CN210199166U - 一种探针式电测机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种探针式电测机，适用于电子产品线路的检测，所述电子产品线路包括面内线路图案以及位于边界区的PIN脚；探针式电测机包括探针式测试头，所述探针式测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板；所述探针与面内线路图案和/或PIN脚电连接。本实用新型的探针式电测机，可根据生产制程先后顺序选择合适的测试程序，利用探针在待测试产品的面内线路图案以及绑定区的PIN脚分别下针，能够及时抽测出触摸屏等电子产品在生产制程中半成品/成品的功能不良。避免整个成品完成后才发现不良造成浪费。

Description

一种探针式电测机

技术领域

本实用新型涉及电子产品测试设备技术领域，尤其涉及一种探针式电测机。

背景技术

触摸屏等电子产品在生产过程中，产品会有开路、短路、大电容等功能不良。目前FPC电测机只能够在成品时进行电测卡控制，对于生产过程中半成品无法检测，易造成批量性功能不良品产生，从而增加企业的运营成本。

实用新型内容

本实用新型针对以上问题，提出了一种探针式电测机，

一种探针式电测机，适用于电子产品线路的检测，所述电子产品线路包括面内线路图案以及位于边界区的PIN脚；探针式电测机包括探针式测试头，所述探针式测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板；所述探针与面内线路图案和/或PIN脚电连接。

进一步的，所述探针在冶具基板的分布位置对应于面内线路图案和PIN脚的位置。

进一步的，所述探针包括针一和针二，所述针一与所述面内线路图案的位置相对应，所述针二与所述PIN脚的位置相对应。

进一步的，所述针一的直径大于所述针二的直径。

进一步的，所述针一与面内线路图案的距离小于针二与PIN脚的距离。

进一步的，所述针一与面内线路图案的距离小于针二与PIN脚0.1~0.15mm。

进一步的，所述电测机还包括升降机构和控制器，所述升降机构驱动探针下压；所述控制器与升降机构连接，所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。

进一步的，所述探针在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置，所述探针在第一工作位置时的高度大于所述探针在第二工作位置时的高度。

进一步的，所述探针为弹性探针。

进一步的，所述探针包括探针头、套管、弹簧和接线端子。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型的探针式电测机，可根据生产制程先后顺序选择合适的测试程序，利用探针在待测试产品的面内线路图案以及绑定区的PIN脚分别下针， 能够及时抽测出触摸屏等电子产品在生产制程中半成品/成品的功能不良。避免整个成品完成后才发现不良造成浪费。

附图说明

图1为本实用新型实施例所述的一种探针式电测机的探针与触摸屏线路的结构示意图；

图2为图1中A处的局部放大图；

图3为本实用新型实施例所述的一种探针式电测机的测试头的结构示意图；

图4为本实用新型实施例所述的一种探针式电测机的探针结构示意图。

10-探针、11-探针头、12-套管、13-弹簧、14-接线端子、101-针一、102-针二、20-冶具基板、21-测试头卡板一、22-测试头卡板二、30-触摸屏、301-面内线路图案、302-PIN脚。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的的结构和作用原理作进一步说明：

实施例一

本实用新型具体实施例提供了一种探针式电测机。

本申请的一种探针式电测机，适用于电子产品线路的检测。电子产品可以是线路板或者是触摸屏、显示屏等产品。

优选地，本申请中的电子产品为触摸屏、显示屏等产品。本申请中一下内容的电子产品以触摸屏为例进行说明。

如图1~图2所示，电子产品线路包括位于触摸屏30显示区域（面内、VA区）的面内线路图案301，还包括位于触摸屏30边界区的PIN脚302，PIN脚302位于边界区的绑定区。面内线路图案301和绑定区的PIN脚302通过金属走线连接。PIN脚302跟电子产品的主板FPC进行电连接以便触摸屏接入主板。

如图3所示，探针式电测机包括探针式测试头，所述探针式测试头包括探针10以及用于固定探针10的冶具基板20。冶具基板20包括测试头卡板一21和测试头卡板二22。测试头卡板一21和测试头卡板二22上分别设置有通孔，探针10同时穿过测试头卡板一21和测试头卡板二22的通孔。

与现有FPC电测机检测方式不同的是：

如果触摸屏等电子产品只是半产品，例如若是先在面内（VA区）形成面内线路图案301，无金属走线和PIN脚302，本申请的探针式电测机可以通过探针10与面内线路图案301进行电连接，在面内（VA区）下针来测试面内各个通道的线电容、开路以及相邻线路的绝缘性；

或者，若是先形成了金属走线和PIN脚302，未在面内（VA区）形成面内线路图案301， 本申请的探针式电测机可以通过探针10与PIN脚302进行电连接，在绑定区PIN脚302下针来测试金属走线间的绝缘性；

或者，对于成品，本申请的探针式电测机可以通过探针10同时与面内线路图案301和PIN脚302进行电连接，可利用面内（VA区）下针以及PIN脚302下针来同时测试各个节点的电容、开路以及线路的绝缘性。

本实用新型的探针式电测机，可根据生产制程先后顺序选择合适的测试程序，利用探针10在待测试产品的面内线路图案301以及绑定区的PIN脚302分别下针， 能够及时抽测出触摸屏等电子产品在生产制程中半成品/成品的功能不良。避免整个成品完成后才发现不良造成浪费。

在本申请中，探针10在冶具基板20的分布位置对应于面内线路图案301和PIN脚302的位置。为了节省成本，本申请会在面内（VA区）以及PIN脚302同时下针。

优选的，探针10包括针一101和针二102。其中，针一101与面内线路图案301的位置相对应，针二102与绑定区PIN脚302的位置相对应。

由于绑定位PIN脚302处的线宽较小，一般PIN脚302处的线宽为0.4mm，因此PIN脚302处对应的针二102的直径相对较小，针一101的直径大于所述针二102的直径。优选的，针一101的直径为0.3~0.4 mm，针一101的直径为0.2~0.3 mm。

另外，因为绑定位PIN脚302处的间距较小，PIN脚302处的间距为0.4mm，因此在测试时，PIN脚302处针二102接触产品程度小，以便进一步减轻对产品的扎伤。面内线路图案301处针一101相对接触产品程度稍大，针一101与面内线路图案301的距离小于针二102与PIN脚302的距离。优选的，针一101与面内线路图案301的距离小于针二102与PIN脚3020.1~0.15mm。

电测机还包括升降机构和控制器，所述升降机构驱动探针10下压；所述控制器与升降机构连接，所述探针10在控制器的控制下具有多个工作位置。

探针10在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置，所述探针10在第一工作位置时的高度大于所述探针10在第二工作位置时的高度。

优选的，在本实施例中，探针1010为弹性探针10。如图4所示，探针1010包括探针10头11、套管12、弹簧13和接线端子14。冶具基板2020包括测试头卡板一21和测试头卡板二22。测试头卡板一和测试头卡板二上分别设置有通孔，探针1010同时穿过测试头卡板一和测试头卡板二的通孔。

本实用新型的探针式电测机，还包括升降机构和控制器。控制器与升降机构连接，升降机构可以驱动探针10下压，并与待测产品的线路进行连接。测试头往往通过需要一定的下压量，以便于触摸屏线路进行良好的电接触。

现有技术的探针10通常进行一次性下压，对待侧产品进行测试，这经常导致下压量的过大或者过小对产品造成扎伤或者误判。进一步的，为了进一步改善，可以通过控制器控制升降机构的位移量，使探针10在控制器的控制下具有多个工作位置。

升降机构可以由多种结构，例如，升降机构为一种气动机构。探针10在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置，且探针10在第一工作位置时的高度大于所述探针10在第二工作位置时的高度。

在工作时，在控制器的控制下，调试探针10具有初始下压量A，可以使探针10移动初始下压量A至第一工作位置，并进行第一次测试。初始下压量A的设置使探针10在第一工作位置时，待测产品的大部分比例产品，如70%~80%可正常测试。正常测试是指测试探针10与待测试电子产品电接触良好，同时探针10不会对测试产品造成扎伤。

假设现有技术的探针10是移动下压量A’到工作位置。本申请中的初始下压量A小于现有技术的下压量A’。

在第一次测试中，未通过测试的20%~30%产品，会由于下压量不够、探针10与待测产品未接触或者接触不良造成误判。为了改善这种情况，对未通过第一次测试的20%~30%产品，将探针10继续下压一定调整位移a1使探针10到达第二工作位置。探针10在第二工作位置时，实际下压量B为A+a1，此时，再进行第二次测试。将探针10继续下压一定调整位移a1时为微调，以使探针10与待测产品能够充分接触。

本申请，在第一工作位置进行第一次测试时，通过设置较小的下压量，可以避免探针10下压量过大对70%~80%的待测产品造成扎伤。同时，将探针10继续下压至第二工作位置再进行第二次测试时，可以避免一次性的测试，对待测产品造成误判。

可以理解的，在测试中，还可以设置第三次测试，在第三次测试时，将探针10继续下压一定调整位移a2使探针10到达第三工作位置。探针10在第三工作位置时，实际下压量B为A+a1+a2。将探针10继续下压一定调整位移a2时为微调，具体的微调量a1、a2需要视具体情况而定。

可以理解的，探针式电测机还包括CCD自动抓标对位机构，用于在探针10下压前，进行准确对位。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型的探针式电测机，可根据生产制程先后顺序选择合适的测试程序，利用探针在待测试产品的面内线路图案以及绑定区的PIN脚分别下针， 能够及时抽测出触摸屏等电子产品在生产制程中半成品/成品的功能不良。避免整个成品完成后才发现不良造成浪费。

最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型实施例的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本实用新型实施例的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本实用新型实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种探针式电测机，适用于电子产品线路的检测，所述电子产品线路包括面内线路图案以及位于边界区的PIN脚；其特征在于，探针式电测机包括探针式测试头，所述探针式测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板；所述探针与面内线路图案和/或PIN脚电连接。

2.如权利要求1所述的探针式电测机，其特征在于，所述探针在冶具基板的分布位置对应于面内线路图案和PIN脚的位置。

3.如权利要求2所述的探针式电测机，其特征在于，所述探针包括针一和针二，所述针一与所述面内线路图案的位置相对应，所述针二与所述PIN脚的位置相对应。

4.如权利要求3所述的探针式电测机，其特征在于，所述针一的直径大于所述针二的直径。

5.如权利要求3所述的探针式电测机，其特征在于，所述针一与面内线路图案的距离小于针二与PIN脚的距离。

6.如权利要求5所述的探针式电测机，其特征在于，所述针一与面内线路图案的距离小于针二与PIN脚0.1~0.15mm。

7.如权利要求1所述的探针式电测机，其特征在于，所述电测机还包括升降机构和控制器，所述升降机构驱动探针下压；所述控制器与升降机构连接，所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。

8.如权利要求7所述的探针式电测机，其特征在于，所述探针在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置，所述探针在第一工作位置时的高度大于所述探针在第二工作位置时的高度。

9.如权利要求1所述的探针式电测机，其特征在于，所述探针为弹性探针。

10.如权利要求9所述的探针式电测机，其特征在于，所述探针包括探针头、套管、弹簧和接线端子。

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