CN1453657A

CN1453657A - 判别记录介质种类用的影像读取设备及图像形成装置

Info

Publication number: CN1453657A
Application number: CN03122987A
Authority: CN
Inventors: 秋田正伦; 丸山昌二
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2002-04-25
Filing date: 2003-04-23
Publication date: 2003-11-05
Anticipated expiration: 2023-04-23
Also published as: US7339702B2; US20030202214A1; CN1295572C

Abstract

提供适合记录介质的种类和表面状态的判别的，线路规模小存储器少的影像读取设备，以及使用了此影像读取设备的图像形成装置。在CMOS面传感器芯片13内设置，计算其多个光电变换元件中，与某特定范围的光电变换元件相关的数字信息的最大值、最小值和平均值的计算装置，除了与上述多个光电变换元件相关的数字信息外，还输出由上述计算装置所计算的信息。

Description

判别记录介质种类用的影像读取设备及图像形成装置

技术领域

本发明涉及适合于激光打印机、喷墨打印机等图像形成装置的影像(picture)读取装置，特别涉及记录介质(用纸)等的种类和表面状态的判别。

背景技术

以往，在激光打印机和喷墨打印机等图像形成装置中，为了对应多数的打印机用纸获得最佳图像而设置了多个打印模式。结构为这些打印模式在打印时由用户自己进行设定。为此就有要求用户具备判别纸张种类的知识，并亲自设定该纸张种类的麻烦，进而会出现如果错误进行该设定就不能获得最佳图像的问题。

近年来，还存在通过检测由纸张表面反射的正反射光与漫反射光的量的不同自动地判别用纸种类，进行与该检测结果相应的图像形成控制，以能够取得最佳图像的图像形成装置。图17中示出日本专利申请公开特开平11-216938号公报的发明中的打印机光泽计的截面图。光泽检测器200具有和通常一样安装于打印基板220的块210。轴213上的光源管212以及轴215上的反射管214形成在块210中。光源216位于光源管212中。光传感器222位于反射管214中。此时，光传感器222主要对光谱反射光产生反应，来判别低光泽纸和高光泽纸。

另外，还发明出通过用CCD面传感器捕捉纸张的表面影像并求得分形维度，以求得纸张的粗细度的方法。图18中示出利用日本专利申请公开特开平11-271037号公报的发明的平滑度检测器的基本操作的处理流程图。将光线面状照射到记录介质的表面(步骤2-1，在图中标记为S2-1，下面同样)。然后通过包含图像读取装置的图像检测装置，将由面积照射的反射光所形成的阴影图像作为平面图像来读取，并作为多值图像数据检测其浓淡信息(步骤2-2)。也就是，所照射的光由于记录介质的凹凸而使反射光出现阴影，凹的部分暗，凸的部分亮，此阴影图像由图像读取装置的CCD进行检测。通过由信息加工处理装置对所检测的作为多值图像数据的浓淡信息施加图像处理，来检测计算记录介质的表面粗糙度(步骤2-3)。然后，由图像形成控制装置决定并控制对应于所检测计算的表面粗糙度的图像形成参数值(步骤2-4)。即，在此现有例子中，可通过读取来自CCD的浓淡信息来估计记录介质的表面粗糙度。

但是，在使用了面传感器和线传感器等摄影传感器的情况下，其计算量就变得很大。从而电路规模变大计算时间延长，同时造价变高。另外，在进行复杂运算的情况下，就需要许多存储器，会有空间尺寸和成本增大这样的问题。

发明内容

本发明就是基于这样的状况而完成的，目的是提供适合记录介质的种类和表面状态的判别的，电路规模小存储器少的影像读取装置，以及使用此影像读取装置的图像形成装置。

为了达到上述目标本发明提供一种单片式(monolithic)半导体器件，包括：读取元件，读取记录介质的表面的影像(picture)并进行光电变换；A/D变换电路，将由该读取元件所读取的影像信息变换成数字值；计算电路，基于由该A/D变换电路变换成数字值的影像信息，计算判别上述记录介质的种类用的与平滑特征有关的参数；以及输出单元，输出上述计算电路的计算结果。

此外，本发明还提供一种用于判别记录介质的种类的影像读取设备，包括：发光元件，照射记录介质的表面；以及影像读取单元，接受来自上述记录介质的反射光；其中，该影像读取单元构成为单片式半导体芯片，该单片式半导体芯片包含，读取元件，对读取对象表面的影像进行读取并进行光电变换；A/D变换电路，将由该读取元件所读取的影像信息变换成数字值；计算电路，基于由该A/D变换电路变换成数字值的影像信息，计算判别上述记录介质的种类用的与平滑特征有关的参数；以及输出单元，输出上述计算电路的计算结果。

此外，本发明还提供一种图像形成装置，包括：图像形成单元，在记录介质上形成图像(image)；影像读取单元，读取上述记录介质的表面的影像(picture)；判别单元，基于上述影像读取单元的读取结果判别上述记录介质的种类；以及设定单元，基于上述判别单元的判别结果设定上述图像形成单元的图像形成条件；其中，该影像读取单元构成为单片式半导体芯片，该单片式半导体芯片包含，读取元件，对读取对象表面的影像进行读取并进行光电变换；A/D变换电路，将由该读取元件所读取的影像信息变换成数字值；计算电路，基于由该A/D变换电路变换成数字值的影像信息，计算判别上述记录介质的种类用的与平滑特征有关的参数；以及输出单元，输出上述计算电路的计算结果。

本发明的其他目的、结构以及效果，从下面的详细说明以及附图就会明白。

附图说明

图1是表示实施例1的概略结构的图。

图2是表示CMOS面传感器芯片的结构的框图。

图3是表示1像素(8位)的传送定时的图。

图4是表示1行(64像素)的传送定时的图。

图5是表示1页(64行)的传送定时的图。

图6是实施例1的说明图。

图7是实施例1的说明图。

图8是实施例1的说明图。

图9是实施例2的说明图。

图10是实施例2的说明图。

图11是实施例3的说明图。

图12是实施例3的说明图。

图13是实施例5的说明图。

图14是实施例5的说明图。

图15是表示实施例6的概略结构的截面图。

图16是表示CPU控制各单元的图。

图17是日本专利申请公开特开平11-216938号公报的打印机光泽计的截面图。

图18是表示日本专利申请公开特开平11-271037号公报的平滑度检测器的基本操作的流程图。

图19是表示各记录介质的表面的影像的图。

图20是求凹凸深度用的说明图。

图21是求凹凸宽度用的说明图。

图22是表示计算单元219的细节的图。

具体实施方式

下面通过影像读取装置、图像形成装置的实施例对本发明的实施形式详细进行说明。此外，本发明并不限于记录介质的种类和表面状态，还能够以判别记录介质以外的任意对象的种类和表面状态的形式来进行实施。

(实施例1)

使用图1至图8对实施例1中的影像读取装置进行说明。图1中示出影像读取装置的概略结构。本影像读取装置由光源11、透镜12、CMOS面传感器芯片13、光圈14构成。这些构成元素配置于没有图示的同一基板上。此外CMOS面传感器芯片13也可以是线传感器。另外也可以没有光圈14。

通过光源11将光向记录介质(对应于读取对象)15照射，通过透镜12、光圈14使此时的记录介质15的表面图像成像于CMOS面传感器13。

接着，使用图2对CMOS面传感器芯片13进行详细说明。本CMOS面传感器芯片，通过C-MOS工艺，构成为单片式半导体芯片。

CMOS面传感器芯片13构成为单片式半导体芯片。

图中，201是CMOS传感器部分，例如64×64像素的传感器被配置成面状，接收来自记录介质的反射光，进行光电变换。202和203是垂直方向移位寄存器，204是输出缓冲器，205是水平方向移位寄存器，206是系统时钟，207是定时发生器。208是A/D变换器，219是计算判别记录介质的种类用的与平滑特性有关的各种参数的计算单元，209是输出接口电路，210是用于输出计算单元的计算结果和计算结果前的影像信息等的输出端子和信号线。

接着对动作进行说明。当使SI_select信号213有效时，CMOS传感器单元201开始基于所接受的光的电荷积累。接着，当给予系统时钟206时，垂直方向移位寄存器202和203通过定时发生器207，依次选择将要读出的像素的列，并依次将数据装入到输出缓冲器204。

在输出缓冲器204中所设定的数据，通过水平方向移位寄存器205向A/D变换器208传送。用A/D变换器208数字变换成像素数据。

在输出缓冲器204中所设定的数据，通过水平方向移位寄存器205传送给A/D变换器208。用A/D变换器208所数字转换的像素数据，向计算单元219传送。在计算单元219中对每个扫描行计算最大值、最小值和平均值。所计算的结果和图像数据传送给输出接口电路209。此时也可以仅传送计算结果。由输出接口电路209在预定的定时进行控制，在SI_select信号213为有效的期间，作为210的SI_out信号被输出。

另一方面，通过控制电路211，可以由SI_in信号212对A/D变换增益进行可变控制。例如，在无法获得所摄影图像的对比度的情况下，CPU可以变更增益，以经常用最佳的对比度来进行摄影。

另外，可以切换将计算单元的计算结果附加到所摄影的图像数据进行输出的模式，和仅输出计算结果的模式。

接着对从CMOS面传感器芯片13向进行记录介质的种类、表面状态(也可称为表面粗糙度)判别的，例如图像形成装置的控制单元的数据传送方式进行说明。

图3表示1像素的传送定时。各受光元件输出是在SYSCLK的下降定时被输出的。各像素的8位与SD_RD信号下降同时以串行被发送。此时输出方式不一定要求是串行，也可以是并行。

图4表示1行(64像素)传送定时。每行的输出首先从无效像素401开始发送。接着输出64个有效像素402(1行)，当第64个有效像素的输出结束时，接着输出最大值403、最小值404和平均值405。

图5表示1页(64行)传送定时。在输出了无效像素行501以后，输出64行的有效像素行502。

此时，在不发送图像数据，仅发送计算结果的情况下，则可以提高传送速度。通过控制电路211可以进行是否发送图像数据的切换。

接着，使用图19与图20对在计算单元219内所进行的最大值、最小值、平均值的计算方法进行说明。

图19是对8×8像素的CMOS面传感器所读取的记录材料表面的图像进行了数字处理后的图像。数字处理通过由A/D变换将从CMOS面传感器的传感器单元输出的模拟输出变换成8位的像素数据来进行。40的记录材料A是表面的纸张纤维比较粗糙的，所谓的粗糙纸。41的记录材料B是一般所使用的普通纸。42的记录材料C称作光泽纸，是纸张纤维得以充分压缩的记录材料的表面放大图像。

用CMOS面传感器读取此图像并进行了数字处理的图像为43～45。

这样，表面的图像因记录材料的种类而异。这主要是由于纸张表面中的纤维的状态不同而引起的现象。也就是，当纸张纤维的状态是竖立时，倾斜照射到纸张表面的光由于纤维而出现阴影，另外，当纤维的状态为是平躺则不会出现阴影。这种现象作为结果就形成43～45的影像。

接着，使用图20对记录材料表面的凹凸量检测方法进行说明。在图20中，50是对记录材料的表面影像进行了数字处理后的图像。

从CMOS面传感器的传感器单元输出的模拟数据经A/D变换后变换成8位的像素数据，与图像的明暗成比例地确定8位数据。这时，51是8×8像素中最初的1行内最暗的部分，在附图的例子中是‘80’h。52是8×8像素中最初的1行内最亮的部分，在附图的例子中是‘10’h。

A/D变换后的值按扫描方向依次发送给计算单元。图22中示出计算单元的框图。计算单元具有存储最大值的最大值存储单元2204、存储最小值的最小值存储单元2205以及存储平均值的平均值存储单元2206，各行最初的数据被写入到所有区域。接下来的数据被发送到各自的比较单元2201、2202和2203。例如，首先数据被发送给最大值比较单元2201与最大值存储单元2204内的数据进行比较，在比最大值大的情况下则改写存储最大值的区域。发送到最大值比较单元2201的数据接着被发送给最小值比较单元2202，同样地，在比最小值小的情况下则改写存储最小值的区域。然后数据被发送给平均值相加单元2203，相加到平均值存储单元2206的值。例如，在最初的行的情况下，最大值存储单元2204中写入52的‘80’h，最小值存储单元2205中写入51的‘10’h。当1行结束时由于在平均值存储单元2206中写入1行的输出数据的合计值，故该值被除以8，并作为平均值输出到传感器外部。此时，也可以对各像素除以8后写入到平均值存储单元2206。

然后计算结果通过串行信号生成单元2207变换成串行数据，向芯片外部发送。由此，在芯片外部的控制单元中，可以通过计算所发送的最大值和最小值的差值来计算表面凹凸的大小，以判别记录材料的种类。

这样通过在传感器芯片内部设置计算最大值、最小值和平均值的机构，就不需要在CMOS面传感器外部具有大型的逻辑电路。因而，就有即便在作为系统整体没有逻辑电路的情况下，也可以使用传感器的优点。也就是，通过把逻辑电路设置于传感器内部做成1个芯片，就可以实现小型化并降低成本。另外，在选择了仅发送计算结果的模式的情况下，就可以提高传送速度。

在图像形成装置的控制单元中，通过根据表面的凹凸大小、凹凸的宽度，判别记录介质的种类、表面状态，并控制图像形成条件，则不管记录材料的种类、表面状态如何，都可进行良好的图像形成。

如上所说明那样，根据本发明就可以使判别记录材料的种类、表面状态的，没有图示的图像形成装置的控制单元实现高速化，小型化和低成本化。

(实施例2)

使用图6、图9与图10对作为实施例2的“影像读取装置”进行说明。此外，由于基本的结构与实施例1相同，故对与实施例1结构相同的部分就沿用实施例1的说明，仅对与实施例1结构不同的部分进行说明。

当设图6的状态为正常状态时，图9表示由于光量或积累时间不足，图像整体变暗的情况。在这种情况下，过暗的部分91就低于预定的下限值。在有低于下限值的值时，计算电路219设置下溢位。由此，就可检测该图像过暗，而不能获得正确的对比度。

另外，反之图10表示相对于图6的正常状态，由于光量或积累时间过多，图像整体变过亮的情况。在这种情况下，过亮部分101就超过预定的上限值。在有超过上限值的值时，计算电路219设置上溢位。由此，就可以检测该图像过亮，而不能获得正确的对比度。

另外，在进行重新摄影时，如果下溢位设置，则增加光量或积累时间即可，在上溢位设置的情况下，则减少光量或积累时间即可，因此在重新摄影时也可以进行是应增加光量还是减少光量的判断。

图5表示1页(64行)传送定时。在输出无效像素行之后，输出64行的有效像素行502，在输出第64行之后，在上溢、下溢位区域503中输出上溢位或下溢位。

如上所述那样，根据本实施例，可以从来自本影像读取装置的信号立刻判断摄影时的光量是否合适，以在重新摄影时判定是应增减光量还是减少光量，从而可以简化没有图示的图像形成装置的控制单元的结构。

(实施例3)

使用图11和图12对作为实施例3的“影像读取装置”进行说明。此外，由于基本的结构与实施例1相同，故对与实施例1结构相同的部分就沿用实施例1的说明，仅对与实施例1结构不同的部分进行说明。

图11表示由于缺陷像素111而使仅1个像素的输出发生上溢，并输出上限值的情况。在即使充分地降低光量还是有发生上溢的像素的情况下，就可判别为有缺陷像素。

另外图12表示由于缺陷像素121而使仅1个像素的输出发生下溢，并输出下限值的情况。在即使充分地提高光量还是有发生下溢的像素的情况下，就判别为有缺陷像素。

通过在CMOS面传感器芯片内计算上溢位、下溢位，用少量的计算就能够判别是否有缺陷像素。

(实施例4)

使用图4对作为实施例4的“影像读取装置”进行说明。此外，由于基本的结构与实施例1相同，故对与实施例1结构相同的部分就沿用实施例1的说明，仅对与实施例1结构不同的部分进行说明。

通过在CMOS面传感器芯片内设置实施例1中的，计算将传感器的最大值和最小值，或者其差值和平均值作为阈值进行了2值化时的边缘数的计算装置，不发送图4中的无效像素部401和有效像素部402，仅将所求的计算数据发送给控制单元，就可大幅减少向控制单元的通信量。

从而可以实现没有图示的图像形成装置的控制单元的高速化、小型化及低价格化。

(实施例5)

使用图13和图14对作为实施例5的“影像读取装置”进行说明。此外，由于基本的结构与实施例1相同，故对与实施例1结构相同的部分就沿用实施例1的说明，仅对与实施例1结构不同的部分进行说明。

纸张的纤维上有方向性情况下的表面图像如图13那样。在图13中，在与纤维方向相同方向上长的预定区域132中所计算的最大值与最小值的差的情况，以及在与纤维方向垂直的方向上长的预定区域131中所计算的最大值与最小值的差的情况中，在与纤维方向垂直的方向上所计算的情况下的计算结果要更大。另外，在图14中，2值化后情况下的边缘数，在与纤维方向垂直的方向上长的预定区域141中所计算的情况，也比在与纤维方向相同的方向上长的预定区域142中所计算的情况，边缘数要更大。通过使将进行计算的区域具有纵方向和横方向的方向性并进行平均化，就不管是纵向检测纤维的朝向还是横向检测纤维的朝向，都可对计算结果进行平均化，可实现不受纤维方向性的影响的结构。

即，在本影像读取装置内设置任意设定对最大值、最小值及平均值进行计算的区域的设定装置，就可根据需要变更区域，并可抑止检测结果的不稳定性。这样以来，即使在检测纸张纤维的方向不同种类的纸张的情况下，也可以检测纸张的平滑度。

(实施例6)

图15是作为实施例6的“图像形成装置”的概略结构的截面图。此外，由于影像读取装置的基本结构与实施例1相同，故沿用实施例1的说明，仅对与实施例1结构不同的部分进行说明。

图中1501是图像形成装置，1502是用纸盒，1503是供纸辊，1504是转印带驱动辊，1505是转印带，1506～1509是黄、品红、青、黑色的感光鼓，1510～1513是转印辊，1514～1517是黄、品红、青、黑色的(调色剂)盒，1514～1517是黄、品红、青、黑色的光学单元，1522是定影单元。

本图像形成装置，使用电摄影处理在记录纸上重叠转印黄、品红、青、黑色的图像，由定影单元1522基于温度控制使调色剂图像热定影。

另外，构成是各种颜色的光学单元，通过激光束对各感光鼓的表面进行曝光扫描以形成潜像，进行扫描控制使这一系列的图像形成动作取得同步以使从所输送的记录纸上预先确定的位置开始转印图像。

进而，本图像形成装置具有：供给并输送作为记录材料的记录纸的供纸电机，驱动转印带驱动辊的转印带驱动电机，驱动各色感光鼓和转印辊的感光鼓驱动电机，以及驱动定影辊的定影驱动电机。

1523是影像读取装置(也称为图像读取传感器)，使光照射到所供给并输送的记录纸的表面，将该反射光聚光使其成像，并检测记录材料的某特定区域的图像。

本图像形成装置所备有的控制CPU(没有图示)通过由定影单元1522给予记录纸所希望的热量，来融化记录纸上的调色剂图像使其定影。

接着通过图16对控制CPU的动作进行说明。图16是表示控制CPU所控制的各单元的结构的图。

图中1610是CPU，13是CMOS面传感器芯片，1612～1615是具备多面镜、电机、激光，在感光鼓表面上扫描激光以描绘所希望的潜像用的光学单元，1616是用于输送记录材料的供纸电机，1617是供给记录材料用的供纸辊驱动开始所使用的供纸螺线管，1618是检测记录材料是否设置在预定位置的纸张有无传感器。1619是控制电摄影处理所需要的一次带电、显影、一次转印、2次转印偏压的高压电源。1620是驱动感光鼓和转印辊的转鼓驱动电机。1621是用于驱动转印带和定影单元的辊的传送带驱动电机。1622是定影单元和低压电源单元，由控制CPU 1610通过没有图示的热敏电阻监控温度来进行控制，使控制温度保持一定。

1623是ASIC，基于控制CPU 1610的指示，进行CMOS面传感器13和光学单元1612～1615内部电机的速度控制、供纸电机1616的速度控制。

电机的速度控制是检测来自未图示的电机的定位(tack)信号，对电机输出加速或减速信号进行速度控制以使定位信号的间隔为预定的时间。为此，控制电路由利用ASIC 1623的硬件电路构成，具有可以谋求CPU 1610的控制负荷降低的优点。

控制CPU 1610，当根据来自未图示主机的指示，接收打印命令时，由纸张有无传感器1618判断记录材料的有无，在有纸的情况下，驱动供纸电机1616、转鼓驱动电机1620、带驱动电机1621，同时驱动供纸螺线管1617，将记录材料输送到预定位置。

当记录材料被输送到CMOS面传感器芯片13的位置时，控制CPU 1610对ASIC 1623发出CMOS面传感器芯片13的摄影指示，CMOS面传感器芯片13对记录材料的表面图像进行摄影。

这时ASIC 1623在使SI_select有效后，在预定的定时使预定脉冲的SYSCLK输出，读入从CMOS传感器单元201经由SI_out输出的摄影数据。

另一方面，CMOS面传感器芯片13的增益设定是，通过控制CPU1610将预先决定的值设置于ASIC 1623内部的寄存器，ASIC 1623在使SI_select有效后，在预定的定时使预定脉冲的SYSCLK输出，对CMOS面传感器芯片13经由SI_in来设定增益。

ASIC 1623接收从CMOS面传感器芯片13接收按每个各扫描行所输出的最大值、最小值，例如，在图20的情况下，当1行读入结束后，计算两个值的差‘80’h-‘10’h＝‘70’h，保存到存储凹凸量计算结果的区域。例如，在图20中，第1行中的对比度最大值和最小值之差为‘70’h。

同样，53是第2行的最暗的部分值为‘80’h，54是第2行的最亮的部分值为‘20’h，差为‘80’h-‘20’h＝‘60’h。将此值(‘60’h)相加到存储凹凸量计算结果的区域。55是第8行的最暗的部分值为‘80’h，56是第8行的最亮的部分值为‘10’h，差为‘80’h-‘10’h＝‘70’h。这样对每行把最大值与最小值的差相加起来得到全部行的值，并将其定义为记录材料表面的凹凸量计算结果值。

接着，使用图21中对ASIC 1623检测记录材料表面的凹凸边缘量的方法进行说明。

50是对记录材料表面进行了数字处理后的图像。60是表示将预先在CMOS面传感器的前一次取样定时对每1行所输出的平均值的合计值作为阈值，在下一次取样定时所摄影的8×8像素进行了2值化的结果的图。此时，对每行读入前一行的平均值，将该值作为阈值也可获得类似的图像。作为2值化的结果，61是第1行中的边缘数，在此例中为‘05’h。62是第2行中的边缘数，在此例中为‘03’h。

同样，63是第8行中的边缘数，在此例中为‘03’h。

按每行对边缘数进行计数，把全部行相加在一起的值，定义为作为第二计算装置的记录材料表面的凹凸边缘量计算结果值。

这样，在ASIC 1623中将作为第一计算装置的记录材料表面的凹凸量计算结果，和作为第二计算装置的记录材料表面的凹凸边缘数的两个值写入到内部寄存器。

CPU 1610读入上述ASIC 1623内部的寄存器中的值，判别所供给的记录材料的种类，依照该结果对高压电源1619的显影偏压条件进行可变控制。

例如，在记录材料的表面纤维粗糙，所谓粗糙纸的情况下，进行控制使显影偏压比普通纸还要低，以抑制附着于记录材料表面的调色剂量防止调色剂飞散。这是为了解决，特别是在粗糙纸的情况下，由于附着于记录材料表面的调色剂量较多，故纸张纤维导致调色剂飞散使图像质量恶化的问题。

另外，CPU 1610判别所供给的记录材料的种类，依照其结果对定影单元1622的温度条件进行可变控制。这特别是在OHT的情况下，对附着于记录材料表面的调色剂定影性差而使OHT透明性恶化的问题有效果。

进而，CPU 1610判别所供给的记录材料的种类，依照其结果对记录材料的输送速度进行可变控制。输送速度的可变控制，通过由CPU 1610设定负责速度控制的ASIC 1623的速度控制寄存器的值来实现。这特别是在OHT或有光纸等的情况下，可以提高附着于记录材料的表面的调色剂的定影性，以提高光泽度并谋求图像质量的改善。

这样在本实施例中，通过利用ASIC的硬件电路，从由CMOS面传感器所摄影的记录材料的表面图像，进行上述第1计算和第2计算(参见实施例1的说明)，根据其结果CPU对显影条件、定影单元的控制温度条件和记录材料的输送速度等进行可变控制，就可以谋求图像质量的提高。

根据以上所说明的实施例，就可提供适合记录介质的种类和表面状态的判别的，线路规模小存储器少的影像读取装置，以及使用了此影像读取装置的图像形成装置。

上面列举几个理想的实施例对本发明进行了说明，但很明显本发明并不限于这些实施例，在权利要求的范围内可进行各种变形和应用。

Claims

1.一种单片式(monolithic)半导体器件，包括：

读取元件，读取记录介质的表面的影像(picture)并进行光电变换；

A/D变换电路，将由该读取元件所读取的影像信息变换成数字值；

计算电路，基于由该A/D变换电路变换成数字值的影像信息，计算判别上述记录介质的种类用的与平滑特征有关的参数；以及

输出单元，输出上述计算电路的计算结果。

2.根据权利要求1所述的半导体器件，其特征在于：

上述计算电路，计算上述影像信息的浓度的最大值与最小值，并输出该计算结果。

3.根据权利要求1所述的半导体器件，其特征在于：

上述计算电路，计算上述影像信息的浓度的平均值，并输出该计算结果。

4.根据权利要求1所述的半导体器件，其特征在于：

上述输出单元，也能够将上述计算电路的计算结果附加到由上述A/D变换电路进行了A/D变换的影像信息进行输出。

5.根据权利要求4所述的半导体器件，其特征在于：

在输出上述影像信息时，不输出无效像素中的信息。

6.根据权利要求5所述的半导体器件，其特征在于：

上述影像信息的有效像素区域是可变的。

7.根据权利要求1所述的半导体器件，其特征在于：

在从上述A/D变换电路输出的值超过预定值的情况下输出上溢位，在低于预定值的情况下输出下溢位。

8.一种用于判别记录介质的种类的影像读取设备，包括：

发光元件，照射记录介质的表面；以及

影像读取单元，接受来自上述记录介质的反射光；

其中，该影像读取单元构成为单片式半导体芯片，该单片式半导体芯片包含，

读取元件，对读取对象表面的影像进行读取并进行光电变换；

输出单元，输出上述计算电路的计算结果。

9.根据权利要求8所述的影像读取设备，其特征在于：

在上述记录介质和上述影像读取芯片之间备有用于对来自上述记录介质的反射光进行聚光的透镜。

10.根据权利要求8所述的影像读取设备，其特征在于：

11.根据权利要求8所述的影像读取设备，其特征在于：

12.根据权利要求8所述的影像读取设备，其特征在于：

上述输出单元，也可将上述计算电路的计算结果附加到由上述A/D变换电路进行了A/D变换的影像信息进行输出。

13.根据权利要求12所述的影像读取设备，其特征在于：

在输出上述影像信息时，不输出无效像素中的信息。

14.根据权利要求13所述的影像读取设备，其特征在于：

上述影像信息的有效像素区域是可变的。

15.根据权利要求8所述的影像读取设备，其特征在于：

16.一种图像形成装置，包括：

图像形成单元，在记录介质上形成图像(image)；

影像读取单元，读取上述记录介质的表面的影像(picture)；

判别单元，基于上述影像读取单元的读取结果判别上述记录介质的种类；以及

设定单元，基于上述判别单元的判别结果设定上述图像形成单元的图像形成条件；

输出单元，输出上述计算电路的计算结果。

17.根据权利要求16所述的图像形成装置，其特征在于：

18.根据权利要求16所述的图像形成装置，其特征在于：

19.根据权利要求16所述的图像形成装置，其特征在于：

20.根据权利要求16所述的图像形成装置，其特征在于：

21.根据权利要求20所述的图像形成装置，其特征在于：

在输出上述影像信息时，不输出无效像素中的信息。

22.根据权利要求21所述的图像形成装置，其特征在于：

上述影像信息的有效像素区域是可变的。

23.根据权利要求16所述的图像形成装置，其特征在于：

24.根据权利要求16所述的图像形成装置，其特征在于：

还包括缺陷判定单元，基于上述上溢位或上述下溢位，判定是否存在缺陷像素。