläutert, werden durch Flammenhydrolyse von OMCTS und Titan-Isopropoxid [Ti(OPri)4] Sootkörper aus synthetischem TiO2-SiO2-Glas mit unterschiedlichen Konzentrationen an TiO2 hergestellt. Die Konzentrationen sind in Tabelle 1 angegeben.
  • Der Sootkörper von Probe 4 wird dehydratisiert wie die Proben 1 bis 3. Beim Sootkörper von Probe 5 wird auf eine Dehydratationsbehandlung verzichtet.
  • Die Sootkörper werden bei ca. 1500 °C unter Vakuum (10–2 mbar) zu transparenten Rohlingen aus TiO2-SiO2-Glas verglast. Der mittlere Hydroxylgruppengehalt des TiO2-SiO2-Glases von Probe 4 liegt bei etwa 250 Gew.-ppm; der von Probe 5 bei 350 Gew.-ppm.
  • Probe 5 wird anschließend durch thermisch mechanische Homogenisierung (Verdrillen) weiterverarbeitet. Der Knallgasbrenner wird dabei während des gesamten Prozesses mit stöchiometrisch neutraler Flamme betrieben, also mit einem Molverhältnis von Sauerstoff/Wasserstoff von 1:2. Ansonsten erfolgt die Homogenisierung von Probe 5 wie anhand Probe 1a beschrieben. Bei Probe 4 wird auf eine Homogenisierung verzichtet.
  • Zur Einstellung einer vorgegebenen fiktiven Temperatur werden beide Rohlinge einer Temperbehandlung unterzogen, wie anhand Probe 1a beschrieben. Das TiO2-SiO2-Glas der Probe 4 hat danach eine mittlere fiktive Temperatur von 967 °C und das der Probe 5 hat infolge seines höheren Hydroxylgruppengehalts eine mittlere fiktive Temperatur von 952 °C.
  • Von den Stirnflächen und der Zylindermantelfläche der zylinderförmigen Proben wird vor dem nächsten Behandlungsschritt eine Schicht abgenommen, so dass sich jeweils ein Durchmesser von 29,4 cm und eine Dicke von 5,1 cm ergeben.
  • Von beiden Proben 4 und 5 wird jeweils eine Planseite poliert.
  • Von allen Proben wurden Probenstücke entnommen, um die Abhängigkeit der TZC von der fiktiven Temperatur zu ermitteln, wie anhand Beispiel 1 erläutert, und die Tangentensteigung im Bereich der mittleren fiktiven Temperatur wurde bestimmt.
  • Die jeweiligen Herstellungsparameter und Eigenschaften der Proben 1a und 2 bis 5 sind in Tabelle 1 zusammengefasst. Die Probe 6 entspricht dem handelsüblichen TiO2-SiO2-Glas, auf dem die Messkurve A von 2 beruht. Die Werte der mit „?“ versehenen Herstellungsparameter sind für dieses Glas unbekannt. Tabelle 1
    Figure DE102013101328B3_0002
  • In der als Delta Tf (±) bezeichneten Zeile ist die Schwankungsbreite der fiktiven Temperatur vom gemessenen Mittelwert über die Probendicke angegeben. Die mit dTzc/dTf bezeichnete Zeile gibt den Differentialquotienten der Kurven A beziehungsweise B am jeweils gemessenen Mittelwert der fiktiven Temperatur an, und die letzte Zeile liefert die maximale Differenz von TCZ über die gesamte Probendicke, ermittelt anhand der Daten aus den drei Zeilen darüber.
  • Jede der Proben 1 bis 3 ist für sich allein als Spiegelsubstrat-Rohling mit geringer Verformung bei inhomogenem Temperaturverlauf ohne weiteres einsatzbar.
  • Eine weitergehende Anpassung an den Temperaturverlauf ergibt sich, wenn TiO2-SiO2-Gläser verschiedener Zusammensetzung miteinander zu einem Spiegelsubstrat-Rohling kombiniert werden. Dies wird im Folgenden näher erläutert.
  • Herstellung eines Spiegelsubstrat-Rohlings durch Fügen mehrerer Formkörper
  • Beispiel 1
  • Zur Anpassung des TZC an einen Temperaturverlauf wie in 1 gezeigt, wird ein Spiegelsubstrat-Rohling aus nur zwei Schichten aufgebaut. Probe 1 und Probe 2 werden mit ihren polierten Planseiten optisch angesprengt, so dass sich eine auf Anziehungskräften beruhende, blasenfreie Fügeverbindung ergibt. Dieser Fügeverbund wird in einem Ofen auf eine Temperatur von 1650 °C während einer Dauer von 15 min erhitzt. Dadurch wird ein Schmelzverbundkörper mit blasenarmer Kontaktfläche erhalten, der aus zwei gleich großen Zonen besteht, die sich in ihrer Titanoxid-Konzentration unterscheiden, deren mittlere fiktive Temperatur aber in etwa gleich ist.
  • Der Schmelzverbundkörper wird zur Beseitigung mechanischer Spannungen getempert. Das Temperaturprofil beim Tempern des Schmelzverbundkörpers ist wie folgt: Aufheizen auf eine Temperatur von 1080 °C, Halten bei der dieser Temperatur während einer Haltezeit von 10 h; Abkühlen mit einer Abkühlrate von 4°C/h auf eine Temperatur von 950 °C und Halten bei dieser Temperatur während einer Dauer von 12 h, anschließendes freies Abkühlen auf Raumtemperatur.
  • Der so erzeugte Spiegelsubstrat-Rohling ist aus lediglich zwei Komponenten unterschiedlicher chemischer Zusammensetzung aufgebaut, nämlich dem oberen Formkörper aus Probe 1 und dem unteren Formkörper aus Probe 2. Diese sind über eine im Wesentlichen ebene und plane Kontaktfläche miteinander verbunden.
  • Diese geringe Anpassung der TZC an das Temperaturprofil von 1 genügt, um bei dem vorgegebenen Temperaturverlauf eine geringe Deformation des Spiegelsubstrats insgesamt zu gewährleisten. Die verbleibende Längenausdehnung im Betrieb liegt an jeder Stelle im Bereich von 0 +/– 10ppb/°C.
  • Der Spiegelsubstrat-Rohling dient zur Herstellung eines Spiegelsubstrats aus Titan-dotiertem Glas für den Einsatz in der EUV-Lithographie. Zur Herstellung des Spiegelsubstrats wird die von Probe 1 gebildete Oberseite des Spiegelsubstrat-Rohlings, die beim bestimmungsgemäßen Einsatz der EUV-Strahlung zugewandt ist, einer mechanischen Bearbeitung unterzogen, die Schleifen und Polieren umfasst. Dabei wird die Kontur des Spiegels als konkav gekrümmter Oberflächenbereich erzeugt.
  • Vergleichsbeispiel 1
  • Zur Anpassung des TZC an einen Temperaturverlauf wie in 1 gezeigt, wird ein Spiegelsubstrat-Rohling aus zwei Schichten anhand der in Beispiel 1 beschriebenen Verfahrensweise aufgebaut. Im Unterschied dazu wird anstelle von Probe 1 die Probe 4 verwendet. Die Herstellungsweise von Probe 4 entspricht derjenigen von Probe 1, sie ist aber nicht homogenisiert.
  • Diese Anpassung der TZC genügt nicht, um bei dem vorgegebenen Temperaturverlauf eine geringe Deformation des Spiegelsubstrats insgesamt zu gewährleisten. Die verbleibende Längenausdehnung im Betrieb liegt stellenweise oberhalb von 0 +/– 20ppb/°C.

Claims (10)

  1. Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie, dadurch gekennzeichnet, dass das TiO2-SiO2-Glas bei einem Mittelwert der fiktiven Temperatur Tf im Bereich zwischen 920 °C und 970 °C eine Abhängigkeit seiner Nulldurchgangstemperatur TZC von der fiktiven Temperatur Tf aufweist, die, ausgedrückt als Differentialquotient dTzc/dTf kleiner als 0,3 ist.
  2. Rohling nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Differentialquotient dTzc/dTf kleiner als 0,25 ist.
  3. Rohling nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das TiO2-SiO2-Glas einen mittleren Hydroxylgruppengehalt im Bereich von 200 bis 300 Gew.-ppm aufweist.
  4. Rohling nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das TiO2-SiO2-Glas eine mittlere Wasserstoffkonzentration von weniger als 5 × 1016 Molekülen/cm3, vorzugsweise eine mittlere Wasserstoffkonzentration von weniger als 1 × 1016 Molekülen/cm3 aufweist.
  5. Rohling nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass er von einer Oberseite und einer Unterseite begrenzt ist, und dass das TiO2-SiO2-Glas zwischen Oberseite und Unterseite einen nicht homogenen Verlauf der Titanoxid-Konzentration aufweist.
  6. Rohling nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass er als Verbundkörper ausgebildet ist, der einen ersten Formkörper aus TiO2-SiO2-Glas mit einer ersten Titanoxid-Konzentration und einen zweiten Formkörper aus TiO2-SiO2-Glas mit einer zweiten Titanoxid-Konzentration umfasst, der mit dem ersten Formkörper verbunden ist.
  7. Rohling nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Formkörper eine erste mittlere fiktive Temperatur und der zweite Formkörper eine zweite mittlere fiktive Temperatur aufweist, wobei sich erste und zweite fiktive Temperatur voneinander unterscheiden.
  8. Rohling nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Formkörper plattenförmig mit einer Dicke von maximal 60 mm ausgebildet sind.
  9. Verfahren zur Herstellung eines Rohlings nach einem der vorhergehenden Ansprüche oder eines Formkörpers als Vorprodukt für einen derartigen Rohling, umfassend die folgenden Verfahrensschritte: (a) Erzeugen eines ersten porösen Sootkörpers aus SiO2 mit einer ersten Konzentration an Titanoxid durch Flammenhydrolyse von Silizium und Titan enthaltenden Ausgangssubstanzen, (b) Trocknen und Sintern des ersten Sootkörpers derart, dass ein erstes TiO2-SiO2-Glas mit der ersten Titanoxid-Konzentration erhalten wird, wobei der mittlere Hydroxylgruppengehalt auf weniger als 300 Gew.-ppm eingestellt wird, (c) Homogenisieren des ersten TiO2-SiO2-Glases in einem Homogenisierungsprozess, bei dem das TiO2-SiO2-Glas in oxidativ wirkender Atmosphäre auf eine Temperatur von mehr als 2000 °C erhitzt, dabei erweicht und umgeformt wird, so dass sich eine mittleren Wasserstoffkonzentration von weniger als 5 × 1016 Moleküle/cm3 einstellt, (d) Formen des ersten TiO2-SiO2-Glases, das einen mittleren Hydroxylgruppengehalt von weniger als 300 Gew.-ppm und eine mittlere Wasserstoffkonzentration von weniger als 5 × 1016 Moleküle/cm3 aufweist zu einem Formkörper, und (e) Tempern des Formkörpers derart, dass das TiO2-SiO2-Glas bei einer mittleren fiktiven Temperatur Tf im Bereich zwischen 920 °C und 970 °C eine Abhängigkeit seiner Nulldurchgangstemperatur TZC von der fiktiven Temperatur Tf aufweist, die, ausgedrückt als Differentialquotient dTzc/dTf kleiner als 0,3 ist.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das erste TiO2-SiO2-Glas beim Homogenisierungsprozess gemäß Verfahrensschritt (c) mindestens zweitweise mit einer Brennerflamme erhitzt wird, welcher Brenngas und mindestens eine oxidierende Komponente in einer zur vollständigen Verbrennung des Brenngases überschüssigen Menge zugeführt werden.
DE102013101328.7A 2013-02-11 2013-02-11 Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie sowie Verfahren für dessen Herstellung Active DE102013101328B3 (de)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102013101328.7A DE102013101328B3 (de) 2013-02-11 2013-02-11 Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie sowie Verfahren für dessen Herstellung
TW103102457A TWI624435B (zh) 2013-02-11 2014-01-23 用於在EUV光刻法中所用之鏡面基片之TiO-SiO玻璃坯件及其製造方法
EP14702598.5A EP2954372A2 (de) 2013-02-11 2014-02-04 ROHLING AUS TiO2-SiO2-GLAS FÜR EIN SPIEGELSUBSTRAT FÜR DEN EINSATZ IN DER EUV-LITHOGRAPHIE SOWIE VERFAHREN FÜR DESSEN HERSTELLUNG
PCT/EP2014/052106 WO2014122111A2 (de) 2013-02-11 2014-02-04 ROHLING AUS TiO2-SiO2-GLAS FÜR EIN SPIEGELSUBSTRAT FÜR DEN EINSATZ IN DER EUV-LITHOGRAPHIE SOWIE VERFAHREN FÜR DESSEN HERSTELLUNG
JP2015556463A JP6328665B2 (ja) 2013-02-11 2014-02-04 EUVリソグラフィに使用されるミラー基板用のTiO2−SiO2ガラスのブランクの製造方法
CN201480008162.8A CN104995557B (zh) 2013-02-11 2014-02-04 用于EUV-光刻中的镜面基材的由TiO2-SiO2玻璃构成的坯料及其制造方法
KR1020157023004A KR101922765B1 (ko) 2013-02-11 2014-02-04 EUV 리소그래피에서의 사용을 위한 미러 기판용 TiO2-SiO2 유리의 블랭크 및 그 생산을 위한 방법
US14/766,276 US9522840B2 (en) 2013-02-11 2014-02-04 Blank of TiO2-SiO2 glass for a mirror substrate for use in EUV lithography and method for the production thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102013101328.7A DE102013101328B3 (de) 2013-02-11 2013-02-11 Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie sowie Verfahren für dessen Herstellung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102013101328B3 true DE102013101328B3 (de) 2014-02-13

Family

ID=49999451

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102013101328.7A Active DE102013101328B3 (de) 2013-02-11 2013-02-11 Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie sowie Verfahren für dessen Herstellung

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9522840B2 (de)
EP (1) EP2954372A2 (de)
JP (1) JP6328665B2 (de)
KR (1) KR101922765B1 (de)
CN (1) CN104995557B (de)
DE (1) DE102013101328B3 (de)
TW (1) TWI624435B (de)
WO (1) WO2014122111A2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2960219A1 (de) * 2014-06-27 2015-12-30 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Rohling aus Titan-dotiertem Kieselglas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie und Verfahren für seine Herstellung
US20170362115A1 (en) * 2014-11-26 2017-12-21 Corning Incorporated Method of making halogen doped optical element

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013219808A1 (de) * 2013-09-30 2015-04-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Spiegelblank für EUV Lithographie ohne Ausdehnung unter EUV-Bestrahlung
US9810876B2 (en) 2014-09-25 2017-11-07 Dar-Tson SHEN Manufacturing method for lightweight large-size telescope mirror blanks and mirror blanks fabricated according to same
CN111238461B (zh) * 2020-03-09 2022-05-06 中国建筑材料科学研究总院有限公司 一种谐振子及其制备方法
CN113340504B (zh) * 2021-07-13 2022-03-01 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 一种从熔石英假想温度分布获取残余应力分布的方法
CN113737278B (zh) * 2021-07-29 2022-05-03 达高工业技术研究院(广州)有限公司 氧化钛掺杂旋涂玻璃固化装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0955565A2 (de) * 1998-05-08 1999-11-10 Nikon Corporation Spiegel für einen Belichtungsapparat unter Verwendung weicher Röntgenstrahlen
DE10359102A1 (de) * 2003-12-17 2005-07-21 Carl Zeiss Smt Ag Optische Komponente umfassend ein Material mit einer vorbestimmten Homogenität der thermischen Längsausdehnung
WO2011078414A2 (en) * 2009-12-25 2011-06-30 Asahi Glass Company, Limited. Substrate for euvl optical member

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3194667B2 (ja) 1994-03-26 2001-07-30 信越石英株式会社 光学用合成石英ガラス成形体及びその製造方法
JP2960716B2 (ja) * 1997-05-30 1999-10-12 信越化学工業株式会社 光ファイバプリフォームの延伸方法および延伸装置
JP3274821B2 (ja) * 1997-06-27 2002-04-15 信越化学工業株式会社 光ファイバプリフォームの溶断方法及びその溶断装置
JP4792705B2 (ja) * 2003-04-03 2011-10-12 旭硝子株式会社 TiO2を含有するシリカガラスおよびその製造法
DE102004015766B4 (de) 2004-03-23 2016-05-12 Asahi Glass Co., Ltd. Verwendung eines SiO2-TiO2-Glases als strahlungsresistentes Substrat
US7506521B2 (en) * 2004-12-29 2009-03-24 Corning Incorporated High transmission synthetic silica glass and method of making same
US7506522B2 (en) * 2004-12-29 2009-03-24 Corning Incorporated High refractive index homogeneity fused silica glass and method of making same
US7928026B2 (en) * 2005-06-30 2011-04-19 Corning Incorporated Synthetic silica material with low fluence-dependent-transmission and method of making the same
WO2009070223A1 (en) 2007-11-30 2009-06-04 Corning Incorporated Low expansion glass material having low expansivity gradient
EP2250133A1 (de) * 2008-02-29 2010-11-17 Asahi Glass Company, Limited TiO2-HALTIGES QUARZGLAS UND OPTISCHES ELEMENT FÜR LITHOGRAFIE DAMIT
JP2011162359A (ja) * 2008-05-29 2011-08-25 Asahi Glass Co Ltd TiO2を含有するシリカガラスおよびそれを用いたリソグラフィ用光学部材
JP2010135732A (ja) * 2008-08-01 2010-06-17 Asahi Glass Co Ltd Euvマスクブランクス用基板
KR20120020115A (ko) * 2009-05-13 2012-03-07 아사히 가라스 가부시키가이샤 TiO₂-SiO₂ 유리체의 제조 방법 및 열처리 방법, TiO₂-SiO₂ 유리체, EUVL용 광학 기재
US8713969B2 (en) * 2009-08-31 2014-05-06 Corning Incorporated Tuning Tzc by the annealing of ultra low expansion glass
JP5742833B2 (ja) * 2010-02-24 2015-07-01 株式会社 東北テクノアーチ 超低膨張ガラスの製造方法
US8541325B2 (en) * 2010-02-25 2013-09-24 Corning Incorporated Low expansivity, high transmission titania doped silica glass
DE102010009589B4 (de) 2010-02-26 2011-12-29 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines Rohlings aus Titan-dotiertem, hochkieselsäurehaltigem Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie
DE102010028488A1 (de) * 2010-05-03 2011-11-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Substrate für Spiegel für die EUV-Lithographie und deren Herstellung
KR101013223B1 (ko) * 2010-09-06 2011-02-10 주식회사 정관 음의 열팽창 계수를 가지는 결정화 유리 및 그 제조방법
DE102011085358B3 (de) * 2011-10-28 2012-07-12 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Anordnung für die EUV-Lithographie und Verfahren zum Konfigurieren einer solchen optischen Anordnung

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0955565A2 (de) * 1998-05-08 1999-11-10 Nikon Corporation Spiegel für einen Belichtungsapparat unter Verwendung weicher Röntgenstrahlen
DE10359102A1 (de) * 2003-12-17 2005-07-21 Carl Zeiss Smt Ag Optische Komponente umfassend ein Material mit einer vorbestimmten Homogenität der thermischen Längsausdehnung
US20050185307A1 (en) * 2003-12-17 2005-08-25 Carl Zeiss Smt Ag Optical component, comprising a material with a predetermined homogneity of thermal expansion
WO2011078414A2 (en) * 2009-12-25 2011-06-30 Asahi Glass Company, Limited. Substrate for euvl optical member

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2960219A1 (de) * 2014-06-27 2015-12-30 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Rohling aus Titan-dotiertem Kieselglas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie und Verfahren für seine Herstellung
US9540271B2 (en) 2014-06-27 2017-01-10 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Blank made of titanium-doped silica glass and method for the production thereof
US20170362115A1 (en) * 2014-11-26 2017-12-21 Corning Incorporated Method of making halogen doped optical element

Also Published As

Publication number Publication date
EP2954372A2 (de) 2015-12-16
WO2014122111A2 (de) 2014-08-14
KR101922765B1 (ko) 2018-11-27
CN104995557A (zh) 2015-10-21
KR20150117675A (ko) 2015-10-20
US20150376049A1 (en) 2015-12-31
WO2014122111A3 (de) 2014-10-23
US9522840B2 (en) 2016-12-20
JP6328665B2 (ja) 2018-05-23
TW201446670A (zh) 2014-12-16
CN104995557B (zh) 2019-03-05
JP2016511211A (ja) 2016-04-14
TWI624435B (zh) 2018-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102013101328B3 (de) Rohling aus TiO2-SiO2-Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie sowie Verfahren für dessen Herstellung
DE112005003308B4 (de) Quarzglas mit hoher Brechungsindex-Homogenität und Verfahren zur Herstellung desselben
DE69015453T2 (de) Optische Teile und Rohlinge aus synthetischem Siliziumdioxidglas und Verfahren zu ihrer Herstellung.
DE60015684T2 (de) Optisches Element aus Quarzglas zum Durchlassen von Fluor-Excimer-Laserstrahlung und Verfahren zu seiner Herstellung
DE69816758T2 (de) Synthetisches quarzglas zur verwendung in uv-strahlung und verfahren zu seiner herstellung
DE102005017739B4 (de) Halter aus Quarzglas für die Prozessierung von Halbleiterwafern und Verfahren zur Herstellung des Halters
DE69219445T2 (de) Synthetisches optisches element aus quarzglas für excimer-laser und seine herstellung
EP1747175B1 (de) Quarzglasrohling und verfahren zur herstellung desselben
DE102005062916A1 (de) Synthetisches Kieselglas mit hoher Transmission und Verfahren zu seiner Herstellung
EP1327612B1 (de) Quarzglasrohling für ein optisches Bauteil sowie Verfahren zur Herstellung und Verwendung desselben
DE10159961C2 (de) Quarzglasrohling für ein optisches Bauteil sowie Verfahren zur Herstellung und Verwendung desselben
DE102013112396B3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Rohlings aus Titan- und Fluor-dotiertem, hochkieselsäurehaltigem Glas
EP3033306B1 (de) Verfahren zur herstellung von titan-dotiertem kieselglas für den einsatz in der euv-lithographie
EP1101741B1 (de) Quarzglaskörper für ein optisches Bauteil und Verfahren zu seiner Herstellung
EP2960219B1 (de) Rohling aus Titan-dotiertem Kieselglas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie und Verfahren für seine Herstellung
DE102010009589B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines Rohlings aus Titan-dotiertem, hochkieselsäurehaltigem Glas für ein Spiegelsubstrat für den Einsatz in der EUV-Lithographie
EP3000791B1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Rohlings aus Fluor- und Titan-dotiertem, hochkieselsäurehaltigem Glas für den Einsatz in der EUV-Lithographie und danach hergestellter Rohling
EP1327613B1 (de) Quarzglasrohling für ein optisches Bauteil und Verwendung desselben
EP1471038A2 (de) Verfahren zur Herstellung von Glaskörpern aus dotiertem Quarzglas
EP3052448B1 (de) Spiegelblank für euv lithographie ohne ausdehnung unter euv-bestrahlung
EP1568666A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines optischen Bauteils aus Quarzglas
WO2000015570A1 (de) Optisches bauteil aus quarzglas und verfahren für seine herstellung
DE10005051B4 (de) Quarzglaskörper für ein optisches Bauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung
EP1288169A1 (de) Verfahren zur Wasserstoffbeladung von Quarzglaskörpern zur Verbesserung der Brechzahlhomogenität und der Laserfestigkeit bei gleichzeitiger Einhaltung einer vorgegebenen Spannungsdoppelbrechung und danach hergestellte Quarzglaskörper
DE102016224236A1 (de) Rohling aus TiO2-dotiertem Quarzglas, optisches Element für die EUV-Lithographie und EUV-Lithographiesystem damit

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R020 Patent grant now final

Effective date: 20141114