CN112730989A - 一种半导体电阻检测系统及其检测方法 - Google Patents

一种半导体电阻检测系统及其检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种半导体电阻检测系统及其检测方法,包括底板,所述底板上端两侧均固定设置有立柱,所述立柱上端固定设置有固定环,所述固定环上端外侧表面开设有第一滑槽,所述第一滑槽内部活动设置有第一滑块,所述第一滑块上端设置有调节机构,所述调节机构包括转动环、第一安装座、横杆、第一电动机、第一锥齿轮、第一滑杆、第一螺杆、第二锥齿轮,所述第一滑块上端固定设置有转动环。本发明使用效果好,检测头可以根据所检测的元器件表面电路高低差,自动调节器位置,从而可以方便进行检测工作,同时检测头的位置可以多角度多范围进行调节,从而可以适应检测多种不同的元件。

Description

一种半导体电阻检测系统及其检测方法
技术领域
本发明涉及半导体检测技术领域,具体为一种半导体电阻检测系统及其检测方法。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。
半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件。
无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。
常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。
而目前的半导体材料在生产完毕后往往需要对其进行电阻检测来判断是否合格能够正常使用。
但是目前使用的电阻检测具有以下缺点:
1、目前的手动式检测,在使用时面对多个元器件进行检测时,工作效率较低,并且人工长时间工作较为劳累;
2、目前的自动式电阻检测,一般只能检测设计好的所规定的元器件,无法进行调节,从而无法适应不同的元器件进行电阻的检测。
发明内容
本发明的目的在于提供一种半导体电阻检测系统及其检测方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种半导体电阻检测系统,包括底板,所述底板上端两侧均固定设置有立柱,所述立柱上端固定设置有固定环,所述固定环上端外侧表面开设有第一滑槽,所述第一滑槽内部活动设置有第一滑块,所述第一滑块上端设置有调节机构,所述调节机构包括转动环、第一安装座、横杆、第一电动机、第一锥齿轮、第一滑杆、第一螺杆、第二锥齿轮,所述第一滑块上端固定设置有转动环,所述转动环上端一侧固定设置有第一安装座,所述第一安装座一侧固定设置有横杆,所述横杆远离第一安装座的一端固定设置有第一电动机,所述第一电动机的输出轴端通过联轴器固定设置有第一锥齿轮,所述转动环内侧中部固定设置有第一滑杆,所述转动环内部在第一滑杆上端通过轴承活动设置有第一螺杆,所述第一螺杆外侧表面固定设置有第二锥齿轮,所述第一锥齿轮与第二锥齿轮之间相互啮合,所述转动环外侧表面均匀固定设置有若干卡齿,所述固定环表面一侧固定设置有第二安装座,所述第二安装座内部固定设置有第二电动机,所述第二电动机的输出轴端通过联轴器固定设置有第一齿轮,所述第一齿轮与卡齿之间相互啮合,所述第一滑杆外侧表面活动套设有移动块,所述移动块内部上端通过螺纹活动套设在第一螺杆外侧表面,所述移动块内部固定设置有第三安装座,所述第三安装座内部固定设置有电动推杆,所述电动推杆下端固定设置有固定框架,所述固定框架内部设置有传动机构,所述传动机构包括转轴、第二齿轮、第二滑杆、套筒、齿条、连接杆。
优选的,所述活动杆外侧表面中部固定设置有限位环,所述活动杆外侧表面在固定杆与限位环之间套设有第一弹簧,通过第一弹簧和限位环可以方便推动检测头自动复位。
优选的,所述固定杆内部上端固定设置有第一触点,所述活动杆上端固定设置有第二触点,所述第一触点、第二触点与电动推杆之间电性连接,通过第一触点和第二触点可以方便控制电动推杆停止推动。
优选的,所述第二滑杆上端与下端均固定设置有限位块,通过限位块可以防止套筒从第二滑杆外侧表面脱落。
优选的,所述固定框架内侧中部通过轴承活动设置有转轴,所述转轴外侧表面固定设置有第二齿轮,所述固定框架内部两侧均固定设置有第二滑杆,所述第二滑杆外侧表面中部活动套设有套筒,所述套筒表面一侧固定设置有齿条,所述齿条下端固定设置有连接杆,所述连接杆下端固定设置有检测机构,所述检测机构包括安装杆、第二滑槽、第二螺杆、第四安装座、第三电动机、第二滑块、固定杆、活动杆、检测头,所述连接杆下端固定设置有安装杆,所述安装杆下端外侧表面开设有第二滑槽,所述第二滑槽内部通过轴承活动设置有第二螺杆,所述安装杆一端固定设置有第四安装座,所述第四安装座内部固定设置有第三电动机,所述第三电动机的输出轴端通过联轴器与第二螺杆之间传动连接,所述第二滑槽内侧中部活动卡合设置有第二滑块,所述第二滑块内部通过螺纹活动套设在第二螺杆外侧表面,所述第二滑块下端固定设置有固定杆,所述固定杆内部下端活动穿插设置有活动杆,所述活动杆下端固定设置有检测头,所述套筒与第二滑杆之间设置有锁死机构,所述锁死机构包括伸缩杆、挤压块、铁皮、第二弹簧、电磁铁,所述套筒内部一侧固定设置有伸缩杆,所述伸缩杆一端固定设置有挤压块,所述挤压块与第二滑杆外侧表面之间相互贴合,所述挤压块外侧表面设置有铁皮,所述伸缩杆内部设置有第二弹簧,所述套筒内部在伸缩杆之间固定设置有电磁铁,通过锁死机构可以方便挤压锁死固定住套筒。
优选的,所述底板上端表面四角处均开设有安装孔,通过安装孔可以方便将固定安装在目标位置。
优选的,所述底板上端设置支架,所述支架上端通过轴承活动设置有滚筒,所述滚筒外侧表面设置有传输皮带,所述传输皮带上端设置有元器件,通过传输皮带可以方便传输元器件进行电阻的检测。
优选的,所述连接杆与安装杆之间固定设置有稳定块,所述固定框架外侧表面设置有可视窗口,通过稳定块可以提高连接杆和安装杆之间的稳定性。
一种半导体电阻检测系统的检测方法,具体步骤如下:
第一步:使用时可以通过传输皮带将需要进行检测元器件送至检测头下端,随后即可通过检测电动推杆推动固定框架以及检测头下移,如果此时元器件表面有高低落差,如图三所示,此时随着固定框架下移,并打开电磁铁,如此即可通过电磁铁吸附挤压块不再挤压第二滑杆,此时固定框架下移时,即可使得左侧的检测头先与元器件表面接触,随后随着固定框架下移,左侧的检测头则无法下移了,而此时通过左侧的齿条推动第二齿轮顺时针转动,如此即可使得右侧的齿条下移,如此即可使得右侧的检测头与元器件的低点接触,如此两个检测头与元器件表面接触后即可形成互锁自动锁死,随后电动推杆继续伸长,即可使得活动杆受到挤压收缩到固定杆内部,如此即可使得第一触点与第二触点接触,此时说明检测头与元器件表面紧密接触了,电动推杆接收到电信号无需继续伸长了,随后控制电磁铁断电,如此即可使得挤压块挤压第二滑杆,使得套筒固定在相应位置,如此即可使得检测头固定在目标位置,如此在检测后续同一品种的元器件后就无需再次调节了,如此检测头可以根据所检测的元器件表面电路的高低差,自动调节其位置,从而可以方便进行检测工作,并且检测时一次对齐后对此类元器件可以进行快速检测,工作效率较高,无需人工手持检测探头进行检测;
第二步:使用时可以多位置多角度的调节检测头的位置,调节时可以打开第一电动机,如此即可通过第一电动机带动第一螺杆转动,如此即可自动带动电动推杆和固定框架沿着第一螺杆左右大范围移动,从而可以使得检测头的位置进行改变,同时还可以打开第二电动机,如此即可通过第二电动机带动转动环转动,从而可以方便改变检测头的角度,从而可以进一步方便检测工作;
第三步:在进行检测的同时还可以打开第三电动机,从而可以方便改变两个检测头之间的距离,从而可以进一步提高适用范围,并且通过检测头的位置调节,随着电动推杆的伸长可以自行适应,元器件表面的形状,无需控制,使用起来较为方便。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本发明检测头可以根据所检测的元器件表面电路的高低差,自动调节其位置,从而可以方便进行检测工作,并且检测时一次对齐后对此类元器件可以进行快速检测,工作效率较高,无需人工手持检测探头进行检测。
2、本发明使用时可以多位置多角度的调节检测头的位置,调节时可以打开第一电动机,如此即可通过第一电动机带动第一螺杆转动,如此即可自动带动电动推杆和固定框架沿着第一螺杆左右大范围移动,从而可以使得检测头的位置进行改变,同时还可以打开第二电动机,如此即可通过第二电动机带动转动环转动,从而可以方便改变检测头的角度,从而可以进一步方便检测工作,同时在进行检测时还可以打开第三电动机,从而可以方便改变两个检测头之间的距离,从而可以进一步提高适用范围。
3、本发明检测时一次检测头对齐后对此类元器件可以进行快速检测,工作效率较高,无需人工手持检测探头进行检测。
附图说明
图1为本发明一种半导体电阻检测系统整体结构视图;
图2为本发明一种半导体电阻检测系统套筒的内部结构视图;
图3为本发明一种半导体电阻检测系统固定框架的内部结构视图;
图4为本发明一种半导体电阻检测系统检测机构的整体结构视图;
图5为本发明一种半导体电阻检测系统主视图;
图6为本发明一种半导体电阻检测系统图1中A处的放大视图。
图中:1、底板;2、立柱;3、固定环;4、第一滑槽;5、第一滑块;6、转动环;7、第一安装座;8、横杆;9、第一电动机;10、第一锥齿轮;11、第一滑杆;12、第一螺杆;13、第二锥齿轮;14、卡齿;15、第二安装座;16、第二电动机;17、第一齿轮;18、移动块;19、第三安装座;20、电动推杆;21、固定框架;22、转轴;23、第二齿轮;24、第二滑杆;25、套筒;26、齿条;27、连接杆;28、安装杆;29、第二滑槽;30、第二螺杆;31、第四安装座;32、第三电动机;33、第二滑块;34、固定杆;35、活动杆;36、检测头;37、限位环;38、第一弹簧;39、第一触点;40、第二触点;41、限位块;42、挤压块;43、铁皮;44、第二弹簧;45、电磁铁;46、安装孔;47、支架;48、滚筒;49、传输皮带;50、元器件;51、稳定块;52、可视窗口;53、伸缩杆。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-6,本发明提供一种技术方案:一种半导体电阻检测系统,包括底板1,所述底板1上端两侧均固定设置有立柱2,所述立柱2上端固定设置有固定环3,所述固定环3上端外侧表面开设有第一滑槽4,所述第一滑槽4内部活动设置有第一滑块5,所述第一滑块5上端设置有调节机构,所述调节机构包括转动环6、第一安装座7、横杆8、第一电动机9、第一锥齿轮10、第一滑杆11、第一螺杆12、第二锥齿轮13,所述第一滑块5上端固定设置有转动环6,所述转动环6上端一侧固定设置有第一安装座7,所述第一安装座7一侧固定设置有横杆8,所述横杆8远离第一安装座7的一端固定设置有第一电动机9,所述第一电动机9的输出轴端通过联轴器固定设置有第一锥齿轮10,所述转动环6内侧中部固定设置有第一滑杆11,所述转动环6内部在第一滑杆11上端通过轴承活动设置有第一螺杆12,所述第一螺杆12外侧表面固定设置有第二锥齿轮13,所述第一锥齿轮10与第二锥齿轮13之间相互啮合,所述转动环6外侧表面均匀固定设置有若干卡齿14,所述固定环3表面一侧固定设置有第二安装座15,所述第二安装座15内部固定设置有第二电动机16,所述第二电动机16的输出轴端通过联轴器固定设置有第一齿轮17,所述第一齿轮17与卡齿14之间相互啮合,所述第一滑杆11外侧表面活动套设有移动块18,所述移动块18内部上端通过螺纹活动套设在第一螺杆12外侧表面,所述移动块18内部固定设置有第三安装座19,所述第三安装座19内部固定设置有电动推杆20,所述电动推杆20下端固定设置有固定框架21,所述固定框架21内部设置有传动机构,所述传动机构包括转轴22、第二齿轮23、第二滑杆24、套筒25、齿条26、连接杆27,所述固定框架21内侧中部通过轴承活动设置有转轴22,所述转轴22外侧表面固定设置有第二齿轮23,所述固定框架21内部两侧均固定设置有第二滑杆24,所述第二滑杆24外侧表面中部活动套设有套筒25,所述套筒25表面一侧固定设置有齿条26,所述齿条26下端固定设置有连接杆27。
所述连接杆27下端固定设置有检测机构,所述检测机构包括安装杆28、第二滑槽29、第二螺杆30、第四安装座31、第三电动机32、第二滑块33、固定杆34、活动杆35、检测头36,所述连接杆27下端固定设置有安装杆28,所述安装杆28下端外侧表面开设有第二滑槽29,所述第二滑槽29内部通过轴承活动设置有第二螺杆30,所述安装杆28一端固定设置有第四安装座31,所述第四安装座31内部固定设置有第三电动机32,所述第三电动机32的输出轴端通过联轴器与第二螺杆30之间传动连接,所述第二滑槽29内侧中部活动卡合设置有第二滑块33,所述第二滑块33内部通过螺纹活动套设在第二螺杆30外侧表面,所述第二滑块33下端固定设置有固定杆34,所述固定杆34内部下端活动穿插设置有活动杆35,所述活动杆35下端固定设置有检测头36,所述活动杆35外侧表面中部固定设置有限位环37,所述活动杆35外侧表面在固定杆34与限位环37之间套设有第一弹簧38,通过第一弹簧38和限位环37可以方便推动检测头36自动复位。
所述固定杆34内部上端固定设置有第一触点39,所述活动杆35上端固定设置有第二触点40,所述第一触点39、第二触点40与电动推杆20之间电性连接,通过第一触点39和第二触点40可以方便控制电动推杆20停止推动。
所述第二滑杆24上端与下端均固定设置有限位块41,通过限位块41可以防止套筒25从第二滑杆24外侧表面脱落。
所述套筒25与第二滑杆24之间设置有锁死机构,所述锁死机构包括伸缩杆53、挤压块42、铁皮43、第二弹簧44、电磁铁45,所述套筒25内部一侧固定设置有伸缩杆53,所述伸缩杆53一端固定设置有挤压块42,所述挤压块42与第二滑杆24外侧表面之间相互贴合,所述挤压块42外侧表面设置有铁皮43,所述伸缩杆53内部设置有第二弹簧44,所述套筒25内部在伸缩杆53之间固定设置有电磁铁45,通过锁死机构可以方便挤压锁死固定住套筒25。
所述底板1上端表面四角处均开设有安装孔46,通过安装孔46可以方便将固定安装在目标位置。
所述底板1上端设置支架47,所述支架47上端通过轴承活动设置有滚筒48,所述滚筒48外侧表面设置有传输皮带49,所述传输皮带49上端设置有元器件50,通过传输皮带49可以方便传输元器件50进行电阻的检测。
所述连接杆27与安装杆28之间固定设置有稳定块51,所述固定框架21外侧表面设置有可视窗口52,通过稳定块51可以提高连接杆27和安装杆28之间的稳定性。
一种半导体电阻检测系统的检测方法,具体步骤如下:
第一步:使用时可以通过传输皮带49将需要进行检测元器件50送至检测头36下端,随后即可通过检测电动推杆20推动固定框架21以及检测头36下移,如果此时元器件50表面有高低落差,如图三所示,此时随着固定框架21下移,并打开电磁铁45,如此即可通过电磁铁45吸附挤压块42不再挤压第二滑杆24,此时固定框架21下移时,即可使得左侧的检测头36先与元器件50表面接触,随后随着固定框架21下移,左侧的检测头36则无法下移了,而此时通过左侧的齿条26推动第二齿轮23顺时针转动,如此即可使得右侧的齿条26下移,如此即可使得右侧的检测头36与元器件50的低点接触,如此两个检测头36与元器件50表面接触后即可形成互锁自动锁死,随后电动推杆20继续伸长,即可使得活动杆35受到挤压收缩到固定杆34内部,如此即可使得第一触点39与第二触点40接触,此时说明检测头36与元器件50表面紧密接触了,电动推杆20接收到电信号无需继续伸长了,随后控制电磁铁45断电,如此即可使得挤压块42挤压第二滑杆24,使得套筒25固定在相应位置,如此即可使得检测头36固定在目标位置,如此在检测后续同一品种的元器件50后就无需再次调节了,如此检测头36可以根据所检测的元器件50表面电路的高低差,自动调节其位置,从而可以方便进行检测工作,并且检测时一次检测头36对齐后对此类元器件50可以进行快速检测,工作效率较高,无需人工手持检测探头进行检测;
第二步:使用时可以多位置多角度的调节检测头36的位置,调节时可以打开第一电动机9,如此即可通过第一电动机9带动第一螺杆12转动,如此即可自动带动电动推杆20和固定框架21沿着第一螺杆12左右大范围移动,从而可以使得检测头36的位置进行改变,同时还可以打开第二电动机16,如此即可通过第二电动机16带动转动环6转动,从而可以方便改变检测头36的角度,从而可以进一步方便检测工作;
第三步:在进行检测的同时还可以打开第三电动机32,从而可以方便改变两个检测头36之间的距离,从而可以进一步提高适用范围,并且通过检测头36的位置调节,随着电动推杆20的伸长可以自行适应,元器件50表面的形状,无需控制,使用起来较为方便。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种半导体电阻检测系统,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)上端两侧均固定设置有立柱(2),所述立柱(2)上端固定设置有固定环(3),所述固定环(3)上端外侧表面开设有第一滑槽(4),所述第一滑槽(4)内部活动设置有第一滑块(5),所述第一滑块(5)上端设置有调节机构,所述调节机构包括转动环(6)、第一安装座(7)、横杆(8)、第一电动机(9)、第一锥齿轮(10)、第一滑杆(11)、第一螺杆(12)、第二锥齿轮(13),所述第一滑块(5)上端固定设置有转动环(6),所述转动环(6)上端一侧固定设置有第一安装座(7),所述第一安装座(7)一侧固定设置有横杆(8),所述横杆(8)远离第一安装座(7)的一端固定设置有第一电动机(9),所述第一电动机(9)的输出轴端通过联轴器固定设置有第一锥齿轮(10),所述转动环(6)内侧中部固定设置有第一滑杆(11),所述转动环(6)内部在第一滑杆(11)上端通过轴承活动设置有第一螺杆(12),所述第一螺杆(12)外侧表面固定设置有第二锥齿轮(13),所述第一锥齿轮(10)与第二锥齿轮(13)之间相互啮合,所述转动环(6)外侧表面均匀固定设置有若干卡齿(14),所述固定环(3)表面一侧固定设置有第二安装座(15),所述第二安装座(15)内部固定设置有第二电动机(16),所述第二电动机(16)的输出轴端通过联轴器固定设置有第一齿轮(17),所述第一齿轮(17)与卡齿(14)之间相互啮合,所述第一滑杆(11)外侧表面活动套设有移动块(18),所述移动块(18)内部上端通过螺纹活动套设在第一螺杆(12)外侧表面,所述移动块(18)内部固定设置有第三安装座(19),所述第三安装座(19)内部固定设置有电动推杆(20),所述电动推杆(20)下端固定设置有固定框架(21),所述固定框架(21)内部设置有传动机构,所述传动机构包括转轴(22)、第二齿轮(23)、第二滑杆(24)、套筒(25)、齿条(26)、连接杆(27)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统,其特征在于:所述固定框架(21)内侧中部通过轴承活动设置有转轴(22),所述转轴(22)外侧表面固定设置有第二齿轮(23),所述固定框架(21)内部两侧均固定设置有第二滑杆(24),所述第二滑杆(24)外侧表面中部活动套设有套筒(25),所述套筒(25)表面一侧固定设置有齿条(26),所述齿条(26)下端固定设置有连接杆(27),所述连接杆(27)下端固定设置有检测机构,所述检测机构包括安装杆(28)、第二滑槽(29)、第二螺杆(30)、第四安装座(31)、第三电动机(32)、第二滑块(33)、固定杆(34)、活动杆(35)、检测头(36),所述连接杆(27)下端固定设置有安装杆(28),所述安装杆(28)下端外侧表面开设有第二滑槽(29),所述第二滑槽(29)内部通过轴承活动设置有第二螺杆(30),所述安装杆(28)一端固定设置有第四安装座(31),所述第四安装座(31)内部固定设置有第三电动机(32),所述第三电动机(32)的输出轴端通过联轴器与第二螺杆(30)之间传动连接,所述第二滑槽(29)内侧中部活动卡合设置有第二滑块(33),所述第二滑块(33)内部通过螺纹活动套设在第二螺杆(30)外侧表面,所述第二滑块(33)下端固定设置有固定杆(34),所述固定杆(34)内部下端活动穿插设置有活动杆(35),所述活动杆(35)下端固定设置有检测头(36),所述活动杆(35)外侧表面中部固定设置有限位环(37),所述活动杆(35)外侧表面在固定杆(34)与限位环(37)之间套设有第一弹簧(38)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统,其特征在于:所述固定杆(34)内部上端固定设置有第一触点(39),所述活动杆(35)上端固定设置有第二触点(40),所述第一触点(39)、第二触点(40)与电动推杆(20)之间电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统,其特征在于:所述第二滑杆(24)上端与下端均固定设置有限位块(41)。
5.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统,其特征在于:所述套筒(25)与第二滑杆(24)之间设置有锁死机构,所述锁死机构包括伸缩杆(53)、挤压块(42)、铁皮(43)、第二弹簧(44)、电磁铁(45),所述套筒(25)内部一侧固定设置有伸缩杆(53),所述伸缩杆(53)一端固定设置有挤压块(42),所述挤压块(42)与第二滑杆(24)外侧表面之间相互贴合,所述挤压块(42)外侧表面设置有铁皮(43),所述伸缩杆(53)内部设置有第二弹簧(44),所述套筒(25)内部在伸缩杆(53)之间固定设置有电磁铁(45)。
6.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统,其特征在于:所述底板(1)上端表面四角处均开设有安装孔(46)。
7.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统,其特征在于:所述底板(1)上端设置支架(47),所述支架(47)上端通过轴承活动设置有滚筒(48),所述滚筒(48)外侧表面设置有传输皮带(49),所述传输皮带(49)上端设置有元器件(50)。
8.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统,其特征在于:所述连接杆(27)与安装杆(28)之间固定设置有稳定块(51),所述固定框架(21)外侧表面设置有可视窗口(52)。
9.根据权利要求1所述的一种半导体电阻检测系统的检测方法,其特征在于:具体包括以下步骤:
第一步:使用时可以通过传输皮带(49)将需要进行检测元器件(50)送至检测头(36)下端,随后即可通过检测电动推杆(20)推动固定框架(21)以及检测头(36)下移,如果此时元器件(50)表面有高低落差,如图三所示,此时随着固定框架(21)下移,并打开电磁铁(45),如此即可通过电磁铁(45)吸附挤压块(42)不再挤压第二滑杆(24),此时固定框架(21)下移时,即可使得左侧的检测头(36)先与元器件(50)表面接触,随后随着固定框架(21)下移,左侧的检测头(36)则无法下移了,而此时通过左侧的齿条(26)推动第二齿轮(23)顺时针转动,如此即可使得右侧的齿条(26)下移,如此即可使得右侧的检测头(36)与元器件(50)的低点接触,如此两个检测头(36)与元器件(50)表面接触后即可形成互锁自动锁死,随后电动推杆(20)继续伸长,即可使得活动杆(35)受到挤压收缩到固定杆(34)内部,如此即可使得第一触点(39)与第二触点(40)接触,此时说明检测头(36)与元器件(50)表面紧密接触了,电动推杆(20)接收到电信号无需继续伸长了,随后控制电磁铁(45)断电,如此即可使得挤压块(42)挤压第二滑杆(24),使得套筒(25)固定在相应位置,如此即可使得检测头(36)固定在目标位置,如此在检测后续同一品种的元器件(50)后就无需再次调节了,如此检测头(36)可以根据所检测的元器件(50)表面电路的高低差,自动调节其位置,从而可以方便进行检测工作,并且检测时一次检测头(36)对齐后对此类元器件(50)可以进行快速检测,工作效率较高,无需人工手持检测探头进行检测;
第二步;使用时可以多位置多角度的调节检测头(36)的位置,调节时可以打开第一电动机(9),如此即可通过第一电动机(9)带动第一螺杆(12)转动,如此即可自动带动电动推杆(20)和固定框架(21)沿着第一螺杆(12)左右大范围移动,从而可以使得检测头(36)的位置进行改变,同时还可以打开第二电动机(16),如此即可通过第二电动机(16)带动转动环(6)转动,从而可以方便改变检测头(36)的角度,从而可以进一步方便检测工作;
第三步:在进行检测的同时还可以打开第三电动机(32),从而可以方便改变两个检测头(36)之间的距离,从而可以进一步提高适用范围,并且通过检测头(36)的位置调节,随着电动推杆(20)的伸长可以自行适应,元器件(50)表面的形状,无需控制,使用起来较为方便。
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