CN210514410U - 一种探针式电测机 - Google Patents

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张�杰
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Abstract

本实用新型公开了一种探针式电测机,包括测试头以及升降机构,所述测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板,所述升降机构驱动探针下压;所述探针式电测机还包括控制器,所述控制器与升降机构连接,所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。本实用新型的探针式电测机,探针在控制器的控制下具有多个工作位置,可以使探针移动初始下压量至第一工作位置进行第一次测试,以保证大部分产品正常测试且不会对产品造成损伤。对未通过初次测试的产品,将探针继续下压一定调整位移后,再进行第二次测试。以此来避免一次性的测试,对产品造成扎伤或者误判。

Description

一种探针式电测机
技术领域
本实用新型涉及电子产品测试设备技术领域,尤其涉及一种探针式电测机。
背景技术
目前探针式电测机多用于电子产品的线路的电测,以方便能够及时检测出不良,从而提高良率,降低成本损耗。由于其使用探针进行测试,因而其对探针头的平整度以及电测机的测试台面要求度极高。否则在调试时为了使所有待测产品能够与测试头接触则会加大下压量,此时极易对待测产品造成扎伤。当待测产品为一种OGS结构触摸屏时,这种情况尤为明显。反之,如果下压量不够,容易造成合格产品的误判。
实用新型内容
本实用新型针对以上问题,提出了一种探针式电测机,包括测试头以及升降机构,所述测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板,所述升降机构驱动探针下压;所述探针式电测机还包括控制器,所述控制器与升降机构连接,所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。
优选地,所述探针在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置,所述探针在第一工作位置时的高度大于所述探针在第二工作位置时的高度。
优选地,所述探针式电测机包括测试台面,所述测试台面具有高度不同的多个区域;所述冶具基板包括多个固定板,多个固定板分别对应于测试台面高度不同的多个区域;所述探针式电测机还包括多个驱动部件,多个固定板都分别连接独立的驱动部件。多个固定板在不同驱动部件的带动下,分别具有不同的下压量。
优选地,所述探针式电测机包括测试台面,所述测试台面具有高度不同的多个区域;所述冶具基板包括多个固定板,多个固定板分别对应于测试台面高度不同的多个区域;所述探针式电测机还包括微调机构,所述多个固定板都分别连接独立的微调机构,所述多个固定板在微调机构的调节下具有不同的高度。
优选地,所述探针式电测机还包括CCD自动抓标对位机构。
优选地,所述探针为弹性探针。
优选地,所述探针包括探针头、套管、弹簧和接线端子。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型的探针式电测机,探针在控制器的控制下具有多个工作位置,可以使探针移动初始下压量至第一工作位置进行第一次测试,以保证大部分产品正常测试且不会对产品造成损伤。对未通过初次测试的产品,将探针继续下压一定调整位移后,再进行第二次测试。以此来避免一次性的测试,对产品造成扎伤或者误判。
附图说明
图1为本实用新型实施例所述的一种探针式电测机的部分结构示意图;
图2为本实用新型实施例所述的一种探针式电测机的探针结构示意图。
10-探针、11-探针头、12-套管、13-弹簧、14-接线端子、20-冶具基板、21-测试头卡板一、22-测试头卡板二。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型的的结构和作用原理作进一步说明:
实施例一
如图1~图2所示,本实用新型具体实施例提供了一种探针10式电测机。
本实用新型的探针式电测机,包括测试头以及升降机构。测试头包括探针10以及用于固定探针10的冶具基板20。升降机构可以驱动探针10下压,并与待测产品的线路进行连接。待测产品例如为一种触摸屏或者显示屏。通过电测机对触摸屏进行检测,可以及时发现触摸屏线路是否存在开路、短路、大电容等功能不良。
在现有技术中,测试头往往通过需要一定的下压量,以便于触摸屏线路进行良好的电接触。
在本实施例中,探针10为弹性探针。如图2所示,探针10包括探针头11、套管12、弹簧13和接线端子14。冶具基板20包括测试头卡板一21和测试头卡板二22。测试头卡板一和测试头卡板二上分别设置有通孔,探针10同时穿过测试头卡板一和测试头卡板二的通孔。
在本实施例中,探针式电测机还包括控制器,控制器与升降机构连接,通过控制器控制升降机构的位移量,使探针10在控制器的控制下具有多个工作位置。
升降机构可以由多种结构,例如,升降机构为一种气动机构。
探针10在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置,且探针10在第一工作位置时的高度大于所述探针10在第二工作位置时的高度。
在工作时,在控制器的控制下,调试探针10具有初始下压量A,可以使探针10移动初始下压量A至第一工作位置,并进行第一次测试。初始下压量A的设置使探针10在第一工作位置时,待测产品的大部分比例产品,如70%~80%可正常测试。正常测试是指测试探针10与待测试电子产品电接触良好,同时探针10不会对测试产品造成扎伤。
假设现有技术的探针10是移动下压量A’到工作位置。本申请中的初始下压量A小于现有技术的下压量A’。
在第一次测试中,未通过测试的20%~30%产品,会由于下压量不够、探针10与待测产品未接触或者接触不良造成误判。为了改善这种情况,对未通过第一次测试的20%~30%产品,将探针10继续下压一定调整位移a1使探针10到达第二工作位置。探针10在第二工作位置时,实际下压量B为A+a1,此时,再进行第二次测试。将探针10继续下压一定调整位移a1时为微调,以使探针10与待测产品能够充分接触。
本申请,在第一工作位置进行第一次测试时,通过设置较小的下压量,可以避免探针10下压量过大对70%~80%的待测产品造成扎伤。同时,将探针10继续下压至第二工作位置再进行第二次测试时,可以避免一次性的测试,对待测产品造成误判。
可以理解的,在测试中,还可以设置第三次测试,在第三次测试时,将探针10继续下压一定调整位移a2使探针10到达第三工作位置。探针10在第三工作位置时,实际下压量B为A+a1+a2。将探针10继续下压一定调整位移a2时为微调,具体的微调量a1、a2需要视具体情况而定。
探针10式电测机还包括CCD自动抓标对位机构,用于在探针10下压前,进行准确对位。
实施例二
本实施例是在实施一基础上作进一步改善。
在实际测试中,通常将待测产品,如大板玻璃的OGS触摸屏,放置在放置测试台面上进行测试。这对测试台面平整度要求极高,因此当测试台面整体平整度较差时,容易对待测产品造成误判。
为了避免这种情况,进一步的,所述冶具基板20由多个固定板组成,多个固定板分别对应于测试台面高度不同的多个区域。在多个固定板上分别固定有多个探针10。在一个实施例中,探针式电测机还包括多个驱动部件,多个固定板都分别连接独立的驱动部件。驱动部件可以为气压驱动部件,例如气泵。多个固定板在不同驱动部件的带动下,分别具有不同的下压量。可对多个固定板分别设置不同的下压量,即在测试台面位置低的区域设置大的下压量,在测试台面位置较高的区域设置小的下压量,从而避免对产品扎透光或者误判。
或者,作为替代的方案,在另一个实施例中,探针式电测机还包括多个微调机构,多个固定板都分别连接独立的微调机构。多个固定板在微调机构的调节下,分别具有不同的高度。测试台面位置低的区域所对应的固定板向下调整,测试台面位置较高的区域所对应的固定板向上调整,从而也避免对产品扎透光或者误判。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型的探针式电测机,探针在控制器的控制下具有多个工作位置,可以使探针移动初始下压量至第一工作位置进行第一次测试,以保证大部分产品正常测试且不会对产品造成损伤。对未通过初次测试的产品,将探针继续下压一定调整位移后,再进行第二次测试。以此来避免一次性的测试,对产品造成扎伤或者误判。
最后需要说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型实施例的技术方案而非对其进行限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型实施例进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本实用新型实施例的技术方案进行修改或者等同替换,而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本实用新型实施例技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种探针式电测机,包括测试头以及升降机构,所述测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板,所述升降机构驱动探针下压;其特征在于,所述探针式电测机还包括控制器,所述控制器与升降机构连接,所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。
2.如权利要求1所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置,所述探针在第一工作位置时的高度大于所述探针在第二工作位置时的高度。
3.如权利要求2所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针式电测机包括测试台面,所述测试台面具有高度不同的多个区域;所述冶具基板包括多个固定板,多个固定板分别对应于测试台面高度不同的多个区域;所述探针式电测机还包括多个驱动部件,多个固定板都分别连接独立的驱动部件;所述多个固定板在不同驱动部件的带动下,分别具有不同的下压量。
4.如权利要求2所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针式电测机包括测试台面,所述测试台面具有高度不同的多个区域;所述冶具基板包括多个固定板,多个固定板分别对应于测试台面高度不同的多个区域;所述探针式电测机还包括微调机构,所述多个固定板都分别连接独立的微调机构,所述多个固定板在微调机构的调节下具有不同的高度。
5.如权利要求1所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针式电测机还包括CCD自动抓标对位机构。
6.如权利要求1所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针为弹性探针。
7.如权利要求6所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针包括探针头、套管、弹簧和接线端子。
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