JP2002152147A - 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 - Google Patents
希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法Info
- Publication number
- JP2002152147A JP2002152147A JP2000341648A JP2000341648A JP2002152147A JP 2002152147 A JP2002152147 A JP 2002152147A JP 2000341648 A JP2000341648 A JP 2000341648A JP 2000341648 A JP2000341648 A JP 2000341648A JP 2002152147 A JP2002152147 A JP 2002152147A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interference
- power ratio
- wave power
- wave
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/30—Monitoring; Testing of propagation channels
- H04B17/309—Measuring or estimating channel quality parameters
- H04B17/336—Signal-to-interference ratio [SIR] or carrier-to-interference ratio [CIR]
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
- H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements
Abstract
(57)【要約】
【課題】 バイアス誤差を補正して希望波対干渉波
電力比の測定精度を向上させること。 【解決手段】 予め求められたＳＩＲの特性図から決定
された第一補正係数を干渉波電力に乗算した希望波電力
から減算して希望波電力に含まれる干渉波成分を除去す
ることにより、低ＳＩＲ領域でのバイアス誤差を補正す
る。また、予め求められたＳＩＲの特性図から決定され
た第二補正係数を希望波電力に乗算した値を干渉波電力
から減算して干渉波電力に含まれる希望波成分を除去す
ることにより、高ＳＩＲ領域でのバイアス誤差を補正す
る。
電力比の測定精度を向上させること。 【解決手段】 予め求められたＳＩＲの特性図から決定
された第一補正係数を干渉波電力に乗算した希望波電力
から減算して希望波電力に含まれる干渉波成分を除去す
ることにより、低ＳＩＲ領域でのバイアス誤差を補正す
る。また、予め求められたＳＩＲの特性図から決定され
た第二補正係数を希望波電力に乗算した値を干渉波電力
から減算して干渉波電力に含まれる希望波成分を除去す
ることにより、高ＳＩＲ領域でのバイアス誤差を補正す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、希望波対干渉波電
力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法に関
する。
力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、希望波対干渉波電力比ＳＩＲの測
定方法としては、 特開平11-237419号公報に記載されて
いるものがある。このＳＩＲ測定方法では、まず合成前
の受信信号ごとに希望波電力および干渉波電力を求めて
おき、次に合成方法に応じて合成後のＳＩＲを算出する
ようにしている。これにより、精度の高いＳＩＲを簡単
な演算で測定することができるとされている。
定方法としては、 特開平11-237419号公報に記載されて
いるものがある。このＳＩＲ測定方法では、まず合成前
の受信信号ごとに希望波電力および干渉波電力を求めて
おき、次に合成方法に応じて合成後のＳＩＲを算出する
ようにしている。これにより、精度の高いＳＩＲを簡単
な演算で測定することができるとされている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
者が行ったシミュレーションにより、上記従来のＳＩＲ
測定方法で測定したＳＩＲには、熱雑音、希望波電力に
含まれる干渉波成分および干渉波電力に含まれる希望波
成分等により生じるバイアス誤差が含まれていることが
判明した。つまり、上記従来のＳＩＲ測定方法では、正
確なＳＩＲを測定することができないということが判明
した。
者が行ったシミュレーションにより、上記従来のＳＩＲ
測定方法で測定したＳＩＲには、熱雑音、希望波電力に
含まれる干渉波成分および干渉波電力に含まれる希望波
成分等により生じるバイアス誤差が含まれていることが
判明した。つまり、上記従来のＳＩＲ測定方法では、正
確なＳＩＲを測定することができないということが判明
した。
【０００４】また、バイアス誤差の大きさは、ＳＩＲ測
定に使用する逆拡散信号数および逆拡散信号に含まれる
シンボル数等に応じて変化するため、それらの数を考慮
することなくＳＩＲを測定する上記従来のＳＩＲ測定方
法では、ＳＩＲの測定誤差が逆拡散信号数やシンボル数
等に応じて大きくなってしまうという問題がある。
定に使用する逆拡散信号数および逆拡散信号に含まれる
シンボル数等に応じて変化するため、それらの数を考慮
することなくＳＩＲを測定する上記従来のＳＩＲ測定方
法では、ＳＩＲの測定誤差が逆拡散信号数やシンボル数
等に応じて大きくなってしまうという問題がある。
【０００５】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の
測定精度を向上させることができる希望波対干渉波電力
比測定回路および希望波対干渉波電力方法を提供するこ
とを目的とする。
あり、バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の
測定精度を向上させることができる希望波対干渉波電力
比測定回路および希望波対干渉波電力方法を提供するこ
とを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の希望波対干渉波
電力比測定回路は、受信信号の希望波電力を測定する第
一測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第
二測定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波
対干渉波電力比算出手段と、補正係数を用いて前記希望
波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を補正する補
正手段と、を具備する構成を採る。
電力比測定回路は、受信信号の希望波電力を測定する第
一測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第
二測定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波
対干渉波電力比算出手段と、補正係数を用いて前記希望
波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を補正する補
正手段と、を具備する構成を採る。
【０００７】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、補正係数が、正しい希望波対干渉波電力比と実際に
測定される希望波対干渉波電力比との差を示す予め求め
られた希望波対干渉波電力比の特性図から決定される構
成を採る。
は、補正係数が、正しい希望波対干渉波電力比と実際に
測定される希望波対干渉波電力比との差を示す予め求め
られた希望波対干渉波電力比の特性図から決定される構
成を採る。
【０００８】これらの構成によれば、バイアス誤差を補
正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させるこ
とができる。
正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させるこ
とができる。
【０００９】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、補正手段が、予め求められた希望波対干渉波電力比
の特性図から決定された第一補正係数を第二測定手段で
測定された干渉波電力に乗算した値を第一測定手段で測
定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含ま
れる干渉波成分を除去することにより、算出手段で算出
される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電
力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正す
る構成を採る。
は、補正手段が、予め求められた希望波対干渉波電力比
の特性図から決定された第一補正係数を第二測定手段で
測定された干渉波電力に乗算した値を第一測定手段で測
定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含ま
れる干渉波成分を除去することにより、算出手段で算出
される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電
力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正す
る構成を採る。
【００１０】この構成によれば、希望波電力に含まれる
干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電力によって除去
するため、干渉波成分が希望波成分に比べて相対的に大
きくなる領域においてバイアス誤差を補正することがで
きる。
干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電力によって除去
するため、干渉波成分が希望波成分に比べて相対的に大
きくなる領域においてバイアス誤差を補正することがで
きる。
【００１１】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、補正手段が、第一補正係数を希望波成分除去後の干
渉波電力に乗算する構成を採る。
は、補正手段が、第一補正係数を希望波成分除去後の干
渉波電力に乗算する構成を採る。
【００１２】この構成によれば、補正手段で除去される
干渉波成分は、すでに希望波成分が除去された干渉波成
分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補
正することができる。
干渉波成分は、すでに希望波成分が除去された干渉波成
分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補
正することができる。
【００１３】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、補正手段が、予め求められた希望波対干渉波電力比
の特性図から決定された第二補正係数を第一測定手段で
測定された希望波電力に乗算した値を第二測定手段で測
定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含ま
れる希望波成分を除去することにより、算出手段で算出
される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電
力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正す
る構成を採る。
は、補正手段が、予め求められた希望波対干渉波電力比
の特性図から決定された第二補正係数を第一測定手段で
測定された希望波電力に乗算した値を第二測定手段で測
定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含ま
れる希望波成分を除去することにより、算出手段で算出
される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電
力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正す
る構成を採る。
【００１４】この構成によれば、干渉波電力に含まれる
希望波成分を補正係数を乗じた希望波電力によって除去
するため、希望波成分が干渉波成分に比べて相対的に大
きくなる領域においてバイアス誤差を補正することがで
きる。
希望波成分を補正係数を乗じた希望波電力によって除去
するため、希望波成分が干渉波成分に比べて相対的に大
きくなる領域においてバイアス誤差を補正することがで
きる。
【００１５】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、補正手段が、第二補正係数を干渉波成分除去後の希
望波電力に乗算する構成を採る。
は、補正手段が、第二補正係数を干渉波成分除去後の希
望波電力に乗算する構成を採る。
【００１６】この構成によれば、補正手段で除去される
希望波成分は、すでに干渉波成分が除去された希望波成
分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補
正することができる。
希望波成分は、すでに干渉波成分が除去された希望波成
分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補
正することができる。
【００１７】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉
波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定され
る構成を採る。
は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉
波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定され
る構成を採る。
【００１８】この構成によれば、希望波対干渉波電力比
の測定に使用する受信信号数に応じて第一補正係数およ
び第二補正係数を決定するため、受信信号数に応じて大
きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することが
できる。
の測定に使用する受信信号数に応じて第一補正係数およ
び第二補正係数を決定するため、受信信号数に応じて大
きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することが
できる。
【００１９】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉
波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定され
る構成を採る。
は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉
波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定され
る構成を採る。
【００２０】この構成によれば、希望波対干渉波電力比
の測定に使用するシンボル数に応じて第一補正係数およ
び第二補正係数を決定するため、シンボル数に応じて大
きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することが
できる。
の測定に使用するシンボル数に応じて第一補正係数およ
び第二補正係数を決定するため、シンボル数に応じて大
きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することが
できる。
【００２１】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、第一補正係数および第二補正係数が、受信アンテナ
数に応じて決定される構成を採る。
は、第一補正係数および第二補正係数が、受信アンテナ
数に応じて決定される構成を採る。
【００２２】この構成によれば、受信アンテナ数に応じ
て第一補正係数および第二補正係数を決定するため、受
信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を
精度よく補正することができる。
て第一補正係数および第二補正係数を決定するため、受
信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を
精度よく補正することができる。
【００２３】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、第二補正係数が、ドップラー周波数の大きさに応じ
て決定される構成を採る。
は、第二補正係数が、ドップラー周波数の大きさに応じ
て決定される構成を採る。
【００２４】この構成によれば、ドップラー周波数の大
きさに応じて第二補正係数を決定するため、ドップラー
周波数の大きさに応じて大きさが変化するバイアス誤差
を精度よく補正することができる。
きさに応じて第二補正係数を決定するため、ドップラー
周波数の大きさに応じて大きさが変化するバイアス誤差
を精度よく補正することができる。
【００２５】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、第二補正係数が、無線通信装置間の周波数オフセッ
ト量に応じて決定される構成を採る。
は、第二補正係数が、無線通信装置間の周波数オフセッ
ト量に応じて決定される構成を採る。
【００２６】この構成によれば、周波数オフセット量に
応じて第二補正係数を決定するため、周波数オフセット
量に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補
正することができる。
応じて第二補正係数を決定するため、周波数オフセット
量に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補
正することができる。
【００２７】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、補正手段が、算出手段で算出された希望波対干渉波
電力比に第三補正係数を乗算することにより自回路に固
有のバイアス誤差を補正する構成を採る。
は、補正手段が、算出手段で算出された希望波対干渉波
電力比に第三補正係数を乗算することにより自回路に固
有のバイアス誤差を補正する構成を採る。
【００２８】この構成によれば、希望波対干渉波電力比
の全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイ
アス誤差を補正することができる。
の全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイ
アス誤差を補正することができる。
【００２９】本発明の希望波対干渉波電力比測定回路
は、第一区間において平均した第一希望波対干渉波電力
比を測定する第一測定手段と、前記第一区間より短い第
二区間において平均した第二希望波対干渉波電力比を測
定する第二測定手段と、前記第一希望波対干渉波電力比
と補正手段によりバイアス誤差が補正された第一希望波
対干渉波電力比とから前記第一区間において平均したバ
イアス誤差を算出するバイアス誤差算出手段と、前記第
一区間において平均したバイアス誤差を用いて前記第二
希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を除去す
る除去手段と、を具備する構成を採る。
は、第一区間において平均した第一希望波対干渉波電力
比を測定する第一測定手段と、前記第一区間より短い第
二区間において平均した第二希望波対干渉波電力比を測
定する第二測定手段と、前記第一希望波対干渉波電力比
と補正手段によりバイアス誤差が補正された第一希望波
対干渉波電力比とから前記第一区間において平均したバ
イアス誤差を算出するバイアス誤差算出手段と、前記第
一区間において平均したバイアス誤差を用いて前記第二
希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を除去す
る除去手段と、を具備する構成を採る。
【００３０】この構成によれば、第一区間における平均
的なバイアス誤差を算出し、その平均的なバイアス誤差
を用いて第一区間よりも短い第二区間で平均した希望波
対干渉波電力比のバイアス誤差を補正するため、第二区
間で平均した希望波対干渉波電力比の測定精度を向上さ
せることができる。
的なバイアス誤差を算出し、その平均的なバイアス誤差
を用いて第一区間よりも短い第二区間で平均した希望波
対干渉波電力比のバイアス誤差を補正するため、第二区
間で平均した希望波対干渉波電力比の測定精度を向上さ
せることができる。
【００３１】本発明の基地局装置は、上記いずれかの希
望波対干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。ま
た、本発明の通信端末装置は、上記いずれかの希望波対
干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。
望波対干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。ま
た、本発明の通信端末装置は、上記いずれかの希望波対
干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。
【００３２】これらの構成によれば、基地局装置や通信
端末装置が希望波対干渉波電力比に従って行う制御（例
えば、送信電力制御）の精度を向上させることができ
る。
端末装置が希望波対干渉波電力比に従って行う制御（例
えば、送信電力制御）の精度を向上させることができ
る。
【００３３】本発明の希望波対干渉波電力比測定方法
は、受信信号の希望波電力を測定する第一測定工程と、
前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定工程と、
希望波対干渉波電力比を算出する算出工程と、補正係数
を用いて前記希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス
誤差を補正する補正工程と、を具備するようにした。
は、受信信号の希望波電力を測定する第一測定工程と、
前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定工程と、
希望波対干渉波電力比を算出する算出工程と、補正係数
を用いて前記希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス
誤差を補正する補正工程と、を具備するようにした。
【００３４】本発明の希望波対干渉波電力比測定方法
は、補正係数が、正しい希望波対干渉波電力比と実際に
測定される希望波対干渉波電力比との差を示す予め求め
られた希望波対干渉波電力比の特性図から決定されるよ
うにした。
は、補正係数が、正しい希望波対干渉波電力比と実際に
測定される希望波対干渉波電力比との差を示す予め求め
られた希望波対干渉波電力比の特性図から決定されるよ
うにした。
【００３５】これらの方法によれば、バイアス誤差を補
正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させるこ
とができる。
正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させるこ
とができる。
【００３６】
【発明の実施の形態】図１は、本発明者が行った測定Ｓ
ＩＲの平均値についてのシミュレーション結果を示すグ
ラフである。すなわち、図１は、正しい希望波対干渉波
電力比と実際に測定される希望波対干渉波電力比との差
（つまり、バイアス誤差）を示す希望波対干渉波電力比
の特性図である。なお、測定ＳＩＲの平均値を算出する
にあたっては、数千シンボル区間の平均値を用いた。
ＩＲの平均値についてのシミュレーション結果を示すグ
ラフである。すなわち、図１は、正しい希望波対干渉波
電力比と実際に測定される希望波対干渉波電力比との差
（つまり、バイアス誤差）を示す希望波対干渉波電力比
の特性図である。なお、測定ＳＩＲの平均値を算出する
にあたっては、数千シンボル区間の平均値を用いた。
【００３７】本発明者がこのシミュレーション結果を解
析したところ、以下のことが判明した。 （ｉ）ＳＩＲが比較的低い低ＳＩＲ領域では、測定した
希望波電力に含まれる干渉波成分の影響により、測定Ｓ
ＩＲの平均値は正しいＳＩＲに比べて高くなる。 （ii）ＳＩＲが比較的高い高ＳＩＲ領域では、測定した
干渉波電力に含まれる希望波成分の影響により、測定Ｓ
ＩＲの平均値は正しいＳＩＲに比べて低くなる。 （iii）希望波電力および干渉波電力の測定方法によ
り、ＳＩＲの全領域に渡り各ＳＩＲ測定回路に固有の固
定的なバイアス誤差が存在する。
析したところ、以下のことが判明した。 （ｉ）ＳＩＲが比較的低い低ＳＩＲ領域では、測定した
希望波電力に含まれる干渉波成分の影響により、測定Ｓ
ＩＲの平均値は正しいＳＩＲに比べて高くなる。 （ii）ＳＩＲが比較的高い高ＳＩＲ領域では、測定した
干渉波電力に含まれる希望波成分の影響により、測定Ｓ
ＩＲの平均値は正しいＳＩＲに比べて低くなる。 （iii）希望波電力および干渉波電力の測定方法によ
り、ＳＩＲの全領域に渡り各ＳＩＲ測定回路に固有の固
定的なバイアス誤差が存在する。
【００３８】そこで、本発明者は以下の式に従ってＳＩ
Ｒを測定することにより、上記（ｉ）〜（iii）に示し
たバイアス誤差を補正できることを見出した。なお、以
下の式（１）〜（４）において、'ＳＩＲ'は測定ＳＩＲ
の平均値、'Ｓ'は測定した希望波電力の平均値、'Ｉ'は
測定した干渉波電力の平均値、'ａ'は希望波電力の補正
係数、'ｂ'は干渉波電力の補正係数、'ｃ'は固定バイア
ス誤差の補正係数である。
Ｒを測定することにより、上記（ｉ）〜（iii）に示し
たバイアス誤差を補正できることを見出した。なお、以
下の式（１）〜（４）において、'ＳＩＲ'は測定ＳＩＲ
の平均値、'Ｓ'は測定した希望波電力の平均値、'Ｉ'は
測定した干渉波電力の平均値、'ａ'は希望波電力の補正
係数、'ｂ'は干渉波電力の補正係数、'ｃ'は固定バイア
ス誤差の補正係数である。
【００３９】まず、本発明者は、以下の式（１）に従っ
てＳＩＲを測定することにより、上記（ｉ）に示したバ
イアス誤差を補正できることを見出した。
てＳＩＲを測定することにより、上記（ｉ）に示したバ
イアス誤差を補正できることを見出した。
【数１】 すなわち、上式（１）では、干渉波電力の平均値Ｉに補
正係数ａを乗じた値を希望波電力の平均値Ｓから減ずる
ことによって、希望波電力に含まれる干渉波成分を除去
している。
正係数ａを乗じた値を希望波電力の平均値Ｓから減ずる
ことによって、希望波電力に含まれる干渉波成分を除去
している。
【００４０】次いで、本発明者は、以下の式（２）に従
ってＳＩＲを測定することにより、上記（ii）に示した
バイアス誤差を補正できることを見出した。
ってＳＩＲを測定することにより、上記（ii）に示した
バイアス誤差を補正できることを見出した。
【数２】 すなわち、上式（２）では、希望波電力の平均値Ｓに補
正係数ｂを乗じた値を干渉波電力の平均値Ｉから減ずる
ことによって、干渉波電力に含まれる希望波成分を除去
している。
正係数ｂを乗じた値を干渉波電力の平均値Ｉから減ずる
ことによって、干渉波電力に含まれる希望波成分を除去
している。
【００４１】なお、上式（１）と上式（２）とは適応領
域が異なるため、以下の式（３）にまとめることができ
る。
域が異なるため、以下の式（３）にまとめることができ
る。
【数３】
【００４２】さらに、本発明者は、以下の式（４）に従
ってＳＩＲを測定することにより、上記（iii）に示し
たバイアス誤差を補正できることを見出した。
ってＳＩＲを測定することにより、上記（iii）に示し
たバイアス誤差を補正できることを見出した。
【数４】 すなわち、上式（４）では、上記（ｉ）および上記（i
i）に示したバイアス誤差が補正されたＳＩＲに補正係
数ｃを乗じることによって、ＳＩＲの全領域に渡って含
まれる固定的なバイアス誤差を補正している。
i）に示したバイアス誤差が補正されたＳＩＲに補正係
数ｃを乗じることによって、ＳＩＲの全領域に渡って含
まれる固定的なバイアス誤差を補正している。
【００４３】ここで、ＣＤＭＡ（Code Division Multip
le Access）方式の移動体通信システムにおいてＳＩＲ
を測定する場合について考えると、補正係数ａおよび補
正係数ｂは、ＳＩＲの測定に使用する逆拡散信号数や逆
拡散信号に含まれるシンボル数、および受信アンテナ数
に応じて決定するようにする。また、ＳＩＲの測定に使
用する逆拡散信号数や逆拡散信号に含まれるシンボル数
が時々刻々変化する場合には、それらの変化に応じて補
正係数ａおよび補正係数ｂを適応的に変化させるように
する。
le Access）方式の移動体通信システムにおいてＳＩＲ
を測定する場合について考えると、補正係数ａおよび補
正係数ｂは、ＳＩＲの測定に使用する逆拡散信号数や逆
拡散信号に含まれるシンボル数、および受信アンテナ数
に応じて決定するようにする。また、ＳＩＲの測定に使
用する逆拡散信号数や逆拡散信号に含まれるシンボル数
が時々刻々変化する場合には、それらの変化に応じて補
正係数ａおよび補正係数ｂを適応的に変化させるように
する。
【００４４】図２は、上式（４）に従って測定したＳＩ
Ｒの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラ
フである。このグラフより、上式（４）に従ってＳＩＲ
を測定することにより、ＳＩＲの全領域に渡りバイアス
誤差が補正され、ほぼ正しいＳＩＲが測定できることが
判明した。なお、低ＳＩＲ領域におけるバイアス誤差の
補正は、上式（４）中の上式（１）に相当する部分によ
るものである。また、高ＳＩＲ領域におけるバイアス誤
差の補正は、上式（４）中の上式（２）に相当する部分
によるものである。なお、図２に示したシミュレーショ
ン結果は、固定バイアス誤差補正係数ｃ＝１とした場合
であるため、さらに固定バイアス誤差補正係数ｃを適切
な値に設定すれば、全領域において測定ＳＩＲの平均値
を正しいＳＩＲにほぼ一致させることが可能である。
Ｒの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラ
フである。このグラフより、上式（４）に従ってＳＩＲ
を測定することにより、ＳＩＲの全領域に渡りバイアス
誤差が補正され、ほぼ正しいＳＩＲが測定できることが
判明した。なお、低ＳＩＲ領域におけるバイアス誤差の
補正は、上式（４）中の上式（１）に相当する部分によ
るものである。また、高ＳＩＲ領域におけるバイアス誤
差の補正は、上式（４）中の上式（２）に相当する部分
によるものである。なお、図２に示したシミュレーショ
ン結果は、固定バイアス誤差補正係数ｃ＝１とした場合
であるため、さらに固定バイアス誤差補正係数ｃを適切
な値に設定すれば、全領域において測定ＳＩＲの平均値
を正しいＳＩＲにほぼ一致させることが可能である。
【００４５】以下、本発明の実施の形態について、添付
図面を参照して詳細に説明する。
図面を参照して詳細に説明する。
【００４６】（実施の形態１）本実施の形態では、低Ｓ
ＩＲ領域のバイアス誤差を補正する場合について説明す
る。図３は、本発明の実施の形態１に係る希望波対干渉
波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。
ＩＲ領域のバイアス誤差を補正する場合について説明す
る。図３は、本発明の実施の形態１に係る希望波対干渉
波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。
【００４７】図３に示す希望波対干渉波電力比測定回路
において、希望波電力測定部１０１は、受信信号の希望
波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間におけ
る平均値を算出する。干渉波電力測定部１０２は、受信
信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定
区間における平均値を算出する。
において、希望波電力測定部１０１は、受信信号の希望
波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間におけ
る平均値を算出する。干渉波電力測定部１０２は、受信
信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定
区間における平均値を算出する。
【００４８】低ＳＩＲ領域補正部１０３は、乗算器１０
３１と加算器１０３２とから構成され、低ＳＩＲ領域の
バイアス誤差を補正する。
３１と加算器１０３２とから構成され、低ＳＩＲ領域の
バイアス誤差を補正する。
【００４９】ＳＩＲ算出部１０４は、低ＳＩＲ領域補正
部１０３で求められた値と干渉波電力測定部１０２で算
出された値との比を算出する。
部１０３で求められた値と干渉波電力測定部１０２で算
出された値との比を算出する。
【００５０】次いで、上記構成を有する希望波対干渉波
電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波
電力測定部１０１で、希望波電力の所定区間における平
均値が算出され、加算器１０３２に出力される。また、
干渉波電力測定部１０２で、干渉波電力の所定区間にお
ける平均値が算出され、乗算器１０３１およびＳＩＲ算
出部１０４に出力される。ここで、希望波電力測定部１
０１から出力される希望波電力の平均値は上式（１）
の'Ｓ'に相当し、干渉波電力測定部１０２から出力され
る干渉波電力の平均値は上式（１）の'Ｉ'に相当する。
電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波
電力測定部１０１で、希望波電力の所定区間における平
均値が算出され、加算器１０３２に出力される。また、
干渉波電力測定部１０２で、干渉波電力の所定区間にお
ける平均値が算出され、乗算器１０３１およびＳＩＲ算
出部１０４に出力される。ここで、希望波電力測定部１
０１から出力される希望波電力の平均値は上式（１）
の'Ｓ'に相当し、干渉波電力測定部１０２から出力され
る干渉波電力の平均値は上式（１）の'Ｉ'に相当する。
【００５１】また、平均値算出時の所定区間は、ＳＩＲ
の使用目的に合わせて適宜設定される。例えば、ＳＩＲ
が移動体通信での送信電力制御等に使用される場合には
数シンボルから数十シンボル区間程度に設定され、移動
体通信での回線状況の把握等のために使用される場合に
は数百シンボルから数千シンボル区間程度に設定され
る。
の使用目的に合わせて適宜設定される。例えば、ＳＩＲ
が移動体通信での送信電力制御等に使用される場合には
数シンボルから数十シンボル区間程度に設定され、移動
体通信での回線状況の把握等のために使用される場合に
は数百シンボルから数千シンボル区間程度に設定され
る。
【００５２】乗算器１０３１では、干渉波電力の平均値
に補正係数ａが乗算され、加算器１０３２に出力され
る。この補正係数ａは、上式（１）の'ａ'に相当する。
加算器１０３２では、希望波電力の平均値から補正係数
ａ乗算後の干渉波電力の平均値が減算される。つまり、
低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上式（１）の分子部分
に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の
平均値に含まれる干渉波成分が除去される。干渉波成分
除去後の希望波電力の平均値はＳＩＲ算出部１０４に出
力される。
に補正係数ａが乗算され、加算器１０３２に出力され
る。この補正係数ａは、上式（１）の'ａ'に相当する。
加算器１０３２では、希望波電力の平均値から補正係数
ａ乗算後の干渉波電力の平均値が減算される。つまり、
低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上式（１）の分子部分
に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の
平均値に含まれる干渉波成分が除去される。干渉波成分
除去後の希望波電力の平均値はＳＩＲ算出部１０４に出
力される。
【００５３】ＳＩＲ算出部１０４では、干渉波成分除去
後の希望波電力の平均値が干渉波電力の平均値で除算さ
れる。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（１）に
従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、低
ＳＩＲ領域のバイアス誤差が補正された平均ＳＩＲが得
られる。
後の希望波電力の平均値が干渉波電力の平均値で除算さ
れる。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（１）に
従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、低
ＳＩＲ領域のバイアス誤差が補正された平均ＳＩＲが得
られる。
【００５４】このように本実施の形態によれば、希望波
電力に含まれる干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電
力によって除去するため、干渉波成分が希望波成分に比
べて相対的に大きくなる低ＳＩＲ領域においてＳＩＲの
バイアス誤差を補正することができる。
電力に含まれる干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電
力によって除去するため、干渉波成分が希望波成分に比
べて相対的に大きくなる低ＳＩＲ領域においてＳＩＲの
バイアス誤差を補正することができる。
【００５５】（実施の形態２）本実施の形態では、高Ｓ
ＩＲ領域のバイアス誤差を補正する場合について説明す
る。図４は、本発明の実施の形態２に係る希望波対干渉
波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但
し、図４において図３と共通する構成部分には図３と同
一符号を付し、詳しい説明を省略する。
ＩＲ領域のバイアス誤差を補正する場合について説明す
る。図４は、本発明の実施の形態２に係る希望波対干渉
波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但
し、図４において図３と共通する構成部分には図３と同
一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００５６】図４に示す希望波対干渉波電力比測定回路
において、高ＳＩＲ領域補正部１０５は、乗算器１０５
１と加算器１０５２とから構成され、高ＳＩＲ領域のバ
イアス誤差を補正する。ＳＩＲ算出部１０４は、希望波
電力測定部１０１で算出された値と高ＳＩＲ領域補正部
１０５で求められた値との比を算出する。
において、高ＳＩＲ領域補正部１０５は、乗算器１０５
１と加算器１０５２とから構成され、高ＳＩＲ領域のバ
イアス誤差を補正する。ＳＩＲ算出部１０４は、希望波
電力測定部１０１で算出された値と高ＳＩＲ領域補正部
１０５で求められた値との比を算出する。
【００５７】次いで、上記構成を有する希望波対干渉波
電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波
電力測定部１０１で、希望波電力の所定区間における平
均値が算出され、乗算器１０５１およびＳＩＲ算出部１
０４に出力される。また、干渉波電力測定部１０２で、
干渉波電力の所定区間における平均値が算出され、加算
器１０５２に出力される。ここで、希望波電力測定部１
０１から出力される希望波電力の平均値は上式（２）
の'Ｓ'に相当し、干渉波電力測定部１０２から出力され
る干渉波電力の平均値は上式（２）の'Ｉ'に相当する。
電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波
電力測定部１０１で、希望波電力の所定区間における平
均値が算出され、乗算器１０５１およびＳＩＲ算出部１
０４に出力される。また、干渉波電力測定部１０２で、
干渉波電力の所定区間における平均値が算出され、加算
器１０５２に出力される。ここで、希望波電力測定部１
０１から出力される希望波電力の平均値は上式（２）
の'Ｓ'に相当し、干渉波電力測定部１０２から出力され
る干渉波電力の平均値は上式（２）の'Ｉ'に相当する。
【００５８】乗算器１０５１では、希望波電力の平均値
に補正係数ｂが乗算され、加算器１０５２に出力され
る。この補正係数ｂは、上式（２）の'ｂ'に相当する。
加算器１０５２では、干渉波電力の平均値から補正係数
ｂ乗算後の希望波電力の平均値が減算される。つまり、
高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上式（２）の分母部分
に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の
平均値に含まれる希望波成分が除去される。希望波成分
除去後の干渉波電力の平均値はＳＩＲ算出部１０４に出
力される。
に補正係数ｂが乗算され、加算器１０５２に出力され
る。この補正係数ｂは、上式（２）の'ｂ'に相当する。
加算器１０５２では、干渉波電力の平均値から補正係数
ｂ乗算後の希望波電力の平均値が減算される。つまり、
高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上式（２）の分母部分
に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の
平均値に含まれる希望波成分が除去される。希望波成分
除去後の干渉波電力の平均値はＳＩＲ算出部１０４に出
力される。
【００５９】ＳＩＲ算出部１０４では、希望波電力の平
均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算さ
れる。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（２）に
従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、高
ＳＩＲ領域のバイアス誤差が補正された平均ＳＩＲが得
られる。
均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算さ
れる。よって、ＳＩＲ算出部１０４からは上式（２）に
従って測定されたＳＩＲが出力される。これにより、高
ＳＩＲ領域のバイアス誤差が補正された平均ＳＩＲが得
られる。
【００６０】ここで、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差は、
フィルタにより生じる符号間干渉成分の影響以外にも、
無線通信装置間の周波数オフセットやドップラー効果の
影響により生じるものと考えられるため、周波数オフセ
ット量やドップラー周波数の大きさに応じて補正係数ｂ
を適応的に変化させるようにしてもよい。このように補
正係数ｂを周波数オフセット量やドップラー周波数の大
きさに応じて決定することにより、周波数オフセット量
やドップラー周波数の大きさに応じて大きさが変化する
高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を精度よく補正することが
できる。
フィルタにより生じる符号間干渉成分の影響以外にも、
無線通信装置間の周波数オフセットやドップラー効果の
影響により生じるものと考えられるため、周波数オフセ
ット量やドップラー周波数の大きさに応じて補正係数ｂ
を適応的に変化させるようにしてもよい。このように補
正係数ｂを周波数オフセット量やドップラー周波数の大
きさに応じて決定することにより、周波数オフセット量
やドップラー周波数の大きさに応じて大きさが変化する
高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を精度よく補正することが
できる。
【００６１】このように本実施の形態によれば、干渉波
電力に含まれる希望波成分を補正係数を乗じた希望波電
力によって除去するため、希望波成分が干渉波成分に比
べて相対的に大きくなる高ＳＩＲ領域においてＳＩＲの
バイアス誤差を補正することができる。
電力に含まれる希望波成分を補正係数を乗じた希望波電
力によって除去するため、希望波成分が干渉波成分に比
べて相対的に大きくなる高ＳＩＲ領域においてＳＩＲの
バイアス誤差を補正することができる。
【００６２】（実施の形態３）本実施の形態では、低Ｓ
ＩＲ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス
誤差の双方を補正する場合について説明する。つまり、
上記実施の形態１と上記実施の形態２とを組み合わせた
場合について説明する。図５は、本発明の実施の形態３
に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロ
ック図である。但し、図５において図３または図４と共
通する構成部分には図３または図４と同一符号を付し、
詳しい説明を省略する。
ＩＲ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス
誤差の双方を補正する場合について説明する。つまり、
上記実施の形態１と上記実施の形態２とを組み合わせた
場合について説明する。図５は、本発明の実施の形態３
に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロ
ック図である。但し、図５において図３または図４と共
通する構成部分には図３または図４と同一符号を付し、
詳しい説明を省略する。
【００６３】低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上式
（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これによ
り、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去さ
れる。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値は、ＳＩ
Ｒ算出部１０４および高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算
器１０５１に出力される。
（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これによ
り、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去さ
れる。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値は、ＳＩ
Ｒ算出部１０４および高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算
器１０５１に出力される。
【００６４】高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上式
（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これによ
り、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去さ
れる。ここで、高ＳＩＲ領域補正部１０５で除去される
希望波成分は、すでに低ＳＩＲ領域補正部１０３で干渉
波成分が除去された希望波成分となっているため、高Ｓ
ＩＲ領域補正部１０５では、上記実施の形態２に比べさ
らに精度よく高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正するこ
とができる。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値
は、ＳＩＲ算出部１０４に出力される。
（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これによ
り、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去さ
れる。ここで、高ＳＩＲ領域補正部１０５で除去される
希望波成分は、すでに低ＳＩＲ領域補正部１０３で干渉
波成分が除去された希望波成分となっているため、高Ｓ
ＩＲ領域補正部１０５では、上記実施の形態２に比べさ
らに精度よく高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正するこ
とができる。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値
は、ＳＩＲ算出部１０４に出力される。
【００６５】ＳＩＲ算出部１０４では、干渉波成分除去
後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電
力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４
からは上式（３）に従って測定されたＳＩＲが出力され
る。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高
ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方が補正された平均ＳＩ
Ｒが得られる。
後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電
力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４
からは上式（３）に従って測定されたＳＩＲが出力され
る。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高
ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方が補正された平均ＳＩ
Ｒが得られる。
【００６６】なお、上記構成では、まず低ＳＩＲ領域の
バイアス誤差を補正して、次に高ＳＩＲ領域のバイアス
誤差を補正するようにしたが、以下に示す構成にして、
まず高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正して、次に低Ｓ
ＩＲ領域のバイアス誤差を補正するようにしてもよい。
バイアス誤差を補正して、次に高ＳＩＲ領域のバイアス
誤差を補正するようにしたが、以下に示す構成にして、
まず高ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正して、次に低Ｓ
ＩＲ領域のバイアス誤差を補正するようにしてもよい。
【００６７】図６は、本発明の実施の形態３に係る希望
波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図
である。但し、図６において図５と共通する構成部分に
は図５と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図
である。但し、図６において図５と共通する構成部分に
は図５と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００６８】高ＳＩＲ領域補正部１０５では、上式
（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これによ
り、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去さ
れる。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値は、ＳＩ
Ｒ算出部１０４および低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算
器１０３１に出力される。
（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これによ
り、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去さ
れる。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値は、ＳＩ
Ｒ算出部１０４および低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算
器１０３１に出力される。
【００６９】低ＳＩＲ領域補正部１０３では、上式
（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これによ
り、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去さ
れる。ここで、低ＳＩＲ領域補正部１０３で除去される
干渉波成分は、すでに高ＳＩＲ領域補正部１０５で希望
波成分が除去された干渉波成分となっているため、低Ｓ
ＩＲ領域補正部１０３では、上記実施の形態１に比べさ
らに精度よく低ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正するこ
とができる。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値
は、ＳＩＲ算出部１０４に出力される。
（３）の分子部分に相当する演算が行われる。これによ
り、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去さ
れる。ここで、低ＳＩＲ領域補正部１０３で除去される
干渉波成分は、すでに高ＳＩＲ領域補正部１０５で希望
波成分が除去された干渉波成分となっているため、低Ｓ
ＩＲ領域補正部１０３では、上記実施の形態１に比べさ
らに精度よく低ＳＩＲ領域のバイアス誤差を補正するこ
とができる。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値
は、ＳＩＲ算出部１０４に出力される。
【００７０】ＳＩＲ算出部１０４では、干渉波成分除去
後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電
力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４
からは上式（３）に従って測定されたＳＩＲが出力され
る。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高
ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方が補正された平均ＳＩ
Ｒが得られる。
後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電
力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１０４
からは上式（３）に従って測定されたＳＩＲが出力され
る。これにより、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差および高
ＳＩＲ領域のバイアス誤差の双方が補正された平均ＳＩ
Ｒが得られる。
【００７１】このように本実施の形態によれば、低ＳＩ
Ｒ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤
差の双方を補正することができる。また、上記実施の形
態１および上記実施の形態２に比べさらに精度よくバイ
アス誤差を補正することができる。
Ｒ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤
差の双方を補正することができる。また、上記実施の形
態１および上記実施の形態２に比べさらに精度よくバイ
アス誤差を補正することができる。
【００７２】（実施の形態４）本実施の形態では、ＳＩ
Ｒの全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバ
イアス誤差を補正する場合について説明する。図７は、
本発明の実施の形態４に係る希望波対干渉波電力比測定
回路の構成を示すブロック図である。但し、図７におい
て図５と共通する構成部分には図５と同一符号を付し、
詳しい説明を省略する。
Ｒの全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバ
イアス誤差を補正する場合について説明する。図７は、
本発明の実施の形態４に係る希望波対干渉波電力比測定
回路の構成を示すブロック図である。但し、図７におい
て図５と共通する構成部分には図５と同一符号を付し、
詳しい説明を省略する。
【００７３】ＳＩＲ算出部１０４からは、上式（３）に
従って測定されたＳＩＲが出力される。つまり、低ＳＩ
Ｒ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤
差の双方が補正された平均ＳＩＲが出力される。
従って測定されたＳＩＲが出力される。つまり、低ＳＩ
Ｒ領域のバイアス誤差および高ＳＩＲ領域のバイアス誤
差の双方が補正された平均ＳＩＲが出力される。
【００７４】固定バイアス誤差補正部１０６では、ＳＩ
Ｒ算出部１０４から出力された平均ＳＩＲに、ＳＩＲの
全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差を補正す
るための補正係数ｃが乗算される。よって、固定バイア
ス誤差補正部１０６からは上式（４）に従って測定され
たＳＩＲが出力される。これにより、低ＳＩＲ領域のバ
イアス誤差、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差、およびＳＩ
Ｒの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補
正された平均ＳＩＲが得られる。
Ｒ算出部１０４から出力された平均ＳＩＲに、ＳＩＲの
全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差を補正す
るための補正係数ｃが乗算される。よって、固定バイア
ス誤差補正部１０６からは上式（４）に従って測定され
たＳＩＲが出力される。これにより、低ＳＩＲ領域のバ
イアス誤差、高ＳＩＲ領域のバイアス誤差、およびＳＩ
Ｒの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補
正された平均ＳＩＲが得られる。
【００７５】このように本実施の形態によれば、ＳＩＲ
の全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイ
アス誤差を補正することができる。
の全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイ
アス誤差を補正することができる。
【００７６】（実施の形態５）ＣＤＭＡ方式の移動体通
信システムにおいてＳＩＲを測定する場合について考え
ると、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差の大きさおよび高Ｓ
ＩＲ領域のバイアス誤差の大きさは、ＳＩＲの測定に使
用する逆拡散信号数やその逆拡散信号に含まれるシンボ
ル数、および受信アンテナ数に応じて変化する。そこ
で、まず本実施の形態では、逆拡散信号数に応じて補正
係数ａおよび補正係数ｂを決定する場合について説明す
る。図８は、本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉
波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但
し、図８において図７と共通する構成部分には図７と同
一符号を付し、詳しい説明を省略する。
信システムにおいてＳＩＲを測定する場合について考え
ると、低ＳＩＲ領域のバイアス誤差の大きさおよび高Ｓ
ＩＲ領域のバイアス誤差の大きさは、ＳＩＲの測定に使
用する逆拡散信号数やその逆拡散信号に含まれるシンボ
ル数、および受信アンテナ数に応じて変化する。そこ
で、まず本実施の形態では、逆拡散信号数に応じて補正
係数ａおよび補正係数ｂを決定する場合について説明す
る。図８は、本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉
波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但
し、図８において図７と共通する構成部分には図７と同
一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【００７７】図８に示す希望波対干渉波電力比測定回路
において、希望波電力測定部２０１は、逆拡散信号１〜
Ｍの希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区
間における平均値を算出する。算出された希望波電力の
平均値は、加算器１０３２に出力される。なお、希望波
電力の平均値の算出方法としては、逆拡散信号の各々に
ついて希望波電力の所定区間における平均値を求めた後
それらの平均値をすべて加算する方法や、逆拡散信号の
各々について測定された希望波電力を所定区間において
すべて加算した後平均する方法等を採ることができる。
において、希望波電力測定部２０１は、逆拡散信号１〜
Ｍの希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区
間における平均値を算出する。算出された希望波電力の
平均値は、加算器１０３２に出力される。なお、希望波
電力の平均値の算出方法としては、逆拡散信号の各々に
ついて希望波電力の所定区間における平均値を求めた後
それらの平均値をすべて加算する方法や、逆拡散信号の
各々について測定された希望波電力を所定区間において
すべて加算した後平均する方法等を採ることができる。
【００７８】干渉波電力測定部２０２は、逆拡散信号１
〜Ｍの干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定
区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力
の平均値は、乗算器１０３１および加算器１０５２に出
力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法として
は、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方
法を採ることができる。
〜Ｍの干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定
区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力
の平均値は、乗算器１０３１および加算器１０５２に出
力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法として
は、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方
法を採ることができる。
【００７９】低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算器１０３
３では、補正係数ａにＳＩＲの測定に使用される逆拡散
信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正係数ａ
は、乗算器１０３１に出力される。つまり、低ＳＩＲ領
域補正部１０３では、逆拡散信号数乗算後の補正係数ａ
を用いて上式（３）の分子部分に相当する演算が行われ
る。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波
成分が、逆拡散信号数分除去される。
３では、補正係数ａにＳＩＲの測定に使用される逆拡散
信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正係数ａ
は、乗算器１０３１に出力される。つまり、低ＳＩＲ領
域補正部１０３では、逆拡散信号数乗算後の補正係数ａ
を用いて上式（３）の分子部分に相当する演算が行われ
る。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波
成分が、逆拡散信号数分除去される。
【００８０】また、高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算器
１０５３では、補正係数ｂにＳＩＲの測定に使用される
逆拡散信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正
係数ｂは、乗算器１０５１に出力される。つまり、高Ｓ
ＩＲ領域補正部１０５では、逆拡散信号数乗算後の補正
係数ｂを用いて上式（３）の分母部分に相当する演算が
行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる
希望波成分が、逆拡散信号数分除去される。
１０５３では、補正係数ｂにＳＩＲの測定に使用される
逆拡散信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正
係数ｂは、乗算器１０５１に出力される。つまり、高Ｓ
ＩＲ領域補正部１０５では、逆拡散信号数乗算後の補正
係数ｂを用いて上式（３）の分母部分に相当する演算が
行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる
希望波成分が、逆拡散信号数分除去される。
【００８１】なお、補正係数ａおよび補正係数ｂに乗算
される逆拡散信号数は、ＳＩＲの測定に使用される逆拡
散信号数が予め定まっている場合には固定値とし、ま
た、ＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数が時々刻々
変化する場合にはその変化に合わせて変化させる。
される逆拡散信号数は、ＳＩＲの測定に使用される逆拡
散信号数が予め定まっている場合には固定値とし、ま
た、ＳＩＲの測定に使用される逆拡散信号数が時々刻々
変化する場合にはその変化に合わせて変化させる。
【００８２】また、ＳＩＲの測定に使用される逆拡散信
号数が時々刻々変化する場合には、所定区間で平均化し
た数を用いることも可能である。このように逆拡散信号
数を平均化することにより、受信される逆拡散信号数が
一時的に急激に変動した場合でも、補正係数ａおよび補
正係数ｂは急激に変動しないため、逆拡散信号数の一時
的な変動によりＳＩＲが大きく変動してしまうことを防
止することができる。
号数が時々刻々変化する場合には、所定区間で平均化し
た数を用いることも可能である。このように逆拡散信号
数を平均化することにより、受信される逆拡散信号数が
一時的に急激に変動した場合でも、補正係数ａおよび補
正係数ｂは急激に変動しないため、逆拡散信号数の一時
的な変動によりＳＩＲが大きく変動してしまうことを防
止することができる。
【００８３】このように本実施の形態によれば、ＳＩＲ
の測定に使用される逆拡散信号数に応じて補正係数ａお
よび補正係数ｂを決定するため、逆拡散信号数に応じて
大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正すること
ができる。
の測定に使用される逆拡散信号数に応じて補正係数ａお
よび補正係数ｂを決定するため、逆拡散信号数に応じて
大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正すること
ができる。
【００８４】なお、本実施の形態では、図９に示す構成
を採ることによりＲＡＫＥ合成後の信号を用いてＳＩＲ
を測定することも可能である。図９は、本発明の実施の
形態５に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成
を示すブロック図である。但し、図９において図８と共
通する構成部分には図８と同一符号を付し、詳しい説明
を省略する。
を採ることによりＲＡＫＥ合成後の信号を用いてＳＩＲ
を測定することも可能である。図９は、本発明の実施の
形態５に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成
を示すブロック図である。但し、図９において図８と共
通する構成部分には図８と同一符号を付し、詳しい説明
を省略する。
【００８５】図９に示す希望波対干渉波電力比測定回路
において、ＲＡＫＥ合成部３０１は、逆拡散信号１〜Ｍ
をＲＡＫＥ合成して希望波電力測定部３０２および干渉
波電力測定部３０３に出力する。希望波電力測定部３０
２は、ＲＡＫＥ合成後の信号の希望波成分の電力を測定
して、希望波電力の所定区間における平均値を算出す
る。干渉波電力測定部３０３は、ＲＡＫＥ合成後の信号
の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間
における平均値を算出する。
において、ＲＡＫＥ合成部３０１は、逆拡散信号１〜Ｍ
をＲＡＫＥ合成して希望波電力測定部３０２および干渉
波電力測定部３０３に出力する。希望波電力測定部３０
２は、ＲＡＫＥ合成後の信号の希望波成分の電力を測定
して、希望波電力の所定区間における平均値を算出す
る。干渉波電力測定部３０３は、ＲＡＫＥ合成後の信号
の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間
における平均値を算出する。
【００８６】本実施の形態に係る希望波対干渉波電力比
測定回路を図９に示す構成とすることにより、ＲＡＫＥ
合成後の信号を用いてＳＩＲを測定する場合にも、逆拡
散信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度
よく補正することができる。
測定回路を図９に示す構成とすることにより、ＲＡＫＥ
合成後の信号を用いてＳＩＲを測定する場合にも、逆拡
散信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度
よく補正することができる。
【００８７】（実施の形態６）本実施の形態では、ＳＩ
Ｒの測定に使用するシンボル数に応じて補正係数ａおよ
び補正係数ｂを決定する場合について説明する。図１０
は、本発明の実施の形態６に係る希望波対干渉波電力比
測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図１０
において図８と共通する構成部分には図８と同一符号を
付し、詳しい説明を省略する。
Ｒの測定に使用するシンボル数に応じて補正係数ａおよ
び補正係数ｂを決定する場合について説明する。図１０
は、本発明の実施の形態６に係る希望波対干渉波電力比
測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図１０
において図８と共通する構成部分には図８と同一符号を
付し、詳しい説明を省略する。
【００８８】図１０に示す希望波対干渉波電力比測定回
路において、希望波電力測定部４０１は、逆拡散信号の
希望波成分の電力をシンボル毎に測定して、希望波電力
の所定区間における平均値を算出する。算出された希望
波電力の平均値は、加算器１０３２に出力される。な
お、希望波電力の平均値の算出方法としては、各スロッ
ト内の同一箇所に位置するシンボルについて複数スロッ
ト分の平均値をそれぞれ求めた後それらの平均値をすべ
て加算する方法や、各スロット内の同一箇所に位置する
シンボルについて各々測定された希望波電力を複数スロ
ット分加算した後平均する方法等を採ることができる。
路において、希望波電力測定部４０１は、逆拡散信号の
希望波成分の電力をシンボル毎に測定して、希望波電力
の所定区間における平均値を算出する。算出された希望
波電力の平均値は、加算器１０３２に出力される。な
お、希望波電力の平均値の算出方法としては、各スロッ
ト内の同一箇所に位置するシンボルについて複数スロッ
ト分の平均値をそれぞれ求めた後それらの平均値をすべ
て加算する方法や、各スロット内の同一箇所に位置する
シンボルについて各々測定された希望波電力を複数スロ
ット分加算した後平均する方法等を採ることができる。
【００８９】干渉波電力測定部４０２は、逆拡散信号の
干渉波成分の電力をシンボル毎に測定して、干渉波電力
の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉
波電力の平均値は、乗算器１０３１および加算器１０５
２に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法
としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同
様の方法を採ることができる。
干渉波成分の電力をシンボル毎に測定して、干渉波電力
の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉
波電力の平均値は、乗算器１０３１および加算器１０５
２に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法
としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同
様の方法を採ることができる。
【００９０】低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算器１０３
３では、補正係数ａにＳＩＲの測定に使用されるシンボ
ル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数ａは、
乗算器１０３１に出力される。つまり、低ＳＩＲ領域補
正部１０３では、シンボル数乗算後の補正係数ａを用い
て上式（３）の分子部分に相当する演算が行われる。こ
れにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分
が、シンボル数分除去される。
３では、補正係数ａにＳＩＲの測定に使用されるシンボ
ル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数ａは、
乗算器１０３１に出力される。つまり、低ＳＩＲ領域補
正部１０３では、シンボル数乗算後の補正係数ａを用い
て上式（３）の分子部分に相当する演算が行われる。こ
れにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分
が、シンボル数分除去される。
【００９１】また、高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算器
１０５３では、補正係数ｂにＳＩＲの測定に使用される
シンボル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数
ｂは、乗算器１０５１に出力される。つまり、高ＳＩＲ
領域補正部１０５では、シンボル数乗算後の補正係数ｂ
を用いて上式（３）の分母部分に相当する演算が行われ
る。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波
成分が、シンボル数分除去される。
１０５３では、補正係数ｂにＳＩＲの測定に使用される
シンボル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数
ｂは、乗算器１０５１に出力される。つまり、高ＳＩＲ
領域補正部１０５では、シンボル数乗算後の補正係数ｂ
を用いて上式（３）の分母部分に相当する演算が行われ
る。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波
成分が、シンボル数分除去される。
【００９２】なお、補正係数ａおよび補正係数ｂに乗算
されるシンボル数は、ＳＩＲの測定に使用されるシンボ
ル数が予め定まっている場合には固定値とし、また、Ｓ
ＩＲの測定に使用されるシンボル数が変化する場合には
その変化に合わせて変化させる。
されるシンボル数は、ＳＩＲの測定に使用されるシンボ
ル数が予め定まっている場合には固定値とし、また、Ｓ
ＩＲの測定に使用されるシンボル数が変化する場合には
その変化に合わせて変化させる。
【００９３】このように本実施の形態によれば、ＳＩＲ
の測定に使用されるシンボル数に応じて補正係数ａおよ
び補正係数ｂを決定するため、シンボル数に応じて大き
さが変化するバイアス誤差を精度よく補正することがで
きる。
の測定に使用されるシンボル数に応じて補正係数ａおよ
び補正係数ｂを決定するため、シンボル数に応じて大き
さが変化するバイアス誤差を精度よく補正することがで
きる。
【００９４】（実施の形態７）本実施の形態では、受信
アンテナ数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定
する場合について説明する。図１１は、本発明の実施の
形態７に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示
すブロック図である。但し、図１１において図８と共通
する構成部分には図８と同一符号を付し、詳しい説明を
省略する。
アンテナ数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定
する場合について説明する。図１１は、本発明の実施の
形態７に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示
すブロック図である。但し、図１１において図８と共通
する構成部分には図８と同一符号を付し、詳しい説明を
省略する。
【００９５】図１１に示す希望波対干渉波電力比測定回
路において、希望波電力測定部５０１は、アンテナ１〜
Ｎで受信された信号の希望波成分の電力を測定して、希
望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出さ
れた希望波電力の平均値は、加算器１０３２に出力され
る。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、ア
ンテナ毎に希望波電力の所定区間における平均値を求め
た後それらの平均値をすべて加算する方法や、アンテナ
毎に測定された希望波電力を所定区間においてすべて加
算した後平均する方法等を採ることができる。
路において、希望波電力測定部５０１は、アンテナ１〜
Ｎで受信された信号の希望波成分の電力を測定して、希
望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出さ
れた希望波電力の平均値は、加算器１０３２に出力され
る。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、ア
ンテナ毎に希望波電力の所定区間における平均値を求め
た後それらの平均値をすべて加算する方法や、アンテナ
毎に測定された希望波電力を所定区間においてすべて加
算した後平均する方法等を採ることができる。
【００９６】干渉波電力測定部５０２は、アンテナ１〜
Ｎで受信された信号の干渉波成分の電力を測定して、干
渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出さ
れた干渉波電力の平均値は、乗算器１０３１および加算
器１０５２に出力される。なお、干渉波電力の平均値の
算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出
方法と同様の方法を採ることができる。
Ｎで受信された信号の干渉波成分の電力を測定して、干
渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出さ
れた干渉波電力の平均値は、乗算器１０３１および加算
器１０５２に出力される。なお、干渉波電力の平均値の
算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出
方法と同様の方法を採ることができる。
【００９７】低ＳＩＲ領域補正部１０３の乗算器１０３
３では、補正係数ａに受信アンテナ数が乗算される。受
信アンテナ数乗算後の補正係数ａは、乗算器１０３１に
出力される。つまり、低ＳＩＲ領域補正部１０３では、
受信アンテナ数乗算後の補正係数ａを用いて上式（３）
の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希
望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、受信アンテ
ナ数分除去される。
３では、補正係数ａに受信アンテナ数が乗算される。受
信アンテナ数乗算後の補正係数ａは、乗算器１０３１に
出力される。つまり、低ＳＩＲ領域補正部１０３では、
受信アンテナ数乗算後の補正係数ａを用いて上式（３）
の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希
望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、受信アンテ
ナ数分除去される。
【００９８】また、高ＳＩＲ領域補正部１０５の乗算器
１０５３では、補正係数ｂに受信アンテナ数が乗算され
る。受信アンテナ数乗算後の補正係数ｂは、乗算器１０
５１に出力される。つまり、高ＳＩＲ領域補正部１０５
では、受信アンテナ数乗算後の補正係数ｂを用いて上式
（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これによ
り、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、受信
アンテナ数分除去される。
１０５３では、補正係数ｂに受信アンテナ数が乗算され
る。受信アンテナ数乗算後の補正係数ｂは、乗算器１０
５１に出力される。つまり、高ＳＩＲ領域補正部１０５
では、受信アンテナ数乗算後の補正係数ｂを用いて上式
（３）の分母部分に相当する演算が行われる。これによ
り、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、受信
アンテナ数分除去される。
【００９９】このように本実施の形態によれば、受信ア
ンテナ数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定す
るため、受信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイ
アス誤差を精度よく補正することができる。
ンテナ数に応じて補正係数ａおよび補正係数ｂを決定す
るため、受信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイ
アス誤差を精度よく補正することができる。
【０１００】（実施の形態８）本実施形態では、長区間
（数百シンボルから数千シンボル区間程度）で平均した
バイアス誤差補正前のＳＩＲと長区間で平均したバイア
ス誤差補正後のＳＩＲとから精度の高いバイアス誤差を
算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間（数シンボル
から数十シンボル区間程度）で平均したＳＩＲのバイア
ス誤差を補正する場合について説明する。
（数百シンボルから数千シンボル区間程度）で平均した
バイアス誤差補正前のＳＩＲと長区間で平均したバイア
ス誤差補正後のＳＩＲとから精度の高いバイアス誤差を
算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間（数シンボル
から数十シンボル区間程度）で平均したＳＩＲのバイア
ス誤差を補正する場合について説明する。
【０１０１】移動体通信での送信電力制御等に使用され
るＳＩＲは、通常数シンボルから数十シンボル区間程度
の短区間での平均値が使用される。しかし、短区間で平
均された希望波電力および短区間で平均された干渉波電
力は分散が大きいため、上式（１）における分子の減算
結果および上式（２）における分母の減算結果が負にな
ることがある。このため、上記実施の形態１〜７のバイ
アス誤差補正方法では、バイアス誤差補正後の平均ＳＩ
Ｒが負の値となってしまうことがあり、ＳＩＲを算出す
ることができない場合が生じることがある。そこで本実
施の形態では、数百シンボルから数千シンボル区間程度
の長区間で平均した分散の小さいＳＩＲから精度の高い
バイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて数シ
ンボルから数十シンボル区間程度の短区間で平均したＳ
ＩＲのバイアス誤差を補正するようにした。
るＳＩＲは、通常数シンボルから数十シンボル区間程度
の短区間での平均値が使用される。しかし、短区間で平
均された希望波電力および短区間で平均された干渉波電
力は分散が大きいため、上式（１）における分子の減算
結果および上式（２）における分母の減算結果が負にな
ることがある。このため、上記実施の形態１〜７のバイ
アス誤差補正方法では、バイアス誤差補正後の平均ＳＩ
Ｒが負の値となってしまうことがあり、ＳＩＲを算出す
ることができない場合が生じることがある。そこで本実
施の形態では、数百シンボルから数千シンボル区間程度
の長区間で平均した分散の小さいＳＩＲから精度の高い
バイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて数シ
ンボルから数十シンボル区間程度の短区間で平均したＳ
ＩＲのバイアス誤差を補正するようにした。
【０１０２】図１２は、本発明の実施の形態８に係る希
望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図で
ある。但し、図１２において図７と共通する構成部分に
は図７と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図で
ある。但し、図１２において図７と共通する構成部分に
は図７と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【０１０３】図１２に示す希望波対干渉波電力比測定回
路において、短区間希望波電力測定部６０１は、受信信
号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の短区間
（数シンボルから数十シンボル区間程度）における平均
値を算出する。算出された希望波電力の短区間における
平均値は、ＳＩＲ算出部６０３および長区間平均部６０
４に出力される。
路において、短区間希望波電力測定部６０１は、受信信
号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の短区間
（数シンボルから数十シンボル区間程度）における平均
値を算出する。算出された希望波電力の短区間における
平均値は、ＳＩＲ算出部６０３および長区間平均部６０
４に出力される。
【０１０４】短区間干渉波電力測定部６０２は、受信信
号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の短区間
における平均値を算出する。算出された干渉波電力の短
区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６０３および長区
間平均部６０５に出力される。
号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の短区間
における平均値を算出する。算出された干渉波電力の短
区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６０３および長区
間平均部６０５に出力される。
【０１０５】ＳＩＲ算出部６０３は、短区間希望波電力
測定部６０１で求められた値と短区間干渉波電力測定部
６０２で求められた値との比を算出する。これにより、
バイアス誤差補正前の短区間平均ＳＩＲが算出される。
バイアス誤差補正前の短区間平均ＳＩＲは、バイアス誤
差除去部６０８に出力される。
測定部６０１で求められた値と短区間干渉波電力測定部
６０２で求められた値との比を算出する。これにより、
バイアス誤差補正前の短区間平均ＳＩＲが算出される。
バイアス誤差補正前の短区間平均ＳＩＲは、バイアス誤
差除去部６０８に出力される。
【０１０６】長区間平均部６０４は、短区間希望波電力
測定部６０１で求められた値をさらに長区間（数百シン
ボルから数千シンボル区間程度）平均する。算出された
希望波電力の長区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６
０６および加算器１０３２に出力される。
測定部６０１で求められた値をさらに長区間（数百シン
ボルから数千シンボル区間程度）平均する。算出された
希望波電力の長区間における平均値は、ＳＩＲ算出部６
０６および加算器１０３２に出力される。
【０１０７】長区間平均部６０５は、短区間干渉波電力
測定部６０２で求められた値をさらに長区間平均する。
算出された干渉波電力の長区間における平均値は、ＳＩ
Ｒ算出部６０６、乗算器１０３１および加算器１０５２
に出力される。
測定部６０２で求められた値をさらに長区間平均する。
算出された干渉波電力の長区間における平均値は、ＳＩ
Ｒ算出部６０６、乗算器１０３１および加算器１０５２
に出力される。
【０１０８】ＳＩＲ算出部６０６は、長区間平均部６０
４で求められた値と長区間平均部６０５で求められた値
との比を算出する。これにより、バイアス誤差補正前の
長区間平均ＳＩＲが算出される。バイアス誤差補正前の
長区間平均ＳＩＲは、バイアス誤差算出部６０７に出力
される。
４で求められた値と長区間平均部６０５で求められた値
との比を算出する。これにより、バイアス誤差補正前の
長区間平均ＳＩＲが算出される。バイアス誤差補正前の
長区間平均ＳＩＲは、バイアス誤差算出部６０７に出力
される。
【０１０９】低ＳＩＲ領域補正部１０３では、希望波電
力の長区間における平均値に含まれる干渉波成分が除去
される。また、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、干渉波
電力の長区間における平均値に含まれる希望波成分が除
去される。
力の長区間における平均値に含まれる干渉波成分が除去
される。また、高ＳＩＲ領域補正部１０５では、干渉波
電力の長区間における平均値に含まれる希望波成分が除
去される。
【０１１０】ＳＩＲ算出部１０４では、低ＳＩＲ領域に
おけるバイアス誤差および高ＳＩＲ領域におけるバイア
ス誤差が補正された長区間平均ＳＩＲが算出される。そ
して、固定バイアス誤差補正部１０６では、ＳＩＲの全
領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補正され
る。よって、固定バイアス誤差補正部１０６からは、す
べてのバイアス誤差が補正された長区間平均ＳＩＲが出
力される。
おけるバイアス誤差および高ＳＩＲ領域におけるバイア
ス誤差が補正された長区間平均ＳＩＲが算出される。そ
して、固定バイアス誤差補正部１０６では、ＳＩＲの全
領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補正され
る。よって、固定バイアス誤差補正部１０６からは、す
べてのバイアス誤差が補正された長区間平均ＳＩＲが出
力される。
【０１１１】バイアス誤差算出部６０７は、固定バイア
ス誤差補正部１０６から出力されたバイアス誤差補正後
の長区間平均ＳＩＲとＳＩＲ算出部６０６から出力され
たバイアス誤差補正前の長区間平均ＳＩＲとの差を算出
することにより、精度の高いバイアス誤差を算出する。
ス誤差補正部１０６から出力されたバイアス誤差補正後
の長区間平均ＳＩＲとＳＩＲ算出部６０６から出力され
たバイアス誤差補正前の長区間平均ＳＩＲとの差を算出
することにより、精度の高いバイアス誤差を算出する。
【０１１２】バイアス誤差除去部６０８は、バイアス誤
差補正前の短区間平均ＳＩＲからバイアス誤差算出部６
０７で算出されたバイアス誤差を減ずることにより短区
間平均ＳＩＲのバイアス誤差を補正する。
差補正前の短区間平均ＳＩＲからバイアス誤差算出部６
０７で算出されたバイアス誤差を減ずることにより短区
間平均ＳＩＲのバイアス誤差を補正する。
【０１１３】なお、上記説明では一例として、短区間を
数シンボルから数十シンボル区間とし、長区間を数百シ
ンボルから数千シンボル区間として説明したが、この例
に限られるものではなく、短区間が長区間よりも短い区
間でさえあれば同様に実施可能である。
数シンボルから数十シンボル区間とし、長区間を数百シ
ンボルから数千シンボル区間として説明したが、この例
に限られるものではなく、短区間が長区間よりも短い区
間でさえあれば同様に実施可能である。
【０１１４】このように本実施の形態によれば、長区間
で平均したバイアス誤差補正前のＳＩＲと長区間で平均
したバイアス誤差補正後のＳＩＲとから精度の高いバイ
アス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間で
平均したＳＩＲのバイアス誤差を補正するため、短区間
で平均するＳＩＲの測定精度を向上させることができ
る。
で平均したバイアス誤差補正前のＳＩＲと長区間で平均
したバイアス誤差補正後のＳＩＲとから精度の高いバイ
アス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間で
平均したＳＩＲのバイアス誤差を補正するため、短区間
で平均するＳＩＲの測定精度を向上させることができ
る。
【０１１５】なお、上記実施の形態１〜８は適宜組み合
わせて実施することも可能である。
わせて実施することも可能である。
【０１１６】また、上記実施の形態１〜８に係る希望波
対干渉波電力比測定回路を移動体通信システムにおいて
使用される基地局装置や、この基地局装置と無線通信を
行う通信端末装置に搭載することが可能である。搭載さ
れた場合には、基地局装置や通信端末装置が希望波対干
渉波電力比に従って行う制御（例えば、送信電力制御）
の精度を向上させることができる。
対干渉波電力比測定回路を移動体通信システムにおいて
使用される基地局装置や、この基地局装置と無線通信を
行う通信端末装置に搭載することが可能である。搭載さ
れた場合には、基地局装置や通信端末装置が希望波対干
渉波電力比に従って行う制御（例えば、送信電力制御）
の精度を向上させることができる。
【０１１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の測定精
度を向上させることができる。
バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の測定精
度を向上させることができる。
【図１】測定ＳＩＲの平均値についてのシミュレーショ
ン結果を示すグラフ
ン結果を示すグラフ
【図２】式（４）に従って測定したＳＩＲの平均値につ
いてのシミュレーション結果を示すグラフ
いてのシミュレーション結果を示すグラフ
【図３】本発明の実施の形態１に係る希望波対干渉波電
力比測定回路の構成を示すブロック図
力比測定回路の構成を示すブロック図
【図４】本発明の実施の形態２に係る希望波対干渉波電
力比測定回路の構成を示すブロック図
力比測定回路の構成を示すブロック図
【図５】本発明の実施の形態３に係る希望波対干渉波電
力比測定回路の構成を示すブロック図
力比測定回路の構成を示すブロック図
【図６】本発明の実施の形態３に係る希望波対干渉波電
力比測定回路の別の構成を示すブロック図
力比測定回路の別の構成を示すブロック図
【図７】本発明の実施の形態４に係る希望波対干渉波電
力比測定回路の構成を示すブロック図
力比測定回路の構成を示すブロック図
【図８】本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉波電
力比測定回路の構成を示すブロック図
力比測定回路の構成を示すブロック図
【図９】本発明の実施の形態５に係る希望波対干渉波電
力比測定回路の別の構成を示すブロック図
力比測定回路の別の構成を示すブロック図
【図１０】本発明の実施の形態６に係る希望波対干渉波
電力比測定回路の構成を示すブロック図
電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図１１】本発明の実施の形態７に係る希望波対干渉波
電力比測定回路の構成を示すブロック図
電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図１２】本発明の実施の形態８に係る希望波対干渉波
電力比測定回路の構成を示すブロック図
電力比測定回路の構成を示すブロック図
１０１、２０１、３０２、４０１、５０１ 希望波電力
測定部 １０２、２０２、３０３、４０２、５０２ 干渉波電力
測定部 １０３ 低ＳＩＲ領域補正部 １０４、６０３、６０６ ＳＩＲ算出部 １０５ 高ＳＩＲ領域補正部 １０６ 固定バイアス誤差補正部 ３０１ ＲＡＫＥ合成部 ６０１ 短区間希望波電力測定部 ６０２ 短区間干渉波電力測定部 ６０４、６０５ 長区間平均部 ６０７ バイアス誤差算出部 ６０８ バイアス誤差除去部
測定部 １０２、２０２、３０３、４０２、５０２ 干渉波電力
測定部 １０３ 低ＳＩＲ領域補正部 １０４、６０３、６０６ ＳＩＲ算出部 １０５ 高ＳＩＲ領域補正部 １０６ 固定バイアス誤差補正部 ３０１ ＲＡＫＥ合成部 ６０１ 短区間希望波電力測定部 ６０２ 短区間干渉波電力測定部 ６０４、６０５ 長区間平均部 ６０７ バイアス誤差算出部 ６０８ バイアス誤差除去部
【手続補正書】
【提出日】平成１３年１１月２０日（２００１．１１．
２０）
２０）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
Claims (17)
- 【請求項１】 受信信号の希望波電力を測定する第一測
定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測
定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干
渉波電力比算出手段と、補正係数を用いて前記希望波対
干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を補正する補正手
段と、を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力
比測定回路。 - 【請求項２】 補正係数は、正しい希望波対干渉波電力
比と実際に測定される希望波対干渉波電力比との差を示
す予め求められた希望波対干渉波電力比の特性図から決
定されることを特徴とする請求項１記載の希望波対干渉
波電力比測定回路。 - 【請求項３】 補正手段は、予め求められた希望波対干
渉波電力比の特性図から決定された第一補正係数を第二
測定手段で測定された干渉波電力に乗算した値を第一測
定手段で測定された希望波電力から減算して前記希望波
電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、算出
手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波
対干渉波電力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤
差を補正することを特徴とする請求項１または請求項２
記載の希望波対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項４】 補正手段は、第一補正係数を希望波成分
除去後の干渉波電力に乗算することを特徴とする請求項
３記載の希望波対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項５】 補正手段は、予め求められた希望波対干
渉波電力比の特性図から決定された第二補正係数を第一
測定手段で測定された希望波電力に乗算した値を第二測
定手段で測定された干渉波電力から減算して前記干渉波
電力に含まれる希望波成分を除去することにより、算出
手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波
対干渉波電力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤
差を補正することを特徴とする請求項１から請求項４の
いずれかに記載の希望波対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項６】 補正手段は、第二補正係数を干渉波成分
除去後の希望波電力に乗算することを特徴とする請求項
５記載の希望波対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項７】 第一補正係数および第二補正係数は、希
望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じ
て決定されることを特徴とする請求項３から請求項６の
いずれかに記載の希望波対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項８】 第一補正係数および第二補正係数は、希
望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じ
て決定されることを特徴とする請求項３から請求項６の
いずれかに記載の希望波対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項９】 第一補正係数および第二補正係数は、受
信アンテナ数に応じて決定されることを特徴とする請求
項３から請求項６のいずれかに記載の希望波対干渉波電
力比測定回路。 - 【請求項１０】 第二補正係数は、ドップラー周波数の
大きさに応じて決定されることを特徴とする請求項５ま
たは請求項６記載の希望波対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項１１】 第二補正係数は、無線通信装置間の周
波数オフセット量に応じて決定されることを特徴とする
請求項５または請求項６記載の希望波対干渉波電力比測
定回路。 - 【請求項１２】 補正手段は、算出手段で算出された希
望波対干渉波電力比に第三補正係数を乗算することによ
り自回路に固有のバイアス誤差を補正することを特徴と
する請求項１から請求項１１のいずれかに記載の希望波
対干渉波電力比測定回路。 - 【請求項１３】 第一区間において平均した第一希望波
対干渉波電力比を測定する第一測定手段と、前記第一区
間より短い第二区間において平均した第二希望波対干渉
波電力比を測定する第二測定手段と、前記第一希望波対
干渉波電力比と補正手段によりバイアス誤差が補正され
た第一希望波対干渉波電力比とから前記第一区間におい
て平均したバイアス誤差を算出するバイアス誤差算出手
段と、前記第一区間において平均したバイアス誤差を用
いて前記第二希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス
誤差を除去する除去手段と、を具備することを特徴とす
る請求項１から請求項１２のいずれかに記載の希望波対
干渉波電力比測定回路。 - 【請求項１４】 請求項１から請求項１３のいずれかに
記載の希望波対干渉波電力比測定回路を搭載することを
特徴とする基地局装置。 - 【請求項１５】 請求項１から請求項１３のいずれかに
記載の希望波対干渉波電力比測定回路を搭載することを
特徴とする通信端末装置。 - 【請求項１６】 受信信号の希望波電力を測定する第一
測定工程と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第二
測定工程と、希望波対干渉波電力比を算出する算出工程
と、補正係数を用いて前記希望波対干渉波電力比に含ま
れるバイアス誤差を補正する補正工程と、を具備するこ
とを特徴とする希望波対干渉波電力比測定方法。 - 【請求項１７】 補正係数は、正しい希望波対干渉波電
力比と実際に測定される希望波対干渉波電力比との差を
示す予め求められた希望波対干渉波電力比の特性図から
決定されることを特徴とする請求項１６記載の希望波対
干渉波電力比測定方法。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000341648A JP3559237B2 (ja) | 2000-11-09 | 2000-11-09 | 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 |
| KR1020027008806A KR20020073160A (ko) | 2000-11-09 | 2001-11-09 | 희망파 대 간섭파 전력비 측정 회로, 희망파 대 간섭파 전력비 측정 방법 및 무선 통신 장치 |
| PCT/JP2001/009817 WO2002039626A1 (fr) | 2000-11-09 | 2001-11-09 | Circuit et methode de mesure du rapport onde desiree/puissance des parasites |
| CNA2004100492483A CN1553599A (zh) | 2000-11-09 | 2001-11-09 | 有用波对干扰波功率比测定电路及其测定方法 |
| US10/169,161 US20020196879A1 (en) | 2000-11-09 | 2001-11-09 | Desired wave/interference power ratio measuring circuit and desired wave/interference power ratio measuring method |
| CNB018035116A CN1186891C (zh) | 2000-11-09 | 2001-11-09 | 有用波对干扰波功率比测定电路及有用波对干扰波功率比测定方法 |
| EP01981046A EP1239615A1 (en) | 2000-11-09 | 2001-11-09 | Desired wave/interference power ratio measuring circuit and desired wave/interference power ratio measuring method |
| AU2002212744A AU2002212744A1 (en) | 2000-11-09 | 2001-11-09 | Desired wave/interference power ratio measuring circuit and desired wave/interference power ratio measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000341648A JP3559237B2 (ja) | 2000-11-09 | 2000-11-09 | 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002152147A true JP2002152147A (ja) | 2002-05-24 |
| JP3559237B2 JP3559237B2 (ja) | 2004-08-25 |
Family
ID=18816358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000341648A Expired - Fee Related JP3559237B2 (ja) | 2000-11-09 | 2000-11-09 | 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20020196879A1 (ja) |
| EP (1) | EP1239615A1 (ja) |
| JP (1) | JP3559237B2 (ja) |
| KR (1) | KR20020073160A (ja) |
| CN (2) | CN1553599A (ja) |
| AU (1) | AU2002212744A1 (ja) |
| WO (1) | WO2002039626A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006262077A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Fujitsu Ltd | 移動局の通信環境測定方法及び移動局 |
| JP4782781B2 (ja) * | 2004-06-16 | 2011-09-28 | テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン（パブル） | 無線受信機におけるｓｉｒ推定 |
| CN114598337A (zh) * | 2020-12-03 | 2022-06-07 | 海能达通信股份有限公司 | 零中频终端的抗干扰方法、终端和存储介质 |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3588087B2 (ja) * | 2002-04-19 | 2004-11-10 | 松下電器産業株式会社 | Ｓｉｒ測定装置および方法 |
| US20040110508A1 (en) * | 2002-09-20 | 2004-06-10 | Jacobus Haartsen | Methods and electronic devices for wireless ad-hoc network communications using receiver determined channels and transmitted reference signals |
| EP2161959A1 (en) * | 2002-11-26 | 2010-03-10 | Interdigital Technology Corporation | Bias error compensated initial transmission power control for data services |
| US7149538B2 (en) * | 2003-02-13 | 2006-12-12 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Wireless transceivers, methods, and computer program products for restricting transmission power based on signal-to-interference ratios |
| US7200190B2 (en) | 2003-06-30 | 2007-04-03 | Motorola, Inc. | Unbiased signal to interference ratio in wireless communications devices and methods therefor |
| US7773950B2 (en) | 2004-06-16 | 2010-08-10 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Benign interference suppression for received signal quality estimation |
| US8503328B2 (en) | 2004-09-01 | 2013-08-06 | Qualcomm Incorporated | Methods and apparatus for transmission of configuration information in a wireless communication network |
| AU2006200651A1 (en) | 2005-02-21 | 2006-09-07 | Nec Australia Pty Ltd | Measuring signal quality |
| US7421045B2 (en) * | 2005-03-18 | 2008-09-02 | Interdigital Technology Corporation | Method and apparatus for computing SIR of time varying signals in a wireless communication system |
| US7610025B2 (en) | 2005-03-29 | 2009-10-27 | Qualcomm Incorporated | Antenna array pattern distortion mitigation |
| US7558576B2 (en) * | 2005-03-29 | 2009-07-07 | Qualcomm Incorporated | Employing frequency offset to compensate for Doppler shift |
| US20080194297A1 (en) * | 2005-07-27 | 2008-08-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Sir Determining Apparatus and Wireless Communication Apparatus |
| US8229708B2 (en) * | 2006-11-27 | 2012-07-24 | Qualcomm Incorporated | Methods and apparatus for signal and interference energy estimation in a communication system |
| US7671798B2 (en) * | 2007-02-28 | 2010-03-02 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Method and apparatus for optimal combining of noisy measurements |
| EP2156599A4 (en) * | 2007-05-24 | 2014-07-02 | Ericsson Telefon Ab L M | METHOD AND DEVICE FOR IMPROVED CHANNEL QUALITY RATIO |
| US9209858B2 (en) * | 2011-04-12 | 2015-12-08 | Alcatel Lucent | Method and apparatus for determining uplink noise power in a wireless communication system |
| US8767799B2 (en) | 2011-04-12 | 2014-07-01 | Alcatel Lucent | Method and apparatus for determining signal-to-noise ratio |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0497433B1 (en) * | 1987-06-23 | 1995-09-20 | Nec Corporation | Phase controlled demodulation system for digital communication |
| JP3131055B2 (ja) * | 1992-12-15 | 2001-01-31 | 富士通株式会社 | データ通信用モデムのタイミング位相判定装置及び方法 |
| JP3417521B2 (ja) * | 1996-06-24 | 2003-06-16 | 株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ | 受信ｓｉｒ測定方法，装置および送信電力制御装置 |
| JPH10190497A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-21 | Fujitsu Ltd | Ｓｉｒ測定装置 |
| CA2230589C (en) * | 1998-02-25 | 2004-02-10 | Wen Tong | Determining sir in a communications system |
| US6292519B1 (en) * | 1998-03-11 | 2001-09-18 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Correction of signal-to-interference ratio measurements |
| JP3589889B2 (ja) * | 1999-02-26 | 2004-11-17 | 三菱電機株式会社 | 検波信号の希望波電力対干渉波電力比測定装置およびその方法 |
-
2000
- 2000-11-09 JP JP2000341648A patent/JP3559237B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-11-09 AU AU2002212744A patent/AU2002212744A1/en not_active Abandoned
- 2001-11-09 EP EP01981046A patent/EP1239615A1/en not_active Withdrawn
- 2001-11-09 CN CNA2004100492483A patent/CN1553599A/zh active Pending
- 2001-11-09 KR KR1020027008806A patent/KR20020073160A/ko not_active Application Discontinuation
- 2001-11-09 CN CNB018035116A patent/CN1186891C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-11-09 US US10/169,161 patent/US20020196879A1/en not_active Abandoned
- 2001-11-09 WO PCT/JP2001/009817 patent/WO2002039626A1/ja not_active Application Discontinuation
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4782781B2 (ja) * | 2004-06-16 | 2011-09-28 | テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン（パブル） | 無線受信機におけるｓｉｒ推定 |
| JP2006262077A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Fujitsu Ltd | 移動局の通信環境測定方法及び移動局 |
| JP4557762B2 (ja) * | 2005-03-17 | 2010-10-06 | 富士通株式会社 | 移動局の通信環境測定方法及び移動局 |
| CN114598337A (zh) * | 2020-12-03 | 2022-06-07 | 海能达通信股份有限公司 | 零中频终端的抗干扰方法、终端和存储介质 |
| CN114598337B (zh) * | 2020-12-03 | 2023-12-12 | 海能达通信股份有限公司 | 零中频终端的抗干扰方法、终端和存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1394401A (zh) | 2003-01-29 |
| EP1239615A1 (en) | 2002-09-11 |
| WO2002039626A1 (fr) | 2002-05-16 |
| CN1186891C (zh) | 2005-01-26 |
| US20020196879A1 (en) | 2002-12-26 |
| CN1553599A (zh) | 2004-12-08 |
| AU2002212744A1 (en) | 2002-05-21 |
| JP3559237B2 (ja) | 2004-08-25 |
| KR20020073160A (ko) | 2002-09-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2002152147A (ja) | 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 | |
| JP4206090B2 (ja) | 送信機および送信方法 | |
| US10050744B2 (en) | Real-time I/Q imbalance correction for wide-band RF receiver | |
| US20090036079A1 (en) | IQ Imbalance Image Suppression in Presence of Unknown Phase Shift | |
| KR100942736B1 (ko) | 무선 통신 시스템에서의 시변 신호의 ｓｉｒ 연산 방법 및장치 | |
| JP3559030B2 (ja) | 無線受信装置及びｓｉｒ算出方法 | |
| JPH11237419A (ja) | 電波特性の測定方法及び装置 | |
| JP3308962B2 (ja) | 無線受信装置および無線受信方法 | |
| JP3237628B2 (ja) | 伝搬路特性推定器 | |
| JP3824562B2 (ja) | 受信電界強度測定装置、受信電界強度測定方法および携帯通信端末装置 | |
| JP2005167710A (ja) | 電力測定装置及び測定方法 | |
| JP2004317210A (ja) | Ｓｉｒ測定装置 | |
| JP4543289B2 (ja) | ノイズレベル測定方法および装置 | |
| US7295060B2 (en) | Characterizing amplitude and phase transfer response of amplifiers using single port measurements | |
| KR100539945B1 (ko) | 이동 통신 시스템에서 휴대용 단말기의 주파수 편차 보정장치 및 방법 | |
| JP2006005614A (ja) | 通信装置およびｓｉｒ測定方法 | |
| CN116782366A (zh) | 整数时延确定方法及装置、存储介质及电子装置 | |
| JPH1022873A (ja) | スペクトラム拡散信号のシンボルタイミング推定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040518 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040520 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |