CN2893922Y - 改进型大功率引线框架 - Google Patents
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Abstract
一种改进型大功率引线框架,由散热固定部、芯片部、中间管脚、侧管脚连接成一体构成,所述芯片部两边缘阶梯面上有缺口,芯片部上与芯片相对应位置上有由凹槽组成的边框,边框内又有截面为梯形的由凹槽点纵横向经规则排列构成的凹点面。这样便于塑封料的填充和镶嵌,增强了引线框架和塑封件的结合力和密封性。同时又增加了引线框架与芯片的结合强度,有效地防止分层现象的出现,使半导体元件的抗机械冲击、耐热疲劳强度提高,从而延长了使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种半导体分立器件,特别是一种用于制作半导体元件的改进型大功率引线框架。
背景技术
现有技术中TO-220-5L引线框架的结构如图4所示,引线框架的散热固定部、芯片部、中间管脚及4个侧管脚为一连续的整体结构,构成引线框架的各组成部分的形状简单、表面光滑。又因引线框架与塑封料所用材料特性的不同和热膨胀系数的差异,引线框架与芯片和塑封料间的结合力很差,使其密封强度大大降低,直接影响了半导体元件的性能、质量和使用寿命。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是,提供一种改进型大功率引线框架,既可增强引线框架与塑封料、芯片间的结合力和密封强度,又可延长其的使用寿命。
本实用新型解决上述问题所采用的技术方案为:改进型大功率引线框架由散热固定部、芯片部、中间管脚、侧管脚连接成一体构成,所述芯片部的两边缘阶梯面有缺口,芯片部上与芯片相对应位置上有由凹槽组成的边框,边框内又有由凹槽点经规则排列构成的凹点面。
与现有技术相比,本实用新型的优点在于,现有的引线框架形状简单、表面光滑、线条单一,因此和塑封料结合力很差、密封强度低,现在引线框架芯片部边缘上增加半圆形的缺口,芯片部内与芯片相对应位置增加由凹槽组成的边框,便于塑封料的填充和镶嵌,这样就增强了引线框架和塑封件的结合力和密封性。边框内又有截面为梯形的凹槽点横纵均布、规则排列构成的凹点面,增加了引线框架与芯片的结合强度,有效地防止分层现象的出现。本改进型大功率引线框架使整个半导体元件的抗机械冲击、耐热疲劳强度提高,从而延长了使用寿命。
附图说明
图1、本实用新型的结构示意图。
图2、图1的A-A剖面放大图。
图2、图1的A-A剖面放大图。
图3、凹槽点正面放大视图。
图4、现有技术结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的实施例作进一步描述。
引线框架由散热固定部1、芯片部7和中间脚8连为一体的主体,在后续封装工艺中再与4个侧管脚9、10连为一体组成。
在芯片部7的两边缘阶梯面2上有两半圆形的缺口3,如图1所示。
在芯片部7装片面中间有由连续的V形凹槽11构成的方形边框4,边框4内有截面为梯形凹槽点5,如图3所示,凹槽点5均布、横纵向排列构成方形凹点面6,如图1、图2所示。
V形凹槽11的夹角θ在85~95度间,梯形凹槽5的深度h和底边宽度相等,深度h在0.10~0.14毫米间。
塑封料在此引线框架上封装芯片时,充满芯片部7的两边缘阶梯面缺口3内和边框4内,由于这些填充和镶嵌使得塑封料和引线框架的结合更加牢固、密封更为良好。芯片结合料填充进芯片部7上各梯形凹槽点5中,增强了引线框架与芯片之间的结合力。
Claims (4)
1、一种改进型大功率引线框架,由散热固定部(1)、芯片部(7)、中间管脚(8)、侧管脚(9)、(10)连接成一体构成,其特征在于所述芯片部(7)的两边缘阶梯面(2)上有缺口(3),芯片部(7)上与芯片相对应位置上有由凹槽(11)组成的边框(4),边框(4)内又有由凹槽点(5)经规则排列构成的凹点面(6)。
2、根据权利要求1所述的改进型大功率引线框架,其特征在于芯片部(7)的两边缘阶梯面(2)上有两半圆形的缺口(3)。
3、根据权利要求1所述的改进型大功率引线框架,其特征在于芯片部(7)装片处中间有由连续的V形凹槽(11)构成的方形边框(4),边框(4)内有截面为梯形的凹槽点(5)横纵向均布排列组成方形凹点面(6)。
4、根据权利要求1所述的改进型大功率引线框架,其特征在于V形凹槽(11)的夹角θ在85~95度间,梯形凹槽(5)的深度h和底边宽度相等,深度h在0.10~0.14毫米间。
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