CN212364486U - 一种二极管电性测试结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种二极管电性测试结构，包括测试限位板、安装板A、安装板B、第一测试片组、第二测试片组；第一测试片组包括测试片A、测试片B，测试片A和测试片B相邻设置；第二测试片组包括测试片C、测试片D，测试片C和测试片D相邻设置；安装板A安装在测试限位板的一侧形成第一测试片组的收纳空间，安装板B安装在测试限位板的另一侧形成第二测试片组的收纳空间，第一测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内，第二测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内；测试限位板的上表面设置有测试座。本实用新型的有益效果是：实现迅速、稳定的测试动作。
Description
技术领域
本实用新型涉及二极管加工技术领域，尤其涉及一种二极管电性测试结构。
背景技术
现有技术中，对于二极管触脚的电性测试，一般会将二极管放在测试台上，而二极管相对两侧的触脚分别与测试台上的2片测试片接触进行电性检测，这样的检测结构，长期存在检测结构不够精准的情况，为了提升电性检测的质量，亟待改进。
实用新型内容
基于此，本实用新型的目的在于提供一种二极管电性测试结构，实现迅速、稳定的测试动作。
本实用新型提供一种二极管电性测试结构，包括测试限位板、安装板A、安装板B、第一测试片组、第二测试片组；所述第一测试片组包括测试片A、测试片B，所述测试片A和所述测试片B相邻设置；所述第二测试片组包括测试片C、测试片D，所述测试片C和所述测试片D相邻设置；所述安装板A安装在所述测试限位板的一侧形成第一测试片组的收纳空间，所述安装板B安装在所述测试限位板的另一侧形成第二测试片组的收纳空间，所述第一测试片组与所述测试限位板弹性连接并且设置在所述第一测试片组的收纳空间内，所述第二测试片组与所述测试限位板弹性连接并且设置在所述第二测试片组的收纳空间内；所述测试限位板的上表面设置有测试座。
作为优选方案，所述测试限位板、安装板A、安装板B通过螺丝连接固定。
作为优选方案，所述测试限位板靠向所述第一测试片组的一侧设置有让位槽，所述让位槽内设置有分隔条将所述让位槽划分成两个区域，所述测试片A和所述测试片B分别对应设置在让位槽内；所述测试限位板靠向所述第二测试片组的一侧设置有让位槽，所述让位槽内设置有分隔条将所述让位槽划分成两个区域，所述测试片C和所述测试片D分别对应设置在让位槽内；各所述让位槽内均设置有限位凸柱，所述测试片A、测试片B、测试片C、测试片D与所述限位凸柱对应的位置均设置有条形孔，各所述条形孔内均设置有与所述限位凸柱接触的缓冲弹簧。
作为优选方案，所述测试片A、测试片B、测试片C、测试片D均设置为T形，所述测试片A的上部和所述测试片B的上部之间的距离小于二极管触脚的宽度，所述测试片C的上部和所述测试片D的上部之间的距离小于二极管触脚的宽度。
作为优选方案，所述测试座的上表面设置有与所述测试片A、测试片B、测试片C、测试片D位置对应的限位槽。
本实用新型的有益效果为：第一测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内，第二测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内，抓取结构将二极管吸附住后带动二极管向测试座的方向下压，二极管两侧的触脚分别与第一测试片组和第二测试片组接触，并且第一测试片组和第二测试片组分别产生一个向上的回弹作用力将触脚顶紧，从而实现迅速、稳定的测试动作。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型的爆炸视图。
图3为本实用新型的正面视图(隐藏了安装板B后显示缓冲弹簧、限位凸柱)。
图4为本实用新型的俯视图。
附图标记为：测试限位板10、安装板A11、安装板B12、测试片C13、测试片D14、测试片A15、测试片B16、第一测试片组17、二极管18、螺丝19、缓冲弹簧20、条形孔21、限位凸柱22、分隔条23、让位槽24、测试座25、限位槽26、触脚27、第二测试片组28。
具体实施方式
为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合具体实施方式和附图对本实用新型作进一步详细描述。
本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
参照图1-4所示，本实用新型提供一种二极管电性测试结构，包括测试限位板10、安装板A11、安装板B12、第一测试片组17、第二测试片组28，测试限位板10、安装板A11、安装板B12通过螺丝19连接固定。
第一测试片组17包括测试片A15、测试片B16，测试片A15和测试片B16相邻设置；第二测试片组28包括测试片C13、测试片D14，测试片C13和测试片D14相邻设置；安装板A11安装在测试限位板10的一侧形成第一测试片组的收纳空间，安装板B12安装在测试限位板10的另一侧形成第二测试片组的收纳空间，第一测试片组17与测试限位板10弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内，第二测试片组28与测试限位板10弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内；测试限位板10的上表面设置有测试座25。测试座25的上表面设置有与测试片A15、测试片B16、测试片C13、测试片D14位置对应的限位槽26。
测试限位板10靠向第一测试片组17的一侧设置有让位槽24，让位槽24内设置有分隔条23将让位槽24划分成两个区域，测试片A15和测试片B16分别对应设置在让位槽24内；测试限位板10靠向第二测试片组28的一侧设置有让位槽24，让位槽24内设置有分隔条23将让位槽24划分成两个区域，测试片C13和测试片D14分别对应设置在让位槽24内；各让位槽24内均设置有限位凸柱22，测试片A15、测试片B16、测试片C13、测试片D14与限位凸柱22对应的位置均设置有条形孔21，各条形孔21内均设置有与限位凸柱22接触的缓冲弹簧20。各条形孔21内的缓冲弹簧20的一端均与测试片连接，各条形孔21内的缓冲弹簧20的另一端均与限位凸柱22相抵接触。当测试片A15、测试片B16、测试片C13、测试片D14受力下降时，缓冲弹簧20与限位凸柱22相抵产生一个向上的复位作用力从而促使测试片A15、测试片B16、测试片C13、测试片D14向上复位，从而加强对触脚的接触稳定性。
测试片A15、测试片B16、测试片C13、测试片D14均设置为T形，测试片A15的上部和测试片B16的上部之间的距离小于二极管18触脚27的宽度，测试片C13的上部和测试片D14的上部之间的距离小于二极管18触脚27的宽度。测试时，一侧的触脚27同时接触测试片A15和测试片B16，另一侧的触脚27同时接触测试片C13、测试片D14，从而进行电性测试。测试片A15、测试片B16、测试片C13、测试片D14四片测试片的结构，能达到开尔文测试目的。
本实施方式中，第一测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内，第二测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内，抓取结构将二极管吸附住后带动二极管向测试座的限位槽26方向下压，二极管两侧的触脚分别同时与第一测试片组和第二测试片组接触，并且第一测试片组和第二测试片组分别产生一个向上的回弹作用力将触脚顶紧，从而实现迅速、稳定的测试动作。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (5)
1.一种二极管电性测试结构，其特征在于：包括测试限位板(10)、安装板A(11)、安装板B(12)、第一测试片组(17)、第二测试片组(28)；所述第一测试片组(17)包括测试片A(15)、测试片B(16)，所述测试片A(15)和所述测试片B(16)相邻设置；所述第二测试片组(28)包括测试片C(13)、测试片D(14)，所述测试片C(13)和所述测试片D(14)相邻设置；所述安装板A(11)安装在所述测试限位板(10)的一侧形成第一测试片组的收纳空间，所述安装板B(12)安装在所述测试限位板(10)的另一侧形成第二测试片组的收纳空间，所述第一测试片组(17)与所述测试限位板(10)弹性连接并且设置在所述第一测试片组的收纳空间内，所述第二测试片组(28)与所述测试限位板(10)弹性连接并且设置在所述第二测试片组的收纳空间内；所述测试限位板(10)的上表面设置有测试座(25)。
2.根据权利要求1所述的一种二极管电性测试结构，其特征在于：所述测试限位板(10)、安装板A(11)、安装板B(12)通过螺丝(19)连接固定。
3.根据权利要求1所述的一种二极管电性测试结构，其特征在于：所述测试限位板(10)靠向所述第一测试片组(17)的一侧设置有让位槽(24)，所述让位槽(24)内设置有分隔条(23)将所述让位槽(24)划分成两个区域，所述测试片A(15)和所述测试片B(16)分别对应设置在让位槽(24)内；所述测试限位板(10)靠向所述第二测试片组(28)的一侧设置有让位槽(24)，所述让位槽(24)内设置有分隔条(23)将所述让位槽(24)划分成两个区域，所述测试片C(13)和所述测试片D(14)分别对应设置在让位槽(24)内；各所述让位槽(24)内均设置有限位凸柱(22)，所述测试片A(15)、测试片B(16)、测试片C(13)、测试片D(14)与所述限位凸柱(22)对应的位置均设置有条形孔(21)，各所述条形孔(21)内均设置有与所述限位凸柱(22)接触的缓冲弹簧(20)。
4.根据权利要求3所述的一种二极管电性测试结构，其特征在于：所述测试片A(15)、测试片B(16)、测试片C(13)、测试片D(14)均设置为T形，所述测试片A(15)的上部和所述测试片B(16)的上部之间的距离小于二极管(18)触脚(27)的宽度，所述测试片C(13)的上部和所述测试片D(14)的上部之间的距离小于二极管(18)触脚(27)的宽度。
5.根据权利要求4所述的一种二极管电性测试结构，其特征在于：所述测试座(25)的上表面设置有与所述测试片A(15)、测试片B(16)、测试片C(13)、测试片D(14)位置对应的限位槽(26)。
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| CN (1) | CN212364486U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113640314A (zh) * | 2021-10-14 | 2021-11-12 | 深圳市赛元微电子有限公司 | 一种半导体质量检测装置及方法 |
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