CN112462242A - 产品检测工具 - Google Patents

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CN112462242A CN202011517167.7A CN202011517167A CN112462242A CN 112462242 A CN112462242 A CN 112462242A CN 202011517167 A CN202011517167 A CN 202011517167A CN 112462242 A CN112462242 A CN 112462242A
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戴安泰
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Universal Global Technology Shanghai Co Ltd
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Abstract

本发明公开了产品检测工具，包括：基座；升降机构，安装于所述基座；安装架，安装于所述升降机构；多个探笔组件，所述探笔组件包括探笔和角度调整件，所述角度调整件分别连接于所述探笔和所述安装架；其中，通过所述角度调整件能够调整所述探笔的角度，通过所述升降机构能够调整所述探笔的高度。所述产品检测工具能够将多个探笔调整并固定至多个位置，并且能够对多个探笔同时进行升降操作，能够降低操作者的操作难度和工作强度，同时能够提高检测效率。

Description

产品检测工具
技术领域
本发明设计工业生产领域，进一步地涉及产品检测工具。
背景技术
SIP封装(system in a package系统级封装)是将多种功能晶圆，包括处理器、存储器等功能晶圆根据应用场景、封装基板层数等因素，集成在一个封装内，从而实现一个基本完整功能的封装方案，是工业生产中一种常见的封装方式。
Sip封装完成后，通常需要对其指定性能进行测试，在测试过程中，通常存在需要同时对多个点进行测试的情况。目前，遇到需要同时对多个点进行测试的情况时，操作人员需要同时握持多支测试探笔进行测试。
需要指出的是，当需要测试的点数超过五个的时候，操作人员需要同时把五支以上的探笔固定在具有较小尺寸的sip封装上，具有较大的操作难度；并且如果操作员的手轻微抖动就会造成测试探笔的滑落，从而导致无法准确测试。另外，当sip封装上需要测试的针点是相邻针点时，距离最小时仅有0.55mm，操作人员人工操作时相邻的探笔很容易碰在一起而导致无法稳定地进行测试。重要的是，在现有的测试模式中，操作人员需要长时间把探笔的笔点在微小的测试点上，容易造成作业人员的视觉疲惫，工作效率降低。
综上所述，需要对传统的测试装置及测试方法进行改进。
发明内容
针对上述技术问题，本发明的目的在于提供产品检测工具，所述产品检测工具能够将多个探笔调整并固定至多个位置，并且能够对多个探笔同时进行升降操作，能够降低操作者的操作难度和工作强度，同时能够提高检测效率。
为了实现上述目的，本发明的目的在于提供产品检测工具，包括：
基座；
升降机构，安装于所述基座；
安装架，安装于所述升降机构；
多个探笔组件，所述探笔组件包括探笔和角度调整件，所述角度调整件分别连接于所述探笔和所述安装架；
其中，通过所述角度调整件能够调整所述探笔的角度，通过所述升降机构能够调整所述探笔的高度。
优选地，所述升降机构包括螺杆和滑动杆，所述螺杆和所述滑动杆分别安装于所述基座，所述安装架具有螺纹孔和滑动孔，所述螺杆穿过所述螺纹孔，所述滑动杆穿过所述滑动孔，通过转动所述螺杆能够带动所述安装架沿着所述滑动杆相对于所述基座上下滑动。
优选地，所述升降机构还包括转动手轮，所述转动手轮安装于所述螺杆，通过操作所述转动手轮能够带动所述螺杆转动。
优选地，所述安装架包括滑动块和延伸件，所述延伸件安装于所述滑动块，所述螺纹孔和所述滑动孔分别形成于所述滑动块，多个所述探笔组件的多个所述角度调整件分别安装于所述延伸件。
优选地，所述延伸件是环形。
优选地，所述延伸件上具有多个调节孔，通过改变所述角度调整件在所述调节孔内的安装位置，能够改变所述角度调整件之间的距离。
优选地，所述角度调整件包括固定块、第一转动块以及探笔安装块，所述固定块安装于所述延伸件，所述第一转动块可转动地安装于所述固定块，并且所述第一转动块和所述固定块的连接处阻尼配合，所述探笔安装块可转动地安装于所述第一转动块，并且所述探笔安装块与所述第一转动块之间的连接处阻尼配合，所述探笔安装于所述探笔安装块。
优选地，所述第一转动块的第一端具有两个第一延伸臂以及位于两个所述第一延伸臂之间的第一转动槽，所述固定块的一端安装于所述第一转动槽，并且两个所述第一延伸臂与所述固定块通过第一螺栓组件连接；所述第一转动块的第二端具有两个第二延伸臂以及位于两个所述第二延伸臂之间的第二转动槽，所述探笔安装块的一端安装于所述第二转动槽，并且两个所述第二延伸臂与所述探笔安装块之间通过第二螺旋组件连接。
优选地，所述基座上具有安装位，供安装待检测封装。
优选地，所述产品检测工具包括图像获取件和显示器，所述图像获取件用于获取所述基座的所述安装位上的图像，并能够传递至所述显示器进行显示。
优选地，所述探笔包括弹性探针，所述弹性探针包括针头、弹性件以及针管，所述弹性件和所述针头安装于所述针管内，当所述针头受压后能够向所述针管内运动，并压缩所述弹性件。
优选地，所述产品检测工具还包括刻度尺，所述刻度尺安装于所述基座，并与所述滑动杆相邻设置，用于测量所述安装架与所述基座之间的距离。
本发明所提供的所述产品检测工具具有以下至少一个有益效果：
1、本发明所提供的所述产品检测工具，所述产品检测工具能够将多个探笔调整并固定至多个位置，并且能够对多个探笔同时进行升降操作，能够降低操作者的操作难度和工作强度，同时能够提高检测效率。
2、本发明所提供的所述产品检测工具，所述产品检测工具通过螺杆与安装架的螺纹孔相配合，通过转动螺杆能够带动安装架的升降，并且停止转动后通过所述螺杆与螺纹孔之间的相互配合关系对所述安装架进行限位，对所述安装架的高度进行固定。
3、本发明所提供的所述产品检测工具，所述产品检测工具的探笔和安装架之间具有角度调整件，通过角度调整件能够调整所述探笔的角度，满足多个测试点的测试需求。当所述探笔调整至预设的角度后，所述角度调整件还能够对所述探笔的角度进行固定，防止所述探笔在自身重力的作用下转动。
4、本发明所提供的所述产品检测工具，所述产品检测工具的探笔采用针头可伸缩的探笔，其能够避免所述探笔的所述针头对待检测封装的压力过大而造成所述待检测封装的损坏。
附图说明
下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对本发明的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
图1是本发明的优选实施例的产品检测工具的立体图；
图2是本发明的优选实施例的产品检测工具的立体图；
图3是本发明的优选实施例的产品检测工具的爆炸图；
图4是本发明的优选实施例的产品检测工具的俯视图；
图5是本发明的优选实施例的产品检测工具的探笔的侧视图；
图6是本发明的优选实施例的产品检测工具的探笔的立体图；
图7是本发明的优选实施例的产品检测工具的探笔的弹性探针的剖视图。
附图标号说明：
基座1，安装位11，基板12，支撑脚13，升降机构2，螺杆21，滑动杆22，转动手轮23，转动手柄24，安装架3，螺纹孔31，滑动孔32，滑动块33，延伸件34，调节孔340，探笔组件4，探笔41，安装杆411，弹性探针412，针头4121，弹性件4122，针管4123，针头安装件413，导电件4131，导电固定件4132，角度调整件42，固定块421，第一转动块422，第一端4221，第一延伸臂4222，第一转动槽4223，第一螺栓组件4224，第二端4225，第二延伸臂4226，第二转动槽4227，第二螺栓组件4228，探笔安装块423，图像获取件5，刻度尺6。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
在本文中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
实施例1
参考说明书附图1至图7，本发明所提供的产品检测工具被阐述，所述产品检测工具尤其是指对采用SIP封装(system in a package系统级封装)的产品进行检测的工具。本发明所提供的所述产品检测工具能够将多个探笔调整并固定至多个位置，并且能够对多个探笔同时进行升降操作，能够降低操作者的操作难度和工作强度，同时能够提高检测效率。
参考说明书附图1、图2、图3以及图4，具体地，所述产品检测工具包括基座1、升降机构2、安装架3以及多个探笔组件4。所述升降机构2安装于所述基座1；所述安装架3安装于所述升降机构2；所述探笔组件4包括探笔41和角度调整件42，所述角度调整件42分别连接于所述探笔41和所述安装架3；其中，通过所述角度调整件42能够调整所述探笔41的角度，通过所述升降机构2能够调整所述探笔41的高度。
需要指出的是，在本优选实施例中，通过所述角度调整件42，操作者能够将多个所述探笔组件4的多个所述探笔42调整并固定至任意角度，以使得多个所述探笔42分别对应待测产品的多个待测试点。通过所述升降机构2，操作者能够调整多个所述探笔41的高度。通过本发明所提供的所述产品检测工具能够避免操作者同时握持多个探笔，能够极大地解放操作者的双手，降低操作者的劳动强度。
进一步地，所述升降机构2包括螺杆21和滑动杆22，所述螺杆21和所述滑动杆22分别安装于所述基座1，所述安装架3具有螺纹孔31和滑动孔32，所述螺杆21穿过所述螺纹孔31，所述滑动杆22穿过所述滑动孔32，通过转动所述螺杆21能够带动所述安装架3沿着所述滑动杆22相对于所述基座1上下滑动。
所述螺杆21和所述滑动杆22相互间隔设置，所述安装架3能够沿着所述滑动杆22上下滑动，所述滑动杆22能够对所述安装架3进行限位，防止所述安装架3随着所述滑动杆22转动，以将所述滑动杆22的转动转换为所述安装架3的上下移动。所述螺杆21与所述安装架3的所述螺纹孔31相互螺纹连接。
进一步地，所述升降机构2还包括转动手轮23，所述转动手轮23安装于所述螺杆21，通过操作所述转动手轮23能够带动所述螺杆21转动。优选地，所述转动手轮23安装于所述螺杆21的顶端。
进一步地，所述升降机构2还包括安装于所述转动手轮23上的转动手柄24，操作者能够操作所述转动手柄24以带动所述转动手轮23的转动。
参考说明书附图，所述安装架3包括滑动块33和延伸件34，所述延伸件34安装于所述滑动块33，所述螺纹孔31和所述滑动孔32分别形成于所述滑动块33，多个所述探笔组件4的多个所述角度调整件42分别安装于所述延伸件34。
优选地，所述延伸件34是环形，多个所述探笔组件4的多个所述角度调整件42分别安装于环形的所述延伸件34。可选地，所述延伸件34还能够是长条形。需要指出的是，所述延伸件34的具体类型不应当构成对本发明的限制。
参考说明书附图3和图4，所述延伸件34上具有多个调节孔340，通过改变所述角度调整件42在所述调节孔340内的安装位置，能够改变所述角度调整件42之间的距离。
需要指出的是，在本优选实施例中，所述延伸件34上的所述调节孔340的尺寸远大于安装一个所述角度调节件42所需要的尺寸，通过调节所述角度调节件42在所述调节孔340内的安装位置能够改变所述角度调整件42在所述安装架3的安装位置。可选地，所述延伸件34上的多个所述调节孔340还能够相互连通形成一个整体的调节孔。
参考说明书附图5和图6，进一步地，所述角度调整件42包括固定块421、第一转动块422以及探笔安装块423，所述固定块421安装于所述延伸件34，所述第一转动块422可转动地安装于所述固定块421，并且所述第一转动块422和所述固定块421的连接处相互阻尼配合，所述探笔安装块423可转动地安装于所述第一转动块422，并且所述探笔安装块423与所述第一转动块422之间的连接处相互阻尼配合，所述探笔41安装于所述探笔安装块423。
优选地，所述固定块421与所述延伸件34之间通过定制车铣件连接，以方便所述固定块421与所述延伸件34之间的拆装。
需要指出的是，在本优选实施例中，所述角度调整件42的所述第一转动块422的两端分别相对于所述固定块421和所述探笔安装块423可转动，不仅能够调整所述探笔41相对于所述基座1的角度，而且能够调整所述探笔41相对于所述基座1的高度。可选地，在本发明的另一些优选实施例中，所述固定块421和所述探笔安装块423之间的所述第一转动块422的数量还能够是多个，所述固定块421和所述探笔安装块423之间的所述第一转动块422的具体数量不应当构成对本发明的限制。
参考说明书附图6，所述第一转动块422的第一端4221具有两个第一延伸臂4222以及位于两个所述第一延伸臂4222之间的第一转动槽4223，所述固定块421的一端安装于所述第一转动槽4223，并且两个所述第一延伸臂4222与所述固定块421通过第一螺栓组件4224连接；所述第一转动块4222的第二端4225具有两个第二延伸臂4226以及位于两个所述第二延伸臂4226之间的第二转动槽4227，所述探笔安装块423的一端安装于所述第二转动槽4227，并且两个所述第二延伸臂4226与所述探笔安装块423之间通过第二螺旋组件4228连接。
需要指出的是，所述固定块421的尺寸略大于两个所述第一延伸臂4222之间的距离，所述固定块421与两个所述第一延伸臂4222之间通过过盈配合以实现阻尼连接。同样地，所述探笔安装块423的尺寸略大于两个所述第二延伸臂4226之间的距离，所述探笔安装块423与两个所述第二延伸臂4226之间通过过盈配合实现阻尼连接。
还需要指出的是，通过所述第一螺栓组件4224能够调整两个所述第一延伸臂4222与所述固定块421之间过盈配合的紧密程度，通过所述第二螺栓组件4228能够调整两个所述第二延伸臂4226与所述探笔固定块423之间过盈配合的紧密程度。
所述固定块421与两个所述第一延伸臂4222相互阻尼配合，所述探笔安装块423与两个所述第二延伸臂4226相互阻尼配合，当旋转所述探笔41调整至预设的位置后，通过所述第一转动块422与所述固定块421、所述探笔安装块423之间的阻尼配合关系对所述探笔进行固定至预设位置。
进一步地，所述基座1上具有安装位11，供安装待检测封装。优选地，所述基座1上的所述安装位11的数量是两个。可选地，所述基座1上的所述安装位11的数量还能够多于两个，所述基座1上的所述安装位的具体数量不应当构成对本发明的限制。
进一步地，所述产品检测工具包括图像获取件5和显示器，所述图像获取件5用于获取所述基座1的所述安装位11上的图像，并能够传递至所述显示器进行显示。所述图像获取件5获取所述基座1上的所述安装位11上的图像后能够传递至所述显示器，并在所述显示器上进行放大显示，以便于操作者能够更好地将所述探笔41对准待检测封装上的待测试点。
参考说明书附图7，在本优选实施例中，所述探笔41的针头采用可伸缩设计，能够便于控制所述探笔41作用于所述待检测封装的压力大小，避免作用于待检测封装的压力较大而造成所述待检测封装损坏。
具体地，所述探笔41包括安装杆411、弹性探针412以及针头安装件413，所述针头412可拆卸地安装于所述针头安装件413，所述针头安装件413可拆卸地安装于所述安装杆411，并且所述针头412电连接于所述针头安装件413，所述针头安装件413适于通信连接于外界。
所述弹性探针412包括针头4121、弹性件4122以及针管4123，所述针管4123具有针头腔，所述针头4121和所述弹性件4122分别安装于所述针头腔。当所述针头4121受力后，所述针头4121能够受力向所述针头腔的底部运动，并压缩所述弹性件4122。换句话说，在本优选实施例中，所述弹性探针412是弹性探针，其能够在测试过程中防止所述探针41施加较大的作用力于所述待检测封装。
可选地，所述针头4121的直径是0.11mm。
进一步地，所述探笔41的所述针头安装件413具有导电件4131和导电固定件4132，所述导电件4131安装于所述针头安装件413，所述导电固定件4132适于将外界导线电连接于所述针头安装件413。所述针头4121电连接于导电件4131。
所述导电固定件4132包括紧固螺钉和操作螺钉，所述紧固螺钉用于将外接导线的接头压接于所述导电件4131，所述操作螺钉供操作者旋转，以控制所述紧固螺钉与所述导电件4131之间的距离。
所述安装杆411的外侧具有容线槽，供容纳外接导线。优选地，所述安装杆411和所述针管4123的外侧分别包裹有绝缘材料。
优选地，所述弹性件4122是弹簧。可选地，所述弹性件4122还能够是弹性橡胶。可以理解的是，所述弹性件4122的具体类型不应当构成对本发明的限制。
优选地，所述基座1上的所述安装位11的数量是两个，所述探笔组件4的数量是10个。可选地，所述基座上的所述安装位11的数量还能够被实施位多个，所述探笔组件4的数量也能够被实施位多个，所述基座1上的所述安装位11的数量、所述探笔组件4的数量不应当构成对本发明的限制。
参考说明书附图1和图2，所述产品检测工具还包括刻度尺6。所述刻度尺6与所述滑动杆22相邻安装于所述基座1，并且所述安装架3的所述滑动块33的位置与所述刻度尺6的位置相对应，通过所述刻度尺6，操作者能够直观地看到所述安装架3的所述滑动块33与所述基座1之间的距离。
进一步地，所述基座1包括基板12和安装于所述基板12的支撑脚13，所述安装位11形成于所述基板12，所述支撑脚13用于支撑所述基板12。
需要指出的是，在本优选实施例所提供的所述产品检测工具的使用过程如下：
先将待检测封装放置于所述基座1的所述安装位11上；
通过所述升降机构2调整所述安装架3至预设的高度；
通过所述角度调整件42逐个调整所述探笔41的角度，使得所述探笔41的针头与待检测封装上需要测试的点接触，以对所述待检测封装进行测试。
在所述基座1上的待检测封装测试完成之后，通过所述升降机构2提升所述安装架3的高度，然后更换新的所述待检测封装，再次循环上述步骤，完成测试。
需要指出的是，使用本发明所提供的所述产品检测工具，操作者能够逐个调整所述探笔41的角度至与所述待检测封装接触，并且所述探笔41调整至预设的角度后能够自动定位，防止所述探笔41在自身重力的作用下转动，能够避免操作者同时握持多个所述探笔41，能够极大地降低操作者的劳动强度和操作难度。
应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (12)

1.产品检测工具，其特征在于，包括：
基座；
升降机构，安装于所述基座；
安装架，安装于所述升降机构；
多个探笔组件，所述探笔组件包括探笔和角度调整件，所述角度调整件分别连接于所述探笔和所述安装架；
其中，通过所述角度调整件能够调整所述探笔的角度，通过所述升降机构能够调整所述探笔的高度。
2.根据权利要求1所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述升降机构包括螺杆和滑动杆，所述螺杆和所述滑动杆分别安装于所述基座，所述安装架具有螺纹孔和滑动孔，所述螺杆穿过所述螺纹孔，所述滑动杆穿过所述滑动孔，通过转动所述螺杆能够带动所述安装架沿着所述滑动杆相对于所述基座上下滑动。
3.根据权利要求2所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述升降机构还包括转动手轮，所述转动手轮安装于所述螺杆，通过操作所述转动手轮能够带动所述螺杆转动。
4.根据权利要求2所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述安装架包括滑动块和延伸件，所述延伸件安装于所述滑动块，所述螺纹孔和所述滑动孔分别形成于所述滑动块，多个所述探笔组件的多个所述角度调整件分别安装于所述延伸件。
5.根据权利要求4所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述延伸件是环形。
6.根据权利要求4所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述延伸件上具有多个调节孔，通过改变所述角度调整件在所述调节孔内的安装位置，能够改变所述角度调整件之间的距离。
7.根据权利要求6所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述角度调整件包括固定块、第一转动块以及探笔安装块，所述固定块安装于所述延伸件，所述第一转动块可转动地安装于所述固定块，并且所述第一转动块和所述固定块的连接处阻尼配合，所述探笔安装块可转动地安装于所述第一转动块，并且所述探笔安装块与所述第一转动块之间的连接处阻尼配合，所述探笔安装于所述探笔安装块。
8.根据权利要求7所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述第一转动块的第一端具有两个第一延伸臂以及位于两个所述第一延伸臂之间的第一转动槽，所述固定块的一端安装于所述第一转动槽，并且两个所述第一延伸臂与所述固定块通过第一螺栓组件连接；所述第一转动块的第二端具有两个第二延伸臂以及位于两个所述第二延伸臂之间的第二转动槽，所述探笔安装块的一端安装于所述第二转动槽，并且两个所述第二延伸臂与所述探笔安装块之间通过第二螺旋组件连接。
9.根据权利要求8所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述基座上具有安装位，供安装待检测封装。
10.根据权利要求8所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述产品检测工具包括图像获取件和显示器，所述图像获取件用于获取所述基座的所述安装位上的图像，并能够传递至所述显示器进行显示。
11.根据权利要求1-10中任一项所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述探笔包括弹性探针，所述弹性探针包括针头、弹性件以及针管，所述弹性件和所述针头安装于所述针管内，当所述针头受压后能够向所述针管内运动，并压缩所述弹性件。
12.根据权利要求2-10中任一项所述的产品检测工具，其特征在于，其中所述产品检测工具还包括刻度尺，所述刻度尺安装于所述基座，并与所述滑动杆相邻设置，用于测量所述安装架与所述基座之间的距离。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050275418A1 (en) * 2000-05-23 2005-12-15 Chong Fu C High density interconnect system having rapid fabrication cycle
CN101329364A (zh) * 2008-07-18 2008-12-24 中国人民解放军空军装备研究院地面防空装备研究所 旋转式柔性电路板测试夹具
CN203672923U (zh) * 2013-11-27 2014-06-25 杭州照相机械研究所 一种通用电功率测试装置
CN206114719U (zh) * 2016-08-31 2017-04-19 广东长虹电子有限公司 应用于示波器上的伸缩探笔
CN206321230U (zh) * 2016-12-24 2017-07-11 宁波培立新自动化设备有限公司 一种圆锥滚子轴承装配高的随摆式测量结构
CN107942227A (zh) * 2017-11-15 2018-04-20 中电科技集团重庆声光电有限公司 圆片级芯片老化夹具
CN207675866U (zh) * 2018-01-05 2018-07-31 东莞市红木棉电子科技有限公司 一种全自动短路测试机
CN208575742U (zh) * 2018-07-07 2019-03-05 无锡鼎闰精密机械有限公司 测试针模组快速夹具
CN210514410U (zh) * 2019-06-21 2020-05-12 信利光电股份有限公司 一种探针式电测机

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050275418A1 (en) * 2000-05-23 2005-12-15 Chong Fu C High density interconnect system having rapid fabrication cycle
CN101329364A (zh) * 2008-07-18 2008-12-24 中国人民解放军空军装备研究院地面防空装备研究所 旋转式柔性电路板测试夹具
CN203672923U (zh) * 2013-11-27 2014-06-25 杭州照相机械研究所 一种通用电功率测试装置
CN206114719U (zh) * 2016-08-31 2017-04-19 广东长虹电子有限公司 应用于示波器上的伸缩探笔
CN206321230U (zh) * 2016-12-24 2017-07-11 宁波培立新自动化设备有限公司 一种圆锥滚子轴承装配高的随摆式测量结构
CN107942227A (zh) * 2017-11-15 2018-04-20 中电科技集团重庆声光电有限公司 圆片级芯片老化夹具
CN207675866U (zh) * 2018-01-05 2018-07-31 东莞市红木棉电子科技有限公司 一种全自动短路测试机
CN208575742U (zh) * 2018-07-07 2019-03-05 无锡鼎闰精密机械有限公司 测试针模组快速夹具
CN210514410U (zh) * 2019-06-21 2020-05-12 信利光电股份有限公司 一种探针式电测机

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
杨晓群, 叶德芳: "QRY-1型漆包线耐溶剂试验仪", 电线电缆, no. 01, 25 February 1986 (1986-02-25), pages 65 - 66 *

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