CN1752282A - 一种消除氮化钛膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法 - Google Patents
一种消除氮化钛膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1752282A CN1752282A CN 200410066529 CN200410066529A CN1752282A CN 1752282 A CN1752282 A CN 1752282A CN 200410066529 CN200410066529 CN 200410066529 CN 200410066529 A CN200410066529 A CN 200410066529A CN 1752282 A CN1752282 A CN 1752282A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- film
- annealing
- titanium nitride
- stress
- tin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
本发明公开了一种消除MOCVD TiN膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法,对淀积完MOCVD TiN膜的硅片进行退火处理,通过在特定参数的氮气和氢气混合气体气氛中退火,可以在低温状态下去除通孔内阻挡层中的C、O等杂质,减少侧壁上的阻挡层厚度,从而在避免金属条热诱导失效的情况下降低通孔电阻、削减阻挡层应力。本发明可用于集成电路芯片制造。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路芯片制造中的退火工艺方法,特别是涉及一种消除TiN膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法。
背景技术
在铝金属互联技术中,制备TiN阻挡层是制备W通孔和Al膜的先决条件。TiN层不仅能防止WF6和SiO2等介质层的反应,还可以增强钨塞、Al金属膜和介质层的黏附力,其质量的好坏对钨塞及Al膜能否正常填充有直接的影响。
目前,TiN阻挡层的制备有如下几种:,
物理气相淀积(PVD Physical Vapour Deposition)钛和氮化钛双层膜阻挡层淀积方法,化学气相淀积(CVD Chemical VapourDeposition)钛和氮化钛双层膜阻挡层淀积方法,原子层淀积(ALDAtomic layer Deposition)氮化钛阻挡层淀积方法,以及金属有机化合物化学气相淀积(MOCVD Metal Organic Chemical VapourDeposition)钛和氮化钛双层膜阻挡层淀积方法。
MOCVD TiN阻挡层淀积方法通过下述过程实现TiN淀积:
首先通过如下反应式实现TiN淀积:
当TiN淀积完后用氢和氮的混合等离子体原位处理去除膜中的C、O等杂质。
这种方法可以使TiN膜在深孔内全方位生长,生长出的薄膜在孔的底部、侧壁均形成良好覆盖性的阻挡层,可以有效提高金属互连的产率,特别适合在几何形状复杂的孔内生长薄膜,而且所需反应温度低。这一技术近年来获得了很大应用。
该方法的缺点在于薄膜中含有较高的C、O等杂质,造成通孔电阻比不含杂质时高出10%~15%,薄膜质地较疏松,膜质不太稳定。当薄膜暴露在空气中时,由于O2、CO2等气体会迅速扩散入膜的表层形成化合物,造成薄膜电阻随时间的推移而增加。现有的去除杂质的退火工艺方法温度均较高,一般约为690℃,容易造成金属条热诱导失效。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种消除MOCVD TiN膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法,它可以在低温状态下去除膜中的C、O等杂质,消除TiN膜的应力、降低薄膜电阻,避免造成金属条热诱导失效。
为解决上述技术问题,本专利发明一种消除MOCVD TiN膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法,对淀积完MOCVD TiN膜的硅片,进行退火处理,退火炉中氮气和氢气混合气体的压力控制为10Tor~25Tor;氮气和氢气的体积比控制为1∶0.5~1∶5;退火时间为30S~90S;升温速度为70℃/S;退火温度为400℃~500℃。
本方法对原有硬件设备不做任何改变,退火温度为400℃~500℃,氮气和氢气混合气体的压力控制在:10Tor~25Tor内。由于反应腔体的压力较高,氮气和氢气混合气体向孔内扩散的能力很强,孔内的氮气和氢气混合气体可保持较高的浓度,因而在低温下,也能去除TiN膜中的C、O杂质,不损伤TiN膜,并可以降低金属热诱导引起的损伤。本发明的退火工艺方法不需产生等离子气体,可以减轻由于等离子处理造成的器件损伤,减少在MOCVD反应腔中的氢和氮的混合等离子气体处理时间。
具体实施方式
首先采用光刻、刻蚀工艺制备所需的金属互连通孔,接着进行MOCVD TiN膜淀积,在MOCVD中完成TiN制备后,硅片进入退火炉进行后处理。在退火炉中通入氮气和氢气处理气体,退火炉氮气和氢气混合气体的压力控制为10Tor~25Tor;氮气和氢气的体积比控制为1∶0.5~1∶5;退火时间为30S~90S;升温速度为70℃/S;退火温度为400℃~500℃。保持一段时间使TiN得到充分处理。处理完毕后,退火炉降温到正常值,最后排气。
经过后退火处理,薄膜产生重结晶和热回流,变得较为致密,平整度和电性能得到改善;利用氮气和氢气混合气体去除TiN膜中的C、O等杂质,侧壁膜中的C、O杂质含量由20%降低到10%、底部膜中的C、O杂质含量由5%降低到3%,从而消除TiN膜应力,降低薄膜电阻,使膜质更稳定。TiN膜厚可以减少约10%,电阻可以降低约20%。
Claims (1)
1.一种消除MOCVD TiN膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法,对淀积完MOCVD TiN膜的硅片进行退火处理,其特征是:退火炉中氮气和氢气混合气体的压力的调节范围为10Tor~25Tor;氮气和氢气的体积比控制为1∶0.5~1∶5;退火时间为60S~90S;升温速度为70℃/S;退火温度为400℃~450℃。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB200410066529XA CN100368593C (zh) | 2004-09-21 | 2004-09-21 | 一种消除氮化钛膜应力、降低膜电阻的退火方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB200410066529XA CN100368593C (zh) | 2004-09-21 | 2004-09-21 | 一种消除氮化钛膜应力、降低膜电阻的退火方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1752282A true CN1752282A (zh) | 2006-03-29 |
CN100368593C CN100368593C (zh) | 2008-02-13 |
Family
ID=36679285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB200410066529XA Expired - Fee Related CN100368593C (zh) | 2004-09-21 | 2004-09-21 | 一种消除氮化钛膜应力、降低膜电阻的退火方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN100368593C (zh) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102446841A (zh) * | 2011-11-07 | 2012-05-09 | 上海华力微电子有限公司 | 一种低应力金属硬掩膜层的制备方法 |
CN102709232A (zh) * | 2012-06-21 | 2012-10-03 | 上海华力微电子有限公司 | 一种用于铜互连的金属硬掩膜层的制备方法 |
CN103426819A (zh) * | 2013-08-27 | 2013-12-04 | 上海华力微电子有限公司 | 一种金属硬掩膜层及铜互连结构的制备方法 |
CN104347487A (zh) * | 2013-08-06 | 2015-02-11 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种半导体器件的制造方法 |
CN105810588A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-07-27 | 中国科学院微电子研究所 | 一种后栅工艺mos器件的制备方法 |
CN113874546A (zh) * | 2019-05-27 | 2021-12-31 | 山特维克科洛曼特公司 | 涂覆的切削工具 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100331545B1 (ko) * | 1998-07-22 | 2002-04-06 | 윤종용 | 다단계 화학 기상 증착 방법에 의한 다층 질화티타늄막 형성방법및 이를 이용한 반도체 소자의 제조방법 |
CN1183581C (zh) * | 2001-08-21 | 2005-01-05 | 旺宏电子股份有限公司 | 氮化钛层的制造方法 |
-
2004
- 2004-09-21 CN CNB200410066529XA patent/CN100368593C/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102446841A (zh) * | 2011-11-07 | 2012-05-09 | 上海华力微电子有限公司 | 一种低应力金属硬掩膜层的制备方法 |
CN102446841B (zh) * | 2011-11-07 | 2016-08-03 | 上海华力微电子有限公司 | 一种低应力金属硬掩膜层的制备方法 |
CN102709232A (zh) * | 2012-06-21 | 2012-10-03 | 上海华力微电子有限公司 | 一种用于铜互连的金属硬掩膜层的制备方法 |
CN104347487A (zh) * | 2013-08-06 | 2015-02-11 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种半导体器件的制造方法 |
CN103426819A (zh) * | 2013-08-27 | 2013-12-04 | 上海华力微电子有限公司 | 一种金属硬掩膜层及铜互连结构的制备方法 |
CN105810588A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-07-27 | 中国科学院微电子研究所 | 一种后栅工艺mos器件的制备方法 |
CN105810588B (zh) * | 2016-03-22 | 2018-11-30 | 中国科学院微电子研究所 | 一种后栅工艺mos器件的制备方法 |
CN113874546A (zh) * | 2019-05-27 | 2021-12-31 | 山特维克科洛曼特公司 | 涂覆的切削工具 |
CN113874546B (zh) * | 2019-05-27 | 2023-09-05 | 山特维克科洛曼特公司 | 涂覆的切削工具 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN100368593C (zh) | 2008-02-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6614119B1 (en) | Semiconductor device and method of fabricating the same | |
JP2000195954A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPH08232079A (ja) | 新規なタングステン溶着プロセス | |
JPH04257227A (ja) | 配線形成方法 | |
JP2001308032A (ja) | 1000Åを超える厚さの低残留ハロゲン含有TiN膜を堆積する方法及び装置 | |
JP2010209465A (ja) | 堆積チャンバにおける酸化からの導電体の保護 | |
CN1752282A (zh) | 一种消除氮化钛膜应力、降低膜电阻的退火工艺方法 | |
JP2009130288A (ja) | 薄膜形成方法 | |
JP5151082B2 (ja) | 成膜方法、成膜装置及び記憶媒体 | |
JP5031953B2 (ja) | 銅材料充填プラグ及び銅材料充填プラグの製造方法 | |
JP2937998B1 (ja) | 配線の製造方法 | |
JP3938450B2 (ja) | バリア膜製造方法 | |
TWI683919B (zh) | Cu膜之形成方法 | |
US8980742B2 (en) | Method of manufacturing multi-level metal thin film and apparatus for manufacturing the same | |
JP2000331957A (ja) | Cu配線膜形成方法 | |
JP4009034B2 (ja) | バリア膜製造方法 | |
JP3250543B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0521385A (ja) | アルミニウム合金薄膜の製造方法 | |
JP3189788B2 (ja) | 銅配線の形成方法 | |
JP2001068670A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH053170A (ja) | ブランケツトタングステンプラグ形成法 | |
KR100872799B1 (ko) | 플라스마 원자층 증착법을 이용한 반도체 콘택트용 금속실리사이드 제조방법 | |
CN1603428A (zh) | 一种消除MOCVD TiN膜应力及电阻的低温退火工艺 | |
JP2003282572A (ja) | 銅配線膜形成方法 | |
TWI222109B (en) | Method of fabricating a titanium nitride layer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20171218 Address after: Zuchongzhi road 201203 Shanghai Pudong New Area Zhangjiang High Tech Park No. 1399 Patentee after: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corporation Address before: No. 1188, Chuan Qiao Road, Pudong, Shanghai Patentee before: Shanghai Huahong NEC Electronics Co., Ltd. |
|
TR01 | Transfer of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20080213 Termination date: 20180921 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |