CN1968337B - 图像形成装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了具有经适当错误校验的存储器的图像形成装置。一种当检测到异常时在图像形成装置中的处理器执行的方法，图像形成装置还包括：连接到处理器的存储装置、易失性存储器、显示装置和交互式输入装置，其中交互式输入装置用于输入跳出指令，所述方法包括以下步骤：(a)在显示装置的屏幕上显示所述异常，并对易失性存储器执行错误校验；(b)在进行错误校验时确定是否通过交互式输入装置输入了所述跳出指令，其中如果输入了所述跳出指令，则取消所述错误校验；以及(c)当检测到存储器错误时，将其信息显示在显示装置的屏幕上。

Description

图像形成装置

技术领域

本发明涉及在纸张上形成图像的图像形成装置，诸如打印机、复印机、传真机或多功能外围设备，更具体地涉及配备有经错误校验的存储器装置的图像形成装置。

背景技术

图像形成装置在校验了其存储器的全部位以确认存储器的状态正常之后启动其系统。

另一方面，由于形成的图像的分辨率变得越来越高，其颜色变得越来越多，以及存储器的价格越来越低，所以图像形成装置中的存储器的容量变得越来越大。

因此，在通电时对存储器的错误校验会花费几分钟，这使得用户感到不快。

同时，由于存储器的制造技术和检查技术的进步，存储器的可靠性得到提高。通过对存储器进行错误校验而检测出的错误的大部分原因是，当被加热较长时间时存储器劣化，以及当插拔存储器时存储器端子不知何故没有充分接触。

对于在通电时对存储器进行的错误校验，为了缩短时间，例如仅使用校验图案“01010101”和“10101010”。此外，为了减少校验时间，在相同的地址利用相同的模式仅执行一次“读”和“写”。

然而，例如由于存储器单元和其环境之间的泄漏电荷的移动，会发生存储器错误。取决于校验模式，泄漏的电荷的量是不同的。是否检测到存储器错误取决于校验模式。

由此，存在这样的情况，即，当出现异常时或出现了由于图像数据区中的存储器错误引起的图像劣化时，无法确定图像劣化是否是由于存储器错误引起的。

此外，为了增强存储器错误检测，必须详细地进行对存储器的错误校验。在此情况下，可能花费多于十分钟。

考虑到以上情况，第04-000542号日本专利申请公报公开了这样的技术：将存储器分为多个块，并依次在每一周期性定时器中断对存储器块执行存储器的错误校验。

然而，如果通过产生定时器中断而详细频繁地执行对存储器的错误校验，则正常处理会变慢，这给用户带来不快。

第03-171349号日本专利申请公报公开了这样的技术：在装置进行的数据处理之间的空闲时间执行对存储器的错误校验。

然而，其没有具体描述使用何种空闲时间，如果在对存储器的错误校验完成之前将其取消，则在某些情况下，其结果可能不同。为了防止这种情况，必须继续进行错误校验，这使得用户不舒服。

第2004-178387号日本专利申请公报提出，为了减少用户的不快感，对存储器的错误校验原则上不在系统启动时进行的，仅当纸张的总处理数量大于设置数量或者存储器的容量与前一次通电时的容量不同时，才对存储器进行错误校验。

根据该方法，因为仅在存储器故障有较高的发生率时才对存储器执行错误校验，所以通过省略对存储器的不必要的错误校验，可以减少用户的不快感。

然而，存储器错误的发生率取决于存储器装置的制造商或制造日期，并且存储器装置的早期故障取决于制造条件。

在图像质量由于图像数据区的存储区错误而劣化的情况下或者在处理器出现问题的情况下，在较长时间内无法确定该原因是否是存储器错误，并且图像劣化是局部的，从而长时间内未察觉到图像劣化。

此外，存在这样的情况，即，整个存储器区中仅仅一位的故障就导致严重的情况。存储器的容量越大，在错误校验中存储器错误的出现率增加得越多。

此外，即使从开启图像形成装置的电源到将其关闭的时长相同，取决于用户或日期，所使用的纸张的数量也是不同的，从而必须通过降低使用的纸张的总数量的设置，使安全裕度更大。如果纸张的总数量超过设定值，则在每次通电时执行对存储器的错误校验。

此外，如果处理器出现问题，则固定装置中的加热器和纸张馈送马达会保持通电。因此，期望更确定地采取安全措施。

发明内容

因此，本发明的一个目的是提供一种图像形成装置，其具有当必要性相对较高时进行错误校验的存储器，不会因为等待时间而给用户带来不快感。

本发明的另一目的是提供一种图像形成装置，该装置能够通过适当地省略通电时对存储器进行的错误校验而缩短系统启动时间，并且能够防止过晚检测到存储器错误。

根据本发明的第一方面的一种当检测到异常时在图像形成装置的处理器执行的方法，所述图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；显示装置，其连接到所述处理器；和交互式输入装置，其连接到所述处理器，用于输入跳出指令(escape instruction)；其中，所述方法包括以下步骤：(a)在所述显示装置的屏幕上显示所述异常，并对所述易失性存储器执行错误校验；(b)在对存储器进行所述错误校验的同时确定是否通过所述交互式输入装置输入了所述跳出指令，其中如果输入了所述跳出指令，则取消对存储器的所述错误校验；以及(c)当检测到存储器错误时，将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

根据这种方法，因为将异常显示在所述显示装置的屏幕上并且当发生异常时对存储器执行错误校验，所以可以识别所述异常是否是由存储器错误引起的，从而使用户可以处理由于存储器错误而引起的图像劣化。此外，因为当用户想要知道异常的原因时执行对存储器的错误校验，所以即使花费几分钟来完成对存储器的校验，也可以降低用户的不快感。此外，因为当在对存储器执行错误校验时用户通过交互式输入装置输入了跳出指令时，取消对存储器的错误校验，所以可以防止用户感到不快。

根据本发明的第二方面的一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；非易失性存储器，其连接到所述处理器，用于存储与要对存储器进行错误校验的区域有关的信息，该信息指示所述易失性存储器的整个存储器区域所分成的多个存储器块中的一个；和显示装置，其连接到所述处理器；其中，所述方法包括以下步骤：(a)在每次通电时对由所述信息指示的区域执行错误校验；(b)更新所述信息，以在多次通电的过程中，完成对所述易失性存储器的整个存储器区域的所述错误校验；以及(c)如果检测到存储器错误，将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

根据这种方法，因为在通电时对所述易失性存储器的整个存储器区域所分成的多个存储器块中的一个执行对存储器的错误校验，所以可以降低用户的不快感。此外，因为在几次通电内完成了对所述易失性存储器的整个存储器区域的错误校验，所以与在每次通电时不对存储器执行错误校验的情况相比，可以更早地检测到由于存储器错误而引起的失控(runaway)或图像劣化，因此可以给予用户安全感。

根据本发明的第三方面的一种在图像形成装置中的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储器，其连接到所述处理器，用于存储数据；非易失性存储器，其连接到所述处理器，用于存储中断信息；显示装置，其连接到所述处理器；和监视定时器，其连接到所述处理器或内置在所述处理器中，用于通过检测超时来中断所述处理器；所述方法包括：在运行状态时执行步骤(a)，而在每次通电时执行以下步骤(b)和(c)：

(a)响应于所述中断，将作为指示已发生了所述中断的信息的所述中断信息写入所述非易失性存储器中，对所述存储器执行错误校验，如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上；

(b)在通电时，确定所述中断信息是否指示已发生了所述中断；以及

(c)如果所述中断已发生，则在通电时对所述存储器执行错误校验，并且如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

根据这种方法，当由于诸如失控的异常，所述监视定时器中断所述处理器时，在其之后以及在下一次通电时对存储器执行错误校验，如果检测到错误，则显示与该错误有关的信息。因此，可以容易地确定所述异常是否是由于存储器故障而出现的，并可缩短找到该异常的原因以及处理该异常所需的时间。

根据本发明的第四方面的一种在图像形成装置中的处理器中执行的方法包括：存储器，其连接到所述处理器，用于存储数据；非易失性存储器，连接到所述处理器，用于存储指示次数的信息，所述次数包括总通电次数和设定次数；显示装置，其连接到所述处理器；其中，所述方法包括以下步骤：

(a)在每次通电时更新所述指示所述总通电次数的信息；

(b)如果所述信息指示所述总通电次数变成等于所述设定次数，则对所述存储器执行错误校验；以及

(c)如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

根据这种方法，因为在每次通电时更新总通电次数的信息，并且如果所述总通电次数变成等于设定次数，则对存储器执行对存储器的错误校验，所以与在总处理张数变得等于设定张数之后才对存储器执行错误校验的情况相比，通过减少安全裕度，错误校验的省略次数可以相对更多。因此，可以防止用户由于长时间等待对存储器的错误校验而感到不快。

根据本发明的第五方面的一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；交互式输入装置，其连接到所述处理器，用于输入设定时间的信息；定时器装置，用于对时间计数，并在当前时间变成等于所述设定时间时，通过激活超时信号直接或间接地中断所述处理器；和显示装置，其连接到所述处理器；其中，所述方法包括以下步骤：

(a)响应于所述中断，对所述易失性存储器执行错误校验；以及

(b)将指示所述对存储器的错误校验的结果的信息显示在所述显示装置的屏幕上。

根据这种方法，因为不是在通电时，而是在所述当前时间变为设定时间时执行对存储器的错误校验，所以用户可以在短时间内启动系统。此外，因为可将不使用所述图像形成装置期间的时间设置为所述设定时间，所以可以花费较长时间来执行对存储器的详细错误校验，并且在校验时不必改变到正常操作。因此，可以防止用户感到不快，并且用户可以在下一次使用时知道所述校验的结果。

根据本发明的第六方面的一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；交互式输入装置，其连接到所述处理器，用于输入错误校验指令；和显示装置，连接到所述处理器；其中，所述方法以下步骤：

(a)在所述显示装置的屏幕上显示用于选择针对存储器的多个错误校验类型中的一个或更多个的图像；

(b)执行通过所述交互式输入装置选择的类型的错误校验；以及

(c)将指示对存储器进行的所述错误校验的结果的信息显示在所述显示装置的屏幕上。

根据这种方法，因为响应于通过交互式输入装置输入的所述错误校验指令，执行对存储器的错误校验，所以即使在对存储器的下一次错误校验开始之前由于存储器错误而出现图像劣化，也可以对其进行处理。此外，因为基于用户的决定而执行对存储器的错误校验，所以用户不会感到不快。此外，因为执行的是从针对存储器的多个错误校验类型之中选出的对存储器的错误校验，所以即使在对存储器的下一次错误校验开始之前由于存储器错误而出现图像劣化，也可以更恰当地对其进行处理。

根据本发明的第七方面的一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；交互式输入装置，其连接到所述处理器，用于输入系统断电指令；电源控制装置，其连接到所述处理器，用于响应于所述系统断电指令，关闭系统电源；和显示装置，其连接到所述处理器；其中，所述方法包括以下步骤：

响应于所述系统电源的所述断电指令，对所述易失性存储器执行错误校验，并在将指示对存储器进行的所述错误校验的结果的信息存储到所述非易失性存储器中之后向所述电源控制装置提供所述断电指令；以及

响应于开启所述系统电源，读取存储在所述非易失性存储器中的对存储器进行的所述错误校验的所述结果的所述信息，并将该信息显示在所述显示装置的屏幕上。

根据本发明的第七方面，响应于系统断电指令，作为系统断电的预处理执行对存储器的错误校验，并且在将对存储器进行的错误校验的结果存储在所述非易失性存储器中之后，系统电源关闭，然后响应于下一次通电，从所述非易失性存储器中读取指示对存储器进行的错误校验的结果的信息，并显示该信息。因此，用户可以在短时间内启动系统，并且确保足够的时间以对存储器详细地执行错误校验。因此，这提高了存储器错误的检测率。因为在对存储器进行错误校验期间不必要改变到正常操作，因而会防止用户感到不快。

附图说明

参照以下说明、所附权利要求以及附图，将能更好地理解本发明的这些以及其他特性、方面和优点，在附图中：

图1是示出了根据本发明的实施例1-8的图像形成装置的共有硬件结构的示意性框图；

图2是示出了当检测到预定异常时启动的程序的过程的流程图；

图3是图2所示的步骤S2的处理的详细流程图；

图4是对易失性存储器的错误校验的图例；

图5是示出了通过通电而开始的程序的处理的流程图；

图6是示出了监视定时器中断处理的流程图；

图7是示出了根据本发明第三实施例的通过通电而开始的程序的处理的流程图；

图8(A)和8(B)分别是图5和图7的处理的图例；

图9是图7的处理的图例；

图10是示出了根据本发明第四实施例的通过通电而开始的程序的处理的流程图；

图11(A)至11(C)是图10所示的处理的图例；

图12是示出了根据本发明第五实施例的当在图像形成装置中监视定时器中断MPU时开始的处理的流程图；

图13是示出了根据本发明第五实施例的通电时的处理的流程图；

图14是示出了根据本发明第六实施例的通电时的处理的流程图；

图15是示出了在根据本发明第七实施例的图像形成装置中在通电时的处理的流程图；

图16是示出了监视中断处理的流程图；

图17(A)和17(B)是示出了相对于总通电次数“N”是否对存储器执行错误校验的图例；

图18是示出了在启动系统时通过定时器中断所开始的程序的处理的流程图；

图19是示出了根据本发明第九和第十实施例的图像形成装置的硬件结构的示意性框图；

图20是示出了通过通电而开始的程序的处理的流程图；

图21是示出了通过通电而开始的程序的一部分处理的流程图；

图22是示出了根据本发明第十一实施例的图像形成装置的硬件结构的示意性框图；

图23是示出了通过断电中断指令而开始的程序的处理的流程图；

图24是示出了通过通电而开始的程序的处理的流程图；

图25是示出了图23和图24的处理概况的时间图；以及

图26是示出了响应于用户的操作而开始的对存储器进行错误校验的处理的流程图。

具体实施方式

1、第一至第八实施例的共有特性

图1是示出了根据本发明第一至第八实施例中的任何一个的图像形成装置的硬件结构的示意性框图。

图像形成装置10A例如是包括控制面板12和主体(都连接到控制器11A)的多功能外围设备。控制器11A基于默认值和在控制面板12上设置的信息，对由图像形成装置主体13读取的复制图像进行处理，然后使图像形成装置主体13形成图像。或者基于从外部主机计算机20接收的图像数据和设置信息，控制器11A使图像形成装置主体13形成图像。

在控制器11A中，非易失性存储器111A、电可重写非易失性存储器111B、易失性存储器112和接口113-116通过总线连接到MPU 110。接口113-116分别连接到控制面板12、图像形成装置主体13、外部主计算机20和定时器117。系统的程序和数据(诸如初始值)存储在非易失性存储器111A中。非易失性存储器111B(诸如EPROM或闪速存储器)存储了在控制面板12上设置的值以及下面描述的待校验区域的识别标志“F”。

监视定时器(watchdog timer)119连接到MPU 110，作为应对由存储器故障而引发的不受控制(诸如失控)的措施。监视定时器119在比较长的时间(例如两秒)之后激活超时信号。该信号被提供给MPU 110的中断请求端子“IRQ”。如果在该信号被激活之前没有重置监视定时器119，则MPU 110的处理被中断。监视定时器119当被重置时重新启动。因此，只要不发生诸如失控的异常，就重置监视定时器119以防止其自身超时。由此，将输出重置信号的指令插入在非易失性存储器111A的程序区中的适当位置处。当执行该指令时，重置脉冲被提供给监视定时器119的输入端子RST，从而监视定时器119被重置。

现在将解释下述所有实施例所共有的对存储器进行错误校验的方法。

对非易失性存储器111A和111B中的每个存储器块进行错误校验。该存储器块的大小(字数)是这样的，其使得错误校验可以在例如约100毫秒内完成。该大小取决于存储器的类型以及MPU 110的处理速度。

关于对非易失性存储器111A的错误校验，预先计算各存储器块的散列值，将其存储在非易失性存储器111A的预定区域中。MPU 110计算存储器块的散列值，并将其与存储在非易失性存储器111A的预定区域中的对应值进行比较。然后，如果这两个值不同，则MPU 110将其确定为错误。在这里，散列值例如是散列总值。相同的方法适用于非易失性存储器111B。

如图4所示，在对易失性存储器112的错误校验中，当对存储器块30进行校验时，为了保持已使用区域中的内容，首先将其中的内容保存到未使用区域31，并以如下方式对存储器块30进行错误校验，然后将保存在区域31中的内容恢复到存储器块30中。

在针对易失性存储器112的错误校验中，存储在非易失性存储器111A中的多个校验图案例如是“01010101”、“10101010”、“00000000”、“11111111”等，各个图案被写入易失性存储器112的存储器块中，然后读取写入该存储器块的内容并将其与所写入的内容相比较，以看它们是否匹配。如果不匹配，则确定检测到了存储器错误。

2、第一实施例

将利用流程图解释本发明的第一实施例。

图2是示出了当检测到预定异常时启动的程序的处理的流程图。

各个预定异常具有这样的可能性：其是由所考虑的存储器错误所引起的。这种异常例如包括访问范围违反错误、溢出错误和用零除错误。要注意，可以添加“预定异常”的定义(诸如塞纸错误，其一般花费较长时间来排除原因)而执行对存储器的错误校验。括号中的参考字符表示附图中的步骤标识。

(S0)在控制面板12上显示一种异常。如果控制面板12的显示大小不足以显示整个消息，则仅显示错误码。

(S1)如果校验完成标志“Fc”等于“0”，则处理进行到步骤S2，否则，处理进行到步骤S6。校验完成标志“Fc”的初始值等于“0”。

(S2)如稍后所述，详细地对非易失性存储器111A、111B和易失性存储器112进行错误校验。

(S3)将校验完成标志“Fc”改变为“1”。

(S4)如果在步骤S2没有检测到错误，则处理进行到步骤S5，否则，处理进行到步骤S7。

(S5)如果跳出标志(escape flag)“Fe”是“0”，则处理进行到步骤S6，否则，图2的处理结束，从而返回到异常发生前的处理。

(S6)为了让用户确认显示在控制面板12上的异常信息，处理等待，直到用户按下控制面板12上的任何键，然后图2的处理结束。

(S7)将在步骤S2中检测到的信息(诸如存储器错误地址)显示在控制面板12上。此外，为了使用户决定处理是继续还是结束，将这些选项显示在控制面板12上。

(S8)如果用户选择了“继续”，则图2的处理结束并返回到异常发生之前的处理，否则，处理结束并且系统会被关闭。

图3是示出了上述步骤S2处的详细处理的流程图。

(S10)对一个存储器块进行错误校验。

(S11)如果在控制面板12上没有按下任何键，则处理进行到步骤S12，否则，处理进行到步骤14。

当用户观看错误消息并且判定错误的原因不是存储器错误或者必须立即执行图像处理(诸如打印)时，应该按下控制面板12上的任何键。

(S12)通过将待校验存储器块的顶地址移动到预定值，待校验的下一存储器块被更新。

(S13)通过该移动，如果下一存储器块在存储区之外，则意味着完成了所有的存储器校验，然后处理进行到图2示出的步骤S3，否则，处理回到步骤S10。

(S14)将跳出标志“Fe”改变为“1”，处理进行到图2示出的步骤S3。

在此情况下，如果在步骤S2中没有检测到存储器错误，则处理经过步骤S4和S5以结束图2的处理，然后处理返回到异常发生之前的处理。

根据第一实施例，当检测到异常时，在控制面板12上显示错误消息，并执行对存储器的错误校验。因此，用户能够知道异常是否是由于存储器错误而发生的，这使得用户能够处理由存储器错误引起的图像劣化。此外，当用户想要知道错误的原因时执行对存储器的错误校验，这使得即使花费较长时间来校验存储器，也能减少用户的不快感。

此外，在对存储器的错误校验期间，如果用户通过按下控制面板12上的任何键来输入跳出指令，则错误校验结束。这防止了用户变得不快。

此外，因为是在完成针对一个存储器块的错误校验之后且在进行针对下一存储器块的错误校验之前确定是否输入了跳出指令，所以尽管通过输入跳出指令而结束错误校验，但是仍可使用直到那时执行的针对各个块的错误校验的结果。

此外，利用校验完成表示“Fc”，如果“Fc”等于“1”，则不进行进一步的错误校验，从而即使在通电时，相同或不同的异常发生了几次，由异常引起的错误校验也只执行一次。这也防止了用户变得不快。

3、第二实施例

在本发明的第二实施例中，使用了图1示出的监视定时器119，在第一实施例没有使用监视定时器119。

图5是示出了存储在非易失性存储器111A中的程序的处理的流程图。当开启电源时，该程序开始。

(S20)如果待校验区域的识别标志“F”为“0”，则处理进行到步骤S21。如果标志“F”为“1”，则处理进行到步骤S23。

(S21)将易失性存储器112的整个区域分为两个部分：“B0”和“B1”，并对存储器块“B0”进行错误校验。图8(A)示出了存储器块“B0”和存储器块“B1”，它们是易失性存储器112的整个区域的两个部分。

(S22)将识别标志“F”改变为“1”，然后处理进行到步骤S25。

(S23)对存储器块“B1”进行错误校验，其为易失性存储器112的存储区域的另一部分。

(S24)将识别标志“F”改变为“0”。

(S25)如果检查到错误，则处理进行到步骤S26，否则，处理进行到步骤S28。

(S26)MPU 110在控制面板12上显示信息，该信息指示哪里发生了存储器错误。此外，出于向用户提供选项(重置以重新启动系统；继续处理；或结束处理)的目的，将这些选项显示在控制面板12上。

(S27)如果用户选择了“重新启动”，则MPU 110对自身重置并重新启动系统。如果用户选择了“继续”，则处理进行到步骤S28。如果不是这样，则处理结束。在“结束”的情况下，图像形成装置10A的电源会被关闭。

(S28)MPU 110启动OS(操作系统)以及在OS上运行的应用，从而MPU 110使图像形成装置10A就绪。

图6是示出了存储在非易失性存储器111A中的程序的处理的流程图。当由于异常(诸如失控)发生，WDT(监视定时器)通过向MPU 110提供中断请求而使处理中断时，由MPU 110激活该程序。

(S30)如果配备在图像形成装置13中的以下单元中的至少一个被通电：固定装置中的加热器、纸张馈送辊、安装在打印引擎或扫描仪中的马达、或扫描仪的光源，则MPU 110通过接口114关闭该单元(们)，以防止该装置被损坏并确保安全。

(S31)MPU 110对非易失性存储器111A、111B和易失性存储器112的整个区域进行错误校验。

(S32，S33)然后，该处理执行与图5示出的步骤S26和步骤S27相同的处理。

根据第二实施例，易失性存储器112的整个区域被分成两个部分，在每次开启时对标志“F”所指示的区域进行错误校验，然后将标志“F”反转。因此，这将错误校验所需的时间减少了一半，从而缓解了用户的不快感。此外，由于开启两次会导致对易失性存储器112的整个区域进行错误校验，所以这使得能够比原则上在每次开启时不进行错误校验的方式更早地检测到由于存储器错误而引起的图像劣化或失控，这向用户提供了安全感。

此外，即使由于将错误校验所需的时间减半而发生了异常(诸如失控)，当监视定时器119向MPU 110提供中断请求时，也会对存储器的整个区域进行错误校验。因此，可以在较早的阶段就检测到由于存储器错误而引起的图像劣化和失控，这向用户提供了安全感。

要注意，即使在通电时没有进行对存储器的错误校验，由于监视定时器119触发了错误校验，仍可缩短找到并处理异常的原因的时间。

4、第三实施例

取决于图像形成装置10A中安装的存储卡的生产日期或制造商，存储器错误的发生率通常是不同的。用户无法识别哪一个安装的卡具有更高的存储器错误发生率。

因此，根据第三实施例，如图8(B)所示，将正常安装的存储器分为存储器块(例如“B00”和“B01”)，并将任选安装的存储器分为存储器块(例如“B10”和“B11”)，当总通电次数是奇数时，对存储块“B00”和“B10”进行错误校验，而当总通电次数是偶数时，对存储块“B01”和“B11”进行错误校验。

由此，由于通电时对各存储卡的整个存储区域的一半进行错误校验，所以即使由于存储卡的差异存储器错误的发生率有所不同，通常也会使存储器错误的检测率变高。

通常，正常安装的存储卡的容量与任选安装的存储卡的容量不同；此外，任选安装的存储器可包括多个存储卡。

因此，如图9所示，易失性存储器112的整个存储区被分为存储大小彼此相同的许多块，并且对具有预定块间隔的多个存储器块进行错误校验。只要接通电源，待检查块就移到下一块。

由此，因为每次对各存储卡的一部分进行错误校验，所以无论易失性存储器112的结构如何，都可获得如上所述的同样优点。

在图9中，整个存储区域被分为16个块，每个块具有相同的大小，并且初始值为“0”的变量“i”每当接通电源时都递增1；然后，对存储器块“B0i”、“B1i”、“B2i”和“B3i”进行错误校验。如果“i”的值变为等于“4”，则将其初始化为“0”。

图7是示出了在通电之后如上的程序处理的流程图。该程序存储在非易失性存储器111A中。在该流程图中，对步骤S40-S47，而不是对图5示出的步骤S20-S24，进行处理。

在该程序中使用以下变量和常量。

Xs：任意存储器块的起始地址

Xe：该存储器块的结束地址

A0：易失性存储器112的起始地址

S：通电时在其中执行错误校验的存储区域的大小(字数)

D：包括在该大小中的存储块的数量

在这些变量、常量以及待校验区域的识别变量“i”之中，“A0”、“S”和“D”存储在非易失性存储器111A中；变量“i”存储在非易失性存储器111B中；而“Xs”和“Xe”存储在易失性存储器112的存储区域中，其中此时不执行错误校验。

(S40)将“A0+(S/D)×i”的结果代入“Xs”。

(S41)将“Xs+S/D-1”的结果来代入“Xe”。

(S42)针对从“Xs”到“Xe”的地址范围执行错误校验。

(S43)将“S”加到“Xs”。

(S44)如果“Xs”在所安装的存储器的地址范围内，则处理回到步骤S41，否则，处理进行到步骤S45。

(S45)变量“i”递增1。

(S46)如果变量“i”等于“D”，则处理进行到步骤S47，否则，处理进行到步骤S25。

(S47)将“0”代入变量“i”，处理进行到步骤S25。

随后的处理与图5所示的步骤S25至S27的处理相同。

按此方式，执行以上参照图9描述的错误校验。

5、第四实施例

在上面的第三实施例中，没有考虑存储器错误的发生率由于长期变化而变化。因此，在第四实施例中，基于以上考虑，响应于通电来执行如图10所示的处理。

在图10所示的流程图中，使用步骤S50-S54代替图7所示的步骤S40-S47。

(S50)总通电次数“N”递增1。该总通电次数“N”存储在图1所示的非易失性存储器111B中。“N”的初始值为“0”。

(S51)如果总通电次数小于或等于“N0”，则处理进行到步骤S52。如果值“N”在从“N0+1”到“N1”的范围内，则处理进行到步骤S53。如果值“N”大于或等于“N1+1”，则处理进行到步骤S54。例如，“N0”等于“500”，而“N1”等于“600”。

(S52)将图7所示的从步骤S40到S47的处理执行一次，处理进行到步骤S25。

(S53)将图7所示的从步骤S40到S47的处理执行两次，处理进行到步骤S25。

(S54)将图7所示的从步骤S40到S47的处理执行四次，即，对易失性存储器112的整个区域执行错误校验。然后，处理进行到步骤S25。

在这样的处理方式中，如果通电次数“N”小于或等于“500”，则如图11(A)所示，在每次通电时，对与识别变量“i”的值相对应的区域进行错误校验，然后更新识别变量“i”的值。换言之，在四次通电之后，完成了对易失性存储器112的整个区域的错误校验。

如果总通电次数“N”在从“501”到“600”的范围内，则如图11(B)所示，交替地在每次通电时对与“i＝0”和“i＝1”相对应的区域或与“i＝2”和“i＝3”相对应的区域进行错误校验。

如果总通电次数“N”大于或等于“601”，则如图11(C)所示，对易失性存储器112的整个区域进行错误校验。

根据第四实施例，随着存储器错误的发生率由于热所引起的存储器劣化而增加，待校验区域也增加。由此，可以适当地省略错误校验，并减少存储器错误检测这种错误(oversight)。

6、第五实施例

图12是示出了在根据本发明第五实施例的图像形成装置中MPU110被监视定时器119中断时的处理的流程图。

在该中断处理中，在步骤S31和步骤S32之间的步骤SA处，将下面描述的错误校验次数“K”设置为大于或等于“1”，例如为“3”。除了此点之外，该处理与第二实施例中图6的处理相同。错误校验次数“K”存储在非易失性存储器111B中，并且具有初始值“0”。

图13是示出了在通电时与错误校验次数“K”相关联的处理的流程图。

(S60)如果“K”为正，则处理进行到步骤S61，否则，处理进行到步骤S65。

(S61)进行如上所述的错误校验。

(S62)如果检测到错误，则处理进行到步骤S63，否则，处理进行到步骤S64。

(S63)在控制面板12上显示错误信息，然后处理结束。

(S64)错误校验次数“K”递减1。

(S65)激活系统，即，激活OS及在OS上运行的应用，从而图像形成装置就绪。

根据第五实施例，当由于诸如失控的异常从而MPU 110被监视定时器119中断时，不仅在错误发生时，而且在从错误发生起“K”次内的每次通电时，都执行对存储器的错误校验。这使安全性更好。

7、第六实施例

在本发明的第六实施例中，利用控制面板12设置的值以及下述设定次数“P”都存储在非易失性存储器111B中。

非易失性存储器111A中的程序在通电时不对存储器执行错误校验。为了包括此点，当由于存储器故障而发生了诸如失控的异常时，存在利用监视定时器119的措施。下面是对这些措施的解释。

图14示出了存储在非易失性存储器111A中的程序的处理的流程图，并且该程序在通电时开始。

(S70)如果设定次数“P”不为“0”，则处理进行到步骤S71，否则，处理进行到步骤S72。

(S71)设定次数“P”递减1，然后处理进行到步骤S76。

(S72)MPU 110对非易失性存储器111A、111B和易失性存储器112执行错误校验。

(S73)如果检测到错误，则处理进行到步骤S74，否则，处理进行到步骤S76。

(S74)MPU 110在控制面板12上显示信息，该信息指示存储器错误是否存在以及错误的位置信息。此外，为了向用户提供选项“重置系统以重新启动”或“处理结束”，将这些选项显示在控制面板12上。

(S75)如果选择了“重新启动”，则MPU 110将自身重置并重新启动系统，否则，处理结束。在“结束”的情况下，图像形成装置10A会关闭。

(S76)MPU 110启动OS和在OS上运行的应用，从而MPU 110使图像形成装置10A准备就绪。

在上述处理中，设定次数“P”的初始值例如为“500”。在此情况下，因为在总通电次数变为“500”之前，处理经过步骤S70和S71到达步骤S76，所以不执行在步骤S72对存储器的错误校验。

如果总通电次数大于500，则处理从步骤S70进行到步骤S72。因此，在此之后，在每次通电时进行对存储器的错误校验。

根据第六实施例，因为原则上在通电时不执行对存储器的错误校验，所以即使易失性存储器112容量大，也可以以较短时间启动系统。此外，在总通电次数超过设定次数之后，在每次通电时进行对存储器的错误校验。因此，可以避免产生由于长期变化下的存储器劣化引起的存储器错误导致的失控或图像劣化。

此外，使用总通电次数而不是使用主要取决于用户、时间或环境的纸张的数量来确定错误校验开始时间。由此，使对错误校验开始时间的确定更加优化，这使得可以比以前更多地延迟错误校验开始时间，从而消除了用户的不快感。

此外，当由于诸如失控的异常从而监视定时器119中断MPU 110时，对程序和数据区两者进行错误校验，可以比以前更多地延迟错误校验开始时间，从而消除了用户的不快感。

8、第七实施例

根据上面的第六实施例，在总通电次数“N”超过设定次数“P”之后，在每次通电时对存储器进行错误校验。即，是否进行对存储器的错误校验突然改变了。然而，考虑到安全裕度，通常该设定次数“P”被设置得相对较小，从而是否进行对存储器的错误校验的改变会慢。尤其是如果在监视定时器119中断了MPU 110时进行对存储器的错误校验，则在总通电次数“N”超过设定次数“P”之后，不需要在每次通电时对存储器进行错误校验。

根据本发明的第七实施例，当设定次数“P”变为“0”时，更新设定次数“P”的初始值，以使其可以变小。

在第一轮之后，将“M(0)”定为“P”的初始值。在第二轮之后，将“M(1)”定为“P”的初始值。例如，在第一轮“P”的初始值为500；在第二轮“P”的被指定为“M(0)”的初始值为“50”；在第三轮“P”的被指定为“M(1)”的初始值为“5”；并且重复图14的处理。这些“P”的初始值(M(0)和M(1))存储在图1所示的非易失性存储器111B中。

图15是示出了根据本发明第七实施例的在通电时开始的程序的流程图。

除了插入在步骤S70和S72之间的步骤S77和S78之外，图15与图14相同。

(S77)如果轮数的变量“z”等于“3”，则处理进行到步骤S72，否则，处理进行到步骤S78。变量“z”的初始值为“0”。

(S78)用新的初始值“M(z)”代入设定次数“P”，然后“z”递减1。

通过添加这些处理，图17(A)示出了是否对存储器进行错误校验。

当在第一轮中发生了WDT中断时，优选地增加错误校验次数“P”。换言之，通过这样做，可相对增加第一轮的设定次数“P”的初始值。

图16是示出了考虑到以上情况的WDT中断处理的流程图。

如果在步骤S31和步骤S32之间的步骤SB处，设定次数“P”大于“0”，则该WDT中断处理来减小“P”。

例如，用值[P/2]来代替设定次数“P”以减小“P”，其中，[]表示向下舍入到最近整数的舍入运算符。其他与图6的处理相同。

图17(B)示出了：设定次数“P”的初始值在更新前等于“300”时产生WDT中断而将设定次数“P”减小到“150”。

根据第七实施例，在总通电次数超过初始值“P”之后，进行对存储器的错误校验。然后，将设定次数“P”的初始值更新为较小的值，并且在“P”大于“0”的情况下发生了WDT中断时，设定次数“P”被进一步减小。此外，当WDT中断发生时，进行对存储器的错误校验。由此，可以减少安全裕度，这使得可以使第一轮的设定次数“P”的初始值相对变大，以增加对存储器的错误验证的省略次数，从而防止了用户感到不快。

9、第八实施例

根据本发明的第八实施例，使用定时器117(定时器117在上述第一实施例中没有使用)，并且定时器117连接到图1所示的接口116。

定时器117通过电池118工作并具有单独的时钟。如果当前时间“Tn”与设定时间“Ts”匹配，则将一致脉冲提供给接口116的中断请求端子。接口116对其进行响应，中断MPU 110。

根据程序，MPU 110通过接口116将利用控制面板12输入的当前时间“Tn”和设定时间“Ts”设置到定时器117。

如在本发明的背景中所描述的，为了增强存储器错误的检测率，优选地对存储器详细执行错误校验，虽然其花费较长时间。

另一方面，当用户想要使用图像形成装置时，用户开启它，因此优选地缩短系统启动的时长。

根据第八实施例，在通电时不对存储器进行错误校验，从而缩短了系统启动时长并且减少了用户的不快感。对存储器的详细错误校验在由用户设置的设定时间“Ts”开始。该设定时间“Ts”例如是午饭期间的12:30。

图18示出了存储在非易失性存储器111A中的程序的处理的流程图，并且该程序由以上中断启动。

(S80)对非易失性存储器111A、111B和易失性存储器112进行错误校验。

(S81)如果在步骤S80中检测到错误，则处理进行到步骤S82，否则返回到中断之前的处理。

(S82)在控制面板12上显示指出存储错误的位置的信息。此外，为了向用户提供选项“继续”或“结束”，将这些选项显示在控制面板12上。

(S83)如果用户选择了“继续”，则该处理继续中断前的处理，否则，处理结束。在“结束”的情况下，图像形成装置10A会关闭。

根据第八实施例，由于在通电时不对存储器进行错误校验，所以在当前时间“Tn”与设定时间“Ts”匹配时进行对存储器的详细错误校验。因此，用户可以在短时间内激活系统，并在不使用图像形成装置10A时从时间“Ts”开始的一段较长时间内对存储器详细执行错误校验。此外，由于在进行对存储器的错误校验时不必改变到正常模式，所以用户不会感到不快。

10、第九实施例

图19是示出了根据本发明第九实施例的图像形成装置的硬件结构的示意性框图。

在该图像形成装置10B中，通过并联的手动开关14和可控电开关15，商用AC 100V电被提供给电源电路16A，并被转换为DC电，以提供给控制器11B的除定时器117之外的各个组件。

电开关15的开-关控制由触发器17的输出“Q”通过驱动器18进行操作。触发器17由定时器117的超时脉冲进行设置，并由MPU 110通过接口116进行重置。旁路了开关14和15的商用AC电由电源电路16B转换成DC电，然后该DC电被提供给触发器17和驱动器18。电开关15例如是继电器触点。在此情况下，驱动器18包括使继电器触点能够工作的继电器线圈。

像上述第八实施例一样地设置定时器117的当前时间“Tn”和设定时间“Ts”。对存储器进行的错误校验的结果存储在非易失性存储器111B中。

其他与图1相同。

将设定时间“Ts”例如设置在三点钟。在当前时间“Tn”变得等于设定时间“Ts”时，触发器17被来自定时器117的超时脉冲设置，电开关15开启以自动供电。

图20示出了存储在非易失性存储器111A中并且当自动或手动通电时开始的程序的处理的流程图。

(S90)如果触发器17的输出“Q”为“1”，则通过确定电源是自动开启的，处理进行到步骤S91，否则，通过确定电源是手动开启的，处理进行到步骤S94。

(S91)如第一实施例中所述地进行对存储器的错误校验。

(S92)将对存储器进行的错误校验的结果存储在非易失性存储器111B中。

(S93)重置触发器17，将其输出“Q”改变为“0”，以使电开关15关闭。由此，图像形成装置10B关闭并且处理结束。

之后，当用户开启手动开关14时，由于在步骤S90中确定了“Q”等于“0”，所以执行以下处理。

(S94)在控制面板12上显示对存储器进行错误校验的结果。

(S95)如果该结果指示存在存储器错误，则处理进行到步骤S96，否则，处理进行到步骤S98。

(S96)为了向用户提供“继续”或“结束”处理的选项，将这些选项显示在控制面板12上。

(S97)如果用户选择了“继续”，则处理进行到步骤S98，否则，处理结束。

(S98)激活OS和在OS上运行的应用，从而图像形成装置10B准备就绪。

根据第九实施例，在当前时间“Tn”变为设定时间“Ts”时，自动开启电源，并对存储器进行详细的错误校验。将对存储器进行的错误校验的结果存储在非易失性存储器111B中，然后断电。当接下来用户开启手动开关时，在不对存储器进行错误校验的情况下，显示对存储器进行错误校验的结果。因此，即使图像形成装置10B中安装了大容量的存储器，也可以在短时间内激活系统，由于不必在对存储器进行错误校验期间改变到正常模式而防止了用户感到不快。此外，因为在对存储器进行错误校验之前和之后图像形成装置10B都是关闭的，所以不会消耗无效的电力。

11、第十实施例

根据本发明第十实施例的硬件结构与第九实施例的硬件结构相同。在第十实施例中，利用第九实施例的结构，使用在第一实施例中描述的监视定时器119。

定时器117具有如在第九实施例中描述的功能，并且MPU 110通过接口116来使能或禁止定时器117的输出。当输出为“禁止”时，其逻辑电平为“0”。

图21是示出了存储在非易失性存储器111A中的程序的一部分处理的流程图。该流程图添加在图20所示的步骤S90和步骤S94之间。

(S100)总通电次数“N”递增1。

(S101)如果“N”小于或等于“N0”，则处理进行到步骤S103，否则，处理进行到步骤S102，其中“N0”等于与安全裕度相对应的值和与具有相对较高的初始存储器故障发生率的时期的末端相对应的值之和。值“N0”例如为“100”，其预先存储在非易失性存储器111A中。

(S102)如果“N”大于或等于“N1”，则处理进行到步骤S103，否则处理进行到S104，其中“N1”等于与具有由于长期变化而引起的存储器故障的发生率相对较高的时期的开始相对应的值和与安全裕度相对应的值之间的差。值“N1”例如为“500”，其预先存储在非易失性存储器111A中。

(S103)使定时器117的输出“使能”，然后处理进行到步骤S94。

(S104)使定时器117的输出“禁止”，然后处理进行到步骤S94。

由此，仅在存储器错误的发生率相对较高的时期在设定时间“Ts”进行对存储器的详细错误校验。在其他情况下，在设定时间“Ts”和通电时都不进行对存储器的错误校验，从而可以减少无用的电力消耗。

为了在不对存储器进行错误校验的时期处理存储器错误，在由图6所示的从监视定时器119输出的超时信号产生的中断处理中对存储器进行错误校验。

根据第十实施例，仅在存储器错误的发生率相对较高的时期在设定时间“Ts”对存储器进行详细的错误校验。在其他情况下，由于仅在由监视定时器119引起的中断处理中进行对存储器的错误校验，所以可以比第九实施例更多地减少图像形成装置10B的功率消耗。

12、第十一实施例

图22是示出了根据本发明第十一实施例的图像形成装置的硬件结构的示意性框图。

商用AC 100V电通过可控电开关15被提供给电源电路16A，并被转换为DC电，然后被提供给控制器11C中的各组件。电开关15例如是继电器触点。在此情况下，驱动器18包括操作继电器触点的继电器线圈。

电开关15的开-关控制由触发器17的输出“Q”通过驱动器18进行操作。旁路电开关15的商用电在电源电路16B处被转换成DC电，并且该DC电被提供给触发器17和驱动器18。

触发器17的设置输入端子“S”和重置输入端子“R”分别连接到控制面板12的电源控制按钮开关121和接口116的输出端子。当按下开关121时，电源控制指令脉冲被提供给触发器17的设置输入端子“S”和接口113。

开关121作为交替地开启和关闭的拨动开关进行工作。因此，如果在电开关15断开时按下开关121，则触发器17被上述脉冲设置，然后电开关15接通。然而，因为在该脉冲到达接口113时控制器是关闭的，所以在接口113处该脉冲被忽略。另一方面，如果在电开关15接通时按下开关121，则由于触发器17已经开启，所以该脉冲未改变触发器17的状态。然而，在接口113处接受该脉冲；MPU 110被中断；执行下述中断处理；通过接口116将作为断电指令的重置脉冲提供给触发器17的重置输入端子“R”；然后电开关15断开。

其余结构与图1的相同。

图23示出了存储在非易失性存储器111A中的程序的处理的流程图。该程序通过以上中断开始。

(S110)作为断电的预处理，对存储器进行错误校验。在此步骤中，因为有足够的时间执行对存储器的错误校验，所以对非易失性存储器111A、111B和易失性存储器112进行如第一实施例中所描述的详细错误校验。

(S111)将对存储器进行的错误校验的结果存储在非易失性存储器111B中。更具体地，将指示是否存在存储器错误的信息存储在非易失性存储器111B中，如果存在错误，则将错误区域的信息存储在非易失性存储器111B中。

(S112)通过接口116将作为断电指令的重置脉冲提供给触发器17的重置输入端子“R”。由此，电开关15断开以停止向控制器11C供电。

图24是示出了通过用户在控制器11C关闭的情况下按下开关121而触发电开关15之后控制器11C开启时的处理的流程图。

(S120)从非易失性存储器111B中读取对存储器进行的错误校验的结果，并将其显示在控制面板12上。

(S121)如果该结果指示存在存储器错误，则处理进行到步骤S122，否则，处理进行到步骤S124。

(S122)为了向用户提供“继续处理”或“结束处理”的选项，将这些选项显示在控制面板12上。

(S123)如果用户选择了“继续处理”，则处理进行到步骤S124，否则，处理结束。在“结束处理”的情况下，重置脉冲被提供给触发器17的重置输入端子“R”，然后电开关15会断开。

(S124)激活OS和在OS上运行的应用，从而图像形成装置10C准备就绪。

根据第十一实施例，如图25所示，响应于断电指令，花费足够时间进行作为断电的预处理的对存储器的详细的错误校验，并将对存储器进行的错误校验的结果存储在非易失性存储器111B中。此外，在下一次通电时，不进行对存储器的错误校验，而只显示存储器错误结果。由此，用户可以在短时间内激活系统，同时提高了存储器错误的检测率，而不会给用户带来不快感。此外，因为在电开关121断开时进行对存储器的错误校验，所以在校验期间无需改变到正常模式。由此，用户不会感到不快。

可能存在这样的情况，即，在图像形成装置10C的电源开启时由于存储器错误而发生图像劣化。

因此，程序响应于控制面板12的操作，在控制面板12上显示错误校验类型的菜单，并且响应于用户的选择对存储器执行错误校验。

图26是示出了该处理的流程图。

(S130)在控制面板12上显示用户可以选择的多种类型的错误校验。例如，显示以下选项作为校验目标：“非易失性存储器111A”、“非易失性存储器111B”、“易失性存储器112”、以及“所有存储器”。在易失性存储器112的情况下，在控制面板12上显示诸如以下的校验图案作为选项：“01010101”、“10101010”、“00000000”、“11111111”、以及“所有这些图案”。在两种情况下，用户都能选择一个或更多个。

(S131)如果用户完成了选择，则处理进行到步骤S314，否则，处理进行到步骤S132。

(S132)如果按下了跳出键，则处理进行到步骤S133，否则，处理回到步骤S130。

(S133)处理回到主菜单。

(S134)如上所述地进行对存储器的选定错误校验。

(S135)在控制面板12上显示校验结果。

(S136)如果检测到存储器错误，则处理进行到步骤S137，否则，处理进行到步骤S133。

(S137)为了向用户提供“继续”或“结束”处理的选项，将这些选项显示在控制面板12上。

(S138)如果用户选择了“继续”，则处理进行到步骤S133，否则，处理结束。在“结束”的情况下，可将脉冲提供给触发器17的重置输入端子“R”以使电开关15断开。

根据第十一实施例，响应于用户的操作，进行从多种类型的错误校验中选出的错误校验。因此，可以处理由于在图像形成装置10C的电源开启时出现的存储器错误而引起的图像劣化。

虽然已描述了本发明的优选实施例，但是应该理解，本发明不限于此，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以进行各种改变和修改。

例如，可以至少对易失性存储器112进行错误校验。

虽然在上述所有实施例中解释了将程序存储在非易失性存储器111A中的情况，但是也可以将程序存储在任何其他非易失性存储器(诸如硬盘)中。

因为通常在通电时执行系统重置，所以在本说明书和权利要求书中，“在通电时”的表达的意思是“在通电时”或“在系统重置时”。

此外，上述监视定时器可以是安装在MPU中的结构。

此外，在以上第二、第三、第四、第八和第十实施例中，解释了这样的情况，即，在通电时不对非易失性存储器111A和111B进行错误校验。然而，诸如上述易失性存储器112的情况，可以在开机时对整个区域或划分的区域进行错误校验。

此外，代替图6、12或16中对存储器的错误校验，在对应的实施例中可以在下一次通电时进行对存储器的错误校验。

在第九和第十实施例中，根据触发器17的输出“Q”来确定是否通过电开关15将电源电路16A开启作为系统电源。然而，如果当前时间和定时器117的设定时间之间的差小于一阈值，则可以确定系统电源被电开关15开启。

在第十一实施例中，虽然通过用户按下电源控制按钮121将断电指令提供给图像形成装置10C，但是本发明也适用于这样的情况，即，由于超过一设定时间而没有对其触碰，图像形成装置10C自动关闭。在此情况下，当超过该设定时间而没有触碰图像形成装置10C时，假定断电指令被提供给图像形成装置10C，然后开始图23的处理。

此外，在第十一实施例中，因为响应于用户的选择而对存储器执行错误校验的结构是辅助的，所以可将该结构与其他实施例组合。

Claims (24)

1.一种当检测到异常时在图像形成装置中的处理器执行的方法，所述图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；显示装置，其连接到所述处理器；和交互式输入装置，其连接到所述处理器，用于输入跳出指令，所述方法包括以下步骤：

(a)在所述显示装置的屏幕上显示所述异常，并对所述易失性存储器执行错误校验；

(b)在进行所述错误校验时确定是否通过所述交互式输入装置输入了所述跳出指令，其中如果输入了所述跳出指令，则取消所述错误校验；以及

(c)当检测到存储器错误时，将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述步骤(b)中，依次对每个块执行所述错误校验，并在完成对一个存储器块进行的所述错误校验和开始对下一存储器块进行的所述错误校验之间的时间内确定是否通过所述交互式输入装置输入了所述跳出指令。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述存储装置还存储初始值为第一值的状态值，所述方法还包括以下步骤：

(d)当完成了所述错误校验时，将所述状态变量改变为第二值；以及

(e)如果所述状态变量为所述第二值，则不执行进一步的错误校验。

4.一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；非易失性存储器，其连接到所述处理器，用于存储与要进行错误校验的区域有关的信息，该信息指示所述易失性存储器的整个存储器区域所分成的多个存储器块中的一个；和显示装置，其连接到所述处理器；

其中，所述方法包括以下步骤：

(a)在每次通电时对由所述信息指示的区域执行错误校验；

(b)更新所述信息，以在多次通电时，完成对所述易失性存储器的整个存储器区域的所述错误校验；以及

(c)如果检测到存储器错误，将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，

与要进行所述错误校验的区域有关的所述信息指示所述易失性存储器的整个存储器区域所等分成的所述多个存储器块中的一个，并且，

在所述步骤(b)中，更新与要进行所述错误校验的区域有关的所述信息，以在每次通电时顺序地轮换地进行对所述多个存储器块中的一个的错误校验。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，

要进行所述错误校验的所述区域是一组“m”个存储器块，所述“m”个存储器块彼此远离且选自所述整个存储器区域所等分成的“n”个存储器块，m＜n，所述“n”个存储器块被组成“k”个组，每个组与其他任何组不重叠，k＞＝2，并且

在步骤(b)中，更新与要进行所述错误校验的区域有关的所述信息，以在每次通电时顺序地轮换对所述“k”个组中的一组进行错误校验。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，

所述非易失性存储器还存储指示总通电次数的信息和指示设定的总通电次数的信息，并且

所述步骤(b)包括以下步骤：

(b1)在每次通电时对指示所述总通电次数的所述信息进行更新；以及

(b2)如果所述总通电次数大于所述设定的总通电次数，则对所述“k”个组中的一组执行所述错误校验，并且更新与要进行所述错误校验的所述区域有关的所述信息，以在每次通电时顺序地轮换。

8.根据权利要求4所述的方法，其中，所述图像形成装置还包括监视定时器，该监视定时器连接到所述处理器或者内置在所述处理器中，用于通过检测超时来中断所述处理器，所述方法还包括以下步骤：

(d)响应于所述中断，对所述易失性存储器的整个存储器区域执行所述错误校验；以及

(e)如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

9.一种在图像形成装置中的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储器，其连接到所述处理器，用于存储数据；非易失性存储器，其连接到所述处理器，用于存储中断信息；显示装置，其连接到所述处理器；和监视定时器，其连接到所述处理器或内置在所述处理器中，用于通过检测超时来中断所述处理器；

所述方法包括：在运行状态时执行步骤(a)，而在每次通电时执行以下步骤(b)和(c)：

(a)响应于所述中断，将指示已发生了所述中断的所述中断信息写入所述非易失性存储器中，对所述存储器执行错误校验，如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上；

(b)在通电时，确定所述中断信息是否指示已发生了所述中断；以及

(c)如果所述中断已发生，则在通电时对所述存储器执行错误校验，并且如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述中断信息指示次数，在所述步骤(c)中，每次当在通电时对所述存储器执行所述错误校验时使所述次数递减，并且如果所述次数变为零，则将指示已发生了所述中断的所述信息视为被清除。

11.一种在图像形成装置中的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储器，连接到所述处理器，用于存储数据；非易失性存储器，其连接到所述处理器，用于存储指示次数的信息，所述次数包括总通电次数和设定次数；显示装置，其连接到所述处理器；

其中，所述方法包括以下步骤：

(a)在每次通电时更新所述指示所述总通电次数的信息；

(b)如果所述信息指示所述总通电次数变成等于所述设定次数，则对所述存储器执行错误校验；以及

(c)如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述图像形成装置还包括监视定时器，该监视定时器连接到所述处理器或者内置在所述处理器中，用于检测超时来中断所述处理器，

其中，所述方法还包括以下步骤：响应于所述中断，对所述存储器执行错误校验，并且如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述方法还包括以下步骤：响应于所述中断，将所述设定次数改变为使错误校验之间的通电次数进一步减少。

14.一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；交互式输入装置，其连接到所述处理器，用于输入设定时间的信息；定时器装置，用于对当前时间计数，并在所述当前时间变成等于所述设定时间时，通过激活超时信号直接或间接地中断所述处理器；和显示装置，其连接到所述处理器；

所述方法包括以下步骤：

(a)响应于所述中断，对所述易失性存储器执行错误校验；以及

(b)将指示所述错误校验的结果的信息显示在所述显示装置的屏幕上。

15.根据权利要求14所述的方法，该图像形成装置还包括连接到所述处理器的电可写非易失性存储器，其中，所述定时器装置包括系统电源控制装置，该系统电源控制装置利用独立于所述图像形成装置的系统电源的电源进行工作，在所述当前时间变成等于所述设定时间时开启所述系统电源，并响应于重置信号的激活，关闭所述系统电源，

所述中断是通电中断；

其中，所述方法还包括在所述步骤(a)和(b)之间执行的以下步骤：

将指示错误校验的结果的信息存储到所述非易失性存储器中；以及

激活所述重置信号，

其中，在所述步骤(b)中，如果所述系统电源被手动开启，则从所述非易失性存储器中读取指示所述错误校验的所述结果的所述信息，以将指示所述错误校验的所述结果的所述信息显示在所述显示装置的屏幕上。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，所述系统电源控制装置包括：

开关，具有控制输入端子，用于选择性地开启和关闭所述系统电源；和

触发器，具有连接到所述开关的所述控制输入端子的输出端子，由所述超时信号的激活而被设置，由所述重置信号的激活而被重置。

17.根据权利要求16所述的方法，

其中在步骤(b)中，基于所述触发器的所述输出端子处的信号电平，来确定所述系统电源是由所述系统电源控制装置开启的，还是手动开启的。

18.根据权利要求15所述的方法，其中，所述非易失性存储器还存储总通电次数的信息，

其中，所述方法还包括以下步骤：在每次通电时更新所述总通电次数的信息，

其中，如果所述总通电次数的信息指示大于第一设定值并且如果所述系统电源是由所述系统电源控制装置开启的，则执行所述步骤(a)。

19.根据权利要求18所述的方法，其中，如果所述总通电次数的信息指示小于第二设定值并且如果所述系统电源是由所述系统电源控制装置开启的，则执行所述步骤(a)。

20.根据权利要求14所述的方法，该图像形成装置还包括监视定时器，该监视定时器连接到所述处理器或者内置在所述处理器中，用于通过检测超时来中断所述处理器，

其中，所述方法还包括以下步骤：响应于所述中断，对所述存储器进行所述错误校验，并且如果检测到存储器错误，则将其信息显示在所述显示装置的屏幕上。

21.一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；交互式输入装置，其连接到所述处理器，用于输入错误校验指令；和显示装置，连接到所述处理器，

其中，所述方法包括以下步骤：

(a)在所述显示装置的屏幕上显示用于选择针对存储器的多个错误校验类型中的一个或更多个的图像；

(b)执行通过所述交互式输入装置选择的类型的错误校验；以及

(c)将指示所述错误校验的结果的信息显示在所述显示装置的屏幕上。

22.一种在图像形成装置的处理器中执行的方法，该图像形成装置还包括：存储装置，其连接到所述处理器；易失性存储器，其连接到所述处理器；电可写非易失性存储器，其连接到所述处理器；交互式输入装置，连接到所述处理器，用于输入系统断电指令；电源控制装置，其连接到所述处理器，用于响应于所述系统断电指令，关闭系统电源；和显示装置，其连接到所述处理器；

其中，所述方法包括以下步骤：

响应于所述系统电源的所述断电指令，对所述易失性存储器执行错误校验，并在将指示所述错误校验的结果的信息存储到所述非易失性存储器中之后向所述电源控制装置提供所述断电指令；以及

响应于开启所述系统电源，读取存储在所述非易失性存储器中的所述错误校验的所述结果的所述信息，并将该信息显示在所述显示装置的屏幕上。

23.根据权利要求22所述的方法，其中，所述交互式输入装置还用于输入错误校验指令，

其中，所述方法还包括以下步骤：响应于所述错误校验指令的输入对所述易失性存储器执行错误校验，并且将所述错误校验的结果的信息显示在所述显示装置的屏幕上。

24.根据权利要求23所述的方法，其中，所述方法还包括以下步骤：在所述显示装置的屏幕上显示用于选择针对存储器的多个错误校验类型中的一个或更多个的图像，并且执行通过所述交互式输入装置选择的类型的错误校验。

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