CN117232833A - 测试进程的设定方法和操纵装置的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明的一个方面提供一种测试装置，其包括：输入侧驱动部，其能够对作为被测试体的操纵装置的转向轴进行旋转驱动；和控制部，其控制所述输入侧驱动部，按照规定的测试波形对所述转向轴进行旋转驱动，所述控制部构成为，当所述转向轴的角度位置到达作为该转向轴的可动范围的末端的触端位置时，能够执行使该转向轴的旋转方向立刻反转的反转控制，所述反转控制包括跳跃处理，其在所述转向轴的角度位置到达所述触端位置时，跳到预计成为与此时刻相同程度的转矩的下一个控制点。

Description

测试进程的设定方法和操纵装置的测试方法

本申请是专利申请号为CN201980064031.4、原申请日为2019年9月25日的发明名称为“测试装置、测试进程的设定方法和操纵装置的测试方法”的申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及测试装置。

背景技术

例如专利文献1(日本特开2015-219115号公报)中记载了，已知有进行车辆的操纵装置(转向操纵装置)的耐用性等的测试的测试装置。

发明内容

在操纵装置的耐用测试中，转向轴遍及整个可动范围区域以规定的角速度被反复地往返旋转驱动。转向轴以规定的角速度被驱动，当到达操纵装置的可动范围的末端(触端位置)时，齿条端(rack end)会剧烈碰撞齿轮箱等，大幅超过允许值的负载可能瞬间施加于被测试体。此种过大的负载施加于被测试体时，会损害测试结果的正确性。

本发明的第一、第四和第五方面是鉴于上述情况而提出的，目的在于提供一种测试装置，在到达触端位置时，以不会对被测试体施加超过允许值的转矩的方式来驱动转向轴，由此能够对被测试体进行更适当的评价。

此外，在操纵装置的测试中，需要正确控制赋予系杆的负载。但是，测试装置和作为被测试体的操纵装置的构造复杂，而且特别是因为被测试体的刚性比较低，所以对赋予负载的电机的控制量的负载变化(响应)极为复杂。于是，因为电机控制量的目标值与测量值的误差(偏差)比较大，所以即使进行通常的反馈控制，以非常高的精度控制负载仍然很困难。

本发明的第二方面是鉴于上述情况而提出的，其目的在于提供一种测试装置，能够以更高精度控制赋予操纵装置的负载，由此能够对被测试体进行更适当的评价。

另外，现有的操纵装置的测试是通过使用线圈弹簧或板簧等机械性机构对系杆赋予负载。因此难以将负载设定成任意值。此外，现有技术的机械性赋予负载的方法在实际的车辆中，无法赋予施加于系杆的根据转向角度或旋转方向而变化的复杂负载。

本发明的第三方面是鉴于上述情况而提出的，其目的在于提供一种测试装置，提高赋予操纵装置的负载的自由度，赋予与施加于实际车辆上装设的操纵装置的负载更接近的负载，能够对被测试体进行更适当的评价。

此外，操纵装置的测试存在测试条件复杂化、测试条件的设定作业繁杂的问题。

本发明的第六方面是鉴于上述情况而提出的，其目的在于简化测试条件的设定。

另外，在操纵装置的测试中，将被测试体安装在测试装置的方式根据被测试体的种类不同而存在不同，若采用错误的安装方式，则会有对被测试体施加过大负载，可能导致被测试体破损的问题。

本发明的第七方面是鉴于上述情况而提出的，其目的在于通过使赋予被测试体的负载逐渐增加到设定值，能够在对被测试体施加过大负载之前中止测试，防止因为安装方式错误导致被测试体破损。

(解决问题的手段)

本发明的第一方面提供一种测试装置，其包括：输入侧驱动部，其能够对作为被测试体的操纵装置的转向轴进行旋转驱动；控制输入侧驱动部的控制部；和检测转向轴的角度位置的位置检测单元，控制部构成为，在转向轴的角度位置到达作为转向轴的可动范围的末端的触端位置时，能够以限制转向轴的转矩的上限的方式控制输入侧驱动部。

上述测试装置也可以构成为，控制部能够通过将转向轴的角度位置作为控制量的位置控制和将转向轴的转矩作为控制量的转矩控制，来控制转向轴的驱动，转向轴的角度位置处于包含触端位置的第一角度范围外时进行位置控制，转向轴的角度位置到达第一角度范围内时，从位置控制切换成转矩控制。

上述测试装置也可以构成为，在转矩控制中，以转向轴的角速度不超过规定的上限的方式控制转向轴的旋转。

上述测试装置也可以构成为，从位置控制切换成转矩控制时，第一目标转矩设定为所述转矩的目标值，转矩到达第一目标转矩后，经过了规定的持续时间时，从转矩控制切换成位置控制。

上述测试装置也可以构成为，从位置控制切换成转矩控制时，第一目标转矩设定为转矩的目标值，转矩到达第一目标转矩时，转矩的目标值变更成与第一目标转矩不同的第二目标转矩，到达第二目标转矩后，经过规定的持续时间时，从转矩控制切换成位置控制。

上述测试装置也可以构成为，从转矩到达第一目标转矩起、直至到达第二目标转矩的期间，以转矩以规定的速度变化的方式控制输入侧驱动部。

上述测试装置也可以构成为，输入侧驱动部包括：检测转向轴的角度位置的位置检测单元；和检测转向轴的转矩的转矩检测单元。

上述测试装置也可以构成为，包括：输出侧驱动部，其对作为被测试体的操纵装置的系杆以轴力的方式赋予负载；和检测负载的负载检测单元，输出侧驱动部包括产生负载的第一电机。

本发明的第二方面提供一种测试装置，其包括：输出侧驱动部，其对作为被测试体的操纵装置的系杆以轴力的方式赋予负载；检测负载的负载检测单元；和控制输出侧驱动部的控制部，输出侧驱动部包括产生负载的第一电机，控制部包括目标值计算单元，其基于负载的目标值，计算第一电机的控制量的目标值，目标值计算单元在对系杆反复赋予相同波形的负载时，基于第一电机的控制量的测量值，计算第一电机的控制量的目标值。

上述测试装置也可以构成为，控制部包括学习数据生成单元，学习数据生成单元基于第一电机的控制量的测量值来生成学习数据，目标值计算单元基于学习数据来计算目标值。

上述测试装置也可以构成为，目标值计算单元包括：偏差计算单元，其根据负载的目标值和测量值来计算负载的偏差；修正值计算单元，其根据负载的偏差来计算第一电机的控制量的修正值；和修正单元，其输出学习数据的值加上修正值而得的值作为第一电机的控制量的目标值。

上述测试装置也可以构成为，修正值计算单元计算将负载转换成第一电机的控制量的转换系数乘以负载的偏差而得的值作为修正值。

上述测试装置也可以构成为，学习数据生成单元生成第一电机的控制量的多个测量值的平均值作为学习数据。

上述测试装置也可以构成为，控制部反复执行由多个控制点构成的控制循环，学习数据通过对于规定的多个控制点将控制量的测量值平均而得到。

上述测试装置也可以构成为，规定的多个控制点包括：与作为此时刻的控制对象的对象控制点对应的对应控制点；和对应控制点附近的附近控制点。

上述测试装置也可以构成为，对应控制点是与对象控制点相同的控制点。

上述测试装置也可以构成为，能够设定对象控制点与对应控制点之间的相位差。

上述测试装置也可以构成为，控制部反复执行由多个控制点构成的控制循环时，学习数据通过对于最近的多个控制循环将控制量的测量值平均而得到。

上述测试装置也可以构成为，对每个控制点生成学习数据。

上述测试装置也可以构成为，目标值计算单元在取得的第一电机的控制量的测量值的数量比规定数少时，使用将被测试体的转向轴的角速度换算成第一电机的角速度的换算控制量作为学习数据，来计算第一电机的控制量的目标值。

上述测试装置也可以构成为，第一电机的控制量是角速度。

上述测试装置也可以构成为，第一电机的控制量是轴转矩。

上述测试装置也可以构成为，第一电机是伺服电机、直驱式电机和线性电机中的任一者。

上述测试装置也可以构成为，输出侧驱动部包括旋转编码器，旋转编码器检测第一电机的角度位置和角速度的至少一者。

上述测试装置也可以构成为，包括输入侧驱动部，其通过控制部的控制，对被测试体的转向轴进行旋转驱动，输入侧驱动部包括检测转向轴的角度位置的位置检测单元。

上述测试装置也可以构成为，输入侧驱动部包括检测转向轴的转矩的转矩检测单元，控制部构成为能够执行检测被测试体的可动范围的中心位置θ_C的定心处理，定心处理包括：一方向驱动步骤，其在一个方向上对转向轴进行旋转驱动，直到转向轴的转矩到达规定值；第一触端位置检测步骤，其检测通过一方向驱动步骤，转向轴的转矩到达规定值时的转向轴的角度位置θ_A；反方向驱动步骤，其对转向轴在反方向上进行旋转驱动，直到转向轴的转矩到达规定值；第二触端位置检测步骤，其检测通过反方向驱动步骤，转向轴的转矩到达规定值时的转向轴的角度位置θ_B；和中心位置计算步骤，其通过以下式子(1)计算转向轴的可动范围的中心位置θ_C：

本发明的第三方面提供一种测试装置，其包括：输出侧驱动部，其对作为被测试体的操纵装置的系杆以轴力的方式赋予负载；位置检测单元，其检测被测试体的转向轴的角度位置；和控制输出侧驱动部的控制部，控制部以根据角度位置来赋予负载的方式控制输出侧驱动部。

上述测试装置也可以构成为，控制部以对于角度位置使负载单调地增加或减少的方式控制输出侧驱动部。

上述测试装置也可以构成为，控制部以对于角度位置的负载的变化率为一定值的方式控制输出侧驱动部。

上述测试装置也可以构成为，控制部以根据转向轴的旋转方向来切换角度位置与负载的关系的方式控制输出侧驱动部。

上述测试装置也可以构成为，输出侧驱动部在与系杆的移动方向相反的方向上赋予负载。

上述测试装置也可以构成为，控制部控制输出侧驱动部，使得在输出侧驱动部连接于被测试体的左右中的一侧的系杆时，在转向轴的旋转方向是向一侧转向的方向时，与转向轴的旋转方向是向左右中的另一侧转向的方向时相比，相对于转向轴的旋转角度的负载的变化率变大。

上述测试装置也可以构成为，包括：检测转向轴的转矩的转矩检测单元；和检测转向轴的旋转方向的旋转方向检测单元，控制部以在转向轴的转矩的方向与旋转方向不一致时，不对系杆施加负载的方式控制输出侧驱动部。

上述测试装置也可以构成为，控制部包括：转矩设定值接收单元，其能够接收作为转矩的允许范围的上限的设定值的转矩上限值和表示与转矩上限值不同的转矩的设定值的第一指标的输入；和转矩设定值计算单元，其基于由转矩设定值接收单元接收的转矩上限值和第一指标来计算转矩的设定值。

上述测试装置也可以构成为，第一指标是转矩的设定值相对于转矩上限值的比，转矩设定值计算单元计算出转矩上限值乘以第一指标而得的值作为转矩的设定值。

上述测试装置也可以构成为，包括驱动转向轴的第二电机，控制部包括指令值计算单元，其基于转矩的设定值来计算第二电机的指令值。

上述测试装置也可以构成为，控制部构成为能够执行定心处理，定心处理包括：一方向驱动步骤，其在一个方向上对转向轴进行旋转驱动，直到转向轴的转矩到达规定值；第一触端位置检测步骤，其检测通过一方向驱动步骤，转向轴的转矩到达规定值时的转向轴的角度位置θ_A；反方向驱动步骤，其对转向轴在反方向上进行旋转驱动，直到转向轴的转矩到达规定值；第二触端位置检测步骤，其检测通过反方向驱动步骤，转向轴的转矩到达规定值时的转向轴的角度位置θ_B；和中心位置计算步骤，其通过以下式子(1)计算转向轴的可动范围的中心位置θ_C：

上述测试装置也可以构成为，定心处理包括中心位置移动步骤，中心位置移动步骤将转向轴旋转驱动至中心位置θ_C。

上述测试装置也可以构成为，输出侧驱动部包括可动台，可动台绕与系杆的移动方向正交的旋转轴被旋转驱动，在可动台的离开旋转轴的部位设置有能够安装系杆的杆端的安装构造。

上述测试装置也可以构成为，可动台包括一对臂，一对臂在与旋转轴大致正交的前后方向上延伸，关于包含旋转轴的平面彼此对称地形成，系杆安装于一对臂中的一者。

上述测试装置也可以构成为，控制部构成为能够执行极性检查处理，极性检查处理包括：输入接收步骤，其接收被测试体的种类是前拉用和后拉用的哪一种的输入；第一输出侧位置检测步骤，其检测可动台的角度位置；驱动步骤，其在规定的旋转方向上将转向轴旋转驱动规定的旋转角度；第二输出侧位置检测步骤，其检测驱动步骤后的可动台的角度位置；旋转方向判断步骤，其基于第一输出侧位置检测步骤和第二输出侧位置检测步骤的检测结果，判断驱动步骤中的可动台的旋转方向；和极性判断步骤，其判断转向轴的旋转方向与可动台的旋转方向的关系是否与被测试体的种类匹配。

上述测试装置也可以构成为，极性检查处理包括：转矩上限值减小步骤，其在驱动步骤之前降低作为转向轴的转矩上限的设定值的转矩上限值；和转矩上限值复原步骤，其在驱动步骤之后将转矩上限值恢复成原来的值。

上述测试装置也可以构成为，控制部构成为能够执行速度传递比检测处理，速度传递比检测处理包括：全局旋转驱动步骤，其对转向轴在其可动范围的大致整体进行旋转驱动；全局输出侧位置检测步骤，其在全局旋转驱动步骤中，对于转向轴的可动范围的大致整体中的规定间隔的多个角度位置，检测可动台的角度位置；和速度传递比计算步骤，其基于全局输出侧位置检测步骤的检测结果来计算速度传递比，该速度传递比是由多个角度位置划分出的转向轴的可动范围的各区间中的可动台的旋转角度相对于转向轴的旋转角度的比。

上述测试装置也可以构成为，在全局旋转驱动步骤中，以规定间隔间歇地驱动转向轴，在全局输出侧位置检测步骤中，每次转向轴以规定间隔被旋转驱动时检测可动台的角度位置。

上述测试装置也可以构成为，包括拟合步骤，其基于由速度传递比计算步骤计算出的各区间的速度传递比的值，决定表示转向轴的角度位置与速度传递比的关系的计算式。

上述测试装置中也可以构成为，控制部包括：负载设定值接收单元，其能够接收作为负载的允许范围的上限设定值的负载上限值和表示与负载上限值不同的负载的设定值的第二指标；和负载设定值计算单元，其基于由负载设定值接收单元接收的负载上限值和第二指标来计算负载的设定值。

上述测试装置也可以构成为，第二指标是负载的设定值相对于负载上限值的比，负载设定值计算单元输出负载上限值乘以第二指标而得的值作为负载的设定值。

上述测试装置也可以构成为，控制部包括目标值计算单元，其基于负载的设定值来计算第一电机的控制量的目标值。

本发明的第四方面提供一种测试装置，其包括：输入侧驱动部，其能够对作为被测试体的操纵装置的转向轴进行旋转驱动；和控制部，其控制输入侧驱动部进行的转向轴的旋转驱动，控制部构成为，当转向轴的角度位置到达作为转向轴的可动范围的末端的触端位置时，能够执行使转向轴的旋转方向立刻反转的反转控制，反转控制包括跳跃处理，其在转向轴的角度位置到达触端位置时，跳到预计成为与此时刻相同程度的转矩的下一个控制点。

本发明的第五方面提供一种测试装置，其包括：输入侧驱动部，其能够对作为被测试体的操纵装置的转向轴进行旋转驱动；和控制部，其控制输入侧驱动部进行的转向轴的旋转驱动，控制部构成为，当转向轴的角度位置到达作为转向轴的可动范围的末端的触端位置时，能够执行使转向轴的旋转方向反转的反转控制，反转控制包括跳跃处理，当转向轴的转矩超过规定值时，跳到转向轴的角度位置的目标值下降至与此时刻的值相同的程度的下一个控制点。

本发明的第六方面提供一种测试进程的设定方法，其是设定随时间变化的测试进程的方法，该测试进程的设定方法将测试进程模块和层次化而进行设定。

上述设定方法也可以构成为，测试进程包括依次执行的多个进程模块，进程模块定义测试进程的一部分。

上述设定方法也可以构成为，进程模块包括：定义测试进程的基本单位的第一层进程模块；和包含多个第一层进程模块的第二层进程模块。

上述设定方法也可以构成为，进程模块包括第三层进程模块，第三层进程模块至少包含一个第二层进程模块，且包含多个第一层进程模块或第二层进程模块。

上述设定方法也可以构成为，包括：总体界限的设定，该总体界限是适用于进程模块的整个区间的界限；和局部界限的设定，该局部界限是限定性地适用于进程模块的一部分区间的界限。

上述设定方法也可以构成为，能够对多个区间设定局部界限。

上述设定方法也可以构成为，界限包含上限值和下限值。

上述设定方法也可以构成为，界限包括以下(a)至(d)中的至少一个：

(a)被测试体的转向轴的旋转的角度位置；

(b)施加于被测试体的转向轴的转矩；

(c)相当于关节臂的测试装置的臂的转动的角度位置；

(d)施加于被测试体的系杆的负载。

上述设定方法也可以构成为，局部界限设定为相对于总体界限的相对值。

本发明的第七方面提供一种操纵装置的测试方法，其包括减慢(Slow Up，缓升)步骤，其使赋予被测试体的作为轴力的负载逐渐增加至设定值。

上述测试方法也可以构成为，以设定的次数使负载阶段性地增加。

(发明效果)

本发明的第一、第四和第五方面，在到达触端位置时，以对被测试体施加不超过允许值的规定转矩的方式驱动转向轴，由此能够更正确地评价被测试体。

本发明的第二方面能够以更高的精度控制赋予操纵装置的负载，由此能够更正确地评价被测试体。

本发明的第三方面能够提高赋予操纵装置的负载的自由度，并能够赋予与施加于安装于实际车辆的操纵装置更接近的负载，由此能够更正确地评价被测试体。

本发明的第六方面能够更高效地设定操纵装置的复杂的测试条件。

本发明的第七方面能够在对被测试体施加过大负载之前中止测试，因此能够防止因为对测试装置安装被测试体的方式错误而导致被测试体破损。

附图说明

图1是本发明的实施方式的测试装置的外观图。

图2是表示将被测试体连接于测试装置的各部分的状态的概略图。

图3是输入侧驱动部的外观图。

图4是输入侧驱动部的外观图。

图5是支柱部的侧视图。

图6是柱杆台的外观图。

图7是表示输出侧驱动部的主要构造的图。

图8是输出侧驱动部的外观图。

图9是表示控制系统的概略结构的方块图。

图10是在测试装置启动后显示的菜单画面。

图11是在测试条件设定处理中显示的设定画面。

图12是说明进程模块的嵌套(Nesting)构造的图。

图13是表示展开次序表的概略结构的图。

图14是在测试组设定子程序的执行中显示的设定画面。

图15是在测试区块设定子程序的执行中显示的设定画面。

图16是在波形图案设定子程序的执行中显示的设定画面。

图17是表示波形图案编辑画面的概略结构的图。

图18是表示界限设定画面的概略结构的图。

图19是表示操纵装置的耐用测试的步骤的流程图。

图20是表示极性检查处理的步骤的流程图。

图21是表示定心处理的步骤的流程图。

图22是表示速度传递比检测处理的步骤的流程图。

图23是表示基本驱动控制的步骤的流程图。

图24是表示输入轴控制(位置控制)的步骤的流程图。

图25是表示负载控制的步骤的流程图。

图26是表示减慢处理的步骤的流程图。

图27是表示负载率因减慢处理而变化的一例的曲线图。

图28是表示负载控制的变形例的步骤的流程图。

图29是表示负载控制的变形例的步骤的流程图。

图30是表示弹性负载控制的实施例1中的转向轴的角度位置与负载的关系的曲线图。

图31是表示弹性负载控制的实施例2中的转向轴的角度位置与负载的关系的曲线图。

图32是表示弹性负载控制的步骤的流程图。

图33是表示激振控制的步骤的流程图。

图34是表示触端控制的步骤的流程图。

图35是表示触端控制的步骤的流程图。

图36是表示输入轴控制(转矩控制)的步骤的流程图。

图37是表示反转控制的步骤的流程图。

图38是用于说明反转控制的动作的曲线图(输入轴测试波形)。

图39是表示跳跃处理的步骤的流程图。

图40是用于说明跳跃目的地探索处理的变形例的动作的曲线图(输入轴测试波形)。

图41是表示跳跃目的地探索处理的变形例的步骤的流程图。

具体实施方式

以下，参照附图说明本发明一种实施方式。另外，以下说明中，对于相同或对应的事项注记相同或对应的附图标记，并省略重复的说明。此外，在各图中显示了多个附图标记相同的事项时，不会对多个显示事项全部都标注附图标记，对于多个显示事项的一部分适当地省略标注。此外，对于左右设置一对的结构，原则上对左侧的结构进行说明，而对于右侧的结构，使用方括号括起而一并记载，并省略重复的说明。

本发明的一个实施方式的测试装置1(所谓的“操纵测试装置”)是能够测试汽车等车辆用的操纵装置(操舵转向装置)的装置。使用测试装置1能够进行小客车、卡车、巴士和拖车等特殊车辆的操纵装置的测试。

图1是测试装置1的外观图。另外，以下说明中，将图1中从右上朝向左下的方向定义为X轴方向，将从左上朝向右下的方向定义为Y轴方向，将从下向上的方向定义为Z轴方向。X轴方向和Y轴方向是彼此正交的水平方向，Z轴方向是铅垂方向。另外，X轴方向相当于安装着作为被测试体W的操纵装置的车辆的行驶方向，将X轴正方向称为“前方”，将X轴负方向称为“后方”，将Y轴正方向称为“左”，将Y轴负方向称为“右”。

图2是表示将被测试体W安装于测试装置1的状态的概略图。测试装置1是对作为被测试体W的操纵装置的左右的系杆W4赋予轴力(负载L)、同时使转向轴W1旋转，能够测试操纵装置的性能和耐用性的装置。

如图1所示，测试装置1包括：台架10、输入侧驱动部20、支承输入侧驱动部20的支柱部30、柱杆台40、支承柱杆台40的支柱部50、左右一对输出侧驱动部60(60L、60R)和工作台70。

如图2所示，输入侧驱动部20与被测试体W的转向轴W1连接，而旋转驱动转向轴W1。此外，输出侧驱动部60L、60R与被测试体W左右的系杆W4分别连接，而对系杆W4赋予负载L。在柱杆台40安装被测试体W的转向柱W2，在工作台70安装被测试体W的转向齿轮箱W3。

如图1所示，支柱部30、50、输出侧驱动部60L、60R和工作台70设置在台架10上。此外，输入侧驱动部20安装于支柱部30，柱杆台40安装于支柱部50。

台架10包括：配置在前方的固定框11；配置在固定框11的后方的固定框12；和配置在固定框12上的左右一对的可动框15(15L、15R)。在固定框11上，在中央部安装工作台70的左右一对的底座71，隔着工作台70在左右两侧安装有一对输出侧驱动部60L、60R的底座611b。在右侧的可动框15R上安装有支柱部50的底座51，在左侧的可动框15L上安装有支柱部30的底座31。

在固定框11上表面，隔着工作台70而在左右两侧形成有在Y轴方向上延伸的多个T形槽111，在左右中央形成有在X轴方向上延伸的多个T形槽112。在固定框12的上表面形成有在Y轴方向上延伸的多个T形槽121。此外，在各可动框15上表面也形成有在X轴方向上延伸的多个T形槽151。各T形槽111、112、121和151中分别嵌入了多个T形槽螺母(未图示)。

此外，在各固定框11、12和各可动框15L、15R，与各T形槽111、112、121和151平行地设置有进给螺杆机构(未图示)。

各可动框15利用嵌入到各T形槽121中的T形槽螺母和螺栓(未图示)而固定于固定框12。通过旋松该螺栓，使与T形槽121平行地设置的进给螺杆机构移动，能够调整可动框15在Y轴方向上的位置。

各输出侧驱动部60的底座611b利用嵌入到各T形槽111中的T形槽螺母和螺栓(未图示)而固定于固定框11。通过旋松该螺栓，使与T形槽111平行地设置的进给螺杆机构移动，能够调整各输出侧驱动部60在Y轴方向上的位置。

工作台70的各底座71利用嵌入到各T形槽112中的T形槽螺母和螺栓(未图示)而固定于固定框11。通过旋松该螺栓，使与T形槽112平行地设置的进给螺杆机构移动，能够调整工作台70在X轴方向上的位置。

支柱部30的底座31和支柱部50的底座51分别利用嵌入到可动框15的T形槽151中的T形槽螺母和螺栓(未图示)而固定于可动框15。通过旋松该螺栓，使与T形槽151平行地设置的进给螺杆机构移动，能够调整各支柱部30和50在X轴方向上的位置。

即，能够根据被测试体W的形状和尺寸，来调整支柱部30(输入侧驱动部20)和支柱部50(柱杆台40)的前后左右的位置、各输出侧驱动部60的左右的位置和工作台70的前后的位置。

图3和图4是表示安装于支柱部30的输入侧驱动部20的图，图5是支柱部30(但不包括后述的升降部36。)的侧视图。支柱部30包括：底座31、旋转载台32、直线载台33、旋转柱34、和可升降地安装于旋转柱34的升降部36(图3、图4)。在升降部36安装有输入侧驱动部20。

如图5所示，旋转载台32包括：固定于底座31的圆筒状的筒部321；和可旋转地嵌入于筒部321内的圆柱状的柱部322。

直线载台33包括：在其下表面的滑动方向(图示的配置中为Y轴方向)的一端部，固定于旋转载台32的柱部322的上端部的固定块331；和相对于固定块331能够在上述滑动方向上滑动的可动块332。

旋转柱34包括：竖立在直线载台33的可动块332上的圆柱状的柱部342；可旋转地与柱部342嵌合的圆筒状的筒部341；和在筒部341侧面与轴平行地安装的齿条343。旋转载台32与旋转柱34分别使旋转轴朝向铅垂方向，经由直线载台33偏心地被连结。通过使彼此偏心地被连结的旋转载台32和旋转柱34旋转、使直线载台33滑动，能够调整安装于旋转柱34的筒部341的升降部36(和安装于升降部36的输入侧驱动部20)在Z轴周围的朝向以及在X轴和Y轴方向上的位置。

如图3所示，升降部36包括：能够与旋转柱34的筒部341上下滑动地嵌合的主体部361；可旋转地与主体部361嵌合的在水平方向上延伸的轴362；和安装于轴362的前端部的旋转部363。在升降部36的主体部361设置有包含与齿条343啮合的小齿轮(未图示)的齿轮机构361g。当与齿轮机构361g的输入轴结合的手柄361a转动时，小齿轮旋转，升降部36沿着旋转柱34在铅垂方向上移动。由此，能够调整安装于升降部36的输入侧驱动部20的高度。

升降部36的主体部361包括使轴362绕中心轴旋转的旋转机构(未图示)。当使连接于旋转机构的手柄(未图示)转动时，旋转部363和输入侧驱动部20与轴362一起旋转，由此能够调整输入侧驱动部20绕水平轴的倾斜度。

升降部36的旋转部363(图3、图4)包括：固定于轴362(图3)的前端部的固定框363a；用于安装输入侧驱动部20的可动框363b；和将固定框363a与可动框363b在与轴362垂直的一个方向上可滑动地连结的滑动机构364。滑动机构364包括：引导可动框363b的滑动的一对轨条364a(图4)；和使可动框363b滑动的进给螺杆机构364b(图3)。当与进给螺杆机构364b的进给螺杆结合的手柄(未图示)转动时，安装了输入侧驱动部20的旋转部363的可动框363b利用进给螺杆机构364b在与轴362垂直的一个方向(更具体而言，是连接于输入侧驱动部20的被测试体W的转向轴W1的轴向)上移动。

如图4所示，输入侧驱动部20包括：伺服电机21；将伺服电机21的输出的转速减慢的可选的减速机22；检测输出转矩的转矩传感器23(转矩检测单元)；和安装被测试体W的转向轴W1的卡盘24(输出轴)。

图6是表示安装于支柱部50的柱杆台40的图。支柱部50包括：支柱55；可升降地安装于支柱55的升降部56；引导升降部56的升降的直线引导部52；和使升降部56升降的驱动部54。

直线引导部52包括：水平地安装于支柱55的上端的上板521；水平地安装于支柱55的下部的下板522；和连结上板521与下板522的3根导杆523(图6中仅表示2根)。在升降部56形成有与各导杆523可滑动地嵌合且在上下方向上延伸的3个槽561。通过3组导杆523与槽561的嵌合，将升降部56的可动方向限制于仅在上下方向。

驱动部54包括：连结直线引导部52的上板521与下板522的蜗杆542；和安装于升降部56的齿轮箱544。齿轮箱544包括：与蜗杆542啮合的蜗轮(未图示)；和与蜗轮连结的手柄(未图示)。转动该手柄时，蜗轮旋转，驱动部54和升降部56升降。

升降部56包括使柱杆台40绕水平的轴旋转的旋转机构562(齿轮机构)，柱杆台40安装于旋转机构562的水平延伸的轴562b(输出轴)。当与旋转机构562的输入轴结合的手柄562a转动时，轴562b减慢而旋转，安装于轴562b的柱杆台40的倾斜度改变。

图7和图8是表示右侧的输出侧驱动部60R的图。图7是从前方观察输出侧驱动部60R的主要构造的图，图8是从左侧观察输出侧驱动部60R的外观图。此外，图7和图8中，为了方便说明，对于输出侧驱动部60R的结构的一部分省略图示。

输出侧驱动部60包括：框架61(图8)、伺服电机62、可选的减速机63、转矩传感器64、滚珠花键65、可动台66、伺服电机67(图7)和直动机构68(图7)。滚珠花键65包括花键轴651和螺母652。花键轴651与螺母652在轴向上可滑动地嵌合。另外，转矩传感器64是转矩检测单元的一例，其检测由伺服电机62产生的、由可选的减速机63放大了的转矩。

花键轴651经由转矩传感器64连接于减速机63的输出轴。花键轴651利用由减速机63减速了的伺服电机62的输出而被旋转驱动。与花键轴651嵌合的螺母652也与花键轴651一起被旋转驱动。施加于滚珠花键65的转矩由转矩传感器64检测出来，利用直动机构68能够调整用于安装被测试体W的系杆W4的可动台66的高度。直动机构68被伺服电机67驱动。对于直动机构68的结构在后面叙述。

可动台66是在安装有操纵装置的车辆中，与支承转向操纵轮的车轴的转向关节(steering knuckle)对应的部分，在可动台66的下部设置有在与滚珠花键65的轴(即可动台66的旋转轴)大致正交的前后方向上延伸的一对臂661。一对臂661包含：向前方延伸的前方臂661f和向后方延伸的后方臂661r。前方臂661f与后方臂661r形成为关于包含可动台66的旋转轴的平面彼此对称，且关于可动台66的旋转轴也大致对称。臂661是相当于车辆的关节臂的部分，在臂661能安装被测试体W的系杆W4的杆端。利用伺服电机62对可动台66施加转矩时，对被测试体W的系杆W4赋予负载L作为轴力。

此外，在实际的车辆中，用于安装操纵装置的系杆W4的操纵关节因为由悬架装置支承，所以行驶时会相对于车辆的车架上下运动。即，对安装于实际车辆的操纵装置，在行驶时通过操纵关节赋予动态的变形。利用伺服电机67和直动机构68使可动台66上下运动，由此能够对被测试体W赋予与车辆行驶时同样的动态变形。由此，能够以更接近安装于实际车辆的状态的测试条件来测试被测试体W，能够更适当地评价被测试体W。

如图8所示，框架61包括：安装在固定框11上的下部框架611；和安装在下部框架611的上板611a的上部框架612。在下部框架611的上板611a安装有减速机63和伺服电机67(图7)。

如图7和图8所示，直动机构68包括：固定于下部框架611的上框681和下框682；配置在上框681与下框682之间的可上下移动的可动框683；引导可动框683上下移动的滑动引导件(slide guide)684(图7)；和驱动可动框683的进给螺杆机构685(图7)。

图7所示的滑动引导件684包括：垂直竖立的杆684a；和与杆684a可滑动地嵌合的套筒684b。套筒684b例如是滑动轴承、包括滚珠或滚柱等滚动体的滚动轴承。杆684a在上端部固定于上框681，在下端部固定于下框682。此外，套筒684b固定于可动框683。

图7所示的进给螺杆机构685包括：垂直竖立的滚珠螺杆685a；和与滚珠螺杆685a嵌合的螺母685b。滚珠螺杆685a在上端部被设置于上框681的轴承681b可旋转地支承，在下端部被设置于下框682的轴承682b可旋转地支承。此外，螺母685b固定于可动框683。

花键轴651在上端部被设置在上框681的轴承681a可旋转地支承，在下端部被设置在下框682的轴承682a可旋转地支承。与花键轴651可滑动地嵌合的螺母652和安装于螺母652的可动台66被设置于可动框683的轴承683a以能够与花键轴651同轴地旋转的方式支承。可动台66与滚珠花键65一起被伺服电机62旋转驱动。可动框683利用伺服电机67和直动机构68被上下驱动时，螺母652和可动台66也与可动框683一起上下运动。

如图8所示，可动台66具有在相当于车辆直线前进状态的初始状态(初始位置)在前后方向上延伸的上述一对臂661(前方臂661f、后方臂661r)。如图7所示，在臂661形成有用于安装被测试体W的系杆端W41的、在臂661的延长方向上延伸的长孔661h。另外，前方臂661f是用于安装所谓“前拉”用的被测试体W的臂661，后方臂661r是用于安装所谓“后拉”用的被测试体W的臂661，但也能够安装于相反的臂(例如将“前拉”用的被测试体W安装于后方臂661r)来进行测试。但是，安装在相反的臂时，因为实际车辆中的操纵关节的旋转方向与可动台66的旋转方向变成相反方向，所以需要将测试装置1的极性(即，转向轴W1的旋转方向与可动台66的旋转方向的关系)设定成“负”。

在臂661设置有力传感器662，该力传感器662是检测施加于被测试体W的系杆W4的轴力(负载L)的负载检测单元。被测试体W的系杆端W41经由力传感器662安装于臂661(前方臂661f或后方臂661r)。另外，负载检测单元也可以直接安装于被测试体W。例如，也可以在被测试体W的系杆W4的表面贴合应变计，使用该应变计作为负载检测单元。

图9是表示测试装置1的控制系统1a的概略结构的方块图。控制系统1a是包括控制整个测试装置1的动作的控制部82和进行各种计测的计测部84的计算机系统。控制部82包括：CPU821、主存储装置822、接口部823和储存装置824(辅助存储装置)。储存装置824例如是HDD(硬盘驱动器)或SSD(固态硬盘驱动器)，储存装置824中存储有用于控制测试装置1的各种程序(例如，后述的管理程序824a、设定程序824b和测试程序824c等)和各种设定数据。

接口部823是负责控制部82与外部的输入输出的单元。接口部823例如包括用于与使用者之间进行输入输出的用户接口；用于与LAN(局域网络)等各种网络NW以有线或无线方式连接的网络接口；用于与外部设备以有线或无线方式连接的USB(通用串行总线)或GPIB(通用接口总线)等各种通信接口的一个以上。用户接口例如包含各种操作开关、显示器、LCD(液晶显示器)等各种显示装置、鼠标和触控板等各种指针设备、触控屏幕、摄影机、打印机、扫描机、蜂鸣器、扬声器、麦克风、存储卡读写器等各种输入输出装置的一个以上。此外，也可以使用能够与控制部82通信的智能型手机等便携式终端作为接口部823或控制部82的一部分。

输入侧驱动部20的伺服电机21与各输出侧驱动部60R和60L的伺服电机62和67，分别经由伺服放大器83连接于控制部82。

控制部82与各伺服放大器83通过光纤可高速通信地连接。由此，5个伺服电机21、62(60L)、62(60R)、67(60L)、67(60R)能够以更高精度(在时间轴上高分辨率且高准确度)同步控制。另外，控制部82以一定周期将对各伺服电机的指令传送至各伺服放大器83。本说明书中将基于一个指令对伺服电机的1个单位(一次)的驱动控制、或是对应于一个指令的驱动控制的区间称为控制点。

在计测部84连接有各转矩传感器23、64(60L)、64(60R)和力传感器662(60L)、662(60R)。计测部84将从各传感器取得的信号转换成数字数据，传送至控制部82。此外，内置于各伺服电机的旋转编码器RE所检测出的轴的旋转信息(具体而言，例如角度位置和角速度)经由各伺服放大器83输入控制部82。另外，旋转编码器RE是检测各伺服电机的轴的角度位置的位置检测单元的一例，或是检测各伺服电机的轴的角速度的速度检测单元的一例。

测试装置1构成为能够与外部设备联动。例如，能够将用于调节被测试体W的温度的恒温槽等温度调节单元ED1(图9)连接于测试装置1，在测试装置1中添加温度调节功能。温度调节单元ED1例如设置于支承被测试体W的电子控制装置(ECU：electronic controlunit)的工作台70或柱杆台40。

控制部82依据经由接口部823而输入的测试条件(例如，包含输入侧驱动部20的控制量〔角度位置θ₂₀、角速度ω₂₀〕、输出侧驱动部60的控制量〔负载L、可动台66上下的位移D、速度V或加速度A〕的目标值)，同步控制各伺服电机的驱动。后述图19所示的处理在控制部82的控制下执行。

利用输入侧驱动部20进行的被测试体W的转向轴W1(图2)的旋转驱动的控制(后述的输入轴控制S10、S11)，通过以一定的角速度ω₂₀驱动的定速模式、按照一定的波形图案反复驱动的图案模式和依据从外部输入的连续波形信号进行驱动的外部信号模式的任一者来进行。另外，利用输入侧驱动部20进行的被测试体W的转向轴W1的旋转驱动的控制，能够是将转向轴W1的角度位置(即输入侧驱动部20的输出轴的角度位置)θ₂₀作为控制量(即，将伺服电机21的轴的角度位置Θ₂₁作为指令值)的位置控制、或是将角速度ω₂₀作为控制量(即，将伺服电机21的轴的角速度Ω₂₁作为指令值)的速度控制。

利用输出侧驱动部60进行的赋予被测试体W的系杆W4(图2)的负载L的控制(后述的负载控制S20、Sa20)，通过始终赋予一定的负载L的定负载模式、以规定频率连续赋予依据基本波形而变动的负载L的频率模式、反复赋予依据一定的波形图案而变动的负载L的图案模式、赋予与转向轴W1的角度位置θ₂₀相应的负载L的转向角度响应模式和赋予依据从外部输入的连续波形信号而变动的负载L的外部信号模式的任一者来进行。此外，负载L的控制能够与利用输入侧驱动部20进行的被测试体W的转向轴W1的驱动控制(后述的输入轴控制S10)、利用输出侧驱动部60的伺服电机67进行的对被测试体W的系杆端W41上下激振的控制(后述的激振控制S30)同步或联动地进行。

利用输出侧驱动部60进行的赋予被测试体W的系杆端W41的上下位移D的控制，通过始终赋予一定的位移D的定位移模式、以规定频率连续地依据基本波形赋予变动位移D(即振动)的频率模式、与转向轴W1的旋转同步或不同步地反复赋予一定的波形图案的变动位移D的图案模式和赋予依据从外部输入的连续波形信号而变动的位移D的外部信号模式中的任一者来进行。另外，利用输出侧驱动部60进行的赋予被测试体W的系杆端W41的振动的控制，除了将系杆端W41的上下的位移D作为控制量的位置控制之外，也能够是将系杆端W41的上下运动的速度V作为控制量的速度控制、或将系杆端W41的上下运动的加速度A作为控制量的加速度控制。

频率模式中使用的基本波形，除了正弦波、半正弦波(Half sine-wave)、锯齿状波(锯形波)、三角波、梯形波等预设的波形之外，还能够使用实际车辆在行驶中计测到的波形、通过模拟计算所获得的波形或其他任意的合成波形(例如，通过函数生成器等生成的波形)。

图案模式中使用的波形图案，除了预先登记的标准图案之外，还能够从用户基于标准图案编辑的编辑图案、由用户制作的用户图案中选择。

此外，外部信号模式中使用的连续波形信号，例如包含通过实际车辆行驶中计测到的波形信号、通过模拟计算所获得的波形信号或其他任意的合成波形(例如，通过函数生成器等生成的波形)。

图10是测试装置1启动(接通主电源)后显示在接口部823的触控屏幕上的菜单画面Sc1的概要图。显示在触控屏幕的画面(图像信息)由控制部82生成。菜单画面Sc1由启动测试装置1后调用的管理程序824a(图9)生成。

菜单画面Sc1包括：开始测试按钮E11、测试条件设定按钮E12和结束按钮E13。触碰开始测试按钮E11时，调用执行后述的操纵装置的测试(图19)的测试程序824c(图9)，开始耐用测试等测试。触碰测试条件设定按钮E12时，调用设定程序824b(图9)，开始测试条件设定处理。此外，触碰结束按钮E13时，进行用于安全地过渡到关闭电源的状态的处理，结束管理程序824a。

图11是在测试条件设定处理中显示的设定画面Sc2。本实施方式的测试条件设定处理为了能够高效地设定复杂的测试进程，构成为能够设定模块化和层次化的测试进程(以下，称为“测试次序”。)。具体而言，本实施方式的测试条件设定处理构成为通过依次(或并列)地结合进程模块而能够设定测试进程。其中，进程模块是构成测试进程的设定的、功能性整合部分。

此外，本实施方式中，对进程模块赋予波形图案(第一层)、测试区块(第二层)和测试组(第三层)的3个层次的嵌套构造(nesting structure)。另外，嵌套构造的深度(层次数量)不限于3层，也可以为2层或是4层以上。

如图11所示，设定画面Sc2包括窗口E20和标签(Tab)E21-E24。窗口E20是显示各设置项目的设定画面的显示区域。通过触碰标签E21-E24来选择与触碰的标签E21-E24相对应的设定项目，显示在窗口E20的各设定项目的设定画面切换成对应于选择了的设定项目的画面。另外，图11中显示将后述的测试条件设定画面Sc3显示于窗口E20的状态。

标签E21与整体测试条件的设定相对应，触碰标签E21时，测试条件设定处理转移至用于设定整体测试条件的测试条件设定子程序，窗口E20的显示切换成测试条件设定画面Sc3。

标签E22与测试组的设定相对应，触碰标签E22时，测试条件设定处理转移至用于设定测试组的测试组设定子程序，窗口E20的显示切换成测试组设定画面Sc4(图14)。

标签E23与测试区块的设定相对应，触碰标签E23时，测试条件设定处理转移至用于设定测试区块的测试区块设定子程序，窗口E20的显示切换成测试区块设定画面Sc5(图15)。

标签E24与波形图案的设定相对应，触碰标签E24时，测试条件设定处理转移至用于设定波形图案的波形图案设定子程序，窗口E20的显示切换成波形图案设定画面Sc6(图16)。

图12是说明进程模块的嵌套构造的图。图12(a)中显示6种波形图案的例子(波形图案A-F)；图12(b)中显示2种测试区块的例子(测试区块G、H)；图12(c)中显示2种测试组的例子(测试组I、J)。另外，波形图案A-F、测试区块G、H和测试组I、J设定于图11所示的后述的次序表E37。测试区块和测试组分别由多个下级的进程模块(波形图案或波形区块)构成。另外，图12和图13中，「×n₀」(其中n₀是自然数，是指“重复次数”。)的注记表示n₀次连续执行进程模块。

如图12(a)所示，波形图案是最低层级的(即，不含其他进程模块的最基本结构的)进程模块。例如，周期性程序设定1个周期的量的子进程作为波形图案。另外，本实施方式的波形图案并非仅一个控制对象(例如，输入侧驱动部20的伺服电机21)的动作，还规定测试装置1的整体或一部分的动作(子进程)。

如图12(b)所示，测试区块由多个下级的进程模块(即波形图案)构成。例如，测试区块G由四个波形图案(二个波形图案A和二个波形图案B)构成，测试区块H由三个波形图案(一个波形图案C和二个波形图案D)构成。另外，测试区块G和H分别由多个种类的波形图案构成，但也可以由单一种类的波形图案(但是，反复次数n₀为2以上。)构成测试区块。

如图12(c)所示，测试组由至少包含一个测试区块的多个下级的进程模块(即，波形图案或测试区块)构成。例如，测试组I由一个测试区块G和二个波形图案E构成，测试组J由一个波形图案A和二个测试区块H构成。

如图11所示，测试条件设定画面Sc3包括：测试模式设定部E31、测试循环数设定部E32、弹性负载设定部E33、学习功能设定部E34、触端控制设定部E35、减慢处理设定部E36、次序表E37和测试条件文件操作部E38。

测试模式设定部E31是用于设定以下说明的测试模式的部分。本实施方式的测试模式设定部E31以能够从后述19种测试模式选择适用的测试模式的下拉式菜单的方式安装。

测试装置1利用上述硬件结构，构成为能够对被测试体W进行以下五个输入(1)-(5)。

(1)转向轴W1的旋转(输入轴旋转)

(2)对左侧的系杆W4赋予负载L(左负载)

(3)对右侧的系杆W4赋予负载L(右负载)

(4)左侧的系杆W4的激振(左激振)

(5)右侧的系杆W4的激振(右激振)

上述(1)通过输入侧驱动部20的驱动而进行，上述(2)、(3)通过左右的输出侧驱动部60L、60R的伺服电机62的驱动而进行，上述(4)、(5)通过左右的输出侧驱动部60L、60R的伺服电机67的驱动而进行。

此外，测试装置1构成为能够通过上述输入(1)-(5)的组合，进行以下19种测试模式(a)-(s)的测试。

(a)输入轴旋转

(b)左负载

(c)右负载

(d)左负载+右负载

(e)左激振

(f)右激振

(g)左激振+右激振

(h)输入轴旋转+左负载

(i)输入轴旋转+右负载

(j)输入轴旋转+左负载+右负载

(k)输入轴旋转+左激振

(l)输入轴旋转+右激振

(m)输入轴旋转+左激振+右激振

(n)输入轴旋转+左负载+左激振

(o)输入轴旋转+右负载+右激振

(p)输入轴旋转+左负载+右负载+左激振+右激振

(q)左负载+左激振

(r)右负载+右激振

(s)左负载+右负载+左激振+右激振

测试循环数设定部E32是用于设定反复执行次序表E37所设定的测试次序(测试循环)的次数(以下称为“测试循环数”)的部分。本实施方式的测试循环数设定部E32构成为以能够输入数值的文本框(Text box)的方式安装，将使用者所输入的数值设定成测试循环数。

弹性负载设定部E33是用于设定后述的弹性负载控制时使用的负载条件(具体而言，是转向轴W1的角度位置θ₂₀与负载L的目标值R_L的关系)的部分。作为包含表示角度位置θ₂₀与负载L的关系的数据(例如函数或数值表)的文件的负载条件文件，预先储存在控制部82的储存装置824或控制部82可访问的服务器SV等(以下称为“储存装置824等”)。本实施方式的弹性负载设定部E33构成为以设定一个以上的负载条件文件作为选项的下拉式菜单的方式安装，设定用户所选择的负载条件文件中包含的负载条件。

学习功能设定部E34是用于设定通过后述的负载控制Sa20实现的学习功能是否有效的部分。本实施方式的学习功能设定部E34构成为以可选择“有效”或“无效”的下拉式菜单的方式安装，按照使用者的选择来设定学习功能有效或无效。

触端控制设定部E35是用于进行关于后述的触端控制S9的设定的部分。触端控制设定部E35包括：设定触端控制S9是否有效的有效/无效设定部E351；分别设定正侧和负侧的触端判断角度范围的边界值的正侧触端判断角度设定部E352和负侧触端判断角度设定部E353。具体而言，通过正侧触端判断角度设定部E352设定使转向轴W1顺时针旋转时的触端判断角度范围的边界的角度位置θ₂₀的值，且通过负侧触端判断角度设定部E353设定使转向轴W1逆时针旋转时的触端判断角度范围的边界的角度位置θ₂₀的值。

本实施方式的有效/无效设定部E351构成为以可选择“有效”或“无效”的下拉式菜单的方式安装，按照使用者的选择来设定触端控制的有效或无效。

此外，本实施方式的正侧触端判断角度设定部E352和负侧触端判断角度设定部E353构成为以可输入数值的文本框的方式安装，将使用者所输入的数值分别设定成正侧和负侧的触端判断角度范围的边界的角度位置θ₂₀的值。

减慢处理设定部E36是用于进行关于后述的减慢(slow up)处理S22(减慢步骤)的设定的部分。减慢处理设定部E36包括：设定减慢处理S22是否有效的有效/无效设定部E361；设定开始驱动时的负载率的初始负载率r_s0的初始负载率设定部E362；和设定减慢次数N_s的减慢次数设定部E363。另外，减慢处理S22是在负载控制S20的初期使负载逐渐增加的处理，所谓初始负载率r_s0是应用于第一控制循环的负载率r_s(负载L的减少倍率)。此外，负载率r_s是1以下的正小数，定义为应用减慢处理S22时的负载L的目标值R_L相对于不应用减慢处理S22时的负载L的目标值R_L的比率(即，负载L的减少倍率)。

本实施方式的有效/无效设定部E361构成为以能够选择“有效”或“无效”的下拉式菜单的方式安装，按照使用者的选择来设定减慢处理有效或无效。

此外，本实施方式的初始负载率设定部E362和减慢次数设定部E363构成为以能够输入数值的文本框的方式安装，能够将使用者所输入的数值分别设定成初始负载率r_s0和减慢次数N_s。

在次序表E37的各行中设定单一的进程模块(测试组、测试区块或波形图案)，按照次序表E37的行编号(L1-L4)的顺序执行设定于各行的进程模块。

次序表E37包括：设定表示进程模块的执行顺序的行编号(L1-L4)的列E371；设定测试组的列E372；设定测试区块的列E373；设定波形图案的列E374；设定反复次数(反复执行进程模块的次数)的列E375；设定温度设定信号的列E376；和设定触发(Trigger)的列E377。另外，在次序表E37的各行中设定测试组(列E372)、测试区块(列E373)和波形图案(列E374)中的任一者。

图13是表示展开次序的展开次序表，该展开次序是以波形图案单位展开图11所示的次序表E37所设定的测试次序而得的。图13中的编号L1～L4是在次序表E37的列E371设定的、表示进程模块的执行顺序的行编号。另外，该测试次序中包含的测试组I、J和测试区块H的结构如图12所示。按照展开次序表的执行编号的顺序执行构成测试次序的波形图案。

测试装置1构成为能够与外部设备联动。例如能够将用于调节被测试体W的温度的恒温槽等温度调节单元ED1(图9)连接于测试装置1，在测试装置1中添加温度调节功能。使用温度调节单元ED1时，将用于控制温度调节单元ED1的温度设定信号设定于列E376。

触发(列E377)也是用于与外部设备联动的设定项目。设定触发的行的进程模块将检测出来自外部设备(或是通过测试装置1的内部处理而产生)的触发信号作为契机而执行。例如，利用温度调节单元ED1进行温度调节时，能够以到达设定温度时产生触发信号的方式设定温度调节单元ED1，以控制部82将检测出该触发信号作为契机来执行进程模块的方式在次序表E37中设定触发。由此，能够在正确的温度条件下可靠地进行测试。

测试条件文件操作部E38包括：文件信息显示部E381、另存新文件按钮E382、覆写保存按钮E383和取消按钮E384。文件信息显示部E381中显示采用中的测试条件文件的信息(例如测试条件文件的路径)。测试条件文件中存储在测试条件设定画面Sc3设定的测试条件。触碰另存新文件按钮E382时，重新生成存储了此时所设定的测试条件的测试条件文件，并储存在储存装置824等中。触碰覆写保存按钮E383时，更新(覆写储存)采用中的测试条件文件的内容。此外，触碰取消按钮E384时，不储存设定中的测试条件，测试条件设定处理结束。

本实施方式中，测试模式设定部E31、弹性负载设定部E33和学习功能设定部E34分别以下拉菜单的方式安装，但也可以使用能够从多个项目中选择目标项目的其它种类(例如单选按钮(raido button)或列表框(list box)等)的微件(Widget)(即，构成图形用户接口的GUI部件)等方式安装。此外，学习功能设定部E34、触端控制设定部E35的有效/无效设定部E351和减慢处理设定部E36的有效/无效设定部E361，因为是接收有效或无效的二者择一的输入手段，所以例如也可以使用复选框或拨动开关(toggle switch)等可接收二值输入的其它种类的方式安装。

此外，本实施方式中，测试循环数设定部E32、正侧触端判断角度设定部E352、负侧触端判断角度设定部E353、初始负载率设定部E362和减慢次数设定部E363分别以文本框的方式安装，但是，也可以用能够输入数值的其它种类的方式(例如拖动条(slider)或旋转按钮(spin button)等)安装。

图14是在测试组设定子程序的执行中显示的、在窗口E20显示了测试组设定画面Sc4的设定画面Sc2的概要图。

测试组设定画面Sc4包括：测试组一览(List)E41和测试组表(Table)E42。测试组一览E41中一览地显示完成登记的测试组。测试组一览E41将选择的测试组反色显示(背景以黑色显示)。此外，测试组表E42中显示在测试组一览E41中选择的测试组的内容。测试组能够在测试组表E42上进行编辑(设定)。

测试组一览E41中附带有上下一对的箭头按钮E411、更新按钮E412、添加按钮E413和删除按钮E414。触碰箭头按钮E411时，在箭头方向上切换测试组一览E41上的测试组的选择。触碰更新按钮E412时，将测试组的设定内容更新成在测试组表E42上编辑中的设定内容。触碰添加按钮E413时，将在测试组表E42上编辑中的设定内容作为新的测试组添加登记。触碰删除按钮E414时，删除选择中的测试组的登记。

在测试组表E42的各行中设定单一的进程模块(测试区块或波形图案)。按照测试组表E42的行编号(M1、M2)的顺序执行设定于各行的进程模块。

测试组表E42包括：设定显示进程模块的执行顺序的行编号(M1、M2)的列E421；设定测试区块的列E422；设定波形图案的列E423；设定反复次数的列E424；设定温度设定信号的列E425和设定触发的列E426。另外，在测试组表E42的各行中设定测试区块(列E422)和波形图案(列E423)的任一者。

图15是在测试组设定子程序的执行中显示的、在窗口E20显示了测试区块设定画面Sc5的设定画面Sc2的概要图。

测试区块设定画面Sc5包括：测试区块一览E51和测试区块表E52。测试区块一览E51中一览地显示完成登记的测试区块。测试区块一览E51中反色地显示所选择的测试区块。此外，测试区块表E52中显示在测试区块一览E51中选择的测试区块的设定内容。测试区块能够在测试区块表E52上进行编辑(设定)。

测试区块一览E51中附带有上下一对的箭头按钮E511、更新按钮E512、添加按钮E513和删除按钮E514。触碰箭头按钮E511时，在箭头方向上切换测试区块一览E51上的测试区块的选择。触碰更新按钮E512时，将测试区块的设定内容更新成在测试区块表E52上编辑中的设定内容。触碰添加按钮E513时，将在测试区块表E52上编辑中的设定内容作为新的测试区块添加登记。触碰删除按钮E514时，删除选择中的测试区块的登记。

在测试区块表E52的各行中设定1种波形图案，并按照测试区块表E52的行编号(N1、N2)的顺序执行设定于各行的波形图案。

测试区块表E52包括：设定表示波形图案的执行顺序的行编号(N1、N2)的列E521；设定波形图案的列E522和设定反复次数的列E523。

图16是在波形图案设定子程序的执行中显示的、在窗口E20显示了波形图案设定画面Sc6的设定画面Sc2的概要图。

波形图案设定画面Sc6包括：波形图案一览E61、波形图案表E62和波形图案查看器E63。波形图案一览E61中一览地显示完成登记的波形图案。波形图案一览E61中反色地显示所选择的波形图案。此外，波形图案表E62中显示在波形图案一览E61选择的波形图案的设定内容。波形图案查看器E63中以曲线图显示在波形图案一览E61中选择的波形图案。

在波形图案中设定输入轴测试波形(以下简称为“输入轴波形”)、左侧负载测试波形(以下简称为“左负载波形”)、右侧负载测试波形(以下简称为“右负载波形”)、左侧激振测试波形(以下简称为“左激振波形”)和右侧激振测试波形(以下简称为“右激振波形”)中使用于测试的至少一个测试波形。输入轴波形是表示输入侧驱动部20的输出轴(即卡盘24)的角度位置θ₂₀的时间变化的波形数据。

左负载波形〔右负载波形〕是表示通过输出侧驱动部60L〔60R〕赋予被测试体W的左侧〔右侧〕的系杆W4的负载L的时间变化的波形数据。此外，左激振波形〔右激振波形〕是表示通过输出侧驱动部60L〔60R〕赋予被测试体W的左侧〔右侧〕的系杆端W41的上下的位移D的时间变化的波形数据。波形图案查看器E63中显示在波形图案中设定的至少一个测试波形。另外，图16所示的波形图案是设定输入轴波形、左负载波形和右负载波形，将该三个测试波形显示于波形图案查看器E63中。

另外，各测试波形是作为对应于时间的参数的“控制点”与作为对应于各控制量的参数的“振幅”相关联而得的，以数值表、函数或波形识别编号(以下简称为“波形ID”)的方式设定。波形ID是分别分配于预先登记的基本波形(或由使用者登记的使用者登记波形)的固有的识别编号。

在波形图案一览E61中附带有上下一对的箭头按钮E611、编辑按钮E612、添加按钮E613和删除按钮E614。触碰箭头按钮E611时，在箭头方向上切换波形图案一览E61上的波形图案的选择。触碰编辑按钮E612时，显示波形图案编辑画面Sc7(图17)，能够编辑所选择的波形图案。触碰添加按钮E613时，添加登记新的波形图案，触碰删除按钮E614时，删除选择中的波形图案的登记。

图17是波形图案编辑画面Sc7的概要图。波形图案编辑画面Sc7包括：设定输入轴波形的输入轴波形设定部E71；设定左负载波形的左负载波形设定部E72；设定右负载波形的右负载波形设定部E73；设定左激振波形的左激振波形设定部E74；设定右激振波形的右激振波形设定部E75和界限设定按钮E76。此外，各设定部E71-E75分别包括以曲线图显示所设定的测试波形的波形查看器G71-G75。

图18是触碰界限设定按钮E76(图17)时显示的界限设定画面Sc8的概要图。界限设定画面Sc8包括：设定关于输入轴旋转的界限的输入轴界限设定部E81；设定关于左负载的界限的左负载界限设定部E82和设定关于右负载的界限的右负载界限设定部E83。另外，在波形图案编辑画面Sc7(图17)中设定有左激振波形或右激振波形时，进一步将设定关于左激振或右激振的界限的左激振设定部或右激振设定部设置于界限设定画面Sc8。

本实施方式构成为能够对各输入分别以两个阶段设定界限。第一阶段的界限(以下称为“第一界限程度”)是在整个测试时间中适用(即，在测试中总是适用)的全体界限(Global Limit)，第二阶段的界限(以下称为“第二界限程度”)是限定适用于规定的时间范围的局部界限。由此，通过以两个阶段设定界限，能够进行与因时间(控制点)而变动的测试条件(波形图案)相应的细致的界限限定，因此能够更可靠地防止由于对被测试体W施加超出设想的过大的应力而损害测试结果的正确性。

右负载界限设定部E83包括：设定总体界限的总体界限设定部E83G和设定局部界限的局部界限设定部E83L。

总体界限设定部E83G包括：设定输出侧驱动部60R的可动台66的角度位置θ₆₀的总体界限的角度位置总体界限设定部E83GP；和设定输出侧驱动部60R施加于被测试体的负载L的总体界限的负载总体界限设定部E83GL。

角度位置总体界限设定部E83GP包括：设定角度位置θ₆₀的上限的上限设定部E83GPU；设定角度位置θ₆₀的下限的下限设定部E83GPL；和设定各设定项目(上限、下限)的有效或无效的复选框(有效化设定部)E83GPC。

负载总体界限设定部E83GL也与角度位置总体界限设定部E83GP同样地包括：设定负载L的上限的上限设定部E83GLU；设定负载L的下限的下限设定部E83GLL；和设定各设定项目的有效或无效的复选框E83GLC。

局部界限设定部E83L包括设定负载L的局部界限的负载局部界限设定部E83LL。负载局部界限设定部E83LL包括：设定各设定项目的有效或无效的复选框E83LLC；对设定局部界限的测试区间(时间)的起点进行设定的起点设定部E83LLS；设定测试区间的终点的终点设定部E83LLE；设定负载L的上限的上限设定部E83LLU；设定负载L的下限的下限设定部E83LLL；和设定基准检测次数的基准检测次数设定部E83LLD。此外，局部界限设定部E83L构成为能够对一个以上的测试区间(在图18的界限设定画面Sc8中为3个区间)设定局部界限。另外，起点设定部E83LLS和终点设定部E83LLE中，以“秒”为单位输入的测试区间的起点与终点，基于波形图案设定画面Sc6(图16)的波形图案表E62中设定的抽样时间，转换成分别对应的控制点。

局部界限的界限值(上限、下限)设定在总体界限的上限与下限之间。一旦超过总体界限的上限或下限时，立刻中止测试。与此不同，局部界限是在基准检测次数连续超过上限或下限时才中止测试。此外，测试程序824c构成为在测量值超过总体界限的上限或下限时，即使是在测试循环的中途，也立刻使测试装置1的动作停止，但测量值以基准检测次数连续超过局部界限的上限或下限时，在其测试循环完成后，使测试装置1的动作停止。

总体界限是以被测试体W的安装错误或测试装置1故障等异常检测为主要目的而设定的限制值，而局部界限是以检测被测试体W因疲劳而故障为主要目的而设定的限制值。被测试体W因疲劳而发生故障多是逐渐进行的，在完全故障前被测试体W的动作变得不稳定，测量值多会暂时性显示异常值。此外，当被测试体W完全故障时，测量值会超过一定时间地连续显示异常值。本实施方式利用该知识，构成为在测量值以基准检测次数连续地超过局部界限的上限或下限时判断为被测试体W发生故障，自动结束测试。通过采用该结构，因为在测试中被测试体W故障时测试自动结束，所以能够防止被测试体W在故障后仍继续无效的测试。此外，防止被测试体W故障前中断测试。

此外，通过测试发现被测试体W劣化时，对被测试体W施加大的应力时(timing)会出现异常，而应力小时多会正常动作，当被测试体W故障时，即使应力小时也多会出现异常。因此，通过在施加于被测试体W的应力小(即，在故障前不易发生测量值异常)的时间设定局部界限，能够更正确地检测故障的发生。

本实施方式构成为，在上限设定部E83LLU和下限设定部E83LLL中，负载L的局部界限(上限、下限)并非绝对值，而能够设定为相对于在负载总体界限设定部E83GL的上限设定部E83GLU和下限设定部E83GLL中分别设定的负载L的总体界限(上限、下限)的相对值(单位：％)。通过采用该结构，变更负载L的总体界限的设定时，因为将负载L的局部界限自动地变更成适应的大小，所以不需要逐一变更负载L的局部界限的设定，能够简化繁杂的界限设定。

关于左负载界限设定部E82的结构，因为其与上述的右负载界限设定部E83相同，所以省略说明。

输入轴界限设定部E81包括：设定总体界限的总体界限设定部E81G和设定局部界限的局部界限设定部E81L。

总体界限设定部E81G包括：设定输入侧驱动部20的输出轴的角度位置θ₂₀(即，被测试体W的转向轴W1的角度位置θ₂₀)的总体界限的角度位置总体界限设定部E81GP；和设定施加于输入侧驱动部20的输出轴的转矩T的总体界限的转矩总体界限设定部E81GT。因为角度位置总体界限设定部E81GP和转矩总体界限设定部E81GT的结构，与上述右负载界限设定部E83的角度位置总体界限设定部E83GP和负载总体界限设定部E83GL的结构相同，所以省略说明。

局部界限设定部E81L包括：设定关于输入侧驱动部20的角度位置θ₂₀的局部界限的角度位置局部界限设定部E81LP；和设定关于输入侧驱动部20的转矩T的局部界限的转矩局部界限设定部E81LT。因为角度位置局部界限设定部E81LP和转矩局部界限设定部E81LT的结构与上述右负载界限设定部E83的负载局部界限设定部E83LL的结构相同，所以省略说明。

接着，说明进行操纵装置的耐用测试时测试装置1所进行的处理。

图19是表示使用测试装置1的操纵装置的耐用测试步骤的流程图。另外，以下说明的从初始化S1至速度传递比检测处理S6是主测试前的准备阶段的处理，处理S7以后是主测试的处理。

当在显示于触控屏幕的菜单画面Sc1(图10)上触碰开始测试按钮E11时，开始耐用测试，首先进行测试装置1的初始化S1。初始化S1中，读取使用于测试装置1的控制和计测的各种设定值。此外，测试装置1进行各可动部的返回原点和向初始位置的移动。初始化S1完成后，将被测试体W安装于测试装置1中。

(极性检查处理)

将被测试体W安装于测试装置1后，进行极性检查处理S2。

转向轴W1的旋转方向与系杆W4的移动方向的关系根据被测试体W的种类而不同。例如，系杆W4在比车轴靠前方的位置与操纵关节连接的所谓“前拉”用的操纵装置，构成为使方向盘在顺方向(顺时针，CW)旋转时，系杆W4向右(Y轴负方向)侧移动，使方向盘在反方向(逆时针，CCW)旋转时，系杆W4向左(Y轴正方向)侧移动。此外，系杆W4在比车轴靠后方的位置与操纵关节连接的所谓“后拉”用的操纵装置，构成为使方向盘顺方向旋转时，系杆W4向左侧移动，使方向盘在反方向旋转时，系杆W4向右侧移动。本说明书是将此种转向轴W1的旋转方向与系杆W4的移动方向的关系称为操纵装置(被测试体W)的极性。此外，将“前拉”用的操纵装置的极性称为正的极性，而将“后拉”用的操纵装置的极性称为负的极性。

此外，如上所述，在输出侧驱动部60的可动台66上，在可动台66的旋转轴的前方和后方两处设置有用于安装被测试体W的系杆端W41的一对臂661(前方臂661f、后方臂661r)，根据在任一个臂661(系杆连接部分)是否连接系杆W4来决定系杆W4的移动方向与可动台66的旋转方向的关系。即，被测试体W的转向轴W1的旋转方向与输出侧驱动部60的可动台66的旋转方向(或是系杆W4的移动方向)的关系(即，整个测试系统的极性，以下称为“系统极性”)，根据被测试体W的种类和系杆W4连接于哪一个臂661(前方臂661f、后方臂661r)而不同。

系统极性预先设定为测试条件，不过设定错误时，可能对被测试体W施加过大的负载L而造成被测试体W破损。因此，在进行测试前，须进行确认系统极性的设定是否正确的极性检查处理S2。

图20是显示极性检查处理S2的步骤的流程图。极性检查处理S2中，首先将负载L的上限降低至不致对被测试体W造成影响的小的值(例如5kN)(S201)。输出侧驱动部60进行不超过设定的负载L的上限的动作，因此通过进行处理S201，即使系统极性的设定错误时，也能够防止被测试体W损伤或劣化。

接着，读取设置于输出侧驱动部60的可动台66的力传感器662检测到的负载L(S202)。接着，驱动输入侧驱动部20的伺服电机21，在顺方向对被测试体W的转向轴W1进行规定角度(例如20～30度左右)的旋转驱动(S203)，旋转驱动后再度读取力传感器662检测出的负载L(S204)。负载测量S204后，利用输入侧驱动部20在反方向(逆时针方向，CCW)对被测试体W的转向轴W1进行与CW驱动S203相同角度的旋转驱动，返回初始的角度位置(S205)，之后将负载L的上限恢复成由处理S201变更前的设定值(S206)。接着，判断CW驱动S203前后的负载L的变化(增加或减少)与预先设定的系统极性是否匹配(S207)，不匹配时(S207：否(NO))，输出表示系统极性的设定(即，被测试体W的极性或被测试体W的系杆W4的安装部位)错误的警报(S208)，中止耐用测试。此外，负载L的测量值的变化与被测试体W的极性的设定匹配时(S207：是(YES))，极性检查处理S2结束，进入下一个处理S3(图19)。

(定心处理)

接着，确认是否成为进行被测试体W的定心处理S4的设定(S3)。定心处理S4是自动查找并设定被测试体W的转向轴W1可旋转的角度位置θ₂₀的范围(可动范围)和其中心位置θ_C。没有设定被测试体W的可动范围时，将定心处理S4设定成有效(ON)，已知被测试体W的可动范围时，预先输入可动范围，将定心处理S4设定成无效(OFF)。将定心处理设定成有效(ON)时(S3：是)执行定心处理S4，将定心处理S4设定成无效(OFF)时(S3：否)，跳过定心处理S4而进入下一个处理S5。

图21是显示定心处理S4的步骤的流程图。定心处理S4首先进行驱动控制S401。驱动控制S401中，监视输入侧驱动部20的转矩传感器23检测出的转向轴W1的转矩T，并且在转矩T的大小增大(具体而言，转矩T超过基准值τ)之前，利用输入侧驱动部20被测试体W的转向轴W1在设定的驱动方向(例如CW)以一定速度缓慢地被旋转驱动(S4011～S4014)〔一个方向驱动步骤〕。

从检测出超过基准值τ的转矩T直至停止驱动为止，将驱动控制S401中转向轴W1的角速度ω₂₀设定成不致产生超过被测试体W的允许转矩的转矩T的大小。例如，转向轴W1的角速度ω₂₀设定成被测试体W到达可动范围的末端(后述的触端位置)时转矩T的增加量(超过基准值τ前后的测量值的增加量)为基准值τ以下。

此外，转矩T的基准值τ是足够小的值，即使反复将此值赋予被测试体W，被测试体W也不会破损。本实施方式的基准值τ设定成比在被测试体W未到达触端位置的状态下使转向轴W1旋转时检测出的转矩T的最大值更大的值(更具体而言，例如比在未到达触端位置的状态下使转向轴W1旋转时检测出的转矩T的平均值大的值，该值是标准偏差的3倍以上的值)。

当转矩T的大小为基准值τ以上(S4013：是)时，停止转向轴W1的驱动(S4014)，驱动控制S401结束。然后，检测并存储在最初的驱动控制S401中，转矩T的大小到达基准值τ时的转向轴W1的角度位置θ₂₀的值θ_A(S402)〔第一触端位置检测步骤〕。另外，转向轴W1的角度位置(即输入侧驱动部20的角度位置θ₂₀)根据内置在输入侧驱动部20的伺服电机21中的旋转编码器RE的检测值(即，伺服电机21的轴的角度位置Θ₂₁)和减速机22的减速比r₂₂进行计算。

接着，将转向轴W1的驱动方向切换成反方向(例如CCW)(S403)，再次进行驱动控制S401〔反方向驱动步骤〕。在反方向的驱动控制S401中，转矩T的大小为基准值τ以上时(S4013：是)，停止驱动(S4014)，检测并存储此时的转向轴W1的角度位置θ₂₀的值θ_B(S404)〔第二触端位置检测步骤〕。

接着，通过下述式子(1)计算转向轴W1的作为可动范围中心的中心位置θ_C(S405)〔中心位置计算步骤〕，存储计算结果(S406)。然后，将转向轴W1的角度位置移动至中心位置θ_C(S407)〔中心位置移动步骤〕，定心处理S4结束。

另外，当被测试体W的转向轴W1的角度位置θ₂₀到达可动范围的末端时，成为被测试体W的齿条端(rack end)(更具体而言，是设置于齿条端的止动器)抵住转向齿轮箱W3的状态(以下称为“触端状态”)。本说明书中，将成为触端状态的转向轴W1的角度位置称为触端位置。以一定的角速度ω₂₀被旋转驱动的转向轴W1到达触端位置时，因为转向轴W1的旋转被阻止，所以转矩T急剧上升而超过基准值τ。即，定心处理S4检测被测试体W两侧的触端位置θ_A和θ_B，在其中央设定中心位置θ_C。

(速度传递比检测处理)

接着，确认速度传递比检测处理S6是否设定为有效(ON)(S5)。

速度传递比检测处理S6是自动地检测并设定与操纵关节相应的可动台66的旋转角(即，输出侧驱动部60的可动台66的角度位置的变化量Δθ₆₀)相对于被测试体W的转向轴W1的旋转角(即，输入侧驱动部20的角度位置的变化量Δθ₂₀)的比值(以下称为“速度传递比Tr”。)的处理。速度传递比Tr是相当于转向齿轮比的参数。在决定输出侧驱动部60的控制量时需要速度传递比Tr。通过以输入侧驱动部20对转向轴W1驱动的驱动量(角速度ω₂₀或旋转角Δθ₂₀)乘以速度传递比Tr的量，对输出侧驱动部60的可动台66进行旋转驱动，能够不改变施加于被测试体W的负载L地旋转驱动被测试体W。在没有设定被测试体W的速度传递比Tr时，将速度传递比检测处理S6设定为有效(ON)，已设定被测试体W的速度传递比Tr时，将速度传递比检测处理S6设定为无效(OFF)。另外，本实施方式的速度传递比检测处理S6对应于齿轮比可变式操纵装置(VGR：Variable gear ratio)，该齿轮比可变式操纵装置的转向齿轮比依据转向轴W1的角度位置θ₂₀而变化。设定被测试体W的种类为VGR时，自动将速度传递比检测处理S6设定为有效。

S5(图19)中，当速度传递比检测处理S6设定为有效(ON)时(S5：是)执行速度传递比检测处理S6，将速度传递比检测处理S6设定为无效(OFF)时(S5：否)，跳过速度传递比检测处理S6而进入下一个处理S7。

图22是显示速度传递比检测处理S6的步骤的流程图。速度传递比检测处理S6中，首先将负载L的目标值R_L设定为零(无负载)(S601)，开始输出侧驱动部60进行的负载控制(S602)。由此，能够在无负载状态下使输出侧驱动部60的动作自动追随被测试体W的系杆W4的运动。负载控制持续至速度传递比检测处理S6结束。

接着，由输入侧驱动部20旋转驱动转向轴W1直至一方的触端位置θ_A(S603)，取得在触端位置θ_A的输出侧驱动部60的可动台66的角度位置θ₆₀(S604)。另外，输出侧驱动部60的角度位置θ₆₀能够根据内置于输出侧驱动部60的伺服电机62的旋转编码器RE的检测值(伺服电机62的轴的角度位置Θ₆₂)和减速机63的减速比r₆₃来计算。

接着，利用输入侧驱动部20将转向轴W1旋转驱动1圈(360°)(S605)，取得输出侧驱动部60的角度位置θ₆₀(S607)。

接着，利用式子(2)，根据之前紧邻的旋转驱动S605前后的输入侧驱动部20的角度位置变化量Δθ₂₀(360°)和输出侧驱动部60的角度位置的变化量Δθ₆₀计算速度传递比Tr(S608)。

接着，参照关于被测试体W的设定信息，判断被测试体W是否为VGR(S609)。

VGR构成为转向齿轮比根据转向轴W1的角度位置θ₂₀而逐渐变化。因此，为了对VGR进行测试，需要遍及转向轴W1的整个可动范围地表示角度位置θ₂₀与转向齿轮比的关系的信息。

将被测试体W的种类设定为VGR的情况下(S609：是)，将当前的转向轴W1的角度位置θ₂₀与速度传递比Tr关联存储(S610)。然后，返回处理S605，反复进行处理S605-S610直至到达触端位置θ_B。由此，驱动被测试体W的转向轴W1每旋转1圈(即，被测试体W的小齿轮旋转1周)时，取得在各角度位置θ₂₀处的速度传递比Tr，与角度位置θ₂₀一起存储。

到达触端位置θ_B时(S606：是)，接着进行拟合(fitting)处理S612(拟合步骤)，速度传递比检测处理S6结束。拟合处理S612中，基于在上述处理S603-S610中取得的转向轴W1的角度位置θ₂₀与速度传递比Tr的多个对，决定用于从角度位置θ₂₀求出速度传递比Tr的计算式，加以存储。速度传递比Tr的计算式是例如基于取得的角度位置θ₂₀与速度传递比Tr的多个对，通过最小平方法等回归分析而求出的多项式。也可以通过内插法(插值法)等回归分析以外的方法来决定速度传递比Tr的计算式。

本实施方式中，将可动台66的旋转角(或角速度)相对于转向轴W1的旋转角(或角速度)的比率定义为速度传递比Tr，但速度传递比Tr的定义不限定于此。例如，能够使用输出侧驱动部60的伺服电机62的轴或可动台66的旋转角相对于输入侧驱动部20的伺服电机21的轴或转向轴W1的旋转角的比率作为速度传递比Tr。例如，将伺服电机21的轴与伺服电机62的轴的旋转角的比率作为速度传递比Tr时，通过将伺服电机21的驱动控制的目标值乘以速度传递比Tr能够容易地获得伺服电机62的控制(但是，是不使负载L变化的控制)的目标值，因此能够简化伺服电机62的驱动控制的目标值的计算。

被测试体W具有固定的齿轮比而并非VGR时(S609：否)，存储速度传递比Tr(S611)，速度传递比检测处理S6结束。

接着，将处理转移至耐用测试的主测试(S7～S9。参照图19)。主测试首先确认是否将后述的触端控制S9设定成有效(ON)(S7)。触端控制S9是缓和到达触端位置时产生的撞击，防止对转向轴W1施加超出允许值的转矩T的控制。以使用转矩限制器等机械性地限制转矩T的现有方法进行测试的情况下，将触端控制设定为无效(OFF)。另外，机械性地限制转矩T的现有方法无法进行正确的转矩控制，而且，在经过长时间的耐用性测试的情况下，转矩限制器等机械部件会在测试中发生故障，或是因劣化而造成特性变化，于是通常将触端控制设定成有效(ON)。将触端控制设定成有效(ON)时(S7：是)，接着执行触端控制S9，将触端控制设定成无效(OFF)时(S7：否)，接着执行基本驱动控制S8。

(基本驱动控制)

图23是表示基本驱动控制S8的步骤的流程图。基本驱动控制S8中并行执行3个控制(输入轴控制S10、负载控制S20和激振控制S30)。输入轴控制S10是利用输入侧驱动部20进行的对于被测试体W的输入端(转向轴W1)的旋转运动的驱动控制，负载控制S20和激振控制S30是利用输出侧驱动部60(60L、60R)进行的对于被测试体W的输出端(系杆W4)的直线运动的驱动控制。

另外，本实施方式中，负载控制S20和激振控制S30是任意地附加性执行的控制。负载控制S20是对系杆W4赋予轴力(负载L)的控制，激振控制S30是对系杆端W41赋予上下方向(与大致水平地配置的系杆W4的轴垂直的方向)的振动的控制。激振控制S30是模拟实际上车辆行驶时伴随悬挂系统的动作而产生的车轴的上下运动的控制。负载控制S20和激振控制S30分别对于左右的输出侧驱动部60L、60R进行。另外，将负载控制S20和激振控制S30设定成无效(OFF)时，在从被测试体W卸下输出侧驱动部60状态下进行测试。此外，通过设定成无负载(负载L＝0)而进行负载控制S20，能够在使输出侧驱动部60连接于被测试体W的状态下对系杆W4不施加负载L地进行测试。

(输入轴控制〔位置控制〕)

图24是表示输入轴控制S10的步骤的流程图。如上所述，输入轴控制S10是利用输入侧驱动部20旋转驱动被测试体W的输入轴即转向轴W1的控制。输入轴控制S10中，将连接于输入侧驱动部20的被测试体W的转向轴W1的角度位置θ₂₀作为控制量进行位置控制。输入轴控制S10首先取得当前的转向轴W1的角度位置θ₂₀(S1001)，利用转矩传感器23测量转向轴W1的转矩T(S1002)，存储取得的转矩T和角度位置θ₂₀(S1003)。

接着，基于测试条件的设定，计算转向轴W1的角度位置θ₂₀的目标值R_θ和偏差E_θ(S1004、S1005)。然后，根据该偏差E_θ和减速机22的减速比r₂₂计算伺服电机21的指令值(即操作量)(S1006)。另外，在输入轴控制S10中，伺服电机21通过将轴的角度位置Θ₂₁作为控制量的位置控制来控制驱动。处理S1006中，计算伺服电机21的指令值(角度位置Θ₂₁)，以消除转向轴W1的角度位置θ₂₀的偏差E_θ。更具体而言，例如对于输入侧驱动部20的角度位置θ₂₀的目标值R_θ，进行减少偏差E_θ的修正，将对应于修正后的转向轴W1的角度位置θ₂₀的目标值R_θ的伺服电机21的轴的角度位置Θ₂₁作为对伺服电机21的指令值。然后，基于该指令值驱动伺服电机21(S1007)，1次(1个控制点)的输入轴控制(S1001-S1007)结束。反复执行输入轴控制(S1001-S1007)直至测试结束(S1009)。

另外，输入轴控制S10也可以在后述的触端控制S9中执行，但是，在触端控制S9中(S1008：是)不反复执行处理S1001-S1007，而是在驱动伺服电机21(S1007)后结束输入轴控制S10。

上述的输入轴控制S10中，伺服电机21通过将轴的角度位置Θ₂₁作为控制量的位置控制来控制驱动，但也可以构成为通过将角速度Ω₂₁作为控制量的速度控制来控制驱动。

(负载控制)

图25是表示负载控制S20的步骤的流程图。负载控制S20中，首先取得当前的输出侧驱动部60的伺服电机62的角度位置Θ₆₂和角速度Ω₆₂与输入侧驱动部20的角速度ω₂₀(S2001)，利用力传感器662测量系杆W4的负载L(S2002)，存储所取得的负载L、角度位置Θ₆₂、角速度Ω₆₂和ω₂₀的值(S2003)。

接着，取得系杆W4的负载L的目标值(初始设定值)R_L(S2004)，进行减慢(slow up)处理S22。

图26是表示减慢处理S22的步骤的流程图。减慢处理S22并非在负载控制S20刚开始后将负载L的初始设定值的100％赋予被测试体W，而是在负载控制S20的初期使负载L逐渐增加而接近初始设定值的处理。具体而言，减慢处理S22中，在负载控制S20初期的预先设定的次数的控制循环中，进行对负载L的目标值R_L乘以与控制循环的执行编号n对应的系数(负载率r_S)的处理。

图27是表示负载率r_S因减慢处理S22而变化的一例的曲线图。该曲线图是将初始负载率r_S0设定为0.2(20％)，将减慢次数N_S设定为4次的情况。

减慢处理S22中，首先判断设定的负载L的控制是否为图案模式(S2201)、和减慢处理S22是否设定为有效(S2202)。本实施方式中，因为减慢处理S22限定适用于图案模式，所以负载L的控制为图案模式以外时(S2201：否)不进行实质性的处理(后述的处理S2204-S2205)，而结束减慢处理S22。此外，将减慢处理S22设定为无效时(S2202：否)，也不进行实质性的处理，而结束减慢处理S22。

接着，判断对象的控制循环(第n控制循环)的执行编号n是否为减慢次数N_S+1以下(N2203)。其中，减慢次数N_S是由减慢次数设定部E363(图11)设定的值。减慢处理S22是限定适用于从第一控制循环至第N_S+1控制循环，所以控制循环的执行编号n比N_S+1大时(N2203：否)不进行实质性的处理(后述的S2204～S2205)而结束减慢处理S22。

接着，通过下述的式子(3)计算负载率r_S(S2204)。

其中，

r_S：负载率

r_S0：初始负载率

n：控制循环的执行编号

N_S：减慢次数

另外，r_S和r_S0是低于1的正的小数，n和N_S是正整数。

将负载L的目标值R_L乘以负载率r_S(S2205)，结束减慢处理S22。

通过进行上述的减慢处理S22，能够在负载控制S20的初期逐渐增大施加于被测试体W的负载L。因此，例如被测试体W没有正确地安装于测试装置1等时，因为能够进行在错误的大的负荷施加于被测试体W之前使测试装置1停止的操作，所以能够防止被测试体W破损。

另外，本实施方式中，减慢处理S22限定适用于图案模式，但对于其他控制模式也能够适用减慢处理。例如，除了初始负载率r_S0与减慢次数N_S之外，还预先设定进行减慢处理S22的减慢期间T_SU(秒)，代替控制循环的执行编号n，通过对从开始负载控制S20起的经过时间t计算负载率r_S，能够在其他控制模式适用减慢处理。此时，例如能够通过以下的式子(4)计算减慢期间T_SU中的负载率r_S。

其中，

T_SU：减慢期间(秒)

t：从开始负载控制S20起的经过时间(秒)

接着，根据负载L的目标值R_L与测量值Y_L计算负载L的偏差E_L(＝R_L-Y_L)(S2005)。储存装置824等中存储有通过实验或模拟而预先获得的、表示伺服电机62的驱动量与负载L的变化量的关系的数据(例如，表示伺服电机62每单位旋转角的、或1次(1个控制点)的驱动控制引起的每单位角速度的负载L的变化量的数值)。根据该数据与负载L的偏差E_L计算伺服电机62的指令值(S2006)。

另外，本实施方式在负载控制S20中，伺服电机62的驱动是通过将角速度Ω₆₂作为控制量的速度控制来控制的。负载控制S20中，例如为了通过1次(1个控制点)或规定多次的驱动消除负载L的偏差E_L，根据以下的式子(5)计算伺服电机62的指令值U_Ω(角速度Ω₆₂)。

U_Ω＝R_Ω+E_Ω′

＝Tr·ω₂₀/r₆₃+K_L-Ω·E_L

＝Tr·ω₂₀/r₆₃+K_L-Ω·(R_L-Y_L)……(5)

其中，

U_Ω：伺服电机62的指令值U_Ω(角速度Ω₆₂)

R_Ω：角速度Ω₆₂的目标值

E_Ω’：角速度Ω₆₂的修正值(相当于角速度Ω₆₂的偏差E_Ω)

Tr：速度传递比

ω₂₀：输入侧驱动部20的角速度

r₆₃：减速机63的减速比

K_L-Ω：增益(负载L-角速度Ω转换系数)

E_L：负载L的偏差

R_L：负载L的目标值

Y_L：负载L的测量值

另外，上述式子(5)的第一项是伺服电机62的角速度Ω₆₂的目标值R_Ω，使用与输入侧驱动部20的角速度ω₂₀对应的输出侧驱动部60的伺服电机62的角速度Ω₆₂的换算值(Tr·ω₂₀/r₆₃)作为目标值R_Ω。此外，第二项是角速度Ω₆₂的修正值E_Ω’。修正值E_Ω’是相当于角速度Ω₆₂的偏差E_Ω的值，通过使负载L的偏差E_L乘以增益K_L-Ω来计算。

另外，增益K_L-Ω(负载L-角速度Ω转换系数)是将负载L转换成伺服电机62的角速度Ω₆₂的系数。更具体而言，增益K_L-Ω定义为通过1次(1个控制点)的驱动控制使负载L变化1个单位(例如1N)的角速度Ω₆₂。增益K_L-Ω预先通过实验或模拟而取得。

然后，基于通过上述式子(5)计算出的指令值U_Ω驱动伺服电机62(S2007)，1次(1个控制点)的负载控制(S2001-S2007)结束。反复执行负载控制(S2001-S2007)直至测试结束(S2008)。

另外，上述的负载控制S20中，伺服电机62通过将轴的角速度Ω₆₂作为控制量的速度控制来控制驱动，但是也可以通过将角度位置Θ₆₂作为控制量的位置控制来控制驱动。此外，也可以通过将对应于负载L的轴转矩作为控制量的转矩控制来控制伺服电机62的驱动。此外，也可以代替伺服电机62，例如使用直驱式电机或线性电机等不含齿轮机构的电机。通过排除齿轮机构能够进行响应更快且稳定的控制。

接着，说明作为上述负载控制S20的变形例的负载控制Sa20。以下说明的负载控制Sa20在反复施加相同波形的负载L的频率模式或图案模式中，通过基于与基本波形(或波形图案)相同的相位(控制点)处的伺服电机62的控制量的实效值(后述的“学习数据LD”)决定目标值，来提高控制的精度。此处，所谓控制量的实效值，是与控制对象的控制点(对象控制点)对应的相位(或相位区域)处的控制量的测量值的平均(例如相加平均、加权平均、几何平均、调和平均等)或基于平均的数值。本说明书中，将像这样例如在负载控制中，代替根据负载L的目标值计算的伺服电机62的控制量(例如，角度位置Θ₆₂或角速度Ω₆₂)的目标值，使用伺服电机的控制量的实效值的控制方式称为学习控制(学习功能)。另外，在频率模式和图案模式中，利用由多个控制点构成的控制循环，进行依据一个基本波形或波形图案的驱动控制，而反复执行该控制循环。

图28、图29是表示负载控制Sa20的步骤的流程图。负载控制Sa20首先确认学习控制是否设定为有效(Sa2001)。学习控制设定为无效时(Sa2001：否)，执行上述负载控制S20。学习控制设定为有效时(Sa2001：是)，接着判断设定的动作模式是否适合学习控制(具体而言，动作模式是否为频率模式或图案模式)(Sa2002)。动作模式不适合学习控制时(Sa2002：否)执行上述的负载控制S20。动作模式适合学习控制时(Sa2002：是)，取得输出侧驱动部60的伺服电机62的角度位置Θ₆₂、角速度Ω₆₂和负载L的测量值并加以存储(Sa2003～2006)。接着，取得负载L的目标值(初始设定值)R_L(Sa2007)。

接着，进行上述的减慢处理S22(图26)，动作模式适合减慢处理S22，且减慢处理S22设定成有效时，对初始的规定次数的控制循环减少负载L的目标值R_L。然后，根据负载L的目标值R_L与测量值Y_L计算负载L的偏差E_L(＝R_L-Y_L)(Sa2008)。

接着，通过下述式子(6)根据负载L的偏差E_L计算伺服电机62的控制量(例如，角速度Ω₆₂)的修正值E_Ω’(Sa2009)。另外，修正值E_Ω’是相当于伺服电机62的控制量即角速度Ω₆₂的偏差E_Ω的值，将负载L的偏差E_L乘以增益K_L-Ω来计算。

E_Ω′＝K_L-Ω·E_L＝K_L-Ω·(R_L-Y_L)……(6)

其中，

EΩ’：角速度Ω₆₂的修正值(相当于角速度Ω₆₂的偏差E_Ω)

K_L-Ω：增益(负载L-角速度Ω转换系数)

E_L：负载L的偏差

R_L：负载L的目标值

Y_L：负载L的测量值

接着，为最初的控制循环时(Sa2010：是)，取得输入侧驱动部20的角速度ω₂₀(Sa2011)，与上述负载控制S20同样地，使用根据输入侧驱动部20的角速度ω₂₀计算的伺服电机62的角速度Ω₆₂的换算值(Tr·ω₂₀/r₆₃)作为伺服电机62的控制量的目标值R_Ω(Sa2012)。

为第2次以后的控制循环时(Sa2010：否)，首先计算学习数据LD(Sa2013)。本实施方式的学习数据LD是根据过去的(例如最近1个～数个循环的)伺服电机62的控制结果(作为控制量的角速度Ω₆₂的测量值)计算的控制量Y_Ω的实效值，取代根据负载L的目标值R_L计算的角速度Ω₆₂的目标值R_Ω来使用。通过使用控制量的实效值作为目标值，因为偏差变小，所以控制精度提高。

与第n控制循环的第m控制点(即，作为此时刻的控制对象的控制点的对象控制点)对应的数据LD(n,m)，由以下式子(7)计算得到。

其中，

LD(n,m)：学习数据(第n控制循环，第m控制点)

n,m：正整数

Y_Ω(i,j)：角速度Ω₆₂的控制量(第i控制循环，第j控制点)

p：比n小的正整数(表示平均的控制循环范围的常数)

q：比m小的正整数(表示平均的控制点范围的常数)

即，对于最近的多个控制循环(从第n-p控制循环至第n-1控制循环的p次控制循环)，将第m控制点附近的控制点(从第m-q点至第m+q点的范围内的2q+1个控制点。称为“附近控制点”)的控制量Y_Ω(i,j)平均而得的值成为学习数据LD(n,m)。另外，常数p是规定进行平均化的控制循环范围的参数，常数q是规定进行平均化的控制点范围的参数。

像这样，负载控制Sa20中，通过使用将多个控制循环的控制量Y_Ω(i,j)平均而得的学习数据LD(n,m)，能够进行外部干扰的影响小的控制。此外，通过使用将多个控制点的控制量Y_Ω(i,j)平均而得的学习数据LD(n,m)，也能够进行外部干扰的影响小的控制。

然后，将学习数据LD设定成伺服电机62的角速度Ω₆₂的目标值R_Ω(Sa2014)。

接着，通过下述式子(8)计算伺服电机62的指令值U_Ω(Sa2015)。另外，最初的控制循环时，式子(8)为与上述式子(5)相同的式子。

U_Ω＝R_Ω+E_Ω′……(8)

然后，基于该指令值U_Ω驱动伺服电机62(Sa2016)，1次(1个控制点)的负载控制(Sa2003-Sa2016)结束。反复执行负载控制(Sa2003-Sa2016)至测试结束(Sa2017)。

负载控制Sa20中，对于控制循环i和控制点j两者将平均控制量Y_Ω(i,j)而得的值作为学习数据LD(n,m)，但也可以构成为对于控制循环i和控制点j的至少一者不求平均地计算学习数据LD(n,m)。例如，对于控制循环i和控制点j的任一个均不求平均，而使用与前次的控制循环中相同(或对应)的控制点的控制量Y_Ω(n-1,m)的值，直接作为学习数据LD(n,m)。

另外，上述式子(7)对于进行平均的控制点的整个区域(从第m-q点至第m+q点的全部范围)，使用从第n-p控制循环至第n-1控制循环的控制量Y_Ω(i,j)，但也可以构成为对于已经取得第n控制循环的控制量Y_Ω(n,j)的第m-q控制点至第m-1控制点，使用从第n-p+1控制循环至第n控制循环的控制量Y_Ω(i,j)来计算学习数据LD(n,m)。

上述式子(7)使用将第m控制点做为中心的控制点范围内的控制量Y_Ω(i,j)的测量值，计算对于此时刻的控制对象即对象控制点(第m控制点)的学习数据LD(n,m)。即，学习数据LD(n,m)根据与对象控制点相同相位的控制量Y_Ω(i,j)的测量值计算得到。但是，在响应上相位有延迟的情况下，如以下的式子(9)所示，为了在计算学习数据LD(n,m)中使用的相位点的范围抵销相位延迟而赋予相位差(相位调整量r)时，能够更稳定地进行控制。另外，此时，从对象控制点(第m控制点)错开了相位调整量r的程度的相位的第m-r控制点，成为对应于对象控制点的对应控制点。

其中，r是表示相位调整量的正整数

另外，上述负载控制Sa20中，伺服电机62通过将轴的角速度Ω₆₂作为控制量的速度控制来控制驱动，但也可以通过将角度位置Θ₆₂作为控制量的位置控制来控制伺服电机62的驱动。此外，也可以通过将轴转矩作为指令值(控制量)的转矩控制来控制伺服电机62的驱动。因为伺服电机62的轴转矩与负载L成比例，所以在转矩控制中，负载L实质上成为伺服电机62的控制量。此外，也可以代替伺服电机62，例如使用直接驱动式电机或线性电机等不含齿轮机构的电机。通过排除齿轮机构能够进行响应更快且稳定的控制。

另外，本实施方式中，如上所述，基于伺服电机62的控制量(例如角度位置Θ₆₂或角速度Ω₆₂)的实效值来决定控制量的目标值(学习数据LD)，但本发明不限定于该结构。例如，也可以构成为对电机依据操作量(例如，供给至电机的驱动电流)的实效值来决定控制量(例如，电机的角度位置或角速度)的目标值(例如，使用最近数次控制循环中附近的控制点的控制量Y的平均值作为目标值)。

(弹性负载控制)

如上所述，负载控制S20和Sa20对应于定负载模式、频率模式、图案模式、转向角度响应模式和外部信号模式等各种控制模式。这些控制模式由在处理S2004(图25)或处理Sa2007(图28)中取得的负载L的目标值R_L决定。

接着，说明弹性负载控制，该弹性负载控制是赋予与转向轴W1的角度位置θ₂₀对应的负载L的转向角度响应模式的一个方式。弹性负载控制是赋予根据转向轴W1的角度位置θ₂₀而弹性变化(单调增加或减少)的负载L的控制。通过弹性负载控制，能够将与实际组装于车辆时施加于操纵装置的负载接近的负载L赋予被测试体W，能够更正确地再现实际组装于车辆的状态。另外，弹性负载控制是负载控制S20中的处理S2004或负载控制Sa20中的处理Sa2007的一个方式。

＜实施例1＞

图30是表示弹性负载控制的实施例1中使用的转向轴W1的角度位置θ₂₀与负载L的目标值R_L的关系的曲线图。图30中，实线(R)表示施加于右侧的系杆W4的负载L，虚线(L)表示施加于左侧的系杆W4的负载L。如图30所示，实施例1的弹性负载控制中，将相对于转向轴W1的角度位置θ₂₀直线性(弹性)变化的负载L赋予被测试体W的系杆W4。能够反映出转向操纵角越大则对系杆W4施加越大的阻力(负载L)(对转向操纵角单调地增加负载L)的、实际车辆中的负载L的动态。

表示图30所示的角度位置θ₂₀与负载L的目标值R_L的关系的信息，例如以数值表或函数的形式存储在储存装置824等。在处理S2004或Sa2007中，读取存储在控制部82的角度位置θ₂₀与负载L的目标值R_L的关系的信息，并基于该关系取得对应于此时刻的角度位置θ₂₀的负载L的目标值R_L。利用基于目标值R_L例如用式子(5)计算出的指令值U_Ω驱动伺服电机62，来实现实施例1的弹性负载控制。

弹性负载控制中，并非基于被测试体W的输出(系杆W4的运动)，而是基于输入(转向轴W1的旋转)来控制负载L。因此，不经由被测试体W所具有的齿轮机构地进行控制，于是能够防止因被测试体W的齿轮机构的游隙造成的响应延迟，能够进行更高精度的控制。此外，因为不经由被测试体W的控制机构地进行控制，所以能够避免与被测试体W的ECU进行的控制发生干扰，能够更稳定地进行控制。

上述实施例1的弹性负载控制中，因为转向轴W1的角度位置θ₂₀与左右的负载L的目标值R_L分别一对一对应，所以不论转向轴W1的旋转方向为何，进行对转向轴W1的角度位置θ₂₀施加相同负载L的控制。但是，在实际车辆中施加于系杆W4的负载L具有根据转向轴W1的旋转方向而值有所不同的迟滞特性。即，因为负载L作为对转向轴W1的旋转的阻力而施加，所以负载L的方向也会根据旋转转向轴W1的方向而不同。

＜实施例2＞

接着说明的弹性负载控制的实施例2(弹性负载控制S21)，通过将与实际车辆同样地具有迟滞的负载L赋予被测试体W，能够更正确地重现在组装于实际车辆时承受的负载。

图31是表示实施例2中的转向轴W1的角度位置θ₂₀与负载L的目标值R_L的关系的曲线图。图31的曲线图由以下四个曲线(R/CW、L/CW、R/CCW、L/CCW)构成。因此，无法仅根据角度位置θ₂₀而唯一地决定负载L的目标值R_L，需要判断应该适用四个曲线的哪一者的处理。

(1)顺时针转动转向轴W1时，施加于右侧的系杆W4的负载L(R/CW)

(2)顺时针转动转向轴W1时，施加于左侧的系杆W4的负载L(L/CW)

(3)逆时针转动转向轴W1时，施加于右侧的系杆W4的负载L(R/CCW)

(4)逆时针转动转向轴W1时，施加于左侧的系杆W4的负载L(L/CCW)

图32是表示实施例2的弹性负载控制(取得负载L的目标值R_L的处理)S21的步骤的流程图。弹性负载控制S21适用于负载控制S20中的处理S2004或负载控制Sa20中的处理Sa2007。

弹性负载控制S21中，首先取得被测试体W的转向轴W1的转矩T和角速度ω₂₀(S2101)。接着，对转矩T与角速度ω₂₀的方向进行对比(S2102)。

转矩T与角速度ω₂₀的方向不一致时(S2102：否)，判断为手离开手柄的状况，由左右的输出侧驱动部60L、60R赋予被测试体W的负载L均设定成无负载(负载L的目标值R_L＝0)(S2103)。

转矩T与角速度ω₂₀的方向一致时(S2102：是)，接着判断转向轴W1的旋转方向(S2104)。转向轴W1在CW方向旋转时(S2104：是)，利用函数(或数值表)R/CW决定对右侧的输出侧驱动部60R的负载L的目标值R_L，并利用函数(或数值表)L/CW决定对左侧的输出侧驱动部60L的负载L的目标值R_L。此外，转向轴W1在CCW方向旋转时(S2104：否)，利用函数(或数值表)R/CCW决定对右侧的输出侧驱动部60R的负载L的目标值R_L，并利用函数(或数值表)L/CCW决定对左侧的输出侧驱动部60L的负载L的目标值R_L。

如图31的曲线图所示，实施例2的弹性负载控制S21中，与随着转向轴W1的旋转的系杆W4的移动相反方向的负载L起作用。另外，关于负载L的符号，将向外(即，右侧的系杆W4是右方向，左侧的系杆W4是左方向)定义为正。

此外，向外转向操纵时(R/CW、L/CCW)负载L相对于角度位置θ₂₀的变化大，向内转向操纵时(L/CW、R/CCW)负载L相对于角度位置θ₂₀的变化小。

像这样，实施例2的弹性负载控制S21中，因为反映了实际车辆行驶时施加于系杆W4的负载的方向性(迟滞特性)，所以能够更正确地重现组装于实际车辆时承受的负载。

另外，弹性负载控制S21中，转矩T(和/或角速度ω₂₀)小时，S2102和S2104的判断结果会频繁改变，可能造成控制不稳定。因此，例如也可以构成为当转矩T(和/或角速度ω₂₀)比规定值小时，将左右的输出侧驱动部60L、60R设定成无负载。

另外，在使对应于自动驾驶的被测试体W以自动驾驶模式工作的状态下进行测试时，不使用输入侧驱动部20，而经由接口部823将被测试体W的ECU连接于控制部82，控制部82使被测试体W的ECU控制转向操纵。此时，包括旋转编码器和转矩传感器的输入侧计测单元取代输入侧驱动部20，连接于被测试体W的转向轴W1。然后，基于由输入侧计测单元计测出的转向轴W1的转矩T和角速度ω₂₀进行弹性负载控制S21。

此外，转矩T无法检测时，也可以构成为仅基于转向轴W1的角速度ω₂₀进行弹性负载控制S21。此时，省略处理S2102-S2103。

此外，从被测试体W的ECU取出表示转向轴W1的角度位置θ₂₀的角度信号和表示转矩T的转矩信号的情况下，也可以基于这些信号进行弹性负载控制S21。

(激振控制)

图33是表示激振控制S30的步骤的流程图。激振控制S30首先根据由设定的测试条件获得的可动台66的高度Ht的目标值和进给螺杆机构364b的进给螺杆的间距计算输出侧驱动部60的伺服电机67的轴的角度位置Θ₆₇的指令值(S3001)。然后，根据该角度位置Θ₆₇的指令值驱动伺服电机67(S3002)。

接着，取得由内置于伺服电机67的旋转编码器RE检测出的轴的角度位置Θ₆₇的测量值(S3003)，根据角度位置Θ₆₇的测量值与进给螺杆机构364b的进给螺杆的间距计算可动台66的高度Ht(S3004)，并加以存储(S3005)，1次(1个控制点)的激振控制(S3001-S3005)结束。反复执行激振控制(S3001-S3005)直至测试结束(S3006)。

(触端控制)

操纵装置的耐用测试中，被测试体W的转向轴W1在其整个可动范围(从一方的触端位置至另一方的触端位置)以规定次数(或规定的测试时间)反复被往返驱动。现有的测试装置中，在到达可动范围的末端之前以一定的速度旋转驱动转向轴W1，检测出在到达可动范围的末端(触端)时发生的转矩的跳起后，进行反转转向轴W1的驱动方向的控制。因此，例如齿轮齿条式的操纵装置时，以一定的速度到达触端位置时，因为齿条端会碰撞齿轮箱，所以会对被测试体W施加破坏性的撞击。其他方式的操纵装置也与齿轮齿条式同样地设置有限制可动范围的止动器，因此在到达触端位置时会发生同样的破坏性撞击。

本实施方式的触端控制S9通过进行控制，使得在触端时不对被测试体W的转向轴W1施加预先设定的上限以上的转矩，能够进行防止在触端时发生的撞击所造成的被测试体W的破损的驱动控制。

图34、图35是表示触端控制S9的步骤的流程图。触端控制S9中首先进行位置控制，即对输入侧驱动部20进行输入轴控制S10(图24)，以预先设定的角速度ω₂₀旋转驱动转向轴W1。另外，本实施方式的输入轴控制S10是将转向轴W1的角度位置θ₂₀作为控制量的位置控制，利用根据转向轴W1的角速度ω₂₀的设定值计算出的角度位置θ₂₀的目标值进行控制。此外，在触端控制S9中，不反复进行输入轴控制(S1001-S1007)(即跳过判断S1009)而仅执行1次。

接着，判断输入轴控制S10中取得的转向轴W1的角度位置θ₂₀是否处于触端判断角度范围内(触端判断S901)。触端判断角度范围是设定在触端位置和其附近的区域。在转向轴W1的角度位置θ₂₀到达触端判断角度范围内之前，持续进行输入轴控制S10。转向轴W1的角度位置θ₂₀到达触端判断角度范围内时(S901：是)，存储此时的转向轴W1的转矩T作为触端前的初始转矩T₀(S902)。

然后，持续反复进行输入轴控制S10直至到达触端状态(S903：是)。另外，本实施方式中，是否为触端状态能够由以下式子(10)是否满足来判断(触端判断)。

│T│≥r_T/100·(T₁-│T₀│)+│T₀│……(10)

其中，

T：转矩测量值

r_T：触端判断基准(％)

T₁：转矩上限

T₀：初始转矩

另外，初始转矩T₀根据被测试体W的安装方式等而有所变动，是造成转矩的测量值误差的因素之一。如式子(10)所示，通过扣除初始转矩T₀，能够使触端判断的精度提高。但是，也可以不扣除初始转矩T₀，而通过以下式子(10’)进行触端判断。此时，将转矩上限T₁(称为“第一目标转矩”)乘以判断基准r_T而得的值，成为用于判断是否为触端状态的转矩的基准值(设定值)。

│T│≥r_T/100·T₁……(10′)

另外，式子(10)或(10’)的判断由控制部82进行。该判断中，控制部82发挥转矩设定值计算单元的功能，利用各式子的右边部分，基于转矩上限T₁和触端判断基准r_T计算与转矩上限T₁不同的转矩的设定值。具体而言，控制部82(转矩设定值计算单元)例如计算出将转矩上限乘以判断基准r_T而得的值作为转矩的设定值。

转矩上限T₁是预先设定的转矩的上限，例如设定成被测试体W的转矩允许值的上限以下的值。触端判断基准r_T是判断为触端状态的转矩大小的基准值(称为“触端判断转矩T_d”)的指标，定义为触端判断转矩T_d相对于分别以初始转矩T₀进行零点修正的转矩上限T₁的比(百分率)。更具体而言，触端判断基准r_T由以下式子(11)来定义。

r_T＝(T_d-│T₀│)/(T₁-│T₀│)×100……(11)

通过使用百分率的触端判断基准r_T来设定转矩的基准值，可直觉掌握判断基准，此外，不论被测试体W的种类(即，转矩允许值的差异)为何，皆能够使用相同的判断基准r_T。另外，也可以代替触端判断基准r_T，而直接设定触端判断转矩T_d。

另外，转矩上限T₁利用界限设定画面Sc8(图18)的转矩局部界限设定部E81LT设定。此外，触端判断转矩T_d例如利用波形图案编辑画面Sc7设定。即，转矩局部界限设定部E81LT和波形图案编辑画面Sc7具有接收转矩控制条件(转矩T的设定值)的使用者输入的转矩设定值接收单元的功能。

到达触端状态时(S903：是)，转矩上限T₁设定成后述的输入轴控制(转矩控制)S11的目标值T_S(S904)，设定转矩控制S11中的转向轴W1的角速度ω₂₀(即输入侧驱动部20的角速度ω₂₀)的上限(S905)。然后，输入侧驱动部20的驱动控制从位置控制S10切换成转矩控制S11。在S905中，通过设定角速度ω₂₀的上限，能够控制转向轴W1的旋转不致超过所设定的角速度ω₂₀的上限，于是能够防止因转向轴W1的急速驱动而发生撞击。

图36是表示转矩控制S11的步骤的流程图。转矩控制S11是将转向轴W1的转矩T作为控制量的输入侧驱动部20的驱动控制。转矩控制S11中，首先通过下述式子(12)计算转向轴W1的角度位置θ₂₀的偏差E_θ(S1101)。另外，转换系数K_T-θ是定义为使转矩T变化1个单位(例如1N·m)的角度位置的变化量Δθ₂₀的常数，预先通过实验或模拟而获得。

E_θ＝K_T-θ·E_T＝K_T-θ(R_T-Y_T)……(12)

其中，

E_θ：转向轴W1的角度位置θ₂₀的偏差

K_T-θ：转矩T-角度位置θ₂₀转换系数

E_T：转矩T的偏差

R_T：转向轴W1的转矩T的目标值

Y_T：转向轴W1的转矩T的测量值

接着，判断偏差E_θ的大小是否为相当于转向轴W1的角速度ω₂₀的上限的最大操作量δθ_max以下(S1102)。偏差E_θ的大小为最大操作量δθ_max以下时(S1102：是)，为了消除偏差E_θ，将偏差E_θ的值设定成操作量δθ₂₀(S1103)。此外，偏差E_θ的大小比输入侧驱动部20的最大操作量δθ_max大时(S1102：否)，输入侧驱动部20的操作量δθ₂₀为与最大操作量δθ_max相同的大小，设定成与偏差E_θ相同符号的值(S1104)。然后，以相当于操作量δθ₂₀的角度δΘ₂₁(＝δθ₂₀/r₂₂)驱动伺服电机21(S1105)。

接着，取得转向轴W1的角度位置θ₂₀(S1106)，测量转矩T(S1107)，并存储角度位置θ₂₀和转矩T(S1108)，1个循环的转矩控制S11结束。转矩控制S11反复进行，直至转向轴W1的转矩T的大小为目标值T_S(即，转矩上限T₁)的大小以上(S906：是)。

接着，设定有转矩缓和速度r_RT(单位：N·m/s)的情况下(S907：是)，转向轴W1的角速度ω₂₀的上限变更成相当于转矩缓和速度r_RT的值K_T-θ·r_RT(S908)。由此，因为转矩以转矩缓和速度r_RT缓和地变化，所以转矩控制的稳定性提高。此外，没有设置转矩缓和速度r_RT的情况下(S907：否)，解除转向轴W1的角速度ω₂₀上限的设定(S909)。另外，没有设定转矩缓和速度r_RT时，也可以构成为不解除角速度ω₂₀的上限的设定，而维持在处理S905中所设定的角速度ω₂₀的上限。

然后，将预先设定的保持转矩T₂(称为“第二目标转矩”)设定成转矩控制S11的目标值T_S(S910)，进行转矩控制S11。转矩T实质上到达目标值T_S(即，保持转矩T₂)时(S911：是)，启动计时器(S912)，在经过设定时间(称为“持续时间”)之前持续转矩控制S11，在设定时间中维持转向轴W1的保持转矩T₂。在测试结束(S914：是)之前，反复执行上述的触端控制S9。另外，测试继续时(S914：否)，将输入侧驱动部20的驱动控制的方式从位置控制S10切换成转矩控制S11。

(反转控制)

上述触端控制S9是在触端位置对转向轴W1赋予规定的冲量(具体而言，将规定的保持转矩T₂维持设定时间)的控制，但有时在触端位置，不对转向轴W1赋予冲量，而要求直接使旋转方向反转的控制。通过通常的位置控制进行此种反转驱动时，在反转时发生非本意的转矩急剧的变动(撞击)，有可能损害测试结果的正确性。以下说明的反转控制S50是在到达触端位置时，以转矩不会产生急剧变动的方式反转驱动转向轴W1的控制。

图37是表示反转控制S50的步骤的流程图。此外，图38是用于说明反转控制S50的动作的曲线图(输入轴波形)。具体而言，图38是作为控制量的转向轴W1的角度位置θ₂₀的波形，横轴表示相当于时间轴的控制点k，纵轴表示角度位置θ₂₀。另外，反转控制S50除了包含后述的跳跃处理S5100(和是否执行跳跃处理S5100的判断S5004)之外，与通常的位置控制的输入轴控制S10同样的处理。

反转控制S50中，首先将表示控制点k的计数k重置成初始值“1”(S5001)。接着，取得转向轴W1的角度位置θ₂₀和转矩T的测量值(S5002)，与计数k关联地存储(S5003)。

接着，判断转向轴W1的转矩T的大小是否超过基准值τ(即，到达触端位置)(S5004)。判断为转矩T的大小超过基准值τ，到达触端位置时(S5004：是)，接着进行跳跃处理S5100。跳跃处理S5100是跳过预计转矩T会由于触端而大幅超过基准值τ的控制点k的区域(图38中虚线表示的部分)，使计数前进至预计转矩T与此时刻的值(即基准值τ)为相同程度的控制点k(例如，图38中的k_A’，k_B’)的处理。跳跃处理S5100的详细内容在后面叙述。

转矩T的大小不超过基准值τ时(S5004：否)，取得对应于控制点k的角度位置θ₂₀的目标值R_θ(S5005)。目标值R_θ基于预先设定的输入轴波形(图38所示的表示控制点k与角度位置θ₂₀的关系的数值表或函数)来计算。接着，计算角度位置θ₂₀的偏差E_θ(S5006)，基于偏差E_θ计算伺服电机62的指令值Ω₆₂(S5007)，根据指令值Ω₆₂驱动伺服电机62(S5008)。继续进行测试时(S5009：是)，将计数k增加(S5010)，返回处理S5002。反复执行处理S5002～S5010直至测试结束。

接着，说明跳跃处理S5100。图38所示的输入轴波形中设定了1个周期(控制循环)的量的波形，在规定期间(例如2000小时)中连续地反复进行基于该输入轴波形的转向轴W1的旋转驱动的控制。

图38所示的输入轴控制在转向轴W1的假设的可动范围的两端(假设触端位置θ_E1、θ_E2)之间以一定的角速度ω₂₀往返旋转驱动。转向轴W1的触端位置在长期的耐用测试的期间逐渐变化。因此，为了能够可靠地到达触端位置，假设触端位置θ_E1、θ_E2设定在比在耐用测试前通过定心处理S4等得到的实际的初期的触端位置θ_A、θ_B靠外侧(即远离中心位置θ_C的位置)。由此，在转向轴W1的角度位置θ₂₀到达假设触端位置θ_E1、θ_E2前到达实际的触端位置θ_A、θ_B，转矩T超过基准值τ。

图39是表示跳跃处理S5100的步骤的流程图。如上所述，跳跃处理S5100是到达图38所示的输入轴波形上的点E_A、E_B(即触端位置θ_A、θ_B)而转矩T的大小超过基准值τ时，跳过预测转矩T会大幅超过基准值τ的输入轴波形上的点E₁、E₂(即假设触端位置θ_E1、θ_E2)附近的虚线部，从点E_A、E_B移动至相同角度位置θ_A、θ_B的点E_A’、E_B’的处理。

因此，首先探索与点E_A、E_B相同角度位置θ_A、θ_B的输入轴波形上的点E_A’、E_B’(S5110)。图38所示的输入轴波形的例子中，点E_A与点E_A’处于关于通过点E₁的垂线P₁对称的位置，点E_B与点E_B’处于关于通过点E₂的垂线P₂对称的位置。此外，构成输入轴波形的控制点的数K是预先设定的已知的值，因为点E₁与点E₂分别位于输入轴波形的1/4周期和3/4周期，所以点E₁的控制点k₁和点E₂的控制点k₂分别成为K/4与K3/4。因此，点E_A’的控制点K_A’与点E_B’的控制点K_B’通过以下式子(13)和式子(14)分别计算得到。

然后，将转向轴W1在CW方向旋转驱动的过程中，转矩T的大小超过基准值τ时(即，到达点E_A时)，跳向由式子(13)计算出的控制点k_A’(点E_A’)(S5120)，结束跳跃处理S5100。以后，在转矩T的大小再次超过基准值τ之前，通过通常的位置控制，按照输入轴波形旋转驱动转向轴W1。

另外，根据在从点E_A跳向点E_A’的前后，输入轴波形的倾斜度变化成反方向的情况可知，在跳跃前后(即，触端位置θ_A)，转向轴W1的旋转驱动的方向反转。此外，因为在该反转前后，转向轴W1的角度位置θ_A不变化，所以能够在反转前后使转矩T不发生大的变化，无撞击且顺利地使驱动反转。因此，能够进行不会对被测试体W或测试装置1因反转时的撞击造成意外损伤的测试。

＜变形例＞

在处理S5110中通过上述式子(13)、(14)计算跳跃目的地的控制点K_A’、K_B’，前提是输入轴波形在点E₁、E₂附近分别关于垂线P₁、P₂对称。但是，因为输入轴波形能够任意设定，所以输入轴波形不限于具有上述的对称性。例如，如图40所示，输入轴波形的点E₁附近的形状关于垂线P₁不对称时，通过式子(13)获得的点E_A’(控制点k_A’)的角度位置θ_A’比触端位置θ_A更靠外侧(即，离开中心位置θ_C)。因此，在点E_A’，要使角度位置θ₂₀返回中心位置θ_C侧的大转矩T会作用于转向轴W1。由此，从控制点k_A(点E_A)跳到控制点k_A’(点E_A’)时，会发生转矩T急剧上升(即撞击)，因此会对被测试体W施加计划外的应力，可能损害测试结果的正确性。

以下说明的处理S5110的变形例，即使以关于垂线P₁、P₂不对称的输入轴波形进行测试时，也能够有效地防止反转时发生撞击。

图41是表示跳跃目的地探索处理S5110的变形例的步骤的流程图。本变形例中，首先决定图40所示的跳跃目的地的候选点EA＊(S5111)。如上所述，为图40所示的关于垂线P₁不对称的输入轴波形时，跳到通过式子(13)获得的控制点k_A’的点E_A’时有可能发生撞击。因此，本变形例将比点E_A’更靠前的(控制点k的值大)点E_A＊作为候选点。具体而言，通过以下式子(15)计算候选点E_A＊的控制点k_A＊。

其中，α是正数

接着，根据由式子(15)获得的候选点E_A＊的控制点k_A＊与输入轴波形，计算候选点E_A＊的角度位置θ_A＊，判断候选点E_A＊的角度位置θ_A＊是否充分(即当跳到候选点E_A＊时不会发生影响测试结果的撞击的程度)接近触端位置θ_A(S5112)。具体而言，根据是否满足以下式子(16)(即，角度位置θ_A＊与触端位置θ_A的偏差为基准值δθ_A以下)，来判断候选点E_A＊的角度位置θ_A＊是否充分接近触端位置θ_A。

|θ_A ^*-θ_A|≤δθ_A……(16)

其中，δθ_A是正的常数(判断S5112的基准值)

候选点E_A＊的角度位置θ_A＊充分接近触端位置θ_A时(S5112：是)，探索跳跃目的地的处理S5110结束。如果角度位置θ_A＊不充分接近触端位置θ_A(S5112：否)，则减少一个控制点k_A＊，使候选点E_A＊移动至点E₁侧(S5114)。然后，回到处理S5112，判断移动后的候选点E_A＊的角度位置θ_A＊是否充分接近触端位置θ_A。反复进行处理S5112-S5114，直至判断为候选点E_A＊的角度位置θ_A＊充分接近触端位置θ_A。另外，图40所示的输入轴波中，当候选点E_A＊到达点E_A”(或其附近)时，判断为候选点E_A＊的角度位置θ_A＊充分接近触端位置θ_A。

上述的变形例中，因为在确认跳跃目的地的点E_A”的角度位置θ_A”充分接近触端位置θ_A(当前位置)后，进行控制点的跳跃，所以能够更可靠地防止转向轴W1的旋转驱动反转时发生的撞击。

上述的变形例中，将最初的候选点E_A＊设定成比触端位置θ_A靠内侧(中心位置θ_C侧)，从内侧向外侧(图40的曲线图中，如箭头M所示向上侧)进行跳跃目的地的探索，但本发明不限定于该结构。也可以与上述变形例相反，从比触端位置θ_A靠外侧的点(例如点E₁或点E_A’)向内侧探索跳跃目的地。

另外，以点E₁为起点进行探索时，虽然能够容易地设定起点，但因为到探索到达点的点E_A”的距离(控制点数)比点E_A＊、点E_A’远，所以探索跳跃目的地时需要的计算量增多。因此，将比点E₁靠前(即，控制点数大)的点设定为起点能够高效地进行跳跃目的地的探索。

此外，跳跃目的地的探索方向(即，在处理S5114中使候选点E_A＊移动的方向)当然需要在靠近探索的到达点E_A”的方向进行。上述的变形例中，决定最初的跳跃目的地的候选点E_A＊的常数α设定成大的值，使得候选点E_A＊设定成必然比探索的到达点E_A”靠前(图40中在右侧)。因此，在处理S5114中，减少控制点数，无条件进行使候选点E_A＊在图40中移动至左侧的处理。但是，将常数α设定成比较小的值的情况下、或将最初的跳跃目的地的候选点E_A＊例如设定在点E_A’(到垂线P₁的距离与点E_A相同的点)时，图40中，因为候选点E_A＊位于探索的到达点E_A”的左侧，所以在处理S5114中，需要使候选点E_A＊向右侧移动。因此，在此种情况下，例如需要构成为，还设定判断候选点E_A＊与探索的到达点E_A”的位置关系(控制点k的大小关系)的处理，根据其判断结果来决定使候选点E_A＊移动的方向。

以上是本发明的一个实施方式的说明。本发明的实施方式不限定于上述说明的内容，能够有各种变形。例如本领域的技术人员根据本说明书中例示性表示的实施方式等结构和/或本说明书中的记载，能够明确适当组合自明的实施方式等结构而得的结构也包含于本发明的实施方式。

上述实施方式中，在负载控制Sa20中，仅在最初的控制循环时(Sa2010：是)使用根据输入侧驱动部20的角速度ω₂₀计算出的角速度Ω₆₂的换算值(Tr·ω₂₀/r₆₃)作为目标值R_Ω(Sa2012)，但也可以构成为对初期的多个控制循环适用处理Sa2012。

上述实施方式中，在触端控制S9中，进行将转矩T暂时提高至转矩上限T₁后，再缓慢变化至保持转矩T₂的控制，但也可以省略该过程，最初就将保持转矩T₂设定成目标值，而进行转矩控制S11。

上述实施方式中，在触端控制S9中，保持转矩T₂的值设定成比转矩上限T₁低的值，但也可以将保持转矩T₂设定成比转矩上限T₁高的值。

上述实施方式中，由单一的波形图案规定整个测试装置1的动作，但也可以由规定测试装置1不同的一部分动作的多个波形图案(例如，分别规定输入侧驱动部20、输出侧驱动部60R、输出侧驱动部60L的动作的输入侧、右输出侧和左输出侧的三个波形图案)构成次序表。

Claims (11)

1.一种测试进程的设定方法，其是设定随时间变化的测试进程的方法，该测试进程的设定方法的特征在于：

将所述测试进程模块化和层次化地进行设定。

2.如权利要求1所述的测试进程的设定方法，其特征在于：

所述测试进程包括依次执行的多个进程模块，

所述进程模块定义所述测试进程的一部分。

3.如权利要求2所述的测试进程的设定方法，其特征在于：

所述进程模块包括：

定义测试进程的基本单位的第一层进程模块；和

包含多个所述第一层进程模块的第二层进程模块。

4.如权利要求3所述的测试进程的设定方法，其特征在于：

所述进程模块包括第三层进程模块，所述第三层进程模块至少包含一个所述第二层进程模块，且包含多个所述第一层进程模块或所述第三层进程模块。

5.如权利要求2至4中任一项所述的测试进程的设定方法，其特征在于，包括：

总体界限的设定，该总体界限是适用于所述进程模块的整个区间的界限；和

局部界限的设定，该局部界限是限定性地适用于所述进程模块的一部分区间的界限。

6.如权利要求5所述的测试进程的设定方法，其特征在于：

能够对多个区间设定所述局部界限。

7.如权利要求5或6所述的测试进程的设定方法，其特征在于：

所述界限包含上限值和下限值。

8.如权利要求5至7中任一项所述的测试进程的设定方法，其特征在于：所述界限包括以下(a)至(d)中的至少一个：

(a)被测试体的转向轴的旋转的角度位置；

(b)施加于被测试体的转向轴的转矩；

(c)相当于关节臂的测试装置的臂的转动的角度位置；

(d)施加于被测试体的系杆的负载。

9.如权利要求5至8中任一项所述的测试进程的设定方法，其特征在于：所述局部界限设定为相对于所述总体界限的相对值。

10.一种操纵装置的测试方法，其特征在于：

包括减慢步骤，其使赋予被测试体的作为轴力的负载逐渐增加至设定值。

11.如权利要求10所述的操纵装置的测试方法，其特征在于：

以设定的次数使所述负载阶段性地增加。