CN208270182U - 键帽结构组装不良测试机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种键帽结构组装不良测试机，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述驱动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头，所述检测头顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头用于插入键帽一侧底部。本实用新型结构紧凑、测试效率高、准确性高以及适用范围广的特点。

Description

键帽结构组装不良测试机

技术领域

本实用新型涉及一种键帽结构组装不良测试机，属于键帽测试机技术领域。

背景技术

键盘一般是由键板与键帽组合而成的，键帽通常通过四周的剪刀脚卡扣结构卡合在键板上，并位于相应的按键上方。组装过程中容易出现各类卡扣不良，如：未卡合上、卡扣力度不足、卡扣易掉落等，这类问题直接影响消费者的操作。为了避免键帽的卡扣不良，在键帽安装后，需要对其进行拉拔力测试，即对键帽施加一定大小的作用力向外拉键帽，如果键帽四角的卡扣依然良好则表示键帽卡扣良好。

现有技术中，常用人工扣键帽的拉拔测试，这种方式具有成本高、效率低、结果准确性差的问题，无法满足现代工业生产的要求，还有采用机械设备进行自动检测，如使用刷key机，在组装好的键盘键帽上正方，用一块柔性硅胶下降到键帽上方并干涉接触，然而这种检测方法存在检出率很低且会对良品造成损伤等不足；或是使用顶key机，在组装好的键盘键帽下正方，在每个key的正下方装上对应探针，用探针的压缩行程量来控制探针的弹力，从而把不良的键帽顶出键帽整体结构，因为整个不良的判断是靠人工目测完成而需要很明显的键帽脱离，由于键盘的多变性和探针的疲劳耐力有限，故检出率也很低并误判率也很高；再或是使用吸key机，在每个键帽的上方用吸盘靠足够的真空于键帽表面接触，从而产生吸力，往上拉拔键帽，由于吸盘的力是垂直向上的，而单脚的结构不良键帽，它的垂直拉拔力是正常的所以检出力也会大大折扣，并且键盘的多变性多样性，造成设备的更换维护成本很高。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是，提供一种结构紧凑、测试效率高、准确性高、适用范围广的键帽结构组装不良测试机。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

键帽结构组装不良测试机，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述X轴向移动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头，所述检测头顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头用于插入键帽一侧底部。

还包括Y轴向移动装置，沿Y轴向安装有若干组所述检测头组件，所述检测头以Y轴向为中心线左右对称设置，若干组所述检测头组件分为多列错开分布，所述Y轴向移动装置用于使若干组所述检测头组件沿Y轴向与待检键盘相对移动。

还包括间隙调节装置，所述间隙调节装置用于调节每个所述检测头组件在Y 轴向上的位置。

所述间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机以及轨道，所述电机输出轴与所述检测头组件连接。

每组所述检测头组件四周与所述检测头错开分布有压轮，用于按压待检测键帽相邻行的键帽。

还包括Z轴向移动装置，用于使所述检测头组件沿Z轴向与待检键盘相对移动。

还设有配重弹簧，用于维持所有所述检测头组件的高度。

包括7组所述检测头组件，7组所述检测头组件分为四列七行，以向X轴向行进方向起始端为第一列，以垂直于X轴行进方向起始端为第一行，7组所述检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行。

所述检测头顶面为光滑面。

本实用新型所达到的有益效果：采用上述结构的检测头与压力传感器连接，在X轴向移动过程中，检测头慢慢将键帽一侧顶起，通过实时采集压力数据与合格键帽数据进行比对，即可判断出键帽是否合格以及具体不合格的位置，检测结果直观、准确，并且采用光滑面的检测头，可以使检测头对键帽的磨损降至最低；采用对称设置的检测头，通过Y轴向移动，即可对键帽两边进行检测，结构合理，紧凑，操作简便，采用压轮的设置，可以避免键盘被顶起，采用间隙调节装置，可以适应不同尺寸的键盘测试，扩大本装置的使用范围，采用上述检测头组件的分布方式，可以避开跨行的键帽(Enter键以及“+”键)。

附图说明

图1是本实用新型俯视立体结构示意图；

图2是本实用新型仰视立体结构示意图；

图3是本实用新型主视结构示意图；

图4是本实用新型后视结构示意图；

图5是本实用新型俯视结构示意图；

图6是本实用新型仰视结构示意图；

图7是本实用新型左视结构示意图；

图8是本实用新型右视结构示意图；

图9是本实用新型检测头立体结构示意图；

图10是实用新型检测头的主视图(a)、右视图(b)以及后视图(c)。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围，本说明所述的行所指示的方向为键盘6排键帽横向排列的方向为行，列为垂直于6 排键帽横向排列的方向。

如图1，图2所示的键帽结构组装不良测试机，从上到下依次包括X轴向移动装置、Y轴向移动装置、Z轴向移动装置、间隙调节装置、7组检测头组件以及压轮，如图5所示，X轴向移动装置包括X轴向-KK模组12、滑块连接板 14、X轴向线轨13以及X轴向驱动电机11，X轴向-KK模组12与X轴向线轨 13平行设置，通过滑块连接板14连接，X轴向驱动电机11用于驱动X轴向-KK 模组12，如图6所示，Y轴向移动装置包括Y轴向电机21以及Y轴向轨道22， Z轴向移动装置包括Z轴向电机31、Z轴向电机固定板34、支撑板32以及连接柱33，Y轴向电机21安装在滑块连接板14下方，Y轴向轨道22底部与Z轴向电机固定板34连接，Z轴向电机31输出轴与支撑板32连接，带动支撑板32 随之升降，7组间隙调节装置安装在支撑板32上，Z轴向电机固定板34与支撑板32之间还连接有多组配重弹簧7，可以避免在断电或其他异常情况下，检测头下落造成的损坏，如图1所示，间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机61以及轨道62，电机61输出轴与检测头组件顶部连接，可以带动其在Y轴向的轨道62上移动，根据键盘每行之间的间隙尺寸，调整其所在位置，可以适应不同尺寸键盘的键帽测试，检测头组件包括压力传感器41以及与其相连的检测头42，如图9，图10所示，检测头42为截面为直角三角形的三棱柱形，顶面为光滑坡面，沿X轴向移动装置行进方向由高至低分布，相对中心连接柱左右对称设置， 7组检测头组件分为四列七行，如图6所示，以向X轴向行进方向起始端为第一列，以垂直于X轴行进方向起始端为第一行，7组检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行，在检测头四周与其错开分布有压轮51，用于按压待检测键帽相邻行的键帽，压轮51套在连接杆上，连接杆安装在固定板52上，与支撑板32连接。

使用方法如下：通过调节Z轴电机31以及Y轴电机21，使检测头位于可插入键帽一侧底部的位置，在X轴电机11的驱动下，7组检测头同时沿X轴方向行进，在移动过程中，由于检测头的高度变化，将键帽顶起，压力传感器采集实时压力数据，一侧检测完后，通过Y轴电机移动一行键帽位置，对键帽的另一侧进行检测，将检测的数据与合格产品进行比较即可得出详细的检测结果。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.键帽结构组装不良测试机，其特征是，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述X轴向移动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器(41)以及与其相连的检测头(42)，所述检测头(42)顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头(42)用于插入键帽一侧底部。

2.根据权利要求1所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括Y轴向移动装置，沿Y轴向安装有若干组所述检测头组件，所述检测头(42)以Y轴向为中心线左右对称设置，若干组所述检测头组件分为多列错开分布，所述Y轴向移动装置用于使若干组所述检测头组件沿Y轴向与待检键盘相对移动。

3.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括间隙调节装置，所述间隙调节装置用于调节每个所述检测头组件在Y轴向上的位置。

4.根据权利要求3所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，所述间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机(61)以及轨道(62)，所述电机(61)输出轴与所述检测头组件连接。

5.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，每组所述检测头组件四周与所述检测头错开分布有压轮(51)，用于按压待检测键帽相邻行的键帽。

6.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括Z轴向移动装置，用于使所述检测头组件沿Z轴向与待检键盘相对移动。

7.根据权利要求6所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还设有配重弹簧(7)，用于维持所有所述检测头组件的高度。

8.根据权利要求2-7任一项所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，包括7组所述检测头组件，7组所述检测头组件分为四列七行，以向X轴向行进方向起始端为第一列，以垂直于X轴行进方向起始端为第一行，7组所述检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行。

9.根据权利要求8所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，所述检测头(42)顶面为光滑面。