DD226741A3 - Einrichtung zum pruefen der lagerichtigkeit von transportierten bauteilen - Google Patents

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DD226741A3
DD226741A3 DD25868683A DD25868683A DD226741A3 DD 226741 A3 DD226741 A3 DD 226741A3 DD 25868683 A DD25868683 A DD 25868683A DD 25868683 A DD25868683 A DD 25868683A DD 226741 A3 DD226741 A3 DD 226741A3
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DD
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test
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light barrier
testing
assigned
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Application number
DD25868683A
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English (en)
Inventor
Friedrich Hoehne
Bernd Quinger
Harald Weiser
Martin Schulze
Original Assignee
Kontaktbau & Spezmaschbau Veb
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
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Abstract

Die Einrichtung ist zum Pruefen von einzeln oder in Gruppen transportierten Bauteilen, vorzugsweise Steckverbinder, anwendbar. Ziel und Aufgabe der Erfindung ist die Entwicklung einer innerhalb einer als Transfersystem ausgelegten Montagemaschine angeordneten Einrichtung zum Pruefen von Bauteilen verschiedenster Bauformen in Anwendung nur einer Lichtschranke und bei Realisierung eines geringen Umruest- und Schaltungsaufwandes. Die erfindungsgemaesse Einrichtung ist so entwickelt worden, dass mehrere parallel nebeneinanderliegende, gegeneinander verschiebbare Fuehrungsbahnen vorhanden sind, jeder Fuehrungsbahn ein mit gefederten Pruefblechen ausgeruesteter Pruefbalken zugeordnet ist, jedes Pruefblech in gleicher Hoehe eine Oeffnung besitzt und zur Verriegelung der nicht fuer die Pruefung benoetigter Pruefbleche ein Querschiebersystem vorhanden ist. Im positiven Prueffall liegen die Oeffnungen der Pruefbleche hintereinander und im jeweiligen Pruefvorgang werden saemtliche Signale als Summe mit der gemeinsamen Lichtschranke gewonnen. Die Pruefeinrichtung kann fuer mit entsprechenden Kondierungen versehene Bauteile verwendet werden. Fig. 1

Description

a) Titel der Erfindung
Einrichtung zum Prüfen der Lagerichtigkeit von transportierten Bauteilen
b) Atiwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Prüfen des Vorhandenseins und der Lagerichtigkeit von einzeln oder in Gruppen transportierten Bauteilen, vorzugsweise Steckverbinder, die durch den Mehrfachtransport und durch die vielfältigsten Bauformen ein mehrfaches Prüfen und einen hohen Umrüstaufwand erfordern.
c) Charakteristik der bekannten technischen Lösungen
Es sind Prüfeinrichtungen allgemein bekannt geworden, die jeweils einzeln die entsprechenden Bauelemente, insbesondere Steckverbinder, durch Tasten oder ähnliche Verfahren an den zur Lagekennung geeigneten Stellen auf Lagerichtigkeit beziehungsweise Vorhandensein prüfen. Diese Einrichtungen er-
— 2 —
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fordern "bei der Umstellung auf andere Bauteilbauformen einen verhältnismäßig hohen Umrüst- beziehungsweise Einstellaufwand sowie durch die vielen Prüfstellen einen hohen schaltungstechnischen Aufwand·
Aus der DD-PS 149 888-ist eine Schaltungsanordnung zur Überwachung von prismatischen Teilen bekannt, die vorsieht, zum Prüfen direkt eine lichtschranke zu verwenden· Diese Einrichtung ist für das vorgesehene Anwendungsgebiet nicht geeignet, da damit die lagerichtigkeit der Bauteile nicht geprüft werden kann·
Aus dem DE-GM 7 026 929 ist eine Überwachungseinrichtung für Lochkarten und bandförmige Aufzeichnungsträger bearbeitende Maschinen bekannt, mittels der eine lochscheibe mit einer lichtschranke gekoppelt wird, um den Transport, zum Beispiel von Lochbändern, zu prüfen· Diese Überwachungseinrichtung ist nicht anwendbar zum Prüfen des Vorhandenseins und der Lagerichtigkeit von Bauteilen· Weiterhin sind gefederte Prüfstifte mit Einzelkontakt bekannt, die aufgrund der Tariantenvielfalt der zu prüfenden Bauteiilformen einen hohen schaltungstechnischen sowie Umrüst- und Einstellaufwand erfordern.
d) giel der Erfindung
Ziel der Erfindung ist die Entwicklung einer Einrichtung zum Prüfen auf das Vorhandensein beziehungsweise Lagerichtigkeit der Teile oder Baugruppen, vorzugsweise Steckverbinder, wobei dieses Prüfen auch für einen Mehrfachtransport bei Teilegruppen möglich sein soll, und die mit einem geringen Umrüst- und Schaltungsaufwand realisiert werden soll.
e) Darlegung des Wesens der Erfindung
- die technische Aufgabe
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zum Prüfen zu entwickeln, die es erlaubt, innerhalb einer als Transfersystem ausgelegten Montagemaschine das Vorhandensein und die Lagerichtigkeit der zugeführten Bauteile verschiedenster Bauformen mit unterschiedlichen längen- und Breitenabmessungen und verschiedenen Unterscheidungs- beziehungsweise Kodierungsmerkmalen zu kontrollieren· Dabei sollen kleinere !eile zur besseren Maschinenauslastung gruppenweise transportiert werden und es sollen zum gleichen Zeitpunkt mehrere Prüfungen realisierbar sein«
- Merkmale der Erfindung
Die technische Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß mehrere parallel nebeneinanderliegende, gegeneinander verschiebbare führungsbahnen, die von Führungsschienen begrenzt sind, vorhanden sind, wobei jeder Führungsbahn ein bestimmtes Bauteilsortiment zugeordnet ist· Jeder Führungsbahn ist ein Prüfbalken mit gefederten Prüfblechen zugeordnet, wobei die Abstände der Prüfbleche entsprechend dem Einzelprüfen beziehungsweise nach den verschiedenen Varianten des Mehrfachprüfens eingeteilt sind· Die Prüfbleche besitzen entsprechend den an den Prüfbauteilen vorhandenen Kodierungsstegen Aussparungen. Weiterhin ist ein Querschiebersystem vorhanden, mit dem die Prüfbleche, die zur Prüfung nicht benötigt werden, niedergehalten werden·
Die Prüfbleche besitzen alle in gleicher Höhe eine Öffnung und sind dergestalt angeordnet, daß im jeweiligen Prüfvor-
gang die Öffnungen im positiven Prüffall hintereinander liegen und somit sämtliche Prüfsignale als Summe mit einer gemeinsamen Lichtschranke gewonnen werden· Desweiteren sind die Prüfbalken unter den parallel angeordneten Führungsbahnen so angeordnet, daß jeweils immer nur der direkt für den jeweiligen PrüfVorgang benötigte Prüfbalken angehoben wird und prüft· Für alle Prüfvorgänge wird somit nur eine Lichtschranke !benötigt, so daß für sämtliche anliegenden PrüfVarianten ein und dasselbe elektrische Signal zur Auswertung vorliegt und damit der Schaltungsaufwand extrem niedrig bleibt· Der Umrüstaufwand wird durch das System -parallele Führungs-TSahnen und Querschiebersystem- trotz der vielen Prüfvarianten sehr niedrig gehalten·
f) Ausführungsbeispiel
Die Erfindung soll nachfolgend an Hand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert werden· In der dazugehörigen Zeichnung zeigt
Pig· 1 : die perspektivische und teilweise aufgebrochene Darstellung der wesentlichsten Elemente der Einrichtung und die räumliche Zuordnung der Elemente. Die Einrichtung besteht gemäß Pig· 1 aus einem Gestell 1, zwei seitlichen Führungen 2, einem Rahmen 3 mit Langlöchern 20, mehreren Führungsschienen 4, einem Querschiebersystem 5, einem Iransportfinger 6, mehreren Prüfbalken 7 mit gefederten Prüfblechen 8, einer Hubstange 9, zwei Hebelsystemen 10 und 11, zwei Kurvenschei&en 12 und 13, einem Niederhalter 14, einer Lichtschranke 15 und einer Antriebswelle 16· Durch seitliches Verschieben des Rahmens 3 zwischen den seitlichen Führungen 2 werden jeweils zwei Führungsschienen 4 so eingestellt, daß für das zu prüfende Bauteilsortiment eine Führungsbahn 19 entsteht
Abhängig davon, ob ein Einfach- oder Mehrfachtransport und
damit Einfach- beziehungsweise Mehrfachprüfungen erfolgen' sollen, werden mit dem Querschiebersystem 5 die nicht benötigten Prüfbleche 8 blockiert.
Nachdem die mit Aussparungen 18 ausgebildeten Bauteile 17 mittels Transportfinger 6 in die Prüflage gebracht wurden, wird durch Drehung der Antriebswelle 16 über die Kurvenscheibe 13 und das Hebelsystem 11 der niederhalter 14 über die Bauteile 17 abgesenkt, wodurch ein Herausschieben der Bauteile 17 aus der Führungsbahn 19 während des PrüfVorganges verhindert wird·
Durch Weiterdrehen der Antriebswelle 16 wird über die Kurvenscheibe 12 und das Hebelsystem 10 die Hubstange 9 nach oben bewegt, die dann den zur gewählten Führungsbahn 19 gehörigen Prüfbalken 8 anhebt.
Dadurch werden die gefederten Prüfbleche 7 in die Führungsbahn 19 geschoben, sofern sie nicht durch das Querschiebersystem 5 zurückgehalten beziehungsweise durch ein oder mehrere richtig liegenden Bauteile 17 niedergedrückt werden. Bei falsch liegendem Bauteil 17 kann das entsprechende Prüfblech 8 ungehindert innerhalb der Aussparungen 18 nach oben gleiten, ebenso bei fehlendem Bauteil 17· In diesem Fall besteht für die Lichtschranke 15 keine Sichtverbindung mehr und es entsteht eine Fehlmeldung. Die Sichtverbindung der Lichtschranke 15 wird durch in den Prüfblechen 8 in gleicher Höhe vorhandenen öffnungen 21 erreicht, wodurch die Lagerichtigkeit und das Vorhandensein der Bauteile 17 signalisiert wird.

Claims (3)

  1. Erfindungsansprüche:
    Einrichtung zum Prüfen der Lagerichtigice it von transportierten Bauteilen, die für alle Prüfvorgänge nur eine Lichtschranke besitzt und eine Antriebswelle mit Kurvenseheiben aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere parallel nebeneinander liegende, gegeneinander verschiebbare Führungsbahnen (19), die von Führungsschienen (4) begrenzt sind, vorhanden sind und jeder führungsbahn (19) ein mit gefederten Prüfblechen (8) ausgerüsteter Prüfbalken (7) zugeordnet ist, wobei jedes Prüfblech" (8) in gleicher Höhe eine Öffnung (21) besitzt, und zur Verriegelung diverser Prüfbleche (8) ein Querschiebersystem (5) vorgesehen ist·
  2. 2. Einrichtung nach Punkt 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfbleche (8) mit Aussparungen entsprechend den Kodierungsstegen der Bauteile (17) versehen sind·
  3. 3· Einrichtung nach Punkt 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Führungsbahnen (19) unterschiedliche Breite besitzen.
    Hierzu 1 Seite Zaichnungen
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0325269A1 (de) * 1988-01-20 1989-07-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Leitende Muster für den elektrischen Test von Halbleiterbausteinen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0325269A1 (de) * 1988-01-20 1989-07-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Leitende Muster für den elektrischen Test von Halbleiterbausteinen

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