DE102008023640B4 - Prüfhalter für Mikrochip - Google Patents

Prüfhalter für Mikrochip Download PDF

Info

Publication number
DE102008023640B4
DE102008023640B4 DE102008023640A DE102008023640A DE102008023640B4 DE 102008023640 B4 DE102008023640 B4 DE 102008023640B4 DE 102008023640 A DE102008023640 A DE 102008023640A DE 102008023640 A DE102008023640 A DE 102008023640A DE 102008023640 B4 DE102008023640 B4 DE 102008023640B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
axis
pressing device
pin
bearing
test holder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE102008023640A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102008023640A1 (de
Inventor
Christian KÖHLER
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TE Connectivity Germany GmbH
Original Assignee
Tyco Electronics AMP GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tyco Electronics AMP GmbH filed Critical Tyco Electronics AMP GmbH
Priority to DE102008023640A priority Critical patent/DE102008023640B4/de
Priority to US12/465,683 priority patent/US7862362B2/en
Priority to EP09006534.3A priority patent/EP2120054A3/de
Priority to KR1020090042550A priority patent/KR20090119736A/ko
Priority to CNA2009101456133A priority patent/CN101581732A/zh
Priority to TW098116322A priority patent/TW201003094A/zh
Publication of DE102008023640A1 publication Critical patent/DE102008023640A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102008023640B4 publication Critical patent/DE102008023640B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441Details
    • G01R1/0466Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Pivots And Pivotal Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

Prüfhalter (H) für zumindest einen Mikrochip, mit einem Grundrahmen (1), der wenigstens eine zentrale Öffnung (2) aufweist, die mindestens eine Aufnahme für den Mikrochip umschließt, und mit einer Anpresseinrichtung (6), die über ein Klapplager (Bf) um eine Klappachse (F) in Richtung weg von der zentralen Öffnung (2) auf- und in Richtung zur zentralen Öffnung (2) zuklappbar mit dem Grundrahmen (1) verbunden ist, wobei die Anpresseinrichtung (6) über ein erstes Kipplager (Bt1), das eine senkrecht zur Klappachse (F) verlaufende erste Kippachse (T1) aufweist, kippbar mit dem Grundrahmen (1) verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Klapplager (Bf) und das erste Kipplager (Bt1) gemeinsam einen im Grundrahmen (1) aufgenommenen Achsstift (17) umfassen, der entlang der Klappachse (F) ausgerichtet ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen Prüfhalter für zumindest einen Mikrochip, mit einem Grundrahmen, der wenigstens eine zentrale Öffnung aufweist, die mindestens eine Aufnahme für den Mikrochip umschließt, und mit einer Anpresseinrichtung, die über ein Klapplager um eine Klappachse in Richtung weg von der zentralen Öffnung auf- und in Richtung zur zentralen Öffnung zuklappbar mit dem Grundrahmen verbunden ist, wobei die Anpresseinrichtung über ein erstes Kipplager, das eine senkrecht zur Klappachse verlaufende erste Kippachse aufweist, kippbar mit dem Grundrahmen verbunden ist.
  • Prüfhalter für Mikrochips sind allgemein bekannt und werden vielfach zur Positionssicherung eines Mikrochips in einem Sockel oder Contactor, der zur elektrischen Kontaktierung des Mikrochips ausgestaltet ist, verwendet. Insbesondere wenn die Mikrochips elektrische Kontakte aufweisen, die auf den entsprechenden Kontakten des Contactors aufliegen, finden oben genannte Anpressmechanismen Verwendung.
  • Die vorab genannten Kontakte der Mikrochips sind beispielsweise sogenannte Ball oder Land Grid Arrays, bei denen die Mikrochips in etwa halbkugelförmige oder flächige elektrische Kontaktstellen aufweisen.
  • Prüfhalter können jedoch auch bei Mikrochips mit anders ausgeformten elektrischen Kontakten verwendet werden, um deren Sitz im Contactor, zum Beispiel bei Lebensdauertests, sicherzustellen.
  • Der Grundrahmen bekannter Prüfhalter ist mit der Anpresseinrichtung über die Klappachse verbunden, die ein Aufklappen der Anpresseinrichtung beziehungsweise des Prüfhalters erlaubt, damit der Mikrochip in den mit dem Grundrahmen verbundenen Contactor eingesetzt werden kann.
  • Im zugeklappten Zustand des Prüfhalters drückt die Anpresseinrichtung den Mikrochip in die von der zentralen Öffnung umgebenen oder umschlossenen Aufnahme für den Mikrochip in den Contactor. Dabei ist es insbesondere für sogenannte Burn-in-Tests oder auch Einbrenntests notwendig, dass der Mikrochip gleichmäßig in den Contactor gedrückt wird, da eine ungleichmäßige Belastung des Mikrochips zu verfälschten Ergebnissen des Einbrenntests oder gar zur Beschädigung des Mikrochips führen kann.
  • Daher ist bei der Herstellung und Wartung von bekannten Prüfhaltern darauf zu achten, dass zumindest der Druckkörper im zugeklappten Zustand des Prüfhalters die Anpresseinrichtung parallel zum im Contactor befindlichen und mit dem Contactor kontaktierten Mikrochip ausgerichtet ist.
  • Ein Prüfhalter gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1 ist aus der Druckschrift US 520 57 42 A bekannt.
  • Da nicht nur der Prüfhalter, sondern auch der Mikrochip, der Contactor und eine den Contactor mechanisch und elektrisch aufnehmende und diesen womöglich mit dem Prüfhalter verbindende Leiterplatte während ihrer Fertigung Maßvariationen unterliegen, ist der durch den Druckkörper beim Anpressen des Mikrochips in den Contactor auf den Mikrochip aufgebrachte Anpressdruck durch mögliche und durch die Maßvariationen bedingte Schieflagen zwischen Mikrochip und Anpresseinrichtung nur in Ausnahmefällen gleichmäßig über die gesamte Anpressfläche verteilt.
  • Daher ist es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen verbesserten Prüfhalter für Mikrochips bereitzustellen, der beim Anpressen des Mikrochips auf den Contactor eine gleichmäßige Druckbelastung des Mikrochips gewährleistet.
  • Für den eingangs genannten Prüfhalter wird die Aufgabe erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass das Klapplager und das erste Kipplager gemeinsam einen im Grundrahmen aufgenommenen Achsstift umfassen, der entlang der Klappachse ausgerichtet ist.
  • Durch diese einfache Maßnahme ist es möglich, dass die Anpresseinrichtung des Prüfhalters einen parallel zur Klappachse verlaufenden Gradienten des Mikrochips im mit dem Contactor kontaktierten Zustand beziehungsweise des Contactors, der Leiterplatte oder gar des Prüfhalters in Bezug auf die Anpresseinrichtung selbst durch eine Ausgleichsbewegung um die erste Kippachse ausgleicht und so ein gleichmäßiges Drücken des Mikrochips in den Contactor gewährleistet ist, selbst wenn eine der oben genannten Komponenten wie beschrieben verkippt ist.
  • Die erfindungsgemäße Lösung kann durch verschiedene, jeweils für sich vorteilhafte, beliebig miteinander kombinierbare Ausgestaltungen weiter verbessert werden. Auf diese Ausgestaltungsformen und die mit ihnen verbundenen Vorteile wird im Folgenden eingegangen.
  • So können die Anpresseinrichtung und der Grundrahmen über einen Achsstift klappbar miteinander verbunden sein, dessen Längsachse mit der Klappachse fluchtet und somit mit dem Grundrahmen und der Anpresseinrichtung ein womöglich scharnierförmiges Klapplager bildet. Sowohl der Grundrahmen als auch die Anpresseinrichtung können Aufnahmen für den Achsstift aufweisen. Dieser Prüfhalter lässt sich so einfach entwerfen und produzieren.
  • Um den Mikrochip einfach durch die zentrale Öffnung in den Contactor einsetzen zu können, kann die Anpresseinrichtung um die Klappachse um zumindest 90° in Bezug zum Grundrahmen aufklappbar sein.
  • Die Aufnahmen des Grundrahmens für den Achsstift können an einer Seite des Grundrahmens im maximal möglichen Abstand voneinander ausgeformt sein. Die Aufnahmen können als Passung für den Achsstift ausgeformt sein, die den Achsstift möglichst spielfrei und gegebenenfalls rotierbar aufnehmen. Derartig ausgeformte Aufnahmen ermöglichen eine genaue Positionierung des Achsstifts. Damit die Längsachse des Achsstifts mit der Klappachse im montierten Zustand fluchtet, können Symmetrieachsen der gegebenenfalls rotationssymmetrisch ausgeformten Halterungen entlang der Klappachse angeordnet sein.
  • Die am Grundrahmen vorgesehen Aufnahmen für den Achsstift können in ihrem Inneren so ausgestaltet sein, dass der Achsstift reibungsarm um die Klappachse rotieren kann. Hierzu können die Innenwände der Halterungen beispielsweise mit einem Festschmiermittel beschichtet sein oder der Achsstift kann über ein Kugellager mit den Aufnahmen rotierbar verbunden sein.
  • Zum mechanischen Verbinden des Grundrahmens mit dem Contactor oder mit einer den Contactor tragenden Leiterplatte kann der Grundrahmen mindestens zwei parallel zur zentralen Öffnung verlaufende Öffnungen für Schrauben oder Passstifte aufweisen, über die der Grundrahmen womöglich auch elektrisch leitend mit dem Contactor oder der Leiterplatte unverschieblich verbindbar ist.
  • Ist der Prüfhalter über dem Contactor an der Leiterplatte montiert, kann sich der Contactor zentriert unter der zentralen Öffnung befinden und zumindest teilweise in die Aufnahme für den Mikrochip hineinragen. Der Contactor kann am der Anpresseinrichtung gegenüberliegenden Ende der zentralen Öffnung im Zentrum der Aufnahme für den Mikrochip angeordnet sein, wobei die Aufnahme zentriert in der zentralen Öffnung angeordnet sein kann. Der Contactor kann beispielsweise im Wartungsfall ausgewechselt werden, ohne dass der Prüf halter demontiert werden muss. Der Prüfhalter kann alternativ auch am Contactor montiert sein.
  • Der Deckelrahmen der Anpresseinrichtung kann ebenfalls zumindest eine Aufnahme für den Achsstift aufweisen, die im montierten Zustand der Anpresseinrichtung zwischen den Aufnahmen des Grundrahmens insbesondere mittig angeordnet sein kann. Der Durchmesser dieser Aufnahme kann größer sein als der Durchmesser des Achsstifts, so dass die Anpresseinrichtung auch um andere Achsen als um die Klappachse beweglich mit dem Achsstift verbunden sein kann.
  • Die Aufnahme kann in ihrem Verlauf einen Verjüngungsbereich aufweisen, der beispielsweise einen quadratischen Querschnitt aufweisen kann, der senkrecht zur Klappachse ausgerichtet sein kann. Eine Anpresseinrichtung mit einer derart ausgestalteten Aufnahme für den Achsstift kann in seiner Beweglichkeit auf Bewegungen um die Klappachse und um eine zweite Bewegungsachse beschränkt sein. Insbesondere wenn eine der Seiten des quadratischen Querschnitts der Aufnahme im zugeklappten Zustand der Anpresseinrichtung im Wesentlichen parallel zum Grundrahmen verläuft, kann die zweite Bewegungsachse mit der ersten Kippachse fluchten.
  • Die Aufnahme der Anpresseinrichtung für den Achsstift kann also zusammen mit dem Achsstift zumindest einen Teil eines ersten Kipplagers bilden, dessen Lagerachse mit der ersten Kippachse zusammenfallen kann.
  • Um die Position der Anpresseinheit entlang der Klappachse in Bezug auf den Grundrahmen zu fixieren, kann der Deckelrahmen mindestens zwei Anschläge aufweisen, die beidseitig der Aufnahme für den Achsstift des Deckelrahmens angeordnet sind und im montierten Zustand der Anpresseinrichtung im Wesentlichen an den sich gegenüberliegenden Seiten der Aufnahmen für den Achsstift des Grundrahmens anliegen. Die Anschläge können so am Deckelrahmen ausgeformt sein, dass sie einen Kippwinkel des ersten Kipplagers, also eine Verkippung der Anpresseinrichtung um die erste Kippachse, ermöglichen und dabei begrenzen. Insbesondere können die Anschläge auch als Bohrungen ausgeformt sein, durch die der Achsstift verläuft, wobei deren Innendurchmesser größer sein kann als der Durchmesser des Achsstifts.
  • Um auch Schräglagen des mit dem Contactor vollständig kontaktierten Mikrochips in Bezug auf den Druckkörper um eine parallel zur Klappachse verlaufende Achse ausgleichen zu können, kann der Deckelrahmen über ein zweites Kipplager einen Druckkörper aufnehmen, der nicht nur mit dem Deckelrahmen zusammen um die erste Kippachse, sondern zusätzlich auch um eine zweite Kippachse, die mit einer Lagerachse des zweiten Kipplagers fluchten kann, verkippbar sein kann. Somit sind nicht nur jeweils die in Richtung einer der beiden Kippachsen verlaufenden Gradienten zwischen der zur Anpresseinrichtung weisenden Oberfläche des Mikrochips und dem Grundrahmen beziehungsweise der Anpresseinheit, sondern auch gleichzeitige Schräglagen in kombinierten Verkippungseinrichtungen um die Kippachsen ausgleichbar.
  • Um den Mikrochip nicht außermittig zu belasten, können die erste und die zweite Kippachse einander über einen Punkt kreuzen, der im geschlossenen und mit dem Mikrochip beziehungsweise im Mittelpunkt der Aufnahme für den Mikrochip bestückten Zustand des Prüfhalters im geometrischen Mittelpunkt des Mikrochips liegt. Dabei können die Kippachsen in einer gemeinsamen Ebene verlaufen und sich in dem Punkt schneiden oder sich beabstandet voneinander passieren. Auch können die beiden Kippachsen senkrecht zueinander ausgerichtet sein, so dass Gradienten der Oberfläche des Mikrochips in Bezug auf die zum Mikrochip gerichtete Seite des Druckkörpers parallel zu den Kippachsen gleichmäßig ausgeglichen werden können. Die im geschlossenen Zustand der Anpresseinrichtung in die zentrale Öffnung gerichtete Seite des Druckkörpers kann an die Form des Mikrochips angepasst sein, um punktuelle Belastungen des Mikrochips zu vermeiden.
  • Damit der Druckkörper um die zweite Kippachse beweglich ist, kann der Druckkörper kippbar mit dem Deckelrahmen verbunden sein, wobei die Verkippungsachse des Druckkörpers vorzugsweise mit der zweiten Kippachse fluchten kann. Hierzu können der Deckelrahmen und der Druckkörper über das zweite Kipplager, das zumindest zwei sich gegenüberliegende Rotationslager aufweisen kann, deren Lagerachsen mit der zweiten Kippachse fluchten, miteinander verbunden sein.
  • Jedes der beiden Kipplager kann einen zumindest teilweise kreis-zylindrisch ausgeformten Verbindungsstift umfassen. Für den Verbindungsstift können im Deckelrahmen durchgehende und sich an gegenüberliegenden Seiten ausgeformte Stiftaufnahmen vorgesehen sein, durch die der Stift von außen in Richtung einer im Deckelrahmen zur Aufnahme des Druckkörpers vorgesehenen Öffnung hindurch steckbar ist und der Verbindungsstift im eingesteckten Zustand in die im Deckelrahmen für den Druckkörper vorgesehene Aufnahme ragt. Die Stiftaufnahmen können entlang der zweiten Kippachse parallel zur Klappachse und von dieser beabstandet verlaufen.
  • Der Druckkörper kann an zwei gegenüberliegenden Seiten Bohrungen, die auch als Sacklöcher ausgestaltet sein können, zur Aufnahme der Verbindungsstifte aufweisen. Auch diese Bohrungen können im montierten Zustand des Druckkörpers entlang der zweiten Kippachse verlaufen.
  • Die den Verbindungsstift aufnehmenden Bohrungen oder Stiftaufnahmen sind so ausgeformt, dass sie den Verbindungsstift im Wesentlichen spielfrei rotierbar aufnehmen. Dabei können die Innenseiten der Bohrungen oder der Stiftaufnahmen beispielsweise mit einem Festschmiermittel versehen sein oder als Kugellager ausgestaltet sein, so dass der Deckelrahmen möglichst reibungsarm um die zweite Kippachse verkippbar sein kann.
  • Das zweite Kipplager kann jedoch auch als Höhenverstelleinrichtung ausgestaltet sein, dass durch eine Lageänderung zumindest eines Teils des zweiten Kipplagers der Abstand des Druckkörpers im montierten und zugeklappten Zustand der Anpresseinrichtung zum gegenüberliegenden Ende der zentralen Öffnung des Grundrahmens änderbar ist. Somit können auch Mikrochips mit unterschiedlichen Höhen durch den Prüfhalter im Contactor gehalten werden, ohne dass der Prüfhalter zumindest teilweise gewechselt werden muss.
  • Hierzu kann beispielsweise der Verbindungsstift zwei Zapfen aufweisen, die starr über einen beispielsweise senkrecht zur ihnen verlaufenden Haltesteg miteinander verbunden sind. Die Zapfen können zylindrisch und mit einer kreisförmigen Grundfläche ausgestaltet sein, die parallel und beabstandet zueinander, also exzentrisch, verlaufen können. Die Längsachse des ersten Zapfens kann im montierten Zustand mit der zweiten Kippachse fluchten. Insbesondere kann dieser erste Zapfen der Zapfen sein, der von einer der Bohrungen des Druckkörpers aufgenommen ist. Weist der Verbindungssteg im zugeklappten oder geschlossenen Zustand der Anpresseinrichtung vom ersten Zapfen oder auch Druckkörperzapfen in Richtung der gegenüberliegenden Seite der zentrale Öffnung, ist der Druckkörper in einer oberen Position angeordnet. Ist der Verbindungsstift um die Längsachse des in der Stiftaufnahme des Deckelrahmens vorgesehenen zweiten Zapfens um 180° verdreht, so ist der Druckkörper in einer unteren Position, also näher zur gegenüberliegenden Seite der zentralen Öffnung, angeordnet. Der Unterschied der Abstände zwischen der in die zentrale Öffnung weisenden Seite des Drückkörpers und dem gegenüberliegenden Ende der Öffnung ist abhängig von der parallel zu dieser Richtung angeordneten Länge des Verbindungssteges beziehungsweise vom Abstand der Längsachsen der beiden Zapfen zueinander.
  • Die sich parallel zur zweiten Kippachse erstreckende Breite des Verbindungssteges setzt eine ausreichende Lücke zwischen Druckkörper und Deckelrahmen voraus. Soll die Lücke zwischen Druckkörper und Deckelrahmen möglichst klein sein, kann der Verbindungsstift auch anders ausgeformt sein. Insbesondere kann der Verbindungsstift aus zwei Zapfen mit unterschiedlichen Durchmessern bestehen. Der Zapfen mit dem kleineren Durchmesser kann durch die Druckplatte aufgenommen werden, wobei die Längsachse dieses Zapfens mit der zweiten Kippachse fluchtet.
  • Für den zweiten, größeren Zapfen sind entsprechende Stiftaufnahmen im Deckelrahmen vorgesehen. Der zweite Zapfen ist so im Deckelrahmen angeordnet, dass er um seine parallel und beabstandet zur zweiten Kippachse verlaufende Längsachse rotierbar ist. Ist nun der erste Zapfen außermittig und insbesondere am Rand des zweiten Zapfens angeordnet, so entspricht die Funktionsweise zur Änderung der Höhenposition des Druckkörpers der oben beschriebenen Funktion des als zwei exzentrisch über einen Verbindungssteg verbundenen Zapfen ausgeformten Verbindungsstiftes. Der Unterschied zwischen der hohen und der niedrigen Position des Druckkörpers ergibt sich durch den Abstand der Längsachsen der beiden Zapfen.
  • Der Querschnitt der Aufnahmen für den zweiten Zapfen und der Querschnitt des zweiten Zapfens können komplementär zueinander und insbesondere in sich punktsymmetrisch, also beispielsweise kreisförmig oder quadratisch, ausgeformt sein. Somit lassen sich die Verbindungsstifte zumindest in zwei vorgegebenen Ausrichtungen in die Aufnahmen einsetzen.
  • Zur einfachen Montage der Verbindungsstifte können diese mit einer Federklammer verbunden sein. Die Federklammer kann U-förmig und mit zwei in eine Richtung weisenden Stegen ausgestaltet sein. Die Verbindungsstifte können Aufnahmebohrungen für einen der Stege aufweisen, wobei die Bohrung senkrecht zur einer durch die Längsachsen der Aufnahmestifte aufgespannten Fläche verlaufen kann.
  • Mit der Federklammer lassen sich also die Verbindungsstifte in einfacher Weiser gleichmäßig in die dafür vorgesehenen Öffnungen einführen. Sind die Verbindungsstifte in den Öffnungen positioniert, kann die Federklammer einfach aus den für die Federklammer vorgesehenen Bohrungen in den Verbindungsstiften herausgezogen werden oder dort verbleiben, um die Position und Lage der Verbindungsstifte zu fixieren.
  • Durch die Ausrichtung der Bohrung für die Federklammer in den Verbindungsstiften sind die Verbindungsstifte in zwei Positionen, entweder in der oberen oder in der unteren Montageposition des Druckkörpers, vorab ausgerichtet, wenn die Montageklammer im Wesentlichen parallel zur durch die Klappachse und die erste Kippachse aufgespannten Fläche ausgerichtet ist.
  • Um die Anpresseinrichtung im geschlossenen Zustand zu halten, kann ein Verschlussmechanismus, zum Beispiel in Form eines L-förmigen Verschlusshebels, vorgesehen sein, der an der gegenüber der Klappachse gelegenen Seite mit dem Grundrahmen rotierbar verbunden sein kann und an dieser Seite einen Vorsprung oder eine Ausbuchtung aufweisen kann, der im zugeklappten Zustand des Hebels die Anpresseinrichtung in Richtung des Grundrahmens drücken kann, wodurch die Anpresseinrichtung gegen eine ungewollte Öffnung verschlossen und gesichert ist. Der Verschlussmechanismus kann die Anpresseinrichtung insbesondere symmetrisch der ersten Kippachse in Richtung des Grundrahmens drücken, wodurch eine einseitig der ersten Kippachse größere Belastung des Mikrochips vermieden werden kann. Der Grundrahmen kann eine Einhakvorrichtung für den Hebel aufweisen, so dass dieser in der die Anpresseinrichtung in Richtung des Grundrahmens drückenden Position fixierbar ist.
  • Eine für den Mikrochip spezifische Andruckkraft kann durch die Elastizität und die geometrische Ausgestaltung des Verschlusshebels oder auch durch die Ausgestaltung der Einhakvorrichtung oder des Deckelrahmens vorgegeben sein. Die Andruckkraft kann durch Anpassung des zweiten Kipplagers oder durch einen Austausch des Verschlusshebels mit beispielsweise einer anderen Geometrie oder einem anderen Material änderbar sein. So lässt sich die Andruckkraft durch Änderung der Federkonstante und/oder des Federwegs an die Erfordernisse des jeweiligen Mikrochips adaptieren.
  • Damit der Deckelrahmen um die erste Kippachse kippbar bleibt, auch wenn die Ausbuchtung auf der weg vom Grundrahmen weisenden Seite des Deckelrahmens aufliegt, kann an dieser Seite des Deckelrahmens ein Auflager vorgesehen sein, auf dem der die Ausbuchtung des Verschlusshebels aufliegt und über das der Verschlussheben die Andruckkraft in den Deckelrahmen einbringt.
  • Das Auflager kann beispielsweise als ein Zylinder mit einer runden Grundfläche ausgeformt sein, dessen Längsachse mit der ersten Kippachse fluchtet. Der Zylinder kann parallel zu seiner Längsachse geschnitten sein und die entstehende Schnittebene auf dem Deckelrahmen aufliegen. Der auf dem Auflager um die erste Kippachse kippbar im zugeklappten oder geschlossenen Zustand der Anpresseinrichtung aufliegende Teil der Ausbuchtung kann an die Form des Lagers angepasst und insbesondere zumindest teilweise komplementär ausgeformt sein. In dieser Ausgestaltung ist das Auflager also als ein Gleitlager ausgebildet.
  • Einfacher zu realisieren ist das Auflager beispielsweise als Zylinder mit einer dreieckigen Grundfläche. Die Längsachse des Auflagers kann parallel zur ersten Kippachse verlaufen. Insbesondere kann die weg vom Grundrahmen weg weisende Spitze des die Grundfläche des Zylinders bildendes Dreiecks mit der ersten Kippachse zusammenfallen. Auch kann das Auflager pyramidenförmig ausgestaltet sein, dessen Spitze auf der ersten Kippachse liegt.
  • Die Auflagefläche des Deckelrahmens kann auch eben ausgeformt sein und das Auflager kann an der zum Deckelrahmen weisenden Seite der Ausbuchtung angeordnet sein.
  • Insbesondere kann die Lagerachse des Auflagers mit der ersten Kippachse fluchten.
  • Im Folgenden wird die Erfindung beispielhaft anhand von Ausführungsbeispielen mit Bezug auf die Zeichnungen erläutert. Die unterschiedlichen Merkmale der Ausführungsformen können dabei unabhängig voneinander kombiniert werden, wie es bei den einzelnen vorteilhaften Ausgestaltungen bereits dargelegt wurde.
  • Es zeigen:
  • 1 eine schematische Darstellung eines ersten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Prüfhalters mit einem Grundrahmen;
  • 2 eine schematische Darstellung eines zweiten Ausführungsbeispiels der Erfindung mit einem Deckelrahmen;
  • 3 eine schematische Darstellung eines dritten Ausführungsbeispiels der Erfindung, die einen erfindungsgemäßen Druckkörper zeigt;
  • 4 eine schematische Darstellung eines zylinderförmigen Achsstifts der Erfindung;
  • 5 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Prüfhalters mit einem Verbindungsstift;
  • 6 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Verbindungsstifts, das sich von dem ersten Ausführungsbeispiel durch zwei Zapfen unterscheidet;
  • 7 eine schematische Darstellung eines dritten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Verbindungsstifts;
  • 8 eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Prüfhalters in Seitenansicht;
  • 9 eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Prüfhalters in Aufsicht;
  • 10 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung mit einer erfindungsgemäßen Federklammer;
  • 11 eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Prüfhalters in Aufsicht mit einem Verschlussmechanismus.
  • Zunächst sind Aufbau und Funktion eines erfindungsgemäßen Grundrahmens 1 mit Bezug auf das Ausführungsbeispiel der 1 beschrieben. 1 zeigt den Grundrahmen 1 in einer Aufsicht A und einer Seitenansicht S. Wie in der Aufsicht A erkennbar, weist der Grundrahmen 1 einen im Wesentlichen rechteckigen Grundriss auf. Im Grundrahmen 1 ist eine zentrale Öffnung 2 gezeigt, die eine Aufnahme für einen Mikrochip umschließt, durch die der Mikrochip in einen nicht gezeigten Contactor einsetzbar ist. Die zentrale Öffnung 2 ist, wie aus der Seitenansicht ersichtlich, als ein Durchbruch durch den Grundrahmen 1 ausgeformt.
  • An einer Seite 3 des Grundrahmens 1 sind zwei Aufnahmen 4, 5 gezeigt, die Bestandteil eines den Grundrahmen 1 mit einer hier nicht gezeigten Anpresseinrichtung 6 verbindenden Klapplagers Bf sind. Die Aufnahmen 4, 5 sind in den Außenbereichen, also an entgegengesetzten Enden der Seite 3 ausgestaltet und ragen, wie aus der Seitenansicht S ersichtlich, in einer Höhenrichtung h über den Grundrahmen 1 hinaus. Zwischen den Aufnahmen 4, 5 ist eine Aussparung 7 vorgesehen, in die ein einen weiteren Bestandteil des Klapplagers Bf bildender Teil der Anpresseinrichtung 6 einsetzbar ist. Um eine hier als strichpunktierte Linie dargestellte Klappachse F ist die Anpresseinrichtung 6 in Bezug auf den Grundrahmen 1 auf- bzw. zuklappbar.
  • Die Klappachse F und eine hier als strichpunktierte Linie dargestellte erste Kippachse T1 sind senkrecht zueinander angeordnet gezeigt.
  • Der Grundrahmen 1 kann wenigstens zwei parallel zur zentralen Öffnung verlaufende Durchbrüche aufweisen, über die er beispielsweise mit Schrauben oder Passstiften mit einer Leiterplatte oder mit einem Contactor zur Aufnahme eines Mikrochips unverschieblich verbindbar ist. Im montierten Zustand des Grundrahmens auf der Leiterplatte, die mit dem Contactor bestückt sein kann, oder auf dem Contactor befindet sich der Contactor unterhalb der zentralen Öffnung 2 beziehungsweise der Aufnahme für den Mikrochip und kann zumindest teilweise in die zentrale Öffnung 2 ragen. Durch die Aufnahme für den Mikrochip kann der Mikrochip in den Contactor eingesetzt werden.
  • 2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Prüfhalters H, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen des Ausführungsbeispiels der 1 entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zum Ausführungsbeispiel der 1 eingegangen.
  • Die Anpresseinrichtung 6 umfasst einen mit einem Auflager 9 versehenen Deckelrahmen 10, wobei in der 2 auch der Deckelrahmen 10 in einer Aufsicht A und einer Seitenansicht S gezeigt ist. Der Deckelrahmen 10 weist zur Aufnahme eines hier nicht gezeigten Druckkörpers 11 eine Öffnung 12 auf. Die Öffnung 12 ist als senkrecht zu der größten Flächen des Deckelrahmens 10 verlaufender Durchbruch durch den Deckelrahmen 10 gezeigt, kann jedoch auch im montierten Zustand an der vom Grundrahmen 1 abgewandten Seite geschlossen sein.
  • Das Auflager 9 erstreckt sich in Höhenrichtung h, wobei dessen Lagerachse parallel zur ersten Kippachse T1 verläuft und diese in der Aufsicht A zumindest teilweise überdeckt. Insbesondere kann das Auflager so ausgestaltet sein, dass es ein Verkippen des Deckelrahmens 10 in dessen montierten Zustand ermöglicht, wenn die Anpresseinrichtung 6 zugeklappt ist.
  • Im äußeren Bereich einer Seite 13, die der Seite gegenüberliegt, in deren Bereich das Auflager 9 vorgesehen ist, sind zwei Bohrungen 14, 16 und eine zwischen den Bohrungen 14, 16 angeordnete Aufnahme 15 gezeigt, von denen zumindest die Aufnahme 15 im Zusammenspiel mit den Aufnahmen 4, 5 des Grundrahmens 1 und eines hier nicht gezeigten Achsstifts 17 das Klapplager Bf bilden. Die Bohrungen 14, 16 und die Aufnahme 15 erstrecken sich entlang der Klappachse F, wobei die Mittelpunkte der Bohrungen 14, 16 und der Aufnahme 15 auf der Klappachse F liegen. Der Durchmesser der Bohrungen 14, 16 ist größer als der Durchmesser der Aufnahmen 4, 5 des Grundrahmens 1, die als Passungen für den Achsstift 17 ausgestaltet sind. Die mittig zwischen den Bohrungen 14, 16 gelegene Aufnahme 15 weist einen verjüngten Bereich 18 auf, der mit dem Achsstift 17 Teil eines ersten Kipplagers Bt1 ist, dessen Lagerachse mit der ersten Kippachse T1 fluchtet. Die einen größeren Durchmesser als der Achsstift 17 aufweisenden Bohrungen 14, 16 dienen als Anschläge für das erste Kipplager Bt1, die einen möglichen Kippwinkel um die erste Kippachse T1 begrenzen.
  • Parallel zu den Bohrungen 14, 16 sind im Deckelrahmen 10 zwei Stiftaufnahmen 19, 20 zur Aufnahme von hier nicht gezeigten Verbindungsstiften 21 vorgesehen. Die Längsachsen der rotationssymmetrischen Durchbrüche 19, 20 fluchten mit einer zweiten Kippachse T2, die senkrecht zur ersten Kippachse T1 in einem Abstand d zur Klappachse F verläuft. Die Aufnahmen 19, 20 weisen einen im Wesentlichen identischen Durchmesser auf, der in etwa dem Durchmesser der Verbindungsstifte 21 in diesem Bereich entspricht, wodurch die Verbindungsstifte mit höchstens wenig Spiel rotierbar in die Öffnungen 19, 20 einbringbar sind. Weisen die Verbindungsstifte 21 keinen rotationssymmetrischen oder runden Querschnitt auf, können die Aufnahmen 19, 20 anders und insbesondere komplementär zum Querschnitt der Verbindungsstifte 21 ausgeformt sein. Die Verbindungsstifte 21 bilden im Zusammenspiel mit den Stiftaufnahmen 19, 20 Teile eines zweiten Kipplagers Bt2.
  • 3 zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen der Ausführungsbeispiel der 1 oder 2 entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zu den bisherigen Ausführungsbeispielen eingegangen.
  • Die 3 zeigt den Druckkörper 11 in einer Aufsicht A und einer Seitenansicht S. Der als gerader Zylinder ausgeformte Druckkörper 11 weist hier eine im Wesentlichen quadratische Grundfläche auf, die jedoch auch anders an die Form des Mikrochips und insbesondere rechteckig ausgeformt sein kann. Im Bereich zweier sich gegenüberliegenden Seiten sind mittig zwei Bohrungen 22 und 23 zur teilweisen Aufnahme jeweils eines Verbindungsstiftes 21 vorgesehen. Die Bohrungen 22, 23, deren Längsachse im montierten Zustand des Druckkörpers mit der zweiten Kippachse T2 fluchtet, bilden mit den Verbindungsstiften 21 und den Aufnahmen 19, 20 des Deckelrahmens 10 das zweite Kipplager Bt2, über das der Druckkörper 11 in Bezug auf den Deckelrahmen 10 um die zweite Kippachse T2 kippbar im Deckelrahmen 10 gelagert ist.
  • 4 zeigt ein viertes Ausführungsbeispiel, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen der Ausführungsbeispiel der bisherigen Figuren entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zu den bisherigen Ausführungsbeispielen eingegangen.
  • 4 zeigt den Achsstift 17 in einer Aufsicht A und einer Seitenansicht S. Die Längsachse des Achsstifts 17 fluchtet im montierten Zustand mit der Klappachse F. Der Achsstift 17 ist hier zylinderförmig mit einer kreisförmigen Grundfläche ausgestaltet. An seinen Enden kann der Achsstift 17 beispielsweise Bohrungen zur Aufnahme von Splinten aufweisen, die eine Verschiebung des Achsstifts 17 in Richtung der Klappachse F im montierten Zustand des Achsstifts 17 verhindern oder begrenzen.
  • Die 5 bis 7 zeigen drei Ausführungsbeispiele der erfindungsgemäßen Verbindungsstifte 21, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen der Ausführungsbeispiel der bisherigen Figuren entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zu den bisherigen Ausführungsbeispielen eingegangen.
  • 5 zeigt einen Verbindungsstift 21 in einer Aufsicht A und einer Seitenansicht S. Wie aus der Seitenansicht ersichtlich, weist der Verbindungsstift 21 eine kreisförmige Grundfläche auf. In der Aufsicht ist gezeigt, dass der Verbindungsstift 21 zylinderförmig ausgestaltet ist. Dessen Längsachse fluchtet im montierten Zustand mit der zweiten Kippachse.
  • In der 6 weist der Verbindungsstift 21a zwei parallel zueinander und beabstandet voneinander verlaufende Zapfen auf, die starr miteinander verbunden sind. Wie in der Aufsicht der 6 gezeigt, fluchtet die Längsachse eines ersten, hier kürzer dargestellten Zapfens 24 im montierten Zustand mit der zweiten Kippachse T2. Ein den Zapfen 24 mit dem parallel zu ihm verlaufenden längeren Zapfen 25 starr verbindender Steg 26 verläuft hier senkrecht zu einer Längsachse R des zweiten Zapfens 25 und der zweiten Kippachse T2 des Zapfens 24. Im montierten Zustand ist der Verbindungsstift 21a rotierbar in einer der Aufnahmen 19, 20 des Deckelrahmens 10 aufgenommen und ist Teil einer Höhenverstelleinrichtung. Die Zapfen 24, 25 verlaufen in entgegengesetzten Richtungen und sind an jeweils einem ihrer Enden über den Verbindungssteg 26 miteinander verbunden. Wie aus der Seitenansicht der 6 erkennbar, weisen der erste und der zweite Zapfen 24, 25 kreisförmige Grundflächen auf.
  • Die 7 zeigt als zwei weitere Ausführungsbeispiele die Verbindungsstifte 21b, 21b', die ebenfalls einen ersten Zapfen 27 und einen zweiten Zapfen 28 umfassen. Im Vergleich zum ersten Zapfen 27 weist der zweite Zapfen 28 hier einen deutlich größeren Durchmesser auf. Beide Zapfen weisen hier, wie aus der Seitenansicht S ersichtlich, eine kreisförmige Grundfläche auf. Insbesondere die Grundfläche des zweiten Zapfens 28 kann jedoch auch anders und beispielsweise viereckig ausgeformt sein, solange die Grundfläche des zweiten Zapfens 28 in sich punktsymmetrisch ist.
  • Die Längsachse des ersten Zapfens 27 fluchtet im montierten Zustand des Verbindungsstiftes 21b, 21b' mit der zweiten Kippachse T2. Die Längsachse R des zweiten Zapfens 28 verläuft parallel und beabstandet von der Längsachse des ersten Zapfens 27. Im hier gezeigten Ausführungsbeispiel sind der erste und der zweite Zapfen an jeweils einer Stirnfläche miteinander verbunden und der erste Zapfen 27 ist exzentrisch angeordnet, so dass er in einem Randbereich des Zapfens 28 liegt. Insbesondere ist der erste Zapfen 27 im gezeigten Ausführungsbeispiel des Verbindungsstiftes 21b im oberen Bereich des zweiten Zapfens 28 angeordnet.
  • Im Unterschied zum Verbindungsstift 21b ist der Verbindungsstift 21b' um die Längsachse R um 180° verdreht, so dass der erste Zapfen 27 nun in einem unteren Bereich des zweiten Zapfens 28 dargestellt ist, wodurch das Prinzip der Höhenverstelleinrichtung dargestellt ist.
  • 8 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen der Ausführungsbeispiele der bisherigen Figuren entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zu den bisherigen Ausführungsbeispielen eingegangen.
  • Der Prüfhalter H ist hier mit dem Grundrahmen 1 und der Anpresseinrichtung 6 im montierten und aufgeklappten Zustand in einer Seitenansicht S gezeigt. Die Anpresseinrichtung 6 umfasst den Deckelrahmen 10 mit dem Auflager 9, wobei der Deckelrahmen über in den Aufnahmen 19, 20, 22, 23 vorgesehen Verbindungsstifte 21b' mit dem Druckkörper 11 drehbar verbunden ist. Die Anpresseinrichtung 6 ist in Bezug auf den Grundrahmen 1 um über mehr als 90° um die Klappachse F aufgeklappt gezeigt. Im geschlossenen Zustand liegt die Anpresseinrichtung 6 unter anderem auf dem Auflager 9 auf und ist um die erste Kippachse T1, die mit der Lagerachse des Auflagers 9 fluchtet, bis zu einem durch die Bohrungen 14, 16 begrenzten maximalen Kippwinkel um die erste Kippachse T1 verkippbar.
  • Die zweite Kippachse T2 ist hier nicht gezeigt, verläuft jedoch senkrecht zur ersten Kippachse T1 entlang der Längsachsen der Zapfen 27 der Verbindungsstifte 21b. Der Druckkörper 11 ist um die zweite Kippachse T2 verkippbar.
  • 9 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen der Ausführungsbeispiele der bisherigen Figuren entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zu den bisherigen Ausführungsbeispielen eingegangen.
  • Hier ist der montierte Prüfhalter H im zugeklappten Zustand in der Aufsicht A gezeigt. Der Grundrahmen 1 ist über den Achsstift 17 mit dem Deckelrahmen 10 der Anpresseinrichtung 6 verbunden gezeigt. Die Längsachse des Achsstifts 17 sowie die Längsachsen der Aufnahme beziehungsweise Bohrungen 4, 14, 15, 16, 5 fluchten mit der Klappachse F, um die die Anpressvorrichtung 6 aus der Bildebene heraus aufklappbar ist. Wie hier gut erkennbar, weisen die Bohrungen 14, 16 des Deckelrahmens 10 einen größeren Durchmesser auf als der durch sie geführte Achsstift 17. Die Aufnahmen 4, 5 des Grundrahmens 1 sind hingegen als Passungen für den Achsstift 17 ausgeformt, die den Achsstift 17 im Wesentlichen spielfrei rotierbar führen. Die mittlere Aufnahme 15 des Deckelrahmens 10 weist in ihrem Verlauf eine Verjüngung auf, die zumindest in einer senkrecht zum Achsstift verlaufenden Richtung einen Durchmesser aufweist, der in etwa dem Durchmesser des Achsstifts 17 entspricht. Der Mittelpunkt dieses Durchmessers liegt auf der ersten Kippachse T1.
  • Die Innenwände der Aufnahmen 4, 15, 5 können mit einem Festschmiermittel beschichtet sein oder es können beispielsweise auch in den Aufnahmen 4, 15, 5 Rollenkugellager vorgesehen sein, die ein leichtes Verdrehen des Achsstifts 17 bzw. ein leichtes Auf- und Zuklappen der Anpresseinrichtung 6 ermöglichen.
  • Der Deckelrahmen 10 ist also um die senkrecht zum Achsstift 17 verlaufende erste Kippachse T1 kippbar mit dem Achsstift 17 verbunden. Die Kippweite des Deckelrahmens 10 wird durch die Bohrungen 14, 16 beschränkt.
  • Das Auflager 9 ist im montierten und zugeklappten Zustand der Anpresseinrichtung 6 auf einer weg vom Grundrahmen 1 weisenden Seite des Deckelrahmens 10 angeordnet und weist vom Grundrahmen 1 beziehungsweise vom Deckelrahmen 10 weg.
  • Der Druckkörper 11 ist in der durchgehenden Aufnahme beziehungsweise Öffnung 12 des Deckelrahmens 10 eingesetzt gezeigt. Über zwei Verbindungsstifte 21, die durch die Stiftaufnahmen 19, 20 des Deckelrahmens 10 in die Bohrungen 22, 23 des Druckkörpers 11 eingesetzt sind, ist der Druckkörper 11 mit dem Deckelrahmen 10 um die senkrecht zur ersten Kippachse T1 verlaufende zweite Kippachse T2 kippbar verbunden.
  • 10 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen der Ausführungsbeispiele der bisherigen Figuren entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zu den bisherigen Ausführungsbeispielen eingegangen.
  • Die Verbindungsstifte 21b weisen hier senkrecht zu einer durch ihre Längsachsen aufgespannten Ebene E verlaufende Bohrungen 29 auf. Die Ebene E verläuft senkrecht zur Zeichenebene entlang der zweiten Kippachse T2. In die Bohrungen 29 zweier Verbindungsstifte 21b ist jeweils einer von zwei in eine Richtung K weisende Stege 30 einer im Wesentlichen U-förmigen Federklammer 31 eingesetzt.
  • Sowohl die Bohrungen 29 als auch die Stege 30 weisen hier einen kreisförmigen Querschnitt auf. Die Querschnitte der Bohrungen 29 und der Stege 30 können jedoch auch anders ausgeformt sein und insbesondere zueinander komplementär und jeweils in sich punktsymmetrisch ausgestaltet sein. Somit kann ein Verbindungsstift 21b in wenigstens zwei verschiedenen Positionen auf die Stege 30 aufgesetzt werden, wenn die Zapfen 27 entlang der zweiten Kippachse T2 aufeinander zu gerichtet sind.
  • Auf der Federklammer 31 montiert, lassen sich die Verbindungsstifte 21b leicht montieren und auch wieder demontieren.
  • 11 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, wobei für Elemente, die in Funktion und Aufbau den Elementen der Ausführungsbeispiele der bisherigen Figuren entsprechen, dieselben Bezugszeichen verwendet werden. Der Kürze halber wird lediglich auf die Unterschiede zu den bisherigen Ausführungsbeispielen eingegangen.
  • Der Prüfhalter H ist hier in einer Aufsicht A im zugeklappten Zustand gezeigt. Der Deckelrahmen 10 liegt auf dem Grundrahmen 1 auf und wird von einem Verschlussmechanismus V in Richtung des Grundrahmens gedrückt und so in der zugeklappten Position gehalten.
  • Der Verschlussmechanismus V weist zwei Halteösen 32, 33 auf, die an einer der Klappachse gegenüberliegenden Seite in den äußeren und sich gegenüberliegenden Bereichen der Seite mit dem Grundrahmen einstückig ausgeformt sind. Die Halteösen 32, 33 weisen parallel zur Klappachse F verlaufende Öffnungen auf, durch die ein Verschlusshebel drehbar aufgenommen ist. Zwischen den Halteösen 32, 33 weist der Verschlusshebel 35 eine symmetrisch zur ersten Kippachse T1 ausgestaltete Ausbuchtung 36 auf, die über den Deckelrahmen 10 diesen in Richtung des Grundrahmens 1 drückend angeordnet ist. Im rechten Winkel zu den zwischen den Halteösen 32, 33 geführten Teil des Verschlusshebels 35 verläuft ein Betätigungshebel 35' seitlich des Grundrahmens 1 im Wesentlichen parallel zur ersten Kippachse T1 auf den Achsstift 17 gerichtet. Oberhalb der zweiten Kippachse T2 ist seitlich am Grundrahmen 1 eine als Klemmnase 37 ausgestaltete Einhakvorrichtung angeordnet, unter der der Verschlusshebel 35' elastisch federnd gehalten ist. Wird nun der Verschlusshebel 35' vom Grundrahmen 1 weg von der Klemmnase 37 gelöst und aus der Zeichenebene heraus um die Aufnahmen der Halteösen 33, 33 nach oben geklappt, folgt die Ausbuchtung 36 dieser Bewegung und drückt folglich den Deckelrahmen 10 nicht mehr in Richtung des Grundrahmens 1.
  • Die vom Verschlusshebel 35 aufgebrachte und den Deckelrahmen 10 in Richtung des Grundrahmens 1 drückende elastische Anpresskraft kann an die Erfordernisse des jeweils zu testenden Mikrochips anpassbar sein. Beispielsweise kann durch eine Änderung der Position der Klemmnase 37, der Größe und/oder der Ausrichtung der Ausbuchtung 36 zum Betätigungselement 35' oder eine Einstellung des zweiten Kipplagers eine Anpassung der Anpresskraft hervorgerufen werden. Die Ausbuchtung 36 des Verschlusshebels 35 drückt auf eine die Lagerachse des Auflagers 9 bestimmende und parallel zur ersten Kippachse T1 verlaufende Kante 38 des Auflagers 9. Das Auflager 9 ist hier als ein Zylinder mit einer dreieckigen Grundfläche ausgestaltet, dessen Längsachse parallel zur ersten Kippachse Z1 verläuft, wobei eine Seite des die Grundfläche bildenden Dreiecks plan auf der vom Grundrahmen 1 weg weisenden Seite des Deckelrahmens 10 aufliegt. Das Auflager 9 kann auch anders und beispielsweise pyramidenförmig ausgestaltet sein, dessen Spitze vom Deckelrahmen 10 weg weist, wobei die Spitze in der dargestellen Aufsicht auf der ersten Kippachse T1 liegt.
  • Durch diese andrückende Verbindung der Ausbuchtung 36 mit dem Auflager 9 ist der Deckelrahmen 10 in Richtung auf dem Grundrahmen 1 gedrückt, wobei der Deckelrahmen 10 um die erste Kippachse T1 kippbar bleibt. Die Anpresseinrichtung 6 ist so gegen ein ungewolltes Öffnen verschlossen.

Claims (14)

  1. Prüfhalter (H) für zumindest einen Mikrochip, mit einem Grundrahmen (1), der wenigstens eine zentrale Öffnung (2) aufweist, die mindestens eine Aufnahme für den Mikrochip umschließt, und mit einer Anpresseinrichtung (6), die über ein Klapplager (Bf) um eine Klappachse (F) in Richtung weg von der zentralen Öffnung (2) auf- und in Richtung zur zentralen Öffnung (2) zuklappbar mit dem Grundrahmen (1) verbunden ist, wobei die Anpresseinrichtung (6) über ein erstes Kipplager (Bt1), das eine senkrecht zur Klappachse (F) verlaufende erste Kippachse (T1) aufweist, kippbar mit dem Grundrahmen (1) verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Klapplager (Bf) und das erste Kipplager (Bt1) gemeinsam einen im Grundrahmen (1) aufgenommenen Achsstift (17) umfassen, der entlang der Klappachse (F) ausgerichtet ist.
  2. Prüfhalter (H) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Anpresseinrichtung (6) zumindest einen bei zugeklappter Anpresseinrichtung (6) über der Aufnahme für den Mikrochip angeordneten Druckkörper (11) umfasst, der über ein zweites Kipplager (Bt2) in der Anpresseinrichtung (6) um eine zweite Kippachse (T2) kippbar gelagert ist.
  3. Prüfhalter (H) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Kipplager (Bt2) zwei Verbindungsstifte (21) umfasst, über die der Druckkörper (11) kippbar mit einem Deckelrahmen (10) der Anpresseinrichtung (6) verbunden ist.
  4. Prüfhalter (H) nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsstifte (21) voneinander beabstandet und miteinander fluchtend in der Anpresseinrichtung (6) gelagert sind und jeweils durch eine Stiftaufnahme (19, 20) des Deckelrahmens (10) bis in zwei im Druckkörper (11) vorgesehene und im montierten Zustand des Druckkörpers (11) entlang der zweiten Kippachse (T2) verlaufende Bohrungen (22, 23) geführt sind.
  5. Prüfhalter (H) nach einem der Ansprüche 3 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Druckkörper (11) wechselbar im Deckelrahmen (10) aufgenommen ist.
  6. Prüfhalter (H) nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die erste und die zweite Kippachse (T1, T2) im geschlossenen Zustand der Anpress einrichtung (6) einander über dem Mittelpunkt der Aufnahme für den Mikrochip kreuzen.
  7. Prüfhalter (H) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Anpresseinrichtung (6) wenigstens zwei einseitig oder beidseitig des ersten Kipplagers (15) angeordnete, zum Achsstift (17) gerichtete Anschläge (14, 16) für den Achsstift (17) aufweist, durch die ein Kippwinkel des ersten Kipplagers (Bt1) beschränkt ist.
  8. Prüfhalter (H) nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass ein Verschlussmechanismus (V) vorgesehen ist, der in einem verschlossenen Zustand der Anpresseinrichtung (6) den Deckelrahmen (10) in Richtung des Grundrahmens (1) drückt, wobei der durch den Verschlussmechanismus (V) ausgeübte Druck symmetrisch um die erste Kippachse (T1) verteilt ist.
  9. Prüfhalter (H) nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Kipplager (Bt1) ein weiteres Lager umfasst, durch das die Lage der ersten Kippachse (T1) im zugeklappten und durch den Verschlussmechanismus (V) verschlossenen Zustand der Anpresseinrichtung (6) bestimmt ist.
  10. Prüfhalter (H) nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das weitere Lager als ein an einer der Klappachse (F) gegenüberliegenden und vom Grundrahmen (1) weg weisenden Seite des Deckelrahmens (10) angeordnetes Auflager (9) ausgestaltet ist, über das der Deckelrahmen (10) im zugeklappten Zustand der Anpresseinrichtung (6) um die erste Kippachse (T1) kippbar in Richtung des Grundrahmens (1) gedrückt ist.
  11. Prüfhalter (H) nach einem der Ansprüche 2 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass eine Höhenverstelleinrichtung vorgesehen ist, mit der ein Abstand des Druckkörpers (11) zum gegenüberliegenden Ende (O) der zentralen Öffnung (2) änderbar ist.
  12. Prüfhalter (H) nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Höhenverstelleinrichtung zwei Verbindungsstifte (21a, 21b) mit jeweils einem ersten (24) und einem zweiten (25) Zapfen umfasst, wobei die Zapfen (24, 25) exzentrisch zueinander angeordnet sind und zueinander parallel verlaufen.
  13. Prüfhalter (H) nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Zapfen (24) im montierten Zustand in einer der Bohrungen (22, 23) des Druckkörpers (11) und der zweite Zapfen (25) in einer der Stiftaufnahmen (19, 20) des Deckelrahmens (10) angeordnet ist.
  14. Prüfhalter (H) nach einem der Ansprüche 4 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass eine U-förmige Federklammer (31) mit zwei in eine Richtung weisenden Stegen (30) vorgesehen ist, die jeweils mit einer Halterung für die Verbindungsstifte (21, 21a, 21b) ausgestaltet sind und mit der Federklammer (31) die Lage der Verbindungsstifte (21, 21a, 21b) in der Anpresseinrichtung (5) fixierbar ist.
DE102008023640A 2008-05-15 2008-05-15 Prüfhalter für Mikrochip Expired - Fee Related DE102008023640B4 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008023640A DE102008023640B4 (de) 2008-05-15 2008-05-15 Prüfhalter für Mikrochip
US12/465,683 US7862362B2 (en) 2008-05-15 2009-05-14 Test holder for microchip
EP09006534.3A EP2120054A3 (de) 2008-05-15 2009-05-14 Testhalterung für Mikrochip
KR1020090042550A KR20090119736A (ko) 2008-05-15 2009-05-15 마이크로칩을 위한 테스트 홀더
CNA2009101456133A CN101581732A (zh) 2008-05-15 2009-05-15 微型芯片测试支架
TW098116322A TW201003094A (en) 2008-05-15 2009-05-15 Test holder for microchip

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008023640A DE102008023640B4 (de) 2008-05-15 2008-05-15 Prüfhalter für Mikrochip

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102008023640A1 DE102008023640A1 (de) 2009-11-26
DE102008023640B4 true DE102008023640B4 (de) 2010-04-15

Family

ID=41087385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102008023640A Expired - Fee Related DE102008023640B4 (de) 2008-05-15 2008-05-15 Prüfhalter für Mikrochip

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7862362B2 (de)
EP (1) EP2120054A3 (de)
KR (1) KR20090119736A (de)
CN (1) CN101581732A (de)
DE (1) DE102008023640B4 (de)
TW (1) TW201003094A (de)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103134955A (zh) * 2011-11-24 2013-06-05 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 扩充卡测试夹具
EP2866036B1 (de) * 2013-10-28 2016-08-10 Multitest elektronische Systeme GmbH Schraubenloser Kontaktfederaustausch
JP2016537074A (ja) * 2013-11-17 2016-12-01 キッチン,ウィリアム ジェー. タワー型乗り物用の軌道及び駆動部
CN107807232B (zh) * 2016-09-09 2020-05-26 京元电子股份有限公司 生物芯片的测试模块及其测试设备
JP6920460B2 (ja) * 2017-03-27 2021-08-18 シュンク・コーレンストッフテヒニーク・ゲーエムベーハー アトマイズ炉用の管状炉装置
JP7063613B2 (ja) * 2017-12-27 2022-05-09 株式会社エンプラス 開閉体の開閉機構
CN108591968B (zh) * 2018-04-09 2021-05-11 澳洋集团有限公司 一种用于led芯片的角度可调式安装基板
KR102566041B1 (ko) * 2019-11-05 2023-08-16 주식회사 프로웰 반도체 소자 테스트 장치
US11095055B2 (en) * 2019-12-20 2021-08-17 Raytheon Company Terminal block and terminal block assembly for medium to high voltage applications

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5205742A (en) * 1991-08-22 1993-04-27 Augat Inc. High density grid array test socket

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6317550A (ja) * 1986-07-10 1988-01-25 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Ic載接形ソケツト
US5990695A (en) * 1998-01-16 1999-11-23 Packard Hughes Interconnect Co. Membrane test probe
JP3950795B2 (ja) * 2002-10-31 2007-08-01 タイコエレクトロニクスアンプ株式会社 Lgaパッケージ用ソケット
TWM272263U (en) * 2004-11-12 2005-08-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
TWM275553U (en) * 2004-11-26 2005-09-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
CN2752992Y (zh) * 2004-11-27 2006-01-18 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器
TWM273841U (en) * 2004-12-03 2005-08-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Land grid array electrical connector
CN2760802Y (zh) * 2004-12-15 2006-02-22 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器
TWM275571U (en) * 2004-12-24 2005-09-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Socket connector
TWM275557U (en) * 2004-12-31 2005-09-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5205742A (en) * 1991-08-22 1993-04-27 Augat Inc. High density grid array test socket

Also Published As

Publication number Publication date
US7862362B2 (en) 2011-01-04
TW201003094A (en) 2010-01-16
EP2120054A3 (de) 2014-04-16
CN101581732A (zh) 2009-11-18
DE102008023640A1 (de) 2009-11-26
US20090311913A1 (en) 2009-12-17
KR20090119736A (ko) 2009-11-19
EP2120054A2 (de) 2009-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102008023640B4 (de) Prüfhalter für Mikrochip
DE2913186C2 (de) Kippbares Rollenlager
EP2486908B1 (de) Operationstischsäule
DE2804988C2 (de) Gelenkanordnung einer Beleuchtungsarmatur
DE102014007608B4 (de) Schwenk- oder Schwenk- und Teleskoplenkvorrichtung für ein Fahrzeug
DE4338656A1 (de) Vorrichtung zum Ausrichten von Leiterplatten und Bildträgern
DE2736393A1 (de) Einstellbares zapfenlager fuer schwenkfenster
DE3322635A1 (de) Feinsteuersystem fuer eine glaselektrode oder dergleichen
EP1582903A1 (de) Vorrichtung zum Befestigen eines Mikroskophalters
DE102008041029A1 (de) Lasergerät
AT413026B (de) Zwangslenkungsmodul
AT505840B1 (de) Vorrichtung zum anschluss eines bandes an einen weiteren teil
EP0331163A1 (de) Kontaktiervorrichtung für Prüfvorrichtungen zum Prüfen von Leiterplatten oder dgl.
DE102007038656A1 (de) Niederzugspannvorrichtung zum Bohrungsspannen von Gegenständen
DE4215694A1 (de) Vorrichtung zum Ein- und Ausschalten elektrischer Verbraucher, insbesondere für Anzeigeinstrumente im Armaturenbrett von Kraftfahrzeugen
DE102010000170A1 (de) Vorrichtung zum Lösen einer Punktschweißspitze
DE2849794C2 (de) Tonarm für einen Plattenspieler
DE10115565A1 (de) Vorrichtung zum Aufhängen von Schienen eines Schienensystems für einen Hängekran
DE202020101214U1 (de) Tisch mit einer Tischplatte und einem Tischplattenergänzungsteil
DE1809460C3 (de) Türfeststeller, insbesondere für Kraftwagentüren
DE3524255C2 (de)
DE202013003910U1 (de) Vorrichtung zur Abstützung eines Federdämpferbeines
CH676510A5 (en) Contact arrangement for electrical or electronic tester
DE102021117176B3 (de) Baumständer und Verfahren dazu
DE202004013401U1 (de) Montageplatte zur verstellbaren Halterung von Möbelscharnieren am Korpus von Möbelstücken

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20141202