CN108303246A - 键帽结构组装不良测试机 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 9
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 4
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 4
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 108700028490 CAP protocol 2 Proteins 0.000 description 1
- 206010058314 Dysplasia Diseases 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000007586 pull-out test Methods 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract
本发明公开了一种键帽结构组装不良测试机,包括X轴向移动装置以及检测头组件,所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上,在所述驱动装置作用下沿水平方向移动,所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头,所述检测头顶面为坡面,沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布,所述检测头用于插入键帽一侧底部。本发明结构紧凑、测试效率高、准确性高以及适用范围广的特点。
Description
技术领域
本发明涉及一种键帽结构组装不良测试机,属于键帽测试机技术领域。
背景技术
键盘一般是由键板与键帽组合而成的,键帽通常通过四周的剪刀脚卡扣结构卡合在键板上,并位于相应的按键上方。组装过程中容易出现各类卡扣不良,如:未卡合上、卡扣力度不足、卡扣易掉落等,这类问题直接影响消费者的操作。为了避免键帽的卡扣不良,在键帽安装后,需要对其进行拉拔力测试,即对键帽施加一定大小的作用力向外拉键帽,如果键帽四角的卡扣依然良好则表示键帽卡扣良好。
现有技术中,常用人工扣键帽的拉拔测试,这种方式具有成本高、效率低、结果准确性差的问题,无法满足现代工业生产的要求,还有采用机械设备进行自动检测,如使用刷key机,在组装好的键盘键帽上正方,用一块柔性硅胶下降到键帽上方并干涉接触,然而这种检测方法存在检出率很低且会对良品造成损伤等不足;或是使用顶key机,在组装好的键盘键帽下正方,在每个key的正下方装上对应探针,用探针的压缩行程量来控制探针的弹力,从而把不良的键帽顶出键帽整体结构,因为整个不良的判断是靠人工目测完成而需要很明显的键帽脱离,由于键盘的多变性和探针的疲劳耐力有限,故检出率也很低并误判率也很高;再或是使用吸key机,在每个键帽的上方用吸盘靠足够的真空于键帽表面接触,从而产生吸力,往上拉拔键帽,由于吸盘的力是垂直向上的,而单脚的结构不良键帽,它的垂直拉拔力是正常的所以检出力也会大大折扣,并且键盘的多变性多样性,造成设备的更换维护成本很高。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种结构紧凑、测试效率高、准确性高、适用范围广的键帽结构组装不良测试机。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
键帽结构组装不良测试机,包括X轴向移动装置以及检测头组件,所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上,在所述驱动装置作用下沿水平方向移动,所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头,所述检测头顶面为坡面,沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布,所述检测头用于插入键帽一侧底部。
还包括Y轴向移动装置,沿Y轴向安装有若干组所述检测头组件,所述检测头以Y轴向为中心线左右对称设置,若干组所述检测头组件分为多列错开分布,所述Y轴向移动装置用于使若干组所述检测头组件沿Y轴向与待检键盘相对移动。
还包括间隙调节装置,所述间隙调节装置用于调节每个所述检测头组件在Y轴向上的位置。
所述间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机以及轨道,所述电机输出轴与所述检测头组件连接。
每组所述检测头组件四周与所述检测头错开分布有压轮,用于按压待检测键帽相邻行的键帽。
还包括Z轴向移动装置,用于使所述检测头组件沿Z轴向与待检键盘相对移动。
还设有配重弹簧,用于维持所有所述检测头组件的高度。
包括7组所述检测头组件,7组所述检测头组件分为四列七行,以向X轴向行进方向起始端为第一列,以垂直于X轴行进方向起始端为第一行,7组所述检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行。
所述检测头顶面为光滑面。
本发明所达到的有益效果:采用上述结构的检测头与压力传感器连接,在X轴向移动过程中,检测头慢慢将键帽一侧顶起,通过实时采集压力数据与合格键帽数据进行比对,即可判断出键帽是否合格以及具体不合格的位置,检测结果直观、准确,并且采用光滑面的检测头,可以使检测头对键帽的磨损降至最低;采用对称设置的检测头,通过Y轴向移动,即可对键帽两边进行检测,结构合理,紧凑,操作简便,采用压轮的设置,可以避免键盘被顶起,采用间隙调节装置,可以适应不同尺寸的键盘测试,扩大本装置的使用范围,采用上述检测头组件的分布方式,可以避开跨行的键帽(Enter键以及“+”键)。
附图说明
图1是本发明俯视立体结构示意图;
图2是本发明仰视立体结构示意图;
图3是本发明主视结构示意图;
图4是本发明后视结构示意图;
图5是本发明俯视结构示意图;
图6是本发明仰视结构示意图;
图7是本发明左视结构示意图;
图8是本发明右视结构示意图;
图9是本发明检测头立体结构示意图;
图10是发明检测头的主视图(a)、右视图(b)以及后视图(c)。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围,本说明所述的行所指示的方向为键盘6排键帽横向排列的方向为行,列为垂直于6排键帽横向排列的方向。
如图1,图2所示的键帽结构组装不良测试机,从上到下依次包括X轴向移动装置、Y轴向移动装置、Z轴向移动装置、间隙调节装置、7组检测头组件以及压轮,如图5所示,X轴向移动装置包括X轴向-KK模组12、滑块连接板14、X轴向线轨13以及X轴向驱动电机11,X轴向-KK模组12与X轴向线轨13平行设置,通过滑块连接板14连接,X轴向驱动电机11用于驱动X轴向-KK模组12,如图6所示,Y轴向移动装置包括Y轴向电机21以及Y轴向轨道22,Z轴向移动装置包括Z轴向电机31、Z轴向电机固定板34、支撑板32以及连接柱33,Y轴向电机21安装在滑块连接板14下方,Y轴向轨道22底部与Z轴向电机固定板34连接,Z轴向电机31输出轴与支撑板32连接,带动支撑板32随之升降,7组间隙调节装置安装在支撑板32上,Z轴向电机固定板34与支撑板32之间还连接有多组配重弹簧7,可以避免在断电或其他异常情况下,检测头下落造成的损坏,如图1所示,间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机61以及轨道62,电机61输出轴与检测头组件顶部连接,可以带动其在Y轴向的轨道62上移动,根据键盘每行之间的间隙尺寸,调整其所在位置,可以适应不同尺寸键盘的键帽测试,检测头组件包括压力传感器41以及与其相连的检测头42,如图9,图10所示,检测头42为截面为直角三角形的三棱柱形,顶面为光滑坡面,沿X轴向移动装置行进方向由高至低分布,相对中心连接柱左右对称设置,7组检测头组件分为四列七行,如图6所示,以向X轴向行进方向起始端为第一列,以垂直于X轴行进方向起始端为第一行,7组检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行,在检测头四周与其错开分布有压轮51,用于按压待检测键帽相邻行的键帽,压轮51套在连接杆上,连接杆安装在固定板52上,与支撑板32连接。
使用方法如下:通过调节Z轴电机31以及Y轴电机21,使检测头位于可插入键帽一侧底部的位置,在X轴电机11的驱动下,7组检测头同时沿X轴方向行进,在移动过程中,由于检测头的高度变化,将键帽顶起,压力传感器采集实时压力数据,一侧检测完后,通过Y轴电机移动一行键帽位置,对键帽的另一侧进行检测,将检测的数据与合格产品进行比较即可得出详细的检测结果。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.键帽结构组装不良测试机,其特征是,包括X轴向移动装置以及检测头组件,所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上,在所述驱动装置作用下沿水平方向移动,所述检测头组件包括压力传感器(41)以及与其相连的检测头(42),所述检测头(42)顶面为坡面,沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布,所述检测头(42)用于插入键帽一侧底部。
2.根据权利要求1所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,还包括Y轴向移动装置,沿Y轴向安装有若干组所述检测头组件,所述检测头(42)以Y轴向为中心线左右对称设置,若干组所述检测头组件分为多列错开分布,所述Y轴向移动装置用于使若干组所述检测头组件沿Y轴向与待检键盘相对移动。
3.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,还包括间隙调节装置,所述间隙调节装置用于调节每个所述检测头组件在Y轴向上的位置。
4.根据权利要求3所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,所述间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机(61)以及轨道(62),所述电机(61)输出轴与所述检测头组件连接。
5.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,每组所述检测头组件四周与所述检测头错开分布有压轮(51),用于按压待检测键帽相邻行的键帽。
6.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,还包括Z轴向移动装置,用于使所述检测头组件沿Z轴向与待检键盘相对移动。
7.根据权利要求6所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,还设有配重弹簧(7),用于维持所有所述检测头组件的高度。
8.根据权利要求2-7任一项所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,包括7组所述检测头组件,7组所述检测头组件分为四列七行,以向X轴向行进方向起始端为第一列,以垂直于X轴行进方向起始端为第一行,7组所述检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行。
9.根据权利要求8所述的键帽结构组装不良测试机,其特征是,所述检测头(42)顶面为光滑面。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810262493.4A CN108303246A (zh) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 键帽结构组装不良测试机 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810262493.4A CN108303246A (zh) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 键帽结构组装不良测试机 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108303246A true CN108303246A (zh) | 2018-07-20 |
Family
ID=62847846
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810262493.4A Pending CN108303246A (zh) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 键帽结构组装不良测试机 |
Country Status (1)
Country | Link |
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