DE10048398A1 - Kontinuierlich abtastender Röntgenanalysator mit verbesserter Verfügbarkeit und Genauigkeit - Google Patents
Kontinuierlich abtastender Röntgenanalysator mit verbesserter Verfügbarkeit und GenauigkeitInfo
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Abstract
Es wird eine Röntgenanalyse-Vorrichtung bereitgestellt, die fähig ist, eine schnelle und genaue Analyse auszuführen, in der ein Detektor für Röntgenstrahlen gedreht oder hin- und herbewegt wird, um eine kontinuierliche Abtastung durchzuführen. Eine Bestimmung der Zählzeit für jedes von festen Abtastintervallen mittels eines Zählzeit-Zählers 15 und eines Frequenzteilers 16, eine Korrektur eines Zählwertes für jedes Abtastintervall wird durch eine Korrektur-Berechnungseinrichtung 11 auf der Grundlage der entsprechenden Zählzeit durchgeführt.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein eine Rönt
genanalyse-Vorrichtung, deren Detektorteil sich dreht oder hin-
und herbewegt, um eine kontinuierliche Abtastung auszuführen.
In einem Röntgenfluoreszenz-Spektrometer eines Wellenlän
gendispersionstyps, der gegenwärtig verbreitet in Gebrauch ist,
wird eine zu analysierende Probe mit primären Röntgenstrahlen
bestrahlt, so daß Fluoreszenz-Röntgenstrahlen von der Probe
emittiert werden. Die von der Probe emittierten Fluoreszenz-
Röntgenstrahlen werden durch einen Spektralapparat, wie einem
Analysatorkristall monochromatisiert, und die sich ergebenden
spektroskopisch analysierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen wer
den dann durch einen Detektor detektiert, der nachfolgend
Impulse ausgibt. Obwohl die Spannung der vom Detektor ausgege
benen Impulse, das heißt der Impulshöhenwert proportional zur
Fluoreszenz-Röntgenenergie ist und die Anzahl der Ausgangsim
pulse pro Einheitszeit proportional zur Intensität der Fluores
zenz-Röntgenstrahlen ist, werden von jenen Ausgangsimpulsen die
Ausgangsimpulse, die in einen festen Bereich von Impulshöhen
werten fallen, durch einen Impulshöhenanalysator ausgewählt,
und die Anzahl dieser ausgewählten Ausgangsimpulse wird durch
einen Teiler gezählt. Mit anderen Worten wird der Zählwert der
ausgewählten Ausgangsimpulse durch einen Teiler bestimmt.
In einem abtastenden Typ Röntgenspektrometer ist der Spek
tralapparat mit dem Detektor abtastungsgekoppelt, so daß die
Wellenlänge der monochromatisierten Röntgenstrahlen sich
ändert. Eine der Einrichtungen für die Koppelung wird als
Goniometer bezeichnet. Insbesondere, wo eine qualitative Ana
lyse oder eine halbquantitative Analyse durchgeführt wird, ist
eine hohe Geschwindigkeit erforderlich, und daher werden der
Spektralapparat und der Detektor kontinuierlich abgetastet. Mit
anderen Worten ist das Abtastverfahren keine stufenweise Abta
stung, in der das Goniometer einen vorbestimmten Winkel ange
trieben wird und dann für eine vorbestimmte Zeit während der
Zählung der Ausgangsimpulse angehalten wird, sondern eine kon
tinuierliche Abtastung, in der die Zählung der Ausgangsimpulse
durch kontinuierliches Antreiben des Goniometers ausgeführt
wird. Zu dieser Zeit liest für ein festes Abtastintervall, zum
Beispiel 1/100 Grad des Rotationswinkels des Detektors (soge
nannt 2θ) der Teiler den Zählwert als eine Intensität für jedes
Abtastintervall.
Die Beziehung zwischen dem Abtastbereich (2θ) des Goniome
ters und dessen Abtastgeschwindigkeit wird in Fig. 2 gezeigt.
Damit das Goniometer kontinuierlich mit einer gewünschten hohen
Geschwindigkeit angetrieben wird, wie durch 'b' in Fig. 2
gezeigt, muß das Goniometer mit einer beschleunigten Geschwin
digkeit angetrieben werden, wie durch 'a' in Fig. 2 gezeigt,
bevor es zu der gewünschten hohen Geschwindigkeit angetrieben
wird. Ebenso muß, um das Goniometer anzuhalten, das dann mit
der hohen Geschwindigkeit angetrieben wird, das Goniometer mit
einer verzögerten Geschwindigkeit angetrieben werden, wie durch
'c' in Fig. 2 gezeigt. Folglich kann keine genaue Intensität
für jedes Abtastintervall in den in 'a' und 'c' gezeigten Berei
chen beschleunigter und verzögerter Geschwindigkeit erhalten
werden, da die benötigte Zeit für jedes 1/100 Grad variiert.
Wenn andererseits ein Verfahren, in welchem in den durch
'a' und 'c' gezeigten Bereichen der beschleunigten und verzö
gerten Geschwindigkeit keine Zählung durchgeführt wird, für
eine genaue Messung genommen wird, kann die Analyse an jedem
Ende nicht durchgeführt werden. Auch würde, wenn wie durch die
doppelt gestrichelte Kettenlinie gezeigt, eine Zählung durch
geführt wird, während die Antriebsgeschwindigkeit des Goniome
ters auf ein solches Maß herabgesetzt wird, daß weder eine
Beschleunigung noch eine Verzögerung erforderlich ist, eine
genaue Analyse an beiden Enden des Abtastbereichs möglich sein,
jedoch unter Opferung der Geschwindigkeit. Folglich kann keine
schnelle und genaue Messung einer qualitativen Analyse oder
halbquantitativen Analyse über einen verhältnismäßig breiten
Wellenlängenbereich stattfinden.
Zusätzlich benötigt in einem Röntgen-Beugungsmesser zur
Analyse der kristallinen Probenstruktur, in dem ein Probenhal
ter, um die zu analysierende Probe zu plazieren, und ein Detek
tor durch das Goniometer gekoppelt sind, so daß die Intensität
gebeugter Röntgenstrahlen, die durch die Probe gebeugt werden,
gemessen werden kann, indem der Einfallswinkel von auf die
Probe eingestrahlten Röntgenstrahlen variiert wird, eine Prä
zisionsmessung, die durch die schrittweise Abtastung ausgeführt
wird, eine verhältnismäßig lange Zeit. Andererseits ist die
schnelle Messung durch die kontinuierliche Abtastung möglich.
Jedoch ist keine genaue Messung möglich, weil die Zählzeit für
das feste Abtastintervall nicht streng konstant ist.
Während die vorhergehende Beschreibung darauf zutrifft, wo
der Detektor auf dem Spektralapparat oder die Probe durch das
Goniometer rotiert, um die kontinuierliche Abtastung auszufüh
ren, können zu den erläuterten ähnliche Probleme gefunden wer
den, selbst wo eine Meßeinheit mit einer Röntgenquelle und
einem Detektor sich auf einer Probe durch die kontinuierliche
Abtastung hin- und herbewegt. Zum Beispiel ist es in einer Fer
tigungsstraße, in der, während ein Papierstreifen in eine Richtung
seiner Länge nach transportiert wird, ein Trennmittel, wie
Silikon, auf eine Oberfläche des Papierstreifens aufgetragen
wird, um einen Streifen von trennmittelbeschichtetem Papier zu
bilden, der anschließend (in eine Richtung, die mit der Trans
portrichtung übereinstimmt) für jeden von Abschnitten, die
gleichmäßig in eine Breitenrichtung desselben unterteilt sind,
die senkrecht zur longitudinalen Richtung ist (oder für jeden
der kontinuierlichen Abschnitte) longitudinal geschnitten
wird, um dadurch mehrere trennmittelbeschichteten Papiere zu
bilden, für den Zweck einer Qualitätskontrolle der Produkte
(d. h. trennmittelbeschichteten Papiere) erforderlich, daß die
Menge des aufgetragenen Silikons für jeden der Abschnitte
bestimmt wird.
Folglich erzeugt im herkömmlichen Röntgenfluoreszenz-Spek
trometer, das dazu bestimmt ist, zudem oben erläuterten beson
deren Zweck zu passen, eine Meßeinheit, die sich mit einer
festen Geschwindigkeit auf der Probe hin- und herbewegt, die
der Streifen des trennmittelbeschichteten Papiers ist, bevor es
in eine Breitenrichtung des Streifens des trennmittelbeschich
teten Papiers in die Abschnitte geschnitten wird, für eine Ein
heitszeit eine Anzahl von Impulsen, die proportional zur Inten
sität des Fluoreszenz-Röntgenstrahls sind, der vom Silikon als
Resultat dessen emittiert wird, daß die Probe durch einen pri
mären Röntgenstrahl bestrahlt worden ist, während sie in die
Längsrichtung derselben transportiert wird. Von den von der
Meßeinheit erzeugten Impulsen, werden die Impulse, die in einen
vorbestimmten Impulshöhenbereich fallen, durch einen Impulshö
henanalysator ausgewählt, und die Anzahl der ausgewählten
Impulse wird durch einen Teiler bestimmt. Eine Berechnungsein
richtung zur Berechnung der Menge des beschichteten Silikons
bestimmt dann die Menge des beschichteten Silikons für jeden
Abschnitt, beruhend auf der gemessenen Intensität für jeden
Abschnitt, die erhalten wird, indem die Anzahl der durch die
Meßeinheit erzeugten Impulse durch die Zeit geteilt wird, die
für die Meßeinheit erforderlich ist, sich um eine Strecke zu
bewegen, die einem Abschnitt bei der festen Geschwindigkeit
entspricht. Es wird hier vorausgesetzt, daß die Bewegungsge
schwindigkeit der Meßeinheit konstant ist und die Zeit, die für
die Meßeinheit erforderlich ist, um sich um die Strecke zu bewe
gen, die einem Abschnitt entspricht, ebenfalls konstant ist.
Jedoch ist es als schwierig befunden worden, einen konstan
ten Wert der Geschwindigkeit einzuhalten, mit der die Meßein
heit durch die Antriebseinrichtung bewegt wird, und die Bewe
gungsgeschwindigkeit der Meßeinheit variiert in einem gewissen
Maß. Folglich tendieren der Zusammenhang der gemessen Intensi
tät mit dem bestimmten Abschnitt und folglich der Zusammenhang
der Menge des beschichteten Silikons mit dem bestimmten
Abschnitt dazu, voneinander abzuweichen, und daher kann die
Menge des beschichteten Silikons für jeden Abschnitt nicht
genau bestimmt werden.
Folglich ist die vorliegende Erfindung dazu bestimmt, eine
verbesserte Röntgenanalyse-Vorrichtung eines Typs mit kontinu
ierlicher Abtastung bereitzustellen, in der ein Detektor zur
Detektion der Intensität von Röntgenstrahlen gedreht oder hin-
und herbewegt wird, wobei die Vorrichtung effektiv ist, eine
schnelle und genaue Analyse zu erzielen. Diese Aufgabe wird mit
den Merkmalen der Ansprüche gelöst.
Im erfindungsgemäßen Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
(siehe z. B. Anspruch 1) kann, da die der Zählzeit-Zähler und
der Frequenzteiler verwendet werden, um die Zählzeit für jedes
der vorbestimmten Abtastintervalle zu bestimmen, und der
Zählwert für jedes Abtastintervall durch die Korrektur-Berechnungseinrichtung
auf der Grundlage der entsprechenden Zählzeit
korrigiert wird, eine genaue Intensität des Fluoreszenz-Rönt
genstrahls für jedes Abtastintervall einschließlich der Bewe
gung in den Bereichen beschleunigter und verzögerter Geschwin
digkeit erhalten werden, wobei die Koppelungseinrichtung mit einer
hohen Geschwindigkeit angetrieben wird. Folglich kann in der
Fluoreszenz-Röntgenanalyse sowohl die qualitative Analyse als
auch die halbquantitative Analyse schnell und genau über einen
verhältnismäßig breiten Wellenlängenbereich ausgeführt werden.
Mit anderen Worten ist mit der kontinuierlichen Abtastung die
schnelle und genaue Analyse möglich.
Im erfindungsgemäßen Röntgen-Beugungsmesser (siehe z. B.
Anspruch 2) kann, da der Zählzeit-Zähler und der Frequenzteiler
verwendet werden, um die Zählzeit für jedes der vorbestimmten
Abtastintervalle zu bestimmen, und der Zählwert für jedes
Abtastintervall durch die Korrektur-Berechnungseinrichtung auf
der Grundlage der entsprechenden Zählzeit korrigiert wird, eine
genaue Intensität des gebeugten Röntgenstrahls für jedes
Abtastintervall erhalten werden, und folglich ist die schnelle
und genaue Analyse mit der kontinuierlichen Abtastung in der
Röntgenbeugungsanalyse möglich.
Im Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (siehe z. B. Anspruch 4)
kann, da die Korrektur-Berechnungseinrichtung den durch die
Meßeinheit erzeugten Zählwert der Impulse, beruhend auf der
Zählzeit, welches die für die Meßeinheit erforderliche Zeit
ist, um sich zu bewegen, für jeden Bewegungsbereich an der Probe
in deren Breitenrichtung korrigiert, das Beschichtungsgewicht
oder die Dicke schnell und genau für jeden Abschnitt der Probe
ohne die Verschiedenheit der Entsprechung zu jedem Abschnitt in
der Probe bestimmt werden, selbst wenn die Bewegungsgeschwin
digkeit bei einer hohen Bewegungsgeschwindigkeit variiert,
indem die Länge des Bewegungsbereiches in die Breitenrichtung
festgelegt wird. Folglich ist während der Fluoreszenz-Rönt
genanalyse die schnelle und genaue Analyse mit der kontinuier
lichen Abtastung möglich.
Das Röntgenfluoreszenz-Spektrometer kann befriedigend
bewerkstelligt werden, wo die Probe ein trennmittelbeschichte
tes Papier ist, auf dem Silikon beschichtet ist, und das
Beschichtungsgewicht der Dicke der silikonbeschichteten
Schicht analysiert wird. Oder ein Magnetband, auf das ein
magnetisches Material beschichtet ist, und das Beschichtungs
gewicht oder die Dicke der magnetischen Materialschicht analy
siert wird.
Jede der oben beschriebenen erfindungsgemäßen Röntgenana
lysevorrichtungen, die Koppelungseinrichtung oder die Bewe
gungseinrichtung kann einen Rotationskodierer aufweisen, so daß
der Frequenzteiler das Auslesesignal beruhend auf einem Signal
erzeugen kann, das vom Rotationskodierer zugeführt wird.
Die vorliegende Erfindung wird aus der folgenden Beschrei
bung bevorzugter Ausführungsformen derselben klarer verstanden
werden, wobei auf die beigefügten Figuren bezug genommen wird.
Jedoch werden die Ausführungsformen und die Figuren nur zum
Zweck der Veranschaulichung und Erläuterung gegeben und dienen
nicht dazu, den Rahmen der vorliegenden Erfindung in welcher
Art auch immer zu begrenzen. Der Rahmen soll durch die beige
fügten Ansprüche bestimmt werden. In den beigefügten Zeichnun
gen bedeutet dieselbe Nummer in mehr als einer Figur dasselbe
Teil. Es zeigen:
Fig. 1 ein schematisches Diagramm, das ein Röntgenfluores
zenz-Spektrometer der ersten bevorzugten Ausführungs
form der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 2 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen dem Abtastbereich
(2θ) eines Goniometers (einer Koppelungseinrich
tung) und dessen Abtastgeschwindigkeit zeigt,
Fig. 3 ein schematisches Diagramm, das ein Röntgen-Diffrakto
meter der zweiten bevorzugten Ausführungsform der vor
liegende Erfindung zeigt;
Fig. 4 ein Zeitdiagramm, das die Beziehung zwischen zwei Pha
sensignalen, die Ausgaben aus einem Rotationskodierer
sind, der im Röntgen-Diffraktometer eingesetzt wird,
und einem Auslesesignal zeigt, das eine Ausgabe aus ei
nem Frequenzteiler ist, der im Röntgen-Diffraktometer
eingesetzt wird;
Fig. 5 eine Vorderansicht des Röntgenfluoreszenz-Spektrome
ters der dritten bevorzugten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung;
Fig. 6 eine Draufsicht einer Meßeinheit, die im Röntgenflu
oreszenz-Spektrometer eingesetzt wird, das in Fig. 5
gezeigt wird;
Fig. 7 eine Vorderansicht der im Röntgenfluoreszenz-Spektro
meter der Fig. 5 eingesetzten Meßeinheit, die links von
einer zu analysierenden Probe angeordnet ist;
Fig. 8 eine Vorderansicht der im Röntgenfluoreszenz-Spektro
meter der Fig. 5 eingesetzten Meßeinheit, die links von
einem Abschnitt B-C angeordnet ist; und
Fig. 9 eine Vorderansicht der im Röntgenfluoreszenz-Spektro
meter der Fig. 5 eingesetzten Meßeinheit, die rechts
von einem Abschnitt B-C angeordnet ist.
Im folgenden wird eine Vorrichtung gemäß der ersten bevor
zugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.
Zuerst wird die Struktur der Vorrichtung unter Bezugnahme auf
Fig. 1 beschrieben. Die darin gezeigte Vorrichtung ist ein
Röntgenfluoreszenz-Spektrometer, das aufweist: einen Probenhalter
2, auf dem eine zu analysierende Probe 1 plaziert ist;
eine Röntgenquelle 4, wie eine Röntgenröhre, zur Bestrahlung
der Probe 1 mit primären Röntgenstrahlen 3; einen Spektralap
parat 6 für monochromatisierte Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 5,
die von der Probe 1 emittiert werden; einen Detektor 8, wie
einen SC oder F-PC, um die Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 zu
detektieren, die durch den Spektralapparat 6 monochromatisiert
worden sind, und um Impulse mit einer Spannung, die proportio
nal zur Energie der Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 sind, in
einer Anzahl zu erzeugen, die proportional zu deren Intensität
ist, und eine Koppelungseinrichtung 10, wie einem Goniometer
zur Kopplung des Antriebs des Spektralapparats 6 und des Detek
tors 8, um eine kontinuierliche Abtastung auszuführen und die
Wellenlänge der durch den Spektralapparat 6 monochromatisierten
Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 zu ändern, so daß die monochro
matisierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 auf den Detektor 8
eingestrahlt werden können.
Wenn mit anderen Worten die Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 5
auf den Spektralapparat 6 unter einem bestimmten Einfallswinkel
θ strahlen, bildet eine Verlängerungslinie 9 der Fluoreszenz-
Röntgenstrahlen 5 und der durch den Spektralapparat 6 monochro
matisierten (gebeugten) Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 einen
Beugungswinkel 2θ, der das doppelte des Einfallswinkels θ ist.
Jedoch dreht die Koppelungseinrichtung 10 den Spektralapparat
6 um eine Achse O, die durch die Mitte der Oberfläche des Spek
tralapparats 6 geht und in eine Richtung senkrecht zur Ebene
eines Blattes der Fig. 1 liegt, und dreht auch den Detektor 8
längs des Kreisweges 12 auf der Achse O um den Winkel, der das
doppelte des Rotationswinkel des Spektralapparats ist, so daß
die monochromatisierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 weiter
auf den Detektor 8 strahlen können, während die Wellenlänge der
Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7, die monochromatisiert sind,
variiert wird, indem der Beugungswinkel 2θ variiert wird. Ins
besondere ist jeweils die θ-Achse zum Drehen des Spektralappa
rats 6 und die 2θ-Achse zum Drehen des Detektors 8 mit einem
Schrittmotor, einem an der Antriebswelle des Schrittmotors
angebrachten Schneckengetriebe und einem Schneckenrad verse
hen, das mit einem solchen Schneckengetriebe in Eingriff steht
und an das der Spektralapparat 6 oder der Detektor 8 angebracht
sind, und die Schrittmotoren für die θ-Achse bzw. die 2θ-Achse,
sind elektrisch miteinander in der Impulsstartzeit und der
Impulszahlsteuerung verbunden. Die Gesamtheit dieser Einrich
tungen ist die Koppelungseinrichtung 10.
Auch weist die Vorrichtung auf: einen Impulshöhenanalysator
13 zum Auswählen der durch den Detektor 8 erzeugten Impulse,
die in einen festen Spannungsbereich (Impulshöhe) fallen, einen
Teiler 14 zum Zählen der durch den Impulshöhenanalysator 13
ausgewählten Impulse; und einen Zählzeit-Zähler 15 zur Messung
der Zählzeit für den Teiler 14, beruhend auf einen Referenzim
puls, der von einem Quarzoszillator oder dergleichen erzeugt
wird. Zusätzlich weist diese Vorrichtung ferner einen Frequenz
teiler 16 zur Erzeugung eines Auslesesignals für jedes von
festen Abtastintervallen für die Koppelungseinrichtung 10, und
eine Korrektur-Berechnungseinrichtung auf, die den Zählwert,
der durch den Teiler 14 ausgelesen wird, beruhend auf der Zähl
zeit korrigiert, die durch den Zählzeit-Zähler 15 als Reaktion
auf das Auslesesignal aus dem Frequenztreiber 16 gemessen wird.
Insbesondere wo zum Beispiel ein Impuls, der an den
Schrittmotor geliefert wird, der die Koppelungseinrichtung 10
antreibt, hinsichtlich 2θ 5/1000 Grad entspricht, liefert der
Frequenzteiler 16 als Reaktion auf Koppelungseinrichtungs-
Antriebsimpulse das Auslesesignal alle zwei Impulse an die Korrektur-Berechnungseinrichtung
11, das heißt 1/100 Grad hin
sichtlich 2θ für ein festes Abtastintervall in der Koppelungs
einrichtung 10, woraufhin die Korrektur-Berechnungseinrichtung
11 den Zählwert ausliest, der durch den Teiler 14 und die Zähl
zeit gegeben ist, die durch den Zählzeit-Zähler 15 alle 1/100 Grad
hinsichtlich 2θ gemessen wird, so daß der Zählwert korri
giert werden kann, indem er durch die Zählzeit geteilt wird.
Der korrigierte Zählwert ist die Intensität des Fluoreszenz-
Röntgenstrahls für jenes Abtastintervall. Es ist zu beachten,
daß das feste Abtastintervall innerhalb des Bereichs von zum
Beispiel 1/100 bis 1/10 Grad voreingestellt werden kann.
Obwohl in der dargestellten Ausführungsform der Frequenz
teiler 16 das Auslesesignal beruhend auf dem Koppelungseinrich
tungs-Antriebsimpuls erzeugt, kann der Frequenztreiber 16 das
Auslesesignal als Reaktion auf das Signal aus einem Rotations
kodierer erzeugen, der in der vorher beschriebenen θ-Achse oder
der 2θ-Achse der Koppelungseinrichtung 10 eingerichtet ist.
Es wird nun die Arbeitsweise der Vorrichtung in der quali
tativen Analyse beschrieben. Wenn die Probe 1 auf dem Proben
halter 2 plaziert worden ist, wird der primäre Röntgenstrahl 3
von der Röntgenquelle 4 ausgestrahlt, die von der Probe 1
erzeugten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 5 werden durch den Spek
tralapparat 6 monochromatisiert, und die monochromatisierten
Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 strahlen anschließend auf den
Detektor 8, der wiederum Impulse einer Spannung, die proportio
nal zur Energie der einfallenden Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7
sind, in einer Anzahl ausgibt, die proportional zu deren Inten
sität ist. Aus jenen Impulsen werden die Impulse in einem festen
Spannungsbereich durch den Impulshöhenanalysator 13 ausgewählt
und der Zählwert der ausgewählten Impulse wird dann durch den
Teiler 14 bestimmt.
Während in diesem Fall der Antrieb des Spektralapparats 6
und des Detektors 8 durch die Koppelungseinrichtung 10 gekop
pelt ist, um eine kontinuierliche Abtastung durchzuführen, so
daß der von der Probe 1 erzeugte Fluoreszenz-Röntgenstrahl 5
monochromatisiert werden kann und die detektierte Wellenlänge
abgetastet wird, wird die Koppelungseinrichtung 10 angetrieben,
um hinsichtlich 2θ eine Abtastgeschwindigkeit von 240 Grad pro
Minute, wie durch 'b' in Fig. 2 gezeigt, zum Zweck der Geschwin
digkeit zu erzielen. Es ist zu beachten, daß numerische Werte,
die dem Abtastbereich (2θ) für die Achse der Abszissen in der
graphischen Darstellung der Fig. 2 nicht beschrieben werden, da
sie abhängig von besonderen Typ des Detektors 8 und des Spek
tralapparats 6 (Fig. 1) variieren, wobei der Abtastbereich vom
linken Ende zum rechten Ende etwa 100 Grad maximal beträgt.
Wie vorhergehend beschrieben, werden, um mit einer solch
hohen Geschwindigkeit anzutreiben, Antriebe mit beschleunigter
Geschwindigkeit und verzögerter Geschwindigkeit vor bzw. nach
dem Hochgeschwindigkeitsantrieb, zum Beispiel über etwa 5 Grad
(Es ist zu beachten, daß Fig. 2 für ein besseres Verständnis
übertrieben gezeigt wird.) hinsichtlich des Abtastbereichs (2θ)
benötigt. Die für jedes Abtastintervall benötigte Zählzeit
unterscheidet sich in Bereichen beschleunigter und verzögerter
Geschwindigkeit selbst dann, wenn der Zählwert aus dem Teiler
14 für ein festes Abtastintervall von 1/100 Grad ausgelesen
wird, indem der in Fig. 1 gezeigte Frequenztreiber 16 verwendet
wird. Andererseits ist die Anzahl der Impulse per Einheitszeit,
die in den Teiler 14 eintreten, proportional zur Intensität des
Fluoreszenz-Röntgenstrahls 7. Folglich repräsentiert der Zähl
wert für jedes feste Abtastintervall, das aus dem Teiler aus
gelesen wird, keine genaue Intensität der Fluoreszenz-Röntgen
strahlen in den Bereichen der beschleunigten und verzögerten
Geschwindigkeit.
In der Vorrichtung mißt der Zählzeit-Zähler 15 die für den
Teiler 14 benötigte Zählzeit, um die Anzahl der Impulse zu zäh
len, und die Korrektur-Berechnungseinrichtung 11 liest nicht
nur den durch den Teiler 14 gegebenen Zählwert, sondern auch
die durch den Zählzeit-Zähler 15 gemessene Zählzeit als Reak
tion auf das Auslesesignal aus dem Frequenzteiler 16 für ein
festes Abtastintervall von 1/100 Grad aus. Auf dieser Weise
kann die Zählzeit für jedes Abtastintervall von 1/100 Grad
bestimmt werden. Andererseits korrigiert die Korrektur-Berech
nungseinrichtung 11 den durch den Teiler 14 gegebenen Zählwert,
indem er durch die Zählzeit geteilt wird, die durch den Zähl
zeit-Zähler 15 für jedes Abtastintervall von 1/100 Grad gemes
sen wird. Der korrigierte Zählwert repräsentiert folglich die
Intensität des Fluoreszenz-Röntgenstrahls für jenes Abtastin
tervall.
Folglich kann ein Spektrum erhalten werden, das die Inten
sität der Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 7 bei jedem Beugungswin
kel 2θ repräsentiert, und es werden eine Spitzensuche und Ele
mentaridentifizierung ausgeführt, das heißt die qualitative
Analyse wird ausgeführt. Das Ergebnis des qualitativen Analyse
wird mittels einer Anzeigeeinrichtung angezeigt, wie einer
(nicht gezeigten) Kathodenstrahlröhre (CRT). Auch kann beruhend
auf dem Ergebnis der qualitativen Analyse eine sogenannte halb
quantitative Analyse ausgeführt werden. Außerdem wird die Zähl
zeitkorrektur im gesamten Bereich ausgeführt, ohne zu überprü
fen, ob die Abtastgeschwindigkeit konstant ist oder nicht.
Jedoch kann die Korrektur nur in den Antriebsbereichen
beschleunigter und verzögerter Geschwindigkeit (durch 'a' und
'c' in Fig. 2 gezeigt) durchgeführt werden, wobei die Abtast
geschwindigkeit im Bereich konstanter hoher Geschwindigkeit
(durch 'b' in Fig. 2 gezeigt) als 1 vorausgesetzt wird.
Wie oben beschrieben, werden bei der Vorrichtung gemäß der
ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung der Zählzeit-
Zähler 15 und der Frequenzteiler 16 verwendet, um die Zählzeit
für ein festes Abtastintervall von zum Beispiel 1/100 Grad zu
bestimmen, und die Korrektur-Berechnungseinrichtung 11 wird
verwendet, um den Zählwert für jedes Abtastintervall beruhend
auf der entsprechenden Zählzeit zu korrigieren. Dementsprechend
kann, wenn die Koppelungseinrichtung 10 mit einer hohen
Geschwindigkeit angetrieben wird, eine genaue Intensität des
Fluoreszenz-Röntgenstrahls für jedes Abtastintervall ein
schließlich in den Antriebsbereichen beschleunigter und verzö
gerter Geschwindigkeit (die durch 'a' und 'c' in Fig. 2 gezeigt
werden) erhalten werden. Folglich kann die qualitative Analyse
oder die halbquantitative Analyse schnell und genau über den
verhältnismäßig breiten Wellenlängenbereich in der Fluores
zenz-Röntgenanalyse durchgeführt werden. Mit anderen Worten ist
eine schnelle und genaue Analyse mit dem kontinuierlichen Abta
stungsmerkmal möglich.
Außerdem wird die Koppelungseinrichtung 10 durch den
Schrittmotor in der als die vorhergehende erste Ausführungsform
beschriebenen Vorrichtung angetrieben, ein Servomotor kann
anstelle des Schrittmotors eingesetzt werden. In diesem Fall
ist es besser, den gesamten Abtastbereich zu korrigieren, ohne
zu überprüfen, ob die Geschwindigkeit für die Korrektur kon
stant ist oder nicht, da die Geschwindigkeit selbst bei einem
Antrieb mit konstanter hoher Geschwindigkeit (durch 'b' in Fig.
2 gezeigt) geringfügig variieren kann.
Es wird nun die Vorrichtung gemäß der zweiten bevorzugten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben. Diese
Vorrichtung ist ein Röntgen-Diffraktometer der, wie in Fig. 3
gezeigt, aufweist: einen Probenhalter 2, auf dem eine zu ana
lysierende Probe 1 plaziert ist, eine Röntgenquelle 4, wie eine
Röntgenröhre zur Bestrahlung der Probe 1 mit einfallenden Rönt
genstrahlen (die in den meisten Fällen monochromatisiert sind)
23, einen Detektor 8, um gebeugte Röntgenstrahlen 27 zu detek
tieren, die durch die Probe 1 gebeugt werden, und um Impulse
mit einer Spannung, die proportional zur Energie der gebeugten
Röntgenstrahlen 27 sind, in einer Anzahl zu erzeugen, die pro
portional zu deren Intensität ist, und eine Koppelungseinrich
tung 20, wie einem Goniometer zur Kopplung des Antriebs des Pro
benhalters 2 und des Detektors 8, um eine kontinuierliche Abta
stung auszuführen, so daß die gebeugten Röntgenstrahlen 27 auf
den Detektor 8 eingestrahlt werden, während der Probenhalter 2
gedreht wird.
Insbesondere wenn die einfallenden Röntgenstrahlen 23 auf
die Probe 1 unter einem bestimmten Einfallswinkel θ einge
strahlt werden, bildet eine Verlängerung 29 der einfallenden
Röntgenstrahlen 23 und der gebeugten Röntgenstrahlen 27, die
durch die Probe 1 gebeugt werden, einen Beugungswinkel 2θ, der
das doppelte des Einfallswinkels θ beträgt. Jedoch dreht die
Koppelungseinrichtung 20 den Probenhalter 2, um die Probe 1 auf
der Achse O anzuordnen, die durch die Mitte der Oberfläche der
Probe 1 geht und senkrecht zur Ebene eines Blattes der Fig. 3
ist, und dreht auch den Detektor 8 längs des Kreisweges 12 auf
der Achse O um den Winkel, der das doppelte des Rotationswinkels
des Probenhalters 2 ist, so daß während der Einfallswinkel θ
variiert wird, die gebeugten Röntgenstrahlen 27 des Einfalls
winkels θ weiter auf den Detektor 8 auftreffen können. Insbe
sondere weist die Koppelungseinrichtung 20 zum Beispiel auf:
ein Schneckengetriebe, das an einer Antriebswelle eines
Schrittmotors angebracht ist, eine Hauptrotationswelle, die
konzentrisch an einem Schneckenrad, das mit dem Schneckenge
triebe in Eingriff steht, um eine gemeinsame Achse O befestigt
ist, und auf dem der Probenhalter 2 angebracht ist, und einen
Träger, der mechanisch mit der Hauptrotationswelle gekoppelt
ist, und auf dem der Detektor 8 angebracht ist und angepaßt ist,
durch den Schrittmotor angetrieben zu werden.
Wie es bei der Vorrichtung der vorhergehend beschriebenen
ersten Ausführungsform der Fall ist, weist auch diese Vorrich
tung einen Impulshöhenanalysator 13, einen Teiler 14, einen
Zählzeit-Zähler 15, einen Frequenzteiler 16 und eine Korrektur-
Berechnungseinrichtung 11 auf. Es ist jedoch zu beachten, daß
der Frequenzteiler 16 ein Auslesesignal beruhend auf einem
Signal erzeugt, das von einem hochauflösenden (zum Beispiel
1/10000 Grad) Rotationskodierer 30 zugeführt wird, der auf der
Hauptrotationswelle der Koppelungseinrichtung 20 in der Vor
richtung der zweiten Ausführungsform vorgesehen ist.
Insbesondere wo zum Beispiel die Signale vom Rotationsko
dierer 30, wie in Fig. 4 gezeigt, Rechteckwellen α und β mit
zwei Phasen sind, die um eine 1/4-Periode in ihrer Phase von
einander versetzt sind, jede der Rechteckwellen α und β eine
Periode τ aufweist, der hinsichtlich θ 4/10000 Grad entspricht,
und auch eine AN-Dauer der halben Periode aufweist, gibt der
Frequenzteiler 16 als Reaktion auf die Signale α und β aus dem
Rotationskodierer 30 jedes mal das Auslesesignal an die Korrek
tur-Berechnungseinrichtung 11 aus, wenn die β-Phase AUS ist und
die α-Phase AN wird, das heißt für ein festes Abtastintervall
in der in Fig. 3 gezeigten Koppelungseinrichtung 20, die hin
sichtlich θ 4/10000 Grad beträgt, und die Korrektur-Berech
nungseinrichtung 11 liest den durch den Teiler 14 gegebenen
Zählwert und die durch den Zählzeit-Zähler 15 gemessene Zähl
zeit hinsichtlich θ alle 4/10000 Grad aus, so daß der Zählwert
korrigiert werden kann, indem er durch die Zählzeit dividiert
wird, und der korrigierte Zählwert folglich die Intensität des
gebeugten Röntgenstrahls während jenes Abtastintervalls reprä
sentiert. Es ist zu beachten, daß das feste Abtastintervall so
voreingestellt werden kann, daß es sich ändert.
Bei der oben beschriebenen Vorrichtung der zweiten Ausfüh
rungsform werden der Zählzeit-Zähler 15 und der Frequenzteiler
16 verwendet, um die Zählzeit für ein festes Abtastintervall zu
bestimmen, und die Korrektur-Berechnungseinrichtung 11 wird
verwendet, um den Zählwert für jedes Abtastintervall beruhend
auf der entsprechenden Zählzeit zu korrigieren. Folglich kann
eine genaue Intensität des gebeugten Röntgenstrahls für jedes
Abtastintervall erhalten werden, und es ist auch eine schnelle
und genaue Analyse mit der kontinuierlichen Abtastungstechnik
in der Röntgenbeugungsanalyse möglich. Da überdies der Fre
quenzteiler 16 das Auslesesignal nicht beruhend auf den Impul
sen, die an den Schrittmotor zum Antreiben der Koppelungsein
richtung 20 geliefert werden sollen, sondern auf den Signalen
α und β aus dem hochauflösenden Rotationskodierer 30 erzeugt,
der an der Hauptrotationswelle der Koppelungseinrichtung 20
angebracht ist, kann der Zählwert für jedes Abtastintervall
auch für einen instabilen Zustand korrigiert werden, in dem die
Zählzeit für jedes Abtastintervall als Ergebnis irgendeines
mechanischen Verarbeitungsfehler und/oder eines Spiels in der
Koppelungseinrichtung 20 fluktuiert, weshalb eine genauere
Intensität des Röntgenstrahls für jedes Abtastintervall erhal
ten werden kann und eine schnelle und genauere Analyse mit der
kontinuierlichen Abtastung in der Röntgenbeugungsanalyse
durchgeführt werden kann.
Auch braucht es in der Messung des herkömmlichen Stufenab
tastungsverfahrens nicht nur eine verhältnismäßig lange Zeit
für die Messung, sondern es ergibt auch einen Fehler, der durch
die minimale Auflösung des Rotationskodierers bei der Positio
nierung verursacht wird, um bei einen angegebenen Winkel für
eine feste Zeit anzuhalten (das heißt, die Position kann nicht
innerhalb des Bereichs χ von 1/10000 Grad bestimmt werden, wo
in Fig. 4 die β-Phase AUS ist und die α-Phase AN ist), die Vor
richtung gemäß dieser Ausführungsform ist von einem solchen
Fehler frei, da das Auslesesignal als Reaktion auf die Detek
tion der Flanke (d. h. des Zeitpunkt, wenn der Impuls auf AN
wechselt) in dem α-Phasensignal aus dem Rotationskodierer 30
erzeugt wird.
Es wird das Röntgenfluoreszenz-Spektrometer der dritten
bevorzugten Ausführungsform in der vorliegende Erfindung unter
Bezugnahme auf die Zeichnungen beschrieben. Die Struktur dieser
Vorrichtung wird zuerst beschrieben. Wie in einer Draufsicht in
Fig. 6 gezeigt, weist dieses Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
eine Meßeinheit 18 zur Bestrahlung mit primären Röntgenstrahlen
3 einer bandförmigen Probe 21 auf, die mehrere Schichten 21a
und 21b aufweist und in deren Z-Längenrichtung transportiert
wird (in eine vertikale Richtung, zum Beispiel aufwärts), um
die Probe 21 anzuregen, so daß sie Fluoreszenz-Röntgenstrahlen
5 emittiert und die Impulse in einer Anzahl erzeugt, die pro
portional zur Intensität der emittierten Fluoreszenz-Rönt
genstrahlen 5 pro Zeiteinheit ist.
Die Probe 21, die bei dieser Vorrichtung Anwendung findet,
ist ein trennmittelbeschichtetes Papier 21, das aus einem
Papier 21b besteht, das mit einer Schicht aus Silikon 21a
beschichtet ist. Die Meßeinheit 18 besteht aus einem Kopf 19,
der eine Röntgenröhre zur Emission der primären Röntgenstrahlen
3 und einen Detektor zur Erzeugung der Impulse in einer Anzahl
aufweist, die proportional zur Intensität der einfallenden
Fluoreszenz-Röntgenstrahlen 5 pro Zeiteinheit ist, bewegt sich
in die Breitenrichtung X des trennmittelbeschichteten Papiers
21 längs einer horizontalen Schiene 42 hin- und her, die am
Boden durch Füße 41 befestigt ist, mittels eines Schrittmotors
43 und eines Synchronriemens 44, der mit der Rotationswelle des
Schrittmotors 43 gekoppelt ist, die in die Schiene 42 eingebaut
sind, wie in einer Vorderansicht in Fig. 5 gezeigt. Mit anderen
Worten bewegen die Füße 41, die Schiene 42, der Schrittmotor 43
und der Synchronriemen 44 die Meßeinheit 18 in die Breitenrich
tung X (die horizontale Richtung) des trennmittelbeschichteten
Papiers 21 hin- und her, das senkrecht zur Längenrichtung Z
liegt, und steuern die Antriebseinrichtung 40. Die Meßeinheit
18 ist elektrisch mit einem Impulshöhenanalysator 13 und einen
später beschriebenen Frequenzteiler 26 durch Verwendung eines
flexiblen Bandkabels verbunden, um jedes Problem bei der Bewe
gung der Meßeinheit 18 zu vermeiden.
Die Meßeinheit 18 weist auch ein Paar von Reflexionsphoto
sensoren 50A und 50B als eine Probenkanten-Detektionseinrich
tung 50 zur Detektion der Kanten A und W des trennmittelbe
schichteten Papiers 21 auf. Diese Photosensoren 50A und 50B
sind an der Meßeinheit 18 längs der Breitenrichtung X des trenn
mittelbeschichteten Papiers 21 angebracht.
Auch weist die Vorrichtung in der dritten Ausführungsform,
wie in den ersten und zweiten Ausführungsformen beschrieben,
auf: einen Impulshöhenanalysator 13 zum Auswählen von durch die
Meßeinheit 18 erzeugten Impulse, die in einen festen Span
nungsbereich fallen; einen Teiler 14 zum Zählen des Zählwertes
der Impulse (d. h. zum Zählen der Anzahl der Impulse), die durch
den Impulshöhenanalysator 13 ausgewählt werden; und einen Zähl
zeit-Zähler 15 zur Messung der für den Teiler 14 erforderlichen
Zeit, um die ausgewählten Impulse zu zählen; und eine Korrektur-Berechnungseinrichtung
11 zum Auslesen des durch den Teiler
14 gegebenen Zählwertes und der durch den Zählzeit-Zähler 15
gemessenen Zählzeit und Korrigieren des Zählwertes beruhend auf
der Zählzeit als Reaktion auf das Auslesesignal von einem Fre
quenzteiler 26. Es ist jedoch zu beachten, daß der in der Vor
richtung in der dritten Ausführungsform eingesetzte Frequenz
teiler 26 das Auslesesignal für jeden festen Bewegungsbereich
in der Antriebseinrichtung 40 erzeugt. Der oben genannte feste
Bewegungsbereich beginnt von der Position der Meßeinheit 18,
wenn die Probenkanten-Detektionseinrichtung 50 die Kanten A und
W des trennmittelbeschichteten Papiers 21 in dessen Breiten
richtung X detektiert.
Die Vorrichtung der dritten Ausführungsform weist ferner
eine Beschichtungsgewicht-Berechnungseinrichtung 60 auf zur
Berechnung der Menge des beschichteten Silikons der Silikon
schicht 21a für jeden der festen Antriebsbereiche beruhend auf
dem Zählwert, der durch Korrektur-Berechnungseinrichtung 11
korrigiert worden ist.
Es wird nun die Arbeitsweise der Vorrichtung beschrieben.
Bezüglich dem trennmittelbeschichteten Papier 21, das nach oben
von einer unteren Position mit einer festen Geschwindigkeit
innerhalb des Bereichs von zum Beispiel 100 bis 600 m/min trans
portiert wird, wird die Meßeinheit 18 zuerst durch die
Antriebseinrichtung 40 von links nach rechts mit einer
Geschwindigkeit von zum Beispiel 20 mm/sec bewegt, und wenn die
linke Kante A des trennmittelbeschichteten Papiers 21 in den
Bereich zwischen den Reflexionsphotosensoren 50A und 50B ein
tritt, wie in Fig. 7 gezeigt, das heißt, wenn die Meßeinheit 18
(insbesondere die Mitte des lichtempfangenden Teils im Kopf 19)
zur der Position an der linken Kante A des trennmittelbeschich
teten Papiers 21 bewegt wird, setzt der Frequenzteiler 26 beruhend
auf einem Signal, das vom Reflexionsphotosensor-Aufbau 50
zugeführt wird, den Zählwert des Teilers 14 zurück bzw. auch
die Zählzeit des Zählzeit-Zählers 15 auf null.
Setzt man nun voraus, daß die Breite des Kopfes 19 20 mm in
die Richtung X beträgt, steht der Kopf 19 dem trennmittelbe
schichteten Papier in den Bereichen von 210 mm von den beiden
Kanten auf den linken und rechten Seiten während der Bewegung
nicht gegenüber, wie in Fig. 7 gezeigt, und es können keine
genauen Intensitäten erhalten werden. Folglich werden Seiten
abschnitte A-B und V-W des trennmittelbeschichteten Papiers 21
als unempfindliche Abschnitte behandelt und werden nicht für
die Messung verwendet (selbst wenn sie gemessen werden, werden
die Daten nicht verwendet). Der restlichen Abschnitt B bis V
des trennmittelbeschichteten Papiers 21, mit der Ausnahme sei
ner unempfindlichen Abschnitte A-B und V-W wird in mehrere
Abschnitte B-C, C-D, . . . . T-U und U-V von jeweils 20 mm Breite
unterteilt. Beginnend von der Position der Meßeinheit 18, wo
der Reflexionsphotosensor-Aufbau 50 die Kanten A oder W des
trennmittelbeschichteten Papiers 21 in dessen Breitenrichtung
X detektiert, erzeugt der Frequenzteiler 26 das Auslesesignal
für jeden vorbestimmten Bewegungsbereich in der Antriebsein
richtung 40, und die Länge dieses Bewegungsbereichs wird auf
20 mm gesetzt, welche dieselbe wie die Länge eines Abschnitts
des trennmittelbeschichteten Papiers 21 ist.
Folglich ist, wenn die Meßeinheit 18 an der Position des
linken Randes im Abschnitt B-C, das heißt einer in Fig. 8
gezeigten Begrenzung B nach der kontinuierlichen Bewegung der
Meßeinheit 18 ankommt, die Position für den Start der Messung
für den Abschnitt B-C. Wenn folglich die Meßeinheit 18 an einer
solchen Position ankommt, gibt der Frequenzteiler 26 das Aus
lesesignal an den Teiler 14 aus, um die Zählung der Anzahl der
Impulse zu beginnen, und auch der Zählzeit-Zähler 15 beginnt,
die Zählzeit beruhend auf einem Signal aus dem Rotationskodie
rer 30 zu messen, das anzeigt, daß der in die Schiene 42 ein
gebaute, in Fig. 5 gezeigte Schrittmotor 43 sich um einen
Gesamtwinkel gedreht hat, welcher der Strecke der 20 mm-Bewe
gung der Meßeinheit 18 entspricht, die gleich der Breite des
Abschnitts A-B von der linken Kante A des trennmittelbeschich
teten Papiers 21 ist.
Wenn die Meßeinheit 18 an der Position der rechten Kante
des Abschnitts B-C, das heißt einer in Fig. 9 gezeigten Begren
zung C nach einer weiteren kontinuierlichen Bewegung der Meß
einheit 18 ankommt, ist die Position das Ende der Messung für
den Abschnitt B-C und gleichzeitig der Beginn der Messung des
Abschnitts C-D. Folglich gibt, wenn die Meßeinheit 18 an einer
solchen Position ankommt, der Frequenzteiler 26 das Auslesesi
gnal an die Korrektur-Berechnungseinrichtung 11 beruhend auf
einem Signal aus dem Rotationskodierer 30 aus, das anzeigt, daß
der in die Schiene 42 eingebaute, in Fig. 5 gezeigte Schritt
motor 43 sich um einen Gesamtwinkel gedreht hat, welcher der
Strecke der 40 mm-Bewegung der Meßeinheit 18 entspricht, die
gleich der Breite der Abschnitte A-B und B-C von der linken
Kante A des trennmittelbeschichteten Papiers 21 ist. Der Teiler
14 setzt den Zählwert zurück, wenn der Zählwert ausgelesen wor
den ist, und beginnt die Zählung der Impulsanzahl erneut, und
der Zählzeit-Zähler 15 setzt die Zählzeit zurück, wenn die
Zählzeit ausgelsen worden ist, und beginnt die Messung der
Zählzeit erneut.
Dann liest die Korrektur-Berechnungseinrichtung 11 den
durch den Teiler 14 gegebenen Zählwert, das heißt die Anzahl
der Impulse, die durch die Meßeinheit 18 während ihrer Bewegung
über den in Fig. 9 gezeigten Abschnitt B-C erzeugt werden, und
die durch den Zählzeit-Zähler 15 (Fig. 5) gemessene Zählzeit
aus, das heißt die Zeit, die für die Meßeinheit 18 erforderlich
ist, um sich über den Abschnitt B-C als Reaktion auf das Aus
lesesignal aus dem Frequenzteiler 26 zu bewegen, und der
Zählwert wird für die Korrektur durch die Zählzeit geteilt.
Ebenfalls bestimmt die in Fig. 5 gezeigte Beschichtungsgewicht-
Berechnungseinrichtung 60 das Beschichtungsgewicht der Sili
konschicht 21a im Abschnitt B-C des trennmittelbeschichteten
Papier 21, indem sie spezifischerweise den korrigierten Zähl
wert in eine vorbestimmte Berechnungsgleichung einsetzt, beru
hend auf dem Zählwert, der so durch die in Fig. 5 gezeigte Kor
rektur-Berechnungseinrichtung 11 korrigiert worden ist. Es ist
jedoch zu beachten, daß die Dicke der Silikonschicht 21a auch
bestimmt werden kann, indem die vorbestimmte Berechnungsglei
chung geändert wird.
Indem die vorhergehende Prozedur wiederholt wird, wird das
Beschichtungsgewicht der Silikonschicht in jedem der Abschnitte
C-D, D-E, . . . . T-U und U-V bestimmt. Der Abschnitt V-W wird
als ein unempfindlicher Abschnitt behandelt und wird daher
nicht für die Messung verwendet, wie vorhergehend beschrieben,
und, wenn folglich die rechte Kante W des trennmittelbeschich
teten Papiers 21 in den Bereich zwischen den Reflexionsphoto
sensoren 50A und 50B eintritt, wird die Bewegungsrichtung der
Meßeinheit 18 durch die in Fig. 5 gezeigte Antriebseinrichtung
40 von der Richtung nach rechts zur Richtung nach links als
Reaktion auf ein Signal vom Reflexionsphotosensor-Aufbau 50
umgekehrt.
Folglich wird das Beschichtungsgewicht der Silikonschicht
21a in der umgekehrten Reihenfolge von den Abschnitten U-V, T-
U, . . . . C-D und B-C in einer Weise bestimmt, die ähnlich zu
jener während der Bewegung der Meßeinheit 18 nach rechts ist,
wenn die Meßeinheit 18 nach links bewegt wird. Der Abschnitt A-
B wird als ein unempfindlicher Abschnitt behandelt und wird
daher nicht für die Messung verwendet, wie vorhergehend
beschrieben, und wenn folglich die linke Kante A des trennmit
telbeschichteten Papiers 21 in den Bereich zwischen den Refle
xionsphotosensoren 50A und 50B eintritt, wird die Bewegungs
richtung der Meßeinheit 18 durch die in Fig. 5 gezeigte
Antriebseinrichtung 40 erneut von der Richtung nach links zur
Richtung nach rechts als Reaktion auf ein Signal vom Reflexi
onsphotosensor-Aufbau 50 umgekehrt.
Folglich wird durch Fortsetzen der Hin- und Herbewegung der
Meßeinheit 18 in die Breitenrichtung des trennmittelbeschich
teten Papiers 21, das Beschichtungsgewicht der Silikonschicht
21a für jeden festen Bewegungsbereich, das heißt für jeden
Abschnitt des trennmittelbeschichteten Papier 21 bestimmt,
indem die in Fig. 5 gezeigte Antriebseinrichtung 40 von den lin
ken und rechten Kanten A und W des trennmittelbeschichteten
Papiers 21 startet. Es ist zu beachten, daß die Korrektur des
Zählwertes und die Berechnung, um das Beschichtungsgewicht der
Silikonschicht 21a zu bestimmen, nicht zu jeder Zeit ausgeführt
werden kann, wenn die Meßeinheit 18 sich um eine Strecke bewegt,
die jedem Abschnitt entspricht, jedoch zusammen später ausge
führt werden kann. Es ist auch zu beachten, daß die Abschnitte
des trennmittelbeschichteten Papiers 21 nicht dieselbe Breite
haben können.
Wie im vorhergehenden beschrieben, korrigiert bei der Vor
richtung dieser Ausführungsform die in Fig. 5 gezeigte Korrek
tur-Berechnungseinrichtung 11 den Zählwert der durch die Meß
einheit 18 erzeugten Impulse beruhend auf der Zählzeit, welche
die Zeit ist, die für die Meßeinheit 18 erforderlich ist, um
sich für jeden der Bewegungsbereiche von einer Kante A zur
gegenüberliegenden Kante W des trennmittelbeschichteten
Papiers 21 in dessen Breitenrichtung zu bewegen. Wenn folglich
die Länge des Bewegungsintervalls auf einen Wert eingestellt
wird, der gleich der Länge jedes der Abschnitte ist, in die das
trennmittelbeschichtete Papier 21 in dessen Breitenrichtung X
unterteilt ist, kann das Beschichtungsgewicht der Silikon
schicht 21a schnell und genau für jeden Abschnitt des trennmit
telbeschichteten Papiers 21 bestimmt werden, ohne die Abwei
chung, die entsprechend dem Beschichtungsgewicht der Silikon
schicht 21a auftritt, die für jeden Bewegungsbereich mit dem
Abschnitt des trennmittelbeschichteten Papiers 21 bestimmt
wird, selbst wenn die Geschwindigkeit bei einer hohen Bewe
gungsgeschwindigkeit der Meßeinheit 18 variiert. Folglich ist
die schnelle und genaue Analyse mit der kontinuierlichen Abta
stung in der Fluoreszenz-Röntgenanalyse möglich.
Wenn die Position des sich bewegenden Teils beruhend auf
der Bewegung der Zeit von einer Kante der Probe geschätzt wird,
wie in der oben beschriebenen herkömmlichen Technik verwendet,
wird die geschätzte Position von der tatsächlichen Position
abweichen, da die Geschwindigkeit der Bewegung nicht konstant
ist. Folglich kann es vorkommen, daß in einem Abschnitt, wel
cher der unempfindlichen Region benachbart ist und unge
wöhnliche gemessene Daten, die sich von der festen Bewegungs
zeit unterschieden, erhalten werden können und solche unge
wöhnlichen gemessenen Daten ungenau sind und nicht zusammen mit
den Meßdaten in der unempfindlichen Region übernommen werden
können, was zu einer Zunahme unbrauchbarer Messung führt. Im
Gegensatz dazu wird bei der Vorrichtung dieser Ausführungsform
der Zählwert der durch die Meßeinheit 18 erzeugten Impulse
beruhend auf der Zählzeit korrigiert, welche die Zeit ist, die
für die Meßeinheit 18 erforderlich ist, um sich für jedes Bewegungsintervall
von jeder Kanten A und W des trennmittelbe
schichteten Papier 21 in dessen Breitenrichtung X zu bewegen.
Daher werden keine ungewöhnlichen Meßdaten, wie oben beschrie
ben, nicht ohne eine unbrauchbare Messung erzeugt, wenn die
Länge des Bewegungsintervalls auf einen Wert gesetzt wird, der
gleich der Länge jedes Abschnitts des trennmittelbeschichteten
Papiers 21 ist.
Ferner kann die Vorrichtung dieser Ausführungsform zufrie
denstellend auf die Probe 21 aus zum Beispiel einem Magnetband
21 angewendet werden, das in Fig. 6 gezeigt wird. Das Magnetband
21 ist ein Plastikfilm, der aus PET (Polyethylenterephtalat)
besteht, und ein magnetisches Material 21a aus Fe und ein
(nicht gezeigten, auf dieselbe Seite wie 21a des Plastikfilms
21b beschichteten) magnetisches Material 21c aus FeCo werden
beschichtet (gestrichen oder im Vakuum aufgedampft), und sie kann auch
bei mehreren Schichten angewendet werden, deren Beschichtungs
gewicht oder Dicke für jede Schicht bestimmt werden soll, und
diese sind eine Fe-beschichtete Schicht 21 und eine FeCo-Schicht
21c. In einem solchen Fall, werden die Intensitäten der Fluo
reszenz-Röntgenstrahlen 5, die jeweils von Fe und Co emittiert
werden, in einer Weise gemessen, die ähnlich zu der vorherge
hend beschriebenen ist, und das Beschichtungsgewicht oder die
Dicke jeder der Schichten 21a und 21c wird bestimmt. Auch kann
das Magnetband, das transportiert wird, beide Kantenabschnitte
in seine Breitenrichtung aufweisen, auf die weder die magneti
sche Schicht 21a noch die magnetische Schicht 21c beschichtet
ist, und auf welcher der PET-Film freiliegt, und folglich wer
den diese beiden Kantenabschnitte des Magnetbandes nicht in die
zu analysierende Probe durch die Vorrichtung in der vorliegen
den Erfindung eingeschlossen. Mit anderen Worten ist die Kante
des Magnetbandes 21 indessen Breitenrichtung, wo das Magnetband
21 durch die Reflexionsphotosensoren 50A und 50B detek
tiert wird, die Kante des Magnetbandes 21, wo die ersten und
zweiten magnetischen Schichten 21a und 21c beschichtet sind.
Auch kann die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung auf
die Probe angewendet werden, wobei die gesamte Probe transpa
rent ist, wie ein Dichtungsfilm, der aus einem Plastikfilm aus
zum Beispiel PET besteht, auf dem SiO2 und Al2O3 beschichtet
sind (vakuumbedampft). In einem solchen Fall können die Kanten
der Probe in deren Breitenrichtung detektiert werden, indem ein
Ultraschallsensor anstelle der vorhergehend beschriebenen
Reflexionsphotosensoren verwendet wird.
Obwohl die vorliegende Erfindung vollständig in Verbindung
mit deren bevorzugten Ausführungsformen unter Bezugnahme auf
die beigefügten Zeichnungen beschrieben worden ist, die nur zum
Zweck der Veranschaulichung verwendet werden, werden Fachleute
ohne weiteres sich zahlreiche Änderungen und Modifikationen
innerhalb des Rahmens der Offensichtlichkeit auf das Lesen der
hierin präsentierten Beschreibung der vorliegenden Erfindung
hin ausdenken. Folglich sind solche Änderungen und Modifikatio
nen, außer sich weichen vom Rahmen der vorliegenden Erfindung
ab, wie er durch die hierzu beigefügten Ansprüche geliefert
wird, als darin eingeschlossen aufzufassen.
Claims (7)
1. Röntgenfluoreszenz-Spektrometer, das aufweist:
einen Probenhalter, um darauf eine zu analysierende Probe zu halten;
eine Röntgenquelle zur Bestrahlung der Probe mit primären Röntgenstrahlen, um die Probe anzuregen, Fluoreszenz-Rönt genstrahlen daraus zu emittieren;
einen Spektralapparat zum Monochromatisieren der von der Probe emittierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen;
einen Detektor, der angepaßt ist, die Fluoreszenz-Rönt genstrahlen zu detektieren, die durch den Spektralapparat monochromatisiert worden sind, und um Impulse einer Span nung, die proportional zu einer Energie der Fluoreszenz- Röntgenstrahlen ist, in einer Anzahl zu erzeugen, die pro portional zu einer Intensität der Fluoreszenz-Rönt genstrahlen ist;
eine Koppelungseinrichtung zur Kopplung des Antriebs des Spektralapparats und des Detektors, um die Probe und den Detektor kontinuierlich abzutasten, indem bewirkt wird, daß die monochromatisierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen auf den Detektor gestrahlt werden, während eine Wellenlänge der durch den Spektralapparat monochromatisierten Fluoreszenz- Röntgenstrahlen variiert;
einen Impulshöhenanalysator zum Auswählen der durch den Detektor erzeugten Impulse, die in einen vorbestimmten Spannungsbereich fallen;
einen Teiler zum Bestimmen eines Zählwertes der durch den Impulshöhenanalysator ausgewählten Impulse;
einen Zählzeit-Zähler zur Messung einer Zählzeit, die für den Teiler erforderlich ist, um den Zählwert der Impulse zu bestimmen;
einen Frequenzteiler zur Erzeugung eines Auslesesignals für jedes von vorbestimmten Abtastintervallen in der Koppe lungseinrichtung; und
eine Korrektur-Berechnungseinrichtung, die als Reaktion auf das Auslesesignal aus dem Frequenzteiler betriebsfähig ist, um den durch den Teiler bestimmten Zählwert der Impulse und die durch den Zählzeit-Zähler gemessene Zähl zeit auszulesen, um den Zählwert der Impulse beruhend auf der Zählzeit zu korrigieren.
einen Probenhalter, um darauf eine zu analysierende Probe zu halten;
eine Röntgenquelle zur Bestrahlung der Probe mit primären Röntgenstrahlen, um die Probe anzuregen, Fluoreszenz-Rönt genstrahlen daraus zu emittieren;
einen Spektralapparat zum Monochromatisieren der von der Probe emittierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen;
einen Detektor, der angepaßt ist, die Fluoreszenz-Rönt genstrahlen zu detektieren, die durch den Spektralapparat monochromatisiert worden sind, und um Impulse einer Span nung, die proportional zu einer Energie der Fluoreszenz- Röntgenstrahlen ist, in einer Anzahl zu erzeugen, die pro portional zu einer Intensität der Fluoreszenz-Rönt genstrahlen ist;
eine Koppelungseinrichtung zur Kopplung des Antriebs des Spektralapparats und des Detektors, um die Probe und den Detektor kontinuierlich abzutasten, indem bewirkt wird, daß die monochromatisierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen auf den Detektor gestrahlt werden, während eine Wellenlänge der durch den Spektralapparat monochromatisierten Fluoreszenz- Röntgenstrahlen variiert;
einen Impulshöhenanalysator zum Auswählen der durch den Detektor erzeugten Impulse, die in einen vorbestimmten Spannungsbereich fallen;
einen Teiler zum Bestimmen eines Zählwertes der durch den Impulshöhenanalysator ausgewählten Impulse;
einen Zählzeit-Zähler zur Messung einer Zählzeit, die für den Teiler erforderlich ist, um den Zählwert der Impulse zu bestimmen;
einen Frequenzteiler zur Erzeugung eines Auslesesignals für jedes von vorbestimmten Abtastintervallen in der Koppe lungseinrichtung; und
eine Korrektur-Berechnungseinrichtung, die als Reaktion auf das Auslesesignal aus dem Frequenzteiler betriebsfähig ist, um den durch den Teiler bestimmten Zählwert der Impulse und die durch den Zählzeit-Zähler gemessene Zähl zeit auszulesen, um den Zählwert der Impulse beruhend auf der Zählzeit zu korrigieren.
2. Röntgen-Diffraktometer, das aufweist:
einen Probenhalter, um darauf eine zu analysierende Probe zu halten;
eine Röntgenquelle zur Bestrahlung der Probe mit einfallen den Röntgenstrahlen;
einen Detektor, der angepaßt ist, Röntgenstrahlen zu detek tieren, die durch die Probe gebeugt worden sind, und um Impulse einer Spannung, die proportional zu einer Energie der gebeugten Röntgenstrahlen ist, in einer Anzahl zu erzeugen, die proportional zu einer Intensität der gebeug ten Röntgenstrahlen ist;
eine Koppelungseinrichtung zur Kopplung des Antriebs des Probenhalters und des Detektors, um die Probe und den Detektor vorzugsweise durch Drehen des Probenhalters kon tinuierlich abzutasten, um zu bewirken, daß die gebeugten Röntgenstrahlen auf den Detektor gestrahlt werden;
einen Impulshöhenanalysator zum Auswählen der durch den Detektor erzeugten Impulse, die in einen vorbestimmten Spannungsbereich fallen;
einen Teiler zum Bestimmen eines Zählwertes der durch den Impulshöhenanalysator ausgewählten Impulse;
einen Zählzeit-Zähler zur Messung einer Zählzeit, die für den Teiler erforderlich ist, um den Zählwert der Impulse zu bestimmen;
einen Frequenzteiler zur Erzeugung eines Auslesesignals für jedes der vorbestimmten Abtastintervalle in der Koppelungs einrichtung; und
eine Korrektur-Berechnungseinrichtung, die als Reaktion auf das Auslesesignal aus dem Frequenzteiler betriebsfähig ist, um den durch den Teiler bestimmten Zählwert der Impulse und die durch den Zählzeit-Zähler gemessene Zähl zeit auszulesen, um den Zählwert der Impulse beruhend auf der Zählzeit zu korrigieren.
einen Probenhalter, um darauf eine zu analysierende Probe zu halten;
eine Röntgenquelle zur Bestrahlung der Probe mit einfallen den Röntgenstrahlen;
einen Detektor, der angepaßt ist, Röntgenstrahlen zu detek tieren, die durch die Probe gebeugt worden sind, und um Impulse einer Spannung, die proportional zu einer Energie der gebeugten Röntgenstrahlen ist, in einer Anzahl zu erzeugen, die proportional zu einer Intensität der gebeug ten Röntgenstrahlen ist;
eine Koppelungseinrichtung zur Kopplung des Antriebs des Probenhalters und des Detektors, um die Probe und den Detektor vorzugsweise durch Drehen des Probenhalters kon tinuierlich abzutasten, um zu bewirken, daß die gebeugten Röntgenstrahlen auf den Detektor gestrahlt werden;
einen Impulshöhenanalysator zum Auswählen der durch den Detektor erzeugten Impulse, die in einen vorbestimmten Spannungsbereich fallen;
einen Teiler zum Bestimmen eines Zählwertes der durch den Impulshöhenanalysator ausgewählten Impulse;
einen Zählzeit-Zähler zur Messung einer Zählzeit, die für den Teiler erforderlich ist, um den Zählwert der Impulse zu bestimmen;
einen Frequenzteiler zur Erzeugung eines Auslesesignals für jedes der vorbestimmten Abtastintervalle in der Koppelungs einrichtung; und
eine Korrektur-Berechnungseinrichtung, die als Reaktion auf das Auslesesignal aus dem Frequenzteiler betriebsfähig ist, um den durch den Teiler bestimmten Zählwert der Impulse und die durch den Zählzeit-Zähler gemessene Zähl zeit auszulesen, um den Zählwert der Impulse beruhend auf der Zählzeit zu korrigieren.
3. Röntgen-Diffraktometer nach Anspruch 1 oder 2, wobei die
Koppelungseinrichtung einen Rotationskodierer aufweist und
wobei der Frequenzteiler das Auslesesignal beruhend auf
einem Signal erzeugt, das vom Rotationskodierer in die Kop
pelungseinrichtung eingespeist wird.
4. Röntgenfluoreszenz-Spektrometer, das aufweist:
eine Meßeinheit zur Bestrahlung einer bandförmigen Probe mit primären Röntgenstrahlen, die aus mehreren Schichten besteht und in eine Längsrichtung derselben transportiert wird, um die Probe anzuregen, Fluoreszenz-Röntgenstrahlen zu emittieren, und zur Erzeugung von Impulsen in einer Anzahl, die proportional zu einer Intensität der von der Probe emittierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen ist;
eine Antriebseinrichtung zum Hin- und Herbewegen der Meßeinheit in eine Breitenrichtung der Probe, die senkrecht zur Längenrichtung der Probe liegt;
eine an der Meßeinheit angebrachte Probenkanten-Detekti onseinrichtung zur Detektion beider Kanten der Probe in deren Breitenrichtung;
einen Impulshöhenanalysator zum Auswählen der durch die Meßeinheit erzeugten Impulse, die in einen vorbestimmten Spannungsbereich fallen;
einen Teiler zum Bestimmen eines Zählwertes der durch den Impulshöhenanalysator ausgewählten Impulse;
einen Zählzeit-Zähler zur Messung einer Zählzeit, die für den Teiler erforderlich ist, um den Zählwert der Impulse zu bestimmen;
einen Frequenzteiler zur Erzeugung eines Auslesesignals für jeden von festen sich bewegenden Bereichen in der Antriebs einrichtung, beginnend von einer Position, wo die Proben kanten-Detektionseinrichtung eine der beiden Kanten der Probe in deren Breitenrichtung detektiert;
eine Korrektur-Berechnungseinrichtung, die als Reaktion auf das Auslesesignal aus dem Frequenzteiler betriebsfähig ist, um den durch den Teiler bestimmten Zählwert der Impulse und die durch den Zählzeit-Zähler gemessene Zähl zeit auszulesen, um den Zählwert der Impulse beruhend auf der Zählzeit zu korrigieren; und
eine Beschichtungsgewicht-Berechnungseinrichtung zum Bestimmen eines Beschichtungsgewichtes oder einer Dicke von mindestens einer der mehreren Schichten für jeden der vor bestimmten, sich bewegenden Bereiche beruhend auf dem durch die Korrektur-Berechnungseinrichtung korrigierten Zähl wert.
eine Meßeinheit zur Bestrahlung einer bandförmigen Probe mit primären Röntgenstrahlen, die aus mehreren Schichten besteht und in eine Längsrichtung derselben transportiert wird, um die Probe anzuregen, Fluoreszenz-Röntgenstrahlen zu emittieren, und zur Erzeugung von Impulsen in einer Anzahl, die proportional zu einer Intensität der von der Probe emittierten Fluoreszenz-Röntgenstrahlen ist;
eine Antriebseinrichtung zum Hin- und Herbewegen der Meßeinheit in eine Breitenrichtung der Probe, die senkrecht zur Längenrichtung der Probe liegt;
eine an der Meßeinheit angebrachte Probenkanten-Detekti onseinrichtung zur Detektion beider Kanten der Probe in deren Breitenrichtung;
einen Impulshöhenanalysator zum Auswählen der durch die Meßeinheit erzeugten Impulse, die in einen vorbestimmten Spannungsbereich fallen;
einen Teiler zum Bestimmen eines Zählwertes der durch den Impulshöhenanalysator ausgewählten Impulse;
einen Zählzeit-Zähler zur Messung einer Zählzeit, die für den Teiler erforderlich ist, um den Zählwert der Impulse zu bestimmen;
einen Frequenzteiler zur Erzeugung eines Auslesesignals für jeden von festen sich bewegenden Bereichen in der Antriebs einrichtung, beginnend von einer Position, wo die Proben kanten-Detektionseinrichtung eine der beiden Kanten der Probe in deren Breitenrichtung detektiert;
eine Korrektur-Berechnungseinrichtung, die als Reaktion auf das Auslesesignal aus dem Frequenzteiler betriebsfähig ist, um den durch den Teiler bestimmten Zählwert der Impulse und die durch den Zählzeit-Zähler gemessene Zähl zeit auszulesen, um den Zählwert der Impulse beruhend auf der Zählzeit zu korrigieren; und
eine Beschichtungsgewicht-Berechnungseinrichtung zum Bestimmen eines Beschichtungsgewichtes oder einer Dicke von mindestens einer der mehreren Schichten für jeden der vor bestimmten, sich bewegenden Bereiche beruhend auf dem durch die Korrektur-Berechnungseinrichtung korrigierten Zähl wert.
5. Röntgenfluoreszenz-Spektrometer nach Anspruch 4, wobei die
Antriebseinrichtung einen Rotationskodierer aufweist und
wobei der Frequenzteiler das Auslesesignal beruhend auf
einem Signal erzeugt, das vom Rotationskodierer in die
Antriebseinrichtung eingespeist wird.
6. Röntgenfluoreszenz-Spektrometer nach Anspruch 1, 2, 3, 4
oder 5, wobei die Probe ein trennmittelbeschichtetes Papier
ist, das ein Papier aufweist, auf dem Silikon beschichtet
ist, und wobei die eine der mehreren Schichten, deren
Beschichtungsgewicht oder Dicke bestimmt wird, eine Schicht
aus aufgetragenem Silikon ist.
7. Röntgenfluoreszenz-Spektrometer nach einem der Ansprüche 1
bis 6, wobei die Probe ein Magnetband ist, das einen Kunst
stofffilm aufweist, der mit einem magnetischen Material
beschichtet ist, und wobei die eine der mehreren Schichten,
deren Beschichtungsgewicht oder Dicke bestimmt wird, eine
Schicht des aufgetragenen magnetischen Materials ist.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28141899A JP3443047B2 (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | X線分析装置 |
JP11-281418 | 1999-10-01 | ||
JP2000214278A JP3429479B2 (ja) | 2000-07-14 | 2000-07-14 | 蛍光x線分析装置 |
JP2000-214278 | 2000-07-14 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10048398A1 true DE10048398A1 (de) | 2001-05-23 |
DE10048398B4 DE10048398B4 (de) | 2006-09-21 |
Family
ID=26554177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10048398A Expired - Fee Related DE10048398B4 (de) | 1999-10-01 | 2000-09-29 | Kontinuierlich abtastender Röntgenanalysator mit verbesserter Verfügbarkeit und Genauigkeit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6404847B1 (de) |
DE (1) | DE10048398B4 (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7239399B2 (en) * | 2001-11-13 | 2007-07-03 | Cyberoptics Corporation | Pick and place machine with component placement inspection |
US7813559B2 (en) * | 2001-11-13 | 2010-10-12 | Cyberoptics Corporation | Image analysis for pick and place machines with in situ component placement inspection |
US20060153332A1 (en) * | 2003-03-27 | 2006-07-13 | Hisayuki Kohno | X-ray fluorescence analyzer |
US7559134B2 (en) * | 2003-11-04 | 2009-07-14 | Cyberoptics Corporation | Pick and place machine with improved component placement inspection |
US7706595B2 (en) | 2003-11-07 | 2010-04-27 | Cyberoptics Corporation | Pick and place machine with workpiece motion inspection |
US20060075631A1 (en) * | 2004-10-05 | 2006-04-13 | Case Steven K | Pick and place machine with improved component pick up inspection |
US20070003126A1 (en) * | 2005-05-19 | 2007-01-04 | Case Steven K | Method and apparatus for evaluating a component pick action in an electronics assembly machine |
JP2009514234A (ja) * | 2005-10-31 | 2009-04-02 | サイバーオプティクス コーポレーション | 組み込み型半田ペースト検査を備える電子アセンブリマシン |
JP4801999B2 (ja) * | 2006-01-23 | 2011-10-26 | 日本電子株式会社 | 測定データ管理方法、測定データ構造、スペクトル再生方法及び表面分析装置 |
US7848483B2 (en) * | 2008-03-07 | 2010-12-07 | Rigaku Innovative Technologies | Magnesium silicide-based multilayer x-ray fluorescence analyzers |
JP5076012B1 (ja) | 2011-05-20 | 2012-11-21 | 株式会社リガク | 波長分散型蛍光x線分析装置 |
WO2015031675A1 (en) * | 2013-08-28 | 2015-03-05 | The Regents Of The University Of California | Nanoparticle assisted scanning focusing x-ray fluorescence imaging and enhanced treatment |
EP3143385B1 (de) * | 2014-05-14 | 2020-12-09 | Roche Diabetes Care GmbH | Verfahren zur überwachung einer produkteigenschaft eines wegwerfbaren diagnostischen testprodukts |
JP6808693B2 (ja) * | 2018-08-16 | 2021-01-06 | 日本電子株式会社 | X線分析装置および計数率の補正方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4317036A (en) * | 1980-03-11 | 1982-02-23 | Wang Chia Gee | Scanning X-ray microscope |
DE3125803A1 (de) * | 1981-06-30 | 1983-01-13 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Kristall-roentgen-sequenzspektrometer |
US4777610A (en) * | 1986-01-23 | 1988-10-11 | Amp Incorporated | Thickness monitor |
DE69327609T2 (de) * | 1992-04-15 | 2000-08-10 | Koninkl Philips Electronics Nv | Röntgenanalysegerät mit Impulsamplitudenverschiebungskorrektur |
JP3367478B2 (ja) * | 1999-07-29 | 2003-01-14 | 株式会社島津製作所 | 蛍光x線分析装置 |
-
2000
- 2000-09-29 US US09/672,773 patent/US6404847B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-29 DE DE10048398A patent/DE10048398B4/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10048398B4 (de) | 2006-09-21 |
US6404847B1 (en) | 2002-06-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: RIGAKU CORP., AKISHIMA-SHI, TOKYO, JP |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |