JP3559237B2 - 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 - Google Patents

希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3559237B2
JP3559237B2 JP2000341648A JP2000341648A JP3559237B2 JP 3559237 B2 JP3559237 B2 JP 3559237B2 JP 2000341648 A JP2000341648 A JP 2000341648A JP 2000341648 A JP2000341648 A JP 2000341648A JP 3559237 B2 JP3559237 B2 JP 3559237B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interference
wave
power ratio
measuring
interference wave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000341648A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002152147A (ja
Inventor
仁 伊大知
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2000341648A priority Critical patent/JP3559237B2/ja
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to KR1020027008806A priority patent/KR20020073160A/ko
Priority to US10/169,161 priority patent/US20020196879A1/en
Priority to CNB018035116A priority patent/CN1186891C/zh
Priority to AU2002212744A priority patent/AU2002212744A1/en
Priority to CNA2004100492483A priority patent/CN1553599A/zh
Priority to EP01981046A priority patent/EP1239615A1/en
Priority to PCT/JP2001/009817 priority patent/WO2002039626A1/ja
Publication of JP2002152147A publication Critical patent/JP2002152147A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3559237B2 publication Critical patent/JP3559237B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/30Monitoring; Testing of propagation channels
    • H04B17/309Measuring or estimating channel quality parameters
    • H04B17/336Signal-to-interference ratio [SIR] or carrier-to-interference ratio [CIR]
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/20Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/21Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、希望波対干渉波電力比SIRの測定方法としては、 特開平11−237419号公報に記載されているものがある。このSIR測定方法では、まず合成前の受信信号ごとに希望波電力および干渉波電力を求めておき、次に合成方法に応じて合成後のSIRを算出するようにしている。これにより、精度の高いSIRを簡単な演算で測定することができるとされている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、本発明者が行ったシミュレーションにより、上記従来のSIR測定方法で測定したSIRには、熱雑音、希望波電力に含まれる干渉波成分および干渉波電力に含まれる希望波成分等により生じるバイアス誤差が含まれていることが判明した。つまり、上記従来のSIR測定方法では、正確なSIRを測定することができないということが判明した。
【0004】
また、バイアス誤差の大きさは、SIR測定に使用する逆拡散信号数および逆拡散信号に含まれるシンボル数等に応じて変化するため、それらの数を考慮することなくSIRを測定する上記従来のSIR測定方法では、SIRの測定誤差が逆拡散信号数やシンボル数等に応じて大きくなってしまうという問題がある。
【0005】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させることができる希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、第一補正係数を第二測定手段で測定された干渉波電力に乗算した値を、第一測定手段で測定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、を具備する構成を採る。
【0010】
この構成によれば、希望波電力に含まれる干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電力によって除去するため、干渉波成分が希望波成分に比べて相対的に大きくなる領域においてバイアス誤差を補正することができる。
【0011】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、補正手段が、第一補正係数を希望波成分除去後の干渉波電力に乗算する構成を採る。
【0012】
この構成によれば、補正手段で除去される干渉波成分は、すでに希望波成分が除去された干渉波成分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補正することができる。
【0013】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、第二補正係数を第一測定手段で測定された希望波電力に乗算した値を、第二測定手段で測定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含まれる希望波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、を具備する構成を採る。
【0014】
この構成によれば、干渉波電力に含まれる希望波成分を補正係数を乗じた希望波電力によって除去するため、希望波成分が干渉波成分に比べて相対的に大きくなる領域においてバイアス誤差を補正することができる。
【0015】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、補正手段が、第二補正係数を干渉波成分除去後の希望波電力に乗算する構成を採る。
【0016】
この構成によれば、補正手段で除去される希望波成分は、すでに干渉波成分が除去された希望波成分となっているため、さらに精度よくバイアス誤差を補正することができる。
【0017】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定される構成を採る。
【0018】
この構成によれば、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて第一補正係数および第二補正係数を決定するため、受信信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0019】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一補正係数および第二補正係数が、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定される構成を採る。
【0020】
この構成によれば、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて第一補正係数および第二補正係数を決定するため、シンボル数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0021】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一補正係数および第二補正係数が、受信アンテナ数に応じて決定される構成を採る。
【0022】
この構成によれば、受信アンテナ数に応じて第一補正係数および第二補正係数を決定するため、受信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0023】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第二補正係数が、ドップラー周波数の大きさに応じて決定される構成を採る。
【0024】
この構成によれば、ドップラー周波数の大きさに応じて第二補正係数を決定するため、ドップラー周波数の大きさに応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0025】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第二補正係数が、無線通信装置間の周波数オフセット量に応じて決定される構成を採る。
【0026】
この構成によれば、周波数オフセット量に応じて第二補正係数を決定するため、周波数オフセット量に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0027】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、補正手段が、希望波対干渉波電力比算出手段で算出された希望波対干渉波電力比に第三補正係数を乗算することにより自回路に固有のバイアス誤差を補正する構成を採る。
【0028】
この構成によれば、希望波対干渉波電力比の全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイアス誤差を補正することができる。
【0029】
本発明の希望波対干渉波電力比測定回路は、第一区間において平均した第一希望波対干渉波電力比を測定する第三測定手段と、前記第一区間より短い第二区間において平均した第二希望波対干渉波電力比を測定する第四測定手段と、前記第一希望波対干渉波電力比と補正手段によりバイアス誤差が補正された第一希望波対干渉波電力比とから前記第一区間において平均したバイアス誤差を算出するバイアス誤差算出手段と、前記第一区間において平均したバイアス誤差を用いて前記第二希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を除去する除去手段と、を具備する構成を採る。
【0030】
この構成によれば、第一区間における平均的なバイアス誤差を算出し、その平均的なバイアス誤差を用いて第一区間よりも短い第二区間で平均した希望波対干渉波電力比のバイアス誤差を補正するため、第二区間で平均した希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させることができる。
【0031】
本発明の基地局装置は、上記いずれかの希望波対干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。また、本発明の通信端末装置は、上記いずれかの希望波対干渉波電力比測定回路を搭載する構成を採る。
【0032】
これらの構成によれば、基地局装置や通信端末装置が希望波対干渉波電力比に従って行う制御(例えば、送信電力制御)の精度を向上させることができる。
【0036】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明者が行った測定SIRの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフである。すなわち、図1は、正しい希望波対干渉波電力比と実際に測定される希望波対干渉波電力比との差(つまり、バイアス誤差)を示す希望波対干渉波電力比の特性図である。なお、測定SIRの平均値を算出するにあたっては、数千シンボル区間の平均値を用いた。
【0037】
本発明者がこのシミュレーション結果を解析したところ、以下のことが判明した。
(i)SIRが比較的低い低SIR領域では、測定した希望波電力に含まれる干渉波成分の影響により、測定SIRの平均値は正しいSIRに比べて高くなる。
(ii)SIRが比較的高い高SIR領域では、測定した干渉波電力に含まれる希望波成分の影響により、測定SIRの平均値は正しいSIRに比べて低くなる。
(iii)希望波電力および干渉波電力の測定方法により、SIRの全領域に渡り各SIR測定回路に固有の固定的なバイアス誤差が存在する。
【0038】
そこで、本発明者は以下の式に従ってSIRを測定することにより、上記(i)〜(iii)に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。なお、以下の式(1)〜(4)において、’SIR’は測定SIRの平均値、’S’は測定した希望波電力の平均値、’I’は測定した干渉波電力の平均値、’a’は希望波電力の補正係数、’b’は干渉波電力の補正係数、’c’は固定バイアス誤差の補正係数である。
【0039】
まず、本発明者は、以下の式(1)に従ってSIRを測定することにより、上記(i)に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。
【数1】
Figure 0003559237
すなわち、上式(1)では、干渉波電力の平均値Iに補正係数aを乗じた値を希望波電力の平均値Sから減ずることによって、希望波電力に含まれる干渉波成分を除去している。
【0040】
次いで、本発明者は、以下の式(2)に従ってSIRを測定することにより、上記(ii)に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。
【数2】
Figure 0003559237
すなわち、上式(2)では、希望波電力の平均値Sに補正係数bを乗じた値を干渉波電力の平均値Iから減ずることによって、干渉波電力に含まれる希望波成分を除去している。
【0041】
なお、上式(1)と上式(2)とは適応領域が異なるため、以下の式(3)にまとめることができる。
【数3】
Figure 0003559237
【0042】
さらに、本発明者は、以下の式(4)に従ってSIRを測定することにより、上記(iii)に示したバイアス誤差を補正できることを見出した。
【数4】
Figure 0003559237
すなわち、上式(4)では、上記(i)および上記(ii)に示したバイアス誤差が補正されたSIRに補正係数cを乗じることによって、SIRの全領域に渡って含まれる固定的なバイアス誤差を補正している。
【0043】
ここで、CDMA(Code Division Multiple Access)方式の移動体通信システムにおいてSIRを測定する場合について考えると、補正係数aおよび補正係数bは、SIRの測定に使用する逆拡散信号数や逆拡散信号に含まれるシンボル数、および受信アンテナ数に応じて決定するようにする。また、SIRの測定に使用する逆拡散信号数や逆拡散信号に含まれるシンボル数が時々刻々変化する場合には、それらの変化に応じて補正係数aおよび補正係数bを適応的に変化させるようにする。
【0044】
図2は、上式(4)に従って測定したSIRの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフである。このグラフより、上式(4)に従ってSIRを測定することにより、SIRの全領域に渡りバイアス誤差が補正され、ほぼ正しいSIRが測定できることが判明した。なお、低SIR領域におけるバイアス誤差の補正は、上式(4)中の上式(1)に相当する部分によるものである。また、高SIR領域におけるバイアス誤差の補正は、上式(4)中の上式(2)に相当する部分によるものである。なお、図2に示したシミュレーション結果は、固定バイアス誤差補正係数c=1とした場合であるため、さらに固定バイアス誤差補正係数cを適切な値に設定すれば、全領域において測定SIRの平均値を正しいSIRにほぼ一致させることが可能である。
【0045】
以下、本発明の実施の形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【0046】
(実施の形態1)
本実施の形態では、低SIR領域のバイアス誤差を補正する場合について説明する。図3は、本発明の実施の形態1に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。
【0047】
図3に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部101は、受信信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。干渉波電力測定部102は、受信信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。
【0048】
低SIR領域補正部103は、乗算器1031と加算器1032とから構成され、低SIR領域のバイアス誤差を補正する。
【0049】
SIR算出部104は、低SIR領域補正部103で求められた値と干渉波電力測定部102で算出された値との比を算出する。
【0050】
次いで、上記構成を有する希望波対干渉波電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波電力測定部101で、希望波電力の所定区間における平均値が算出され、加算器1032に出力される。また、干渉波電力測定部102で、干渉波電力の所定区間における平均値が算出され、乗算器1031およびSIR算出部104に出力される。ここで、希望波電力測定部101から出力される希望波電力の平均値は上式(1)の’S’に相当し、干渉波電力測定部102から出力される干渉波電力の平均値は上式(1)の’I’に相当する。
【0051】
また、平均値算出時の所定区間は、SIRの使用目的に合わせて適宜設定される。例えば、SIRが移動体通信での送信電力制御等に使用される場合には数シンボルから数十シンボル区間程度に設定され、移動体通信での回線状況の把握等のために使用される場合には数百シンボルから数千シンボル区間程度に設定される。
【0052】
乗算器1031では、干渉波電力の平均値に補正係数aが乗算され、加算器1032に出力される。この補正係数aは、上式(1)の’a’に相当する。加算器1032では、希望波電力の平均値から補正係数a乗算後の干渉波電力の平均値が減算される。つまり、低SIR領域補正部103では、上式(1)の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去される。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値はSIR算出部104に出力される。
【0053】
SIR算出部104では、干渉波成分除去後の希望波電力の平均値が干渉波電力の平均値で除算される。よって、SIR算出部104からは上式(1)に従って測定されたSIRが出力される。これにより、低SIR領域のバイアス誤差が補正された平均SIRが得られる。
【0054】
このように本実施の形態によれば、希望波電力に含まれる干渉波成分を補正係数を乗じた干渉波電力によって除去するため、干渉波成分が希望波成分に比べて相対的に大きくなる低SIR領域においてSIRのバイアス誤差を補正することができる。
【0055】
(実施の形態2)
本実施の形態では、高SIR領域のバイアス誤差を補正する場合について説明する。図4は、本発明の実施の形態2に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図4において図3と共通する構成部分には図3と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0056】
図4に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、高SIR領域補正部105は、乗算器1051と加算器1052とから構成され、高SIR領域のバイアス誤差を補正する。SIR算出部104は、希望波電力測定部101で算出された値と高SIR領域補正部105で求められた値との比を算出する。
【0057】
次いで、上記構成を有する希望波対干渉波電力比測定回路の動作について説明する。まず、希望波電力測定部101で、希望波電力の所定区間における平均値が算出され、乗算器1051およびSIR算出部104に出力される。また、干渉波電力測定部102で、干渉波電力の所定区間における平均値が算出され、加算器1052に出力される。ここで、希望波電力測定部101から出力される希望波電力の平均値は上式(2)の’S’に相当し、干渉波電力測定部102から出力される干渉波電力の平均値は上式(2)の’I’に相当する。
【0058】
乗算器1051では、希望波電力の平均値に補正係数bが乗算され、加算器1052に出力される。この補正係数bは、上式(2)の’b’に相当する。加算器1052では、干渉波電力の平均値から補正係数b乗算後の希望波電力の平均値が減算される。つまり、高SIR領域補正部105では、上式(2)の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去される。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値はSIR算出部104に出力される。
【0059】
SIR算出部104では、希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算される。よって、SIR算出部104からは上式(2)に従って測定されたSIRが出力される。これにより、高SIR領域のバイアス誤差が補正された平均SIRが得られる。
【0060】
ここで、高SIR領域のバイアス誤差は、フィルタにより生じる符号間干渉成分の影響以外にも、無線通信装置間の周波数オフセットやドップラー効果の影響により生じるものと考えられるため、周波数オフセット量やドップラー周波数の大きさに応じて補正係数bを適応的に変化させるようにしてもよい。このように補正係数bを周波数オフセット量やドップラー周波数の大きさに応じて決定することにより、周波数オフセット量やドップラー周波数の大きさに応じて大きさが変化する高SIR領域のバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0061】
このように本実施の形態によれば、干渉波電力に含まれる希望波成分を補正係数を乗じた希望波電力によって除去するため、希望波成分が干渉波成分に比べて相対的に大きくなる高SIR領域においてSIRのバイアス誤差を補正することができる。
【0062】
(実施の形態3)
本実施の形態では、低SIR領域のバイアス誤差および高SIR領域のバイアス誤差の双方を補正する場合について説明する。つまり、上記実施の形態1と上記実施の形態2とを組み合わせた場合について説明する。図5は、本発明の実施の形態3に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図5において図3または図4と共通する構成部分には図3または図4と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0063】
低SIR領域補正部103では、上式(3)の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去される。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値は、SIR算出部104および高SIR領域補正部105の乗算器1051に出力される。
【0064】
高SIR領域補正部105では、上式(3)の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去される。ここで、高SIR領域補正部105で除去される希望波成分は、すでに低SIR領域補正部103で干渉波成分が除去された希望波成分となっているため、高SIR領域補正部105では、上記実施の形態2に比べさらに精度よく高SIR領域のバイアス誤差を補正することができる。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値は、SIR算出部104に出力される。
【0065】
SIR算出部104では、干渉波成分除去後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算される。よって、SIR算出部104からは上式(3)に従って測定されたSIRが出力される。これにより、低SIR領域のバイアス誤差および高SIR領域のバイアス誤差の双方が補正された平均SIRが得られる。
【0066】
なお、上記構成では、まず低SIR領域のバイアス誤差を補正して、次に高SIR領域のバイアス誤差を補正するようにしたが、以下に示す構成にして、まず高SIR領域のバイアス誤差を補正して、次に低SIR領域のバイアス誤差を補正するようにしてもよい。
【0067】
図6は、本発明の実施の形態3に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図である。但し、図6において図5と共通する構成部分には図5と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0068】
高SIR領域補正部105では、上式(3)の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が除去される。希望波成分除去後の干渉波電力の平均値は、SIR算出部104および低SIR領域補正部103の乗算器1031に出力される。
【0069】
低SIR領域補正部103では、上式(3)の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が除去される。ここで、低SIR領域補正部103で除去される干渉波成分は、すでに高SIR領域補正部105で希望波成分が除去された干渉波成分となっているため、低SIR領域補正部103では、上記実施の形態1に比べさらに精度よく低SIR領域のバイアス誤差を補正することができる。干渉波成分除去後の希望波電力の平均値は、SIR算出部104に出力される。
【0070】
SIR算出部104では、干渉波成分除去後の希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算される。よって、SIR算出部104からは上式(3)に従って測定されたSIRが出力される。これにより、低SIR領域のバイアス誤差および高SIR領域のバイアス誤差の双方が補正された平均SIRが得られる。
【0071】
このように本実施の形態によれば、低SIR領域のバイアス誤差および高SIR領域のバイアス誤差の双方を補正することができる。また、上記実施の形態1および上記実施の形態2に比べさらに精度よくバイアス誤差を補正することができる。
【0072】
(実施の形態4)
本実施の形態では、SIRの全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイアス誤差を補正する場合について説明する。図7は、本発明の実施の形態4に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図7において図5と共通する構成部分には図5と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0073】
SIR算出部104からは、上式(3)に従って測定されたSIRが出力される。つまり、低SIR領域のバイアス誤差および高SIR領域のバイアス誤差の双方が補正された平均SIRが出力される。
【0074】
固定バイアス誤差補正部106では、SIR算出部104から出力された平均SIRに、SIRの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差を補正するための補正係数cが乗算される。よって、固定バイアス誤差補正部106からは上式(4)に従って測定されたSIRが出力される。これにより、低SIR領域のバイアス誤差、高SIR領域のバイアス誤差、およびSIRの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補正された平均SIRが得られる。
【0075】
このように本実施の形態によれば、SIRの全領域に渡って存在する自回路に固有の固定的なバイアス誤差を補正することができる。
【0076】
(実施の形態5)
CDMA方式の移動体通信システムにおいてSIRを測定する場合について考えると、低SIR領域のバイアス誤差の大きさおよび高SIR領域のバイアス誤差の大きさは、SIRの測定に使用する逆拡散信号数やその逆拡散信号に含まれるシンボル数、および受信アンテナ数に応じて変化する。そこで、まず本実施の形態では、逆拡散信号数に応じて補正係数aおよび補正係数bを決定する場合について説明する。図8は、本発明の実施の形態5に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図8において図7と共通する構成部分には図7と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0077】
図8に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部201は、逆拡散信号1〜Mの希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された希望波電力の平均値は、加算器1032に出力される。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、逆拡散信号の各々について希望波電力の所定区間における平均値を求めた後それらの平均値をすべて加算する方法や、逆拡散信号の各々について測定された希望波電力を所定区間においてすべて加算した後平均する方法等を採ることができる。
【0078】
干渉波電力測定部202は、逆拡散信号1〜Mの干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の平均値は、乗算器1031および加算器1052に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方法を採ることができる。
【0079】
低SIR領域補正部103の乗算器1033では、補正係数aにSIRの測定に使用される逆拡散信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正係数aは、乗算器1031に出力される。つまり、低SIR領域補正部103では、逆拡散信号数乗算後の補正係数aを用いて上式(3)の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、逆拡散信号数分除去される。
【0080】
また、高SIR領域補正部105の乗算器1053では、補正係数bにSIRの測定に使用される逆拡散信号数が乗算される。逆拡散信号数乗算後の補正係数bは、乗算器1051に出力される。つまり、高SIR領域補正部105では、逆拡散信号数乗算後の補正係数bを用いて上式(3)の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、逆拡散信号数分除去される。
【0081】
なお、補正係数aおよび補正係数bに乗算される逆拡散信号数は、SIRの測定に使用される逆拡散信号数が予め定まっている場合には固定値とし、また、SIRの測定に使用される逆拡散信号数が時々刻々変化する場合にはその変化に合わせて変化させる。
【0082】
また、SIRの測定に使用される逆拡散信号数が時々刻々変化する場合には、所定区間で平均化した数を用いることも可能である。このように逆拡散信号数を平均化することにより、受信される逆拡散信号数が一時的に急激に変動した場合でも、補正係数aおよび補正係数bは急激に変動しないため、逆拡散信号数の一時的な変動によりSIRが大きく変動してしまうことを防止することができる。
【0083】
このように本実施の形態によれば、SIRの測定に使用される逆拡散信号数に応じて補正係数aおよび補正係数bを決定するため、逆拡散信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0084】
なお、本実施の形態では、図9に示す構成を採ることによりRAKE合成後の信号を用いてSIRを測定することも可能である。図9は、本発明の実施の形態5に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図である。但し、図9において図8と共通する構成部分には図8と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0085】
図9に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、RAKE合成部301は、逆拡散信号1〜MをRAKE合成して希望波電力測定部302および干渉波電力測定部303に出力する。希望波電力測定部302は、RAKE合成後の信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。干渉波電力測定部303は、RAKE合成後の信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。
【0086】
本実施の形態に係る希望波対干渉波電力比測定回路を図9に示す構成とすることにより、RAKE合成後の信号を用いてSIRを測定する場合にも、逆拡散信号数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0087】
(実施の形態6)
本実施の形態では、SIRの測定に使用するシンボル数に応じて補正係数aおよび補正係数bを決定する場合について説明する。図10は、本発明の実施の形態6に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図10において図8と共通する構成部分には図8と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0088】
図10に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部401は、逆拡散信号の希望波成分の電力をシンボル毎に測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された希望波電力の平均値は、加算器1032に出力される。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、各スロット内の同一箇所に位置するシンボルについて複数スロット分の平均値をそれぞれ求めた後それらの平均値をすべて加算する方法や、各スロット内の同一箇所に位置するシンボルについて各々測定された希望波電力を複数スロット分加算した後平均する方法等を採ることができる。
【0089】
干渉波電力測定部402は、逆拡散信号の干渉波成分の電力をシンボル毎に測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の平均値は、乗算器1031および加算器1052に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方法を採ることができる。
【0090】
低SIR領域補正部103の乗算器1033では、補正係数aにSIRの測定に使用されるシンボル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数aは、乗算器1031に出力される。つまり、低SIR領域補正部103では、シンボル数乗算後の補正係数aを用いて上式(3)の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、シンボル数分除去される。
【0091】
また、高SIR領域補正部105の乗算器1053では、補正係数bにSIRの測定に使用されるシンボル数が乗算される。シンボル数乗算後の補正係数bは、乗算器1051に出力される。つまり、高SIR領域補正部105では、シンボル数乗算後の補正係数bを用いて上式(3)の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、シンボル数分除去される。
【0092】
なお、補正係数aおよび補正係数bに乗算されるシンボル数は、SIRの測定に使用されるシンボル数が予め定まっている場合には固定値とし、また、SIRの測定に使用されるシンボル数が変化する場合にはその変化に合わせて変化させる。
【0093】
このように本実施の形態によれば、SIRの測定に使用されるシンボル数に応じて補正係数aおよび補正係数bを決定するため、シンボル数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0094】
(実施の形態7)
本実施の形態では、受信アンテナ数に応じて補正係数aおよび補正係数bを決定する場合について説明する。図11は、本発明の実施の形態7に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図11において図8と共通する構成部分には図8と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0095】
図11に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、希望波電力測定部501は、アンテナ1〜Nで受信された信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された希望波電力の平均値は、加算器1032に出力される。なお、希望波電力の平均値の算出方法としては、アンテナ毎に希望波電力の所定区間における平均値を求めた後それらの平均値をすべて加算する方法や、アンテナ毎に測定された希望波電力を所定区間においてすべて加算した後平均する方法等を採ることができる。
【0096】
干渉波電力測定部502は、アンテナ1〜Nで受信された信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の平均値は、乗算器1031および加算器1052に出力される。なお、干渉波電力の平均値の算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方法を採ることができる。
【0097】
低SIR領域補正部103の乗算器1033では、補正係数aに受信アンテナ数が乗算される。受信アンテナ数乗算後の補正係数aは、乗算器1031に出力される。つまり、低SIR領域補正部103では、受信アンテナ数乗算後の補正係数aを用いて上式(3)の分子部分に相当する演算が行われる。これにより、希望波電力の平均値に含まれる干渉波成分が、受信アンテナ数分除去される。
【0098】
また、高SIR領域補正部105の乗算器1053では、補正係数bに受信アンテナ数が乗算される。受信アンテナ数乗算後の補正係数bは、乗算器1051に出力される。つまり、高SIR領域補正部105では、受信アンテナ数乗算後の補正係数bを用いて上式(3)の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、受信アンテナ数分除去される。
【0099】
このように本実施の形態によれば、受信アンテナ数に応じて補正係数aおよび補正係数bを決定するため、受信アンテナ数に応じて大きさが変化するバイアス誤差を精度よく補正することができる。
【0100】
(実施の形態8)
本実施形態では、長区間(数百シンボルから数千シンボル区間程度)で平均したバイアス誤差補正前のSIRと長区間で平均したバイアス誤差補正後のSIRとから精度の高いバイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間(数シンボルから数十シンボル区間程度)で平均したSIRのバイアス誤差を補正する場合について説明する。
【0101】
移動体通信での送信電力制御等に使用されるSIRは、通常数シンボルから数十シンボル区間程度の短区間での平均値が使用される。しかし、短区間で平均された希望波電力および短区間で平均された干渉波電力は分散が大きいため、上式(1)における分子の減算結果および上式(2)における分母の減算結果が負になることがある。このため、上記実施の形態1〜7のバイアス誤差補正方法では、バイアス誤差補正後の平均SIRが負の値となってしまうことがあり、SIRを算出することができない場合が生じることがある。そこで本実施の形態では、数百シンボルから数千シンボル区間程度の長区間で平均した分散の小さいSIRから精度の高いバイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて数シンボルから数十シンボル区間程度の短区間で平均したSIRのバイアス誤差を補正するようにした。
【0102】
図12は、本発明の実施の形態8に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図である。但し、図12において図7と共通する構成部分には図7と同一符号を付し、詳しい説明を省略する。
【0103】
図12に示す希望波対干渉波電力比測定回路において、短区間希望波電力測定部601は、受信信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の短区間(数シンボルから数十シンボル区間程度)における平均値を算出する。算出された希望波電力の短区間における平均値は、SIR算出部603および長区間平均部604に出力される。
【0104】
短区間干渉波電力測定部602は、受信信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の短区間における平均値を算出する。算出された干渉波電力の短区間における平均値は、SIR算出部603および長区間平均部605に出力される。
【0105】
SIR算出部603は、短区間希望波電力測定部601で求められた値と短区間干渉波電力測定部602で求められた値との比を算出する。これにより、バイアス誤差補正前の短区間平均SIRが算出される。バイアス誤差補正前の短区間平均SIRは、バイアス誤差除去部608に出力される。
【0106】
長区間平均部604は、短区間希望波電力測定部601で求められた値をさらに長区間(数百シンボルから数千シンボル区間程度)平均する。算出された希望波電力の長区間における平均値は、SIR算出部606および加算器1032に出力される。
【0107】
長区間平均部605は、短区間干渉波電力測定部602で求められた値をさらに長区間平均する。算出された干渉波電力の長区間における平均値は、SIR算出部606、乗算器1031および加算器1052に出力される。
【0108】
SIR算出部606は、長区間平均部604で求められた値と長区間平均部605で求められた値との比を算出する。これにより、バイアス誤差補正前の長区間平均SIRが算出される。バイアス誤差補正前の長区間平均SIRは、バイアス誤差算出部607に出力される。
【0109】
低SIR領域補正部103では、希望波電力の長区間における平均値に含まれる干渉波成分が除去される。また、高SIR領域補正部105では、干渉波電力の長区間における平均値に含まれる希望波成分が除去される。
【0110】
SIR算出部104では、低SIR領域におけるバイアス誤差および高SIR領域におけるバイアス誤差が補正された長区間平均SIRが算出される。そして、固定バイアス誤差補正部106では、SIRの全領域に渡って存在する固定的なバイアス誤差が補正される。よって、固定バイアス誤差補正部106からは、すべてのバイアス誤差が補正された長区間平均SIRが出力される。
【0111】
バイアス誤差算出部607は、固定バイアス誤差補正部106から出力されたバイアス誤差補正後の長区間平均SIRとSIR算出部606から出力されたバイアス誤差補正前の長区間平均SIRとの差を算出することにより、精度の高いバイアス誤差を算出する。
【0112】
バイアス誤差除去部608は、バイアス誤差補正前の短区間平均SIRからバイアス誤差算出部607で算出されたバイアス誤差を減ずることにより短区間平均SIRのバイアス誤差を補正する。
【0113】
なお、上記説明では一例として、短区間を数シンボルから数十シンボル区間とし、長区間を数百シンボルから数千シンボル区間として説明したが、この例に限られるものではなく、短区間が長区間よりも短い区間でさえあれば同様に実施可能である。
【0114】
このように本実施の形態によれば、長区間で平均したバイアス誤差補正前のSIRと長区間で平均したバイアス誤差補正後のSIRとから精度の高いバイアス誤差を算出し、そのバイアス誤差を用いて短区間で平均したSIRのバイアス誤差を補正するため、短区間で平均するSIRの測定精度を向上させることができる。
【0115】
なお、上記実施の形態1〜8は適宜組み合わせて実施することも可能である。
【0116】
また、上記実施の形態1〜8に係る希望波対干渉波電力比測定回路を移動体通信システムにおいて使用される基地局装置や、この基地局装置と無線通信を行う通信端末装置に搭載することが可能である。搭載された場合には、基地局装置や通信端末装置が希望波対干渉波電力比に従って行う制御(例えば、送信電力制御)の精度を向上させることができる。
【0117】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】測定SIRの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフ
【図2】式(4)に従って測定したSIRの平均値についてのシミュレーション結果を示すグラフ
【図3】本発明の実施の形態1に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図4】本発明の実施の形態2に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図5】本発明の実施の形態3に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図6】本発明の実施の形態3に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図
【図7】本発明の実施の形態4に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図8】本発明の実施の形態5に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図9】本発明の実施の形態5に係る希望波対干渉波電力比測定回路の別の構成を示すブロック図
【図10】本発明の実施の形態6に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図11】本発明の実施の形態7に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【図12】本発明の実施の形態8に係る希望波対干渉波電力比測定回路の構成を示すブロック図
【符号の説明】
101、201、302、401、501 希望波電力測定部
102、202、303、402、502 干渉波電力測定部
103 低SIR領域補正部
104、603、606 SIR算出部
105 高SIR領域補正部
106 固定バイアス誤差補正部
301 RAKE合成部
601 短区間希望波電力測定部
602 短区間干渉波電力測定部
604、605 長区間平均部
607 バイアス誤差算出部
608 バイアス誤差除去部

Claims (18)

  1. 受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、
    前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、
    希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、
    第一補正係数を第二測定手段で測定された干渉波電力に乗算した値を、第一測定手段で測定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、
    を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定回路。
  2. 補正手段は、第一補正係数を希望波成分除去後の干渉波電力に乗算する、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  3. 第一補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  4. 第一補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  5. 第一補正係数は、受信アンテナ数に応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  6. 受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、
    前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、
    希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、
    第二補正係数を第一測定手段で測定された希望波電力に乗算した値を、第二測定手段で測定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含まれる希望波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出手段で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正手段と、
    を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定回路。
  7. 補正手段は、第二補正係数を干渉波成分除去後の希望波電力に乗算する、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  8. 第二補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用する受信信号数に応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  9. 第二補正係数は、希望波対干渉波電力比の測定に使用するシンボル数に応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  10. 第二補正係数は、受信アンテナ数に応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  11. 第二補正係数は、ドップラー周波数の大きさに応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  12. 第二補正係数は、無線通信装置間の周波数オフセット量に応じて決定される、
    ことを特徴とする請求項記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  13. 補正手段は、希望波対干渉波電力比算出手段で算出された希望波対干渉波電力比に第三補正係数を乗算することにより自回路に固有のバイアス誤差を補正する、
    ことを特徴とする請求項1または請求項6記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  14. 第一区間において平均した第一希望波対干渉波電力比を測定する第三測定手段と、
    前記第一区間より短い第二区間において平均した第二希望波対干渉波電力比を測定する第四測定手段と、
    前記第一希望波対干渉波電力比と、補正手段によりバイアス誤差が補正された第一希望波対干渉波電力比とから、前記第一区間において平均したバイアス誤差を算出するバイアス誤差算出手段と、
    前記第一区間において平均したバイアス誤差を用いて、前記第二希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を除去する除去手段と、
    をさらに具備することを特徴とする請求項1または請求項6記載の希望波対干渉波電力比測定回路。
  15. 請求項1から請求項14のいずれかに記載の希望波対干渉波電力比測定回路を搭載することを特徴とする基地局装置。
  16. 請求項1から請求項14のいずれかに記載の希望波対干渉波電力比測定回路を搭載することを特徴とする通信端末装置。
  17. 受信信号の希望波電力を測定する第一測定工程と、
    前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定工程と、
    希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出工程と、
    第一補正係数を第二測定工程で測定された干渉波電力に乗算した値を、第一測定工程で測定された希望波電力から減算して前記希望波電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出工程で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも高い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正工程と、
    を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定方法。
  18. 受信信号の希望波電力を測定する第一測定工程と、
    前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定工程と、
    希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出工程と、
    第二補正係数を第一測定工程で測定された希望波電力に乗算した値を、第二測定工程で測定された干渉波電力から減算して前記干渉波電力に含まれる希望波成分を除去することにより、希望波対干渉波電力比算出工程で算出される希望波対干渉波電力比が正しい希望波対干渉波電力比よりも低い値となる領域でのバイアス誤差を補正する補正工程と、
    を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定方法。
JP2000341648A 2000-11-09 2000-11-09 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法 Expired - Fee Related JP3559237B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000341648A JP3559237B2 (ja) 2000-11-09 2000-11-09 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法
US10/169,161 US20020196879A1 (en) 2000-11-09 2001-11-09 Desired wave/interference power ratio measuring circuit and desired wave/interference power ratio measuring method
CNB018035116A CN1186891C (zh) 2000-11-09 2001-11-09 有用波对干扰波功率比测定电路及有用波对干扰波功率比测定方法
AU2002212744A AU2002212744A1 (en) 2000-11-09 2001-11-09 Desired wave/interference power ratio measuring circuit and desired wave/interference power ratio measuring method
KR1020027008806A KR20020073160A (ko) 2000-11-09 2001-11-09 희망파 대 간섭파 전력비 측정 회로, 희망파 대 간섭파 전력비 측정 방법 및 무선 통신 장치
CNA2004100492483A CN1553599A (zh) 2000-11-09 2001-11-09 有用波对干扰波功率比测定电路及其测定方法
EP01981046A EP1239615A1 (en) 2000-11-09 2001-11-09 Desired wave/interference power ratio measuring circuit and desired wave/interference power ratio measuring method
PCT/JP2001/009817 WO2002039626A1 (fr) 2000-11-09 2001-11-09 Circuit et methode de mesure du rapport onde desiree/puissance des parasites

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000341648A JP3559237B2 (ja) 2000-11-09 2000-11-09 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002152147A JP2002152147A (ja) 2002-05-24
JP3559237B2 true JP3559237B2 (ja) 2004-08-25

Family

ID=18816358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000341648A Expired - Fee Related JP3559237B2 (ja) 2000-11-09 2000-11-09 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20020196879A1 (ja)
EP (1) EP1239615A1 (ja)
JP (1) JP3559237B2 (ja)
KR (1) KR20020073160A (ja)
CN (2) CN1186891C (ja)
AU (1) AU2002212744A1 (ja)
WO (1) WO2002039626A1 (ja)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3588087B2 (ja) * 2002-04-19 2004-11-10 松下電器産業株式会社 Sir測定装置および方法
US20040110508A1 (en) * 2002-09-20 2004-06-10 Jacobus Haartsen Methods and electronic devices for wireless ad-hoc network communications using receiver determined channels and transmitted reference signals
EP1570584B1 (en) * 2002-11-26 2009-08-26 Interdigital Technology Corporation Bias error compensated initial transmission power control for data services
US7149538B2 (en) * 2003-02-13 2006-12-12 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Wireless transceivers, methods, and computer program products for restricting transmission power based on signal-to-interference ratios
US7200190B2 (en) 2003-06-30 2007-04-03 Motorola, Inc. Unbiased signal to interference ratio in wireless communications devices and methods therefor
US7773950B2 (en) 2004-06-16 2010-08-10 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Benign interference suppression for received signal quality estimation
US8599972B2 (en) * 2004-06-16 2013-12-03 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) SIR estimation in a wireless receiver
US8503328B2 (en) 2004-09-01 2013-08-06 Qualcomm Incorporated Methods and apparatus for transmission of configuration information in a wireless communication network
AU2006200651A1 (en) 2005-02-21 2006-09-07 Nec Australia Pty Ltd Measuring signal quality
JP4557762B2 (ja) * 2005-03-17 2010-10-06 富士通株式会社 移動局の通信環境測定方法及び移動局
US7421045B2 (en) * 2005-03-18 2008-09-02 Interdigital Technology Corporation Method and apparatus for computing SIR of time varying signals in a wireless communication system
US7610025B2 (en) 2005-03-29 2009-10-27 Qualcomm Incorporated Antenna array pattern distortion mitigation
US7558576B2 (en) 2005-03-29 2009-07-07 Qualcomm Incorporated Employing frequency offset to compensate for Doppler shift
US20080194297A1 (en) * 2005-07-27 2008-08-14 Mitsubishi Electric Corporation Sir Determining Apparatus and Wireless Communication Apparatus
US8229708B2 (en) * 2006-11-27 2012-07-24 Qualcomm Incorporated Methods and apparatus for signal and interference energy estimation in a communication system
US7671798B2 (en) * 2007-02-28 2010-03-02 Alcatel-Lucent Usa Inc. Method and apparatus for optimal combining of noisy measurements
WO2008143566A1 (en) * 2007-05-24 2008-11-27 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) A method and a device for improved channel quality reporting
US9209858B2 (en) * 2011-04-12 2015-12-08 Alcatel Lucent Method and apparatus for determining uplink noise power in a wireless communication system
US8767799B2 (en) 2011-04-12 2014-07-01 Alcatel Lucent Method and apparatus for determining signal-to-noise ratio
CN114598337B (zh) * 2020-12-03 2023-12-12 海能达通信股份有限公司 零中频终端的抗干扰方法、终端和存储介质

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1332450C (en) * 1987-06-23 1994-10-11 Shousei Yoshida Carrier-to-noise detector for digital transmission systems
JP3131055B2 (ja) * 1992-12-15 2001-01-31 富士通株式会社 データ通信用モデムのタイミング位相判定装置及び方法
JP3417521B2 (ja) * 1996-06-24 2003-06-16 株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ 受信sir測定方法,装置および送信電力制御装置
JPH10190497A (ja) * 1996-12-27 1998-07-21 Fujitsu Ltd Sir測定装置
CA2230589C (en) * 1998-02-25 2004-02-10 Wen Tong Determining sir in a communications system
US6292519B1 (en) * 1998-03-11 2001-09-18 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Correction of signal-to-interference ratio measurements
JP3589889B2 (ja) * 1999-02-26 2004-11-17 三菱電機株式会社 検波信号の希望波電力対干渉波電力比測定装置およびその方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1553599A (zh) 2004-12-08
US20020196879A1 (en) 2002-12-26
AU2002212744A1 (en) 2002-05-21
CN1394401A (zh) 2003-01-29
EP1239615A1 (en) 2002-09-11
KR20020073160A (ko) 2002-09-19
CN1186891C (zh) 2005-01-26
WO2002039626A1 (fr) 2002-05-16
JP2002152147A (ja) 2002-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3559237B2 (ja) 希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法
JP4206090B2 (ja) 送信機および送信方法
CN101002418B (zh) 补偿噪声估计处理中接收机频率误差的方法和设备
JP5361927B2 (ja) 無線受信装置
US10050744B2 (en) Real-time I/Q imbalance correction for wide-band RF receiver
US20090036079A1 (en) IQ Imbalance Image Suppression in Presence of Unknown Phase Shift
KR100942736B1 (ko) 무선 통신 시스템에서의 시변 신호의 sir 연산 방법 및장치
JP3559030B2 (ja) 無線受信装置及びsir算出方法
JP3308962B2 (ja) 無線受信装置および無線受信方法
JP3237628B2 (ja) 伝搬路特性推定器
JP3824562B2 (ja) 受信電界強度測定装置、受信電界強度測定方法および携帯通信端末装置
US20050069065A1 (en) Device and method for measuring a received signal power in a mobile communication system
JP4814759B2 (ja) 回線品質測定装置、基地局および端末
JP2005167710A (ja) 電力測定装置及び測定方法
JP2004317210A (ja) Sir測定装置
JP4543289B2 (ja) ノイズレベル測定方法および装置
TWI627836B (zh) 載波頻率偏移追蹤電路及方法
JP2006005614A (ja) 通信装置およびsir測定方法
JP2002325053A (ja) 初期同期装置および方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040518

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040520

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees