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Hintergrund
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JTAG ist ein weit verbreitetes Test- und Bauteilprogrammiermodell. JTAG ist ein Kurzwort, welches für die „Joint Test Action Group” steht, welche ein für die Entwicklung des IEEE-Standards 1149.1 verantwortliches technisches Unterkomitee war. Der JTAG-Standard legt eine Methodik dar zur Durchführung von Tests an komplexen integrierten Schaltungen und Schaltungsplatinen. JTAG bietet eine Strategie, die Integrität von einzelnen Komponenten und den Verbindungen zwischen ihnen nach der Installation auf einer Leiterplatte sicherzustellen. Allgemein wurde der JTAG-Standard in großem Umfang angenommen.
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Gemäß dem JTAG-Standard hat die Architektur einer integrierten Schaltung für ein JTAG-kompatibles Bauteil einen Testzugriffsanschluss (TAP-Anschluss, TAP: „Test Access Port”), welcher die Verwendung von wenigstens vier Pins erfordert. Insbesondere empfängt ein Testtaktpin (TCK-Pin, TCK: „Test Clock”) ein Testtaktsignal für das zu prüfende Bauteil. Ein Testmodusauswahl-Pin (TMS-Pin, TMS: „Test Mode Select”) nimmt Befehle auf, um bestimmte Testmodi auszuwählen. Ein Testdateneingang-Pin (TDI-Pin, TDI: „Test Data In”) nimmt Daten in das zu testende Bauteil auf. Ein Testdatenausgang-Pin (TDO-Pin, TDO: „Test Data Output”) sendet Daten aus dem zu testenden Bauteil aus. Ein optionaler fünfter Pin, bezeichnet als Testrücksetzung-Pin (TRST-Pin, TRST: „Test Reset”), ermöglicht die Rücksetzung einer Initialisierung einer JTAG-Steuerung (TAP-Steuerung), ohne die übrige Bauteil- oder Systemlogik zu beeinträchtigen. Daher erfordert ein JTAG-kompatibles Bauteil wenigstens vier zweckbestimmte Pins, oder fünf zweckbestimmte Pins, wenn ein TRST-Pin verwendet wird.
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Integrierte Schaltungen enthalten mehr und mehr Funktionalitäten. Diese Zunahme an Funktionalität erhöht häufig die Anzahl von Pins, welche bei einer gegebenen integrierten Schaltung implementiert sind. Jeder bei einer integrierten Schaltung verwendete Pin erhöht die Herstellungskosten, welche mit der Herstellung der integrierten Schaltung verbunden sind. Folglich ist eine Reduzierung der Anzahl von Pins, welche mit integrierten Schaltungen verbunden sind, häufig wünschenswert, wenn die Funktionalität nicht beeinträchtigt wird. Es besteht folglich ein Bedarf für Verbesserungen an JTAG-kompatiblen Vorrichtungen und Bauteilen, und eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, diesem Bedarf gerecht zu werden.
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In der
DE 601 10 514 T2 wird eine JTAG-Testanordnung beschrieben, bei welcher ein asynchroner Übertragungsweg zur Übertragung von JTAG-Signalen verwendet wird. Insbesondere werden TMS-Signale und TDI-Signale über den asynchronen Übertragungsweg an einen Prüfling übertragen, und TDO-Signale werden über den asynchronen Übertragungsweg von dem Prüfling an eine Testeinrichtung übertragen.
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In Tietze, U., Schenk, Ch.: „Halbleiter-Schaltungstechnik”, Achte, überarbeitete Auflage, S. 222–224 wird ein 1-aus-4-Demultiplexer beschrieben, welcher den Wert einer Eingangsvariablen an einem ausgewählten Ausgang ausgibt.
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In der
DE 10 2004 043 063 A1 wird ein Halbleiter-Bauelement mit einer JTAG-kompatiblen Testschnittstelle beschrieben. Pins der Testschnittstelle werden in einem Testbetriebsmodus zur Übertragung von Testsignalen gemäß dem JTAG-Standard verwendet. In einem Normalbetriebsmodus können einige dieser Pins als Applikations-Funktions-Pins betrieben werden.
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Zusammenfassung der Erfindung
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Die vorliegende Erfindung bietet eine Vorrichtung gemäß Anspruch 1, eine Vorrichtung gemäß Anspruch 4 und ein Verfahren gemäß Anspruch 9. Die abhängigen Ansprüche definieren bevorzugte und vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung.
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Eine Vorrichtung in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung nutzt einen Pin einer integrierten Schaltung, welcher sowohl die TMS- als auch die TDI-Signale aufnimmt. Daher beseitigt die erfindungsgemäße Vorrichtung das Erfordernis von vier Pins, welches in dem IEEE-JTAG-Standard vorgeschrieben ist. Insbesondere beinhaltet eine erfindungsgemäße Vorrichtung einen TMS/TDI-Eingang, einen TCK-Eingang und einen TDO-Eingang. Optional beinhaltet die Vorrichtung auch einen TRST-Eingang. Jeder dieser Eingänge kann durch Pins an einer integrierten Schaltung, Leiterplatte oder anderen ähnlichen Einrichtung gebildet sein. Erfindungsgemäß werden an dem TMS/TDI-Eingang empfangene Daten als TDI-Daten an eine JTAG-kompatible Vorrichtung ausgegeben, wenn Zustandsmaschinendaten einer TAP-Steuerung der JTAG-kompatiblen Vorrichtung einen Shift-DR-Zustand oder einen Shift-IR-Zustand anzeigen.
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Kurzbeschreibung der Zeichnungen
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Es folgt eine detaillierte Beschreibung unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen. In den Figuren ist durch die ganz linke Ziffer bzw. durch die ganz linken Ziffern einer Bezugszahl die Figur gekennzeichnet, in welcher die Bezugszahl zuerst erscheint. Die Verwendung derselben Bezugszahlen in verschiedenen Figuren bezeichnet ähnliche oder identische Elemente.
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1 ist ein Diagramm, welches ein herkömmliches JTAG-kompatibles Bauteil veranschaulicht.
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2 veranschaulicht ein Zustandsübergangsdiagramm für die Zustandsmaschine einer herkömmlichen JTAG-Steuerung.
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3 veranschaulicht ein verbessertes JTAG-kompatibles Bauteil in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der Erfindung.
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4 veranschaulicht eine beispielhafte Steuervorrichtung, welche verwendet werden kann zur Reduzierung der Anzahl von Pins, welche notwendig sind, um ein JTAG-kompatibles Bauteil herzustellen.
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5 veranschaulicht ein Flussdiagramm, welches mehrere zu einem Steuerprozess und/oder Mechanismus gehörende Vorgänge enthält, der zur Ermöglichung eines verbesserten JTAG-kompatiblen Bauteils verwendet werden kann.
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Detaillierte Beschreibung
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Im Folgenden erfolgt eine kurze Diskussion eines herkömmlichen JTAG-kompatiblen Bauteils. Danach erfolgt eine kurze Diskussion der Zustandsmaschine einer herkömmlichen JTAG-Steuerung. Anschließend wird eine detaillierte Beschreibung eines verbesserten JTAG-kompatiblen Bauteils gegeben. Sowohl auf das System als auch auf das Verfahren bezogene Details, welche mit dem verbesserten JTAG-kompatiblen Bauteil verbunden sind, werden hierin angegeben.
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Herkömmliche JTAG-Anordnung
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1 veranschaulicht ein herkömmliches JTAG-kompatibles Bauteil 100. Das JTAG-kompatible Bauteil 100 beinhaltet eine TAP-Steuerung 102. Die TAP-Steuerung 102 dient dazu, Takt- und Steuersignale zu erzeugen, welche für ein Instruktionsregister 104, ein Umleitungsregister 106 und ein Boundary-Scan-Register 108 erforderlich sind. Zwei Ereignisse können eine Änderung des Zustands der TAP-Steuerung 102 auslösen. Das erste Ereignis ist eine ansteigende Flanke eines empfangenen Testtaktes. Das zweite Ereignis ist ein Einschalten des Systems. Die von der TAP-Steuerung 102 gelieferten Steuersignale gewährleisten eine korrekte Eingangs- und Ausgangskopplung für die Register 104, 106 oder 108 unter Verwendung von Multiplexern 110 und 112.
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Das herkömmliche JTAG-kompatible Bauteil 100 beinhaltet einen TMS-Pin 114, welcher mit der TAP-Steuerung 102 gekoppelt ist. Logiksignale (Nullen und Einsen), welche an dem TMS-Pin 114 empfangen werden, werden von der TAP-Steuerung 102 interpretiert, um die Testvorgänge zu steuern. Die TMS-Signale werden an der ansteigenden Flanke von an einen TCK-Pin 116 empfangenen TCK-Pulsen abgetastet. Die an dem TMS-Pin 114 empfangenen Signale werden von der TAP-Steuerung 102 decodiert, um innerhalb des herkömmlichen JTAG-Bauteils 100 die erforderlichen Steuersignale zu erzeugen. Wenn er nicht angesteuert wird, wird der TMS-Pin 114 auf einem hohen Signalpegel gehalten. Ein TDI-Pin 118 ist abhängig von dem Zustand der TAP-Steuerung 102 mit einem der Register 104, 106 oder 108 gekoppelt. Dem TDI-Pin 108 zugeführte serielle Eingangsdaten können einem Register (104, 106, 108) zugeführt werden, welches von der TAP-Steuerung 102 ausgewählt wird. Daten werden bei einer ansteigenden Flanke der TCK-Pulse über den TDI-Pin 118 hereingeschoben. Wenn er nicht angesteuert wird, wird der TDI-Pin 118 auf einem hohen Signalpegel gehalten.
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Ein TDO-Pin 120 dient abhängig von dem Zustand der TAP-Steuerung 102 als ein Ausgang für eines der Register 104, 106 oder 108. Daten werden bei einer abfallenden Flanke der TCK-Pulse über den TDO-Pin 120 herausgeschoben. Der TDO-Pin 120 kann zu allen anderen Zeiten in einem Tristate-Zustand bleiben.
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2 veranschaulicht eine Zustandsmachine 200 mit 16 Zuständen, welche durch die TAP-Steuerung 102 implementiert ist. Die Zustandsmachine 200 zeigt die verschiedenen Betriebszustände des JTAG-kompatiblen Bauteils 100. Die in 2 dargestellten Betriebszustände sind in dem JTAG-Standard spezifiziert.
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Eine Funktion der Zustandsmachine 200 ist zu steuern, wie Daten in das Instruktionsregister 104 und die Datenregister (d. h. das Umleitungsregister 106 oder das Boundary-Scan-Register 108) eingelesen werden. Der Zustand des TMS-Signals bei der ansteigenden Flanke der TCK-Pulse bestimmt die Abfolge von Übergängen. Die in 2 dargestellten Nullen und Einsen bezeichnen die Übergänge der Zustandsmachine 200 abhängig davon, ob das TMS-Signal auf einem logisch hohen Pegel oder einem logisch niedrigen Pegel ist.
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Die Zustandsmachine wird initialisiert, indem in einen Testlogik-Rücksetzung-Zustand (Test-Logic Reset) 202 eingetreten wird. Danach wird bei Übergang auf einen niedrigen Logikpegel des TMS-Signals in einen Testausführung-/Leerlaufzustand (Run-Test/Idle) 204 eingetreten. Wie in 2 dargestellt, existieren zwei Hauptzustandsabfolgen. Die erste dient dem Verschieben von Daten in eines der Datenregister, und die zweite dient dem Verschieben einer Instruktion in das Instruktionsregister 104.
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Nachdem die Zustandsmaschine 200 in dem Testausführung-/Leerlaufzustand 204 ist, wird ein Select-DR-Scan-Zustand 206 initialisiert, indem für nur einen Taktzyklus ein hoher Logikpegel des TMS-Signals gesetzt wird. Ein Select-IR-Scan-Zustand 208 wird initialisiert, indem für zwei Taktzyklen ein hoher Logikpegel des TMS-Signals gesetzt wird.
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Wenn der Select-DR-Scan-Zustand 206 veranlasst ist, kann die Zustandsmaschine 200 in einen Capture-DR-Zustand 210, einen Shift-DR-Zustand 212, einen Exit1-DR-Zustand 214, einen Pause-DR-Zustand 216, einen Exit2-DR-Zustand 218 und einen Update-DR-Zustand 220 eintreten, indem die in 2 gezeigten geeigneten Logikpegel des TMS-Signals gesetzt werden.
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Auf eine Beschreibung von allen verschiedenen Zuständen der endlichen Zustandsmaschine 200 wird verzichtet. Es werden nur diejenigen Zustände beschrieben, bei welchen die TDI- und TDO-Pins miteinander gekoppelt sind.
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In dem Shift-IR-Zustand ist das Instruktionsregister 104 zwischen den TDI-Pin 118 und den TDO-Pin 120 geschaltet. Verschiebungen (Shifts) treten bei jeder ansteigenden Flanke der TCK-Pulse in Richtung eines Ausgangs des Instruktionsregisters 104 auf. Die ansteigende Flanke der TCK-Pulse verschiebt auch neue Instruktionsbits in das Instruktionsregister 104.
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In dem Shift-DR-Zustand ist ein Datenregister (z. B. das Umleitungsregister 106 oder das Boundary-Scan-Register 108) zwischen den TDI-Pin 118 und den TDO-Pin 120 geschaltet. Als ein Ergebnis einer gegenwärtigen Instruktion werden bei jeder ansteigenden Flanke der TCK-Pulse Daten in Richtung eines Ausgangs des Datenregisters verschoben. Zur gleichen Zeit werden mittels des TDI-Pins 118 Daten in das Datenregister verschoben.
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Der Pause-IR-Zustand ermöglicht, die Verschiebung des Instruktionsregisters 104 vorübergehend anzuhalten. Dieser Zustand wird beibehalten, während das TMS-Signal auf einem niedrigen Pegel ist.
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Der Pause-DR-Zustand ermöglicht, die Verschiebung eines Datenregisters (z. B. das Umleitungsregister 106 oder das Boundary-Scan-Register 108) vorübergehend anzuhalten. Dieser Zustand wird beibehalten, während das TMS-Signal auf einem niedrigen Pegel ist.
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Zusätzliche sich auf den JTAG-Standard beziehende Details können den mit dem IEEE 1149.1-Standard verbundenen Dokumenten entnommen werden.
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Ausführungsbeispiele
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3 veranschaulicht ein verbessertes JTAG-kompatibles Bauteil 300 in Übereinstimmung mit einem hierin beschriebenen Ausführungsbeispiel. Bei der in 3 dargestellten beispielhaften Implementierung ist das JTAG-kompatible Bauteil 300 eine integrierte Schaltung bzw. ein IC-Bauteil (IC: Integrated Circuit). Das JTAG-kompatible Bauteil 300 kann auch eine Leiterplatte, eine Endnutzereinrichtung wie z. B. ein Computer, ein drahtloses Telefon oder eine andere ähnliche Einrichtung sein.
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Das IC-Bauteil 300 kann ein JTAG-kompatibles Bauteil 302 enthalten, welches ähnlich zu dem in 1 dargestellten JTAG-kompatiblen Bauteil 100 ist. Eine Steuervorrichtung 304 kann in dem IC-Bauteil 300 enthalten sein. Die Steuervorrichtung 304 kann mit dem JTAG-kompatiblen Bauteil 302 gekoppelt sein und ist in der Lage, TMS- und TDI-Signale über Signalleitungen 306 bzw. 308 an das JTAG-kompatible Bauteil 302 zu senden. Die Steuervorrichtung 304 kann über eine Signalleitung 310 Zustandsmaschinendaten von dem JTAG-kompatiblen Bauteil 302 empfangen. Die Zustandsmaschinendaten können von einer TAP-Steuerung des JTAG-kompatiblen Bauteils 302 erzeugt werden. Eine solche TAP-Steuerung ist in 1 dargestellt (siehe die TAP-Steuerung 102).
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Das IC-Bauteil 300 beinhaltet wenigstens drei zweckbestimmte Pins (312, 314 und 316), welche zur Verarbeitung von JTAG-bezogenen Signalen verwendbar sind. Der TMS/TDI-Pin 312 kann verwendet werden, um TMS- oder TDI-Signale zu empfangen. An dem TMS/TDI-Pin 312 empfangene Signale können über eine Signalleitung 318 an die Steuervorrichtung 304 gesendet werden. Der TCK-Pin 314 kann verwendet werden, um TCK-Pulse zu empfangen. Die an dem TCK-Pin 314 empfangenen TCK-Pulse können über eine Signalleitung 320 an das JTAG-kompatible Bauteil 302 übermittelt werden. Der TDO-Pin 316 ist über eine Signalleitung 322 mit einem TDO-Ausgang des JTAG-kompatiblen Bauteils 302 gekoppelt.
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Anders als herkömmliche JTAG-kompatible Bauteile ist das IC-Bauteil 300 in der Lage, in Übereinstimmung mit dem JTAG-Standard zu arbeiten, obwohl die normalerweise getrennten TMS- und TDI-Pins unter Verwendung des TMS/TDI-Pins 312 kombiniert sind. Wie es nachfolgend näher beschrieben wird, ermöglicht die Steuervorrichtung 304 die Verwendung des kombinierten TMS/TDI-Pins 312. Weil TMS- und TDI-Signale nicht gleichzeitig übermittelt werden, kann der TMS/TDI-Pin 312 sowohl die TMS- als auch die TDI-Signale empfangen. Die Steuervorrichtung 304 ist dafür verantwortlich, zu bestimmen, welcher Signaltyp (TMS oder TDI) über die Signalleitung 318 übermittelt wird. Die Steuervorrichtung 304 verwendet wenigstens teilweise die auf der Signalleitung 310 übertragenen Zustandsmaschinendaten zur Bestimmung, ob an dem TMS/TDI-Pin 312 ein TMS-Signal oder ein TDI-Signal empfangen wurde.
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Als Vorgabe hat die Steuervorrichtung 304 die TMS-Signalleitung 306 aktiviert. Die Steuervorrichtung 304 kann diesen Zustand beibehalten, bis auf der Signalleitung 310 Zustandsmaschinendaten empfangen werden, welche einen von fünf Schleifenzuständen anzeigen. Diese so genannten Schleifenzustände treten auf, wenn das TMS-Signal auf einem niedrigen logischen Pegel ist und wenn dieser niedrige logische Pegel bewirkt, dass ein gegenwärtiger Zustand unverändert bleibt.
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Auf 2 Bezug nehmend beinhalten die so genannten Schleifenzustände den Shift-DR-Zustand 212 und den Shift-IR-Zustand 224. Wenn die Steuervorrichtung 304 anhand der Zustandsmaschinendaten die Information über die Signalleitung 310 empfängt, dass einer der fünf Schleifenzustände aktiv ist, gibt die Steuervorrichtung 304 auf der Signalleitung 318 empfangene Daten unter Verwendung der TDI-Signalleitung 308 aus.
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Die Steuervorrichtung 304 beinhaltet einen Befehlsregister-/Datenregisterzähler 324, welcher verwendet werden kann, um die Anzahl von TDI-Bits zu zählen, welche auf der Signalleitung 318 empfangen werden und von der Steuervorrichtung 304 über die TDI-Signalleitung 308 weitergegeben werden. Die Steuervorrichtung 304 verwendet die von dem Zähler 324 gesammelten Bitzahldaten, um zu bestimmen, wann zurückgeschaltet werden soll zur Ausgabe von auf der Signalleitung 318 empfangenen Daten unter Verwendung der TMS-Signalleitung 306. Spezieller beinhaltet die Steuervorrichtung 304 programmierte Daten, welche die Größe der Informationsregister und Datenregister anzeigen, welche von dem JTAG-kompatiblen Bauteil 302 eingesetzt werden. Sobald die Anzahl von auf der Signalleitung 318 empfangenen TDI-Bits die Größe des geladenen Registers (z. B. das Instruktionsregister oder ein Datenregister) erreicht, weiß die Steuervorrichtung 304, dass ein nächstes empfangenes Bit mit einem TMS-Signal verbunden sein wird. Die Steuervorrichtung 304 reagiert, indem sie zurückschaltet zur Ausgabe von empfangenen Signalen über die TMS-Signalleitung 306. Die Steuervorrichtung 304 wird weiter Empfangssignale unter Verwendung der TMS-Signalleitung 306 ausgeben, bis auf der Signalleitung 310 empfangene Zustandsmaschinendaten anzeigen, dass einer der zwei Schleifenzustände begonnen hat.
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4 veranschaulicht eine beispielhafte Steuervorrichtung 400, welche verwendet werden kann, um die Anzahl von Pins zu reduzieren, welche notwendig ist, um ein JTAG-kompatibles Bauteil herzustellen. Die Steuervorrichtung 400 beinhaltet eine kombinierte TMS/TDI-Eingangssignalleitung 402, eine Zustandsmaschinendateneingangssignalleitung 404, eine TMS-Ausgangssignalleitung 406 und eine TDI-Ausgangssignalleitung 408. Zwei Schalter 410 und 412 sind bei der beispielhaften Steuervorrichtung 400 implementiert. Die Schalter 410 und 412 sind durch eine Schaltersteuerungsvorrichtung 414 gesteuert. Die Schaltersteuerungsvorrichtung 414 nimmt zwei Eingänge auf. Insbesondere nimmt ein Eingang der Schaltersteuerungsvorrichtung 414 Zustandsmaschinendaten über die Zustandsmaschinendateneingangssignalleitung 404 auf. Ein weiterer Eingang der Schaltersteuerungsvorrichtung 414 nimmt Daten von einem Bitzähler 416 auf.
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Als Vorgabe ist die TMS/TDI-Signalleitung 402 über den Schalter 410 mit der TMS-Ausgangssignalleitung 406 verbunden. Die Steuervorrichtung 400 bleibt in diesem Zustand, bis durch die auf der Zustandsmaschinendateneingangssignalleitung 404 empfangenen Daten einer der so genannten Schleifenzustände (d. h. der Shift-DR-Zustand oder der Shift-IR-Zustand) angezeigt wird. Einer dieser Schleifenzustände bewirkt, dass die Schaltersteuerungsvorrichtung 414 einen Schaltbefehl 418 erzeugt. In diesem Fall schließt der Schaltbefehl den Schalter 412 und öffnet den Schalter 410.
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Auf der TMS/TDI-Signalleitung 402 empfangene Signale werden nun durch den Bitzähler 416 geleitet und über die TDI-Ausgangssignalleitung 408 ausgegeben. Der Bitzähler 416 zählt die Anzahl von mit TDI-Signalen verbundenen Bits, welche über die TDI-Ausgangssignalleitung 408 ausgegeben werden. Dieser Zählwert wird über eine Signalleitung 420 an die Schaltersteuerungsvorrichtung 414 weitergegeben. Sobald eine Kapazität eines gegenwärtig die TDI-Signale empfangenden Registers erreicht ist, wie durch eine von dem Bitzähler 416 gezählte Anzahl von Bits im Vergleich gegenüber der Größe des gegenwärtig die TDI-Signale empfangenden Registers angezeigt, erzeugt die Schaltersteuerungsvorrichtung 414 einen Schaltbefehl 418. In diesem Fall schließt der Schaltbefehl 418 den Schalter 410 und öffnet den Schalter 412. Die Schaltersteuerungsvorrichtung 414 kann einen nichtflüchtigen Speicher oder einen flüchtigen Speicher beinhalten, um die physikalischen Registergrößen eines oder mehrerer JTAG-kompatibler Bauteile zu speichern, mit welchen die beispielhafte Steuervorrichtung 400 gekoppelt sein kann.
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Verfahrensablauf
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Die folgende Diskussion beschreibt Verfahrensabläufe, welche unter Verwendung der zuvor hierin beschriebenen Implementierungen realisiert werden können. Die Verfahrensabläufe sind als eine Zusammenstellung von Blöcken in einem logischen Ablaufdiagramm veranschaulicht, welche eine Abfolge von Vorgängen darstellen, die durch Hardware, Software oder eine Kombination von Hardware und Software implementiert sein können. Im Zusammenhang mit Software stellen die Blöcke durch einen Computer ausführbare Instruktionen dar, welche bei Ausführung durch einen oder mehrere Prozessoren die genannten Vorgänge ausführen. Allgemein beinhalten durch Computer ausführbaren Instruktionen Routinen, Programme, Objekte, Komponenten, Datenstrukturen und dergleichen, welche bestimmte Funktionen ausführen oder bestimmte abstrakte Datentypen implementieren. Es ist nicht beabsichtigt, dass die Reihenfolge, in welcher die Vorgänge beschrieben sind, als ein Einschränkung auszulegen ist, und eine beliebige Anzahl der beschriebenen Blöcke kann in einer beliebigen Reihenfolge und/oder parallel kombiniert werden, um den Prozess zu implementieren. In Abschnitten der folgenden Diskussion kann Bezug genommen werden auf die Darstellungen von 1–4 und deren Gegenstand.
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5 veranschaulicht ein Flussdiagramm, welches eine Anzahl von Vorgängen 500 beinhaltet, welche zu einem Steuerprozess und/oder -mechanismus gehören, der zur Ermöglichung eines verbesserten JTAG-kompatiblen Bauteils verwendet werden kann.
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Bei Block 502 werden Zustandsmaschinendaten geprüft. Derartige Zustandsmaschinendaten können von einem JTAG-kompatiblen Bauteil empfangen werden, wie z. B. dem JTAG-kompatiblen Bauteil 302, welches in 3 dargestellt ist. Bei Block 504 wird bestimmt, ob die bei Block 502 empfangenen Zustandsmaschinendaten Informationen beinhalten, welche sich auf einen der so genannten Schleifenzustände beziehen. Wie hierin zuvor diskutiert, beinhalten die so genannten Schleifenzustände den Shift-DR-Zustand und den Shift-IR-Zustand. Wenn die bei Block 502 empfangenen Zustandsmaschinendaten keine Information enthalten, welche anzeigt, dass die Zustandsmaschine einen der so genannten Schleifenzustände erreicht hat, kehrt der Prozess zum Block 502 zurück.
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Wenn die bei Block 502 empfangenen Zustandsmaschinendaten Informationen beinhalten, welche anzeigen, dass die Zustandsmaschine einen der so genannten Schleifenzustände erreicht hat, werden bei Block 506 die auf einer kombinierten TMS/TDI-Signalleitung empfangenen Daten als TDI-Daten ausgegeben. Bei Block 508 werden mit den TDI-Daten verbundene Bits gezählt. Bei Block 510 wird bestimmt, ob die Anzahl von gezählten Bits die Größe eines die TDI-Daten empfangenden Registers erreicht. Bei Block 512 werden, sobald die Anzahl von gezählten Bits die Größe des die TDI-Daten aufnehmenden Registers erreicht, die auf einer kombinierten TMS/TDI-Signalleitung empfangenen Daten als TMS-Daten ausgegeben.
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Schlussbemerkung
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Für die Zwecke dieser Offenbarung und die folgenden Ansprüche wurden die Ausdrücke „gekoppelt” und „verbunden” verwendet, um zu beschreiben, wie verschiedene Elemente gekoppelt sind. Eine solche beschriebene Kopplung von verschiedenen Elementen kann entweder direkt oder indirekt sein. Obwohl der Gegenstand durch für strukturelle Merkmale und/oder Verfahrensschritte typische Sprache beschrieben wurde, versteht es sich, dass der in den beigefügten Ansprüchen definierte Gegenstand nicht notwendigerweise auf die speziellen beschriebenen Merkmale oder Schritte begrenzt ist. Vielmehr sind die speziellen Merkmale und Schritte offenbart als beispielhafte Formen zur Implementierung der Ansprüche.
