CN219496429U - 用于加速度计的测试机构及测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于加速度计的测试机构，包括底座、上盖、锁紧件及压块。底座用于承载加速度计的芯片；上盖可转动地连接于所述底座，且所述上盖转动的过程中具有压紧位置；锁紧件在同时与所述底座及所述上盖连接时将所述上盖固定于所述压紧位置；压块设置于所述上盖，且所述压块具有开设避位槽的压紧面；当所述上盖处于所述压紧位置时，所述压紧面抵压于所述芯片，以将所述芯片压紧固定，所述避位槽在所述芯片上的投影覆盖所述芯片内的质量块。由于避位槽在芯片上的投影覆盖质量块，即压紧面与质量块相错开，故压块的压力不会直接传递至质量块，避免压力干扰测试结果，确保测试精度。本实用新型还涉及一种用于加速度计的测试系统。

Description

用于加速度计的测试机构及测试系统

技术领域

本实用新型涉及加速度计测试技术领域，特别是涉及一种用于加速度计的测试机构及测试系统。

背景技术

加速度计是一种惯性传感器，能够测量物体的加速度。现有的加速度计由于采用了MEMS(Micro-Electro-Mechanical System，微机电系统)技术，尺寸相对传统的加速度计大大缩小，而且MEMS加速度计还具有功耗低、成本低等优点，故MEMS加速度计被广泛应用于消费电子、汽车电子、工业控制、航空航天及国防军事等诸多领域。

加速度计的精度和性能会直接影响惯性导航设备的精度和性能，故加速度计在加工装配完成后需要经过性能指标测试。现有的测试设备是通过压块将待测试的加速度计压紧固定，但是压块压紧加速度计的面为平面，平面压块直接将力传递至加速度计的质量块上，使得平面压块的力干扰测试结果。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种不会干扰加速度计的测试结果，确保测试精度的用于加速度计的测试机构及测试系统。

一种用于加速度计的测试机构，包括：

底座，用于承载加速度计的芯片；

上盖，可转动地连接于所述底座，且所述上盖转动的过程中具有压紧位置；

锁紧件，可拆卸地连接于所述底座与所述上盖之间，以在同时与所述底座及所述上盖连接时将所述上盖固定于所述压紧位置；及

压块，设置于所述上盖，且所述压块具有压紧面，所述压紧面开设有避位槽；

当所述上盖处于所述压紧位置时，所述压紧面抵压于所述底座上的所述芯片，以将所述芯片压紧固定，所述避位槽在所述芯片上的投影覆盖所述芯片内的质量块。

通过设置上述的测试机构，将加速度计的芯片放置于底座上，然后将上盖转动至压紧位置，并将锁紧件同时与底座及上盖连接，此时压块的压紧面抵压于芯片，以将芯片压紧固定，接下来通过将该测试机构安装到测试板上对加速度计进行测试即可。由于避位槽在芯片上的投影覆盖质量块，即压紧面与质量块相错开，故压块的压力不会直接传递至质量块，避免压力干扰测试结果，确保测试精度。

在其中一个实施例中，所述上盖开设有安装孔，所述测试机构还包括连接件，所述连接件可拆卸地装设于所述安装孔内，所述压块设置于所述连接件。

在其中一个实施例中，所述安装孔沿第一方向贯穿所述上盖，所述测试机构还包括限位块，所述限位块设置于所述上盖沿所述第一方向的一侧，且所述限位块覆盖所述安装孔；

当所述连接件装设于所述安装孔内时，所述连接件沿所述第一方向的一端可抵接于所述限位块，所述压块设置于所述连接件远离所述限位块的一端，且所述压块伸出所述安装孔。

在其中一个实施例中，所述连接件抵接于所述限位块的一端可伸出所述安装孔；

所述测试机构还包括紧固件，所述紧固件包括相互连接的连接杆及紧固头，所述连接杆可穿过所述限位块并可拆卸地连接于所述上盖，且所述连接杆沿所述第一方向可调节位置；

所述连接杆沿所述第一方向调节位置的过程中，所述紧固头可抵接于所述限位块背离所述上盖的一侧，以使所述限位块抵接于所述连接件。

在其中一个实施例中，所述测试机构包括多个紧固件，所述上盖设有所述限位块的一侧开设有多个连接孔，且多个所述连接孔环绕所述安装孔均匀间隔排布，每一所述紧固件可穿过所述限位块并与一所述连接孔可拆卸地连接。

在其中一个实施例中，所述限位块开设有多个贯通孔，且所述连接孔的数量多于所述贯通孔的数量，所述限位块可绕所述安装孔的中心轴转动，所述限位块转动的过程中具有多个对应位置；

当所述限位块位于任一所述对应位置时，每一所述贯通孔可与一所述连接孔对应，以使所述连接杆可穿过对应一所述贯通孔并与一所述连接孔可拆卸地连接。

在其中一个实施例中，所述上盖转动的过程中还具有张开位置，且当所述上盖位于所述张开位置时，所述压紧面与所述芯片分离。

在其中一个实施例中，所述测试机构还包括弹性复位件，所述弹性复位件连接于所述底座与所述上盖之间，用于提供使所述上盖转动至所述张开位置的作用力。

在其中一个实施例中，所述底座开设有定位槽，所述定位槽用于容纳所述芯片，以承载所述芯片并对所述芯片进行定位。

一种用于加速度计的测试系统，包括如上所述的用于加速度计的测试机构。

附图说明

图1为本实用新型一实施例提供的用于加速度计的测试机构的结构示意图；

图2为图1所示的测试机构中A处放大结构示意图；

图3为图1所示的测试机构中压块与芯片及质量块的作用关系示意图；

图4为图3所示的作用关系的另一角度的示意图；

图5为1所示的测试机构中上盖、连接件、压块、限位块及紧固件剖视结构示意图；

图6为本实用新型另一实施例提供的压块的结构示意图。

附图标记：

100、测试机构；200、芯片；300、质量块；10、底座；20、上盖；30、锁紧件；40、压块；41、压紧面；42、避位槽；11、定位槽；50、弹性复位件；12、卡接部；60、连接件；70、限位块；80、紧固件；81、连接杆；82、紧固头。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

如图1至图3所示，本实用新型一实施例提供的用于加速度计的测试机构100，包括底座10、上盖20、锁紧件30及压块40。

底座10用于承载加速度计的芯片200，上盖20可转动地连接于底座10，且上盖20转动的过程中具有压紧位置，锁紧件30可拆卸地连接于底座10与上盖20之间，以在同时与底座10及上盖20连接时将上盖20固定于压紧位置，压块40设置于上盖20，且压块40具有压紧面41，压紧面41开设有避位槽42。

当上盖20位于压紧位置时，压紧面41抵压于底座10上的芯片200，以将芯片200压紧固定，避位槽42在芯片200上的投影覆盖芯片200内的质量块300。

请同时参阅图3及图4，通过设置上述的测试机构，将加速度计的芯片200放置于底座10上，然后将上盖20转动至压紧位置，并将锁紧件30同时与底座10及上盖20连接，此时压块40的压紧面41抵压于芯片200，以将芯片200压紧固定，接下来通过将该测试机构安装到测试板上对加速度计进行测试即可。由于避位槽42在芯片200上的投影覆盖质量块300，即压紧面41与质量块300相错开，故压块40的压力不会直接传递至质量块300，避免压力干扰测试结果，确保测试精度。

需要解释的是，对加速度计进行性能指标测试时，加速度计会产生一个运动，或模拟产生一个运动，在运动的情况下，芯片200内的质量块300可以对应产生惯性运动，引起电性参数(例如电容)的变化，从而将加速度信号转变为电信号输出。因此，如果压紧面41直接将压力传递至质量块300会干扰测试结果。

在一些实施例中，底座10开设有定位槽11，定位槽11用于容纳芯片200，以承载芯片200并对芯片200进行定位。

实际应用中，定位槽11位于底座10的一侧，且定位槽11内设有多根第一探针，多根第一探针用于与芯片200的引脚连接，底座10背离定位槽11的另一侧设有多根第二探针，在底座10与测试板连接时，多根第二探针与测试板上对应的引脚连接，从而实现在测试板上对测试机构固定的加速度计进行测试。

可以理解的是，压紧面41抵压于芯片200，即可以将芯片200压紧固定，还可以使得芯片200的引脚与定位槽11内的多根第一探针充分接触。

在一些实施例中，上盖20转动的过程中还具有张开位置，且当上盖20位于张开位置时，压紧面41与芯片200分离。

可以理解的是，当上盖20位于压紧位置时，压块40将芯片200压紧固定在定位槽11内，而当上盖20位于张开位置时，压块40与芯片200分离，此时可将芯片200拆离定位槽11，实现定位槽11内的芯片200更换。

进一步地，测试机构还包括弹性复位件50，弹性复位件50连接于底座10与上盖20之间，用于提供使上盖20转动至张开位置的作用力。

由此可知，在需要进行测试时，施加外力至上盖20，将上盖20转动至压紧位置，然后通过锁紧件30将上盖20固定于压紧位置；在需要拆离或更换芯片200时，将锁紧件30与上盖20或底座10分离，上盖20在弹性复位件50的作用下转动至张开位置。

在一些实施例中，锁紧件30可转动地设置于上盖20，底座10上设有卡接部12。

当上盖20转动至压紧位置时，锁紧件30转动的过程中可与卡接部12相卡接或分离，并在与卡接部12相卡接时将上盖20固定于压紧位置。

可以理解的是，在另一些实施例中，锁紧件30也可以可转动地设置于底座10，对应可在上盖20设置卡接部12，在此不作限制。

在一些实施例中，上盖20开设有安装孔，测试机构还包括连接件60，连接件60可拆卸地装设于安装孔内，压块40设置于连接件60。如此，在需要更换压块40时，只需要将连接件60拆离安装孔，然后将带有新的压块40的连接件60装设于安装孔即可。

请参阅图5，在一些实施例中，安装孔沿第一方向贯穿上盖20，测试机构还包括限位块70，限位块70设置于上盖20沿第一方向的一侧，且限位块70覆盖安装孔。

当连接件60装设于安装孔内时，连接件60沿第一方向的一端可抵接于限位块70，压块40设置于连接件60远离限位块70的一端，且压块40伸出安装孔，以在上盖20转动至压紧位置时抵压于芯片200。

需要说明的是，本实施例中，第一方向为图5的上下方向。

可以理解的是，在不设置限位块70的情况下，安装孔可以是盲孔或者是其他的形式，以避免连接件60从安装孔的另一端脱落，同时可以提供给压块40压紧芯片200的压力。

在一些实施例中，连接件60抵接于限位块70的一端可伸出安装孔，测试机构还包括紧固件80，紧固件80包括相互连接的连接杆81及紧固头82，连接杆81可穿过限位块70并可拆卸地连接于上盖20，且连接杆81沿第一方向可调节位置。

连接杆81沿第一方向调节位置的过程中，紧固头82可抵接于限位块70背离上盖20的一侧，以使限位块70抵接于连接件60。

可以理解的是，连接杆81穿过限位块70，限位块70可以沿着连接杆81移动，而紧固头82可抵接于限位块70，故限位块70的移动范围是紧固头82与上盖20之间，而在连接件60远离压块40的一端从安装孔伸出时，限位块70可抵接于连接件60。由此可知，可通过连接杆81调节紧固头82位置，从而实现对连接件60及压块40的位置进行调节。

结合图1及图5可知，紧固件80和限位块70可实现沿第一方向调节连接件60和压块40的位置，从而使得该测试机构能够适用于不同厚度的芯片200，同时能够实现对压力的调节，避免压力过大压坏芯片200。

在一些实施例中，测试机构包括多个紧固件80，上盖20设有限位块70的一侧开设有多个连接孔，多个连接孔环绕安装孔均匀间隔排布，每一连接杆81可穿过限位块70并与一连接孔可拆卸地连接。

如此，多个紧固件80的位置与多个连接孔的位置对应，即环绕安装孔排布，同时配合多个紧固件80可以对限位块70进行限位，可以使得紧固头82提供给限位块70的力更加均匀，进而使得压块40对芯片200的压力更加均匀。

在一些实施例中，限位块70开设有多个贯通孔，且连接孔的数量多于贯通孔的数量，限位块70可绕安装孔的中心轴转动，限位块70转动的过程中具有多个对应位置。

当限位块70位于任一对应位置时，每一贯通孔可与一连接孔对应，以使连接杆81可穿过对应的一贯通孔并与一连接孔可拆卸地连接。

需要说明的是，如果将上盖20转动至压紧位置压块40对芯片200的压力分布不均匀，而且通过紧固件80沿第一方向调节压块40的位置也无法改变压力分布不均匀的情况，可通过转动限位块70，将限位块70移动至其他的对应位置，使得贯通孔与其他的连接孔对应，即使得连接杆81与其他的连接孔连接。接下来再通过紧固件80沿第一方向调节压块40的位置。重复上述动作直至找到一个能够使得压块40对芯片200的压力分布均匀的对应位置。

实际应用中，紧固件80为螺栓，连接杆81与连接孔螺纹连接。在另一些实施例中，也可以是连接杆81与连接孔卡接，且具有多个卡接位置，多个卡接位置沿第一方向间隔排布，从而实现连接杆81沿第一方向调节位置。当然，连接杆81优选与连接孔螺纹连接。

需要进一步说明的是，上述的上盖20转动至压紧位置压块40对芯片200的压力分布不均匀，而且通过紧固件80沿第一方向调节压块40的位置也无法改变压力分布不均匀的情况，可能是上盖20相对于底座10的位置发生偏移，限位块70在该对应位置时，即使将连接杆81拧到底，也无法使得压块40对芯片200的压力分布均匀；也可能是紧固件80与当前连接孔匹配不良，限位块70在该对应位置时，无法将连接杆81拧到底。故此时转动限位块70，使得限位块70转动至其他的对应位置，以使得压块40对芯片200的压力分布均匀。

在一些实施例中，避位槽42位于压紧面41的中间位置，且避位槽42的投影形状为矩形。

请参阅图6，在另一些实施例中，避位槽42还贯穿压块40上与压紧面41相邻的四个面，即压紧面41被分隔成四个相互间隔的平面，此时压块40与芯片200的接触面积更小，既可以实现不会直接将压力传递至质量块300，同时也可以减少芯片其他部位受到的压力。

可以理解的是，为了保证压紧面41将芯片200压紧的同时避开直接将压力传递至质量块300，避位槽42的形状还可以是其他的形式，例如圆形的避位槽42等，在此不作限制。

一种用于加速度计的测试系统，包括上述实施例中的用于加速度计的测试机构。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种用于加速度计的测试机构，其特征在于，包括：

底座，用于承载加速度计的芯片；

上盖，可转动地连接于所述底座，且所述上盖转动的过程中具有压紧位置；

锁紧件，可拆卸地连接于所述底座与所述上盖之间，以在同时与所述底座及所述上盖连接时将所述上盖固定于所述压紧位置；及

压块，设置于所述上盖，且所述压块具有压紧面，所述压紧面开设有避位槽；

当所述上盖处于所述压紧位置时，所述压紧面抵压于所述底座上的所述芯片，以将所述芯片压紧固定，所述避位槽在所述芯片上的投影覆盖所述芯片内的质量块。

2.根据权利要求1所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述上盖开设有安装孔，所述测试机构还包括连接件，所述连接件可拆卸地装设于所述安装孔内，所述压块设置于所述连接件。

3.根据权利要求2所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述安装孔沿第一方向贯穿所述上盖，所述测试机构还包括限位块，所述限位块设置于所述上盖沿所述第一方向的一侧，且所述限位块覆盖所述安装孔；

当所述连接件装设于所述安装孔内时，所述连接件沿所述第一方向的一端可抵接于所述限位块，所述压块设置于所述连接件远离所述限位块的一端，且所述压块伸出所述安装孔。

4.根据权利要求3所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述连接件抵接于所述限位块的一端可伸出所述安装孔；

所述测试机构还包括紧固件，所述紧固件包括相互连接的连接杆及紧固头，所述连接杆可穿过所述限位块并可拆卸地连接于所述上盖，且所述连接杆沿所述第一方向可调节位置；

所述连接杆沿所述第一方向调节位置的过程中，所述紧固头可抵接于所述限位块背离所述上盖的一侧，以使所述限位块抵接于所述连接件。

5.根据权利要求4所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述测试机构包括多个紧固件，所述上盖设有所述限位块的一侧开设有多个连接孔，且多个所述连接孔环绕所述安装孔均匀间隔排布，每一所述紧固件可穿过所述限位块并与一所述连接孔可拆卸地连接。

6.根据权利要求5所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述限位块开设有多个贯通孔，且所述连接孔的数量多于所述贯通孔的数量，所述限位块可绕所述安装孔的中心轴转动，所述限位块转动的过程中具有多个对应位置；

当所述限位块位于任一所述对应位置时，每一所述贯通孔可与一所述连接孔对应，以使所述连接杆可穿过对应一所述贯通孔并与一所述连接孔可拆卸地连接。

7.根据权利要求1所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述上盖转动的过程中还具有张开位置，且当所述上盖位于所述张开位置时，所述压紧面与所述芯片分离。

8.根据权利要求7所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述测试机构还包括弹性复位件，所述弹性复位件连接于所述底座与所述上盖之间，用于提供使所述上盖转动至所述张开位置的作用力。

9.根据权利要求1所述的用于加速度计的测试机构，其特征在于，所述底座开设有定位槽，所述定位槽用于容纳所述芯片，以承载所述芯片并对所述芯片进行定位。

10.一种用于加速度计的测试系统，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的用于加速度计的测试机构。