CN211858093U - 一种检测压头及检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子产品检测技术领域，具体公开了一种检测压头及检测治具，该检测压头包括安装架、压头、导电组件和弹性支撑条，压头滑动设置于所述安装架上，以靠近或远离待检测的工件；导电组件包括薄膜探针，所述薄膜探针与所述压头连接，所述薄膜探针的一端设置有多个导电触片；弹性支撑条连接于所述压头，并位于所述压头与所述薄膜探针之间，所述薄膜探针设置有所述导电触片的一端与所述弹性支撑条的表面抵接，且所述表面为倾斜面，所述倾斜面较低一端的棱边沿多个所述导电触片的排列方向延伸。本实用新型提供的检测压头使得薄膜探针上的导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。

Description

一种检测压头及检测治具

技术领域

本实用新型涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种检测压头及检测治具。

背景技术

为了便于测试TFT面板或LED面板等面板的电路是否正常，面板出厂前需要进行点亮测试，现有技术中通过检测压头对面板进行检测。检测压头包括薄膜探针，薄膜探针上包括多个并列设置的第一导电触片，面板上设置有与第一导电触片对应的第二导电触片，检测面板时，将薄膜探针下压使得多个第一导电触片与多个第二导电触片一一电性接触，进而使得面板通电。

但是，由于薄膜探针上包括多个并列设置的第一导电触片，检测压头下压时不能保证每一个第一导电触片均与第二导电触片接触，导致面板的检测工作无法正常进行。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种检测压头及检测治具，以使得薄膜探针上的多个导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种检测压头，包括：

安装架；

压头，滑动设置于所述安装架上，以靠近或远离待检测的工件；

导电组件，包括薄膜探针，所述薄膜探针与所述压头连接，所述薄膜探针的一端设置有多个导电触片；

弹性支撑条，连接于所述压头，并位于所述压头与所述薄膜探针之间，所述薄膜探针设置有所述导电触片的一端与所述弹性支撑条的表面抵接，且所述表面为倾斜面，所述倾斜面较低一端的棱边沿多个所述导电触片的排列方向延伸。

作为优选，所述弹性支撑条设置于所述压头的端部，所述压头的所述端部具有L型的台阶面，所述弹性支撑条的一端与所述台阶面的水平面抵接，所述弹性支撑条的一侧与所述台阶面的竖直面抵接。

作为优选，所述压头与所述导电组件通过快拆结构连接。

作为优选，所述快拆结构包括：

磁块，连接于所述压头；

金属板，连接于所述导电组件，所述磁块能够吸附所述金属板。

作为优选，所述压头开设有容纳槽，所述磁块设置于所述容纳槽内。

作为优选，所述检测压头还包括：

缓冲结构，所述压头通过所述缓冲结构与所述安装架连接。

作为优选，所述安装架开设有安装槽；

所述缓冲结构包括：

连接块，所述连接块的一侧滑动连接于所述安装槽的侧壁；所述连接块开设有开口朝向所述安装槽的槽底的安装孔；

弹簧，所述弹簧插设于所述安装孔，所述弹簧的一端伸出所述安装孔并连接于所述安装槽的所述槽底。

作为优选，所述检测压头还包括：

导向结构，所述连接块通过所述导向结构滑动连接于所述安装槽的所述侧壁。

作为优选，所述导向结构包括：

滑槽，开设于所述安装槽的所述侧壁；

滑块，连接于所述连接块，并滑动设置于所述滑槽内。

本实用新型采用以下技术方案：

一种检测治具，包括上述的检测压头。

本实用新型的有益效果：

在检测面板时，薄膜探针上的导电触片朝向面板，并位于压头的下方。在压头刚开始被下压时，由于倾斜面与薄膜探针的接触面积小，薄膜探针受到面板的反作用力时，力传递给倾斜面，具有倾斜面的弹性支撑条易于压缩变形，倾斜面较低一端的棱边的延伸方向与多个导电触片的排列一致，从而使得每个导电触片均能与面板电性接触。弹性支撑条被压缩变形后形成平面，与面板的接触面积增大，进而稳定地支撑薄膜探针，使导电触片的位置保持稳定。本实用新型提供的检测压头使得薄膜探针上的导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的检测压头的部分结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的检测压头的分解图；

图3是本实用新型实施例提供的弹性支撑条的结构示意图；

图4是本实用新型实施例提供的检测压头的部分结构示意图。

图中：

1、安装架；11、避让槽；

2、压头；21、水平面；22、竖直面；23、容纳槽；

3、导电组件；31、薄膜探针；32、柔性电路板；

4、弹性支撑条；41、倾斜面；

5、快拆结构；51、磁块；52、金属板；

6、缓冲结构；61、连接块；62、弹簧；

7、导向结构；71、滑块；

8、固定架。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部。

本实用新型中限定了一些方位词，在未作出相反说明的情况下，所使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”，这些方位词是为了便于理解而采用的，因而不构成对本实用新型保护范围的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本实施例提供了一种检测压头，用于TFT面板、LED面板或太阳能薄膜等面板，但不限于此，还可以用于检测其他工件，以使得薄膜探针31上的多个导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。以下以待检测的工件为面板为例进行说明。

如图1-图3所示，本实施例提供的检测压头包括安装架1、压头2、导电组件3和弹性支撑条4。压头2滑动设置于安装架1上，以靠近或远离待检测的面板(为便于理解，以图1为例，待检测的面板位于导电组件3的下侧，压头2向下滑动抵压于面板上)；导电组件3包括薄膜探针31，薄膜探针31与压头2连接，从而在压头2的带动下靠近或远离面板。薄膜探针31的一端设置有多个导电触片，以与面板电性接触。

弹性支撑条4连接于压头2，并位于压头2与薄膜探针31之间，薄膜探针31设置有导电触片的一端与弹性支撑条4的表面抵接，弹性支撑条4的该表面为倾斜面41，且斜面41较低一端的棱边沿多个导电触片的排列方向延伸。弹性支撑条4可以由橡胶等具有弹性的材料制成。在检测面板时，薄膜探针31上的导电触片朝向面板，并位于压头2的下方。在压头2刚开始被下压时，由于倾斜面41与薄膜探针31的接触面积小，薄膜探针31受到面板的反作用力时，力传递给倾斜面41，具有倾斜面41的弹性支撑条4易于压缩变形，倾斜面41较低一端的棱边沿多个导电触片的排列方向延伸，从而使得每个导电触片均能与面板电性接触。相较于弹性支撑条4的与薄膜探针31抵接的面为平面而言，具有倾斜面41的弹性支撑条4为楔形结构，其可以获得更大的弹性变形量，允许所有导电触片在不完全平整(即有高低差)时能够通过该较大的变形量，使得位于最低点的导电触片与待检测的面板接触后，位于高点的导电触片能够继续下压，从而使所有导电触片被全部抵压至与待检测的面板的导电触片接触，且不会压坏待检测的面板。弹性支撑条4的倾斜面41被挤压而压缩变形后形成平面，与面板的接触面积增大，进而稳定地支撑薄膜探针31，使导电触片的位置保持稳定。本实施例提供的检测压头使得薄膜探针31上的导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。

在本实施例中，倾斜面41与水平面21的夹角可以为45°，当然在其他实施例中，该夹角还可以为15°-75°之间的任意角度，如可以为30°、50°或70°等。

如图1和图2所示，优选地，弹性支撑条4设置于压头2的端部，压头2的端部具有L型的台阶面，弹性支撑条4的一端与台阶面的水平面21抵接，弹性支撑条4的一侧与台阶面的竖直面22抵接。由于弹性支撑条4远离竖直面22的一侧没有阻挡，因此弹性支撑条4被压缩后，弹性支撑条4具有变形空间，由于竖直面22可以抵挡弹性支撑条4，避免弹性支撑条4压缩变形后发生曲折而错位。

如图1和图2所示，优选地，导电组件3还包括柔性电路板32，柔性电路板32连接于压头2上。柔性电路板32与薄膜探针31电性连接，以为薄膜探针31供电。在本实施例中，为了便于更换柔性电路板32，压头2与导电组件3通过快拆结构5连接。

如图2所示，快拆结构5包括磁块51和金属板52，磁块51连接于压头2，金属板52连接于导电组件3的柔性电路板32上，磁块51能够吸附金属板52。导电组件3与压头2通过磁吸附连接，从而可以实现快速拆卸。优选地，为了减小检测压头的体积，压头2开设有容纳槽23，磁块51设置于容纳槽23内。磁块51可以通过粘接等方式固定于容纳槽23内。

优选地，下压压头2时，为避免薄膜探针31与面板发生刚性接触，检测压头还包括缓冲结构6，压头2通过缓冲结构6与安装架1连接。

如图1和图2所示，安装架1开设有安装槽。缓冲结构6包括连接块61和弹簧62，连接块61的一侧滑动连接于安装槽的侧壁。连接块61开设有开口朝向安装槽的槽底的安装孔。弹簧62插设于安装孔，弹簧62的一端伸出安装孔并连接于安装槽的槽底。优选地，可以在安装槽的槽底开设凹槽，弹簧62的端部设置于凹槽内，以便于固定弹簧62的端部。为提高缓冲结构6的缓冲效果，可以在连接块61上间隔设置两个安装孔，两个安装孔中分别设置有弹簧62。两个安装孔的排布方向与柔性电路板32的多个导电触片的排布方向一致，以使得柔性电路板32在其导电触片排布的方向受力均匀。

优选地，为提高压头2运动的稳定性，检测压头包括导向结构7，连接块61通过导向结构7滑动连接于安装槽的侧壁。导向结构7可以包括滑槽和滑块71，滑槽开设于安装槽的侧壁；滑块71连接于连接块61，并滑动设置于滑槽内。为避免滑块71滑动到靠近安装槽底壁的位置时，与底壁发生碰撞，还可以在安装槽的槽底开设避让槽11，避让槽11为滑块71让位。

如图4所示，本实施例还提供了一种检测治具，包括上述的检测压头。为了便于将检测压头固定于检测治具的机台上，优选地，检测治具还可以包括固定架8，安装架1固定于固定架8上，固定架8与机台通过螺栓等连接件连接。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种检测压头，其特征在于，包括：

安装架(1)；

压头(2)，滑动设置于所述安装架(1)上，以靠近或远离待检测的工件；

导电组件(3)，包括薄膜探针(31)，所述薄膜探针(31)与所述压头(2)连接，所述薄膜探针(31)的一端设置有多个导电触片；

弹性支撑条(4)，连接于所述压头(2)，并位于所述压头(2)与所述薄膜探针(31)之间，所述薄膜探针(31)设置有所述导电触片的一端与所述弹性支撑条(4)的表面抵接，且所述表面为倾斜面(41)，所述倾斜面(41)较低一端的棱边沿多个所述导电触片的排列方向延伸。

2.根据权利要求1所述的检测压头，其特征在于，所述弹性支撑条(4)设置于所述压头(2)的端部，所述压头(2)的所述端部具有L型的台阶面，所述弹性支撑条(4)的一端与所述台阶面的水平面(21)抵接，所述弹性支撑条(4)的一侧与所述台阶面的竖直面(22)抵接。

3.根据权利要求1所述的检测压头，其特征在于，所述压头(2)与所述导电组件(3)通过快拆结构(5)连接。

4.根据权利要求3所述的检测压头，其特征在于，所述快拆结构(5)包括：

磁块(51)，连接于所述压头(2)；

金属板(52)，连接于所述导电组件(3)，所述磁块(51)能够吸附所述金属板(52)。

5.根据权利要求4所述的检测压头，其特征在于，所述压头(2)开设有容纳槽(23)，所述磁块(51)设置于所述容纳槽(23)内。

6.根据权利要求1所述的检测压头，其特征在于，所述检测压头还包括：

缓冲结构(6)，所述压头(2)通过所述缓冲结构(6)与所述安装架(1)连接。

7.根据权利要求6所述的检测压头，其特征在于，所述安装架(1)开设有安装槽；

所述缓冲结构(6)包括：

连接块(61)，所述连接块(61)的一侧滑动连接于所述安装槽的侧壁；所述连接块(61)开设有开口朝向所述安装槽的槽底的安装孔；

弹簧(62)，所述弹簧(62)插设于所述安装孔，所述弹簧(62)的一端伸出所述安装孔并连接于所述安装槽的所述槽底。

8.根据权利要求7所述的检测压头，其特征在于，所述检测压头还包括：

导向结构(7)，所述连接块(61)通过所述导向结构(7)滑动连接于所述安装槽的所述侧壁。

9.根据权利要求8所述的检测压头，其特征在于，所述导向结构(7)包括：

滑槽，开设于所述安装槽的所述侧壁；

滑块(71)，连接于所述连接块(61)，并滑动设置于所述滑槽内。

10.一种检测治具，其特征在于，包括权利要求1-9任意一项所述的检测压头。

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