CN101370230A - 手机键盘自动测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种手机键盘自动测试系统，该系统包括探针与手机PCBA的待测键盘连接的测试夹具、计算机以及与所述测试夹具和所述计算机连接的控制装置，其中所述计算机发送测试指令至所述控制装置，该控制装置根据该测试指令经所述测试夹具测试所述待测键盘，该待测键盘产生反馈信息并将该反馈信息传送至所述计算机，由该计算机处理并输出测试结果。本发明还涉及一种手机键盘自动测试方法。本发明可在手机生产过程中对手机PCBA上的键盘进行自动测试，能够准确而快速地完成手机在生产过程中的测试工作，避免了误操作，提高了测试效率，同时也避免了污染或损坏手机键盘的金手指，保证了生产质量。

Description

手机键盘自动测试系统及方法

技术领域

本发明涉及电子产品测试技术，具体涉及一种生产过程中对手机PCBA键盘进行自动测试的系统及方法。

背景技术

大多数手机都设置有键盘，然而在手机的生产过程中，如何准确快速地对其键盘进行测试却是一个比较困扰的问题。目前，手机键盘测试主要是通过人工测试的方式来实现，也就是，在将手机组装成整机之前，由操作人员采用导电笔来测试键盘。但是，这种由操作人员用导电笔依次点击测试键盘的方法，易出现误操作，导致重测，因此测试效率低，影响产能；同时，该方法在操作时易污染甚至划伤键盘上的金手指。因此，如何有效克服上述缺失，既能准确快速地测试手机键盘，又能提高生产效率、保证生产质量，成了各手机生产商迫切需要解决的问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术存在的上述不足，提供一种既能准确快速地实现手机键盘测试又能提高生产效率、保证生产质量的手机键盘自动测试系统及方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种手机键盘自动测试系统，包括计算机、控制装置、测试夹具，

所述的测试夹具上装设有多个探针，所述探针紧固于所述测试夹具上并与所述测试夹具电连接，所述测试夹具用于放置待测手机键盘所在的手机PCBA，当压下所述测试夹具时，所述探针分别与手机PCBA的待测键盘按键的金手指相接触；

所述的计算机分别与所述的控制装置、手机PCBA相连，所述计算机用于发送测试指令至所述控制装置，所述计算机还用于接收来自手机PCBA的待测键盘的反馈信息，并判断该反馈信息、将测试结果输出；

所述的控制装置分别与所述的计算机、测试夹具相连，并经该测试夹具与所述的手机PCBA电连接，所述控制装置用于根据所述计算机发送的测试指令来控制测试夹具上的探针的开、短路状态来控制对待测键盘按键对应的金手指的测试。

所述的计算机经尾插与待测键盘所在的手机PCBA连接。

所述控制装置为单片机控制板，该单片机控制板经排线与所述测试夹具连接，经9PIN串口线与所述计算机连接。

所述计算机发送至控制装置的测试指令包含输入按键信息。

一种手机键盘自动测试方法，包括下列步骤：

(1)通过测试夹具建立控制装置与手机PCBA的待测键盘之间的电连接，所述控制装置与所述手机PCBA分别连接至计算机；

(2)所述计算机启动测试，发送测试指令至所述控制装置；

(3)所述控制装置根据所接收的测试指令，经所述测试夹具测试所述手机PCBA的待测键盘；

(4)所述手机PCBA的待测键盘产生反馈信息并将该反馈信息传送至所述计算机；以及

(5)所述计算机接收并处理所述反馈信息，并输出处理得到的测试结果。

所述测试指令包含输入按键信息；在步骤(3)中，所述控制装置根据所接收的测试指令，经所述测试夹具，按照测试指令中所包含的输入按键信息测试所述手机PCBA的待测键盘。

在所述步骤(4)中，所述手机PCBA的待测键盘对应所述测试指令中的输入按键信息产生相应的按键数字反馈信息，并将该反馈信息传送至计算机。

在所述步骤(5)中，所述计算机判断其所接收的按键数字反馈信息，并在Pass时，由所述计算机输出下一条测试指令到所述控制装置，直至所有测试指令测试完毕，并在所有测试指令测试完成，计算机输出测试成功结果；在Fail时，测试停止，计算机输出失败结果。

所述控制装置为单片机控制板，所述步骤(1)进一步包括下列步骤：

用排线将所述测试夹具与所述控制装置连接；

用9PIN串口线将所述计算机与所述控制装置连接；

用尾插将所述手机PCBA与所述计算机连接；

将所述手机PCBA置于所述测试夹具上，压下该测试夹具，使得该测试夹具所设的多个探针分别与所述手机PCBA的待测键盘金手指接触连接。

本发明可在手机生产过程中对手机PCBA上的键盘进行自动测试，能够准确而快速地完成手机在生产过程中的测试工作，避免了误操作，提高了测试效率，从而提高了生产效率；同时采用本发明手机键盘自动测试系统自动测试手机键盘，也避免了污染或损坏手机键盘的金手指，保证了生产质量。

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明。

附图说明

图1是本发明的手机键盘自动测试系统的结构示意图。

图2是本发明的测试夹具的探针与待测键盘的单一金手指接触连接的示意图。

图3是本发明的测试夹具的探针与待测键盘的多个金手指接触连接的示意图。

图4是本发明的手机键盘自动测试方法的工作流程图。

图5是本发明测试夹具结构图。

具体实施方式

如图1所示，本发明的手机键盘自动测试系统包括测试夹具10、计算机20以及控制装置30。

其中，测试夹具10上装设有多个探针11，该多个探针11紧固于测试夹具10上并通过导线焊接等方式与测试夹具10形成电连接。该测试夹具10可用于放置待测键盘所在的手机装配印刷电路板(Printed Circuit BoardAssembly，简称PCBA)40，在按压之下其上探针11可分别与手机PCBA的待测键盘按键的金手指41接触连接，如图2、3所示，其中，每两个探针11接触连接一个按键的金手指41，分别位于该按键的金手指41的两点上。

请参阅图5。图5中排线焊接至测试探针的一端的，而探针的另一端是待夹具下压后，接触至PCBA键盘。其中，排线A和排线B是同一条传输介质。夹具说明如下：

A，单片机与夹具连接为排线。

B，计算机与手机PCBA板连接为尾插线。

C，夹具采用外部单独供电。

D，每个按键的测试探针为两根，分别接触其金手指的两触点。单片机控制这两根探针初始于开路状态，当测此按键处于测试时，单片机控制两根探针为短路：表示此按键已按下；当此按键测试完毕时，单片机控制两根探针状态再为开路：表示此按键已释放。

E，夹具有固定PCBA板的作用。

计算机20可分别与控制装置30及手机PCBA40相连，所述计算机用于发送测试指令至所述控制装置，控制装置30根据测试指令中所包含的输入按键信息对待侧键盘进行测试；所述计算机还用于接收来自手机PCBA40的待测键盘的反馈信息，将反馈信息进行判断，并将得到的测试结果输出。

控制装置30与计算机20及测试夹具10连接，并经该测试夹具10与手机PCBA 40电连接，用于从计算机20接收测试指令并根据该测试指令经测试夹具10测试手机PCBA 40上的待测键盘。该控制装置30可通过控制测试夹具10位于每一金手指41上的两探针11的开、短路状态来控制对对应金手指41的测试，例如当对对应金手指41进行测试时，控制装置30控制该两探针11为短路；当对应金手指41测试完毕时，控制装置3控制该两探针11为开路。

在本实施例中，控制装置30采用单片机控制板实现，该单片机控制板可经9 PIN串口线与计算机20连接，经排线与测试夹具10连接；计算机20则可经尾插与待测键盘所在的手机PCBA 40连接。

采用本发明的手机键盘自动测试系统对待测手机键盘进行测试时，如图4所示，首先在步骤S401，建立系统中各装置之间的电连接，即通过测试夹具10建立控制装置30与手机PCBA 40的待测键盘之间的电连接，将控制装置30与手机PCBA 40分别连接至计算机。在本实施例中，可先用排线将测试夹具10与单片机控制板连接；再用9PIN串口线将单片机控制板与计算机10连接；用尾插将待测键盘所在的手机PCBA 40与计算机连接；接着，将手机PCBA40置于测试夹具10上，压下测试夹具10，使得测试夹具10的探针与手机PCBA40的待测键盘上对应金手指接触连接，从而将建立起系统中各装置之间的电连接。

接着，在步骤S402，计算机20启动测试，使其发送测试指令至控制装置30，该测试指令中包含输入按键信息。控制装置30接收到测试指令后，则根据所接收的测试指令，开始经测试夹具10，按照测试指令中所包含的输入按键信息测试手机PCBA 40上的待测键盘，步骤S403。于是，在步骤S404，手机PCBA 40上的待测键盘将对应测试指令中的输入按键信息产生相应的按键数字反馈信息，并将该反馈信息经尾插传送至计算机20。步骤S405，计算机20接收手机PCBA 40的待测键盘传送的按键数字反馈信息，并对此信息判断，如果Pass，则进入步骤S406，计算机20输出下一条测试指令到控制装置30，直至所有测试指令测试完毕；否则，如果Fail，进入步骤S407，停止测试，并输出测试失败结果。当所有测试指令测试完成，则输出测试成功结果，S408。

以下是计算机测试的流程。计算机发送测试指令给单片机，从而按照相应的次序自动控制着每个按键，根据指令对按键逐个测试。当遇到按键测试失败时停止测试，并输出当前按键的失败结果(Fail)；当发送完所有测试指令且无按键测试失败时，表示测试完成输出测试成功结果(Pass)。假设当前测试的按键是“A键”：计算机向单片机发送“A Down”指令，此时探针处于短路状态，表示“A键”已经按下，然而计算机得到一个反馈信息：“A Down”(即：PCBA通过尾插线反馈的，并与当前发送的指令应一致)；当计算机向单片机发送“A UP”指令，此时探针处于开路状态，表示“A键”已经释放，然而计算机同样得到一个反馈信息：即“A UP”信息，“A键”也就测试成功。同理:计算机输出下一条测试指令到单片机控制器，直至所有测试指令测试完毕。

通过本发明，可在手机生产过程中对手机PCBA上的键盘进行自动测试，能够准确而快速地完成手机在生产过程中的测试工作，避免了误操作，提高了测试效率，从而提高了生产效率；同时采用本发明手机键盘自动测试系统自动测试手机键盘，也避免了污染或损坏手机键盘的金手指，保证了生产质量。

Claims (9)

1.一种手机键盘自动测试系统，其特征在于，包括计算机、控制装置、测试夹具，

所述的测试夹具上装设有多个探针，所述探针紧固于所述测试夹具上并与所述测试夹具电连接，所述测试夹具用于放置待测手机键盘所在的手机PCBA，当压下所述测试夹具时，所述探针分别与手机PCBA的待测键盘按键的金手指相接触；

所述的计算机分别与所述的控制装置、手机PCBA相连，所述计算机用于发送测试指令至所述控制装置，所述计算机还用于接收来自手机PCBA的待测键盘的反馈信息，并判断该反馈信息、将测试结果输出；

所述的控制装置分别与所述的计算机、测试夹具相连，并经该测试夹具与所述的手机PCBA电连接，所述控制装置用于根据所述计算机发送的测试指令来控制测试夹具上的探针的开、短路状态来控制对待测键盘按键对应的金手指的测试。

2.根据权利要求1所述的手机键盘自动测试系统，其特征在于，所述的计算机经尾插与待测键盘所在的手机PCBA连接。

3.根据权利要求1所述的手机键盘自动测试系统，其特征在于，所述控制装置为单片机控制板，该单片机控制板经排线与所述测试夹具连接，经9PIN串口线与所述计算机连接。

4.根据权利要求1所述的手机键盘自动测试系统，其特征在于，所述计算机发送至控制装置的测试指令包含输入按键信息。

5.一种手机键盘自动测试方法，其特征在于，包括下列步骤：

(1)通过测试夹具建立控制装置与手机PCBA的待测键盘之间的电连接，所述控制装置与所述手机PCBA分别连接至计算机；

(2)所述计算机启动测试，发送测试指令至所述控制装置；

(3)所述控制装置根据所接收的测试指令，经所述测试夹具测试所述手机PCBA的待测键盘；

(4)所述手机PCBA的待测键盘产生反馈信息并将该反馈信息传送至所述计算机；以及

(5)所述计算机接收并处理所述反馈信息，并输出处理得到的测试结果。

6.根据权利要求6所述的手机键盘自动测试方法，其特征在于，所述测试指令包含输入按键信息；在步骤(3)中，所述控制装置根据所接收的测试指令，经所述测试夹具，按照测试指令中所包含的输入按键信息测试所述手机PCBA的待测键盘。

7.根据权利要求7所述的手机键盘自动测试方法，其特征在于，在所述步骤(4)中，所述手机PCBA的待测键盘对应所述测试指令中的输入按键信息产生相应的按键数字反馈信息，并将该反馈信息传送至计算机。

8.根据权利要求8所述的手机键盘自动测试方法，其特征在于，在所述步骤(5)中，所述计算机判断其所接收的按键数字反馈信息，并在Pass时，由所述计算机输出下一条测试指令到所述控制装置，直至所有测试指令测试完毕，并在所有测试指令测试完成，计算机输出测试成功结果；在Fail时，测试停止，计算机输出失败结果。

9.根据权利要求6-9中任一所述的手机键盘自动测试方法，其特征在于，所述控制装置为单片机控制板，所述步骤(1)进一步包括下列步骤：

用排线将所述测试夹具与所述控制装置连接；

用9PIN串口线将所述计算机与所述控制装置连接；

用尾插将所述手机PCBA与所述计算机连接；

将所述手机PCBA置于所述测试夹具上，压下该测试夹具，使得该测试夹具所设的多个探针分别与所述手机PCBA的待测键盘金手指接触连接。

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