CN219201678U - 一种线损点检装置 - Google Patents

Abstract

本申请提出了一种线损点检装置，包括第一射频测试设备、第二射频测试设备、至少一辅助线和至少一转接头；辅助线连接第二射频测试设备；转接头的一端连接对应的辅助线，另一端用于连接第一射频测试设备。本申请通过转接头和辅助线相配合，即可建立第二射频测试设备和第一射频测试设备之间的射频测试通道，从而完成整个环境的线损点检，结构设计简单，拆装也较为简单，可适应性更强，有利于适用较多类型场景的线损点检，并且无需制作金板，元件复用比例较高，从而可以降低研发成本及维护成本。

Description

一种线损点检装置

技术领域

本申请涉及线损检测技术领域，具体涉及一种线损点检装置。

背景技术

随着电子信息的发展，电子产品的生产制造也成为了产品开发的一个重要的节点，射频信号的测试是集成在生产夹具的屏蔽箱里进行，生产夹具将综测仪器和待生产的电子产品的主板连接。为保证产线生产的模块射频性能，须测量出生产夹具(包括校准工位、综测工位等)的线损，目标是测量从综测仪器到生产夹具的顶针处(即电子产品接收射频信号的起始节点)的线损，这段线损越接近真实值，标识出的产品功率越接近真实值，产品射频性能越好。

当前的线损点检方案主要金板(或者又称金机)线损点检方案，即通过将待生产的电子产品的主板在实验室里面标定好功率，这个主板即视为金板，将金板带到工厂批量生产的线体上进行功率标定，通过调整线损的大小测试达到金板标定的功率和接收灵敏度，即可得到对应频段的上行线损和下行线损。可见，该方案需要单独在实验室制作金板，然后是点线损，最后进行校验，校验完成后该金机即可用于本批次项目产品的线损点检。

但是，金板方案所采用的金板与项目产品具有对应关系，即，不同批次的产品不能采用同一金板进行线损点检。这导致NPI(New Product Introduction，新产品导入)、新工厂或者金板丢失等事件发生时，必须重新开发新的金板，不仅需要消耗大量的研发成本，而且后续维护成本也比较高。

实用新型内容

鉴于此，本申请提供一种线损点检装置，用以改善金板方案所采用的金板与项目产品具有对应关系导致的研发成本及维护成本较高的问题。

本申请提供的一种线损点检装置，包括：

第一射频测试设备；

第二射频测试设备；

至少一辅助线，所述辅助线连接所述第二射频测试设备；

至少一转接头，所述转接头的一端连接对应的所述辅助线，所述转接头的另一端用于连接所述第一射频测试设备，并建立所述第一射频测试设备和所述第二射频测试设备之间的射频测试通道。

可选地，所述转接头的一端设置有螺纹，与所述辅助线通过螺纹拧合连接。

可选地，所述转接头的一端设置有外螺纹，所述辅助线套设于所述转接头的一端的外部。

可选地，所述转接头的另一端设置有扣头，所述转接头的扣头与所述第一射频测试设备的接口通过扣合方式连接。

可选地，所述线损点检装置还包括固定设备，所述固定设备将所述转接头与所述第一射频测试设备相对固定。

可选地，所述固定设备包括主体部和设置于所述主体部上的安装部；所述安装部与承载所述第一射频测试设备的载台固定；所述主体部设置有通孔，所述转接头穿设于所述通孔中。

可选地，所述转接头和所述辅助线的连接处外露于所述主体部的一侧，所述转接头和所述第一射频测试设备的连接处外露于所述主体部的另一侧。

可选地，所述转接头和辅助线的连接处位于所述通孔中，所述转接头和第一射频测试设备的连接处也位于所述通孔中，且与所述通孔的孔壁贴合。

可选地，所述转接头的一端与所述辅助线通过螺纹拧合连接，所述辅助线与所述转接头的连接处设置有第一螺帽；所述转接头设置有第二螺帽；所述第一螺帽和所述第二螺帽的直径均大于所述通孔的直径，且两者分别被旋拧至贴合于所述主体部的相对两侧。

可选地，所述主体部设置有凹陷区，所述转接头设置于所述凹陷区内，且所述辅助线与所述转接头的连接处至少部分位于所述凹陷区内。

如上所述，在本申请的线损点检装置中，通过转接头的一端连接对应的辅助线，辅助线连接第二射频测试设备，转接头的另一端连接第一射频测试设备，即可建立第一射频测试设备和第二射频测试设备之间的射频测试通道，从而完成整个环境的线损点检，第二射频测试设备可以采用常用的功率计，转接头和辅助线相配合的结构简单，拆装也较为简单，可适应性更强，有利于适用较多类型场景的线损点检，并且无需制作金板，包括在NPI、新工厂或者金板丢失等事件发生时也无需制作金板，从而可以降低研发成本及维护成本。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种线损点检装置的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种线损点检装置的总装结构示意图；

图3和图4为图2所示的固定设备与转接头相配合的两个视角示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及相应的附图，对本申请的技术方案进行清楚地描述。显然，下文所描述实施例仅是本申请的一部分实施例，而非全部的实施例。在不冲突的情况下，下述各个实施例及其技术特征可相互组合，且亦属于本申请的技术方案。

应理解，在本申请实施例的描述中，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅为便于描述本申请相应实施例的技术方案和简化描述，而非指示或暗示装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

请参阅图1，本申请实施例提供的一种线损点检装置1，包括第一射频测试设备11、第二射频测试设备12、至少一辅助线13和至少一转接头14。

第一射频测试设备11用于产生并发送具有预设功率的射频信号，在实际场景中包括但不限于为传统金板点检方案所用的综测仪器。

辅助线13连接第二射频测试设备12，第二射频测试设备12对经由辅助线13的输出端口这一节点的信号进行功率检测，以此得到线损。

转接头14的一端14a连接对应的辅助线13，另一端14b连接第一射频测试设备11。请一并参阅图2至图4所示，转接头14的一端14a可以设置有螺纹，辅助线13对应的端部设置有相适配的螺纹，转接头14的一端14a与辅助线13通过螺纹拧合方式进行连接。在一些场景中，转接头14的一端14a可以设置外螺纹，辅助线13对应的端部设置有第一螺帽13a，第一螺帽13a与外螺纹拧合使得辅助线13的端部套设于转接头14的一端14a的外部，可以使得辅助线13与转接头14更好的连接，另外也可以保护转接头14的一端14a。

可选地，转接头14的另一端14b设置有扣头141，该扣头141与第一射频测试设备11的接口(例如顶针)通过扣合方式连接。

在线损点检事件中，第一射频测试设备11产生并发送具有预设功率T₁的射频信号，不考虑第一射频测试设备11的内部射频通道及输出端口的损耗，第一射频测试设备11的输出端口的输出功率可视为功率T₁，该射频信号经由转接头14及其对应连接的辅助线13输出至第二射频测试设备12，第二射频测试设备12检测辅助线13的输出端口的信号功率(即输出功率)为T₂，则测得本次线损为T₀＝(T₁-T₂)，又可称为下行损耗。

如上所述，在本申请的线损点检装置1中，通过转接头14和辅助线13相配合，即可建立第一射频测试设备11和第二射频测试设备12之间的射频测试通道，从而完成整个环境的线损点检，转接头14和辅助线13相配合的结构设计简单，拆装也较为简单，可适应性更强，有利于适用较多类型场景的线损点检，并且无需制作金板，包括在NPI、新工厂或者金板丢失等事件发生时也无需制作金板，从而可以降低研发成本及维护成本。

另外，第二射频测试设备12可以采用本领域常用的功率计，第一射频测试设备11也可以传统金板点检方案所用的综测仪器，可见，本申请的线损点检装置1复用传统测试元件的比例较高，研发成本更低。

应理解，所述线损点检装置1还可以包括其他必要结构元器件，本申请实施例不予以一一列出。例如，可以包括控制终端，控制终端作为整个线损点检装置1的中央处理单元，可与第一射频测试设备11和第二射频测试设备12均连接，用于根据测试进程与任一者进行对应指令的收发。

请一并参阅图2至图4所示，所述线损点检装置1还可以包括固定设备15，该固定设备15用于将转接头14与第一射频测试设备11相对固定。应理解，本申请全文所谓的连接、固定、设置等结构元件之间的关联关系，可以是直接关联关系，也可以是通过其他一个或者多个中间件实现的间接关联关系，具体应当根据实际场景以及附图所示适应性而定，本申请不予以一一列举。例如，转接头14固定于固定设备15上，固定设备15固定于测试夹具，第一射频测试设备11通过走线与转接头14连接，以此转接头14与第一射频测试设备11实现相对固定，该相对固定实质上是间接固定。

固定设备15包括主体部151和设置于主体部151上的安装部152，主体部151可以整体上为板状或较厚的片状结构件；安装部152可以为若干柱状件。该固定设备15可以为一体成型件，例如注塑塑料件，便于制得。

安装部152与承载第一射频测试设备11的载台(例如夹具)固定。主体部151设置有通孔1511，例如图3和图4所示，通孔1511为贯穿主体部151厚度方向的通孔。在各个转接头14穿设于对应的通孔1511中的状态下，转接头14被通孔1511的孔壁紧密接触，可以并非全部面接触，以此将各个转接头14牢牢插置于对应的通孔1511中，以此实现各个转接头14的固定。转接头14和辅助线13的连接处外露于主体部151的一侧，转接头14和第一射频测试设备11的连接处外露于主体部151的另一侧。

请参阅图2，转接头14的一端14a与辅助线13通过螺纹拧合连接，辅助线13与转接头14的连接处可以设置有第一螺帽13a；转接头14设置有第二螺帽142；该第二螺帽142和第一螺帽131的直径均大于对应通孔1511的直径，且两者分别被旋拧至贴合于主体部151的相对两侧。

可选地，主体部151朝向辅助线13的一侧设置有凹陷区151a，通孔1511设置于该凹陷区151a内。各个转接头14穿设于对应的通孔1511中，于此，这些转接头14也设置于该凹陷区151a内，且辅助线13与转接头14的连接处至少部分位于该凹陷区151a内，以保护该连接处。

在其他一些场景中，转接头14和辅助线13的连接处也可以位于对应的通孔1511中，并可以被通孔1511的孔壁紧密接触，可以并非全部面接触，和/或，转接头14和第一射频测试设备11的连接处也位于对应的通孔1511中，且与通孔1511的孔壁紧密贴合，当然也可以并非全部面接触。也就是说，将所谓连接处内沉于通孔1511中，以保护该连接处。

应理解，以上所述仅为本申请的部分实施例，并非因此限制本申请的专利范围，对于本领域普通技术人员而言，凡是利用本说明书及附图内容所作的等效结构变换，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

尽管本文采用术语“第一、第二”等描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。另外，单数形式“一”、“一个”和“该”旨在也包括复数形式。术语“或”和“和/或”被解释为包括性的，或意味着任一个或任何组合。仅当元件、功能、步骤或操作的组合在某些方式下内在地互相排斥时，才会出现该定义的例外。

Claims (10)

1.一种线损点检装置，其特征在于，包括：

第一射频测试设备；

第二射频测试设备；

至少一辅助线，所述辅助线连接所述第二射频测试设备；

至少一转接头，所述转接头的一端连接对应的所述辅助线，所述转接头的另一端用于连接所述第一射频测试设备，并建立所述第一射频测试设备和所述第二射频测试设备之间的射频测试通道。

2.根据权利要求1所述的线损点检装置，其特征在于，所述转接头的一端设置有螺纹，与所述辅助线通过螺纹拧合连接。

3.根据权利要求2所述的线损点检装置，其特征在于，所述转接头的一端设置有外螺纹，所述辅助线套设于所述转接头的一端的外部。

4.根据权利要求1所述的线损点检装置，其特征在于，所述转接头的另一端设置有扣头，与所述第一射频测试设备的接口通过扣合方式连接。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的线损点检装置，其特征在于，所述线损点检装置还包括固定设备，所述固定设备将所述转接头与所述第一射频测试设备相对固定。

6.根据权利要求5所述的线损点检装置，其特征在于，所述固定设备包括主体部和设置于所述主体部上的安装部；所述安装部与承载所述第一射频测试设备的载台固定；所述主体部设置有通孔，所述转接头穿设于所述通孔中。

7.根据权利要求6所述的线损点检装置，其特征在于，所述转接头和所述辅助线的连接处外露于所述主体部的一侧，所述转接头和所述第一射频测试设备的连接处外露于所述主体部的另一侧。

8.根据权利要求6所述的线损点检装置，其特征在于，所述转接头和所述辅助线的连接处位于所述通孔中，所述转接头和所述第一射频测试设备的连接处也位于所述通孔中，且与所述通孔的孔壁贴合。

9.根据权利要求6所述的线损点检装置，其特征在于，所述转接头的一端与所述辅助线通过螺纹拧合连接，所述辅助线与所述转接头的连接处设置有第一螺帽；所述转接头设置有第二螺帽；所述第一螺帽和所述第二螺帽的直径均大于所述通孔的直径，且两者分别被旋拧至贴合于所述主体部的相对两侧。

10.根据权利要求6至9中任一项所述的线损点检装置，其特征在于，所述主体部设置有凹陷区，所述转接头设置于所述凹陷区内，且所述辅助线与所述转接头的连接处至少部分位于所述凹陷区内。

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