DE102008054317A1 - Kombinationsmikroskopie - Google Patents

Kombinationsmikroskopie Download PDF

Info

Publication number
DE102008054317A1
DE102008054317A1 DE102008054317A DE102008054317A DE102008054317A1 DE 102008054317 A1 DE102008054317 A1 DE 102008054317A1 DE 102008054317 A DE102008054317 A DE 102008054317A DE 102008054317 A DE102008054317 A DE 102008054317A DE 102008054317 A1 DE102008054317 A1 DE 102008054317A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
microscopy
sample
illumination
image
beam path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102008054317A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Ralf Wolleschensky
Ingo Dr. Kleppe
Gerhard Krampert
Michael Dr. Kempe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl Zeiss MicroImaging GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl Zeiss MicroImaging GmbH filed Critical Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority to DE102008054317A priority Critical patent/DE102008054317A1/de
Priority to US13/127,427 priority patent/US8704196B2/en
Priority to PCT/EP2009/007693 priority patent/WO2010060515A1/de
Priority to EP17162704.5A priority patent/EP3206070B1/de
Priority to EP09743876.6A priority patent/EP2350726B1/de
Priority to JP2011535029A priority patent/JP5687201B2/ja
Publication of DE102008054317A1 publication Critical patent/DE102008054317A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/64—Imaging systems using optical elements for stabilisation of the lateral and angular position of the image
    • G02B27/642—Optical derotators, i.e. systems for compensating for image rotation, e.g. using rotating prisms, mirrors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458—Fluorescence microscopy
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/648—Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052—Optical details of the image generation
    • G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/58—Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
DE102008054317A 2008-11-03 2008-11-03 Kombinationsmikroskopie Withdrawn DE102008054317A1 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008054317A DE102008054317A1 (de) 2008-11-03 2008-11-03 Kombinationsmikroskopie
US13/127,427 US8704196B2 (en) 2008-11-03 2009-10-28 Combination microscopy
PCT/EP2009/007693 WO2010060515A1 (de) 2008-11-03 2009-10-28 Kombinationsmikroskopie
EP17162704.5A EP3206070B1 (de) 2008-11-03 2009-10-28 Kombinationsmikroskopie
EP09743876.6A EP2350726B1 (de) 2008-11-03 2009-10-28 Kombinationsmikroskopie
JP2011535029A JP5687201B2 (ja) 2008-11-03 2009-10-28 組み合わせ顕微鏡検査法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008054317A DE102008054317A1 (de) 2008-11-03 2008-11-03 Kombinationsmikroskopie

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102008054317A1 true DE102008054317A1 (de) 2010-05-06

Family

ID=41503704

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102008054317A Withdrawn DE102008054317A1 (de) 2008-11-03 2008-11-03 Kombinationsmikroskopie

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8704196B2 (https=)
EP (2) EP3206070B1 (https=)
JP (1) JP5687201B2 (https=)
DE (1) DE102008054317A1 (https=)
WO (1) WO2010060515A1 (https=)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010028138A1 (de) * 2010-04-22 2011-10-27 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Bestimmen der Verteilung einer Substanz durch Abtasten mit einer Messfront
DE102010041426A1 (de) * 2010-09-27 2012-05-03 Siemens Aktiengesellschaft Messeinheit und Verfahren zur optischen Untersuchung einer Flüssigkeit zur Bestimmung einer Analyt-Konzentration
WO2012118530A1 (en) 2011-03-01 2012-09-07 Applied Precision, Inc. Variable orientation illumination-pattern rotator
DE102011100507A1 (de) * 2011-04-29 2012-10-31 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mobiles optisches Analysegerät
WO2012168065A1 (de) 2011-06-09 2012-12-13 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende lumineszenzmikroskopie
DE102011083847A1 (de) * 2011-09-30 2013-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop für die Weitfeldmikroskopie
WO2013053859A1 (de) 2011-10-12 2013-04-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende lumineszenzmikroskopie
WO2013149731A1 (de) * 2012-04-05 2013-10-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung und verfahren zur mikroskopie
EP2801854A1 (en) * 2013-05-10 2014-11-12 Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
DE102013114860B3 (de) * 2013-12-23 2015-05-28 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Orte einzelner Moleküle einer Substanz in einer Probe
DE102014107606A1 (de) * 2014-05-28 2015-12-03 Carl Zeiss Ag Funktionsintegriertes Laser-Scanning-Mikroskop
WO2017109155A1 (de) * 2015-12-23 2017-06-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Abtastvorrichtung zum abtasten eines objekts für den einsatz in einem rastermikroskop
DE102016117096B4 (de) * 2015-09-22 2020-04-09 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum hochaufgelösten lokalen Abbilden einer Struktur in einer Probe
EP3570087A4 (en) * 2017-01-16 2020-08-26 Nikon Corporation IMAGE PROCESSING DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM, IMAGE PROCESSING METHOD, AND PROGRAM
US10955348B2 (en) 2016-03-07 2021-03-23 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. Method of locally imaging a structure in a sample at high spatial resolution in order to detect reactions of an object of interest to altered environmental conditions
CN114076750A (zh) * 2020-08-20 2022-02-22 深圳华大智造科技股份有限公司 超分辨成像装置与方法、生物样品识别系统与识别方法
DE102023119977A1 (de) * 2023-07-27 2025-01-30 Abberior Instruments Gmbh Verfahren, Computerprogramm und Vorrichtung zum Schätzen einer Lage eines Emitters in einer Probe

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102449527B (zh) * 2009-06-02 2015-08-19 株式会社尼康 图像处理装置、图像处理方法和显微镜
DE102009031231A1 (de) 2009-06-26 2010-12-30 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren und Anordnungen für die Fluoreszenzmikroskopie
DE102010036709A1 (de) * 2010-07-28 2012-02-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Einrichtung und Verfahren zur mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur
US9523846B2 (en) 2010-09-24 2016-12-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh 3D localisation microscopy and 4D localisation microscopy and tracking methods and systems
DE102011007751B4 (de) * 2011-04-20 2023-10-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Weitfeldmikroskop und Verfahren zur Weitfeldmikroskopie
DE102011087196A1 (de) * 2011-11-28 2013-05-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungssystem und -verfahren
US8755122B2 (en) * 2011-12-12 2014-06-17 Corning Incorporated Laser pulse stretching unit and method for using same
US8724203B2 (en) * 2011-12-12 2014-05-13 Corning Incorporated Variable pulse stretching length by variable beamsplitter reflectivity
JP5878756B2 (ja) 2011-12-28 2016-03-08 浜松ホトニクス株式会社 画像処理装置、撮像装置、顕微鏡装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
DE102013100172A1 (de) * 2013-01-09 2014-07-10 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum räumlich hochaufgelösten Abbilden einer einen Luminophor aufweisenden Struktur einer Probe
EP2973404B1 (en) 2013-03-15 2019-02-27 Luminex Corporation Real-time tracking and correlation of microspheres
CN104516098B (zh) * 2013-09-30 2017-04-12 西门子公司 一种显微装置及成像方法
US10648924B2 (en) * 2016-01-04 2020-05-12 Kla-Tencor Corp. Generating high resolution images from low resolution images for semiconductor applications
EP3433654B1 (en) 2016-03-24 2020-09-30 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Spatio-temporally light modulated imaging system, method for confocal imaging an object and carrier wheel device
EP3252512A1 (en) * 2016-06-03 2017-12-06 Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. Interchangeable optical module and microscopic apparatus
DE102016120683A1 (de) * 2016-10-28 2018-05-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop
US10324041B2 (en) 2016-12-21 2019-06-18 Abbott Japan Co., Ltd. Optical imaging system using lateral illumination for digital assays
US11047854B2 (en) 2017-02-06 2021-06-29 Abbott Japan Llc Methods for reducing noise in signal-generating digital assays
DE102017102604B4 (de) * 2017-02-09 2023-12-14 Abberior Instruments Gmbh Verfahren zum Steuern eines Laserscanning-Mikroskops beim Abtasten einer Probe und Laserscanning-Mikroskop
EP3610313B1 (en) * 2017-04-11 2022-03-02 Calico Life Sciences LLC Fluorescence microscopy system and methods based on stimulated emission
CN109724951A (zh) * 2017-10-27 2019-05-07 黄晓淳 一种动态超分辨荧光成像技术
JP7039261B2 (ja) * 2017-11-17 2022-03-22 株式会社日立製作所 組織切片の特定領域からの生体分子採取方法および装置
DE102018105442A1 (de) * 2018-03-09 2019-09-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Kameramodul für ein Mikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
JP2022527827A (ja) 2019-04-02 2022-06-06 サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー 構造化照明顕微鏡法を使用した高度な試料画像化
GB201907953D0 (en) 2019-06-04 2019-07-17 Smi Drug Discovery Ltd An optical microscope
EP3822687A1 (en) * 2019-11-15 2021-05-19 Leica Microsystems CMS GmbH Optical imaging device for a microscope
DE102019218912A1 (de) 2019-12-04 2021-06-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probenebene
DE102019008989B3 (de) * 2019-12-21 2021-06-24 Abberior Instruments Gmbh Verfahren zur Störungskorrektur und Laserscanningmikroskop mit Störungskorrektur
DE102020122535B4 (de) * 2020-08-28 2022-08-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Strahlgeräts, Computerprogrammprodukt und Strahlgerät zum Durchführen des Verfahrens
CN114755200B (zh) * 2022-03-21 2022-11-08 北京大学长三角光电科学研究院 基于光动力治疗的可视化监测系统及方法
EP4253942A1 (en) * 2022-03-31 2023-10-04 Abberior GmbH Method and apparatus for optical imaging with a high number of imaging samples
EP4253941A1 (en) * 2022-03-31 2023-10-04 Abberior GmbH Method and apparatus for optical imaging with a high number of imaging samples
DE102022208620A1 (de) 2022-08-19 2024-02-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskopieverfahren, insbesondere für die Fluoreszenzkorrelationsspektroskopie

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4416558C2 (de) 1994-02-01 1997-09-04 Hell Stefan Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5866911A (en) 1994-07-15 1999-02-02 Baer; Stephen C. Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system
EP1157297B1 (de) 1999-03-02 2002-11-06 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
US6633432B2 (en) 2000-08-21 2003-10-14 Olympus Optical Co., Ltd. Optical device and a microscope
DE10325460A1 (de) 2003-04-13 2004-11-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Räumlich hochauflösendes Abbilden
DE102004034998A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit bewegter Lochscheibe und Verwendung
WO2006127692A2 (en) 2005-05-23 2006-11-30 Hess Harald F Optical microscopy with phototransformable optical labels
DE102005034443A1 (de) * 2005-07-22 2007-02-22 Carl Zeiss Jena Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie
DE102006009831A1 (de) * 2006-03-01 2007-09-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Mikroskop zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben
DE102006021317B3 (de) 2006-05-06 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
DE102006046369A1 (de) * 2006-09-29 2008-04-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenzmikroskopie
EP1907826A1 (de) 2005-07-22 2008-04-09 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Auflösungsgesteigerte lumineszenz-mikroskopie
US20080088920A1 (en) 2004-07-16 2008-04-17 Ralf Wolleschensky Optical scanning microscope
DE102008009216A1 (de) * 2008-02-13 2009-08-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US23686A (en) 1859-04-19 Coen-shellek
DE3436167A1 (de) 1984-10-03 1986-04-10 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Prismensystem zur drehung der bildlage
JP3324780B2 (ja) * 1991-05-16 2002-09-17 オリンパス光学工業株式会社 紫外線顕微鏡
WO1995021393A2 (de) 1994-02-01 1995-08-10 Stefan Hell Vorrichtung und verfahren zum optischen messen eines probenpunktes einer probe mit hoher ortsauflösung
DE19654208C2 (de) 1996-12-24 2001-05-10 Leica Microsystems Mikroskop
US6072625A (en) * 1997-02-03 2000-06-06 Olympus Optical Co., Ltd. Optical microscope apparatus
JP3902939B2 (ja) * 2001-10-26 2007-04-11 株式会社日立ハイテクノロジーズ 標本中の微小領域測定装置及び方法
US6924490B2 (en) 2002-01-10 2005-08-02 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope system
US7430045B2 (en) 2003-04-13 2008-09-30 Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. High spatial resolution imaging
DE102004034999A1 (de) 2004-03-10 2005-10-13 TOGE-Dübel A. Gerhard KG Leitplanken-Pfosten
DE102004034962A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop mit erhöhter Auflösung
JP4602731B2 (ja) * 2004-10-05 2010-12-22 オリンパス株式会社 顕微鏡システム
WO2006078857A2 (en) * 2005-01-16 2006-07-27 Baer Stephen C Single wavelength stimulated emission depletion microscopy
JP4878815B2 (ja) 2005-06-10 2012-02-15 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
US7485875B2 (en) * 2005-07-22 2009-02-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Resolution-enhanced luminescence microscopy
US7929738B2 (en) * 2005-10-11 2011-04-19 Olympus Corporation Microscope apparatus and microscope system
US7679741B2 (en) 2006-03-01 2010-03-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and microscope for high spatial resolution examination of samples
US8421035B2 (en) 2006-08-11 2013-04-16 The Regents Of The University Of California High-resolution microscope using optical amplification
DE102006047912A1 (de) 2006-10-06 2008-04-10 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Anordnung zur parallelisierten mikroskopischen Bildgebung
DE102006060180B9 (de) 2006-12-18 2013-08-08 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Vorrichtung zum räumlich hochaufgelösten Abbilden einer mit einer Substanz markierten Struktur

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4416558C2 (de) 1994-02-01 1997-09-04 Hell Stefan Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5866911A (en) 1994-07-15 1999-02-02 Baer; Stephen C. Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system
EP1157297B1 (de) 1999-03-02 2002-11-06 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
US6633432B2 (en) 2000-08-21 2003-10-14 Olympus Optical Co., Ltd. Optical device and a microscope
DE10325460A1 (de) 2003-04-13 2004-11-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Räumlich hochauflösendes Abbilden
US20080088920A1 (en) 2004-07-16 2008-04-17 Ralf Wolleschensky Optical scanning microscope
DE102004034998A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit bewegter Lochscheibe und Verwendung
WO2006127692A2 (en) 2005-05-23 2006-11-30 Hess Harald F Optical microscopy with phototransformable optical labels
EP1907826A1 (de) 2005-07-22 2008-04-09 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Auflösungsgesteigerte lumineszenz-mikroskopie
DE102005034443A1 (de) * 2005-07-22 2007-02-22 Carl Zeiss Jena Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie
DE102006009831A1 (de) * 2006-03-01 2007-09-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Mikroskop zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben
DE102006021317B3 (de) 2006-05-06 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
DE102006046369A1 (de) * 2006-09-29 2008-04-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenzmikroskopie
DE102008009216A1 (de) * 2008-02-13 2009-08-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Egner et al., Biophysical Journal, S. 3285-3290, Band 93, November 2007

Cited By (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9024279B2 (en) 2010-04-22 2015-05-05 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. Determining the distribution of a substance by scanning with a measuring front
DE102010028138A1 (de) * 2010-04-22 2011-10-27 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Bestimmen der Verteilung einer Substanz durch Abtasten mit einer Messfront
DE102010041426A1 (de) * 2010-09-27 2012-05-03 Siemens Aktiengesellschaft Messeinheit und Verfahren zur optischen Untersuchung einer Flüssigkeit zur Bestimmung einer Analyt-Konzentration
CN103477267A (zh) * 2011-03-01 2013-12-25 应用精密公司 可变取向照明模式旋转器
WO2012118530A1 (en) 2011-03-01 2012-09-07 Applied Precision, Inc. Variable orientation illumination-pattern rotator
CN103477267B (zh) * 2011-03-01 2016-09-14 通用电气医疗集团生物科学公司 可变取向照明模式旋转器
US9753265B2 (en) 2011-03-01 2017-09-05 Ge Healthcare Bio-Sciences Corp. Variable orientation illumination-pattern rotator
EP2681606A4 (en) * 2011-03-01 2014-08-27 Ge Healthcare Bio Sciences LIGHT IMAGE ROTATOR WITH VARIABLE ORIENTATION
DE102011100507A1 (de) * 2011-04-29 2012-10-31 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mobiles optisches Analysegerät
DE102011100507B4 (de) 2011-04-29 2020-05-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Tragbares optisches Analysegerät
WO2012168065A1 (de) 2011-06-09 2012-12-13 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende lumineszenzmikroskopie
DE102011077269A1 (de) 2011-06-09 2012-12-13 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie
DE102011083847A1 (de) * 2011-09-30 2013-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop für die Weitfeldmikroskopie
US9435992B2 (en) 2011-09-30 2016-09-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope for widefield microscopy
DE102011084315A1 (de) 2011-10-12 2013-04-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie
WO2013053859A1 (de) 2011-10-12 2013-04-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende lumineszenzmikroskopie
US9726877B2 (en) 2011-10-12 2017-08-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh High-resolution luminescence microscopy
US9494782B2 (en) 2012-04-05 2016-11-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Device and method for microscopy using light with differing physical properties
DE102012007045B4 (de) 2012-04-05 2023-03-16 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Mikroskopie
WO2013149731A1 (de) * 2012-04-05 2013-10-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung und verfahren zur mikroskopie
GB2514735A (en) * 2012-04-05 2014-12-03 Zeiss Carl Microscopy Gmbh Device and method for microscopy
GB2514735B (en) * 2012-04-05 2016-12-14 Zeiss Carl Microscopy Gmbh Device and method for microscopy
EP2801854A1 (en) * 2013-05-10 2014-11-12 Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
EP2801854B1 (en) 2013-05-10 2017-07-19 Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
WO2014180566A1 (en) * 2013-05-10 2014-11-13 Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
US9874737B2 (en) 2013-05-10 2018-01-23 Forschungszentrum Mikroskopie (FZM), LuciaOptics gemeinnützige UG Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
US9719928B2 (en) 2013-12-23 2017-08-01 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. High-resolution fluorescence microscopy using a structured beam of excitation light
DE102013114860B3 (de) * 2013-12-23 2015-05-28 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Orte einzelner Moleküle einer Substanz in einer Probe
DE102014107606A1 (de) * 2014-05-28 2015-12-03 Carl Zeiss Ag Funktionsintegriertes Laser-Scanning-Mikroskop
US10203490B2 (en) 2014-05-28 2019-02-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Functionally integrated laser scanning microscope
US10527834B2 (en) 2014-05-28 2020-01-07 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Functionally integrated laser scanning microscope
DE102016117096C5 (de) 2015-09-22 2023-11-30 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum hochaufgelösten lokalen Abbilden einer Struktur in einer Probe
DE102016117096B4 (de) * 2015-09-22 2020-04-09 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum hochaufgelösten lokalen Abbilden einer Struktur in einer Probe
LU92924A1 (de) * 2015-12-23 2017-07-21 Leica Microsystems Abtastvorrichtung zum Abtasten eines Objekts für den Einsatz in einem Rastermikroskop
US11150453B2 (en) 2015-12-23 2021-10-19 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning device for scanning an object for use in a scanning microscope
WO2017109155A1 (de) * 2015-12-23 2017-06-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Abtastvorrichtung zum abtasten eines objekts für den einsatz in einem rastermikroskop
US10955348B2 (en) 2016-03-07 2021-03-23 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. Method of locally imaging a structure in a sample at high spatial resolution in order to detect reactions of an object of interest to altered environmental conditions
US11442262B2 (en) 2017-01-16 2022-09-13 Nikon Corporation Image processing device, microscope system, image processing method, and program
EP3570087A4 (en) * 2017-01-16 2020-08-26 Nikon Corporation IMAGE PROCESSING DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM, IMAGE PROCESSING METHOD, AND PROGRAM
CN114076750A (zh) * 2020-08-20 2022-02-22 深圳华大智造科技股份有限公司 超分辨成像装置与方法、生物样品识别系统与识别方法
CN114076750B (zh) * 2020-08-20 2024-05-10 深圳华大智造科技股份有限公司 超分辨成像装置与方法、生物样品识别系统与识别方法
DE102023119977A1 (de) * 2023-07-27 2025-01-30 Abberior Instruments Gmbh Verfahren, Computerprogramm und Vorrichtung zum Schätzen einer Lage eines Emitters in einer Probe

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010060515A1 (de) 2010-06-03
US8704196B2 (en) 2014-04-22
JP2012507756A (ja) 2012-03-29
EP2350726B1 (de) 2017-04-19
EP2350726A1 (de) 2011-08-03
JP5687201B2 (ja) 2015-03-18
EP3206070B1 (de) 2018-05-23
EP3206070A1 (de) 2017-08-16
US20110284767A1 (en) 2011-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3206070B1 (de) Kombinationsmikroskopie
EP2356505B1 (de) Auflösungsgesteigerte mikroskopie
EP2718762B1 (de) Hochauflösende lumineszenzmikroskopie
EP2641078B1 (de) Tiefenauflösungsgesteigerte mikroskopie
DE19829981C2 (de) Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie
EP2347294B1 (de) Verbesserte verfahren und vorrichtungen für die mikroskopie mit strukturierter beleuchtung
EP2516993B1 (de) Hochauflösendes mikroskop und verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen positionsbestimmung von objekten
DE102009043744B4 (de) Verfahren und Mikroskop zur dreidimensional auflösungsgesteigerten Mikroskopie
EP1584918B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Fluoreszenz-Lebensdauer-Imaging-Nanoskopie
DE102004053730B4 (de) Verfahren und Anordnung zur Unterdrückung von Falschlicht
DE10033180B4 (de) Verfahren zur Detektion von Farbstoffen in der Fluoreszenzmikroskopie
DE102011051042A1 (de) Abtastmikroskop und Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes
DE102013103971A1 (de) Verfahren zum Erzeugen eines aus mehreren Teilbildern zusammengesetzten Gesamtbilds eines Objekts
DE102004016253B4 (de) Rastermikroskop und Verfahren zur rastermikroskopischen Untersuchung einer Probe
DE102009043747A1 (de) Verfahren zur Erzeugung eines Mikroskopbildes und Mikroskop
WO2017055405A1 (de) Hochauflösende scanning-mikroskopie mit der unterscheidung mindestens zweier spektralbereiche
DE102010036709A1 (de) Einrichtung und Verfahren zur mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur
EP2516992A1 (de) Lumineszenzmikroskopie
DE102011084315A1 (de) Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie
EP2803978A1 (de) Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
WO2020114930A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum nachweis von fluoreszenzsignalen in einer dreidimensionalen region einer probe
DE102013216124A1 (de) Hochauflösende 3D-Fluoreszenzmikroskopie
DE202018103032U1 (de) Mikroskopiersystem zur Aufnahme eines Konfokalbildes und eines nicht-konfokalen Transmissionsbildes
DE102004032952A1 (de) Rastermikroskop und Verfahren zur Untersuchung von biologischen Proben mit einem Rastermikroskop
DE102023118695A1 (de) Verfahren, lokalisationsmikroskop und computerprogramm zur lokalisation oder zum verfolgen einzelner emitter in einer probe

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
R082 Change of representative

Representative=s name: GEYER, FEHNERS & PARTNER (G.B.R.), DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: CARL ZEISS MICROLMAGING GMBH, 07745 JENA, DE

Effective date: 20130204

R082 Change of representative

Representative=s name: PATENTANWAELTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB, DE

Effective date: 20130204

Representative=s name: GEYER, FEHNERS & PARTNER (G.B.R.), DE

Effective date: 20130204

R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee