CN207907845U - 一种薄膜测厚仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种薄膜测厚仪，包括底座，底座的上方固定设置工作台，工作台的中间固定设置测厚装置，工作台的左右两端分别固定设置固定装置和夹紧限位装置，测厚装置包括纵向设置的第一滑轨，第一滑轨上固定设置第一滑块，第一滑块上固定设置横梁，横梁的下端固定设置第二滑轨，第二滑轨上固定设置第二滑块，第二滑块的下端固定设置连接杆，连接杆的下端固定设置测厚探头。本实用新型通过固定装置和夹紧限位装置，使薄膜稳定的放置在工作台上，保证两端均被夹紧，防止薄膜出现褶皱等不平整的状况影响测量的准确度，保证测量的精确，而且夹紧限位装置的夹紧位置的可调，实现了不同长度也能夹紧的功能，使仪器适合于不同尺寸的薄膜。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测装置技术领域，具体是一种薄膜测厚仪。
背景技术
薄膜测厚仪，主要适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片等各种材料的厚度精确测量。广泛适用于质检机构、研究院校以及对薄膜厚度有严格要求的薄膜生产企业、使用单位。塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。
目前，市场上的薄膜测厚仪设有横向自动进给装置，这种自动进给装置虽然能通过转动杆自动进给待测产品，但是如果待测薄膜长度过长会出现另一端无法夹紧，特别是对于重量较轻的薄膜，容易出现薄膜待测的表面无法稳定放置在工作台上，薄膜也会出现褶皱不平整等状况导致薄膜的测量出现偏差，导致测量精度降低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种薄膜测厚仪。
一种薄膜测厚仪，包括底座，所述底座的上方固定设置工作台，其创新点在于：所述工作台的中间固定设置测厚装置，所述工作台的左右两端分别固定设置固定装置和夹紧限位装置，所述测厚装置包括纵向设置的第一滑轨，所述第一滑轨上固定设置第一滑块，所述第一滑块上固定设置横梁，所述横梁的下端固定设置第二滑轨，所述第二滑轨上固定设置第二滑块，所述第二滑块的下端固定设置连接杆，所述连接杆的下端固定设置测厚探头。
进一步的，所述固定装置包括纵向设置的第三滑轨，所述第三滑轨上固定设置第三滑块，所述第三滑块上固定设置固定辊轴。
进一步的，所述夹紧限位装置包括固定安装在工作台上的第四滑轨，所述第四滑轨上固定设置第四滑块，所述第四滑块上纵向固定设置导向柱，所述导向柱上套装滑套，所述滑套上固定设置横杆，所述横杆下端固定设置下压杆，所述下压杆的下端固定设置压板，所述压板内固定设置磁铁A，所述压板的正下方固定设置磁铁B，所述磁铁B与磁铁A相互吸引。
进一步的，所述磁铁B镶嵌安装在工作台内。
进一步的，所述第一滑块、第二滑块、第三滑块及滑套上均固定设置锁紧螺栓。
采用上述结构后，本实用新型有益效果为：本实用新型结构简单、使用便利，通过固定装置和夹紧限位装置，使薄膜稳定的放置在工作台上，保证两端均被夹紧，防止薄膜出现褶皱等不平整的状况影响测量的准确度，保证测量的精确，而且测厚探头能够通过第一滑块、横梁、第二滑轨及第二滑块在工作台上自由的移动位置，可以根据工艺的需要随时改变位置，方便使用，便捷性及适用性较强，大大提高了工作效率，而且夹紧限位装置的夹紧位置的可调，实现了不同长度也能夹紧的功能，使仪器适合于不同尺寸的薄膜。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
附图标记说明：1底座、2工作台、3测厚装置、31第一滑轨、32第一滑块、33横梁、34第二滑轨、35第二滑块、36连接杆、37测厚探头、4固定装置、41第三滑轨、42第三滑块、43固定辊轴、5夹紧限位装置、51第四滑轨、52第四滑块、53导向柱、54滑套、55横杆、56下压杆、57压板、58磁铁A、59磁铁B、6锁紧螺栓。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施方式，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
参看图1，一种薄膜测厚仪，包括底座1，底座1的上方固定设置工作台2，工作台2的中间固定设置测厚装置3，工作台2的左右两端分别固定设置固定装置4和夹紧限位装置5，测厚装置3包括纵向设置的第一滑轨31，第一滑轨31上固定设置第一滑块32，第一滑块32上固定设置横梁33，横梁33的下端固定设置第二滑轨34，第二滑轨34上固定设置第二滑块35，第二滑块35的下端固定设置连接杆36，连接杆36的下端固定设置测厚探头37。测厚探头37能够通过第一滑块32、横梁33、第二滑轨34及第二滑块35在工作台1上自由的移动位置，可以根据工艺的需要随时改变位置，方便使用，便捷性及适用性较强，大大提高了工作效率。
本实施例中，固定装置4包括纵向设置的第三滑轨41，第三滑轨41上固定设置第三滑块42，第三滑块42上固定设置固定辊轴43。可以手动调节第三滑块42在第三滑轨41内的位置进而调节固定辊轴43与工作台1的距离，可以固定住不同厚度的薄膜。
本实施例中，夹紧限位装置5包括固定安装在工作台1上的第四滑轨51，第四滑轨51上固定设置第四滑块52，第四滑块52上纵向固定设置导向柱53，导向柱53上套装滑套54，滑套54上固定设置横杆55，横杆55下端固定设置下压杆56，下压杆56的下端固定设置压板57，压板57内固定设置磁铁A 58，压板57的正下方固定设置磁铁B 59，磁铁B 59与磁铁A 58相互吸引。压板57可以通过滑套54在导向柱53上进行上下活动，而第四滑块52和第四滑轨51能够使压板进行前后调节，实现了不同长度也能夹紧的功能，使仪器适合于不同尺寸的薄膜，而且磁铁A 58和磁铁B 59之间的相互吸引，将薄膜夹在两者之间，能够防止薄膜松弛。
本实施例中，磁铁B 59镶嵌安装在工作台1内，能够使薄膜更加的平整。
本实施例中，第一滑块32、第二滑块35、第三滑块42及滑套54上均固定设置锁紧螺栓6，能够对各部件进行定位，防止移动，影响测量效果。
以上所述，仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其它修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (5)
1.一种薄膜测厚仪，包括底座，所述底座的上方固定设置工作台，其特征在于：所述工作台的中间固定设置测厚装置，所述工作台的左右两端分别固定设置固定装置和夹紧限位装置，所述测厚装置包括纵向设置的第一滑轨，所述第一滑轨上固定设置第一滑块，所述第一滑块上固定设置横梁，所述横梁的下端固定设置第二滑轨，所述第二滑轨上固定设置第二滑块，所述第二滑块的下端固定设置连接杆，所述连接杆的下端固定设置测厚探头。
2.根据权利要求1所述的一种薄膜测厚仪，其特征在于：所述固定装置包括纵向设置的第三滑轨，所述第三滑轨上固定设置第三滑块，所述第三滑块上固定设置固定辊轴。
3.根据权利要求1所述的一种薄膜测厚仪，其特征在于：所述夹紧限位装置包括固定安装在工作台上的第四滑轨，所述第四滑轨上固定设置第四滑块，所述第四滑块上纵向固定设置导向柱，所述导向柱上套装滑套，所述滑套上固定设置横杆，所述横杆下端固定设置下压杆，所述下压杆的下端固定设置压板，所述压板内固定设置磁铁A，所述压板的正下方固定设置磁铁B，所述磁铁B与磁铁A相互吸引。
4.根据权利要求3所述的一种薄膜测厚仪，其特征在于：所述磁铁B镶嵌安装在工作台内。
5.根据权利要求1或2或3所述的一种薄膜测厚仪，其特征在于：所述第一滑块、第二滑块、第三滑块及滑套上均固定设置锁紧螺栓。
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2018
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