DE102009060793A1 - Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten - Google Patents

Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten Download PDF

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DE102009060793A DE102009060793A1 (de) 2009-12-22 2009-12-22 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
US13/518,064 US9234846B2 (en) 2009-12-22 2010-12-14 High-resolution microscope and method for determining the two- or three-dimensional positions of objects
JP2012545135A JP2013515249A (ja) 2009-12-22 2010-12-14 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法
EP10795617.9A EP2516993B1 (de) 2009-12-22 2010-12-14 Hochauflösendes mikroskop und verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen positionsbestimmung von objekten
PCT/EP2010/007595 WO2011085766A1 (de) 2009-12-22 2010-12-14 Hochauflösendes mikroskop und verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen positionsbestimmung von objekten
JP2015121233A JP6018263B2 (ja) 2009-12-22 2015-06-16 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法
JP2016191256A JP6282706B2 (ja) 2009-12-22 2016-09-29 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2437097A2 (de) 2010-09-30 2012-04-04 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Mikroskopsystem, Mikroskopieverfahren und Computerprogrammprodukt
DE102011053232A1 (de) * 2011-09-02 2013-03-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopische Einrichtung und mikroskopisches Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten
EP2803977A1 (de) * 2013-05-14 2014-11-19 Carl Zeiss Microscopy GmbH Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
EP2803978A1 (de) * 2013-05-14 2014-11-19 Carl Zeiss Microscopy GmbH Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
DE102013216124A1 (de) 2013-08-14 2015-02-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende 3D-Fluoreszenzmikroskopie
DE102021134427A1 (de) 2021-12-22 2023-06-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur mikroskopie
DE102013208415B4 (de) 2013-05-07 2023-12-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren für die 3D-hochauflösende Lokalisierungsmikroskopie

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0742971B2 (ja) 1990-06-06 1995-05-15 株式会社青山製作所 ブランクおよびこのブランクを用いたボルトの製造法
DE102011055294B4 (de) * 2011-11-11 2013-11-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopische Einrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten in einer Probe
DE102012201003B4 (de) 2012-01-24 2024-07-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren für die hochauflösende 3-D Fluoreszenzmikroskopie
GB201217171D0 (en) * 2012-08-23 2012-11-07 Isis Innovation Stimulated emission depletion microscopy
JP6371289B2 (ja) * 2012-09-24 2018-08-08 ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション ３次元構造化照明を用いた蛍光確率顕微鏡での位置を解像するための方法及びシステム
DE102013102988A1 (de) * 2013-03-22 2014-09-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
WO2014179269A2 (en) * 2013-04-30 2014-11-06 Molecular Devices, Llc Apparatus and method for generating in-focus images using parallel imaging in a microscopy system
DE102013009042A1 (de) * 2013-05-28 2014-12-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lumineszenzmikroskopie
CA2938082A1 (en) 2013-12-15 2015-06-18 President And Fellows Of Harvard College Methods and compositions relating to optical super-resolution patterning
DE102014002328B4 (de) * 2014-02-12 2021-08-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multifokales Fluoreszenzrastermikroskop
US10352860B2 (en) * 2014-04-24 2019-07-16 Bruker Nano, Inc. Super resolution microscopy
JP6300658B2 (ja) * 2014-06-19 2018-03-28 オリンパス株式会社 標本観察装置
US20160033411A1 (en) * 2014-07-29 2016-02-04 President And Fellows Of Harvard College Methods and compositions relating to storm-based patterning
US10006917B2 (en) 2014-12-15 2018-06-26 President And Fellows Of Harvard College Methods and compositions relating to super-resolution imaging and modification
LU92620B1 (de) * 2014-12-19 2016-06-20 Leica Microsystems Rastermikroskop
KR101716125B1 (ko) * 2015-07-20 2017-03-15 주식회사 토모큐브 파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법 및 장치
JP6617774B2 (ja) * 2015-11-27 2019-12-11 株式会社ニコン 顕微鏡装置
DE102015016353A1 (de) 2015-12-16 2017-06-22 Horst Wochnowski PALM-Verfahren mit mehreren sich nur marginal voneinander unterscheidenden Fluorophoren
JP6726687B2 (ja) * 2015-12-18 2020-07-22 株式会社堀場製作所 粒子分析装置及び粒子分析方法
CN106546513B (zh) * 2016-11-02 2019-04-23 中国人民解放军理工大学 一种基于正交双视场的三维降水粒子测量与重构装置及方法
JP6784603B2 (ja) * 2017-01-05 2020-11-11 東レエンジニアリング株式会社 分光測定方法および分光測定装置
CN107167929B (zh) * 2017-06-12 2019-06-25 华南师范大学 基于dmd的双模式光学超分辨显微成像装置及方法
JP2019066706A (ja) 2017-10-02 2019-04-25 ソニー株式会社 蛍光顕微鏡装置及び蛍光顕微鏡システム
JP2019086529A (ja) * 2017-11-01 2019-06-06 株式会社ニコン 顕微鏡、照明装置、及び観察方法
EP3735606B1 (en) * 2018-01-02 2023-03-22 King's College London Method and system for localisation microscopy
JP7380569B2 (ja) 2018-08-09 2023-11-15 ソニーグループ株式会社 光学顕微鏡装置及び光学顕微鏡システム
CN109407295B (zh) * 2018-12-18 2020-07-24 中国科学院深圳先进技术研究院 一种基于dmd可多色激发的结构光显微系统及多色激发方法
CN113994374B (zh) * 2019-06-18 2025-11-25 索高视觉有限公司 具有基于局部照射的组合的细化循环的发光成像
DE102019129932B4 (de) * 2019-11-06 2023-12-21 Technische Universität Braunschweig Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung
CN110989186B (zh) * 2019-12-18 2022-03-08 苏州显纳精密仪器有限公司 一种能在不同环境介质中实现大视场下超分辨成像的上浸没微球透镜组
CN111650739B (zh) * 2020-05-21 2022-06-03 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 基于dmd的单帧曝光快速三维荧光成像系统及方法
DE102020130476A1 (de) * 2020-11-18 2022-05-19 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Laserscanningmikroskop zum Abbilden einer mit verschiedenen Fluoreszenzmarkern markierten Struktur einer Probe
DE102020131047B4 (de) * 2020-11-24 2024-08-22 Abberior Instruments Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme nanoskopischer Bilder mehrfach gefärbter Proben
CN112859315A (zh) * 2021-01-11 2021-05-28 北京大学 一种多色双模式结构光照明显微成像系统及其成像方法
CN115702777B (zh) * 2021-08-13 2024-05-17 深圳先进技术研究院 一种多功能双光子显微成像系统
CN113936837B (zh) * 2021-10-11 2023-07-21 散裂中子源科学中心 一种中子光阑转动切换机构
EP4715441A1 (en) * 2023-04-21 2026-03-25 Pontificia Universidad Católica de Chile Method for taking volumetric measurements
CN118896940A (zh) * 2023-05-04 2024-11-05 深圳先进技术研究院 融合光遗传刺激与光信号探测的光学系统及成像装置

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4416558C2 (de) 1994-02-01 1997-09-04 Hell Stefan Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5867604A (en) 1995-08-03 1999-02-02 Ben-Levy; Meir Imaging measurement system
US5866911A (en) 1994-07-15 1999-02-02 Baer; Stephen C. Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system
DE19829981A1 (de) 1998-07-04 2000-01-05 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie
DE19835072A1 (de) 1998-08-04 2000-02-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Beleuchtung und/oder Detektion in einem Mikroskop
DE19930532A1 (de) 1999-06-30 2001-01-11 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Optimierung der Pulsform in einem Laser-Scanning-Mikroskop
EP1157297B1 (de) 1999-03-02 2002-11-06 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
US6633432B2 (en) 2000-08-21 2003-10-14 Olympus Optical Co., Ltd. Optical device and a microscope
DE10259443A1 (de) 2002-12-19 2004-07-01 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur optischen Untersuchung und/oder Bearbeitung einer Probe
DE10325460A1 (de) 2003-04-13 2004-11-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Räumlich hochauflösendes Abbilden
WO2006127692A2 (en) 2005-05-23 2006-11-30 Hess Harald F Optical microscopy with phototransformable optical labels
WO2007009812A1 (de) 2005-07-22 2007-01-25 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Auflösungsgesteigerte lumineszenz-mikroskopie

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2834204C3 (de) * 1978-08-04 1981-03-19 Karl Süss KG, Präzisionsgeräte für Wissenschaft und Industrie - GmbH & Co, 8046 Garching Mikroskop mit zwei Strahlengängen zur gleichzeitigen Scharfeinstellung auf zwei im Abstand befindliche Dingebenen
DE19643475C1 (de) * 1996-10-22 1998-06-25 Laser Applikationan Gmbh Verfahren zur Geschwindigkeitsmessung nach dem Laser-Doppler-Prinzip
US6388788B1 (en) * 1998-03-16 2002-05-14 Praelux, Inc. Method and apparatus for screening chemical compounds
EP1145066B1 (de) * 1998-12-21 2005-03-02 Evotec OAI AG Positionierung des messvolumens in einem scanning-mikroskopischen verfahren
JP3099063B2 (ja) * 1998-12-28 2000-10-16 大阪大学長 多光子顕微鏡
JP4804665B2 (ja) * 2001-08-09 2011-11-02 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡
JP4454980B2 (ja) * 2003-07-11 2010-04-21 オリンパス株式会社 顕微鏡の撮像光学系およびそれを用いた顕微鏡
US7372985B2 (en) * 2003-08-15 2008-05-13 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for volumetric tissue scanning microscopy
JP2005233802A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Yokogawa Electric Corp 物理量計測装置およびその装置を用いて行う物理量校正方法
DE102005027896B4 (de) * 2005-06-16 2012-03-15 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum optischen Messen einer Probe
DE102006021317B3 (de) * 2006-05-06 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
US7838302B2 (en) * 2006-08-07 2010-11-23 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution and other imaging techniques
DE102006047912A1 (de) * 2006-10-06 2008-04-10 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Anordnung zur parallelisierten mikroskopischen Bildgebung
US8217992B2 (en) * 2007-01-11 2012-07-10 The Jackson Laboratory Microscopic imaging techniques
WO2009085218A1 (en) * 2007-12-21 2009-07-09 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
WO2009098079A1 (en) * 2008-02-06 2009-08-13 Ludwig-Maximilians-Universität München Thermo-optical characterisation of nucleic acid molecules
WO2009115108A1 (en) * 2008-03-19 2009-09-24 Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg A method and an apparatus for localization of single dye molecules in the fluorescent microscopy
JP2009229715A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Olympus Corp 顕微鏡
US7772569B2 (en) * 2008-04-01 2010-08-10 The Jackson Laboratory 3D biplane microscopy
DE102008021641A1 (de) * 2008-04-30 2009-11-05 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenzmikroskopie
EP2291641B2 (en) * 2008-05-21 2021-02-17 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. High spatial resolution imaging of a structure of interest in a specimen
US8948851B2 (en) * 2009-01-20 2015-02-03 The Trustees Of Dartmouth College Method and apparatus for depth-resolved fluorescence, chromophore, and oximetry imaging for lesion identification during surgery

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4416558C2 (de) 1994-02-01 1997-09-04 Hell Stefan Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5866911A (en) 1994-07-15 1999-02-02 Baer; Stephen C. Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system
US5867604A (en) 1995-08-03 1999-02-02 Ben-Levy; Meir Imaging measurement system
DE19829981A1 (de) 1998-07-04 2000-01-05 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie
DE19835072A1 (de) 1998-08-04 2000-02-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Beleuchtung und/oder Detektion in einem Mikroskop
EP1157297B1 (de) 1999-03-02 2002-11-06 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
DE19930532A1 (de) 1999-06-30 2001-01-11 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Optimierung der Pulsform in einem Laser-Scanning-Mikroskop
US6633432B2 (en) 2000-08-21 2003-10-14 Olympus Optical Co., Ltd. Optical device and a microscope
DE10259443A1 (de) 2002-12-19 2004-07-01 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur optischen Untersuchung und/oder Bearbeitung einer Probe
DE10325460A1 (de) 2003-04-13 2004-11-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Räumlich hochauflösendes Abbilden
WO2006127692A2 (en) 2005-05-23 2006-11-30 Hess Harald F Optical microscopy with phototransformable optical labels
WO2007009812A1 (de) 2005-07-22 2007-01-25 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Auflösungsgesteigerte lumineszenz-mikroskopie

Non-Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Betzig et. al, Sciene 313, 1642-1645 (2006)
Egner et al., Biophys J. 93, 3285-3290 (2007)
Fölling et al., ChemPhysChem 9, 321 (2008)
Gurskaya et al., Nature Biotech., Band 24, S. 461-465, 2006
Hess et al., Biophys J. 91, 4258-427 (2006)
Hess et al., PNAS 104, 17370-17375 (2007)
Huang et al., Science 319, 810 (2008)
Juette et al., Nature Methods 5, 527 (2008)
Marriot et al. PNAS 2008, Ivanchenko et al. BiophysJ 2007, Watanabe et al. OptExp. 2007, Schneider et al. BioPhysJ 2007
Oron et al., Optics Express 13, 1468 (2005)
Pawley, Handbook of Biological Confocal Microscopy (3rd Edition)
Rust et al., Nat Methods 3, 793-796 (2006)
Shroff et al., PNAS 104, 20308-2031 (2007)
Toprak et al., Nano Lett. 7, 3285-3290 (2007)
Vaziri et al., PNAS 105, 20221 (2008)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010041794A1 (de) 2010-09-30 2012-04-05 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskopsystem, Mikroskopieverfahren und Computerprogrammprodukt
US8957958B2 (en) 2010-09-30 2015-02-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope system, microscopy method and storage medium
EP2437097A2 (de) 2010-09-30 2012-04-04 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Mikroskopsystem, Mikroskopieverfahren und Computerprogrammprodukt
US9488824B2 (en) 2011-09-02 2016-11-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscopic device and microscopic method for the three-dimensional localization of point-like objects
DE102011053232A1 (de) * 2011-09-02 2013-03-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopische Einrichtung und mikroskopisches Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten
DE102011053232B4 (de) 2011-09-02 2020-08-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopische Einrichtung und mikroskopisches Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten
DE102013208415B4 (de) 2013-05-07 2023-12-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren für die 3D-hochauflösende Lokalisierungsmikroskopie
US10024793B2 (en) 2013-05-14 2018-07-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method for three-dimensional high resolution localization microscopy
EP2803978A1 (de) * 2013-05-14 2014-11-19 Carl Zeiss Microscopy GmbH Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
EP2803977A1 (de) * 2013-05-14 2014-11-19 Carl Zeiss Microscopy GmbH Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
WO2015022146A1 (de) * 2013-08-14 2015-02-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende 3d-fluoreszenzmikroskopie
DE102013216124A1 (de) 2013-08-14 2015-02-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende 3D-Fluoreszenzmikroskopie
DE102021134427A1 (de) 2021-12-22 2023-06-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur mikroskopie

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