CN210323274U - 一种通用型sop老化测试座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种通用型SOP老化测试座，包括上盖组件和下盖组件，上盖组件与下盖组件一侧铰接连接，上盖组件与下盖组件另一侧卡扣连接；下盖组件包括有底座、测试接触模组、及压块模组，测试接触模组位于底座中，压块模组位于测试接触模组上方；底座上设置有用于调节测试接触模组间距的Y向滑轨，底座上还设置有用于适应IC长度的X向卡位。本实用新型设置上盖组件和下盖组件，在下盖组件上设置可适用不同IC宽度的Y向滑轨，以及设置可适用不同IC长度的X向卡位，同时在上盖组件上设置弹性下压结构，上盖组件和下盖组件压合时，将IC引脚通过与金属弹片接触连接外部测试装置，测试效率高，能兼容不同型号IC，成本较低。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路领域，尤其涉及的是一种通用型SOP老化测试座。
背景技术
现有技术中，对于SOP类型封装集成电路老化测试座都是采用对应规格尺寸专用设计，没办法做到产品的通用性；或者是针对产品定制化制作，具有时间长，成本高等问题存在。
因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种能兼容不同集成电路、测试效率高、低成本的通用型SOP老化测试座。
本实用新型的技术方案如下：一种通用型SOP老化测试座，包括上盖组件和下盖组件，所述上盖组件与下盖组件一侧铰接连接，所述上盖组件与下盖组件另一侧卡扣连接；其中，所述下盖组件包括有底座、用于连接IC和外部测试装置的测试接触模组、及用于下压IC并使其与所述测试接触模组相接触的压块模组，所述测试接触模组位于底座中，所述压块模组位于测试接触模组上方；所述底座上设置有用于调节测试接触模组间距的Y向滑轨，所述底座上还设置有用于适应IC长度的X向卡位。
采用上述技术方案，所述的通用型SOP老化测试座中，所述上盖组件包括有顶盖和弹性下压结构，所述顶盖位于弹性下压结构上方，所述弹性下压结构位于压块模组上方。
采用上述各个技术方案，所述的通用型SOP老化测试座中，所述弹性下压结构包括下压板和四个弹簧，各所述弹簧呈矩阵排布位于顶盖与下压板之间，所述下压板位于压块模组上方。
采用上述各个技术方案，所述的通用型SOP老化测试座中，所述X向卡位包括有连接杆和两卡位柱，所述连接杆两端分别设置一卡位柱。
采用上述各个技术方案，所述的通用型SOP老化测试座中，所述测试接触模组包括两结构相同的接触组件，所述接触组件包括固定块和若干接触弹片，所述固定块架设于Y向滑轨上，所述固定块上开设若干插槽，各所述插槽中分别设置一接触弹片。
采用上述各个技术方案，所述的通用型SOP老化测试座中，所述上盖组件还包括有旋钮下压结构，所述旋钮下压结构包括圆形底板以及圆柱顶杆，所述圆柱顶杆设于圆形底板上，所述圆形底板的顶面一侧高于另二侧，所述下压板底面设置有与圆形底板的顶面适配的凹槽，所述圆柱顶杆从下至上依次穿过下压块和顶盖。
采用上述各个技术方案，本实用新型设置上盖组件和下盖组件，在下盖组件上设置可适用不同IC宽度的Y向滑轨，以及设置可适用不同IC长度的X向卡位，同时在上盖组件上设置弹性下压结构，上盖组件和下盖组件压合时，将 IC引脚通过与金属弹片接触连接外部测试装置，测试效率高，能兼容不同型号 IC，成本较低。
附图说明
图1为本实用新型的整体组装示意图；
图2为本实用新型的整体爆炸示意图；
图3为本实用新型的下盖组件爆炸示意图；
图4为本实用新型的旋钮下压结构示意图；
图5为本实用新型的下压板示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。
本实施例提供了一种通用型SOP老化测试座，包括上盖组件1和下盖组件2，所述上盖组件1与下盖组件2一侧铰接连接，所述上盖组件1与下盖组件2 另一侧卡扣连接；其中，所述下盖组件2包括有底座21、用于连接IC5和外部测试装置的测试接触模组22、及用于下压IC5并使其与所述测试接触模组22相接触的压块模组23，所述测试接触模组22位于底座21中，所述压块模组23位于测试接触模组22上方；所述底座21上设置有用于调节测试接触模组22间距的Y向滑轨24，所述底座21上还设置有用于适应IC5长度的X向卡位25。
如图1和图2，本实施例中，上盖组件1和下盖组件2一侧铰接连接3，而相对的另一侧则卡扣连接连接4，IC5位于下盖组件2上，通过上盖组件1与下盖组件2扣合，将IC5压紧在下盖组件2上，使IC5引脚与下盖组件2充分接触，完成测试。由于不同IC5有不同的尺寸，若针对每一种IC5设置测试装置，则测试成本很高，因而，本实施例将下盖组件2设为可调方式，以适应不同尺寸的IC5。具体的，IC5设于压块模组23和测试接触模组22之间，测试接触模组22顶部与IC5接触，测试接触模组22底部穿过底座21的避空口与外部测试装置连接。而测试接触模组22架设于Y向滑轨24上，可对测试接触模组22的间距进行调节，以适应不同宽度的IC5，同时X向卡位25则用于适应不同长度的IC5，因而实现一种测试装置测试不同尺寸的IC5。
进一步的，所述上盖组件1包括有顶盖11和弹性下压结构，所述顶盖11 位于弹性下压结构上方，所述弹性下压结构位于压块模组23上方。
如图2、图5，本实施例中，上盖组件1的顶盖11与下盖组件2的底座21 连接，顶盖11下设置弹性下压结构，弹性下压结构下压压块模组23，将IC5的引脚与测试接触模组22相接触，保证测试的顺利进行。
进一步的，所述弹性下压结构包括下压板121和四个弹簧122，各所述弹簧 122呈矩阵排布位于顶盖11与下压板121之间，所述下压板121位于压块模组 23上方。所述上盖组件1还包括有旋钮下压结构，所述旋钮下压结构包括圆形底板131以及圆柱顶杆132，所述圆柱顶杆132设于圆形底板131上，所述圆形底板131的顶面一侧高于另二侧，所述下压板121底面设置有与圆形底板131 的顶面适配的凹槽1211，所述圆柱顶杆132从下至上依次穿过下压块和顶盖11。
如图2、图4、图5，弹性下压结构包括下压板121和四个弹簧122，弹簧 122位于下压板121和顶盖11之间，弹簧122会一直给下压板121一个下压的力，使下压板121压住下方的压块模组23。具体的，上盖组件1设置一个旋钮下压结构，旋钮下压结构呈T型，包括圆形底板131和圆柱顶杆132，圆形底板 131顶面一侧高而另一侧低。同时，下压板121底面则设置有与圆形顶面适配的凹槽1211，凹槽1211一侧深而另一侧浅。顶盖11上设置有拧动件，拧动件与圆柱顶杆132连接。当拧动件将圆形底板131较高的一侧拧至凹槽1211较浅的一侧，则圆形底板131将下压板121往上顶，弹簧122压缩；当拧动件将圆形底板131较高的一侧拧至凹槽1211较深的一侧，则圆形底板131不对下压板121 施加向上的力，此时弹簧122伸长，将下压板121往下压，下压板121将压块模组23下压，使IC5的引脚与测试接触模组22充分接触。
进一步的，所述X向卡位25包括有连接杆251和两卡位柱252，所述连接杆251两端分别设置一卡位柱252。
如图2、图3，X向卡位25用于适配不同长度的IC5，以便将不同长度的 IC5都能固定住。连接杆251两端设置有卡位柱252，两卡位柱252靠近，适配长度较小的IC5，两卡位柱252远离，适配较长的IC5。
进一步的，所述测试接触模组22包括两结构相同的接触组件，所述接触组件包括固定块221和若干接触弹片223，所述固定块221架设于Y向滑轨24上，所述固定块221上开设若干插槽222，各所述插槽222中分别设置一接触弹片 223。
如图2、图3，固定块221上开设若干插槽222，每个插槽222中可以设一接触弹片223，接触弹片223并非固定设于插槽222中，因此，当不同的IC5引脚数不同时，可以通过在对应的插槽222中放置接触弹片223，以适应不同引脚的IC5。因此，本实施例不仅可以测试不同长度、宽度的IC5，也可以测试不同引脚数的IC5，相对于常规的单一尺寸测试装置，本实施例测试成本低、测试效率高。
采用上述各个技术方案，本实用新型设置上盖组件和下盖组件，在下盖组件上设置可适用不同IC宽度的Y向滑轨，以及设置可适用不同IC长度的X向卡位，同时在上盖组件上设置弹性下压结构，上盖组件和下盖组件压合时，将 IC引脚通过与金属弹片接触连接外部测试装置，测试效率高，能兼容不同型号 IC，成本较低。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种通用型SOP老化测试座，其特征在于：包括上盖组件和下盖组件，所述上盖组件与下盖组件一侧铰接连接，所述上盖组件与下盖组件另一侧卡扣连接；其中，所述下盖组件包括有底座、用于连接IC和外部测试装置的测试接触模组、及用于下压IC并使其与所述测试接触模组相接触的压块模组，所述测试接触模组位于底座中，所述压块模组位于测试接触模组上方；所述底座上设置有用于调节测试接触模组间距的Y向滑轨，所述底座上还设置有用于适应IC长度的X向卡位。
2.根据权利要求1所述的通用型SOP老化测试座，其特征在于：所述上盖组件包括有顶盖和弹性下压结构，所述顶盖位于弹性下压结构上方，所述弹性下压结构位于压块模组上方。
3.根据权利要求2所述的通用型SOP老化测试座，其特征在于：所述弹性下压结构包括下压板和四个弹簧，各所述弹簧呈矩阵排布位于顶盖与下压板之间，所述下压板位于压块模组上方。
4.根据权利要求1所述的通用型SOP老化测试座，其特征在于：所述X向卡位包括有连接杆和两卡位柱，所述连接杆两端分别设置一卡位柱。
5.根据权利要求1所述的通用型SOP老化测试座，其特征在于：所述测试接触模组包括两结构相同的接触组件，所述接触组件包括固定块和若干接触弹片，所述固定块架设于Y向滑轨上，所述固定块上开设若干插槽，各所述插槽中分别设置一接触弹片。
6.根据权利要求3所述的通用型SOP老化测试座，其特征在于：所述上盖组件还包括有旋钮下压结构，所述旋钮下压结构包括圆形底板以及圆柱顶杆，所述圆柱顶杆设于圆形底板上，所述圆形底板的顶面一侧高于另二侧，所述下压板底面设置有与圆形底板的顶面适配的凹槽，所述圆柱顶杆从下至上依次穿过下压块和顶盖。
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| CN201921062993.XU CN210323274U (zh) | 2019-07-08 | 2019-07-08 | 一种通用型sop老化测试座 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115980401A (zh) * | 2022-12-22 | 2023-04-18 | 杭州朗迅科技股份有限公司 | 一种基于下压式sop测试座的自动测试装置 |
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2019
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| CN115980401A (zh) * | 2022-12-22 | 2023-04-18 | 杭州朗迅科技股份有限公司 | 一种基于下压式sop测试座的自动测试装置 |
| CN115980401B (zh) * | 2022-12-22 | 2023-08-29 | 杭州朗迅科技股份有限公司 | 一种基于下压式sop测试座的自动测试装置 |
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