DE2537343A1

DE2537343A1 - Densitometrieverfahren und densitometer zur durchfuehrung des verfahrens

Info

Publication number: DE2537343A1
Application number: DE19752537343
Authority: DE
Inventors: Yasunori Ito; Kiyokazu Nakano; Hiroshi Yamamoto
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1974-08-29
Filing date: 1975-08-21
Publication date: 1976-03-11
Also published as: CA1064727A; AU8405375A; NL7510262A; JPS5126595A; SE7509162L; SE422626B; JPS5437834B2; DE2537343B2; GB1517579A; US4013364A; DE2537343C3; CH590471A5

Description

Shimadzu Seisakusho Ltd., Kyoto, Japan

Densitometrieverfahren und Densitometer zur Durchführung des Verfahrens

Die Erfindung betrifft ein Densitometrieverfahren und einen Densitometer zur Durchführung des Verfahrens, wobei die densitometrisehe Messung an einer Meßprobe, beispielsweise einem Meßfleck, der auf einer Unterlage in der Dünnschicht-Chromatographietechnik und dergleichen entwickelt worden ist, durch eine Zickzack« oder hin- und hergehende Abtastung des Heßflecks mit einem Lichtstrahl durchgeführt wird. Insbesondere betrifft die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung der oben genannten Art zur Korrektur der Grundlinie bei solchen Messungen.

Es sind bereits verschiedene Verfahren vorgeschlagen worden, um Meßflecken, die auf einer Dünnschichtplatte oder einer Papierunterlage in der DünnschichtChromatographie oder Papierchromatographie entwickelt und abgetrennt worden sind, quantitativ zu messen. Um einen Meßfehler oder eine Meßungenauigkeit zu eliminieren, die durch die Nicht-Gleichförmigktit der Form, Größe, Position oder den diffusen Zustand der verschiedenen Meßflecken verursacht werden, zu eliminieren, wurde ein

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Verfahren vorgeschlagen, durch das ein Dünnschichtchromatographiemeßfleck in einem Zickzackmuster durch einen Lichtstrahl abgetastet wird, der einen kleinen Querschnitt im Vergleich zu der Fläche des Meßflecks hat. Das Licht von dem Meßfleck wird gemessen, um ein entsprechendes Signal zu erzeugen, so daß das Profil der Dichteverteilung der Substanz, die in dem Meßfleck enthalten ist, abgeleitet wird, oder die Quantität der Substanz wird durch Integrieren des Signals bestimmt.

Die Zickzackabtastung hat erfolgreich die Probleme gelöst, die von der Nicht-Gleichförmigkeit der Größe, Form und Position oder dem .diffusen Zustand der Meßflecken herrühren, sie hat jedoch die Probleme nicht gelöst, die durch den "Hintergrund", beispielsweise die Trägerplatte selbst oder das zum Entwickeln der Meßflecken verwendete Lösungsmittel, verursacht werden. Wenn beispielsweise eine Verunreinigung in der Trägerplatte enthalten ist oder, wenn das Entwicklungslösungsmittel während der Entwicklung ausgespült wird, um den Hintergrund der abgetrennten Meßflecken zu färben, treten Schwankungen in der Grundlinie des Ausgangs-Meßsignales auf, so daß sich entsprechende Fehler in den Meßwerten ergeben.

Wenn es keine spezielle Wellenlänge gibt, die die Meßsubstanz absorbiert, wird die Meßsubstanz gewöhnlich mit einem geeigneten Farbmittel angefärbt, das gelegentlich auch unnötigerweise außer den abgetrennten Meßflecken auch den Hintergrund anfärbt, so daß das Ausgangs-Meßsignal einen erheblichen Anteil enthält, der durch den Hintergrund verursacht wird, so daß sich wiederum eine Ungenauigkeit in der Messung ergibt.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Densitometrieverfahren und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens anzugeben, bei dem die Grundlinie in einem Densitometer korrigiert wird. Diese Grundlinie kann in einem Densitometer in der Richtung, in der die Meßprobe entwickelt wird, variieren oder Fluktuationen aufweisen. Die Korrektur der Grundlinie soll insbesondere bei einem solchen Densitometer durchgeführt

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werden, der eine Meßprobe in einem Zickzackmuster mit einem dünnen Lichtstrahl abtastet.

Die Lösung dieser Aufgabe ist in dem ersten Verfahrensanspruch bzw. in dem ersten Vorrichtungsanspruch angegeben, wobei vor» teilhafte Ausgestaltungen der Erfindung in den Unteransprüchen charakterisiert sind.

Es ist vorteilhaft, daß bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die Hintergrundkomponente aus dem Ausgangs-Meßsignal eliminiert wird, die durch eine Verunreinigung der Dünnschichtchromatographie-Trägerplatte durch Verunreinigungen oder andere Einflüsse außer denen der Meßprobenkomponenten verursacht werden. Ferner kann bei dem erfindungsgemäßen Verfahren in vorteilhafter Weise das Spektrum eines auf einer Dünnschichtchromatographieplatte entwickelten Heßflecks selbst dann genau gemessen werden, wenn die Absorption des Abtastlichtes durch die Platte oder das Lösungsmittel selbst sich mit seiner Wellenlänge ändert, so daß Fluktuationen in der Grundlinie auftreten.

Bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung wird eine relative Zickzackbewegung zwischen dem Abtaststrahl und einer Meßprobe bewirkt. An einem vorbestimmten Punkt außerhalb eines vorbestimmten Bereiches in jedem Abtasthub der relativen Zickzackbewegung wird der Meßwert des Lichtes, das von dem einen abgetrennten Meßfleck auf der Platte umgebenden Hintergrund kommt, gemessen und gehalten, so daß er als Grundlinie für das Ausgangs-Meßsignal in dem vorbestimmten Bereich in diesem oder dem nachfolgenden Abtasthub der Zickzackbewegung dient. Dies bedeutet, daß ein gemessener Lichtwert an einem Punkt außerhalb des genannten Bereiches in einem Abtasthub der Zickzackbewegung von dem gemessenen Lichtwert innerhalb des Bereiches in diesem oder dem nachfolgenden Abtasthub der Zickzackbewegung subtrahiert wird, so daß das Ausgangs-Meßsignal in Bezug auf einen Fehler kompensiert wird, der durch die Absorption des Hintergrundes des gerade gemessenen Meßflecks verursacht wird.

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Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es möglich, Fluktuationen in der Grundlinie zu kompensieren, die durch die Bewegung des Abtastlichtstrahles in der Richtung der Ganghöhe der Zickzack-Abtast bewegung relativ zu dem abgetasteten Meßfleck verursacht werden. Auch Fluktuationen in der Grundlinie, die durch die Wellenlängenabtastung des Abtastlichtstrahles verursacht werden, der einfach über den Meßfleck hin- und herbewegt wird, ohne eine Zickzackbewegung auszuführen, können kompensiert werden.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun anhand der beiliegenden Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:

Fig. 1 a eine schematische Darstellung des bereits vorgeschlagenen Verfahrens zur Zickzackabtastung eines Meßflecks auf einer Dünnschichtchromatographieplatte, die eine erhebliche Hintergründeabsorption für das Abtastlicht aufweist;

Fig. 1 b eine Profilkurve des Ausgangsmeßsignales, das durch die Zickzackabtastung erhalten wird, wie sie schematisch in Fig. 1 a dargestellt ist}

Fig. 1 c eine Integrationskurve des Ausgangs-Meßsignales von Fig. 1b;

Fig. 2 a eine schematische Darstellung des ZickzackabtastVerfahrens gemäß der Erfindung mit Grundlinienkorrektur bei einem Meßfleck ähnlich wie dem in Fig. 1 a;

Fig. 2 b eine Profilkurve des Ausgangsmeßsignales, das durch die Zickzackabtastung von Fig. 2 a erhalten wird;

Fig. 2 c eine Integrationskurve des Ausgangsmeßsignales von Fig. 2b;

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Fig. 3 eine schematische Darstellung von einem Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäß aufgebauten Schaltung
zur Grundlinienkorrektur;

Fig. 4 a eine schematische Darstellung eines Verfahrens mit

hin- und hergehender Abtastung eines Dünnschichtehromatographie-Meßfleckes allein in der Y-Richtung, wobei die Wellenlänge des Abtastlichtstrahles in verschiedenen Abtasthüben der hin- und hergehenden Bewegung des Lichtstrahles geändert wird;

Fig« 4 b ,eine Kurve des Ausgangs-Meßsignales, das durch das

Verfahren von Fig. 4 a mit hin- und hergehender Abtastung ohne Grundlinienkorrektur erhalten wird;

Fig. 4 c eine Kurve ähnlich Fig. 4 b, wobei die Grundlinie erfindungsgemäß korrigiert ist;

Fig. 5 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Densitometers;

Fig. 6 a eine Draufsicht von oben auf eine Einrichtung, um die Zickzackbewegung der Dünnschichtchromatographieplatte gegenüber dem Abtastlichtstrahl zu bewirken, wobei
ein Detektor für die Abtaststrahlposition an der Einrichtung befestigt ist;

Fig. 6 b eine Draufsicht in Richtung des Pfeiles B von Fig. 6 a; Fig. 6 c eine Draufsicht in Richtung des Pfeiles C in Fig. 6 a;

Fig. 6 d eine Seitenansicht in Richtung des Pfeiles D in
Fig. 6 c;

Fig. 7 a einen vergrößerten vertikalen Schnitt entlang der Linie E - E in Fig. 6 a, wobei das Detail des Detektors für die Abtaststrahlposition dargestellt ist;

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l'ig. 7 b einen Schnitt entlang der Linie F - F von Fig. 7 a; Fig. 7 c eine Seitenansicht eines Teiles von Fig. 7 a;

Fig. 8 ein schematisches Blockdiagramm eines anderen Ausführungsbeispieles der erfindungsgemäßen Schaltung zur Grundlinienkorrekturj

Fig. 9 Wellenformen zur Erläuterung der Arbeitsweise der Schaltung zur Erzeugung des Meß-Befehlssignales, die in Fig. 8 vorgesehen ist;

Fig. 10a die Beziehung zwischen der Zickzackabtastung eines Dünnschichtchromatographie-Meßflecks, der Messung des Grundlinien-Ausgangssignals und des Integrationsbereiches des Ausgangs-Meßsignals in dem Zickzack-Abtastverfahren gemäß der Erfindung;

Fig. 10 b eine Profilkurve, die nach dem Verfahren von Fig. 10 a abgeleitet ist; und

Fig. 10 c eine Integrationskurve, die nach dem Verfahren von Fig. 10 a abgeleitet ist.

In den Fig. 1 a und 2 a ist schematisch ein Meßfleck 1 gezeigt, der auf einer Dünnschichtchromatographieplatte entwickelt ist. Die Platte ist mit einer Verunreinigung, die als Staubpunkte IM gezeigt ist, verunreinigt, deren Dichteverteilung eich in der Richtung X ändert, das heißt in der Richtung, in der der Meßfleck entwickelt wird, oder in der Richtung der Ganghöhe der Zickzackabtastung, die unten beschrieben wird. Wenn der Meß» fleck durch einen Lichtstrahl B entlang einem Zickzackweg ZL abgetastet wird, wird eine Extinktionskurve erhalten, wie sie in Fig. 1 b gezeigt ist. Die Grundlinie der Extinktionskurve weist eine Fluktuation auf, die auf der ungleichen Dichteverteilung der Verunreinigung in dem Hintergrund beruht.

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Wenn die Kurve von Fig. 1 b integriert wird, erhält man eine -Integrationskurve, wie sie in Fig. 1 c gezeigt ist. Die Kurve zeigt jedoch weder die genaue, quantitative Bestimmung des Meßflecks, noch ist es möglich, aus der Kurve abzuleiten, wo die Integration des Meßfleckes endet. In der Zeichnung sind der Querschnitt des Abtaststrahleβ und die Ganghöhe der Abtastbewegung zur besseren Darstellung vergrößert gezeigt. In der Praxis ist der Querschnitt des Strahlea-beispielsweise 1 mm χ 1 mm, und die Ganghöhe beträgt 1 mm. Gemäß der Erfindung wird, wie in Fig. 2 a gezeigt ist, an dem Ende jedes Abtasthubes der Zickzackbewegung des AbtastStrahles, das durch einen kleinen Kreis gekennzeichnet ist, von dem Ausgangs-Meßsignal ein Meßwert genommen, der als neue Grundlinie für das Ausgangsmeßsignal dient. Mit anderen Worten wird der gemessene Wert von dem Ausgangs-Meßsignal während des Abtasthubes subtrahiert, bis der nächste Meßwert an dem gegenüberliegenden Ende des Abtasthubes abgeleitet wird. Beispielsweise wird der Meßwert an einem Punkt P als Grundlinie für das Ausgangsmeßsignal in dem Abtasthub ZL. verwendet, bis ein Punkt Q erreicht ist, worauf ein neuer Meßwert abgenommen wird, der als neue Grundlinie für das Ausgangsmeßsignal in dem nächsten Abtasthub ZL₂ statt des vorherigen Meßwerts dient, der an dem Punkt P abgeleitet wurde.

Jeder Meßpunkt, der durch einen kleinen Kreis gekennzeichnet ist, liegt an dem Ende jedes Abtasthubes der Zickzackabtastung und außerhalb des Meßflecks 1, so daß der Meßwert an dem Meßpunkt der scheinbaren Extinktion an diesem Punkt der Platte, das heißt der Hintergrundsextinktion der Platte, entspricht. Wenn dieeer Meßwert daher als Grundlinie für das Ausgangsmeßsignal während des nachfolgenden Abtasthubes verwendet wird, kann die Extinktion des Hintergrundes kompensiert werden, um die qualitative Bestimmung der in dem Meßfleck enthaltenen Substanz genauer durchführen zu können.

Fig. 2 b zeigt eine Profilkurve, und Fig. 2 c eine Integrationskurve, wobei beide Kurven mit der in Bezug auf die Grundlinie korrigierten Ziokzackäbtaatung gemäß Fig. 2 a abgeleitet

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sind. Die Höhe H der Integrationskurve zeigt genau die Quantität der Substanz, die in dem Meßfleck enthalten ist, der abgetastet wurde.

Erfindungsgemäß kann daher die Änderung der Grundlinie aufgrund von Schwankungen oder Ungleichförmigkeiten der optischen Eigenschaften des Trägermediums oder des Hintergrunds in Richtung der Entwicklung der auszumessenden Meßprobe dadurch korrigiert werden, daß von dem Ausgangsmeßsignal an einem vorbestimmten Funkt außerhalb des Meßflecks in jedem Abtasthub wiederholt Meßwerte abgenommen werden, und daß das Ausgangsmeßsignal während des Abtasthubes durch den genannten Meßwert korrigiert wird. Aus dem Ausgangssignal des Integrators kann man ferner das Ende der Integration des Meßflecks erkennen.

Es ist zu beachten, daß der Meßpunkt nicht notwendigerweise an dem Ende des Abtasthubes der Zickzackbewegung liegen muß. Der Meßpunkt kann auch an einer Stelle in dem Abtasthub liegen, wenn er nur außerhalb des Meßflecks liegt, wie noch in Zusammenhang mit Pig. 10 beschrieben wird. Der Meßwert muß nicht bei jedem Abtasthub der Abtastbewegung abgeleitet werden, sondern er kann auch einmal nach einigen Abtasthüben erzeugt werden, wenn die Ganghöhe der Zickzackabtastung verhältnismäßig klein ist.

In der folgenden Beschreibung wird der Begriff "das Licht von der Meßprobe oder dem Meßfleck oder das Licht von dem Trägermedium oder der Platte" in einem allgemeinen Sinn so verstanden werden, daß nicht nur das von der Meßprobe oder dem Trägermedium durchgelassene Licht oder das reflektierte Licht oder das gestreute Licht, sondern auch das Sekundärlicht, beispielsweise Fluoreszenz- oder Phosphoreszenzlicht, gemeint ist, das von der angeregten Meßprobe oder dem angeregten Trägermedium abgestrahlt wird.

Gemäß Fig. 3 wird das Licht von der Platte durch einen Photodetektor in ein entsprechendes elektrisches Signal (das als Ausgangsmeßsignal bezeichnet wird) umgesetzt. Dieses

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Ausgangsmeßsignal wird in ein Extinktionssignal umgesetzt, das an einem Anschluß I angelegt wird. Ein Schalter SW* ist so angeordnet, daß er von einem Meßwert-Befehls signal (Sampling-Befehlssignal) geschlossen wird, das beispielsweise von einem
Impulsformer H erzeugt wird, der noch anhand von Fig. 8 beschrieben wird, wenn ein Abtastkopf (nicht gezeigt) das Ende
jedes Abtasthubes in seiner Zickzackabtastbewegung erreicht
hat.

Wenn der Schalter SW₁ geschlossen wird, wird ein Heiais H erregt, so daß der Schalter SWp geschlossen wird. Da der Abtastkopf an dem Ende des Abtasthubes sich nur während einer kurzen Zeitdauer befindet, wird der Schalter SW₂ auch nur während
einer kurzen Zeitdauer geschlossen, die vernachlässigbar klein im Vergleich zu dem Zyklus der Abtastbewegung ist. Während dieser Zeitdauer wird das Extinktionssignal, das an dem Ende des Abtasthubes abgeleitet oder gemessen wird, in einem Kondensator C gespeichert. Während der Abtaststrahl den Abtasthub
durchführt, wird der Schalter SW₂ offengehalten, so daß der
Kondensator das vorher gespeicherte Extinktionssignal hält.

Bas von dem Kondensator G gespeicherte Signal wird an einen
Pufferverstärker A abgegeben, der eine hohe Eingangsimpedanz
und eine niedrige Ausgangsimpedanz hat. Der Ausgang des Verstärkers A wird durch einen Phaseninverter E an einen Verstärker P angelegt. Der Verstärker F und Widerstände R₁, R₂ und R₃ bilden eine Additionsschaltung und erzeugen an einem Ausgang T ein Ausgangssignal, das der Summe des Extinktionssignales, das direkt an den Eingang I eingegeben wird, und dem in seiner Phase invertierten Extinktionssignal entspricht, das an dem Ende des Abtasthubes gemessen wird und in dem Kondensator C gespeichert ist. Das Ausgangssignal an dem Ausgang T entspricht daher dem während des Abtasthubes der Zickzackabtastbewegung gemessenen Extinktionswert minus dem Extinktionswert, der an dem Ende des vorhergehenden Abtasthubes gemessen wurde.

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Wenn das gegenüberliegende Ende des augenblicklichen Abtasthubes erreicht ist, wird der Schalter SW₂ wieder geschlossen, so daß ein neuer Sampling-Meßwert der Extinktion an dem Ende des Abtasthubes in dem Kondensator C gespeichert wird, um als neue Grundlinie für den nachfolgenden Hub der Abtastbewegung zu dienen.

Das Ausgangssignal an dem Anschluß T ist in-Bezug auf die Grundlinie korrigiert, wie in Fig. 2 b gezeigt ist. Die Integration des Ausgangssignals ergibt eine richtige, quantitative Bestimmung des Meßflecks.

Es ist zu beachten, daß der Begriff "Abtastung" in der Beschreibung nicht nur die Abtastung der gesamten Fläche des Meßflecks in einer Zickzackbewegung, sondern auch die Wellenlängenabtastung einschließt, das heißt eine Abtastung, bei der ein Abtastlichtstrahl über dieselbe Fläche des Meßflecks geführt wird, während die Wellenlänge des Abtastlichtes in jedem Abtasthub der hin- und hergehenden Bewegung geändert wird. Mit anderen Worten ist die "Abtastung" nicht auf die hin- und hergehende Bewegung des Abtastlichtstrahles und die gleichzeitige Weiterführung des Lichtstrahls in Richtung senkrecht zu der hin- und hergehenden Bewegung beschränkt. Wenn die hin- und hergehende Bewegung des Abtaststrahles mit einer gleichzeitigen Weiterbewegung in der Richtung senkrecht zu der hin- und hergehenden Bewegung kombiniert ist, verfolgt der Abtastlichtstrahl eine Zickzackbahn über den Meßfleck, wie in Fig. 2 a gezeigt ist. Wenn jedoch der Abtaststrahl nur hin- und herbewegt wird, ohne daß er gleichzeitig in der genannten Weise weiterbewegt wird, verfolgt der Abtaststrahl eine gerade Bahn, die quer über den Meßfleck geht, wie in Fig. 4 a gezeigt ist. In diesem Fall wird, wenn die Wellenlänge des Abtastlichtes in verschiedenen Abtasthüben geändert wird, eine Extinktionskurve erhalten, wie in Fig. 4 b gezeigt ist. Bei dieser Kurve drückt eine Einhüllende EN, die die Spitzen miteinander verbindet, das Extinktionsspektrum des Meßflecks aus. Da jedoch die Dünnschichtchromatographieplatte selbst oder Verunreinigungen derselben eine Extink-

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tions- oder Reflexionscharakteristik haben, die mit der Wellenlänge des Abtastlichtes variiert, ergibt sich eine Schwankung in der Grundlinie bei der Kurve von Fig. 4 b, so daß die Einhüllende EN nicht das richtige Extinktionsspektrum des Meßflecks zeigt. Durch Kompensation der Schwankungen der Grundlinie gemäß der Erfindung ist es möglich, das genaue Extinktionsspektrum des Meßflecks zu erhalten, wie durch die Einhüllende EN¹ in Fig. 4 c gezeigt ist. In Fig. 4 b-ist die scheinbare, maximale Extinktion bei λ 2, während die maximale Extinktion gemäß Fig. 4 c tatsächlich bei λ 1 liegt.

In dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel wird das Grundlinienniveau nach jedem einzelnen Abtasthub der Abtastbewegung gemessen. Dieser Meßwert kann auch jeweils nach mehreren Abtasthüben durchgeführt werden, obwohl dazu eine kompliziertere Einrichtung als die gezeigte Einrichtung erforderlich wäre, bei der diese Messung nach jedem Abtasthub durchgeführt wird.

In dem gezeigten Ausführungsbeispiel wird die Sampling-Messung an den entgegengesetzten Enden jedes Abtasthubes durchgeführt. Dies kann jedoch auch nur an einem Ende des Abtasthubes geschehen, wenn die Dünnschichtchromatographieplatte in ihrer Breitenausdehnung im wesentlichen gleichförmig ist· Eine solche Anordnung kann jedoch einen gewissen Nachteil haben, weil eine Ungleichförmigkeit in der Breitenrichtung der Platte nicht ausgemittelt werden kann.

Fig* 5 zeigt schematisch einen Densitometer für eine Zickzackabtastung mit Licht mit zwei Wellenlängen, wobei die erfin dungsgemäße Grundlinienkorrektur durchgeführt wird. Eine Licht quelle I weist eine Wolframlampe W und eine Deuteriumlampe D₂ auf, wobei eine geeignete Umsehalteinrichtung vorgesehen ist, um eine der beiden Lampen wahlweise für den sichtbaren oder den ultravioletten Bereich einsetzen zu können. Das Licht von der Lichtquelle L wird von zwei Sammelspiegeln M₁ und M₂ reflektiert, so daß es in zwei Monochromator en MR und MS gerich tet wird, wobei ein rotierender Unterbrecher 2 abwechselnd das

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in die Monochromatoren eintretende Licht unterbricht.

Die Monochromatoren erzeugen zwei monochromatische Lichtstrahlen verschiedener Wellenlängen /> R und ?> S, die durch Wellenlängen-Steuereinrichtungen WCR und WCS respektive ausgewählt werden. Die zwei Lichtstrahlen werden von konkaven Spiegeln nu bzw. m, reflektiert und durch einen Halbspiegel mg abwechselnd auf einen Planspiegel nie gerichtet, so daß~sie.durch einen Schlitz 3 geleitet und durch einen Planspiegel nu senkrecht auf eine Dünnschichtchromatographieplatte 4 gerichtet werden.

Die Platte wird mit einer vorbestimmten, konstanten Geschwindigkeit relativ zu dem Strahl linear in der Richtung X bzw. in Längsrichtung der Platte bewegt, das heißt in der Richtung, in der die MeßprObenkomponenten entwickelt werden. Gleichzeitig mit dieser Bewegung wird die Platte linear mit einer konstanten Geschwindigkeit horizontal in der Richtung Y senkrecht zu der Bewegungsrichtung X hin- und herbewegt. Wenn die Platte in dieser Weise bewegt wird, wird sie durch den Lichtstrahl nach einem Zickzackmuster abgetastet. Die relative Zickzackbewegung zwischen dem Strahl und der Platte kann auch anders bewirkt werden, beispielsweise dadurch, daß der Lichtstrahl entlang der Y-Achse hin- und hergeführt wird, während die Platte linear entlang der X-Achse bewegt wird. Eine Einrichtung, um die Relativbewegung der Platte gegenüber dem Abtastlichtstrahl zu bewirken, wird unten in Zusammenhang mit den Figuren 6 a bis 6 d beschrieben.

Ein Photodetektor PMX, beispielsweise eine Photomultiplierröhre, mißt das durch die Platte 4 durchgelassene Licht, während ein anderer Photodetektor PMR das von der Platte 4 reflektierte Licht mißt. Die Ausgangsanschlüsse der Photomultiplierröhren sind mit dem Eingang eines logarithmischen Verstärkers 5 verbunden, dessen Ausgang mit einer Signalweiche, beispielsweise mit zwei Schaltern SWS und SWR, verbunden ist, um die Ausgänge von dem Verstärker 5 abzunehmen, die durch die Meßproben- und Referenzstrahlen λ S bzw. a R bewirkt werden. Zu diesem Zweck

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sind die Schalter SWS und SWR mit dem Unterbrecher 2 durch eine geeignete Steuereinrichtung 12 gekoppelt, so daß, wenn der Unterbrecher das Licht von der Lichtquelle in den Monochromator MR eintreten läßt und gleichzeitig das Licht für den anderen Monochromator MS sperrt, der Schalter SWR geschlossen und der Schalter SWS geöffnet ist, während, wenn der Unterbrecher das Licht von der Lichtquelle in den Monochromator MS eintreten läßt und das Licht zu dem Monochromator MR-unterbricht, der Schalter SWS geschlossen und der Schalter SWR geöffnet ist.

Ein Kondensator C. speichert das Referenzstrahlsignal VR, wenn der Schalter SWR geschlossen ist, und ein Kondensator Cp speichert das Meßprobenstrahlsignal VS, wenn der Schalter SWS geschlossen ist. Das Signal VR wird auch an einen Differentialverstärker 7 angelegt, dem eine Spannungsquelle B eine Bezugsspannung liefert. Der Ausgang des Verstärkers 7 steuert eine Spannungsquelle 6 für negative Hochspannung derart, daß der Differenzeingang (VR - E) an dem Verstärker 7 null wird.

Ein Schalter SWF ist vorgesehen, um wahlweise eine der Photomultiplierröhren PMT und PMR zu betätigen. Wenn der bewegliche Arm des Schalters SWP in Kontakt mit einem Anschluß T gebracht wird, wird die Photomultiplierröhre PMT erregt, um das durch die Platte 4 durchgelassene Licht zu messen, während, wenn der Arm auf den Anschluß R umgeschaltet wird, die Photomultiplierröhre PMR erregt wird, um das von der Platte reflektierte Licht zu messen.

Wenn der Schalter SWS geschlossen ist, wird das Extinktionsaigrtal oder das Reflexions-Extinktionssignal von dem logarithmischen Verstärker 5 an die erwähnte Grundlinien-Korrekturschaltung 40 (Fig. 5) angelegt. Eine Steuereinrichtung 13 ist in Abhängigkeit von der seitlich hin- und hergehenden Bewegung der Platte 4 wirksam, um den Betrieb der Grundlinien-Korrekturschaltung 40 zu steuern. Das in Bezug auf die Grundlinie korrigierte Ausgangssignal von der Korrekturschaltung 40 wird

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an eine Linearisierungsschaltung 8 angelegt.

Bei der densitometrischen Messung des auf der Dünnschichtplatte oder dergleichen Trägermedium entwickelten Meßflecks wird das Abtastlicht von dem Trägermedium gestreut, so daß der gemessene Extinktionswert nicht proportional zu der Konzentration oder Quantität der in dem Meßfleck enthaltenen Substanz ist. Die Linearisierungsschaltung 8 ist so ausgeführt,- daß das Extinktionsoder Reflexions-Extinktionssignal kompensiert wird, so daß das Signal proportional zu der wahren Extinktion oder Reflexions-Extinktion der abgetrennten Meßprobenkomponente in dem gerade gemessenen Meßfleck ist.

Ein Torschalter SWI wird in Abhängigkeit von der seitlich hin- und hergehenden Bewegung der Platte 4 betätigt, so daß innerhalb eines vorbestimmten Bereiches der seitlich hin— und hergehenden Bewegung der Platte 4 der Schalter SWI geschlossen ist, um den Ausgang von der Linearisierungsschaltung 8 an eine das Signal lesende Einrichtung, beispielsweise ein Aufzeichnungsgerät R₁ ein Anzeigegerät oder einen Drucker direkt oder indirekt über einen Integrator 9 zu übertragen.

Es sei angenommen, daß eine Vielzahl Meßflecken auf der Platte Seite an Seite entlang der Richtung der seitlich hin- und hergehenden Bewegung oder der Verschwenkung des Lichtstrahles gegenüber der Platte angeordnet sind. Die Betriebsweise des Schalters SWI wird dann von der Steuereinrichtung 13 so gesteuert, daß er geschlossen wird, um den Ausgang von der Linearisierungsschaltung 8 nur von einem gewünschten Meßfleck durchzulassen. Der Integrator 9 weist einen Funkt ions verstärker 11 und eine Impedanz Cs zur Integration auf.

Das Aufzeichnungsgerät R zeichnet entweder den Ausgang der Linearisierungsschaltung 8 direkt (Fig. 2 b oder Fig. 10 b) oder den Integrationsausgang des Integrators 9 (Fig. 2 c oder 10 c) oder beide Ausgänge gleichzeitig auf. Wenn es sich um ein Anzeigegerät handelt, werden die entsprechenden Werte nur

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angezeigt.

Der Ausgang des Integrators 9 wird auch, an einen Analog-Digital-Umsetzer 70 und einen Integrations-Enddetektor 71 angelegt, der eine Differenzierstufe und einen Niveaudetektor aufweist. Der Ausgang des Analog-Digital-Umsetzers 70 wird an einen Drucker 73 abgegeben. Wenn der Detektor 71 das Ende der Integration festgestellt hat, das heißt, wenn die -Integrationskurve in Fig. 2 c oder 10 c einen horizontalen Verlauf bekommen hat, erzeugt er ein Ausgangssignal, um den Drucker 73 zu betätigen, so daß dieser den integrierten Wert druckt, der von dem Analog-Digital-Umsetzer empfangen wird. Der Ausgang des Detektors 71 wird auch an eine Rücksetzeinrichtung 74 angelegt, um den Integrator 9 für die nächste Integration zurückzusetzen.

Die Fig. 6 a bis 6 d zeigen Beispiele für eine Einrichtung, um die Relativbewegung zwischen der Platte 4 und den Abtaststrahlen Ifi oder LS zu bewirken. Die Platte 4 ist auf einem Träger TQ angeordnet, der seinerseits auf einem Wagen 25" montiert ist, so daß er durch Rollen 28 in Richtung eines Pfeiles Y relativ dazu gleitbar ist. Zu diesem Zweck drückt ein exzentrischer Nocken 24, der an der Abtriebswelle eines Motors 26 befestigt ist, der auf dem Wagen 23 montiert ist, gegen einen Nockenfolger 25, der an dem Träger 10 befestigt ist. Eine Feder 27 ist mit ihren entgegengesetzten Enden an dem Träger 10 und dem Wagen 23 befestigt, so daß der Träger zu dem Nocken hingedrückt wird. Wenn der Motor 26 den Nocken 23 dreht, wird der Träger 10 in Y-Richtung auf dem Wagen 23 von der oder gegen die Kraft der Feder 27 bewegt.

Andererseits ist der Wagen 23 auf zwei Führungsschienen 32 und 33 mit Hilfe von Rollen 29 gelagert und hat an einer Seite eine Zahnstange 34, an der ein Ritzel 30 angreift, das mit dem Abtriebe zahnrad eines Motors 35 kämmt, der an einem Maschinenrahmen (nicht gezeigt) befestigt ist. Wenn sich der Motor 31 dreht, wird der Wagen 23 auf den Schienen 32 und 33 in Richtung eines Pfeiles Y bewegt. Wenn die Bewegungen in X- und Y-Richtung

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gleichzeitig bewirkt werden, ergibt sich eine Zickzackbewegung des Strahles LR bzw. LS relativ zu der Platte 4, wie in den Fig. 2 a oder 10 a gezeigt ist. Wenn die Bewegungen in der X- und Y-Richtung alternativ bewirkt werden, ergibt sich eine modifizierte Zickzackbewegung des Strahles relativ zu der Platte. Wenn nur die Bewegung in Y-Richtung bewirkt wird, tastet der Strahl den Meßfleck in einer hin- und hergehenden Bewegung entlang einer geraden Linie ab, wie in Fig...,4 a gezeigt ist.

Ein Detektor G für die Position des Abtaststrahles ist der oben beschriebenen Einrichtung zugeordnet, um die Relativbewegung zwischen dem Abtaststrahl und der Platte 4 zu bewirken. Der Detektor G stellt die Position des Abtastlichtstrahles entlang dem Abtastweg fest, um ein entsprechendes, elektrisches Signal zu erzeugen.

Fig. 7 zeigt ein Beispiel für eine konkrete Anordnung des Detektors G. Ein Halter 41 ist an der Seitenwand des Wagens 23 befestigt und steht seitlich in X-Richtung von dieser Seitenwand ab. Der Halter 40 trägt eine Lichtquelle, beispielsweise eine Leuchtdiode 42, und einen Photodetektor, beispielsweise einen Phototransistor 43» wobei die beiden Bauteile unter Abstand einander gegenüberliegen. Die Diode 42 und der Transistor 43 sind in Abschirmgehäusen 44 bzw. 45 eingeschlossen, die mit einem Fenster 47» 48 an den einander gegenüberliegenden Endwänden versehen sind. Das Licht von der Diode 42 wird durch eine Linse 46 konvergent gemacht und tritt durch die Fenster 47 und 48 hindurch, so daß es auf den Transistor 43 auftrifft.

Eine Torsteuereinrichtung 49 ist der Diode 42 und dem Transistor 43 derart zugeordnet, daß die Projektion des Lichtes von der Diode auf den Transistor gesteuert wird. Die Torsteuereinrichtung 49 weist zwei Unterbrechterplatten 49 A und 49 B auf, die unter einem variablen Abstand L in Y-Richtung voneinander angeordnet sind und mit ihren jeweiligen, oberen Seitenabschnitten gleitbar in einer Führungsnut 50 angreifen, die in

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einer seitlichen Schürze 10» ausgebildet ist, die von dem Träger 10 der Einrichtung, die in den Pig. 6 a bis 6 d gezeigt ist, nach unten verläuft.

Auf der oberen Kante jeder der ühterbrecherplatten 49 A und 49 B ist eine Zahnreihe 53 A, 53 B ausgebildet, die mit einem Ritzel 51 A bzw. 51 B an der Schürze des Trägers 10 kämmt. Ein Handgriff 52 A, 52 B ist an dem Ritzel 51 A--bzw. 51 B befestigt, um eines der beiden Ritzel oder beide Ritzel von Hand drehen zu können, wodurch die Uhterbrecherplatten 49 A und 49 B entlang der Nut 50 in der Richtung senkrecht zu der Zeichenebene in Fig.. 7 a oder in Y-Richtung in Pig. 7 b bewegt werden, um die Positionen der Unterbrecherplatten relativ zu dem Träger und den Abstand L zwischen den beiden Platten zu ändern.

Wenn der Träger 10 sich in Y-Richtung entlang dem Wagen 23 in der oben beschriebenen Weise hin- und herbewegt, bewegen sich die Trennplatten 49 A und 49 B auf dem Träger 10 in der Y-Richtung relativ zu der Leuchtdiode 42 und dem Phototransistor 43» die auf dem Wagen 23 befestigt sind. Wenn die Trennplatte 49 A oder 49 B zwischen die Photodiode 42 und den Phototransistor zu liegen kommt, unterbricht die Platte das Licht von der Diode, das bis zu diesem Zeitpunkt auf den Phototransistor 23 auf getroff en ist. Wenn der Träger 10 an dem Ende des Abtasthubes der seitlich hin- und hergehenden Bewegung umkehrt und sich in der entgegengesetzten Richtung bewegt, bewegt sich die Unterbrecherplatte 49 A oder 49 B, die der Lichtstrahl von der Photodiode 42 unterbrochen hat, aus dem optischen Weg heraus, so daß das Licht wieder auf den Transistor 43 auftreffen kann.

Es ist ersichtlich, daß durch Änderung der Position der Unterbrecherplatte 49 A oder 49 B oder beider Platten und/oder des Abstandes L zwischen den Platten die Möglichkeit gegeben ist, die Jjänge und/oder Position des Bereiches in einem Abtasthub der Zickzack- oder hin- und hergehenden Bewegung des Abtaststrahles relativ zu der Dünnschichtchromatographieplatte zu ändern, in dem der Phototransistor 43 das Licht von der

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Photodiode 42 mißt, um ein Ausgangssignal zu erzeugen, wie es in Fig. 9 a gezeigt ist. Dieses Ausgangs signal wird in einer Weise verwendet, wie es noch in Zusammenhang mit den Fig. 8 und 9 beschrieben wird.

Fig. 8 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel der Grundlinienkorrektur gemäß der Erfindung. Ein Detektor Gr für die Abtaststrahlposition, wie er in den Fig. 7 a bis -1 -c gezeigt ist, arbeitet mit einer Abtasteinrichtung J zusammen, wie sie in den Fig. 6 a bis 6 d gezeigt ist, um eine Rechteckwelle, wie sie in Fig. 9 a gezeigt ist, als Ausgang für jeden Hub der Abtastbewegung des Strahls über den Meßfleck auf der Platte 4 zu erzeugen. Während die Öffnung (oder der Meßbereich) zwischen den Unterbrecherplatten 49 A und 49 B ermöglicht, daß das Licht von der Photodiode 42 durch die Öffnung hindurchtritt und. auf den Phototransistor 43 bei jedem einzelnen Abtasthub der Ab— tastbewegung des Trägers 10 auftrifft, erzeugt der Phototransistor 43 einen Rechteckimpuls (Fig. 9 a). Wenn gegen Ende des Abtasthubes die Unterbrecherplatte, beispielsweise die Unterbrecherplatte 49 A, den Lichtstrahl von der Diode 42 unterbricht, wird der Rechteckimpuls P₁ beendet, bis die Unterbrecherplatte 49 A am Ende des Hubes umkehrt und sich aus dem Lichtstrahl herausbewegt, so daß der Strahl wieder auf den Phototransistor 43 auftreffen kann, der dann den nächsten Rechteckimpuls Pp erzeugt.

Der Ausgang des Detektors G wird an eine Differenzierstufe D angelegt, die ein Ausgangs signal erzeugt, wie es in Fig. 9 b gezeigt ist. Ein Impulsformer H ist in Abhängigkeit von entweder positiven oder negativen, differenzierten Ausgangsimpulsen von der Differenzierstufe D wirksam, um Ausgangsimpulse zu erzeugen, die eine vorbestimmte Höhe und Breite haben, wie in den Fig. 9 c oder 9 d gezeigt ist.

Das Extinktionssignal, dessen Grundlinie korrigiert werden soll, wird an einen Eingangsarischluß 55 angelegt. Ein Sampling-Schalter 56, beispielsweise ein Feldeffekttransistor, der mit

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dem Eingangs ans chluß 55 verbunden ist, wird in Abhängigkeit von dem Sampling-Befehlssignal (Fig. 9 c oder 9 d) von dem Impulsformer wirksam, um das Extinktionssignal an dem Anschluß 55 während der Dauer des Befehlssignales in einen Kondensator C eintreten zu lassen, so daß das Signal in dem Kondensator gehalten wird, um als neue Grundlinie für das im nachfolgenden Abtasthub gemessene Extinktionssignal zu dienen.

Die Ladezeitkonstante t = CRp des Kondensators C wird auf einen vernachlässigbar kleinen Wert im Vergleich zu der Zeit T eingestellt, die für einen Abtasthub benötigt wird. Beispielsweise ist, die Ladezeitkonstante t kleiner als einige msec, wenn die Zeit T gleich 100 msec ist.

An den Kondensator C ist ein Impedanzumsetzer 57 angeschlossen, der eine hohe Eingangsimpedanz und eine kleine Ausgangsimpedanz hat und ein Source-Folgerverstärker mit einem MOS-Feldeffekttransistor sein kann. Ein Differentialverstärker 58 ist mit einem Eingang mit dem Ausgang des Verstärkers 57 und mit dem anderen Eingang mit einer Spannungsquelle 59 verbunden, um eine Versetzung zu kompensieren bzw. zu eliminieren. Die Spannungsquelle 59 ist so einstellbar, daß ihre Ausgangsspannung von einem gewünschten positiven bis zu einem gewünschten negativen Wert variabel ist.

Eine Funkt ions schaltung 60 nimmt das Extinktionssignal direkt von dem Anschluß 55 über eine Leitung 61 und von dem Kondensator C den darin gespeicherten Grundlinien-Meßwert auf und führt die erforderliche Operation mit den beiden Eingängen durch, um die erforderliche Grundlinienkorrektur für das gemessene Extinctionssignal auszuführen. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel ist die Funktionsschaltung 60 so ausgelegt, daß sie eine Addition durchführt. Wenn jedoch die Verbindung mit den beiden Eingangs anschluss en des Differentialverstärkers 58 umgekehrt wird, kann die Funktionsschaltung 60 auch so ausgelegt sein, daß sie eine Subtraktion ausführt.

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Der Ausgang des Detektors Gr für die Abtaststrahlposition, wie er in Fig. 9 a gezeigt ist, kann dazu verwen t werden, den Torschalter SWI während der Zeitdauer der Impulse P₁, Pp für die Integration oder die direkte Aufzeichnung des Ausgangs von der Linearisierungsschaltung 8 wiederholt zu schließen.

Wie bereits erwähnt wurde, kann der Impulsformer H auch so ausgelegt sein, daß er ein Ausgangssignal erzeugt, wie es in Fig. 9 c oder 9 d gezeigt ist und wie es an den Sampling-Schalter 56 angelegt werden soll. Wenn das in Fig. 9 c gezeigte Signal verwendet wird, wird das Grundlinienniveau, das bei Beginn der ,Integration des Extinktionssignales gemessen wird, als Grundlinienkorrektur während der Dauer der Integration verwendet. Wenn das in Fig. 9 d gezeigte Signal verwendet wird, wird das Grundlinienniveau an dem Ende der vorhergehenden Integrationsperiode als Grundlinienkorrektur während der nächsten Integrationsperiode verwendet. Wenn die Ganghöhe der Zickzackabtastung relativ groß ist, ist das Meßergebnis in dem ersteren Fall besser als in dem letzteren.

Der Ausgangsimpuls des Impulsformers H, der entweder die in Fig. 9 b oder die in Fig. 9 e gezeigte Form hat, wird auch an die Wellenlängen-Steuereinrichtung WCS für den Monochromator MS angelegt, um die Wellenlänge des Abtaststrahles LS zu ändern, wenn der Strahl den Meßfleek in einer hin- und hergehenden Bewegung abtastet, wie in Fig. 4 a gezeigt ist.

Gemäß Fig. 10 a wird der Meßfleek 1 durch einen Lichtstrahl LR oder LS mit einem rechteckigen Querschnitt entlang einer Zickzacklinie ZL abgetastet. Der Punkt d auf jedem Abtasthub des Abtastweges, zeigt den Punkt an, an dem das Grundlinienniveau für die Grundlinienkorrektur während dieses Abtasthubes gemessen wird, und an dem die Integration und/oder direkte Aufzeichnung des Ausgangssignales von der Linearisierungsschaltung 8 beginnt.

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Vienn das Ausgangssignal _g das durch den Schalter SWI abgenommen wird, wenn die Zickzaekabtastung über den Meßfleek 1 fortschreitet, direkt durch Schließen des Schalters S,- an das Aufzeichnungsgerät R angelegt wird, wird die in Bezug auf die Grundlinie korrigierte Profilkurve von Pig· 10 b auf der Karte aufgezeichnet. Wenn das Ausgangssignal, das durch den Schal-= ter SWI abgeleitet wird«, durch Schließen des Schalters Sg durch den Integrator 9 gegeben und dann aufgezeichnet wird, ergibt sich eine Integrationskurve, wie sie in Fig. 10 c gezeigt ist. Die Integrationskurve gibt die genaue Quantität der in dem Meßfleek enthaltenen Substanz an, wobei ein Meßfehler aufgrund der Hintergrundsextinktion im wesentlichen eliminiert ist. Durch Schließen von einem der Schalter S_c und S,- oder durch

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Schließen beider Schalter können die beiden Kurven wahlweise oder auch gleichzeitig aufgezeichnet werden.

Wenn die Abtastung des Meßflecks abgeschlossen ist, erzeugt der Detektor 71 ein Ausgangssignal, um den Drucker 73 zu betätigen, so daß dieser das Resultat der Integration ausdruckt. Der Detektor gibt ferner ein Ausgangssignal ab, um zu diesem Zeitpunkt auch die Rücksetzeinrichtung 72 zum Zurücksetzen des Integrators 9 zu betätigen.

In der vorhergehenden Beschreibung wird demnach ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Densitometrie angegeben, bei dem ein Meßfleek, der auf einem Trägermedium entwickelt worden ist, durch monochromatisches Licht nach einem Zickzackmuster abgetastet wird. An einem vorbestimmten Punkt außerhalb des Meßflecks wird in jedem Abtasthub das Ausgangs—Meßsignal periodisch im Sampling-Verfahren gemessen und der Sampling-Meßwert wird gespeichert, so daß er von dem Ausgangsmeßsignal während des Abtasthubes subtrahiert werden kann, um die Grundlinie des Ausgangs-Meßsignales zu korrigieren.

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Claims

V Patentansprüche

Densitometrieverfahren zur densitometrischen Messung eines Meßflecks, der auf einem Trägermedium entwickelt ist,
dadurch gekennzeichnet, daß ein
vorbestimmter Bereich des Trägermediums einschließlich des Meßflecks mit Licht abgetastet wird, daß die Intensität des Lichtes von dem abgetasteten Bereich gemessen wird, um ein entsprechendes, elektrisches Signal zu erzeugen, daß von dem Signal periodisch Bezugs-Meßsignale erzeugt werden, wenn
das Licht außerhalb des Meßflecks abtastet, daß die Bezugs-Meßsignale während einer vorbestimmten Zeitdauer gehalten
werden,-'und daß das während der Abtastung von wenigstens dem Meßfleck erzeugte Signal vor der nächsten Erzeugung des
Bezugs-Meßsignales durch das gespeicherte Bezugs-Meßsignal korrigiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastung in einem Zickzackmuster über dem Meßfleck durchgeführt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Erzeugung der Bezugs-Meßsignale in Zusammenhang mit der
Portbewegung des Lichtes in Richtung der Ganghöhe der Zickzack-Abtastbewegung wiederholt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Erzeugung des Bezugs-Meßsignales in jedem Abtasthub der
Zickzackabtastung durchgeführt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Erzeugung des Bezugs-Meßsignales einmal für eine vorbestimmte Zahl von Abtasthüben der Zickzackabtastung durchgeführt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 3> dadurch gekennzeichnet, daß die Erzeugung des Bezugs-Meßsignales an einem vorbestimmten Punkt

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entlang der Zickzackabtastung außerhalb des Meßflecks durchgeführt wird.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der vorbestimmte Punkt an dem Ende des Abtasthubes der Zickzackabtastung liegt.

8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die , Abtastung in einer hin- und hergehenden Bewegung entlang einer einzigen Bahn über den Meßfleck durchgeführt wird, wobei die Wellenlänge des Abtastlichtes in jedem Abtasthub der hin- und hergehenden Bewegung geändert wird, und daß die Erzeugung des Bezugs-Meßsignales an einem vorbestimmten Punkt außerhalb des Meßfleckes entlang der einzigen Abtastbahn jedesmal dann durchgeführt wird, wenn die Wellenlänge geändert wird.

9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der vorbestimmte Punkt am Ende des Abtasthubes durch die Abtastbahn liegt.

10. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Licht ein Strahl ist, der einen genügend kleinen Querschnitt im Vergleich zu der Fläche des Meßflecks hat.

11. Densitometer zur Durchführung einer densitometrisehen Messung einer Meßprobe, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (L, m,. bis nig), um monochromatisches Licht auf eine Meßprobe auf einem Trägermedium (4) zu projezieren, eine Einrichtung (Figur 6), um wiederholt eine Relativbewegung zwischen dem monochromatischen Licht und der Meßprobe zu erzeugen, so daß das monochromatische Licht einen vorbestimmten Bereich einschließlich wenigstens

• einem Teil der Meßprobe abtastet, eine Detektoreinrichtung (PMT, PMR), um die Intensität des Lichtes von dem Abtastbereich zu messen und ein erstes, elektrisches Signal entsprechend der Intensität zu erzeugen, eine Einrichtung,

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um periodische Bezugs-Meßwerte von dem Wert des ersten, elektrischen Signales zu erzeugen, der ansteht, wenn das . Licht außerhalb der Meßprobe abtastet, eine Einrichtung ( C), um den Bezugs-Meßwert während einer vorbestimmten Zeit dort zu halten,und durch eine Korrektureinrichtung (40), um den gespeicherten Bezugs-Meßwert von dem ersten Signal zu subtrahieren, das durch Abtastung von wenigstens einem Teil der Meßprobe erzeugt wird, bevor der nächste Bezugs-Meßwert abgeleitet wird, so daß ein zweites,elektrisches Signal entsprechend dem Resultat der Subtraktion erzeugt wird.

12. Vorrichtung nach Anspruch 11", ferner gekennzeichnet durch einen Integrator (9), um den Ausgang der Korrektureinrichtung ( 40) zu integrieren. .

13. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Projektion des monochromatischen Lichtes zwei Monochromatoren (MR, MS), die jeweils einen monochromatischen Lichtstrahl mit einer anderen Wellenlänge erzeugen, und einen Unterbrecher (2) aufweist, der bewirkt, daß die zwei monochromatischen Lichtstrahlen abwechselnd erzeugt werden, so daß die zwei sich abwechselnden, monochromatischen Lichtstrahlen entlang einem gemeinsamen Pro^jektionsweg ver-

' laufen und senkrecht auf die Meßprobe projeziert werden.

Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung, die eine Relativbewegung zwischen dem Licht und der Meßprobe bewirkt, eine erste Bewegungsein richtung, um entweder das Licht oder die Meßprobe relativ zu der anderen in einer Richtung entlang einer ersten Achse zu bewegen, und eine zweite Bewegungseinrichtung, um die erste Bewegungseinrichtung entlang einer zweiten Achse senkrecht zu der ersten Achse hin- und her zu bewegen aufweist, und daß die Einrichtung zur Erzeugung der Bezugs-Meßwerte einen Detektor (G) für die Position der ersten

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Bewegungseinrichtung bei ihrer- hin- und hergehenden Bewegung entlang der sweiten Achse zu erfassen und ein Bezugs-Befehlssignal bei einer vorbestimmten Position der ersten Bewegungseinrichtung zu erzeugen, und daß eine Einrichtung (0) in Abhängigkeit von dem Bezugs-Befehlssignal betätigbar ist, um das Niveau des ersten, elektrischen Signales zwischenzeitlich zu speichern.

15- Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung, die eine Kelativbewegung zwischen dem monochromatischen Licht und der Meßprobe bewirkt, einen träger (G), der das Meßproben-Trägermedium (4) trägt, einen Wagen (23)» auf dem der Träger (10) relativ dazu bewegbar getragen ist,eine erste Antriebseinrichtung (31), um den Wagen (23) relativ zu dem monochromatischen Licht mit einer ersten, konstanten Geschwindigkeit linear in einer Eichtung , in einer ersten Ebene senkrecht zu dem Weg des mono ehr omatisßhen Lichtes zu bewegen,eine zweite Antriebseinrichtung (26), um den Trägez· (10) mit einer zweiten, konstanten Geschwindigkeit linear und hin- und hergehend in einer zweiten Ebene parallel zu der ersten Ebene zu bewegen, ■aufweist, und daß die Bezugs-Einrichtung eine Lichtquelle (42) und einen !Fotodetektor (43) zur Aufnahme des Lichtes von der Lichtquelle aufweist, wobei die Lichtquelle und der Fotodetektor auf dem Wagen (23) getragen sind, und daß eine Steuereinrichtung (49A,49 B) auf dem Träger (10) derart angeordnet ist, daß sie sich simultan mit diesem bewegt, um die Projektion des Lichtes von der Lichtquelle (42) in den Fotodetektor (43) zu steuern.

Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Bezugs-Meßwert-Einrichtung.ferner eine Einrichtung aufweißt, um die Position der Steuereinrichtung (49 A, 49 B)

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relativ zu dem Träger (10) einzustellen.

17. Vorrichtung nach Anspruch 11, ferner gekennzeichnet durch eine Einrichtung (60), die zwischen der Detektoreinrichtung und der Korrektureinrichtung angeschlossen ist, um das Ausgangssignal der Detektoreinrichtung in ein Extinktionsoder Beflexions- Extinktionssignal umzusetzen.

18. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet,daß die Umsetzereinrichtung einen logarithmischen Verstärker (5) aufweist.

19· Vorrichtung nach Anspruch 14, ferner gekennzeichnet durch eine Steuereinrichtung (12, SWS ; SWR), die in Verbindung mit der Bewegungseinrichtung betätigbar ist, um den Ausgang der Detektoreinrichtung nur innerhalb eines vorbestimmten Bereiches der hin- und hergehenden Bewegung von entweder dem Licht oder der Meßprobe entlang der zweiten Achse durchzulassen.

20. Vorrichtung nach Anspruch 12, ferner gekennzeichnet durch eine Einrichtung (R), um den Ausgang des Integrators (9) zu lesen.

21. Vorrichtung nach Anspruch 11, ferner gekennzeichnet durch eine Einrichtung (R), um den Ausgang der Korrektureinrichtung (40) zu lesen.

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