CN1186891C - 有用波对干扰波功率比测定电路及有用波对干扰波功率比测定方法 - Google Patents

Abstract

通过从有用波功率中减去根据预先求出的SIR特性图而决定的第一校正系数乘干扰波功率所得的值以除去有用波功率中包含的干扰波分量，来校正低SIR区域上的系统固有误差(bias error)。此外，从干扰波功率中减去根据预先决定的SIR特性图而决定的第二校正系数乘有用波功率所得的值以除去干扰波功率中包含的有用波功率，来校正高SIR区域上的系统固有误差。

Description

有用波对干扰波功率比测定电路及有用波对干扰波功率比测定方法

                          技术领域

本发明涉及信号干扰比(有用波对干扰波功率比)测定电路及信号干扰比测定方法。

                          背景技术

以往，作为信号干扰比SIR的测定方法，有(日本)特开平11-237419号公报上记载的方法。在该SIR测定方法中，首先对合成前的每个接收信号求有用波功率及干扰波功率，接着按照合成方法来计算合成后的SIR。由此，能够用简单的运算来测定高精度的SIR。

然而，通过本发明人进行的仿真，判明：在用上述现有的SIR测定方法测定出的SIR中，包含由于热噪声、有用波功率中包含的干扰波分量及干扰波功率中包含的有用波分量等而产生的系统固有误差(バイアス误差)。即判明：在上述现有的SIR测定方法中，不能测定正确的SIR。

此外，系统固有误差的大小按照SIR测定中使用的解扩信号数及解扩信号中包含的码元数等而变化，所以在不考虑这些数目来测定SIR的上述现有的SIR测定方法中有下述问题：SIR的测定误差按照解扩信号数或码元数等而增大。

                          发明内容

本发明的目的在于提供一种信号干扰比测定电路及信号干扰比测定方法，能够校正系统固有误差来提高信号干扰比的测定精度。

图1是本发明人进行的测定SIR的平均值的仿真结果的曲线图。即，图1是表示正确的信号干扰比和实际测定出的信号干扰比之差(即，系统固有误差)的信号干扰比特性图。在计算测定SIR的平均值时，使用几千个码元的区间的平均值。

本发明人分析了该仿真结果，判明了以下事实。

(i)在SIR比较低的SIR区域上，由于测定出的有用波功率中包含的干扰波分量的影响，测定SIR的平均值高于正确的SIR。

(ii)在SIR比较高的SIR区域上，由于测定出的干扰波功率中包含的有用波分量的影响，测定SIR的平均值低于正确的SIR。

(iii)由于有用波功率及干扰波功率的测定方法，在SIR的整个区域上存在各SIR测定电路固有的固定的系统固有误差。

因此，本发明人发现：通过根据下式来测定SIR，能够校正上述(i)～(iii)所示的系统固有误差。在下式(1)～(4)中，‘SIR’是测定SIR的平均值，‘S’是测定出的有用波功率的平均值，‘I’是测定出的干扰波功率的平均值，‘a’是有用波功率的校正系数，‘b’是干扰波功率的校正系数，‘c’是固定系统固有误差的校正系数。

首先，本发明人发现：通过根据下式(1)来测定SIR，能够校正上述(i)所示的系统固有误差。

$\mathrm{SIR}=\frac{S-a\·I}{I}---\left(1\right)$

即，在上式(1)中，通过从有用波功率的平均值S中减去干扰波功率的平均值I乘以校正系数a所得的值，来除去有用波功率中包含的干扰波分量。

接着，本发明人发现：通过根据下式(2)来测定SIR，能够校正上述(ii)所示的系统固有误差。

$\mathrm{SIR}=\frac{S}{I-b\·S}---\left(2\right)$

即，在上式(2)中，通过从干扰波功率的平均值I中减去有用波功率的平均值S乘以校正系数b所得的值，来除去干扰波功率中包含的有用波分量。

上式(1)和上式(2)的适应区域不同，所以可以归纳为下式(3)

$\mathrm{SIR}=\frac{S-a\·I}{I-b\·S}---\left(3\right)$

再者，本发明人发现：通过根据下式(4)来测定SIR，能够校正上述(iii)所示的系统固有误差。

$\mathrm{SIR}=\frac{S-a\·I}{I-b\·S}\·c---\left(4\right)$

即，在上式(4)中，通过将校正了上述(i)及上述(ii)所示的系统固有误差的SIR乘以校正系数c，来校正SIR的整个区域上包含的固定的系统固有误差。

这里，如果考虑在CDMA(Code Division Multiple Access，码分多址)方式的移动通信系统中测定SIR的情况，则校正系数a及校正系数b按照SIR的测定中使用的解扩信号数或解扩信号中包含的码元数、及接收天线数来决定。此外，在SIR的测定中使用的解扩信号数或解扩信号中包含的码元数时时刻刻变化的情况下，按照这些变化来自适应地改变校正系数a及校正系数b。

图2是根据上式(4)测定出的SIR的平均值的仿真结果的曲线图。由该曲线图判明：通过根据上式(4)来测定SIR，能够在SIR的整个区域上校正系统固有误差，测定大体正确的SIR。通过上式(4)中与上式(1)相当的部分来进行低SIR区域上的系统固有误差的校正。而高SIR区域上的系统固有误差的校正通过上式(4)中与上式(2)相当的部分来进行。图2所示的仿真结果是固定系统固有误差校正系数c＝1的情况，所以如果进而将固定系统固有误差校正系数c设定为适当的值，则能够在整个区域上使测定SIR的平均值与正确的SIR大体一致。

即，本发明提供一种信号干扰比测定电路，具备：第一测定器，测定接收信号的有用波功率；第二测定器，测定上述接收信号的干扰波功率；信号干扰比计算器，计算信号干扰比；以及校正器，通过从上述有用波功率中减去校正系数乘上述干扰波功率所得的值以除去上述有用波功率中包含的干扰波分量，来校正上述信号干扰比的值高于正确的信号干扰比的区域上的系统固有误差。

本发明提供一种基站装置，包括上述的信号干扰比测定电路。

本发明提供一种通信终端装置，包括上述的信号干扰比测定电路。

本发明提供一种信号干扰比测定方法，具备：第一测定步骤，测定接收信号的有用波功率；第二测定步骤，测定上述接收信号的干扰波功率；信号干扰比计算步骤，计算信号干扰比；以及校正步骤，通过从上述有用波功率中减去校正系数乘上述干扰波功率所得的值以除去上述有用波功率中包含的干扰波分量，来校正上述信号干扰比的值高于正确的信号干扰比的区域上的系统固有误差。

                         附图说明

图1是测定SIR的平均值的仿真结果的曲线图。

图2是根据式(4)测定出的SIR的平均值的仿真结果的曲线图。

图3是本发明实施例1的信号干扰比测定电路的结构方框图。

图4是本发明实施例2的信号干扰比测定电路的结构方框图。

图5是本发明实施例3的信号干扰比测定电路的结构方框图。

图6是本发明实施例3的信号干扰比测定电路的另一结构方框图。

图7是本发明实施例4的信号干扰比测定电路的结构方框图。

图8是本发明实施例5的信号干扰比测定电路的结构方框图。

图9是本发明实施例5的信号干扰比测定电路的另一结构方框图。

图10是本发明实施例6的信号干扰比测定电路的结构方框图。

图11是本发明实施例7的信号干扰比测定电路的结构方框图。

图12是本发明实施例8的信号干扰比测定电路的结构方框图。

                     具体实施方式

以下，参照附图来详细说明本发明的实施例。

(实施例1)

本实施例说明校正低SIR区域的系统固有误差的情况。图3是本发明实施例1的信号干扰比测定电路的结构方框图。

在图3所示的信号干扰比测定电路中，有用波功率测定部101测定接收信号的有用波分量的功率，计算有用波功率在规定区间上的平均值。干扰波功率测定部102测定接收信号的干扰波分量的功率，计算干扰波功率在规定区间上的平均值。低SIR区域校正部103由乘法器1031和加法器1032构成，校正低SIR区域的系统固有误差。SIR计算部104计算低SIR区域校正部103求出的值和干扰波功率测定部102算出的值之比。

接着，说明具有上述结构的信号干扰比测定电路的工作。首先，有用波功率测定部101计算有用波功率在规定区间上的平均值，输出到加法器1032。此外，干扰波功率测定部102计算干扰波功率在规定区间上的平均值，输出到乘法器1031及SIR计算部104。这里，从有用波功率测定部101输出的有用波功率的平均值相当于上式(1)的‘S’，而从干扰波功率测定部102输出的干扰波功率的平均值相当于上式(1)的‘I’。

此外，计算平均值时的规定区间按照SIR的使用目的来适当设定。例如，在SIR被用于移动通信中的发送功率控制等的情况下，设定为几个码元到几十个码元左右的区间，而在被用来把握移动通信中的线路状况等的情况下，设定为几百个码元到几千个码元左右的区间。

乘法器1031将干扰波功率的平均值乘以校正系数a，输出到加法器1032。该校正系数a相当于上式(1)的‘a’。加法器1032从有用波功率的平均值中减去乘以校正系数a后的干扰波功率的平均值。即，低SIR区域校正部103进行与上式(1)的分子部分相当的运算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的干扰波分量。除去干扰波分量后的有用波功率的平均值被输出到SIR计算部104。

SIR计算部104将除去干扰波分量后的有用波功率的平均值除以干扰波功率的平均值。由此，从SIR计算部104输出根据上式(1)测定出的SIR。由此，得到校正了低SIR区域的系统固有误差的平均SIR。

这样，根据本实施例，通过乘以了校正系数的干扰波功率来除去有用波功率中包含的干扰波分量，所以能够在干扰波分量与有用波分量相比相对大的低SIR区域上校正SIR的系统固有误差。

(实施例2)

本实施例说明校正高SIR区域的系统固有误差的情况。图4是本发明实施例2的信号干扰比测定电路的结构方框图。其中，对图4中与图3相同的构成部分附以与图3相同的标号，省略详细说明。

在图4所示的信号干扰比测定电路中，高SIR区域校正部105由乘法器1051和加法器1052构成，校正高SIR区域的系统固有误差。SIR计算部104计算有用波功率测定部101算出的值和高SIR区域校正部105求出的值之比。

接着，说明具有上述结构的信号干扰比测定电路的工作。首先，有用波功率测定部101计算有用波功率在规定区间上的平均值，输出到乘法器1051及SIR计算部104。此外，干扰波功率测定部102计算干扰波功率在规定区间上的平均值，输出到加法器1052。这里，从有用波功率测定部101输出的有用波功率的平均值相当于上式(2)的‘S’，从干扰波功率测定部102输出的干扰波功率的平均值相当于上式(2)的‘I’。

乘法器105 1将有用波功率的平均值乘以校正系数b，输出到加法器1052。该校正系数b相当于上式(2)的‘b’。加法器1052从干扰波功率的平均值中减去乘以校正系数b后的有用波功率的平均值。即，高SIR区域校正部105进行与上式(2)的分母部分相当的运算。由此，除去干扰波功率的平均值中包含的有用波分量。除去有用波分量的干扰波功率的平均值被输出到SIR计算部104。

SIR计算部104将有用波功率的平均值除以除去有用波分量后的干扰波功率的平均值。由此，从SIR计算部104输出根据上式(2)测定出的SIR。由此，得到校正了高SIR区域的系统固有误差的平均SIR。

这里，高SIR区域的系统固有误差除了由滤波器产生的码间干扰分量的影响以外，还由无线通信装置间的频偏或多普勒效应的影响产生，所以也可以按照频偏量或多普勒频率的大小来自适应地改变校正系数b。通过这样按照频偏量或多普勒频率的大小来决定校正系数b，能够高精度地校正大小按照频偏量或多普勒频率而变化的高SIR区域的系统固有误差。

这样，根据本实施例，通过乘以了校正系数的有用波功率来除去干扰波功率中包含的有用波分量，所以能够在有用波分量与干扰波分量相比相对大的高SIR区域上校正SIR的系统固有误差。

(实施例3)

本实施例说明校正低SIR区域的系统固有误差及高SIR区域的系统固有误差两者的情况。即，说明组合上述实施例1和上述实施例2的情况。图5是本发明实施例3的信号干扰比测定电路的结构方框图。其中，对图5中与图3或图4相同的构成部分附以与图3或图4相同的标号，省略详细说明。

低SIR区域校正部103进行与上式(3)的分子部分相当的运算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的干扰波分量。除去干扰波分量后的有用波功率的平均值被输出到SIR计算部104及高SIR区域校正部105的乘法器1051。

高SIR区域校正部105进行与上式(3)的分母部分相当的运算。由此，除去了干扰波功率的平均值中包含的有用波分量。这里，高SIR区域校正部105除去的有用波分量已经是低SIR区域校正部103除去了干扰波分量的有用波分量，所以高SIR区域校正部105与上述实施例2相比，能够进一步高精度地校正高SIR区域的系统固有误差。除去有用波分量后的干扰波功率的平均值被输出到SIR计算部104。

SIR计算部104将除去干扰波分量后的有用波功率的平均值除以除去有用波分量后的干扰波功率的平均值。由此，从SIR计算部104输出根据上式(3)测定出的SIR。由此，得到校正了低SIR区域的系统固有误差及高SIR区域的系统固有误差两者的平均SIR。

在上述结构中，首先校正低SIR区域的系统固有误差，接着校正高SIR区域的系统固有误差，但是也可以采用以下所示的结构，首先校正高SIR区域的系统固有误差，接着校正低SIR区域的系统固有误差。

图6是本发明实施例3的信号干扰比测定电路的另一结构方框图。其中，对图6中与图5相同的构成部分附以与图5相同的标号，省略详细说明。

高SIR区域校正部105进行与上式(3)的分母部分相当的运算。由此，除去干扰波功率的平均值中包含的有用波分量。除去有用波分量后的干扰波功率的平均值被输出到SIR计算部104及低SIR区域校正部103的乘法器1031。

低SIR区域校正部103进行与上式(3)的分子部分相当的运算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的干扰波分量。这里，低SIR区域校正部103除去的干扰波分量已经是高SIR区域校正部105除去了有用波分量的干扰波分量，所以低SIR区域校正部103与上述实施例1相比，能够进一步高精度地校正低SIR区域的系统固有误差。除去干扰波分量后的有用波功率的平均值被输出到SIR计算部104。

SIR计算部104将除去干扰波分量后的有用波功率的平均值除以除去有用波分量后的干扰波功率的平均值。由此，从SIR计算部104输出根据上式(3)测定出的SIR。由此，得到校正了低SIR区域的系统固有误差及高SIR区域的系统固有误差两者的平均SIR。

这样，根据本实施例，能够校正低SIR区域的系统固有误差及高SIR区域的系统固有误差两者。此外，与上述实施例1及上述实施例2相比，能够进一步高精度地校正系统固有误差。

(实施例4)

本实施例说明校正SIR的整个区域上存在的本电路固有的固定系统固有误差的情况。图7是本发明实施例4的信号干扰比测定电路的结构方框图。其中，对图7中与图5相同的构成部分附以与图5相同的标号，省略详细说明。

从SIR计算部104输出根据上式(3)测定出的SIR。即，输出校正了低SIR区域的系统固有误差及高SIR区域的系统固有误差两者的平均SIR。

固定系统固有误差校正部106将从SIR计算部104输出的平均SIR乘以用于校正SIR的整个区域上存在的固定系统固有误差的校正系数c。由此，从固定系统固有误差校正部106输出根据上式(4)测定出的SIR。由此，得到校正了低SIR区域的系统固有误差、高SIR区域的系统固有误差、及SIR的整个区域上存在的固定系统固有误差的平均SIR。

这样，根据本实施例，能够校正SIR的整个区域上存在的本电路固有的固定系统固有误差。

(实施例5)

如果考虑在CDMA方式的移动通信系统中测定SIR的情况，则低SIR区域的系统固有误差的大小及高SIR区域的系统固有误差的大小按照SIR的测定中使用的解扩信号数或该解扩信号中包含的码元数、及接收天线数而变化。因此，首先，本实施例说明按照解扩信号数来决定校正系数a及校正系数b的情况。图8是本发明实施例5的信号干扰比测定电路的结构方框图。其中，对图8中与图7相同的构成部分附以与图7相同的标号，省略详细说明。

在图8所示的信号干扰比测定电路中，有用波功率测定部201测定解扩信号1～M的有用波分量的功率，计算有用波功率在规定区间上的平均值。算出的有用波功率的平均值被输出到加法器1032。作为有用波功率的平均值的计算方法，可以采用下述等方法：对各个解扩信号求有用波功率在规定区间上的平均值后将这些平均值全部相加；或者对各个解扩信号将测定出的有用波功率在规定区间上全部相加后进行平均。

干扰波功率测定部202测定解扩信号1～M的干扰波分量的功率，计算干扰波功率在规定区间上的平均值。算出的干扰波功率的平均值被输出到乘法器1031及加法器1052。作为干扰波功率的平均值的计算方法，可以采用与上述有用波功率的平均值的计算方法同样的方法。

低SIR区域校正部103的乘法器1033将校正系数a乘以SIR的测定中使用的解扩信号数。乘以解扩信号数后的校正系数a被输出到乘法器1031。即，低SIR区域校正部103用乘以解扩信号数后的校正系数a来进行与上式(3)的分子部分相当的运算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的与解扩信号数相应的干扰波分量。

此外，高SIR区域校正部105的乘法器1053将校正系数b乘以SIR的测定中使用的解扩信号数。乘以解扩信号数后的校正系数b被输出到乘法器1051。即，高SIR区域校正部105用乘以解扩信号数后的校正系数b来进行与上式(3)的分母部分相当的运算。由此，除去干扰波功率的平均值中包含的与解扩信号数相应的有用波分量。

校正系数a及校正系数b乘以的解扩信号数在SIR的测定中使用的解扩信号数预定的情况下为固定值，而在SIR的测定中使用的解扩信号数时时刻刻变化的情况下按照该变化来改变。

此外，在SIR的测定中使用的解扩信号数时时刻刻变化的情况下，也可以使用在规定区间上平均过的数目。通过这样对解扩信号数进行平均，即使在接收的解扩信号数暂时急剧变动的情况下，由于校正系数a及校正系数b不急剧变动，所以能够防止由于解扩信号数的暂时变动而使SIR变动很大。

这样，根据本实施例，按照SIR的测定中使用的解扩信号数来决定校正系数a及校正系数b，所以能够高精度地校正大小按照解扩信号数而变化的系统固有误差。

在本实施例中，也可以通过采用图9所示的结构用RAKE合成后的信号来测定SIR。图9是本发明实施例5的信号干扰比测定电路的另一结构方框图。其中，对图9中与图8相同的构成部分附以与图8相同的标号，省略详细说明。

在图9所示的信号干扰比测定电路中，RAKE合成部301对解扩信号1～M进行RAKE合成并输出到有用波功率测定部302及干扰波功率测定303。有用波功率测定部302测定RAKE合成后的信号的有用波分量的功率，计算有用波功率在规定区间上的平均值。干扰波功率测定部303测定RAKE合成后的信号的干扰波分量的功率，计算干扰波功率在规定区间上的平均值。

通过使本实施例的信号干扰比测定电路采用图9所示的结构，在用RAKE合成后的信号来测定SIR的情况下，也能够高精度地校正大小按照解扩信号数而变化的系统固有误差。

(实施例6)

本实施例说明按照SIR的测定中使用的码元数来决定校正系数a及校正系数b的情况。图10是本发明实施例6的信号干扰比测定电路的结构方框图。其中，对图10中与图8相同的构成部分附以与图8相同的标号，省略详细说明。

在图10所示的信号干扰比测定电路中，有用波功率测定部401对每个码元测定解扩信号的有用波分量的功率，计算有用波功率在规定区间上的平均值。算出的有用波功率的平均值被输出到加法器1032。作为有用波功率的平均值的计算方法，可以采用下述等方法：对各时隙内位于同一处的码元分别求出多个时隙的平均值后将这些平均值全部相加；或者将多个时隙的对各时隙内位于同一处的码元分别测定的有用波功率相加后进行平均。

干扰波功率测定部402对每个码元测定解扩信号的干扰波分量的功率，计算干扰波功率在规定区间上的平均值。算出的干扰波功率的平均值被输出到乘法器1031及加法器1052。作为干扰波功率的平均值的计算方法，可以采用与上述有用波功率的平均值的计算方法同样的方法。

低SIR区域校正部103的乘法器1033将校正系数a乘以SIR的测定中使用的码元数。乘以码元数后的校正系数a被输出到乘法器1031。即，低SIR区域校正部103用乘以码元数后的校正系数a来进行与上式(3)的分子部分相当的运算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的与码元数相应的干扰波分量。

此外，高SIR区域校正部105的乘法器1053将校正系数b乘以SIR的测定中使用的码元数。乘以码元数后的校正系数b被输出到乘法器1051。即，高SIR区域校正部105用乘以码元数后的校正系数b来进行与上式(3)的分母部分相当的运算。由此，除去干扰波功率的平均值中包含的与码元数相应的有用波分量。

校正系数a及校正系数b乘以的码元数在SIR的测定中使用的码元数预定的情况下为固定值，而在SIR的测定中使用的码元数变化的情况下按照该变化来改变。

这样，根据本实施例，按照SIR的测定中使用的码元数来决定校正系数a及校正系数b，所以能够高精度地校正大小按照码元数而变化的系统固有误差。

(实施例7)

本实施例说明按照接收天线数来决定校正系数a及校正系数b的情况。图11是本发明实施例7的信号干扰比测定电路的结构方框图。其中，对图11中与图8相同的构成部分附以与图8相同的标号，省略详细说明。

在图11所示的信号干扰比测定电路中，有用波功率测定部501测定天线1～N接收到的信号的有用波分量的功率，计算有用波功率在规定区间上的平均值。算出的有用波功率的平均值被输出到加法器1032。作为有用波功率的平均值的计算方法，可以采用下述等方法：对每个天线求出有用波功率在规定区间上的平均值后将这些平均值全部相加；或者将对每个天线测定出的有用波功率在规定区间上全部相加后进行平均。

干扰波功率测定部502测定天线1～N接收到的信号的干扰波分量的功率，计算干扰波功率在规定区间上的平均值。算出的干扰波功率的平均值被输出到乘法器1031及加法器1052。作为干扰波功率的平均值的计算方法，可以采用与上述有用波功率的平均值的计算方法同样的方法。

低SIR区域校正部103的乘法器1033将校正系数a乘以接收天线数。乘以接收天线数后的校正系数a被输出到乘法器1031。即，低SIR区域校正部103用乘以接收天线数后的校正系数a来进行与上式(3)的分子部分相当的运算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的与接收天线数相应的干扰波分量。

此外，高SIR区域校正部105的乘法器1053将校正系数b乘以接收天线数。乘以接收天线数后的校正系数b被输出到乘法器1051。即，高SIR区域校正部105用乘以接收天线数后的校正系数b来进行与上式(3)的分母部分相当的运算。由此，除去干扰波功率的平均值中包含的与接收天线数相应的有用波分量。

这样，根据本实施例，按照接收天线数来决定校正系数a及校正系数b，所以能够高精度地校正大小按照接收天线数而变化的系统固有误差。

(实施例8)

本实施例说明下述情况：根据在长区间(几百个码元到几千个码元左右的区间)上平均过的系统固有误差校正前的SIR和在长区间上平均过的系统固有误差校正后的SIR来计算高精度的系统固有误差，用该系统固有误差来校正在短区间(几个码元到几十个码元左右的区间)上平均过的SIR的系统固有误差。

移动通信中的发送功率控制等中使用的SIR通常使用几个码元到几十个码元左右的短区间上的平均值。但是，在短区间上平均过的有用波功率及在短区间上平均过的干扰波功率的方差大，所以上式(1)中的分子的减法结果及上式(2)中的分母的减法结果有时为负。因此，在上述实施例1～7的系统固有误差校正方法中，校正系统固有误差后的平均SIR有时为负值，有时发生不能计算SIR的情况。因此，在本实施例中，根据在几百个码元到几千个码元左右的长区间上平均过的方差小的SIR来计算高精度的系统固有误差，用该系统固有误差来校正在几个码元到几十个码元左右的短区间上平均过的SIR的系统固有误差。

图12是本发明实施例8的信号干扰比测定电路的结构方框图。其中，对图12中与图7相同的构成部分附以与图7相同的标号，省略详细说明。

在图12所示的信号干扰比测定电路中，短区间有用波功率测定部601测定接收信号的有用波分量的功率，计算有用波功率在短区间(几个码元到几十个码元左右的区间)上的平均值。算出的有用波功率在短区间上的平均值被输出到SIR计算部603及长区间平均部604。

短区间干扰波功率测定部602测定接收信号的干扰波分量的功率，计算干扰波功率在短区间上的平均值。算出的干扰波功率在短区间上的平均值被输出到SIR计算部603及长区间平均部605。

SIR计算部603计算短区间有用波功率测定部601求出的值和短区间干扰波功率测定部602求出的值之比。由此，算出系统固有误差校正前的短区间平均SIR。系统固有误差校正前的短区间平均SIR被输出到系统固有误差除去部608。

长区间平均部604进一步在长区间(几百个码元到几千个码元左右的区间)上对短区间有用波功率测定部601求出的值进行平均。算出的有用波功率在长区间上的平均值被输出到SIR计算部606及加法器1032。

长区间平均部605进一步在长区间上对短区间干扰波功率测定部602求出的值进行平均。算出的干扰波功率在长区间上的平均值被输出到SIR计算部606、乘法器1031及加法器1052。

SIR计算部606计算长区间平均部604求出的值和长区间平均部605求出的值之比。由此，算出系统固有误差校正前的长区间平均SIR。系统固有误差校正前的长区间平均SIR被输出到系统固有误差计算部607。

低SIR区域校正部103除去有用波功率在长区间上的平均值中包含的干扰波分量。此外，高SIR区域校正部105除去干扰波功率在长区间上的平均值中包含的有用波分量。

SIR计算部104计算校正了低SIR区域上的系统固有误差及高SIR区域上的系统固有误差的长区间平均SIR。然后，固定系统固有误差校正部106校正SIR的整个区域上存在的固定系统固有误差。由此，从固定系统固有误差校正部106输出校正了所有系统固有误差的长区间平均SIR。

系统固有误差计算部607通过计算从固定系统固有误差校正部106输出的系统固有误差校正后的长区间平均SIR和从SIR计算部606输出的系统固有误差校正前的长区间平均SIR之差，来计算高精度的系统固有误差。

系统固有误差除去部608通过从校正系统固有误差前的短区间平均SIR中减去系统固有误差计算部607算出的系统固有误差来校正短区间平均SIR的系统固有误差。

在上述说明中，作为一例，设短区间为几个码元到几十个码元的区间、设长区间为几百个码元到几千个码元的区间进行了说明，但是不限于该例，只要短区间是比长区间短的区间就能够同样实施。

这样，根据本实施例，根据在长区间上平均过的系统固有误差校正前的SIR和在长区间上平均过的系统固有误差校正后的SIR来计算高精度的系统固有误差，用该系统固有误差来校正在短区间上平均过的SIR的系统固有误差，所以能够提高在短区间上进行平均的SIR的测定精度。

上述实施例1～8也可以适当组合来实施。

此外，可以将上述实施例1～8的信号干扰比测定电路搭载在移动通信系统中使用的基站装置、或与该基站装置进行无线通信的通信终端装置上。在搭载的情况下，能够提高基站装置或通信终端装置根据信号干扰比进行的控制(例如，发送功率控制)的精度。

如上所述，根据本发明，能够校正系统固有误差来提高信号干扰比的测定精度。

本申请基于2000年11月9日申请的(日本)特愿2000-341648。其内容全部包含于此。

                    产业上的可利用性

本发明适用于移动通信系统、特别是CDMA方式的移动通信系统中使用的基站装置、或与该基站装置进行无线通信的通信终端装置。

Claims (10)

1、一种信号干扰比测定电路，具备：

第一测定器，测定接收信号的有用波功率；

第二测定器，测定上述接收信号的干扰波功率；

信号干扰比计算器，计算信号干扰比；以及

校正器，通过从上述有用波功率中减去校正系数乘上述干扰波功率所得的值以除去上述有用波功率中包含的干扰波分量，来校正上述信号干扰比的值高于正确的信号干扰比的区域上的系统固有误差。

2、如权利要求1所述的信号干扰比测定电路，其中，

上述校正器用上述校正系数来乘除去有用波分量后的干扰波功率。

3、如权利要求1所述的信号干扰比测定电路，其中，

上述校正系数按照上述信号干扰比的测定中使用的接收信号数来决定。

4、如权利要求1所述的信号干扰比测定电路，其中，

上述校正系数按照上述信号干扰比的测定中使用的码元数来决定。

5、如权利要求1所述的信号干扰比测定电路，其中，

上述校正系数按照接收天线数来决定。

6、如权利要求1所述的信号干扰比测定电路，其中：其中，

上述校正器通过将上述信号干扰比乘以和上述校正系数不同的校正系数来校正本电路固有的系统固有误差。

7、如权利要求1所述的信号干扰比测定电路，还包括：

第三测定器，测定在第一区间中平均过的第一信号干扰比；

第四测定器，测定在比上述第一区间短的第二区间上平均过的第二信号干扰比；

系统固有误差计算器，根据上述第一信号干扰比、和由校正器校正了系统固有误差的第一信号干扰比，来计算在上述第一区间上平均过的系统固有误差；以及

除去器，用在上述第一区间上平均过的系统固有误差，来除去上述第二信号干扰比中包含的系统固有误差。

8.一种基站装置，具备如权利要求1至7任何一项所述的信号干扰比测定电路。

9.一种通信终端装置，具备如权利要求1至7任何一项所述的信号干扰比测定电路。

10、一种信号干扰比测定方法，具备：

第一测定步骤，测定接收信号的有用波功率；

第二测定步骤，测定上述接收信号的干扰波功率；

信号干扰比计算步骤，计算信号干扰比；以及

校正步骤，通过从上述有用波功率中减去校正系数乘上述干扰波功率所得的值以除去上述有用波功率中包含的干扰波分量，来校正上述信号干扰比的值高于正确的信号干扰比的区域上的系统固有误差。

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