CN1542507A - 液晶显示组件 - Google Patents
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Abstract
一种液晶显示组件，该组件包括玻璃基板及卷带式载体封装件，其中，玻璃基板上设置有多个氧化铟锡引脚、一测试线路以及多条走线，而卷带式载体封装件还包括有多个卷带式载体封装件引脚。测试线路与氧化铟锡引脚间以对应的多条走线作电性连接。防止测试线路短路的方法为改变走线的配置，使得每一条走线的切割断点位于每二相邻的卷带式载体封装件引脚间。
Description
(1)技术领域
本发明有关一种液晶显示组件，且特别是有关一种防止测试线路短路的液晶显示组件。
(2)背景技术
对于现行液晶显示器(Liquid Crystal Monitor，LCD)的制造，为了降低偏光板的报废率，改变原有LCD制程顺序，将原本的功能测试时程向前挪移，而采用在贴上偏光板之前即对薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)基板进行前测试(pre-test)以事先筛选掉有缺陷的TFT基板，避免浪费与提高制程良率。
请参照图1，其是习知测试线路的线路配置的部分区块的示意图。多个氧化铟锡引脚(Indium Tin Oxide Lead，ITO Lead)106a、106b、106c、及106d是等距离地配置于TFT基板的玻璃基板(未绘示于图1中)上的一侧。测试线路102是由多条金属线102a、102b及102c所组成。测试线路102也设置于TFT基板的玻璃基板上，且上方覆盖第一保护层(Passivation)308，以隔绝并保护测试电路102。走线104a、104b、104c、及104d是电性连接至对应的ITO引脚106a、106b、106c、及106d，且上方覆盖第二保护层110。其中，走线104与测试线路102之间是以接触孔(Contact Hole)112作为电性连接的手段，且走线104是以最短距离的直线方式电性连接测试线路102与对应的ITO引脚106。
于进行前测试(pre-test)时，TFT玻璃基板先通过测试线路102与一测试单元114电性连接，接着测试单元114负责对TFT玻璃基板进行测试。
请同时参照图2与图3A，图2是习知卷带式载体封装件引脚与氧化铟锡引脚连接的部分区块的示意图，图3A是沿着图2的剖面线3A-3A’剖面图。当前测试完成之后，利用激光束将走线104予以烧断分隔以形成一电性隔离区，并且此电性隔离区延伸形成一激光切割路径108。接着，以热压合法(Heat Seal)将TCP引脚(Tape Carrier package Lead，TCP Lead)202配置在玻璃基板302上的对应的ITO引脚106。
请参考图3A，兹将TCP接合于玻璃基板的制程叙述如下：首先，涂布一异方向性导电膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)306于ITO引脚106b之上。接着，TCP引脚202b与ITO引脚106b对位并向下压合，使得TCP引脚202b将藉由异方向性导电膜306与ITO引脚106b结合并电性连接，使TCP与玻璃基板302也相互连接。
请参考图3A，TCP(IC芯片未绘示于图3A中)包括有三层，第一层为以聚酰亚胺(Polyimide，PI)为基材的软质卷带层310，第二层为铜箔层312，第三层为防焊阻绝层(Solder Resist，SR)314。而TCP引脚202b是形成于铜箔层312中，以与ITO引脚106b电性连接。
请参照图3B，其是图3A中区域A的放大图。于上述的传统作法中，因为激光切割为瞬间对走线104进行高温处理，因此会熔融并切断走线104，而形成一条激光切割路径108，以达到使金属线102b与ITO引脚106b电性分离的目的。然而在高温熔融的过程中，走线104b往往会向上喷散至第二保护层110顶面而形成金属残留物316。因此，当TCP引脚202b与ITO引脚106b进行接合时，TCP引脚202b将会与走线104b断点处的金属残留物316接触，并产生电性短路的现象。这样，将使TFT基板产生误动作，而增加TFT基板的报废率。
(3)发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种液晶显示组件，能够防止测试线路短路，以减少TFT基板的报废率。
根据本发明的液晶显示组件，包括一玻璃基板与一TCP。此玻璃基板上具有一测试线路、多条走线以及多个ITO引脚。此测试线路是由多条金属线所组成，且所述金属线是用以与一测试单元电性连接，使得测试单元得用以对液晶显示组件进行测试。此测试线路邻近于ITO引脚并且位于ITO引脚的外侧，且测试线路与ITO引脚之间是以多条走线作电性连接。TCP上的一侧具有多个TCP引脚，且每一个TCP引脚与相对应的ITO引脚接合并电性连接。当测试单元对液晶显示组件完成测试之后，利用一激光束沿着一激光切割路径进行切割，切断走线以达到使测试线路与ITO引脚之间电性隔离的目的。而各走线的部分区段是配置于每二个相邻的TCP引脚之间，且所述走线与激光切割路径的交点为一走线断点，所述走线断点是位于每二个相邻的TCP引脚之间。
为进一步说明本发明的上述目的、结构特点和效果，以下将结合附图对本发明进行详细的描述。
(4)附图说明
图1是习知测试线路的线路配置的部分区块的示意图。
图2是习知卷带式载体封装件引脚与氧化铟锡引脚连接的部分区块的示意图。
图3A是沿着图2的剖面线3A-3A’剖面图。
图3B是图3A中区域A的放大图。
图4是依照本发明液晶显示组件的一较佳实施例的TFT基板的部分区块的示意图。
图5是TCP引脚与ITO引脚相接合时的本发明液晶显示组件的部分区块的示意图。
图6A是沿着图5的剖面线6A-6A’的剖面图。
图6B是沿着图5的剖面线6B-6B’的剖面图。
(5)具体实施方式
请参照图4及图5，其是依照本发明液晶显示组件的一较佳实施例的TFT基板的部分区块的示意图，图5是TCP引脚与ITO引脚相接合时的本发明液晶显示组件的部分区块的示意图。一测试线路是由金属线402a与402b组成，其中，此两条金属线402a与402b是水平方向配置且位于所述氧化铟锡引脚的外侧。金属线402a和402b与ITO引脚406之间是以对应的多条走线404电性连接。此外，金属线402a和402b电性连接外部的一测试单元414，使得测试单元414得用以对液晶显示组件进行测试。也即，进行前测试的信号由测试单元414发出后，经由金属线402a和402b传递至走线404a、404b、404c及404d，接着再由所述走线404传递至对应的ITO引脚406a、406b、406c及406d上。
走线404以一第二保护层410覆盖，各走线404可经由对应的多个贯通孔608分别与各对应的金属线402a及402b作电性连接。当测试单元414对液晶显示组件完成测试之后，以一激光束沿着一激光切割路径408进行切割，接着，再以每一TCP引脚502与相对应的各个ITO引脚406对位后接合。其中，走线404a、404b、404c及404d与激光切割路径408相交会处形成对应的走线断点504a、504b、504c及504d。藉由所述走线断点504，金属线402与ITO引脚406之间达到电性隔离的目的。
如图4所示，本发明的走线404的部分区段是以近似L形方式配置，其中，L形区段具一直线段且沿着垂直方向配置。由于走线404的部分区段是以近似L形方式配置，使得此L形区段的直线段与激光切割路径408相交处的每一走线断点504均位于每两个相邻TCP引脚502之间。例如，走线断点504a位于TCP引脚502a与502b之间。其中，走线断点504可位于对应的卷带式载体封装件引脚502的右侧，如图5所示，且走线断点504也可位于对应的卷带式载体封装件引脚502的左侧。
这样，虽然经激光高温处理后，金属残留物仍会喷至第二保护层410之上，然而在TCP引脚接合的过程中，金属残留物却不再有机会与TCP引脚502相接触。因此，藉由改变走线的配置，可以有效避免接合时电性短路的发生。
请参照图6A及图6B，图6A是沿着图5的剖面线6A-6A’的剖面图，图6B是沿着图5的剖面线6B-6B’的剖面图。两条金属线402a及402b平行设置于玻璃基板602上，且其上覆盖第一保护层606，以隔绝并保护此测试线路。其中，第一保护层606上具有多个贯通孔608，使得各走线404可经由对应的贯通孔608分别与各对应的金属线402a及402b作电性连接。例如，走线404c是藉由贯通孔608与金属线402a电性连接。TCP包括有三层，分别由聚酰亚胺610、铜612以及防焊阻绝层614所组成。利用异方向性导电膜604作为黏着剂及导电媒介，测试信号可由铜箔层612传递至ITO引脚406c。
在图6A中剖面线6A-6A’与激光切割路径408的交会处上，并无走线404c通过，只有第二保护层410的存在。因此，当TCP引脚502c往下压合进行热压合程序时，TCP引脚502c与激光切割路径408之间，并无任何金属残留物存在。因此，引脚502c第2层的铜箔层612不会有机会与走线断点504c处的金属残留物接触而造成电性短路。
请参照图6B及图5，沿着剖面线6B-6B’剖面的走线断点504c是位于TCP引脚502c及502d之间，使得断点处504c的金属残留物不会与TCP502c及502d接触，进而完全去除短路的可能性。
本发明上述实施例所揭露的防止测试线路短路的改良结构具有下列的优点：在进行外引脚接合过程中，可以避免激光切割后的走线断点与TCP引脚之间发生电性短路。
虽然本发明已参照当前的具体实施例来描述，但是本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本发明，在没有脱离本发明精神的情况下还可作出各种等效的变化和修改，因此，只要在本发明的实质精神范围内对上述实施例的变化、变型都将落在本发明权利要求书的范围内。
Claims (8)
1.一种液晶显示组件，该组件包括：
一玻璃基板，该玻璃基板上设置有一测试线路、多条走线以及多个氧化铟锡引脚，所述氧化铟锡引脚是位于该玻璃基板的一侧，该测试线路是邻近于所述氧化铟锡引脚并位于所述氧化铟锡引脚的外侧，该测试线路与所述氧化铟锡引脚之间以所述走线作电性连接；以及
一卷带式载体封装件，具有多个卷带式载体封装件引脚，其中，每一卷带式载体封装件引脚与相对应的氧化铟锡引脚上下接合并电性连接；
其中，当该液晶显示组件使用该测试线路完成测试之后，一激光束是沿着一激光切割路径进行切割，以切断所述走线，并切断该测试线路与所述氧化铟锡引脚之间的电性连接，且各所述走线与该激光切割路径的交点为一走线断点，所述走线断点是位于每二个相邻的卷带式载体封装件引脚之间。
2.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于各所述走线的部分区段是配置于每二个相邻的卷带式载体封装件引脚之间，而且该走线的部分区段是与激光切割路径相交。
3.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于所述走线断点是位于对应的卷带式载体封装件引脚的右侧。
4.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于所述走线断点是位于相对应的卷带式载体封装件引脚的左侧。
5.如权利要求1所述的液晶显示组件，其特征在于该测试线路具有一条以上沿着水平方向配置的金属线，而所述走线的部分区段是为沿着垂直方向直线配置，所述金属线是由一第一保护层所覆盖，而所述走线是由一第二保护层所覆盖，各所述走线是经由一贯通孔与对应的该金属线电性连接。
6.一种液晶显示组件，包括：
一玻璃基板，该玻璃基板上具有：
多个氧化铟锡引脚，是位于该玻璃基板的一侧；
多条金属线，所述金属线是沿水平方向配置，并位于所述氧化铟锡引脚的外侧，所述金属线用以与一测试单元电性连接，该测试单元是用以对该液晶显示组件进行测试；
一第一保护层，用以覆盖所述金属线，该第一保护层具有多个贯通孔；
多条走线，用以电性连接所述金属线与所述氧化铟锡引脚，各所述走线具有一直线段，并沿着垂直方向配置；及
一第二保护层，用以覆盖所述走线，各所述走线是经由对应的该贯通孔与对应的该金属线电性连接；以及
一卷带式载体封装件，该卷带式载体封装件一侧设置有多个卷带式载体封装件引脚，其中每一卷带式载体封装件引脚与相对应的氧化铟锡引脚上下接合并电性连接；
其中，当该测试单元对该液晶显示组件完成测试之后，一激光束是沿着一激光切割路径进行切割，以切断所述走线与该第二保护层，各所述走线的所述直线段是配置于每二个相邻的卷带式载体封装件引脚之间，所述直线段是与该激光切割路径相交。
7.如权利要求6所述的液晶显示组件，其特征在于所述走线断点是位于对应的卷带式载体封装件引脚的右侧。
8.如权利要求6所述的液晶显示组件，其特征在于所述走线断点是位于相对应的卷带式载体封装件引脚的左侧。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20180428 Address after: Hongkong Chinese Tsuen Tai Chung Road No. 8 TCL industrial center 13 floor Patentee after: Huaxing Optoelectronic International (Hong Kong) Co.,Ltd. Address before: Taiwan, China Hsinchu science and Technology Park, Hsinchu City Road, No. two Patentee before: AU OPTRONICS Corp. |
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| TR01 | Transfer of patent right | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20070228 |
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| CX01 | Expiry of patent term |