JP2004317210A

JP2004317210A - Ｓｉｒ測定装置

Info

Publication number: JP2004317210A
Application number: JP2003109519A
Authority: JP
Inventors: Takashi Iwai; 敬岩井; Daisuke Yamada; 大輔山田
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2003-04-14
Filing date: 2003-04-14
Publication date: 2004-11-11

Abstract

【課題】受信信号におけるコード多重されたチャネルの信号電力比によりバイアス誤差が生じた状況においても、前記バイアス誤差を補正して希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲの測定精度を向上させること。
【解決手段】受信信号から希望波電力測定部１１０により測定された希望波電力と、干渉波電力測定部１２０により測定された干渉波電力とを用いて、ＳＩＲ測定部１４０は、希望波電力対干渉波電力比を算出する。この希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を、ＳＩＲ測定部１４０が希望波電力対干渉波電力比を算出する前に、受信信号に含まれるコード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて補正する。
【選択図】図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＳＩＲ（希望波対干渉波電力比）測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＳＩＲ（希望波対干渉波電力比）の測定装置として、合成前の受信信号ごとに希望波電力および干渉波電力を求めておき、次に所定の合成方法に応じて合成後のＳＩＲを算出する測定装置がある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
この測定装置によれば、精度の高いＳＩＲを簡単な演算で測定できるとされているが、測定されたＳＩＲには、熱雑音、希望波電力に含まれる干渉波成分、および干渉波電力に含まれる希望波成分等により生じるバイアス誤差が含まれていることがわかっている。このため、特許文献１のＳＩＲ測定装置では、バイアス誤差の影響によりＳＩＲの測定誤差が生じ、正確なＳＩＲとして測定することができない。
【０００４】
上記バイアス誤差によるＳＩＲの測定誤差を解消するためのＳＩＲ測定装置として、例えば、特許文献２に示すものがある。
【０００５】
特許文献２のＳＩＲ測定装置では、上記バイアス誤差の大きさは、ＳＩＲ測定に使用する逆拡散信号数および逆拡散信号に含まれるシンボル数等に応じて変化するものであるため、ＳＩＲ測定に使用する受信信号、シンボル数、受信アンテナ数、ドップラー周波数、周波数オフセット量に応じて前記バイアス誤差を補正することで高精度なＳＩＲ測定を可能としている。
【０００６】
【特許文献１】
特開平１１−２３７４１９号公報
【特許文献２】
特開２００２−１５２１４７号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、本発明者が、上記特許文献２のＳＩＲ測定装置をＷ−ＣＤＭＡ方式の通信装置に適用してシミュレーションを行った結果、受信信号が上り回線の個別物理チャネルＤＰＣＨ（ＤｅｄｉｃａｔｅｄＰｈｙｓｉｃａｌＣｈａｎｎｅｌ）のように、ＳＩＲ測定に用いられる制御用チャネルＤＰＣＣＨ（ＤｅｄｉｃａｔｅｄＰｈｙｓｉｃａｌＣｏｎｔｒｏｌＣｈａｎｎｅｌ）にデータチャネルＤＰＤＣＨ（ＤｅｄｉｃａｔｅｄＰｈｙｓｉｃａｌＤａｔｅＣｈａｎｎｅｌ）がコード多重され、かつ測定されるＳＩＲ値が比較的高い高ＳＩＲ領域で測定される場合、コード多重されるチャネルの送信電力比（ＤＰＣＣＨ送信電力対ＤＰＤＣＨ送信電力比：以下「ゲインファクタ（ＧＦ）」という）により、ＳＩＲ測定精度に若干の誤差が生じる場合があることが判明した。
【０００８】
図５は、上記特許文献２のＳＩＲ測定装置を用いた測定ＳＩＲの平均値についてのシミュレーションの結果を示すグラフである。図５では、測定ＳＩＲの平均値を「測定ＳＩＲ」、実際に測定されたＳＩＲを「入力ＳＩＲ」とし、正しいＳＩＲ（期待値：図中の曲線ｓ１参照）に対する測定されたＳＩＲのうちゲインファクタが大きい場合（ＧＦ＝１．０：図中の曲線ｓ３参照）と、ゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３：図中の曲線ｓ２参照）の値をそれぞれ示す。なお、測定ＳＩＲの平均値を算出にあたり、数千シンボル区間の平均値を用いた。
【０００９】
図５に示すように、ＳＩＲが比較的高い高ＳＩＲ領域（３０ｄＢ近傍）では、ゲインファクタが大きい場合（ＧＦ＝１．０）と、ゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３）とではＳＩＲ測定精度が異なっている。これは、実際に測定されるＳＩＲが比較的高い高ＳＩＲ領域で測定される場合において、ゲインファクタが大きい場合（ＧＦ＝１．０）には、実際に測定されるＳＩＲ（図中の曲線ｓ３参照）が正しいＳＩＲ（期待値：図中の曲線ｓ１参照）とほぼ等しい値であるのに対し、ゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３）には、実際に測定されるＳＩＲ（図中の曲線ｓ２参照）と、正しいＳＩＲ値（期待値：図中の曲線ｓ１参照）との差、つまりＳＩＲの測定誤差（バイアス誤差）が大きくなっているためである。
【００１０】
このバイアス誤差が生じる理由としては、送信側および受信側の装置でそれぞれ用いられるフィルタの特性の違いが挙げられる。つまり、送信側と受信側とでフィルタの特性が異なる場合、受信されるＤＰＣＣＨとＤＰＤＣＨとが完全に直交しなくなり、測定の際にＤＰＤＣＨ成分がＤＰＣＣＨ成分に回り込むことでＩＳＣＰ測定値が高めに測定されることが挙げられる。
【００１１】
特に、ゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３）、言い換えればＤＰＤＣＨ送信電力比が大きい場合の方が、ゲインファクタが大きい場合（ＧＦ＝１．０）と比べて、ＤＰＣＣＨに含まれるＤＰＤＣＨ成分が大きくなる。このため、ゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３）の方が、測定されるＩＳＣＰ値が高くなることからＳＩＲ測定誤差が大きくなっている。
【００１２】
図６および図７にそれぞれ、ゲインファクタが小さく（ＧＦ＝０．３３３３）、かつ、送信側と受信側のフィルタに特性差がある場合のシミュレーションの結果を示す。図６は特性差がある場合の正しいＳＩＲと実際に測定されるＳＩＲを示すグラフであり、特性差ありで測定されたＳＩＲを曲線ｓ５、特性差なしで測定されたＳＩＲを曲線ｓ６、正しいＳＩＲ値を期待値として曲線ｓ４で示す。また、図７は特性差がある場合のＳＩＲを算出するために必要な希望波電力（ＲＳＣＰ）のレベルと干渉波電力（ＩＳＣＰ）レベルを示すグラフであり、特性差ありで測定されたＲＳＣＰを曲線ｒ１、特性差なしで測定されたＲＳＣＰを曲線ｒ２、特性差ありで測定されたＩＳＣＰを曲線ｉ１、特性差なしで測定されたＩＳＣＰを曲線ｉ２で示す。
【００１３】
これら図６および図７に示すように、ゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３）に実際に測定されるＳＩＲは、送信側と受信側とでフィルタの特性に差がある場合、高ＳＩＲ領域ではＩＳＣＰ誤差が大きく、ＳＩＲ測定精度は若干ではあるが劣化する。
【００１４】
このように、上記特許文献２では、高精度なＳＩＲ測定を可能としているものの、特定の条件、すなわち、送信側と受信側とで異なる特性のフィルタを用いた通信システムに適用して、コード多重されたチャネルを含む受信信号からＳＩＲを測定する際に、ゲインファクタにより高ＳＩＲ領域にてバイアス誤差が生じ、若干ＳＩＲの測定精度が劣化する場合があった。
【００１５】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、受信信号におけるコード多重されたチャネルの信号電力比（ゲインファクタ）によりバイアス誤差が生じうる状況においても、希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲの測定精度を向上させることができるＳＩＲ測定装置を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
（１）本発明のＳＩＲ測定装置は、コード多重されたチャネルを含む受信信号から希望波対干渉波電力比を測定するＳＩＲ測定装置において、前記コード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて、前記希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を補正する補正手段を有する構成を採る。
【００１７】
この構成によれば、コード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて希望波電力対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を補正するため、コード多重されたチャネルの信号電力比によりバイアス誤差が生じうる状況においても、コード多重されたチャネルの信号電力比の大きさにかかわらず、希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲに含まれるバイアス誤差を補正することができ、希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲの測定精度を向上させることができる。
【００１８】
（２）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記の構成において、前記受信信号の希望波電力を測定する希望波電力測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する干渉波電力測定手段と、前記希望波電力測定手段により測定された希望波電力および前記干渉波電力測定手段により測定された干渉波電力を用いて前記希望波対干渉波電力比を算出するＳＩＲ算出手段と、を有し、前記補正手段は、前記コード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて、前記希望波電力対干渉波電力比の算出に用いられる前記干渉波電力のバイアス誤差を補正する構成を採る。
【００１９】
この構成によれば、希望波電力対干渉波電力比が比較的高い値として測定される場合に影響を与える干渉波電力に含まれるバイアス誤差を、コード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて補正するため、希望波電力対干渉波電力比が比較的高い値として測定されても、バイアス誤差となるコード多重されたチャネルの信号電力比の大きさにかかわらず、バイアス誤差を補正して希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲの測定精度を向上させることができる。
【００２０】
（３）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記の構成において、前記補正手段は、前記干渉波電力（Ｉ）と、前記希望波電力（Ｓ）と、前記コード多重されたチャネルの信号電力比（ＧＦ）と、前記希望波対干渉波電力比に含まれる前記バイアス誤差の補正範囲を決める補正係数（Ａ）とを用い、下記の（式１）に基づいて、
Ｉ−Ａ＊（１／ＧＦ）＊Ｓ …（式１）
但し、補正係数Ａは、少なくともＡ＜Ｓ／（ＧＦ＊Ｉ）を満たす数
前記干渉波電力に含まれるバイアス誤差を補正する構成を採る。
【００２１】
この構成によれば、（式１）に基づいて、干渉波電力に含まれるバイアス誤差を補正するため、希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲが比較的高い値として測定される場合でも、バイアス誤差となるコード多重されたチャネルの信号電力比の大きさにかかわらず、バイアス誤差を補正して希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲの測定精度を向上させることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
本発明の骨子は、受信信号におけるコード多重されたチャネルの信号電力比（ゲインファクタ）によりバイアス誤差が生じうる状況においても、前記コード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて前記バイアス誤差を補正して希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲの測定精度を向上させることである。
【００２３】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００２４】
図１は、本発明の一実施の形態に係るＳＩＲ（希望波対干渉波電力比）測定装置の構成を示すブロック図である。
【００２５】
図１に示すＳＩＲ測定装置１００は、希望波電力測定部１１０、干渉波電力測定部１２０、補正部１３０、およびＳＩＲ算出部１４０を有する。
【００２６】
希望波電力測定部１１０は、受信信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出する。
【００２７】
干渉波電力測定部１２０は、受信信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する。
【００２８】
補正部１３０は、乗算器１３１、１３２と加算器１３３とから構成され、ＳＩＲ領域のバイアス誤差となる干渉波電力値のバイアス誤差を補正する。
【００２９】
詳細には、補正部１３０では、希望波電力をＳ、干渉波電力をＩ、ゲインファクタをＧＦ、バイアス誤差の補正を適用するＳＩＲ領域を設定するための補正係数をＡとし、下記の（式１）を用いてバイアス誤差が補正された干渉波電力値を算出する。
Ｉ−Ａ＊（１／ＧＦ）＊Ｓ …（式１）
但し、少なくともＡ＜Ｓ／（ＧＦ＊Ｉ）の関係が成り立つものとする。これは、Ｓ＞Ａ＊ＧＦ＊Ｉの関係が成り立つようなＳＩＲ領域では補正はほとんど効かなくなるためである。
【００３０】
ＳＩＲ算出部１４０は、希望波電力測定部１１０で算出された値と補正部１３０で求められた値との比を算出する。
【００３１】
次いで、上記構成を有するＳＩＲ測定装置の動作について説明する。
【００３２】
まず、希望波電力測定部１１０で、希望波電力の所定区間における平均値を算出し、乗算器１３２およびＳＩＲ算出部１４０する。また、干渉波電力測定部１２０で、干渉波電力の所定区間における平均値を算出し、加算器１３３に出力する。なお、希望波電力測定部１１０から出力される希望波電力の平均値は上記（式１）におけるＳに相当し、干渉波電力測定部１２０から出力される干渉波電力の平均値は上記（式１）におけるＩに相当する。
【００３３】
ここで、上記平均値算出時の所定区間は、ＳＩＲの使用目的に合わせて適宜設定される。例えば、ＳＩＲが移動体通信での送信電力制御等に使用される場合には数シンボルから数十シンボル区間程度に設定され、移動体通信での回線状況の把握等のために使用される場合には数百シンボルから数千シンボル区間程度に設定される。
【００３４】
そして、補正部１３０の乗算器１３１では、補正係数Ａに受信信号に含まれる多重化されたチャネルの信号電力比（ゲインファクタ）の逆数が乗算される。これら補正係数およびゲインファクタは、上記（式１）におけるＡ、ＧＦにそれぞれ相当する。なお、ＧＦが小さいほど干渉波電力の測定値を大きく補正するようにする。
【００３５】
そして、乗算器１３１にて乗算されたゲインファクタ逆数の乗算後の補正係数Ａは、乗算器１３２に出力され、乗算器１３２にて希望波電力の平均値に乗算され、加算器１３３に出力される。
【００３６】
次いで、加算器１３３では、干渉波電力の平均値から、ゲインファクタおよび補正係数Ａ乗算後の希望波電力の平均値が減算される。つまり、補正部１３０では、上記（式１）の分母部分に相当する演算が行われる。これにより、干渉波電力の平均値に含まれる希望波成分が、逆拡散信号数分除去される。
【００３７】
そして、加算器１３３にて、算出された希望波成分除去後の干渉波電力の平均値はＳＩＲ算出部１４０に出力される。
【００３８】
ＳＩＲ算出部１４０では、希望波電力の平均値が希望波成分除去後の干渉波電力の平均値で除算される。よって、ＳＩＲ算出部１４０からは下記の（式２）に従って測定されたバイアス誤差補正後のＳＩＲが出力される。
ＳＩＲ＝Ｓ／（Ｉ−Ａ＊（１／ＧＦ）＊Ｓ） …（式２）
ＳＩＲ：バイアス誤差補正後ＳＩＲ
【００３９】
これにより、ゲインファクタに基づいてバイアス誤差が補正されたＳＩＲを得ることができる。
【００４０】
次に、上記実施の形態ＳＩＲ測定装置１００を用いて測定したＳＩＲのシミュレーションの結果を図２〜図４に示す。
【００４１】
図２に示すシミュレーションは、ゲインファクタＧＦが０．３３３３と１．０の各場合について、係数Ａを０．０００１１として行った。なお、図２中、ＧＦ＝０．３３３３、ＧＦ＝１．０として測定されたＳＩＲをそれぞれ曲線ｓ２、ｓ３で示し、ＧＦ＝０．３３３３、ＧＦ＝１．０として本実施の形態のＳＩＲ測定装置１００によりバイアス誤差補正後に測定されたＳＩＲをそれぞれ曲線ｓ４、ｓ５で示す。
【００４２】
図２に示すように、高ＳＩＲ領域において、ゲインファクタが大きい場合（ＧＦ＝１．０）に実際に算出されたＳＩＲおよびゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３）に実際に算出されたＳＩＲは、共に補正後の結果では、正しいＳＩＲ（期待値）に対する誤差が小さくなっている。
【００４３】
図３に、送信側と受信側のフィルタ特性が異なり、かつ高ＳＩＲ領域にて算出されたＳＩＲのシミュレーションの結果を示した。図３に示すシミュレーションは、測定したＳＩＲを、高ＳＩＲ領域においてバイアス誤差が大きくなるゲインファクタが小さい場合（ＧＦ＝０．３３３３）のＳＩＲとし、係数Ａを０．０００１１として行った。なお、ゲインファクタが大きい場合（例えばＧＦ＝１．０）のＳＩＲは、送信側と受信側とのフィルタに特性差があり、かつ高ＳＩＲ領域で算出されてもバイアス誤差はほとんど生じない。このため説明は省略する。
【００４４】
また、図３では、フィルタ特性差ありのＳＩＲ値を曲線ｓ５で示し、フィルタ特性差なしのＳＩＲ値を曲線ｓ６、正しいＳＩＲ値を期待値として曲線ｓ４で示し、さらに、フィルタ特性差ありでバイアス誤差補正後のＳＩＲ値を曲線ｓ７で示した。
【００４５】
図３に示すように、送信側および受信側のフィルタの特性が異なる場合でも、ＳＩＲ測定装置１００によりバイアス誤差が補正されたＳＩＲ（図中「ＳＩＲ（特性差あり＿補正後）」で示す曲線ｓ７参照）は、高ＳＩＲ領域では、「特性差なし」のＳＩＲ（図中の曲線ｓ６参照）より、「特性差あり」のＳＩＲ（図中の曲線ｓ５参照）側にシフトされ、正しいＳＩＲ（期待値：図中の曲線ｓ４参照）により近づいた状態となっている。
【００４６】
図４には、図３で示すＳＩＲを算出するための希望波電力（ＲＳＣＰ：希望波レベル）と、バイアス誤差補正が行われた干渉波電力（ＩＳＣＰ：干渉波レベル）についてのシミュレーションの結果を示した。図４に示すシミュレーションでは、ゲインファクタを０．３３３３、係数Ａを０．０００１１として行った。なお、図４では、フィルタ特性差ありのＲＳＣＰ（希望波レベル）、ＩＳＣＰ（干渉波レベル）をそれぞれ曲線ｒ１、ｉ１、フィルタ特性差なしのＲＳＣＰ、ＩＳＣＰをそれぞれ曲線ｒ２、ｉ２で示し、本ＳＩＲ測定装置により測定されたＳＩＲ、つまり、フィルタ特性差ありでかつバイアス誤差補正後のＩＳＣＰを曲線ｉ３で示した。
【００４７】
図４に示すように、高ＳＩＲ領域において測定されるＲＳＣＰは、送信側および受信側のフィルタの特性差の有無に関係なくほぼ同じ値である。また、ＩＳＣＰは送信側および受信側のフィルタの特性差により誤差が生じているが、ＳＩＲ測定装置１００により補正されたＩＳＣＰ（図中の「特性差あり＿補正後」のＩＳＣＰを示す曲線ｉ３参照）は、フィルタ特性差があり補正されていないＩＳＣＰ（図中の「特性差あり」のＩＳＣＰを示す曲線ｉ１参照）より低い値となり、送信側と受信側とでフィルタの特性差のないＩＳＣＰ（図中の「特性差なし」のＩＳＣＰを示す曲線ｉ２参照）により近づいた状態となっている。
【００４８】
このように本実施の形態のＳＩＲ測定装置１００によれば、シミュレーション結果からも明らかなように、送信側と受信側とで用いられるフィルタの特性が異なり、測定されるＳＩＲがＩＳＣＰに含まれるＲＳＣＰ成分（バイアス誤差）の影響を受けやすい高ＳＩＲ領域で測定されるものであっても、ＩＳＣＰに含まれるＲＳＣＰ成分（バイアス誤差）を補正係数ＡおよびゲインファクタＧＦを乗じたＲＳＣＰによって除去するため、実際に測定されるＩＳＣＰを補正して、フィルタ特性差なしのＩＳＣＰ値に近づけることができ、正確なＳＩＲを測定することができる。
【００４９】
つまり、測定されるＳＩＲにゲインファクタによるバイアス誤差が含まれる状態となっても、ゲインファクタの大きさにかかわらず、バイアス誤差を補正してＳＩＲの測定精度をより向上させることができる。
【００５０】
なお、本実施の形態のＳＩＲ測定装置１００をＣＤＭＡ方式の移動体通信装置に適用して、希望波電力測定部１１０や干渉波電力測定部１２０に逆拡散信号が入力される構成としてもよい。
【００５１】
この場合、希望波電力測定部１１０は、入力される逆拡散信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出し、その平均値を乗算器１３２に算出するものとする。その際の希望波電力の平均値の算出方法としては、逆拡散信号の各々について希望波電力の所定区間における平均値を求めた後それらの平均値をすべて加算する方法や、逆拡散信号の各々について測定された希望波電力を所定区間においてすべて加算した後平均する方法等を採ることができる。
【００５２】
一方、干渉波電力測定部１２０は、逆拡散信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出し、加算器１３３に出力する構成とする。なお、干渉波電力の平均値の算出方法としては、上述した希望波電力の平均値の算出方法と同様の方法を採ることができる。
【００５３】
また、ＳＩＲ測定装置１００におけるＳＩＲの測定を、ＲＡＫＥ合成後の信号を用いて行うものとしてもよい。この場合の構成の一例としては、例えば、ＳＩＲ測定装置１００に、ＲＡＫＥ合成部をさらに設け、逆拡散信号をＲＡＫＥ合成して希望波電力測定部１１０および干渉波電力測定部１２０に出力する構成にすることが挙げられる。この構成の場合、希望波電力測定部１１０は、ＲＡＫＥ合成後の信号の希望波成分の電力を測定して、希望波電力の所定区間における平均値を算出し、干渉波電力測定部１２０は、ＲＡＫＥ合成後の信号の干渉波成分の電力を測定して、干渉波電力の所定区間における平均値を算出する構成にするとよい。
【００５４】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、受信信号におけるコード多重されたチャネルの信号電力比（ゲインファクタ）によりバイアス誤差が生じうる状況においても、希望波電力対干渉波電力比ＳＩＲの測定精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係るＳＩＲ測定装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の一実施の形態に係るＳＩＲ測定装置により測定されたＳＩＲを示す図
【図３】送信側と受信側のフィルタに特性差がある場合と無い場合に測定されたゲインファクタが小さいＳＩＲを示す図
【図４】送信側と受信側のフィルタに特性差がある場合と無い場合の、ＳＩＲを算出するために必要な希望波電力レベル（ＲＳＣＰ）と干渉波電力レベル（ＩＳＣＰ）を示す図
【図５】従来の測定装置により測定されたＳＩＲを示す図
【図６】送信側と受信側のフィルタに特性差がある場合と無い場合の、正しいＳＩＲと実際に測定されるＳＩＲとの差を示す図
【図７】送信側と受信側のフィルタに特性差がある場合と無い場合の、ＳＩＲを算出するために必要な希望波電力レベル（ＲＳＣＰ）と干渉波電力レベル（ＩＳＣＰ）を示す図
【符号の説明】
１００ＳＩＲ測定装置
１１０希望波電力測定部
１２０干渉波電力測定部
１３０補正部
１４０ＳＩＲ算出部

Claims

コード多重されたチャネルを含む受信信号から希望波対干渉波電力比を測定するＳＩＲ測定装置において、
前記コード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて、前記希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を補正する補正手段を有することを特徴とするＳＩＲ測定装置。
前記受信信号の希望波電力を測定する希望波電力測定手段と、
前記受信信号の干渉波電力を測定する干渉波電力測定手段と、
前記希望波電力測定手段により測定された希望波電力および前記干渉波電力測定手段により測定された干渉波電力を用いて前記希望波対干渉波電力比を算出するＳＩＲ算出手段と、を有し、
前記補正手段は、前記コード多重されたチャネルの信号電力比に基づいて、前記希望波電力対干渉波電力比の算出に用いられる前記干渉波電力のバイアス誤差を補正する、
ことを特徴とする請求項１記載のＳＩＲ測定装置。
前記補正手段は、
前記干渉波電力（Ｉ）と、前記希望波電力（Ｓ）と、前記コード多重されたチャネルの信号電力比（ＧＦ）と、前記希望波対干渉波電力比に含まれる前記バイアス誤差の補正範囲を決める補正係数（Ａ）とを用い、下記の（式１）に基づいて、
Ｉ−Ａ＊（１／ＧＦ）＊Ｓ …（式１）
但し、補正係数Ａは、少なくともＡ＜Ｓ／（ＧＦ＊Ｉ）を満たす数
前記干渉波電力に含まれるバイアス誤差を補正する、
ことを特徴とする請求項２記載のＳＩＲ測定装置。