CN206046495U - 一种测试分选机用的吸嘴 - Google Patents

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CN206046495U CN201621019730.7U CN201621019730U CN206046495U CN 206046495 U CN206046495 U CN 206046495U CN 201621019730 U CN201621019730 U CN 201621019730U CN 206046495 U CN206046495 U CN 206046495U
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邹锋
李勇昌
彭顺刚
朱金华
邹波
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Abstract

本实用新型公开一种测试分选机用的吸嘴,包括吸嘴本体,所述吸嘴本体包括其中心均设有真空流道的吸嘴杆和吸嘴头,所述吸嘴本体上设有可拆卸的定位保护装置,该定位保护装置包括设于吸嘴本体两侧、且方向平行于吸嘴本体的定位保护杆。本实用新型结构简单、易于制造,有效避免半导体器件的管脚变形,吸嘴杆与吸嘴头通过连接件连接,具有维修时间短、吸嘴头使用寿命长、产品质量高等优点,值得广泛推广。

Description

一种测试分选机用的吸嘴
技术领域
本实用新型涉及一种半导体器件封装设备,具体涉及一种测试分选机用的吸嘴。
背景技术
半导体器件制造完成后,需要对其进行检测、打标、分选、编带包装多种不同工作,传统的技术中,上述各个工作过程是独立进行的,其检测分选速度慢,设备多且杂,劳动量大且生产效率底下。目前,大都是由半导体器件测试分选机来实现机械化操作。分选机工作时,半导体器件从上料机构上料,然后进入分离台,吸嘴下行到半导体器件吸在吸嘴下部,现有吸嘴的结构如图3所示,然后吸嘴抬起,旋转工作台转动至第一旋转定位装置上方,吸嘴下行,使半导体器件下压进入模腔中,在模腔的导向作用下,半导体器件转动,使得其位置精确定位在设定的位置,以便在随后的检测中,其管脚与测试片匹配,当吸嘴再次升起后,旋转工作台再次转动一个工位,测试片与半导体器件的管脚恰好正对,吸嘴下行,测试片接触到管脚,如图4所示,对半导体器件的各项性能指标进行检测。
现有分选机的吸嘴结构存在一下缺点:其一,吸嘴吸着半导体器件上、下行过程中,极易出现吸嘴吸不到产品的中心位置,在搬运过程中受到外力作用引起半导体器件的管脚变形,从而导致管脚的共平面不一致,吸嘴没有设置相关的定位保护装置,在与检测片接触的时候出现虚焊,降低半导体器件的品质;其二,吸嘴结构为吸嘴杆和细长吸嘴头共为一体,而吸嘴头的承受力小,从而在卡料或受外力作用时极易发生断裂,无法单独更换吸嘴头,需整体更换造价高的吸嘴结构,且更换长,导致测试成本高、生产效率低。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型提供一种避免管脚变形、有效提高半导体器件质量的测试分选机用的吸嘴。
为了达到上述目的,本实用新型采取的技术方案:
一种测试分选机用的吸嘴,包括吸嘴本体,所述吸嘴本体包括其中心均设有真空流道的吸嘴杆和吸嘴头,所述吸嘴本体上设有可拆卸的定位保护装置,该定位保护装置包括设于吸嘴本体两侧、且方向平行于吸嘴本体的定位保护杆。
作为优选技术方案,为了防止定位保护杆作用于半导体器件管脚的力过大而导致变形,同时避免管脚变形的半导体器件进入下一个工序,有效提高半导体器件的质量,所述定位保护杆上均设有压力检测装置。
作为优选技术方案,为了使吸嘴结构可拆卸维修,降低维修成本,提高分选机的生产效率,所述吸嘴杆和吸嘴头之间连接有连接件,所述连接件中心设有与吸嘴杆、吸嘴头的真空流道相通的真空流道。
作为优选技术方案,为了提高吸嘴本体的吸附性,同时保证吸嘴本体结构紧凑、合理,所述吸嘴杆、连接件、吸嘴头的真空流道的中心线位于同一条直线上。
作为优选技术方案,为了提高吸嘴头的承受力和韧性,延长吸嘴头的使用寿命,从而降低生产成本和提高生产效率,所述吸嘴杆、连接件、吸嘴头均设置成圆柱状体,且吸嘴杆、连接件、吸嘴头的直径依次变小。
作为优选技术方案,为了保证吸嘴本体的结构紧凑、合理,同时保证制造工艺简单,所述连接件的一端通过螺纹与吸嘴杆连接、另一端通过焊接与吸嘴头连接。
与现有技术相比,本实用新型具有的有益效果:
1、吸嘴本体上设置可拆卸的定位保护装置,定位保护装置可半导体器件的大小调整,既保证半导体器件的管脚位于同一平面,避免虚焊现象的产生,同时承担了管脚的外力,避免半导体器件的管脚承受较大压力而变形,有效提高半导体器件的质量。
2、定位保护杆上设有压力检测装置,防止定位保护杆作用于半导体器件管脚的力过大而导致管脚变形,同时避免管脚变形的半导体器件进入下一个工序,产品的质量高。
3、吸嘴杆与吸嘴头通过连接件连接,具有可拆卸性,可单独更换易损件吸嘴头,且吸嘴杆、连接件、吸嘴头的结构、位置设置合理,保证吸嘴本体结构紧凑,吸附力高,吸嘴头的使用寿命长,降低维修成本和提高生产效率。
附图说明
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步地详细说明。
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型下压半导体器件与检测片接触的结构示意图;
图3为现有技术吸嘴的结构示意图;
图4为现有技术吸嘴下压半导体器件与检测片接触的结构示意图;
附图标号:1、吸嘴本体,1-1、吸嘴杆,1-2、吸嘴头,1-3、真空流道,1-4、连接件,2、定位保护装置,2-1、定位保护杆,3、压力检测装置,4、半导体半导体器件,4-1、管脚,5、检测片。
具体实施方式
如图1所示提出本实用新型一种具体实施例,一种测试分选机用的吸嘴,包括吸嘴本体1,所述吸嘴本体1包括吸嘴杆1-1和吸嘴头1-2,所诉吸嘴杆1-1和吸嘴头1-2的中心处均设有真空流道1-3、且相互流通,所述吸嘴本体1上设有可拆卸的定位保护装置2,该定位保护装置2包括设于吸嘴本体2两侧、且设置方向平行于吸嘴本体1的定位保护杆2-1,两定位保护杆2-1之间的水平距离小于等于半导体器件4的两管脚4-1之间的距离。
所述定位保护杆2-1上均设有压力检测装置3,压力检测装置3与吸嘴本体1的推行机构连接,若定位保护杆2-1作用于半导体半导体器件4的管脚4-1的力过大,压力检测装置3会给推行结构发出上行的信号,若半导体器件4的管脚4-1变形,压力检测装置3会给推行结构发出弹开报警信号,有效避免管脚的变形和管脚变形的半导体器件4进入下一个工序,产品质量高。
所述吸嘴杆1-1和吸嘴头1-2之间连接有连接件1-4,该连接件1-4中心设有与吸嘴杆1-1、吸嘴头1-2的真空流道1-3相通的真空流道1-3,吸嘴杆1-1和吸嘴头1-2之间设置连接件1-4,可使吸嘴本体1结构可拆卸维修,降低维修成本,提高分选机的生产效率。
所述吸嘴杆1-1、连接件1-4、吸嘴头1-2的真空流道1-3的中心线位于同一条直线上,有效提高吸嘴本体1的吸附性,同时保证吸嘴本体1结构紧凑、合理。
所述吸嘴杆1-1、连接件1-4、吸嘴头1-2均设置成圆柱状体,且吸嘴杆1-1、连接件1-4、吸嘴头1-2的直径依次变小,直径逐渐变小,吸嘴杆1-1、连接件1-4可分担吸嘴头1-2的承受力,且设置成圆柱状体,吸嘴头1-2的承受力高和韧性好,延长使用寿命,从而降低生产成本和提高生产效率。
所述连接件1-4的一端通过螺纹与吸嘴杆1-1连接、另一端通过焊接与吸嘴头1-2连接,螺纹连接,容易安装和更换,吸嘴头1-2与连接件1-4焊接连接,有效保证吸嘴本体1的结构紧凑、合理。
本实用新型使用时:将吸嘴安装于测试分选机上,设备工作时,当吸嘴本体1吸取半导体器件4下行至检测片5与管脚4-1接触时,吸嘴本体1上的定位保护装置2对半导体器件4的管脚4-1起到定位和保护的作用,如图2所示,有效避免虚焊和半导体器件4的管脚4-1变形,产品的质量高;若吸嘴头1-2受力损坏时,扭开吸嘴杆1-1与连接件1-4之间的螺纹,更换损坏的吸嘴头1-2即可,有效缩短维修时间和降低维修成本,生产效率高。
当然,上面只是结合附图对本实用新型优选的具体实施方式作了详细描述,并非以此限制本实用新型的实施范围,凡依本实用新型的原理、构造以及结构所作的等效变化,均应涵盖于本实用新型的保护范围内。

Claims (6)

1.一种测试分选机用的吸嘴,包括吸嘴本体(1),所述吸嘴本体(1)包括其中心均设有真空流道(1-3)的吸嘴杆(1-1)和吸嘴头(1-2),其特征在于:所述吸嘴本体(1)上设有可拆卸的定位保护装置(2),该定位保护装置(2)包括设于吸嘴本体(1)两侧、且设置方向平行于吸嘴本体(1)的定位保护杆(2-1)。
2.根据权利要求1所述一种测试分选机用的吸嘴,其特征在于:所述定位保护杆(2-1)上均设有压力检测装置(3)。
3.根据权利要求2所述一种测试分选机用的吸嘴,其特征在于:所述吸嘴杆(1-1)和吸嘴头(1-2)之间连接有连接件(1-4),所述连接件(1-4)中心设有与吸嘴杆(1-1)、吸嘴头(1-2)的真空流道(1-3)相通的真空流道(1-3)。
4.根据权利要求3所述一种测试分选机用的吸嘴,其特征在于:所述吸嘴杆(1-1)、连接件(1-4)、吸嘴头(1-2)的真空流道(1-3)的中心线位于同一条直线上。
5.根据权利要求4所述一种测试分选机用的吸嘴,其特征在于:所述吸嘴杆(1-1)、连接件(1-4)、吸嘴头(1-2)均设置成圆柱状体,且吸嘴杆(1-1)、连接件(1-4)、吸嘴头(1-2)的直径依次变小。
6.根据权利要求3~5任意一项所述一种测试分选机用的吸嘴,其特征在于:所述连接件(1-4)的一端通过螺纹与吸嘴杆(1-1)连接、另一端通过焊接与吸嘴头(1-2)连接。
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