CN210514583U - 一种触摸显示屏的测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种触摸显示屏的测试系统，包括待测触摸显示屏，以及电测机；触摸显示屏的绑定区具有多个PIN脚；电测机包括测试FPC，测试FPC包括信号线与金手指焊盘，电测机通过测试FPC的金手指焊盘与触摸显示屏的多个PIN脚电连接；触摸显示屏为多个，且多个触摸显示屏的PIN脚数量不同，其中任意一个触摸显示屏的PIN脚的数量不大于N，多个不同型号的触摸显示屏的PIN脚的间距相同；金手指焊盘的数量为M，所述M不小于N；金手指焊盘的间距与PIN脚的间距相同。本实用新型根据产品PIN脚数量设计一个通用的测试FPC，使多个不同型号的触摸显示屏产品都可以共用该测试FPC。进而提高了测试机对产品的测试效率，提高了通用性，减少了物料的浪费。

Description

一种触摸显示屏的测试系统

技术领域

本实用新型涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种触摸显示屏的测试系统。

背景技术

触摸屏以及触摸显示屏等电子产品在生产过程中，产品会有开路、短路、大电容等功能不良。目前多采用电测机对产品进行测试，以便及时检测出功能不良品。

由于触摸屏以及触摸显示屏等电子产品的产品型号众多且更新换代快。现有的电测机，对位系统往往通过通过识别触摸显示屏产品的PIN脚、来保证PIN脚和测试FPC上的金手指焊盘的准确对位。在生产过程中，由于不同产品型号在PIN脚设计上不同，导致在使用电测机对产品进行测试时，需要制备与不同产品型号相使用的工装治具或者连接器件。这导致测试过程中的效率低下以及物料的浪费。

实用新型内容

本实用新型针对以上问题，提出了一种改进的触摸显示屏的测试系统。

本实用新型提供了一种触摸显示屏的测试系统，包括待测触摸显示屏，以及电测机；所述触摸显示屏的绑定区具有多个PIN脚，所述PIN脚通过金属走线与触控区的触控电极电连接；所述电测机包括测试FPC，所述测试FPC包括信号线与金手指焊盘，所述电测机通过测试FPC的金手指焊盘与触摸显示屏的多个PIN脚电连接；

所述触摸显示屏为多个，且多个触摸显示屏的PIN脚数量不同，其中任意一个触摸显示屏的PIN脚的数量不大于N，所述多个不同型号的触摸显示屏的PIN脚的间距相同；

所述金手指焊盘的数量为M，所述M不小于N；所述金手指焊盘的间距与PIN脚的间距相同。

优选地，所述多个触摸显示屏还分别包括对位标，所述电测机包括自动抓标对位机构。

优选地，所述自动抓标对位机构为CCD机构。

优选地，所述对位标至少为两个。

优选地，所述对位标为两个，所述多个触摸显示屏的两个对位标距离相同。

优选地，所述多个触摸显示屏的PIN脚的线宽相同。

优选地，所述待测触摸显示屏放置在电测机的测试台面，所述电测机还包括下压机构，所述下压机构控制测试FPC下压并于PIN脚紧密接触。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

针对多个型号的触摸显示屏，本实用新型根据测试通道数量、产品PIN脚数量设计一个通用的测试FPC，使多个不同型号的触摸显示屏产品都可以共用该测试FPC。进而提高了测试机对产品的测试效率，提高了通用性，减少了物料的浪费。

附图说明

图1为本实用新型实施例所述的一种触摸显示屏的测试系统的结构示意图；

图2为图1中的A处的局部放大图；

图3为另一种触摸显示屏的测试系统中的局部放大图。

10-触摸显示屏、11-PIN脚、12-对位标、20-测试FPC、21-金手指焊盘。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的的结构和作用原理作进一步说明：

实施例一

如图1~图3所示，本实用新型具体实施例提供了一种触摸显示屏的测试系统。该测试系统包括待测触摸显示屏10，以及电测机。

触摸显示屏10产品包括触控区以及边界区。触控区设置有触控电极图案，

在边界区设置有绑定区，绑定区具有多个PIN脚11，PIN脚11通过金属走线与触控区的触控电极电连接。在实际的产品成品中，触摸屏产品通过绑定区的多个PIN脚11与绑定FPC（FPC，软性线路版）电连接，进而连接到主板。

电测机用于对触摸显示屏10进行测试，以检测触摸显示屏10是否有开路、短路、大电容等功能不良。

在本实用新型中，电测机包括测试FPC20，电测机通过测试FPC20与待测产品进行电连接。测试FPC20可以为电测机的测试冶具的一部分。具体的，测试FPC20包括信号线与金手指焊盘21，电测机通过测试FPC20的金手指焊盘21与触摸显示屏10的多个PIN脚11电连接；测试FPC20的信号线将电信号传递给电测机以进行分析。

本实用新型的电测机可适用于多个不同信号的触摸显示屏10。在本实施例中，触摸显示屏10为多个，且多个触摸显示屏10的PIN脚11数量不同。其中任意一个触摸显示屏10的PIN脚11的数量不大于N。如图2所示的触摸显示屏10的PIN脚11的数量较少，而图3所示的另一个触摸显示屏10的PIN脚11的数量相对较多。

测试FPC20的金手指焊盘21的数量为M，其中，M不小于N。以保证金手指焊盘21的数量大于等于任一个触摸显示屏10的PIN脚11数量。

进一步的，多个不同型号的触摸显示屏10的PIN脚11的间距相同。同时，金手指焊盘21的间距与PIN脚11的间距相同。该测试FPC20可适用于任一个触摸显示屏10产品的电连接。

本实用新型的电测机，针对多个型号的触摸显示屏10，根据测试通道数量、产品PIN脚11数量设计一个通用的测试FPC20，使多个不同型号的触摸显示屏10产品都可以共用该测试FPC20。进而提高了测试机对产品的测试效率，提高了通用性，减少了物料的浪费。

可以理解的，测试FPC20的金手指焊盘21的数量为M不超出电测机本身的测试通道数量。

在多个触摸显示屏10还分别设置有对位标12。电测机包括自动抓标对位机构。电测机通过自动抓标对位机构抓取对位标12，以实现PIN脚11和测试FPC20上的金手指焊盘21的准确对位。优选地，该自动抓标对位机构为CCD机构。进一步的，对位标12至少为两个，以保证抓标对位的准确性。

更加优选的，对位标为两个。与测试FPC20相适配的多个触摸显示屏的两个对位标距离相同，例如该距离等于测试FPC20连接端的宽度。

更加优选的，多个触摸显示屏10的PIN脚11具有相同的线宽。

电测机还包括测试台面和下压机构，在实际测试时，所述待测触摸显示屏10放置在电测机的测试台面。待自动抓标对位实现PIN脚11和测试FPC20上的金手指焊盘21的准确对位后，下压机构控制测试FPC20下压并于PIN脚11紧密接触，以实现电路导通。

可以理解的，还设置有保护机构，以避免测试时，压伤带测试的触摸显示屏10。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

针对多个型号的触摸显示屏，本实用新型根据测试通道数量、产品PIN脚数量设计一个通用的测试FPC，使多个不同型号的触摸显示屏产品都可以共用该测试FPC。进而提高了测试机对产品的测试效率，提高了通用性，减少了物料的浪费。

最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型实施例的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本实用新型实施例的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本实用新型实施例技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种触摸显示屏的测试系统，包括待测触摸显示屏，以及电测机；其特征在于，所述触摸显示屏的绑定区具有多个PIN脚；

所述电测机包括测试FPC，所述测试FPC包括信号线与金手指焊盘，所述电测机通过测试FPC的金手指焊盘与触摸显示屏的多个PIN脚电连接；

所述触摸显示屏为多个，且多个触摸显示屏的PIN脚数量不同，其中任意一个触摸显示屏的PIN脚的数量不大于N，所述多个触摸显示屏的PIN脚的间距相同；

所述金手指焊盘的数量为M，所述M不小于N；所述金手指焊盘的间距与PIN脚的间距相同。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征是，所述多个触摸显示屏还分别包括对位标，所述电测机包括自动抓标对位机构。

3.如权利要求2所述的测试系统，其特征是，所述自动抓标对位机构为CCD机构。

4.如权利要求2所述的测试系统，其特征是，所述对位标至少为两个。

5.如权利要求4所述的测试系统，其特征是，所述对位标为两个，所述多个触摸显示屏的两个对位标距离相同。

6.如权利要求1所述的测试系统，其特征是，所述多个触摸显示屏的PIN脚的线宽相同。

7.如权利要求1所述的测试系统，其特征是，所述待测触摸显示屏放置在电测机的测试台面，所述电测机还包括下压机构，所述下压机构控制测试FPC下压并于PIN脚紧密接触。

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